JP4715986B2 - X線透視装置 - Google Patents

X線透視装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4715986B2
JP4715986B2 JP2001216901A JP2001216901A JP4715986B2 JP 4715986 B2 JP4715986 B2 JP 4715986B2 JP 2001216901 A JP2001216901 A JP 2001216901A JP 2001216901 A JP2001216901 A JP 2001216901A JP 4715986 B2 JP4715986 B2 JP 4715986B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
ray
image
view
field
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2001216901A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003028812A (ja
Inventor
嘉浩 立澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2001216901A priority Critical patent/JP4715986B2/ja
Publication of JP2003028812A publication Critical patent/JP2003028812A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4715986B2 publication Critical patent/JP4715986B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、工業製品などの透視検査等を行うためのX線透視装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
工業製品などの透視検査を行うためのX線透視装置においては、一般に、X線源に対向して、イメージインテンシファイアとCCDカメラなどを組み合わせてなるX線カメラを配置し、これらの間に、透視対象物であるサンプルを搭載するための試料ステージが配置された構成を採る。この構成において、試料ステージは、X線源とX線カメラを結ぶX線光軸方向を含む互いに直交する3軸方向に移動できるようになっており、X線光軸方向への移動により撮影倍率を変化させ、またそのX線光軸に直交する2軸方向に移動させることによってX線カメラの視野を変化させ得るようになっている。
【0003】
このようなX線透視装置を用いて透視検査を行うに当たり、サンプルがX線カメラの視野内に収まらない場合、通常、図4に例示するように、サンプルの部分画像を別々に撮影し、その各部分画像を繋ぎ合わせることによって1枚の全景画像を構築することが行われる。そして、この全景画像上での位置関係から、試料ステージを移動させてサンプル上の注目したい部位にX線カメラの視野を移動させることができ、その移動ののちに試料ステージをX線光軸方向に移動させるなどによって注目部位の拡大透視像などを得ることも可能となる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、以上の全景画像を構築する従来の技術においては、サンプルの各部分画像を撮影するに当たり、装置のオペレータがサンプルの境界、つまりサンプルの端部の位置を指定する必要があり、その作業に手間が掛かるという問題がある。しかも、オペレータのミスによって、誤った境界指定が行われる可能性があるいとう問題もある。
【0005】
本発明はこのような実情に鑑みてなされたもので、サンプルの部分画像の撮影時に、従来に比してオペレータに掛かる負担を軽減し、確実にサンプル像の境界を把握して全景画像を構築することのできるX線透視装置の提供を目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するため、本発明のX線透視装置は、X線源と、そのX線源に対向配置されたX線カメラと、これらのX線源とX線カメラの間に配置され、サンプルを搭載してX線光軸方向を含む互いに直交する3軸方向に移動するための駆動機構を備えた試料ステージと、上記X線カメラからの画素データを用いてサンプルのX線透視像を表示する表示器を備えたX線透視装置において、上記試料ステージをX線光軸に直交する平面上で設定された量ずつ自動的に移動させつつサンプたたたた画像を撮影する部分画像撮影手段を備えるとともに、その部分画像の撮影時に、当該部分画像の輝度の平均値もしくは輝度の標準偏差を用いて、その部分画像内でのサンプル像の有無を判定するサンプル境界判定手段を有し、上記部分画像撮影手段の動作時に、上記サンプル境界判定手段による判定結果に基づいてサンプル像の存在しない部分画像が撮影されたときに上記試料ステージの移動方向を変更するように構成されていることによって特徴づけられる。
【0007】
本発明は、X線カメラの視野を変化させるべく試料ステージをX線光軸に直交する平面上で設定された量ずつ移動させつつ部分画像を撮影する動作中に、各部分画像の輝度の平均値もしくは輝度の標準偏差から、その部分画像内にサンプル像が存在しているか否かを判定してサンプルの境界を自動的に検出することによって所期の目的を達成しようとするものである。
【0008】
すなわち、X線透視像中にサンプル像の一部が存在している場合と、全く存在していない場合とでは、その画像を構成する各画素の輝度の平均値ないしは輝度の標準偏差が相違する。よって、この輝度の平均値もしくは輝度の標準偏差を用いることで、部分画像中でのサンプル像の有無を正確に判定することができる。従って、試料ステージを設定量ずつ移動させながら部分画像を撮影していったとき、X線カメラの視野がサンプルの境界を越えた時点で、その旨を自動的に検出することができ、その検出時点で試料ステージの移動方向を変更することにより、オペレータがサンプルの境界設定を行うことなく、部分画像の自動撮影を行うことができる。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について説明する。
図1は本発明の実施の形態の全体構成図であり、機械的構成を表す模式図と電気的構成を表すブロック図とを併記して示す図である。
【0010】
X線源1はそのX線光軸Lを鉛直上方に向けた状態で配置されており、このX線源1に対向してX線カメラ2が設けられている。まこ、これらのX線源1とX線カメラ2の間には、透視対象物であるサンプルWを載せるための試料ステージ3が配置されている。
【0011】
