JP4175833B2 - レーザ顕微鏡 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明はレーザ顕微鏡に関し、特に励起光に超短パルスレーザを使用した多光子レーザ励起顕微鏡に関する。
【0002】
【従来の技術】
生物分野において、標本深部における明瞭な蛍光断層像が得られることから、多光子レーザ励起顕微鏡が多く利用されるようになってきている。一方、レーザ顕微鏡を用いて生細胞を観察する場合には、標本へのダメージを防ぐため、できるだけ標本に照射するレーザ光の光量を抑えて観察することが望ましい。
【0003】
このような、レーザ光の光量を調整する方法としては、NDフィルタを用いるのが一般的であり、特開2000−19432に開示されるように、照明光量の安定化と透過率の再現性を高める技術が知られている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、多光子励起による蛍光が発生するためには、標本の蛍光物質に多光子が吸収されなければならない。一方、この多光子吸収遷移確率は小さいため、観測に必要な蛍光量を得るためにはレーザ光の光量を増加する必要がある。しかし、レーザ光の光量を増加した場合には、標本の蛍光物質が退色し易くなるため長時間の観察が困難となり、またレーザ光のエネルギによって標本がダメージを受ける恐れが大きくなる。
【0005】
従って、多光子レーザ励起顕微鏡においては励起光としてのレーザ光線に、多光子吸収を起こすための高いビークパワーと、標本にダメージを与えない低い平均パワーとの両立が求められる。
【0006】
ここで、n光子励起蛍光量Fn、n光子吸収遷移確率An、励起光強度Iの間には式(1)に示す関係が成立する。
Fn ∝An ∝In …(1)
即ち、励起光強度Iを2倍にすると、n光子励起蛍光量Fnと遷移確率Anは2n倍と増加するが、逆に励起光強度Iを1/2倍にすると、n光子励起蛍光量Fnと遷移確率Anは1/2n倍に減少する。
【0007】
従って、標本である生細胞へのダメージを抑えるために、従来技術であるNDフィルタを用いた場合では、例えば、2光子励起ではレーザ光強度を50%(=1/2)に低下すれば、励起蛍光量は25%(=1/4)と大きく減衰してしまう。逆に、励起蛍光量を50%にして観察するためには、2光子励起ではレーザ光強度を約70%程度しか低下することができず、生細胞へのダメージが大きくなってしまうという問題がある。
【0008】
本発明は、係る事情に鑑みてなされたものであって、蛍光量を必要以上に減ずることなく励起レーザ光強度を減ずることができ、生細胞へのダメージを最小限にして観察することが可能なレーザ顕微鏡を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解消するための本発明は、照射光の光路中に配設され、蛍光画像の1画素を走査する1画素走査時間よりも短い時間周期で照射光の遮断と透過動作を行うシャッタ手段と、シャッタ手段の動作によって、1画素毎の照射レーザパルス列のうち所定のパルス数を遮断するように制御する制御手段とを備え、前記制御手段は、前記照射レーザパルスのピークパワーを一定にしたまま前記標本に照射される当該照射レーザパルスのパルス数を調整することにより、前記標本で発生する多光子励起蛍光量を変化させるレーザ顕微鏡である。
【0010】
また本発明は、上記記載の発明であるレーザ顕微鏡において、制御手段は、1画素走査時間を複数の分割時間に区分し、シャッタ手段の動作によって、それぞれの分割時間毎の照射レーザパルス列のうち所定のパルス数を遮断するように制御する分割制御手段を有し、分割時間毎のレーザ照射によって発生した前記分割時間毎の蛍光量から1画素毎の蛍光量を求めて蛍光画像を作成する画像作成手段を備えたレーザ顕微鏡である。
【0011】
また本発明は、上記記載の発明であるレーザ顕微鏡において、照射光の光路中に配設され、照射光の光量を調整する調光手段を更に備えたレーザ顕微鏡である。
【0012】
また本発明は、上記記載の発明であるレーザ顕微鏡において、レーザ顕微鏡の対物レンズと照射光を走査させる走査手段との光路中に配設されたダイクロイックミラーと、ダイクロイックミラーを介して標本から発生する蛍光を検出する光電検出器とを備えたレーザ顕微鏡である。
【0013】
また本発明は、上記記載の発明であるレーザ顕微鏡において、シャッタ手段は、音響光学素子または電気光学素子で構成されるレーザ顕微鏡である。
