JPH1066686A - Ｘ線診断装置 - Google Patents
Ｘ線診断装置Info
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- JPH1066686A JPH1066686A JP9193341A JP19334197A JPH1066686A JP H1066686 A JPH1066686 A JP H1066686A JP 9193341 A JP9193341 A JP 9193341A JP 19334197 A JP19334197 A JP 19334197A JP H1066686 A JPH1066686 A JP H1066686A
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Landscapes
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 高解像の撮像素子で高速なフレームレートの
画像を撮影すること。 【解決手段】 本発明は、透視モ−ド時には近接する複
数画素の情報をアナログ加算して出力し、撮影モ−ド時
には画素情報を加算せずに出力する２次元固体検出器を
用いたＸ線診断装置である。
画像を撮影すること。 【解決手段】 本発明は、透視モ−ド時には近接する複
数画素の情報をアナログ加算して出力し、撮影モ−ド時
には画素情報を加算せずに出力する２次元固体検出器を
用いたＸ線診断装置である。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、被検体を透過した
Ｘ線を基に被検体のＸ線像を可視化して診断に供するＸ
線診断装置に関するものである。
Ｘ線を基に被検体のＸ線像を可視化して診断に供するＸ
線診断装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、診断用Ｘ線映像技術としてディジ
タル画像収集及び処理法が種々開発され、診断能の向上
が図られている。ところで、被検体Ｘ線像の可視化にお
いて、撮影部位が心臓のように動きの早い場合、小視野
かつ高速撮影が望ましく、また、撮影部位が頭部のよう
に動きは少ないが高解像度を要求される部位にあって
は、広視野かつ拡大撮影が望ましい。さらに、撮影の位
置決めを行う際の透視モードにおいては、高速（３０Ｆ
Ｌ／sec 以上）、広視野かつ高感度であることが望まし
く、また、目的部位の撮影をする撮影モードにおいて
は、広ダイナミックレンジ（８０dB以上）、広視野かつ
高解像度であることが望ましい。しかしながら、従来装
置においては、広ダイナミックレンジ、広視野、高解像
度、高感度なる条件を全て満たすものではなく、撮影部
位及び透視モード，撮影モードに応じてＸ線像の適切な
る可視化を行うことができないのが現状である。
タル画像収集及び処理法が種々開発され、診断能の向上
が図られている。ところで、被検体Ｘ線像の可視化にお
いて、撮影部位が心臓のように動きの早い場合、小視野
かつ高速撮影が望ましく、また、撮影部位が頭部のよう
に動きは少ないが高解像度を要求される部位にあって
は、広視野かつ拡大撮影が望ましい。さらに、撮影の位
置決めを行う際の透視モードにおいては、高速（３０Ｆ
Ｌ／sec 以上）、広視野かつ高感度であることが望まし
く、また、目的部位の撮影をする撮影モードにおいて
は、広ダイナミックレンジ（８０dB以上）、広視野かつ
高解像度であることが望ましい。しかしながら、従来装
置においては、広ダイナミックレンジ、広視野、高解像
度、高感度なる条件を全て満たすものではなく、撮影部
位及び透視モード，撮影モードに応じてＸ線像の適切な
る可視化を行うことができないのが現状である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記事情に
鑑みて成されたものであり、その目的とするところは、
撮影部位及び透視モード，撮影モードに応じてＸ線像の
適切なる可視化を行うことができるＸ線診断装置を提供
することにある。
鑑みて成されたものであり、その目的とするところは、
撮影部位及び透視モード，撮影モードに応じてＸ線像の
適切なる可視化を行うことができるＸ線診断装置を提供
することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本願請求項１記載の発明は、Ｘ線を被検体に向けて曝
射するＸ線発生手段と、前記Ｘ線に応じた電荷を発生す
る電荷発生手段と、前記電荷発生手段の発生した電荷を
蓄積する蓄積手段と、前記蓄積手段に蓄積された電荷を
読み出すためのトランジスタと、透視モード時には前記
トランジスタを複数行づつ同時にＯＮ状態にして前記ト
ランジスタの出力を加算させ、撮影モード時には前記ト
ランジスタを１行づつＯＮ状態にする手段と、前記トラ