X線カメラ2には、例えばイメージインテンシファイアとCCDカメラを組み合わせた公知のものであり、このX線カメラ2はカメラ移動機構4によってX線光軸Lの方向(z軸方向)に移動可能となっている。
【0012】
試料ステージ3は、ステージ移動機構5の駆動により、z軸方向と、そのz軸方向に直交する水平面上で互いに直交するx,y軸方向の合計3軸方向に独立的に移動可能となっている。
【0013】
X線カメラ2の各画素出力は画像取込回路6を介してパーソナルコンピュータ7に取り込まれる。パーソナルコンピュータ7では、その各画素出力を用いてX線カメラ2によるサンプルWのX線透視像を構築し、表示器7aに表示する。前記したカメラ移動機構4およびステージ移動機構5は、このパーソナルコンピュータ7の制御下に置かれており、当該パーソナルコンピュータ7に接続されているキーボード7bないしはマウス7cを手動操作することによって、X線カメラ2および試料ステージ3を所望の方向に移動させることができるように構成されている。
【0014】
また、このパーソナルコンピュータ7には、以下に示すような部分画像自動採取・合成用プログラムがインストールされており、このプログラムはキーボード7bないしはマウス7cを操作することによって選択することができる。
【0015】
図2はその部分画像自動採取・合成用プログラムの動作内容を示すフローチャートであり、また、図3はこのプログラムの動作時におけるX線カメラ2の視野の移動の例の説明図であって、以下、これらの図を参照しつつこのプログラムの動作について説明する。
【0016】
この部分画像自動採取・合成用プログラムを選択するに当たっては、まず、試料ステージ3を手動操作して、X線カメラ2の視野をサンプルWの任意の隅に移動させる。図3の例では図中Aで示すサンプルWの左上隅に移動させている。次に、視野の移動方向を指定する(図3の例ではy方向矢印aで示す向き)。この設定を終了した後、スタート指令を与えると、視野Aにおいて部分画像を自動的に撮影した後、指定した矢印aの向きに視野が一画面相当分だけ移動するように試料ステージ3を自動的に移動させ、その移動後の視野(図3の例では視野B)において自動的に部分画像を撮影する。そして、この移動後の視野で撮影した部分画像における各画素の輝度データの統計的情報、例えば輝度の平均値Baを算出し、その算出結果をあらかじめ設定されている基準値Brと比較する。
【0017】
この基準値Brは、X線カメラ2の視野内に物体が存在しない状態、つまり全ての画素がほぼ白レベルに近い状態の輝度の平均値よりも僅かに低い(黒レベル側の)値に設定されており、視野内にサンプルWの一部が存在している場合には、その画面の輝度の平均値Baは基準値Brよりも低い値となり、視野内にサンプルWが全く存在していない場合には、その輝度の平均値Baは基準値Brよりも高くなる。従って、移動後の視野における部分画像を撮影するごとに、その画面の輝度の平均値Baと基準値Brを比較することにより、その大小関係から当該視野内にサンプルWの像の存在の有無を判定することができる。
【0018】
さて、移動後の視野で撮影した画像の輝度の平均値Baが基準値Brより小さい値であった場合には、その視野内には未だサンプルW像が存在している判断して、視野がy軸方向矢印aの向きに1画面相当分だけ移動するように再度試料ステージ3を自動的に移動させ、その移動後の視野(図3の例では視野C)において自動的に部分画像を撮影し、上記と同様に輝度の平均値Baを算出して基準値Brと比較する。この例では未だサンプルWの像が存在しているので、平均値Ba<Brとなり、従って視野が更にy軸方向矢印aの向きに移動するように試料ステージ3を移動させて(図3の例では視野Dにおいて)部分画像を撮影し、輝度の平均値Baと基準値Brを比較する。この図3の例における視野Dにおいては、既にサンプルWが存在せず、従って輝度の平均値Baは基準値Brよりも大きくなり、視野がy軸方向へのサンプルWの境界位置を越えたことを認識することができる。そして、この場合には、視野を、y軸方向には原点位置(当初のy座標位置)に移動させると同時に、それに直交するx軸方向に1画面相当分だけ移動させるべく(図3の例では視野Eへ)試料ステージ3を移動させて、部分画像を撮影する。
【0019】
以上の動作を繰り返すことにより、やがて図3の例において視野Iにまで到達する。この場合には、y軸方向に原点位置に移動させ、かつ、x軸方向に1画面相当分だけ視野を移動させた最初の時点においてBa>Brとなり、x軸方向へのサンプルWの境界位置を越えたことを認識することができ、これによって部分画像の撮影動作を終了する。そして、その撮影終了後に、それまでに撮影した部分画像を繋ぎ合わせて全景画像を得て、このプログラムを終了する。
【0020】
以上の実施の形態によると、装置のオペレータは、試料ステージ3を原点位置(図3の例では視野A)に位置決めするとともに、移動の方向を設定するだけで、装置が自動的にサンプルWの境界位置を認識して移動方向を変更するので、従来の部分画像を採取する場合に比してその設定作業が容易化されると同時に、誤った設定を行う恐れがなくなる。
【0021】
なお、以上の実施の形態では、サンプルWの境界位置を判定するための輝度の統計的情報として、各画素の輝度の平均値を用いたが、画面にサンプルWの像が損算している場合には、画素の濃淡が生じることから、各画素の輝度の標準偏差を採用してもよい。また、輝度の平均値と輝度の標準偏差を併用してもよい。
【0022】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、X線カメラの視野を設定量ずつ自動的に移動させてサンプルの部分画像を撮影する動作中に、各部分画像の輝度の平均値もしくは輝度の標準偏差を用いて、その部分画像内にサンプル像の存在の有無を判定して、存在しない場合には、サンプルの境界を越えたと認識してX線カメラの視野の移動方向を自動的に変更するので、従来のこの種の装置のようにオペレータがサンプルの境界位置を指定する必要がなくなり、その作業を軽減させることができると同時に、オペレータのミスによって誤った境界指定が行われる可能性をなくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の全体構成図で、機械的構成を表す模式図と電気的構成を表すブロック図とを併記して示す図である。
【図2】図1の実施の形態におけるパーソナルコンピュータ7にインストールされている部分画像自動撮影・合成用プログラムの動作内容を示すフローチャートである。
【図3】図2のフローチャートに従う動作時におけるX線カメラ2の視野の移動の仕方の例の説明図である。
【図4】X線撮影装置を用いて視野中に収まらないサンプルを撮影するに当たって、部分画像を撮影し、その各部分画像を繋ぎ合わせて全景画像を得る作業の説明図である。
【符号の説明】
1 X線源
2 X線カメラ
3 試料ステージ
4 カメラ移動機構
5 ステージ移動機構
6 画像取込回路
7 パーソナルコンピュータ