また本発明は、蛍光画像の1画素を走査する1画素走査時間よりも短い時間周期で前記照射光の遮断と透過を制御するシャッタ手段を動作させて、1画素毎の照射レーザパルス列のうち所定のパルス数を遮断し、前記照射レーザパルスのピークパワーを一定にしたまま前記標本に照射される当該照射レーザパルスのパルス数を調整することにより、前記標本で発生する多光子励起蛍光量を変化させることを特徴とする、レーザ顕微鏡を用いた観察方法である。
【0014】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明に係るレーザ顕微鏡の第1の実施の形態を示す構成図である。
本発明に係るレーザ顕微鏡は、超短パルスレーザを出射するレーザ発振器1、レーザ光2の透過・遮断を行う高速シャッタ3、レーザ光2を走査させるためのレーザ走査装置4、標本5を観察するための対物レンズ6を備えた顕微鏡7、観察像を表示するためのモニタ8及びレーザ顕微鏡の動作を制御するコンピュータ9とで構成されている。
【0015】
そして、レーザ走査装置4にはレーザ光2を走査させる機構であるガルバノメータミラー10と、標本5で発生した蛍光を電気信号に変換する光電変換器11とが設けられている。そして、コンピュータ9は、高速シャッタ3、ガルバノメータミラー10及び光電変換器11と信号線で接続されている。
【0016】
尚、本実施の形態において使用するレーザ発振器1は、パルス幅が数十〜数百フェムト秒、パルスの繰り返し周波数が数十〜数百MHzのパルスレーザである。
【0017】
次に、このように構成されたレーザ顕微鏡の動作について説明する。
レーザ発振器1から出射された超短パルスのレーザ光2は高速シャッタ3に入射する。高速シャッタ3はコンピュータ9からの指令に基づいて、所定のシーケンスでON−OFFスイッチング動作を行いレーザ光2のパルス列の一部を遮断する。
【0018】
高速シャッタ3を通過したレーザ光2はレーザ走査装置4内のガルバノメータミラー10によって進行方向を偏向され2次元平面上を走査するように制御される。そして、レーザ光2は顕微鏡7に入射し対物レンズ6によって標本5上を2次元に走査される。
【0019】
標本5では、対物レンズ6の焦点位置で多光子吸収が起き、これによって蛍光が励起される。発生した蛍光は対物レンズ6を介してレーザ光2とは逆の光路を進み、ガルバノメータミラー10によって偏向が解除された後、光電検出器11に入射する。
【0020】
光電検出器11で変換された信号は、コンピュータ9に入力される。コンピュータ9は、ガルバノメータミラー10の走査状態を表す信号と光電変換器11からの信号とを対応付けて、標本5の蛍光像を構成し、モニタ8にその画像を表示する。
【0021】
図2は、第1の実施形態のレーザ顕微鏡のパルス制御方法を示す図である。図1と同一機能をもつ部分には同一符号を付してその詳細の説明を省略する。
【0022】
ここで、レーザ発振器1から出射されるレーザ光2のパルス幅100fs(フェムト秒)、パルスの繰り返し周波数80MHzとする。そして、ガルバノメータミラー10のスキャンスピードを1画面当り1秒とし、コンピュータ9の1画面当りのデータ量を800×600=480,000画素とする。そうすると、ガルバノメータミラー10の走査速度は1画素当り約2μsとなり、したがって1画素当りのレーザパルス数は160パルスとなる。
【0023】
いま、1画素当りのレーザパルス数Nによって発生する1画素当りのn光子励起蛍光量Fnは、レーザ光のピークパワーPp、パルス幅Δtを用いて式(2)で表される。
Fn ∝An ∝Pp n×Δt×N …(2)
従って、高速シャッタ3がレーザ光2を遮断しない場合、上記条件の下で発生する1画素当りのn光子励起蛍光量Fnは式(3)で表される。
Fn =Pp n×100fs×160 …(3)
ここで、高速シャッタ3がON−OFF動作を繰り返して、レーザ光2を透過させる時間を前述の場合の1/2である1μsとした場合、1画素当りのレーザパルス数は80パルスとなるがレーザ光のピークパワーは変化しないため、この条件の下で発生する1画素当りのn光子励起蛍光量Fnは式(4)で表される。
Fn =Pp n×100fs×80 …(4)
式(3)と式(4)とを比較すると、高速シャッタ3がON−OFFスイッチングを行って、1画素当りのレーザパルス数を制御することで、n光子励起蛍光量が1/2に変化している。つまり、シャッタのスイッチングを1画素ごとにコントロールすれば、高速シャッタ3のオープン時間に比例した蛍光量を得ることが可能となる。
【0024】
尚、本実施の形態において、高速シャッタ3がレーザ光2の遮断と透過動作を繰り返しているが、この透過はレーザ光2を100%透過するものでなくても良い。逆に、高速シャッタ3にレーザ光2の光量を調整する調光機能を持たせることにより、レーザ光のビークパワーPpを変化させながらレーザパルス数Nを制御することが可能となる。勿論、調光機能を高速シャッタ3とは別の装置を用いて構成しても良い。