ンジスタを行単位で制御する手段と、前記トランジスタ
の出力を列単位で出力するスイッチング手段を備えるこ
とを特徴とするＸ線診断装置である。
の本願請求項１記載の発明は、Ｘ線を被検体に向けて曝
射するＸ線発生手段と、前記Ｘ線に応じた電荷を発生す
る電荷発生手段と、前記電荷発生手段の発生した電荷を
蓄積する蓄積手段と、前記蓄積手段に蓄積された電荷を
読み出すためのトランジスタと、透視モード時には前記
トランジスタを複数行づつ同時にＯＮ状態にして前記ト
ランジスタの出力を加算させ、撮影モード時には前記ト
ランジスタを１行づつＯＮ状態にする手段と、前記トラ
ンジスタを行単位で制御する手段と、前記トランジスタ
の出力を列単位で出力するスイッチング手段を備えるこ
とを特徴とするＸ線診断装置である。
【０００５】本願請求項２記載の発明は、Ｘ線を被検体
に向けて曝射するＸ線発生手段と、前記Ｘ線に応じた電
荷を発生する電荷発生手段と、前記電荷発生手段の発生
した電荷を蓄積する蓄積手段と、前記蓄積手段に蓄積さ
れた電荷を読み出すためのトランジスタと、透視モード
時には前記トランジスタを複数行づつ同時にＯＮ状態に
して前記トランジスタの出力を加算させ、撮影モード時
には前記トランジスタを１行づつＯＮ状態にする手段
と、前記トランジスタを行単位で制御する手段と、前記
トランジスタの出力を列単位で出力するスイッチング手
段と、透視モード時には複数列の前記スイッチング手段
の出力を加算し、撮影モード時には前記スイッチング手
段の出力を加算せずに出力する演算手段を備えることを
特徴とするＸ線診断装置である。
に向けて曝射するＸ線発生手段と、前記Ｘ線に応じた電
荷を発生する電荷発生手段と、前記電荷発生手段の発生
した電荷を蓄積する蓄積手段と、前記蓄積手段に蓄積さ
れた電荷を読み出すためのトランジスタと、透視モード
時には前記トランジスタを複数行づつ同時にＯＮ状態に
して前記トランジスタの出力を加算させ、撮影モード時
には前記トランジスタを１行づつＯＮ状態にする手段
と、前記トランジスタを行単位で制御する手段と、前記
トランジスタの出力を列単位で出力するスイッチング手
段と、透視モード時には複数列の前記スイッチング手段
の出力を加算し、撮影モード時には前記スイッチング手
段の出力を加算せずに出力する演算手段を備えることを
特徴とするＸ線診断装置である。
【０００６】
【作用】本願請求項１及び請求項４記載の発明は、透視
モード時に近接する複数画素の画素情報をアナログ加算
することにより画像データの量を少なくすることができ
る。これにより、高解像の撮像素子で高速なフレームレ
ートの画像を撮影することができる。
モード時に近接する複数画素の画素情報をアナログ加算
することにより画像データの量を少なくすることができ
る。これにより、高解像の撮像素子で高速なフレームレ
ートの画像を撮影することができる。
【０００７】
【実施例】以下、本発明を実施例により具体的に説明す
る。第１図は本発明の一実施例たるＸ線診断装置のブロ
ック図である。同図ＸＴは被検体Ｐに向ってＸ線を曝射
するＸ線管、１は被検体Ｐを透過したＸ線を検出する検
出器である。この検出器１は被検体Ｐの透過Ｘ線情報を
画素単位で電気信号に変換して蓄積し、且つ、蓄積した
電気信号を画素単位で読み出し可能なものであり、被検
体Ｐを透過したＸ線を光に変換するシンチレータ（例え
ばCsＩ）２と、このシンチレータ２よりの光に応じて電
子を放出する光電体（例えばCs3 Sb) ３と、この光電体
３よりの電子を加速後に再び光に変換する螢光体（例え
ば（ZnCd)S) ５と、この螢光体５よりの光を電気信号に
変換して蓄積する２次元固体検出器６とを有して構成さ
れる。また、７は制御部であり透視モード，撮影モード
及び撮影部位に応じて前記検出器１の読み出しアドレス
を制御するものである。８はこの制御部７の制御によっ
て読み出された情報（電気信号）を積分する複数の積分
器より成る積分器群、９はこの積分器９の出力をディジ
タル信号に変換する複数のＡ／Ｄ（アナログ・ディジタ
ル）変換器より成るＡ／Ｄ変換器群、１０はこのＡ／Ｄ
変換器群９の出力を基に演算処理する演算部、１１はこ
の演算部１０の出力を記憶するメモリ、１２はこのメモ
リ１１の記憶内容を基に画像表示を行うモニタである。
ここに、前記２次元固体検出器６は、例えばその等価回
路を第２図に示すように、ダイオード１３ａとコンデン
サ１３ｂとの並列回路（１画素に相当）が２０４８個×
２０４８個整然と２次元的に配列され、且つ、並列回毎
に薄膜トランジスタを用いたスイッチ１３ｃが直列接続
されて成るものであり、読み出し信号Ｓ1 〜Ｓ2048でス
イッチ１３ｃをオンさせることにより各画素毎の情報Ｉ
1 〜Ｉ2048を読み出すことができる。例えばこの２次元
固体検出器６は大面積ガラス基板の上に、薄膜蒸着技術
とＩＣプロセス技術とを駆使して作成されるものであ
る。次に、２次元固体検出器，制御部，積分器及びＡ／