Claims (1)

  1. X線源と、そのX線源に対向配置されたX線カメラと、これらのX線源とX線カメラの間に配置され、サンプルを搭載してX線光軸方向を含む互いに直交する3軸方向に移動するための駆動機構を備えた試料ステージと、上記X線カメラからの画素データを用いてサンプルのX線透視像を表示する表示器を備えたX線透視装置において、
    上記試料ステージをX線光軸に直交する平面上で設定された量ずつ自動的に移動させつつサンプルの部分画像を撮影する部分画像撮影手段を備えるとともに、その部分画像の撮影時に、当該部分画像の輝度の平均値もしくは輝度の標準偏差を用いて、その部分画像内でのサンプル像の有無を判定するサンプル境界判定手段を有し、上記部分画像撮影手段の動作時に、上記サンプル境界判定手段による判定結果に基づいてサンプル像の存在しない部分画像が撮影されたときに上記試料ステージの移動方向を変更するように構成されていることを特徴とするX線透視装置。
JP2001216901A 2001-07-17 2001-07-17 X線透視装置 Expired - Lifetime JP4715986B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001216901A JP4715986B2 (ja) 2001-07-17 2001-07-17 X線透視装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001216901A JP4715986B2 (ja) 2001-07-17 2001-07-17 X線透視装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003028812A JP2003028812A (ja) 2003-01-29
JP4715986B2 true JP4715986B2 (ja) 2011-07-06