【0025】
ここで、本発明をまとめて説明すると以下のようになる。
一般に、パルスレーザを用いたレーザ顕微鏡において発生する蛍光量Fnは式(2)で表される。即ち、レーザ光のピークパワーPpとレーザパルス数Nを変更することによって蛍光量Fnを制御することが可能である。ここで、n光子吸収遷移確率Anは、レーザ光のピークパワーPpによって増減する。一方、標本がレーザ光から受けるダメージはレーザ光のエネルギ、即ち、ピークパワーPpの時間積分値に依存することになる。
【0026】
従って、レーザ光のピークパワーPpを制御することによってn光子吸収遷移確率Anを所定値に保持しつつ、レーザパルス数Nを変更することによって標本に与えるダメージを低減して蛍光観察を行うことが可能となる。
【0027】
図3は、第1の実施形態のレーザ顕微鏡の他のパルス制御方法を示す図である。図1と同一機能をもつ部分には同一符号を付してその詳細の説明を省略する。
【0028】
本実施の形態では、レーザ強度の変動による蛍光量の測定誤差をキャンセルするために、1画素のデータ取得を数回に分けて行い、取得蛍光量の平均値又は合計値をその画素のデータとするものである。
【0029】
図1と同様に、レーザ発振器1から出射されるレーザ光2のパルス幅100fs(フェムト秒)、パルスの繰り返し周波数80MHzとする。そして、ガルバノメータミラー10のスキャンスピードを1画面当り1秒とし、コンピュータ9の1画面当りのデータ量を800×600=480,000画素とする。そうすると、ガルバノメータミラー10の走査速度は1画素当り約2μsとなり、したがって1画素当りのレーザパルス数は160パルスとなる。
【0030】
ここで、光電検出器11のデータ蓄積時間を0.4μsとすると1画素当りのデータ取得回数は5回となり、1回のデータ取得時間のレーザパルス数は32パルスである。
【0031】
1画素当りのn光子励起蛍光量Fnは、レーザ光のピークパワーPp、パルス幅Δt、1画素当りのデータ取得回数D、1回のデータ取得時間当りのレーザパルス数Naを用いて式(5)で表される。
Fn ∝Pp n×Δt×Na×D …(5)
従って、高速シャッタ3がレーザ光2を遮断しない場合、上記条件の下で発生する1画素当りのn光子励起蛍光量Fnは式(6)で表される。
Fn =Pp n×100fs×32×5 …(6)
ここで、高速シャッタ3がON−OFF動作を繰り返して、レーザ光2を透過させる時間を前述の場合の1/2である0.2μsとした場合、1回のデータ取得時間当りのレーザパルス数は16パルスとなるがレーザ光のピークパワーは変化しないため、この条件の下で発生する1画素当りのn光子励起蛍光量Fnは式(7)で表される。
Fn =Pp n×100fs×16×5 …(7)
式(6)と式(7)とを比較すると、高速シャッタ3がON−OFFスイッチングを行って、1回のデータ取得時間当りのレーザパルス数を制御することで、n光子励起蛍光量Fnが1/2に変化している。つまり、シャッタのスイッチングを1回のデータ取得時間ごとにコントロールすれば、高速シャッタ3のオープン時間に比例した蛍光量を得ることが可能となる。
【0032】
そして、コンピュータ9は1画素についてD個のデータを取得し、これらのデータの平均値あるいは合計値をこの1画素のn光子励起蛍光量Fnとして蛍光画像を作成してモニタ8に表示する。
【0033】
図4は、本発明に係るレーザ顕微鏡の第2の実施の形態を示す構成図である。図1と同一機能をもつ部分には同一符号を付してその詳細の説明を省略する。
【0034】
本実施の形態では、高速シャッタ3に音響光学素子、または電気光学素子を用い、駆動装置15とスイッチング装置16によってこれらの素子に回折または複屈折を発生させることで開閉動作を行うように構成されている。
【0035】
ここで、駆動装置15は高速シャッタ3に用いられる素子の種類に応じて構成される。例えば、音響光学素子を用いる場合は、駆動装置15は搬送波信号源を使用し、電気光学素子を用いる場合は、駆動装置15は電場を印加するための電圧源を使用する。
【0036】
一方、コンピュータ9からは制御装置17に対して、スキャンスピード、画素数、励起光強度等の指示情報が送信される。制御装置17はこの指示情報に基づいて高速シャッタ3のスイッチング動作を決定してスイッチング装置の動作を制御する。
【0037】
第2の実施の形態では、高速シャッタ3が機械的駆動部を用いない構成であるため高速な開閉動作を行うことが可能である。