Ｄ変換器の接続関係を第３図を基に説明する。第３図は
２次元固体検出器，制御部，積分器及びＡ／Ｄ変換器の
接続関係を示すブロック図である。制御部７は例えばＲ
ＡＭ（ランダム・アクセス・メモリ）７ａ，７ｂを有し
て成るものである。ＲＡＭ７ａはアドレスクロックＢX
の入力に応じて読み出し信号Ｓ1 〜Ｓ2048を２次元固体
検出器６に出力するように成っており、また、ＲＡＭ７
ｂはアドレスクロックＢＹ の入力に応じてスイッチ駆
動信号ＳＹ1 〜ＳＹ2048を積分スイッチ１４−１〜１４
−２０４８に出力するように成っている。この積分スイ
ッチ１４−１〜１４−２０４８は前記２次元固体検出器
６の出力端に直列接続されたものであり、トランジスタ
などが適用される。積分スイッチ１４−１〜１４−２０
４８を介して出力される情報Ｉ1 〜Ｉ2048はそれぞれ積
分器８−１〜８−２０４８に入力され、次いでＡ／Ｄ変
換器９−１〜９−２０４８に入力されるように成ってい
る。次に、演算部の構成について第４図を基に説明す
る。第４図は本実施例における演算部の構成を示すブロ
ック図である。この演算部１０は、Ａ／Ｄ変換器９−１
〜９−２０４８に対応して配置されたラッチ回路と、こ
のラッチ回路４個毎の出力を加算する加算手段１０ａ
と、各ラッチ回路の出力又は加算手段１０ａの出力を選
択して出力するセレクタ１０ｂとを有して成る。尚、第
４図においては、ラッチ回路１０−１〜１０−２０４８
中１０−１〜１０−４のみを示す。次に、以上のように
構成される実施例装置の作用について第５図及び第６図
をも参照しながら説明する。第５図及び第６図は本実施
例装置の動作タイミング図である。Ｘ線管ＸＴより曝射
され、かつ、被検体Ｐを透過したＸ線が検出器１のシン
チレータ２に入射すると、入射したＸ線に応じてシンチ
レータ２が発光し、この発光に応じて光電体３より電子
が放出される。放出された電子は空間部４で加速され、
螢光体５に到達する。すると、螢光体５が発光し、この
発光による情報が２次元固体検出器６に蓄積される。２
次元固体検出器６よりの情報の読み出しは次のように行
われる。 〈透視モード〉透視モードにおいては、撮影の位置決め
を行う関係上、高速，広視野かつ高感度であることが望
ましい。そこで、この透視モードには、２０４８×２０
４８マトリクス画像を１６ピクセル加算することにより
５１２×５１２マトリクス画像とし、これを３２フレー
ム／sec で収集する加算高速モード（ＳＵＭ−ＨＳ）が
適用される。（第５図参照）。ＲＡＭ７ａには、読み出
し信号Ｓ1 〜Ｓ4 ，Ｓ5〜Ｓ8 ，Ｓ9 〜Ｓ12，…の如
く、４個の信号毎に同時に高レベルとなるデータが書き
込まれ、また、ＲＡＭ７ｂには、スイッチ駆動信号ＳＹ
1 〜ＳＹ2048が同時に高レベルとなるデータが書き込ま
れるものとする。この書き込みはモード切り換え時など
に行う。アドレスクロックＢX の入力に応じて、読み出
し信号Ｓ1 〜Ｓ4 ，Ｓ5 〜Ｓ8 ，Ｓ9 〜Ｓ12，…毎に順
次高レベルになる。すると、２次元固体検出器６のマト
リクス上４列毎の情報読み出しが行われる。この時、Ｒ
ＡＭ７ｂの出力たるスイッチ駆動信号ＳＹ1 〜ＳＹ2048
が同時に高レベルとなることから、各行のうちＳ1 〜Ｓ
4 に対応する画素の情報がそれぞれ行毎に加算されて出
力される。そして、積分器群８により積分され、Ａ／Ｄ
変換器９によりディジタル信号に変換された後、演算部
１０に入力される。演算部１０では、入力されたデータ
を先ずラッチ回路１０−１〜１０−２０４８でラッチ
し、ラッチ回路４個毎に配置された加算手段１０ａによ
りラッチ回路４個毎の加算処理を行う。そして加算処理
結果はセレクタ１０ｂを介してメモリ１１内に書き込ま
れる。ラッチ回路のラッチは１００ms前後の速度で行
う。５１２個のデータを書き込む毎にメモリアドレス信
号がリセットされ、次々と５１２×５１２の画像が収集
される。本モードによれば、大画面の多数画素から成る
画像に対して近傍の数画素毎に加算処理することによ
り、画素数を減少させることができるので、１枚の画像
を構成する１画素の収集速度を不変とすることにより、
画素を減少した分だけ収集時間を高速化できる。また、
画素の加算処理を行うことにより、低線量下でも十分な
感度が得られ、良好な画質が得られる。 〈撮影モード〉撮影モードにおいては、被検体の目的部
位の撮影を行う関係上、広ダイナミックレンジ，広視野
かつ高解像度であることが望ましい。そこで、このモー
ドには、２０４８×２０４８のマトリックス画像を２フ
レーム／sec で収集する高解像低速モード（ＨＲ−Ｌ
Ｓ）が適用される。（第６図参照）。ＲＡＭ７ａには、
読み出し信号Ｓ1 ，Ｓ2 ，Ｓ3 ，…の如く、順次高レベ
ルとなるデータが書き込まれ、また、ＲＡＭ７ｂには、
スイッチ駆動信号ＳＹ1 〜ＳＹ2048が同時に高レベルと
なるデータが書き込まれるものとする。この書き込みは
