JP2000097881A - X線検査装置、x線検査用画像処理装置、x線検査装置用画像処理プログラムが格納された記録媒体 - Google Patents

X線検査装置、x線検査用画像処理装置、x線検査装置用画像処理プログラムが格納された記録媒体

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JP2000097881A
JP2000097881A JP10269509A JP26950998A JP2000097881A JP 2000097881 A JP2000097881 A JP 2000097881A JP 10269509 A JP10269509 A JP 10269509A JP 26950998 A JP26950998 A JP 26950998A JP 2000097881 A JP2000097881 A JP 2000097881A
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imaging
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JP10269509A
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Toru Miyata
徹 宮田
俊幸 ▲邉▼春
Toshiyuki Hebaru
Takeshi Kitsukawa
剛 橘川
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Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】X線検査装置において撮像装置が備える撮像面
の大きさによる制限を受けずに広範囲のX線画像を得
る。 【解決手段】被検体6の検査範囲を入力し、入力された
被検体6の検査範囲に基づいて検査範囲全域を撮像する
ために必要なX線画像の撮像ポイントと走査回数を算出
する。算出した各撮像ポイントにおいて被検体6のX線
画像を撮像して記憶し、走査装置4を前後左右にステッ
プ移動させて隣接した次の撮像ポイントへ移動する。次
の撮像ポイントにおいて被検体6のX線画像を撮像し、
画像データが被検体6の撮像ポイントに対応づけて記憶
されるように記憶処理を制御する。記憶した複数のX線
画像を表示用X線画像に合成し、広範囲のX線画像を一
画面上に表示する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、X線を用いて被検
体の内部構造を検査するX線検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】X線を用いて被検体の内部構造を検査す
る装置では、所定の間隔を隔てて配置されたX線管と撮
像装置との間に被検体を配置してX線画像を得る。X線
管から照射されたX線が被検体を透過して撮像装置上に
投影されるので、1回の撮像で観測される被検体の撮像
範囲は、被検体を透過したX線が撮像装置上に投影され
る領域だけである。X線画像の拡大率は、被検体をX線
の照射軸である垂直方向に移動してX線管から被検体ま
での距離を変えて変化させる。この拡大率はX線管と撮
像装置との間隔により決定され、最大拡大率は被検体を
限りなくX線管に近づけると同時にX線管と撮像装置と
の間隔をできるだけ離したときに得られる。一方、最小
拡大率は被検体を限りなく撮像装置に近づけたときに得
られる。
【0003】最大拡大率とした場合は1回の撮像で観測
できる撮像範囲が最も狭くなり、反対に最小拡大率とし
た場合は1回の撮像で観測できる撮像範囲が最も広くな
る。最小拡大率とした場合には、撮像範囲は撮像装置の
撮像領域とほぼ等しくなり、撮像範囲の大きさは撮像装
置がもつ撮像領域の大きさにより制限される。また、被
検体の微小な部分を検査するために高い拡大率を選択す
るときには撮像範囲が狭くなるため、この場合にも被検
体全体を投影するためにはより撮像領域が広い撮像装置
が必要となる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、広い
撮像範囲を得るためにはより広い撮像領域を備える撮像
装置が必要となるが、大型となり高価であることから限
界がある。
【0005】本発明の第1の目的は、X線検査装置にお
いて撮像装置が備える撮像面の大きさによる制限を受け
ずに広範囲のX線画像を得るX線検査装置を提供するこ
とにある。本発明の第2の目的は、第1の目的と同様な