Family

ID=19051312

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001216901A Expired - Lifetime JP4715986B2 (ja) 2001-07-17 2001-07-17 X線透視装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4715986B2 (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4072420B2 (ja) * 2002-11-13 2008-04-09 東芝Itコントロールシステム株式会社 X線透視検査装置の較正方法
JPWO2005008228A1 (ja) * 2003-07-22 2006-08-31 ポニー工業株式会社 透過撮影装置
JP2005055273A (ja) * 2003-08-04 2005-03-03 Shimadzu Corp X線透視装置
JP2005221459A (ja) * 2004-02-09 2005-08-18 Shimadzu Corp X線透視装置
KR100863094B1 (ko) * 2007-08-21 2008-10-13 현대자동차주식회사 셀프 클리닝 효과를 이용한 에어백 저항 과대방지 시스템
JP2008032754A (ja) * 2007-10-25 2008-02-14 Toshiba It & Control Systems Corp X線透視検査装置
CN103163163A (zh) * 2011-12-16 2013-06-19 株式会社岛津制作所 X射线检查装置
JP2014126534A (ja) * 2012-12-27 2014-07-07 Kao Corp 吸収性ポリマーの検出方法
WO2017203886A1 (ja) * 2016-05-24 2017-11-30 日本装置開発株式会社 X線検査装置およびx線検査装置の制御方法
JP6809901B2 (ja) * 2016-12-28 2021-01-06 松定プレシジョン株式会社 撮影装置、検査装置、および撮影装置の制御プログラム

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001021506A (ja) * 1999-07-08 2001-01-26 Nyuurii Kk X線検査装置
JP2001203221A (ja) * 2000-01-19 2001-07-27 Shibaura Mechatronics Corp ペレットボンディング装置のペレットピックアップ方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS632344A (ja) * 1986-06-23 1988-01-07 Matsushita Electric Works Ltd ウエハチツプの検出方法
JPH09288732A (ja) * 1996-04-23 1997-11-04 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 航行船舶認識装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001021506A (ja) * 1999-07-08 2001-01-26 Nyuurii Kk X線検査装置
JP2001203221A (ja) * 2000-01-19 2001-07-27 Shibaura Mechatronics Corp ペレットボンディング装置のペレットピックアップ方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003028812A (ja) 2003-01-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7477723B2 (en) X-ray fluoroscope
JP4715986B2 (ja) X線透視装置
KR100679550B1 (ko) 결함검출기 및 결함검출방법
JP2006343193A (ja) X線透視装置
JP2008032754A (ja) X線透視検査装置
JP4954608B2 (ja) 被撮像物の移動方法及びこの方法を用いる処理装置
JP3672970B2 (ja) 非接触画像計測システム
JP4072420B2 (ja) X線透視検査装置の較正方法
JP4665696B2 (ja) X線検査装置
JP2005000369A (ja) X線照射条件制御装置
JP5396846B2 (ja) X線ct装置
JP4577214B2 (ja) X線検査装置
JP3897102B2 (ja) X線透視装置
JPH05337077A (ja) 電子内視鏡装置
JP2003004666A (ja) X線透視撮影装置
JP2008175764A (ja) 外観検査装置
KR100556013B1 (ko) 미소 치수 측정 장치
JP4609643B2 (ja) X線ct装置
JP3473224B2 (ja) X線透視撮影装置
JP4158027B2 (ja) X線透視検査装置
JP3826506B2 (ja) 情報表示方法
JPH11344676A (ja) 顕微鏡画像撮影システム
JP4577212B2 (ja) X線検査装置
JPH1128205A (ja) X線透視撮影台
JP5544909B2 (ja) X線検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071122

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20101001

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101020

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101220

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110302

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110315

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4715986

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140408

Year of fee payment: 3

EXPY Cancellation because of completion of term