モード切り換え時などに行う。アドレスクロックＢX の
入力に応じて、読み出し信号Ｓ1 〜Ｓ2048が順次高レベ
ルになり、２次元固体検出器６より画素毎の情報が読み
出される。読み出された情報は積分器群８により積分さ
れ、Ａ／Ｄ変換器群９によりディジタル信号に変換され
た後、演算部１０に入力される。演算部１０では、入力
されたデータをラッチ回路１０−１〜１０−２０４８で
ラッチする。そして、各ラッチ回路にラッチされたデー
タは１００ｍsec 前後の速度で読み出され、メモリ１１
内に書き込まれる。これにより、２枚／sec で２０４８
×２０４８のマトリクス画像が収集される。本モードに
よれば、画素数が細かく、高解像度の画像が得られ、ま
た、線量に応じた広ダイナミックレンジを確保できる。
撮影モードにおいて、例えば撮影の所望部位が心臓など
のように、小視野かつ高速撮影が要求される場合には、
次のように行う。２０４８×２０４８マトリクス画像中
の所望領域のみのを読み出すことにより、５１２×５１
２マトリクス画像を３０フレーム／sec で収集するもの
である。例えばＲＡＭ７ａには、読み出し信号Ｓ769 〜
Ｓ12 80までが順次高レベルとなるデータが予め書き込ま
れ、また、ＲＡＭ７ｂには、スイッチ駆動信号ＳＹ769
〜ＳＹ1280が同時に高レベルとなるデータが予め書き込
まれるものとする。このデータの書き込みは、上記同様
モード切り換え時などに行う。アドレスクロックＢX の
入力に応じて、読み出し信号Ｓ769 〜Ｓ1280までが順次
高レベルとなり、これにより２次元固体検出器６より該
当する領域内の情報が順次読み出される。そして、アド
レスクロックＢY の入力に応じてスイッチ駆動信号ＳＹ
769 〜ＳＹ1280が同時に高レベルとなることから、積分
器群８、Ａ／Ｄ変換器群９及び演算部１０を介してメモ
リ１１に書き込まれているものは、５１２×５１２マト
リクス画像となる。しかも、５１２×５１２マトリクス
画像が３０フレーム／sec で収集できることから、小視
野かつ高速撮影が可能となる。この撮影モードにおいて
は撮影の所望部位以外のデータは不要となるので、この
不要領域の被検体部位にはＸ線が照射されないようにＸ
線ビームを規制するのが好ましい。Ｘ線ビームの規制は
例えば第７図に示すように、Ｘ線管ＸＴのＸ線曝射側に
配置されたＸ線スリット１５をＡ又はＢで示すように連
動制御することにより行われる。連動制御は次のように
行うことができる。Ｘ線管ＸＴと検出器１との間ＦＤＤ
の距離を、両者の機械的移動に追従して計数する距離メ
ータで測定する。Ｘ線スリット１５がＸ線管焦点位置か
らＤ1 の距離にあり、また、検出器１において５１２×
５１２なる領域の面積がＬ2 であれば、スリット開口幅
Ｗは次式によって求められるので、このＷに応じてＸ線
スリット１５を制御する。
る。第１図は本発明の一実施例たるＸ線診断装置のブロ
ック図である。同図ＸＴは被検体Ｐに向ってＸ線を曝射
するＸ線管、１は被検体Ｐを透過したＸ線を検出する検
出器である。この検出器１は被検体Ｐの透過Ｘ線情報を
画素単位で電気信号に変換して蓄積し、且つ、蓄積した
電気信号を画素単位で読み出し可能なものであり、被検
体Ｐを透過したＸ線を光に変換するシンチレータ（例え
ばCsＩ）２と、このシンチレータ２よりの光に応じて電
子を放出する光電体（例えばCs3 Sb) ３と、この光電体
３よりの電子を加速後に再び光に変換する螢光体（例え
ば（ZnCd)S) ５と、この螢光体５よりの光を電気信号に
変換して蓄積する２次元固体検出器６とを有して構成さ
れる。また、７は制御部であり透視モード，撮影モード
及び撮影部位に応じて前記検出器１の読み出しアドレス
を制御するものである。８はこの制御部７の制御によっ
て読み出された情報（電気信号）を積分する複数の積分
器より成る積分器群、９はこの積分器９の出力をディジ
タル信号に変換する複数のＡ／Ｄ（アナログ・ディジタ
ル）変換器より成るＡ／Ｄ変換器群、１０はこのＡ／Ｄ
変換器群９の出力を基に演算処理する演算部、１１はこ
の演算部１０の出力を記憶するメモリ、１２はこのメモ
リ１１の記憶内容を基に画像表示を行うモニタである。
ここに、前記２次元固体検出器６は、例えばその等価回
路を第２図に示すように、ダイオード１３ａとコンデン
サ１３ｂとの並列回路（１画素に相当）が２０４８個×
２０４８個整然と２次元的に配列され、且つ、並列回毎
に薄膜トランジスタを用いたスイッチ１３ｃが直列接続
されて成るものであり、読み出し信号Ｓ1 〜Ｓ2048でス
イッチ１３ｃをオンさせることにより各画素毎の情報Ｉ
1 〜Ｉ2048を読み出すことができる。例えばこの２次元
固体検出器６は大面積ガラス基板の上に、薄膜蒸着技術
とＩＣプロセス技術とを駆使して作成されるものであ
る。次に、２次元固体検出器，制御部，積分器及びＡ／
Ｄ変換器の接続関係を第３図を基に説明する。第３図は