【0038】
尚、高速シャッタ3のON−OFFのタイミングは、1画素当りの走査時間より短いタイミングであれば良い。例えば、1000ドット×500ラインの画像データ1フレームを片道スキャンで1秒に1回取得する場合、1ラインあたりの走査時間は1ミリ秒、1ドットあたりでは1マイクロ秒になる。従って、高速シャッタ3が0.5マイクロ秒単位でON−OFFすれば、レーザ発振器1からのレーザ光2の強度を1/2にできる。
【0039】
ここで、片道スキャンとは、レーザ光2が往復走査されている場合、片道(行き)だけで画素データを取得し、帰りはデータ取得を行わないとする方式のことをいう。
【0040】
図5は、本発明に係るレーザ顕微鏡の第3の実施の形態を示す構成図である。図1と同一機能をもつ部分には同一符号を付してその詳細の説明を省略する。
【0041】
本実施の形態では、標本5から発生した蛍光を、対物レンズ6とレーザ走査装置4の間に配置したダイクロイックミラー19で分離して光電検出器20で検出するように構成している。尚、この光電検出器20は、像の共役位置に配置しても良く、また対物レンズ瞳の共役位置に配置しても良い。
【0042】
第3の実施の形態によれば、微弱な蛍光を走査光学系を介さずに効率良く検出することができる。
【0043】
以上説明したように、各実施の形態によればレーザ光を減衰しても効率的に多光子励起蛍光を得ることができ、ひいては生細胞にダメージを与えないようにレーザ光強度を落として蛍光観察をおこなうことが可能となる。
【0044】
尚、上記実施形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。
【0045】
【発明の効果】
以上説明したように本発明のレーザ顕微鏡によれば、レーザ光を減衰しても効率的に多光子励起蛍光を得ることができ、生細胞にダメージを与えないようにレーザ光強度を落として蛍光観察をおこなうことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るレーザ顕微鏡の第1の実施の形態を示す構成図。
【図2】第1の実施形態のレーザ顕微鏡のパルス制御方法を示す図。
【図3】第1の実施形態のレーザ顕微鏡の他のパルス制御方法を示す図。
【図4】本発明に係るレーザ顕微鏡の第2の実施の形態を示す構成図。
【図5】本発明に係るレーザ顕微鏡の第3の実施の形態を示す構成図。
【符号の説明】
1…レーザ発振器
2…レーザ光
3…高速シャッタ
4…レーザ走査装置
5…標本
6…対物レンズ
7…顕微鏡
8…モニタ
9…コンピュータ
10…ガルバノメータミラー
11…光電検出器
17…制御装置
19…ダイクロイックミラー
20…光電検出器
Claims (6)
- 照射光としてパルスレーザを用い、前記照射光を標本に走査させつつ照射して、前記標本で多光子吸収により発生する蛍光を検出し、前記標本の蛍光画像を表示するレーザ顕微鏡において、
前記照射光の光路中に配設され、前記蛍光画像の1画素を走査する1画素走査時間よりも短い時間周期で前記照射光の遮断と透過動作を行うシャッタ手段と、
前記シャッタ手段の動作によって、1画素毎の照射レーザパルス列のうち所定のパルス数を遮断するように制御する制御手段とを備え、
前記制御手段は、前記照射レーザパルスのピークパワーを一定にしたまま前記標本に照射される当該照射レーザパルスのパルス数を調整することにより、前記標本で発生する多光子励起蛍光量を変化させることを特徴とするレーザ顕微鏡。 - 前記制御手段は、前記1画素走査時間を複数の分割時間に区分し、前記シャッタ手段の動作によって、それぞれの前記分割時間毎の照射レーザパルス列のうち所定のパルス数を遮断するように制御する分割制御手段を有し、
前記分割時間毎のレーザ照射によって発生した前記分割時間毎の蛍光量から1画素毎の蛍光量を求めて前記蛍光画像を作成する画像作成手段を備えたことを特徴とする請求項1記載のレーザ顕微鏡。 - 前記照射光の光路中に配設され、前記照射光の光量を調整する調光手段を更に備えたことを特徴とする請求項1または2に記載のレーザ顕微鏡。
- 前記レーザ顕微鏡の対物レンズと前記照射光を走査させる走査手段との光路中に配設されたダイクロイックミラーと、
該ダイクロイックミラーを介して前記標本から発生する前記蛍光を検出する光電検出器と
を備えたことを特徴とする請求項1乃至3の内いずれか1の請求項に記載のレーザ顕微鏡。 - 前記シャッタ手段は、音響光学素子または電気光学素子で構成される
