JP2005221459A - X線透視装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 試料ステージ3をX線光軸Axに直交する平面上で移動させて撮影した部分画像を接合して全景画像を合成するに当たり、互いに隣接する部分画像について、相互に接合すべき辺X1,X2の近傍の画素情報を用いて、辺X1,X2の近傍でこれらの辺X1,X2に沿う方向への試料像の境界位置を判定し、その境界位置が双方の部分画像で一致するように、各部分画像の辺X1,X2に直交する方向への接合位置を決定することで、試料ステージ3の位置決め精度が悪くても試料像のずれのない全景画像を得ることを可能とする。
【選択図】 図2
Description
図1は本発明の実施の形態の構成図で、機械的構成を表す模式図と電気的構成を表すブロック図とを併記して示す図である。
2 X線カメラ
3 試料ステージ
4 ステージ移動機構
5 カメラ移動機構
6 画像取込回路
7 パーソナルコンピュータ
7a 表示器
8 インターフェース
Ax X線光軸
W 試料
Claims (3)
- 互いに対向配置されたX線源とX線撮像装置との間に、透視すべき試料を搭載してX線光軸方向を含む互いに直交する3軸方向に移動可能な試料ステージが設けられ、上記X線撮像装置からの出力を用いて、試料のX線透視像を表示器に表示するX線透視装置において、
上記試料ステージをX線光軸に直交する平面上で設定された量ずつ自動的に移動させつつ試料の部分画像を撮影して記憶する部分画像撮影手段と、その各部分画像を接合して試料の全景画像を構築する全景画像合成手段を備えるとともに、
上記全景画像合成手段は、互いに隣接する部分画像の接合時に、双方の部分画像について、相互に接合すべき辺の近傍の画素情報を用いて、当該辺の近傍での試料像の当該辺に沿う方向の境界位置を判定し、その境界位置が双方の部分画像で一致するように、各部分画像の当該辺に直交する方向への接合位置を決定することを特徴とするX線透視装置。 - 互いに隣接する部分画像に一部重複する領域が生じるよう、上記部分画像撮影手段による部分画像の撮影時における試料ステージの移動量が設定されていることを特徴とする請求項1に記載のX線透視装置。
- 上記全景画像合成手段による各部分画像の接合位置の決定に、各部分画像の接合すべき辺の近傍の画素情報を用いた当該辺に沿った方向への複数のラインプロファイルを用い、互いに接合すべき部分画像のラインプロファイルどうしを比較して、互いに最も近いラインプロファイルの位置で接合するように構成されていることを特徴とする請求項1または2に記載のX線透視装置。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009047440A (ja) * | 2007-08-13 | 2009-03-05 | Central Res Inst Of Electric Power Ind | 非破壊検査装置及び非破壊検査方法 |
JP2010281688A (ja) * | 2009-06-04 | 2010-12-16 | Shimadzu Corp | Tftアレイ検査装置およびピクセル座標位置決定方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000097881A (ja) * | 1998-09-24 | 2000-04-07 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | X線検査装置、x線検査用画像処理装置、x線検査装置用画像処理プログラムが格納された記録媒体 |
JP2000275761A (ja) * | 1999-03-23 | 2000-10-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線画像の連結処理方法および放射線画像処理装置 |
JP2003004666A (ja) * | 2001-06-25 | 2003-01-08 | Shimadzu Corp | X線透視撮影装置 |
JP2003028812A (ja) * | 2001-07-17 | 2003-01-29 | Shimadzu Corp | X線透視装置 |
JP2004037386A (ja) * | 2002-07-05 | 2004-02-05 | Shimadzu Corp | X線透視装置 |
-
2004
- 2004-02-09 JP JP2004031785A patent/JP2005221459A/ja active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000097881A (ja) * | 1998-09-24 | 2000-04-07 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | X線検査装置、x線検査用画像処理装置、x線検査装置用画像処理プログラムが格納された記録媒体 |
JP2000275761A (ja) * | 1999-03-23 | 2000-10-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線画像の連結処理方法および放射線画像処理装置 |
JP2003004666A (ja) * | 2001-06-25 | 2003-01-08 | Shimadzu Corp | X線透視撮影装置 |
JP2003028812A (ja) * | 2001-07-17 | 2003-01-29 | Shimadzu Corp | X線透視装置 |
JP2004037386A (ja) * | 2002-07-05 | 2004-02-05 | Shimadzu Corp | X線透視装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009047440A (ja) * | 2007-08-13 | 2009-03-05 | Central Res Inst Of Electric Power Ind | 非破壊検査装置及び非破壊検査方法 |
JP2010281688A (ja) * | 2009-06-04 | 2010-12-16 | Shimadzu Corp | Tftアレイ検査装置およびピクセル座標位置決定方法 |
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