２次元固体検出器，制御部，積分器及びＡ／Ｄ変換器の
接続関係を示すブロック図である。制御部７は例えばＲ
ＡＭ（ランダム・アクセス・メモリ）７ａ，７ｂを有し
て成るものである。ＲＡＭ７ａはアドレスクロックＢX
の入力に応じて読み出し信号Ｓ1 〜Ｓ2048を２次元固体
検出器６に出力するように成っており、また、ＲＡＭ７
ｂはアドレスクロックＢＹ の入力に応じてスイッチ駆
動信号ＳＹ1 〜ＳＹ2048を積分スイッチ１４−１〜１４
−２０４８に出力するように成っている。この積分スイ
ッチ１４−１〜１４−２０４８は前記２次元固体検出器
６の出力端に直列接続されたものであり、トランジスタ
などが適用される。積分スイッチ１４−１〜１４−２０
４８を介して出力される情報Ｉ1 〜Ｉ2048はそれぞれ積
分器８−１〜８−２０４８に入力され、次いでＡ／Ｄ変
換器９−１〜９−２０４８に入力されるように成ってい
る。次に、演算部の構成について第４図を基に説明す
る。第４図は本実施例における演算部の構成を示すブロ
ック図である。この演算部１０は、Ａ／Ｄ変換器９−１
〜９−２０４８に対応して配置されたラッチ回路と、こ
のラッチ回路４個毎の出力を加算する加算手段１０ａ
と、各ラッチ回路の出力又は加算手段１０ａの出力を選
択して出力するセレクタ１０ｂとを有して成る。尚、第
４図においては、ラッチ回路１０−１〜１０−２０４８
中１０−１〜１０−４のみを示す。次に、以上のように
構成される実施例装置の作用について第５図及び第６図
をも参照しながら説明する。第５図及び第６図は本実施
例装置の動作タイミング図である。Ｘ線管ＸＴより曝射
され、かつ、被検体Ｐを透過したＸ線が検出器１のシン
チレータ２に入射すると、入射したＸ線に応じてシンチ
レータ２が発光し、この発光に応じて光電体３より電子
が放出される。放出された電子は空間部４で加速され、
螢光体５に到達する。すると、螢光体５が発光し、この
発光による情報が２次元固体検出器６に蓄積される。２
次元固体検出器６よりの情報の読み出しは次のように行
われる。 〈透視モード〉透視モードにおいては、撮影の位置決め
を行う関係上、高速，広視野かつ高感度であることが望
ましい。そこで、この透視モードには、２０４８×２０
４８マトリクス画像を１６ピクセル加算することにより
５１２×５１２マトリクス画像とし、これを３２フレー
ム／sec で収集する加算高速モード（ＳＵＭ−ＨＳ）が
適用される。（第５図参照）。ＲＡＭ７ａには、読み出
し信号Ｓ1 〜Ｓ4 ，Ｓ5〜Ｓ8 ，Ｓ9 〜Ｓ12，…の如
く、４個の信号毎に同時に高レベルとなるデータが書き
込まれ、また、ＲＡＭ７ｂには、スイッチ駆動信号ＳＹ
1 〜ＳＹ2048が同時に高レベルとなるデータが書き込ま
れるものとする。この書き込みはモード切り換え時など
に行う。アドレスクロックＢX の入力に応じて、読み出
し信号Ｓ1 〜Ｓ4 ，Ｓ5 〜Ｓ8 ，Ｓ9 〜Ｓ12，…毎に順
次高レベルになる。すると、２次元固体検出器６のマト
リクス上４列毎の情報読み出しが行われる。この時、Ｒ
ＡＭ７ｂの出力たるスイッチ駆動信号ＳＹ1 〜ＳＹ2048
が同時に高レベルとなることから、各行のうちＳ1 〜Ｓ
4 に対応する画素の情報がそれぞれ行毎に加算されて出
力される。そして、積分器群８により積分され、Ａ／Ｄ
変換器９によりディジタル信号に変換された後、演算部
１０に入力される。演算部１０では、入力されたデータ
を先ずラッチ回路１０−１〜１０−２０４８でラッチ
し、ラッチ回路４個毎に配置された加算手段１０ａによ
りラッチ回路４個毎の加算処理を行う。そして加算処理
結果はセレクタ１０ｂを介してメモリ１１内に書き込ま
れる。ラッチ回路のラッチは１００ms前後の速度で行
う。５１２個のデータを書き込む毎にメモリアドレス信
号がリセットされ、次々と５１２×５１２の画像が収集
される。本モードによれば、大画面の多数画素から成る
画像に対して近傍の数画素毎に加算処理することによ
り、画素数を減少させることができるので、１枚の画像
を構成する１画素の収集速度を不変とすることにより、
画素を減少した分だけ収集時間を高速化できる。また、
画素の加算処理を行うことにより、低線量下でも十分な
感度が得られ、良好な画質が得られる。 〈撮影モード〉撮影モードにおいては、被検体の目的部
位の撮影を行う関係上、広ダイナミックレンジ，広視野
かつ高解像度であることが望ましい。そこで、このモー
ドには、２０４８×２０４８のマトリックス画像を２フ
レーム／sec で収集する高解像低速モード（ＨＲ−Ｌ
Ｓ）が適用される。（第６図参照）。ＲＡＭ７ａには、
読み出し信号Ｓ1 ，Ｓ2 ，Ｓ3 ，…の如く、順次高レベ
ルとなるデータが書き込まれ、また、ＲＡＭ７ｂには、
スイッチ駆動信号ＳＹ1 〜ＳＹ2048が同時に高レベルと
なるデータが書き込まれるものとする。この書き込みは
モード切り換え時などに行う。アドレスクロックＢX の