X線画像を得るX線検査用画像処理装置を提供すること
にある。本発明の第3の目的は、第1の目的と同様なX
線画像を得るような処理を行うX線検査装置用画像処理
プログラムが格納された記録媒体を提供することにあ
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】一実施の形態を示す図1
を参照して本発明を説明する。 (1)請求項1の発明は、X線を発生するX線管1と、
被検体6を載置して検査位置を前後左右に移動するとと
もに、被検体6を上下してX線画像の拡大率を変えるこ
とができる走査装置4と、被検体6を透過したX線を撮
像する撮像装置3とを有するX線検査装置に適用され
る。そして、被検体6の検査範囲を入力する入力手段1
8と、入力された被検体6の検査範囲に基づいてX線画
像の撮像ポイントの走査回数を算出する算出手段8と、
被検体6のX線画像を記憶する記憶手段9、12と、走
査回数に基づいて走査装置4を前後左右にステップ移動
させ、被検体6のX線画像の撮像ポイントに対応づけて
X線画像を記憶するように制御する制御手段8と、記憶
手段に記憶した複数のX線画像を表示用X線画像に合成
する合成手段8とを備えることにより、上述した目的を
達成する。 (2)請求項2の発明は、請求項1に記載されたX線検
査装置で撮像され記憶手段9に記憶された複数のX線画
像データについて、X線画像データの中から読み出し範
囲を選択し、選択された読み出し範囲に基づいて、記憶
手段9からX線画像データを読み出す読み出し手段8
と、読み出した複数のX線画像データを表示用X線画像
データに合成する合成手段8とを備えることを特徴とす
る。 (3)請求項3の発明による記録媒体には、被検体6の
検査範囲を入力する入力処理と、入力された被検体6の
検査範囲に基づいて、X線画像の撮像ポイントの走査回
数を算出する算出処理と、被検体6のX線画像を記憶す
る記憶処理と、走査回数に基づいて、走査装置を前後左
右にステップ移動させ、被検体6のX線画像の撮像ポイ
ントに対応づけてX線画像を記憶するように制御する制
御処理と、記憶した複数のX線画像を表示用X線画像に
合成する合成処理とを行うプログラムが格納され、この
プログラムを実行することにより上述した目的を達成す
る。 (4)請求項4の発明は、請求項1に記載のX線検査装
置において、X線画像の拡大率は数百倍〜1000倍で
あることを特徴とする。
【0007】なお、本発明の構成を説明する上記課題を
解決するための手段の項では、本発明をわかりやすくす
るために実施の形態の図を用いたが、これにより本発明
が実施の形態に限定されるものではない。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。図1に示すように、この実施の形
態によるX線検査装置は、発生させるX線のスポット径
が1μm〜10μmの点波源であるマイクロフォーカス
X線管1と、X線管1と所定の距離を隔てて配置された
撮像装置3と、X線管1と撮像装置3との間に配置さ
れ、被検体6がセットされる走査装置4とを備え、これ
らは外部にX線を漏洩しないように防護ボックス7内に
設置される。撮像装置3は、図示しないX線インテンシ
ファイヤとCCDのような固体撮像素子とを含む。MP
U8は、外部の入力装置18からインターフェイス17
を介して入力された情報をもとに、インターフェイス1
6を介してX線管1を制御するX線管コントローラ2
と、走査装置4を駆動する駆動制御装置5とを制御す
る。また、MPU8はタイミング回路13に指令を出
し、デコード回路10と、A/Dコンバータ11とをタ
イミング制御して撮像装置3から出力されるビデオ信号
を画像メモリ12へ記憶させる。さらにまた、MPU8
は、画像メモリ12に記憶されたデータに基づいてメモ
リ9で画像処理を行い、表示部コントローラ14を介し
て表示部15で表示する。
【0009】X線管コントローラ2では、キーボードや
マウス等の入力装置18からインタフェイス17を介し
て入力されたX線の照射条件や、メモリ9内に記録され
ているX線の照射条件が、MPU8よりインタフェイス
16を介して設定される。X線管コントローラ2は、設
定された条件に基づきX線管1を制御してX線を発生さ
せる。また、駆動制御装置5では、上記X線の走査条件
がMPU8よりインタフェイス16を介して設定され
る。そして、駆動制御装置5は設定値に基づき走査装置
4を駆動する。これにより、X線は、被検体6を透過す
る部位をその照射方向に対して直交するXY平面内で移