ことを特徴とする請求項1乃至4の内いずれか1の請求項に記載のレーザ顕微鏡。 - 照射光としてパルスレーザを標本に走査させつつ照射し、前記パルスレーザの前記標本への照射に基づく多光子吸収によって励起される蛍光を検出し、前記標本の蛍光画像を表示するレーザ顕微鏡を用いた観察方法であって、
前記蛍光画像の1画素を走査する1画素走査時間よりも短い時間周期で前記照射光の遮断と透過を制御するシャッタ手段を動作させて、1画素毎の照射レーザパルス列のうち所定のパルス数を遮断し、前記照射レーザパルスのピークパワーを一定にしたまま前記標本に照射される当該照射レーザパルスのパルス数を調整することにより、前記標本で発生する多光子励起蛍光量を変化させることを特徴とする、レーザ顕微鏡を用いた観察方法。
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US7817275B2 (en) * | 2007-03-07 | 2010-10-19 | University Of Delaware | Scanning optical microscope with long working distance objective |
JP5074098B2 (ja) * | 2007-05-24 | 2012-11-14 | オリンパス株式会社 | 走査型光学装置 |
DE102008034137A1 (de) * | 2007-09-28 | 2009-04-02 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Mikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Mikroskops |
EP2273301A4 (en) * | 2008-02-22 | 2012-06-13 | Nikon Corp | Laser scanning MICROSCOPE |
JP5191352B2 (ja) * | 2008-11-05 | 2013-05-08 | オリンパス株式会社 | レーザ走査型顕微鏡 |
JP5712342B2 (ja) | 2008-11-27 | 2015-05-07 | ナノフォトン株式会社 | 光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法 |
DE102009029831A1 (de) | 2009-06-17 | 2011-01-13 | W.O.M. World Of Medicine Ag | Vorrichtung und Verfahren für die Mehr-Photonen-Fluoreszenzmikroskopie zur Gewinnung von Informationen aus biologischem Gewebe |
US8507877B2 (en) | 2009-11-25 | 2013-08-13 | Ofs Fitel, Llc | Non-linear optical system and techniques |
JP5729982B2 (ja) * | 2009-11-25 | 2015-06-03 | オーエフエス ファイテル,エルエルシー | 非線形光システム及び技術 |
JP2013065804A (ja) * | 2010-12-20 | 2013-04-11 | Gigaphoton Inc | レーザ装置およびそれを備える極端紫外光生成システム |
JP6281193B2 (ja) * | 2013-05-30 | 2018-02-21 | ソニー株式会社 | レーザー走査型顕微鏡システム |
EP3538941A4 (en) | 2016-11-10 | 2020-06-17 | The Trustees of Columbia University in the City of New York | METHODS FOR FAST IMAGING OF HIGH RESOLUTION LARGE SAMPLES |
US10705019B2 (en) * | 2018-05-29 | 2020-07-07 | The Boeing Company | Multi-wavelength laser inspection |
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WO2021147198A1 (zh) * | 2020-01-21 | 2021-07-29 | 广东湛江海洋医药研究院 | 多光子显微镜透明化标本适配器及其成像方法 |
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