入力に応じて、読み出し信号Ｓ1 〜Ｓ2048が順次高レベ
ルになり、２次元固体検出器６より画素毎の情報が読み
出される。読み出された情報は積分器群８により積分さ
れ、Ａ／Ｄ変換器群９によりディジタル信号に変換され
た後、演算部１０に入力される。演算部１０では、入力
されたデータをラッチ回路１０−１〜１０−２０４８で
ラッチする。そして、各ラッチ回路にラッチされたデー
タは１００ｍsec 前後の速度で読み出され、メモリ１１
内に書き込まれる。これにより、２枚／sec で２０４８
×２０４８のマトリクス画像が収集される。本モードに
よれば、画素数が細かく、高解像度の画像が得られ、ま
た、線量に応じた広ダイナミックレンジを確保できる。
撮影モードにおいて、例えば撮影の所望部位が心臓など
のように、小視野かつ高速撮影が要求される場合には、
次のように行う。２０４８×２０４８マトリクス画像中
の所望領域のみのを読み出すことにより、５１２×５１
２マトリクス画像を３０フレーム／sec で収集するもの
である。例えばＲＡＭ７ａには、読み出し信号Ｓ769 〜
Ｓ12 80までが順次高レベルとなるデータが予め書き込ま
れ、また、ＲＡＭ７ｂには、スイッチ駆動信号ＳＹ769
〜ＳＹ1280が同時に高レベルとなるデータが予め書き込
まれるものとする。このデータの書き込みは、上記同様
モード切り換え時などに行う。アドレスクロックＢX の
入力に応じて、読み出し信号Ｓ769 〜Ｓ1280までが順次
高レベルとなり、これにより２次元固体検出器６より該
当する領域内の情報が順次読み出される。そして、アド
レスクロックＢY の入力に応じてスイッチ駆動信号ＳＹ
769 〜ＳＹ1280が同時に高レベルとなることから、積分
器群８、Ａ／Ｄ変換器群９及び演算部１０を介してメモ
リ１１に書き込まれているものは、５１２×５１２マト
リクス画像となる。しかも、５１２×５１２マトリクス
画像が３０フレーム／sec で収集できることから、小視
野かつ高速撮影が可能となる。この撮影モードにおいて
は撮影の所望部位以外のデータは不要となるので、この
不要領域の被検体部位にはＸ線が照射されないようにＸ
線ビームを規制するのが好ましい。Ｘ線ビームの規制は
例えば第７図に示すように、Ｘ線管ＸＴのＸ線曝射側に
配置されたＸ線スリット１５をＡ又はＢで示すように連
動制御することにより行われる。連動制御は次のように
行うことができる。Ｘ線管ＸＴと検出器１との間ＦＤＤ
の距離を、両者の機械的移動に追従して計数する距離メ
ータで測定する。Ｘ線スリット１５がＸ線管焦点位置か
らＤ1 の距離にあり、また、検出器１において５１２×
５１２なる領域の面積がＬ2 であれば、スリット開口幅
Ｗは次式によって求められるので、このＷに応じてＸ線
スリット１５を制御する。
【０００８】
【数１】 尚、ＦＤＤの測定はレーザ光、超音波などを利用した距
離計測法を用いることができる。また、視野を５１２×
５１２に設定する前にスリット開口幅Ｗを決めるように
しても良い。例えば弱いＸ線を曝射しながら読み出し信
号Ｓ1024のみを高，低レベルに繰り返し、Ｙ方向にスリ
ットを絞って行く。この時スイッチ駆動信号ＳＹ769 及
びＳＹ1280は高レベルに設定しておく。そして、コンパ
レータによりＡ／Ｄ変換器の出力を“０”近傍の値と比
較すればスリットがこの２チャネルを横切った瞬間Ａ／
Ｄ変換器の出力は“０”となるので、これにより、Ｘ線
スリット１５の絞りを動かすモータを止めるようにすれ
ば良い。尚、Ｘ方向はＹ方向と同じに設定すれば良い。
このようにＸ線スリットを１５を制御してＸ線ビームを
規制することにより、不要領域へのＸ線照射を防ぐこと
ができる。このように本実施例装置にあっては、撮影部
位及び透視モード，撮影モードに応じてＸ線像の適切な
る可視化を行うことができる。
離計測法を用いることができる。また、視野を５１２×
５１２に設定する前にスリット開口幅Ｗを決めるように
しても良い。例えば弱いＸ線を曝射しながら読み出し信
号Ｓ1024のみを高，低レベルに繰り返し、Ｙ方向にスリ
ットを絞って行く。この時スイッチ駆動信号ＳＹ769 及
びＳＹ1280は高レベルに設定しておく。そして、コンパ
レータによりＡ／Ｄ変換器の出力を“０”近傍の値と比
較すればスリットがこの２チャネルを横切った瞬間Ａ／
Ｄ変換器の出力は“０”となるので、これにより、Ｘ線
スリット１５の絞りを動かすモータを止めるようにすれ
ば良い。尚、Ｘ方向はＹ方向と同じに設定すれば良い。
このようにＸ線スリットを１５を制御してＸ線ビームを
規制することにより、不要領域へのＸ線照射を防ぐこと
ができる。このように本実施例装置にあっては、撮影部
位及び透視モード，撮影モードに応じてＸ線像の適切な
る可視化を行うことができる。
【０００９】以上、本発明の実施例装置について説明し
たが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