動して撮像部位を走査する。走査装置4をX線の照射方
向に移動すると、図2に示すようにX線管1と被検体6
までの距離aが変化し、これにより撮像範囲22が変わ
るとともに、X線画像の拡大率が変わる。
【0010】図2に示す撮像装置3の撮像領域23上に
おいて、X線画像の拡大率mはX線管1から被検体6ま
での距離aとX線管1と撮像装置3との距離bとを用い
て次式(1)で表す。
【数1】 m = b/a (1) 実際のX線検査装置の拡大率をMとすると、装置に含ま
れるレンズ系および表示部15の大きさによる拡大率M
oが入るため次式(2)で表される。なお、実際の拡大
率Mとは、表示部15の表示長さに対する被測定面(図
2の符号42)の長さの比である。
【数2】 M = Mo×m = Mo・b/a (2)
【0011】X線管1で発生したX線は、図1の走査装
置4に載置された被検体6を透過して撮像装置3上で結
像する。撮像装置3に入射したX線による被検体6の透
視像は、ビデオ信号としてデコード回路10へ入力され
る。デコード回路10は入力されたビデオ信号を映像信
号と同期信号に分離し、映像信号をA/Dコンバータ1
1へ送り、同期信号をタイミング回路13へ送る。タイ
ミング回路13はMPU8からの指令とデコード回路1
0からの同期信号とに基づいて、A/Dコンバータ11
の変換タイミング信号と、A/Dコンバータ11により
デジタル化された画像データを画像メモリ12に格納す
るタイミング信号とを出力する。タイミング回路13
は、この動作をデコード回路10からの同期信号に含ま
れる水平同期信号と垂直同期信号とに基づき、水平方向
と垂直方向について1画面にわたり繰り返し、ビデオ信
号の1画面分の画像データを画像メモリ12に記録す
る。なお、上述したようなデコード回路10と、A/D
コンバータ11と、画像メモリ12と、タイミング回路
13とで構成したビデオ信号を画像メモリ12に記録す
るものは、例えばビデオキャプチャボードとして広く使
用されている。
【0012】画像メモリ12へ記録された画像データ
は、表示部コントローラ14を介して表示部15でリア
ルタイム表示される。あるいは、一旦MPU8のワーク
エリアとして確保されているメモリ9へ転送した後、フ
ィルタ処理等の画像処理を施した上で表示部コントロー
ラ14を介して表示部15に表示される。
【0013】図2は、X線管1で発生したX線が被検体
6を透過する測定領域22と、測定領域22が撮像装置
3上に投影された撮像領域23と、実際に撮像装置3に
おいて撮像される撮像面43と、撮像面43に対応した
被検体6の被測定面42とを示した図である。撮像面4
3は、例えば、CCDのような撮像素子の大きさで決定
され、横軸と縦軸の長さをそれぞれIxmax 、Iymax
で表す。図5に図示した横軸LH、縦軸LVで表される
被測定面42の大きさは、上記Ixmax 、Iymax およ
び拡大率mで決定され、次式(3)、(4)の関係があ
る。X線管1で被検体6上のあるポイントを照射したと
きに観測される範囲が式(3)および(4)で決まる被
測定面42の範囲である。
【数3】 LH = Ixmax/m (3) LV = Iymax/m (4)
【0014】図3は、X線検査装置を最小拡大率に設定
して撮像範囲22を大きくするようにした場合に表示部
15に表示されるX線画像の例を示したものである。X
線検査装置において最小拡大率とするには、図4に示す
ように被検体6を撮像装置3へできる限り近づける。こ
のとき、撮像装置3にて実際に画像データとして撮像さ
れる領域は、撮像範囲22のうち撮像領域23における
撮像面43に投影された領域である。
【0015】図5は被検体6を撮像装置3に近接させた
とき、撮像領域23上に投影される撮像範囲22のうち
実際に撮像される被測定面42を示している。撮像面4
3の横の長さIxmax 、縦の長さIymax の比率は、例
えば4:3として表示部15の画面表示比率に一致させ
る。これにより撮像面43と、被測定面42と、表示部
15の画面の横と縦の比率は全て4:3となる。撮像面
43で撮像された画像を表示部15に表示したものが、
図3における領域19に相当する。このときの表示部1
5に表示された画像表示領域19の横の長さをlh、縦
の長さをlvとすると、X線検査装置の拡大率Mを用い
て測定面42における実際の横の長さLH,実際の縦の
長さLVは次式(5)、(6)で算出する。
【数4】 LH = lh/M (5) LV = lv/M (6)
【0016】次に、本発明による広範囲のX線画像を得
る手順を説明する。被検体6の測定範囲をX軸(横軸)
方向にLx、Y軸(縦軸)方向にLyとする場合(以降
測定範囲(Lx,Ly)と記す)、被検体6を上下して
最小拡大率に設定した状態で測定範囲(Lx,Ly)が
被測定面42よりも大きいときは、X線の照射位置を走
査装置4により被検体6上をXY平面内でステップ移動
させて複数回に分けて測定を行う。図6は複数回に分け
て画像を撮り込むために、被検体6の位置をステップ移
動させる様子を示した図である。図中の黒丸20は撮像
ポイントを示し、被測定面42の画像中心である。図で
は被検体6の測定範囲(Lx,Ly)を左上隅から右へ
移動し、右端に達したら1段下の行に移動して右から左
へ移動し、左端に達したらさらに1段下の行に移動して
左から右へ移動するという動作を続ける。移動の際のス
テップ幅は、被測定面42の寸法と同じでX軸方向はL
H,Y軸方向はLVとする。測定範囲(Lx,Ly)内
で横軸方向の長さLH,縦軸方向の長さLVである被測
定面42を順番に移動させてX線検査画像を撮り込み、
撮り込んだ全画像を被検体6上の撮像ポイントに対応づ
けて合成し、1画面の撮像画面として表示部15に表示
する。
【0017】図7は以上の処理手順を示すフローチャー
トであり、以下、このフローチャートに従って説明す
る。ここでは、被検体6の測定範囲(Lx,Ly)の大
きさが最小拡大率時の被測定面42の大きさLH,LV
より大きいことを前提として説明する。ステップS1で
は、キーボードやマウス等の入力装置18から被検体6
の測定範囲(Lx,Ly)を入力する。また、説明をし
やすくするために、Lx,Lyの比率は標準的な表示部
15の画面サイズの横と縦の比と同じく4:3であると
する。ステップS2では、測定範囲(Lx,Ly)の被
測定面42の大きさに対する比率Dを次式(7)により
求める。
【数5】 D = Lx/LH (7) ただし、Dは実数である。
【0018】測定範囲(Lx,Ly)と被測定面42の
横と縦の大きさの比率がともに4:3であるので、Y軸
の比率Dは、式(7)により求めたX軸の比率Dに等し
い。さらにステップS2では、実数で表された測定範囲
(Lx,Ly)の被測定面42の大きさに対する比率D
の小数点以下を切り上げた整数I0 を次式(8)により
求める。
【数6】 I0 = Lx/LH+0.5 (8) ただし、I0 は演算結果を四捨五入した整数である。
【0019】I0 は測定範囲(Lx,Ly)のX軸方向
(あるいはY軸方向)について、X線の照射位置を何回
ステップ移動させて測定すればよいかを表すものであ
る。切り上げ演算を用いる理由は、端数が生じた場合に
は被測定面42の大きさに満たない部分であっても、1
つの撮像ポイント20として測定を行うためである。し
たがって、X線検査装置で測定範囲(Lx,Ly)全体
を測定するためには、このI0 を用いてX軸方向とY軸
方向とにそれぞれI0 回ずつ被測定面42をステップ移
動させて測定を行う。つまり、I0 は各軸の方向におけ
る測定回数である。
【0020】ステップS3では、X軸方向とY軸方向と
のそれぞれの場合について、I0 の測定回数で測定範囲
(Lx,Ly)を測定したとき最後のI0 回目の測定に
おいて端数が生じないように、すなわち、被測定面42
の中に測定範囲(Lx,Ly)外の部分が撮像されない
ようにX線検査装置の拡大率m、換言すれば、次式
(9)によりX線管1から被検体6までの距離aをa’
に変更する。
【数7】 a’= D/I0・a (9) 式(9)に基づいて求めた距離a’にするように走査装
置4をX線管1側へ移動すると、図2に示すX線管1と
被検体6までの距離aが縮まり1回の撮像ポイントで撮
像される被測定面42が狭くなり、I0 回目の測定にお
いて端数が生じない。
【0021】ステップS4では、X軸方向とY軸方向に
ついて、各I0 回の測定を行う撮像ポイント20の座標
を決定する。X線管1と被検体6までの距離a’におけ
る被測定面42のX軸方向の大きさLH’とY軸方向の
大きさLV’は次式(10)、(11)で表される。
【数8】 LH’= Lx/I0 (10) LV’= Ly/I0 (11)
【0022】したがって、X軸方向とY軸方向について
各I0 回の測定を行うときの撮像ポイントをステップ移
動させる距離は、X軸方向についてLH’、Y軸方向に
ついてLV’となる。また、X線画像を撮り始める最初
のXY座標(X0 ,Y0 )は、次式(12)、(13)
により決定する。
【数9】 X0 = Xc−1/2・LH'・(I0 −1) (12) Y0 = Yc−1/2・LV'・(I0 −1) (13) ただし、Xc,Ycは測定範囲(Lx,Ly)の中心と
する(図6参照)。
【0023】図8は、測定範囲(Lx,Ly)をX軸方
向とY軸方向について各I0 =4回の測定を行い、得ら
れた16個の画像データVi,j (ただし、i=0,1,
2,3、j=0,1,2,3)を合成した表示画面(表
示部15に表示される)の例を示した図である。横軸
(X軸)方向の4つのデータを合わせると測定範囲のL
xであり、縦軸(Y軸)方向の4つのデータを合わせる
と測定範囲のLyである。そして、これらの中心を座標
(Xc,Yc)で表す。
【0024】ステップS5では、繰り返し処理を行うた
めの初期値をセットする。処理の順序は、例えば図6の
ように第1行目の撮像ポイントは左から右へ、第2行目
の撮像ポイントは右から左へというように一筆書きの要
領で進めるので、方向を表す符号DRを追加する。撮像
ポイントを左から右へ移動させるときにDR=+1、右
から左へ移動させるときにDR=−1とする。ステップ
S5でセットする初期値は、X軸方向の測定回数をカウ
ントするカウンタの値IとY軸方向の測定回数をカウン
トするカウンタの値Jと、撮像ポイントの座標(X,
Y)と、方向を示す符号DRである。I,Jの初期値は
0を、座標(X,Y)の初期値は式(12)、(13)
で求めたX0 ,Y0 を、符号DRの初期値は+1をセッ
トする。第1回目の撮像ポイントは、図6において左上
に位置するポイントである。
【0025】ステップS6では、ステップS5において
セットされた撮像ポイントの座標(X,Y)へ被検体6
を移動させる。被検体6の移動は駆動制御装置5が走査
装置4を駆動して行う。ステップS7では、被検体6を
透過したX線を撮像装置3で撮像し、前述した処理を行
い画像メモリ12へ記録する。
【0026】ステップS8では、上述した画像メモリ1
2へ記録された画像データをメモリ9の中に確保された
メモリ空間の中に格納する。このメモリ空間は、図9に
示すように撮像ポイント毎にメモリブロック(I,J)
を割り付けてあり、このメモリブロック(I,J)は、
図8に示すように、全撮像ポイントにおける画像データ
を結合させて表示した場合の各画像データVi,j と対応
づけておく。すなわち、第1回目の撮像ポイントで撮り
込んだ画像データV0,0 はメモリブロック(0,0)へ
格納し、図6において最終回である第16回目の撮像ポ
イントで撮り込んだ画像データV0,3 はメモリブロック
(0,3)へ格納するようにメモリ空間を用意してお
く。
【0027】ステップS9では、メモリブロック(I,
J)に記録されたデータを表示部コントローラ14へ送
り、表示部15に表示する。ステップS10ではX軸方
向のステップ移動に関して、次回の撮像ポイントのX座
標をセットする。すなわち、符号DRにしたがって現座
標に対してLH’を加える(減じる)。また、X軸方向
のステップ移動に関するカウント数を1つ加える。
【数10】 X = X+DR・LH’ (14) I = I+1 (15)
【0028】ステップS11では、1行分の全撮像ポイ
ントのデータを撮り込んだか否かを判断する。当該1行
分が終了していると判断した場合はステップS12へ進
み、当該1行分が終了していないと判断した場合はステ
ップS6へ戻る。
【0029】ステップS12ではY軸方向のステップ移
動に関して、次回の撮像ポイントのY座標をセットす
る。すなわち、現座標に対してLV’を加える。また、
Y軸方向のステップ移動に関するカウント数を1つ加え
るとともに、X軸方向のステップ移動に関するカウント
数を初期値の0に戻す。そして、方向を示す符号DRの
極性を反転する。これらは次式(16)〜(18)で表
される。
【数11】 Y = Y+LV’ (16) J = J+1 (17) DR = (−1)・DR (18)
【0030】ステップS13では、すべての行の撮像ポ
イントのデータを撮り込んだか否かを判断する。終了し
ていると判断した場合はステップS14へ進み、終了し
ていないと判断した場合はステップS6へ戻る。ステッ
プS14では、測定範囲(Lx,Ly)の中心座標(X
c,Yc)へ被検体6を移動させて、図7のフローチャ
ートに基づいた被検体6のX線による検査作業を終了す
る。被検体6の移動は駆動制御装置5が走査装置4を駆
動して行う。
【0031】ステップS9にてメモリブロック(I,
J)に記録した画像データを表示する実施形態について
図9を参照してさらに詳しく説明する。図9は、測定回
数I0=4の場合のメモリ9内に確保されたメモリ空間
に割りつけられたメモリブロック(I,J)を示したも
のである。図6で示したように、撮像ポイントを移動さ
せて撮り込んだ合計I0 2=42 =16個の画像データが
被検体6上の撮像ポイントに対応づけて記録されてい
る。1つのメモリブロック(I,J)に格納される画像
データは、1回の撮像で撮り込むことができる被測定面
42の大きさの画像データであり、この画像データのデ
ータ数は、表示部コントローラ14および表示部15の
表示解像度に対応する。本発明では被検体6を広範囲に
撮像して検査を行うようにするので、撮像した全てのX
線画像データは1つのメモリブロック(I,J)に格納
される画像データのI0 2倍の容量となる。表示部コント
ローラ14および表示部15がこの画像データの容量を
全て表示するように表示解像度を備えていない場合に
は、記録されている全画像データに基づいて表示部コン
トローラ14および表示部15の表示解像度に対応した
データ数に変換を行い、表示部15に表示できるように
する。
【0032】図9において、測定回数I0 =4回の場合
には、画像データのX軸(横軸)方向へI0 =4個ずつ
のm個のグループに分け、同様に画像データのY軸(縦
軸)方向へI0 =4個ずつのn個のグループに分ける。
こうして得たI0 2=16個の画像データから構成され
る、m×n個の画素グループをp(m,n)として表
す。すなわち、図において左上に位置するX軸方向に4
個、Y軸方向に4個の合計16個の画像データから構成
される画素グループをp(0,0)と表し、そのp
(0,0)の右に位置する16個の画像データから構成
される画素グループをp(1,0)と表す。同様にし
て、m×n個の画素グループをp(m,n)と表す。
【0033】そして、この画素グループp(m,n)を
構成するI0 2=16個の各データに基づいて、画素グル
ープp(m,n)を代表する1つの画素データP(m,
n)を決定する。図9において、16個の画像データか
ら構成される画素グループp(0,0)を、1つの画素
データP(0,0)に置き換える。同様に、画素グルー
プをp(1,0)を1つの画素データP(1,0)に置
き換える。この処理を図9の中にあるm×n個の全ての
画素グループp(m,n)について行うと、画像データ
の容量は1/I0 2=1/16となり、表示部コントロー
ラ14および表示部15の表示解像度に対応したデータ
数になる。このようにして、I0 2=16個の画素データ
で構成される画素グループp(m,n)が、1つの画素
データP(m,n)に合成される。図10は、合成され
たm×n個の画素データP(m,n)を1画面分の画像
データとして再配列したものである。
【0034】図10に示す画像データに基づいて、表示
部15で表示させたものが図8である。このようにして
当初の1画面分の表示データのI0 2倍のデータ容量をも
つ広範囲のX線画像を、広範囲のX線画像に基づいて合
成して表示する。
【0035】1つの画素グループp(m,n)を構成す
るI0 2個の各データに基づいて、画素グループp(m,
n)を代表する1つの画素データP(m,n)に合成す
る方法は、例えば、画素グループp(m,n)の先頭デ
ータを単純に選択してもよいし、あるいは構成するI0 2
個の各データに基づいてフィルタ処理を施して当該画素
グループp(m,n)代表する1つの画素データP
(m,n)に変換してもよい。
【0036】以上の実施の形態では、X線検査装置につ
いて説明したが、入力された被検体6の検査範囲に基づ
いてX線画像の撮像ポイントの走査回数を算出し、被検
体6のX線画像を記憶し、走査回数に基づいて走査装置
4を前後左右にステップ移動させ、撮像ポイントに対応
づけてX線画像を記憶するように制御し、記憶した複数
のX線画像を表示用X線画像に合成する手順をソフトウ
エアの形態でフロッピーディスクやCD−ROM等の記
録媒体にX線検査装置用画像処理プログラムとして格納
し、X線検査装置のMPU8でX線検査装置用画像処理
を行うこともできる。
【0037】上述したような画像処理用プログラムが格
納された記録媒体を、従来のX線検査装置のMPU8に
セットすれば、本発明による広範囲のX線画像を得るX
線検査装置を実現できる。
【0038】また、記憶した複数のX線画像を表示用X
線画像に合成する手順を、ソフトウエアの形態でフロッ
ピーディスクやCD−ROM等の記録媒体にX線検査用
画像処理プログラムとして格納し、パソコン上にてX線
検査装置で記録した画像データの画像処理をする際に使
用することができる。この場合、X線検査装置で撮像さ
れ記憶された記憶手段を、パソコンにセットして複数の
X線画像データを取り込んだ上で、上記X線検査用画像
処理プログラムにより広範囲のX線画像を表示するよう
に画像処理を行うX線検査用画像処理装置を実現でき
る。
【0039】以上のような処理は、X線管の焦点寸法が
μmオーダであり、被測定面42の範囲が狭く拡大率が
数百倍〜1000倍であるような、いわゆるマイクロフ
ォーカスX線検査装置にとくに好適である。その他、発
生させるX線の焦点寸法が0.2〜0.5mmで、拡大
率が数十倍程度のミニフォーカスX線検査装置や、波長
が比較的長い軟X線を使用した装置にも本発明を適用で
きる。
【0040】特許請求の範囲の各構成要素と発明の実施
の形態の各構成要素との対応について説明すると、入力
装置18が入力手段に、MPU8が算出手段、制御手段
と合成手段に、画像メモリ12とメモリ9が記憶手段に
それぞれ対応する。
【0041】
【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明では、
1回の撮像範囲よりも広い範囲で被検体を観察する場
合、予め検査範囲全体を撮像するために必要なX線画像
の撮像ポイントと走査回数を算出し、算出した撮像ポイ
ントに基づいてX線画像を撮像、記憶した後、次の隣接
した撮像ポイントに移動してX線画像を撮像、記憶する
動作を走査回数に基づいた一連の動作として行い、複数
の撮像ポイントで撮像した複数の画像データを表示用の
画像データに合成するようにしたので、大がかりな装置
とすることなく、複数の画像データから構成される広範
囲の画像データを一画面上に表示することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】一実施の形態によるX線検査装置のブロック図
【図2】本発明によるX線検査装置を説明する図
【図3】本発明によるX線検査装置のX線画像の表示例
を示す図
【図4】本発明によるX線検査装置の最小拡大率を説明
する図
【図5】本発明によるX線検査装置の被測定面を説明す
る図
【図6】本発明によるX線検査装置により複数の撮像ポ
イントに被検体を移動する方式を示す図
【図7】本発明によるX線検査装置において複数の画像
を撮像して合成する処理手順を示すフローチャート
【図8】図7の処理により合成した表示画面を示す図
【図9】本発明によるX線検査装置のメモリブロックの
画像データを説明する図
【図10】本発明によるX線検査装置の表示画面上で表
示される画像データを示す図
【符号の説明】
1…X線管、2…X線管コントローラ、3…撮像装置、
4…走査装置、5…駆動制御装置、6…被検体、7…防
護ボックス、8…MPU、9…メモリ、10…デコード
回路、11…A/Dコンバータ、12…画像メモリ、1
3…タイミング回路、14…表示部コントローラ、15
…表示部、16…インターフェイス、17…インターフ
ェイス、18…入力装置、19…表示部の表示領域、2
0…撮像ポイント、22…測定領域、23…撮像領域、
42…被測定面、43…撮像面、Lx…測定範囲の横
軸、Ly…測定範囲の縦軸、LH…測定面の横軸、LV
…測定面の縦軸、lh…表示部画面上の測定面の横軸、
lv…表示部画面上の測定面の縦軸
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 橘川 剛 茨城県土浦市神立町650番地 日立建機株 式会社土浦工場内 Fターム(参考) 2G001 AA01 BA11 CA01 DA09 FA06 GA06 GA07 HA01 HA07 HA13 HA20 JA02 JA12 JA13 JA16 KA03 PA11 5B057 BA03 BA19 BA21 BA24 CD02 CD05 CE10 CH11

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】X線を発生するX線管と、被検体を載置し
    て検査位置を前後左右に移動するとともに、前記被検体
    を上下してX線画像の拡大率を変えることができる走査
    装置と、前記被検体を透過したX線を撮像する撮像装置
    とを有するX線検査装置において、 前記被検体の検査範囲を入力する入力手段と、 入力された前記被検体の検査範囲に基づいて、X線画像
    の撮像ポイントの走査回数を算出する算出手段と、 前記被検体のX線画像を記憶する記憶手段と、 前記走査回数に基づいて、前記走査装置を前後左右にス
    テップ移動させ、前記被検体のX線画像の撮像ポイント
    に対応づけて前記X線画像を前記記憶手段に記憶するよ
    うに制御する制御手段と、 前記記憶手段に記憶した複数の前記X線画像を表示用X
    線画像に合成する合成手段とを備えることを特徴とする
    X線検査装置。
  2. 【請求項2】請求項1に記載されたX線検査装置で撮像
    され記憶手段に記憶された複数のX線画像データについ
    て、前記X線画像データの中から読み出し範囲を選択
    し、 選択された前記読み出し範囲に基づいて、前記記憶手段
    からX線画像データを読み出す読み出し手段と、 読み出した複数の前記X線画像データを表示用X線画像
    データに合成する合成手段とを備えることを特徴とする
    X線検査用画像処理装置。
  3. 【請求項3】被検体の検査範囲を入力する入力処理と、 入力された前記被検体の検査範囲に基づいて、X線画像
    の撮像ポイントの走査回数を算出する算出処理と、 前記被検体のX線画像を記憶する記憶処理と、 前記走査回数に基づいて、走査装置を前後左右にステッ
    プ移動させ、前記被検体のX線画像の撮像ポイントに対
    応づけて前記X線画像を記憶するように制御する制御処
    理と、 記憶した複数の前記X線画像を表示用X線画像に合成す
    る合成処理とを行うプログラムが格納されていることを
    特徴とするX線検査装置用画像処理プログラムが格納さ
    れた記録媒体。
  4. 【請求項4】請求項1に記載のX線検査装置において、 X線画像の拡大率が数百倍〜1000倍であることを特
    徴とするX線検査装置。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003196650A (ja) * 2001-10-17 2003-07-11 Sanyo Electric Co Ltd 画像合成方法
JP2004163279A (ja) * 2002-11-13 2004-06-10 Toshiba It & Control Systems Corp X線透視検査装置及びx線透視検査装置の較正方法
JP2005221459A (ja) * 2004-02-09 2005-08-18 Shimadzu Corp X線透視装置
JP2006184267A (ja) * 2004-11-30 2006-07-13 Nagoya Electric Works Co Ltd X線検査装置、x線検査方法およびx線検査プログラム
JP2008032754A (ja) * 2007-10-25 2008-02-14 Toshiba It & Control Systems Corp X線透視検査装置
JP2011052968A (ja) * 2009-08-31 2011-03-17 Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd 配管の断層撮影装置およびその制御方法
JP2012002696A (ja) * 2010-06-17 2012-01-05 Shimadzu Corp X線検査装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003196650A (ja) * 2001-10-17 2003-07-11 Sanyo Electric Co Ltd 画像合成方法
JP2004163279A (ja) * 2002-11-13 2004-06-10 Toshiba It & Control Systems Corp X線透視検査装置及びx線透視検査装置の較正方法
JP2005221459A (ja) * 2004-02-09 2005-08-18 Shimadzu Corp X線透視装置
JP2006184267A (ja) * 2004-11-30 2006-07-13 Nagoya Electric Works Co Ltd X線検査装置、x線検査方法およびx線検査プログラム
JP2008032754A (ja) * 2007-10-25 2008-02-14 Toshiba It & Control Systems Corp X線透視検査装置
JP2011052968A (ja) * 2009-08-31 2011-03-17 Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd 配管の断層撮影装置およびその制御方法
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