本発明の要旨の範囲内で適宜に変形実施が可能であるの
はいうまでもない。例えば上記実施例ではＲＡＭを有し
て制御部７を構成したが、各モード毎に異なるデータを
記憶するＲＯＭ（リード・オンリ・メモリ）を有して構
成することもでき、また、シフトレジスタなどを有して
構成することも可能である。さらに、透視モードにおい
て、ＲＡＭの内容を４個おきに高レベルを出力するよう
にデータを書き込んでおけば、加算なしの５１２×５１
２マトリクス画像を得ることができる。この場合、欠損
画素を同一データあるいは近傍２点間の中間値で補間す
るのが好ましい。また、Ａ／Ｄ変換器群９の前段にアナ
ログ加算器を配置し、４個の積分器毎にその出力を加算
するようにしても良い。このようにすると、１台のＡ／
Ｄ変換器により順次切り換えてＡ／Ｄ変換することがで
きるのでハード的に有利となる。
たが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
本発明の要旨の範囲内で適宜に変形実施が可能であるの
はいうまでもない。例えば上記実施例ではＲＡＭを有し
て制御部７を構成したが、各モード毎に異なるデータを
記憶するＲＯＭ（リード・オンリ・メモリ）を有して構
成することもでき、また、シフトレジスタなどを有して
構成することも可能である。さらに、透視モードにおい
て、ＲＡＭの内容を４個おきに高レベルを出力するよう
にデータを書き込んでおけば、加算なしの５１２×５１
２マトリクス画像を得ることができる。この場合、欠損
画素を同一データあるいは近傍２点間の中間値で補間す
るのが好ましい。また、Ａ／Ｄ変換器群９の前段にアナ
ログ加算器を配置し、４個の積分器毎にその出力を加算
するようにしても良い。このようにすると、１台のＡ／
Ｄ変換器により順次切り換えてＡ／Ｄ変換することがで
きるのでハード的に有利となる。
【００１０】
【発明の効果】本発明によれば、透視モード時に近接す
る複数画素の画素情報をアナログ加算することにより画
像データの量を少なくし、高解像の撮像素子で高速なフ
レームレートの画像を撮影することができる。
る複数画素の画素情報をアナログ加算することにより画
像データの量を少なくし、高解像の撮像素子で高速なフ
レームレートの画像を撮影することができる。
【図１】本発明の一実施例たるＸ線診断装置のブロック
図である。
図である。
【図２】本実施例装置における２次元固体検出器の等価
回路図である。
回路図である。
【図３】本実施例装置における２次元固体検出器，積分
器及びＡ／Ｄ変換器の接続関係を示すブロック図であ
る。
器及びＡ／Ｄ変換器の接続関係を示すブロック図であ
る。
【図４】本実施例装置における演算部の構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図５】本実施例装置の動作タイミング図である。
【図６】本実施例装置の動作タイミング図である。
【図７】本実施例装置におけるＸ線スリットの制御を説
明するための説明図である。
明するための説明図である。
１ 検出器、 ７ 制御部 １０ａ 加算手段 Ｐ 被検体。
Claims (2)
- 【請求項１】Ｘ線を被検体に向けて曝射するＸ線発生手
段と、 前記Ｘ線に応じた電荷を発生する電荷発生手段と、 前記電荷発生手段の発生した電荷を蓄積する蓄積手段
と、 前記蓄積手段に蓄積された電荷を読み出すためのトラン
ジスタと、 透視モード時には前記トランジスタを複数行づつ同時に
ＯＮ状態にして前記トランジスタの出力を加算させ、撮
影モード時には前記トランジスタを１行づつＯＮ状態に
する手段と、 前記トランジスタを行単位で制御する手段と、 前記トランジスタの出力を列単位で出力するスイッチン
グ手段を備えることを特徴とするＸ線診断装置。 - 【請求項２】Ｘ線を被検体に向けて曝射するＸ線発生手
段と、 前記Ｘ線に応じた電荷を発生する電荷発生手段と、 前記電荷発生手段の発生した電荷を蓄積する蓄積手段
と、 前記蓄積手段に蓄積された電荷を読み出すためのトラン
ジスタと、 透視モード時には前記トランジスタを複数行づつ同時に
ＯＮ状態にして前記トランジスタの出力を加算させ、撮
影モード時には前記トランジスタを１行づつＯＮ状態に
する手段と、 前記トランジスタを行単位で制御する手段と、 前記トランジスタの出力を列単位で出力するスイッチン
グ手段と、 透視モード時には複数列の前記スイッチング手段の出力
を加算し、撮影モード時には前記スイッチング手段の出
力を加算せずに出力する演算手段を備えることを特徴と
するＸ線診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9193341A JP2786849B2 (ja) | 1997-07-04 | 1997-07-04 | Ｘ線診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9193341A JP2786849B2 (ja) | 1997-07-04 | 1997-07-04 | Ｘ線診断装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60140559A Division JPH0628658B2 (ja) | 1985-06-28 | 1985-06-28 | Ｘ線診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1066686A true JPH1066686A (ja) | 1998-03-10 |
| JP2786849B2 JP2786849B2 (ja) | 1998-08-13 |
Family
ID=16306292
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9193341A Expired - Lifetime JP2786849B2 (ja) | 1997-07-04 | 1997-07-04 | Ｘ線診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2786849B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005524466A (ja) * | 2002-05-07 | 2005-08-18 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 画像アーティファクトを減少させる装置及び方法 |
| JP2007274672A (ja) * | 2006-03-10 | 2007-10-18 | Canon Inc | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
| JP2011130471A (ja) * | 2011-01-21 | 2011-06-30 | Canon Inc | 放射線撮影装置及びその制御方法、放射線撮影システム |
| US8072514B2 (en) | 2006-03-16 | 2011-12-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging system and method for error reduction processing |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4208694B2 (ja) | 2003-10-21 | 2009-01-14 | キヤノン株式会社 | Ｘ線透視撮影装置 |
| JP5438424B2 (ja) | 2009-07-31 | 2014-03-12 | キヤノン株式会社 | 医用画像撮影装置およびその撮影方法 |
-
1997
- 1997-07-04 JP JP9193341A patent/JP2786849B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005524466A (ja) * | 2002-05-07 | 2005-08-18 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 画像アーティファクトを減少させる装置及び方法 |
| JP2007274672A (ja) * | 2006-03-10 | 2007-10-18 | Canon Inc | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
| US8072514B2 (en) | 2006-03-16 | 2011-12-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging system and method for error reduction processing |
| US8792024B2 (en) | 2006-03-16 | 2014-07-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging system and method for error-reduction processing |
| JP2011130471A (ja) * | 2011-01-21 | 2011-06-30 | Canon Inc | 放射線撮影装置及びその制御方法、放射線撮影システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2786849B2 (ja) | 1998-08-13 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |