JP4672197B2 - 半導体記憶装置の製造方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、消費電流、狭チャネル効果を抑制する半導体記憶装置の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
一般に、フラッシュメモリはチップ内部にメモリセルのほか、その動作に必要な各種遅延回路、書き込み/消去用高電圧安定化回路等を有している。したがって、これらの周辺回路を構成する抵抗、トランジスタ等の素子もチップ内部に形成されている。
【0003】
上記したような構成のフラッシュメモリを製造する際、製造コストを低減するため、製造プロセスの効率化が要求される。このため、メモリセルを構成するセルトランジスタと、周辺回路を構成するトランジスタをほぼ同一の製造プロセスを用いて製造することにより、効率化が図られている。
【0004】
図8(a)乃至図10(b)はフラッシュメモリの従来の製造方法を工程順に示している。図8(a)に示すように、このフラッシュメモリは、半導体基板にメモリセルアレイ領域(以下、セル領域と称す)と周辺回路のトランジスタが形成される領域(以下、周辺領域と称す)とを有し、周辺領域内には、NチャネルMOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)とPチャネルMOSFETとが形成されている。
【0005】
半導体基板21の表面にPウェル領域22を形成後、周辺領域のPチャネルMOSが形成される部分のPウェル領域22内にNウェル領域23を形成する。次に、半導体基板21の表面全面上にゲート酸化膜24を形成し、ゲート酸化膜24上に第1のゲート材25を形成する。続いて、第1のゲート材25上にシリコン窒化膜26、図示せぬシリコン酸化膜を順次堆積する。次に、フォトリソグラフィ工程を用い、シリコン酸化膜、シリコン窒化膜26、第1のゲート材25、ゲート酸化膜24をエッチングする。次いで、シリコン酸化膜を除去する。
【0006】
次に、図8(b)に示すように上記シリコン窒化膜26をマスクとして半導体基板21表面をエッチングし、複数のトレンチ27を形成する。
【0007】
次に、図9(a)に示すように、上記トレンチ27の内壁を酸化後、半導体装置全面に素子分離絶縁膜としてのシリコン酸化膜28を堆積し、次いでシリコン酸化膜28を平坦化する。続いて、シリコン窒化膜26をウェットエッチングにより除去する。これにより、シリコン酸化膜28からなる素子分離領域が形成される。
【0008】
次に、図9(b)に示すように、第2のゲート材29を半導体装置全面に堆積する。この第2のゲート材29は上記第1のゲート材25の上に直接配設され、第1のゲート材25、第2のゲート材29を用いて、後工程でメモリセルの浮遊ゲートが構成される。次に、フォトリソグラフィ工程を用いてセル領域のシリコン酸化膜28上の第2のゲート材29をエッチングする。こうすることにより、シリコン酸化膜28上の第2のゲート材29にスリット30を形成し、浮遊ゲートがメモリセル毎に分離される。この後、フォトレジストを除去する。
【0009】
次に、図10(a)に示すように、半導体装置全面に例えばシリコン酸化膜、シリコン窒化膜、シリコン酸化膜からなるONO膜31を堆積する。
【0010】
続いて、図10(b)に示すように、フォトリソグラフィ工程を用い、セル領域にのみ図示せぬフォトレジストを形成する。次に、このフォトレジストをマスクとして、周辺領域において、ONO膜31、第1のゲート材25、第2のゲート材29を除去する。次に、NH4F等を用いたウェットエッチングによりゲート酸化膜24を除去し、次いでセル領域のフォトレジストを除去する。
【0011】
次に、周知の方法により、周辺領域においてMOSFETのゲート酸化膜を形成し、半導体装置全面に例えばポリシリコン膜を堆積する。続いて、このポリシリコン膜をフォトリソグラフィ工程、及びRIE法による異方性エッチングを用い、セル領域において制御ゲート、浮遊ゲートを形成する。
【0012】
続いて、周辺領域の上記ポリシリコン膜にフォトリソグラフィ工程、及びRIE法による異方性エッチングを行い、MOSFETのゲート電極を形成する。この後、後酸化を行う。
【0013】
次に、セル領域及び周辺領域に不純物を拡散し、ソース・ドレイン領域を形成する。続いて、ゲート側壁を形成した後、ゲート電極上、及び拡散層の半導体基板上にサリサイドを形成する。この後、半導体装置全面にシリコン窒化膜、BPSG(Boron Doped Phospho-Silicate Glass)を被覆する。
【0014】
続いて、フォトリソグラフィ工程、RIE法を用い、コンタクトホールを適宜形成後、Al配線膜を例えばスパッタリング法により堆積する。フォトリソグラフィ工程、RIE法により配線パターンを形成後、Al配線を保護するため、PSG(Phospho-Silicate Glass)を堆積する。次に、シリコン窒化膜を堆積し、ボンディング用パッド上の保護材をエッチングにより加工し、ウェハとして完成する。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記したように、周辺領域上のゲート絶縁膜24はウェットエッチングにより除去する。このため、図10(b)に示すようにエッチング溶液がシリコン酸化膜28と半導体基板21との間に入り込むことにより、シリコン酸化膜28がエッチングされ、端部が落ち込む。このため、シリコン酸化膜28と半導体基板21との間に空隙が生じる。この後の工程でゲート電極を堆積する際、ゲート電極材がこの空隙に埋め込まれることにより、ゲート電極材が埋め込まれた部分で電界集中が起こる。よって、サブスレッショルド特性にKink特性が生じて、このゲート電極を含むMOSFETの消費電流が増大する。また、このMOSFETの狭チャネル効果が悪化して動作速度が遅くなる問題が生じる。
【0016】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、素子分離絶縁膜と半導体基板との間に空隙が形成されることを防止し、この部分にゲート電極材が埋め込まれて電界集中が起こることを回避可能な半導体記憶装置の製造方法を提供しようとするものである。
【0017】
本発明の半導体記憶装置の製造方法は、上記課題を解決するため、セルトランジスタが形成されるセル領域と周辺回路の周辺トランジスタが形成される周辺領域とを有する半導体記憶装置の製造方法であって、前記セル領域及び前記周辺領域の半導体基板上に第1のゲート酸化膜、第1のゲート材、及び第1の絶縁膜を順次形成する工程と、前記第1の絶縁膜、前記第1のゲート材、及び前記第1のゲート酸化膜の一部をエッチングすることにより、前記セル領域及び前記周辺領域に前記第1の絶縁膜、前記第1のゲート材、及び前記第1のゲート酸化膜からなる複数の積層構造を形成する工程と、前記周辺領域の全面に第2の絶縁膜を形成した後、異方性エッチングにより、前記周辺領域に形成された前記積層構造の側面上のみに前記第2の絶縁膜を残存させる工程と、前記第1の絶縁膜及び前記第2の絶縁膜をマスクとして前記半導体基板をエッチングすることにより、前記セル領域及び前記周辺領域の前記半導体基板表面に複数のトレンチを形成する工程と、前記周辺領域に形成された前記積層構造の側面上の前記第2の絶縁膜を除去することにより、前記トレンチの両側で前記積層構造近傍の前記半導体基板表面を露出させる工程と、前記セル領域の前記トレンチ内に形成するとともに、前記積層構造近傍の前記半導体基板表面に接触して延在するように前記周辺領域の前記トレンチ内に素子分離絶縁膜を形成する工程と、前記第1の絶縁膜を除去した後に、前記セル領域及び前記周辺領域の全面に第2のゲート材を形成する工程と、前記セル領域の前記素子分離絶縁膜上の位置において、前記第2のゲート材にスリットを形成し、これを個々に分離する工程と、前記セル領域の全面及び前記周辺領域の全面に第3の絶縁膜を形成する工程と、前記周辺領域に形成された前記第3の絶縁膜、前記第2のゲート材、及び前記第1のゲート材を除去した後、前記第1のゲート酸化膜をウェットエッチングにより除去する工程と、前記周辺領域の前記周辺トランジスタが形成される領域に第2のゲート酸化膜を形成する工程と、前記セル領域の全面及び前記周辺領域の全面に第3のゲート材を形成する工程と、前記セル領域に形成された前記第3のゲート材、前記第3の絶縁膜、前記第2のゲート材、及び前記第1のゲート材をエッチングすることにより、前記第1のゲート材、前記第2のゲート材からなる浮遊ゲート電極、前記第3の絶縁膜からなるONO膜、及び前記第3のゲート材からなる制御ゲート電極を含む前記セルトランジスタを形成する工程と、前記周辺領域に形成された前記第3のゲート材をエッチングすることにより、前記第3のゲート材からなるゲート電極を含む前記周辺トランジスタを形成する工程と、を具備することを特徴とする。
【0019】
更に、本発明に係る実施の形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施の形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が省略されることで発明が抽出された場合、その抽出された発明を実施する場合には省略部分が周知慣用技術で適宜補われるものである。
【0020】
【発明の実施の形態】
以下に本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。なお、以下の説明において、略同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行う。
【0021】
図1(a)乃至図5は本実施形態に係るフラッシュメモリの製造方法を工程順に示す断面図である。図1(a)に示すように、このフラッシュメモリはセル領域と周辺領域とを有する。周辺領域内には、NチャネルMOSFETとPチャネルMOSFETとが形成される。
【0022】
半導体基板1の表面にPウェル領域2を形成後、周辺領域のPチャネルMOSFETが形成される部分のPウェル領域2内にNウェル領域3を形成する。次に、例えば熱酸化により半導体基板1表面全面にゲート酸化膜4を形成し、CVD(Chemical Vapor Deposition)法により、ゲート酸化膜4上に例えばポリシリコンまたはアモルファスシリコン等による第1のゲート材5を堆積する。続いて、第1のゲート材5上に、例えばCVD法によりシリコン窒化膜6、図示せぬ第1のシリコン酸化膜を順次堆積する。
【0023】
次に、上記シリコン酸化膜上に図示せぬフォトレジストを堆積し、フォトリソグラフィ工程を用いて、フォトレジストに素子領域のパターンを転写する。続いて、このフォトレジストをマスクとして、上記第1のシリコン酸化膜、シリコン窒化膜6を例えばRIE(Reactive Ion Etching)法によりエッチングする。次に、シリコン窒化膜6をマスクとして、第1のゲート材5、及びゲート酸化膜4を例えばRIE法によりエッチングする。こうすることにより、上記素子領域のパターンに対応して、シリコン窒化膜6と、第1のゲート材5と、ゲート酸化膜4と、に開口部を形成し、半導体基板1の表面の一部を露出させる。次に、フォトレジスト及び第1のシリコン酸化膜を除去する。
【0024】
次に、図1(b)に示すように、例えば厚さが20〜35nm、好ましくは30nmのシリコン酸化膜7を半導体装置全面に例えばCVD法により堆積する。続いて、半導体装置全面に図示せぬフォトレジストを堆積し、フォトリソグラフィ工程を用いてセル領域のみフォトレジストを除去する。次に、このフォトレジストをマスクとして例えばウェットエッチングによりセル領域のシリコン酸化膜7を除去する。次に、周辺領域のフォトレジストを除去する。
【0025】
次に、図2(a)に示すように、半導体装置全面にフォトレジスト8を堆積し、フォトリソグラフィ工程を用いて周辺領域のみフォトレジストを除去する。このフォトレジスト8をマスクとして、周辺領域の半導体基板1上及びシリコン窒化膜6上に形成されたシリコン酸化膜7を例えばRIE法等の異方性エッチングにより選択的に除去する。こうすることにより、上記シリコン窒化膜6、第1のゲート材5、及びゲート酸化膜4の側面上にシリコン酸化膜7を残存させる。
【0026】
次に、図2(b)に示すように、セル領域の上記フォトレジスト8を除去する。続いて、上記シリコン窒化膜6及びシリコン酸化膜7をマスクとして半導体基板1を例えばRIE法によりエッチングすることにより、セル領域及び周辺領域の半導体基板1表面にそれぞれ複数のトレンチ9を形成する。次に、周辺領域の上記シリコン窒化膜6、第1のゲート材5、及びゲート酸化膜4の側面上に形成されたシリコン酸化膜7を例えばRIE法等の異方性エッチングを用いて除去することにより、周辺領域のトレンチ9に隣接する半導体基板1表面を露出させる。
【0027】
次に、図3(a)に示すように、トレンチの内壁を酸化した後、半導体装置全面に素子分離絶縁膜としての例えばシリコン酸化膜10を堆積する。こうすることにより、セル領域のトレンチ内がシリコン酸化膜10により埋め込まれると同時に、周辺領域においては、トレンチ内から上記トレンチに隣接して露出した半導体基板表面まで延在するようにシリコン酸化膜10が埋め込まれる。次に、シリコン酸化膜10を、シリコン窒化膜6をストッパーとして例えばCMP(Chemical Mechanical Polishing)法により平坦化する。次に、シリコン窒化膜6を例えば熱リン酸等のウェットエッチングにより除去する。これによりシリコン酸化膜10からなる素子分離領域が形成され、素子領域が分離される。
【0028】
次に、図3(b)に示すように、例えば不純物としてリンが注入されたポリシリコンまたはアモルファスシリコン等による第2のゲート材11を例えばCVD法により半導体装置全面に堆積する。この第2のゲート材11は上記第1のゲート材5の上に直接堆積され、これら第1のゲート材5、第2のゲート材11を用いて、後工程でメモリセルの2層構造の浮遊ゲートを構成する。
【0029】
次に、半導体装置全面に図示せぬフォトレジストを堆積し、フォトレジストにフォトリソグラフィ工程により、セル領域のシリコン酸化膜10上略中央部に溝を持つ形状のパターンを転写する。続いて、このフォトレジストをマスクとして第2のゲート材11を例えばRIE法等の異方性エッチングによりエッチングする。こうすることにより、シリコン酸化膜10上の上記第2のゲート材11の上記パターンの溝に対応した位置にスリット12を形成し、第2のゲート材11を個々のメモリセル毎に分離する。次に、フォトレジストを除去する。
【0030】
次に、図4(a)に示すように、半導体装置全面に例えばシリコン酸化膜、シリコン窒化膜、シリコン酸化膜からなるONO膜13を堆積する。
【0031】
次に、図4(b)に示すように、半導体装置全面に図示せぬフォトレジストを堆積し、フォトリソグラフィ工程を用いて周辺領域上のフォトレジストのみを除去する。続いて、このフォトレジストをマスクとして、周辺領域のONO膜13を例えばRIE法により除去し、第1のゲート材5、第2のゲート材11を例えばCDE(Chemical Dry Etching)法により除去する。次に、例えばNH4F等を用いたウェットエッチングによりゲート酸化膜4を除去し、次いでセル領域のフォトレジストを除去する。
【0032】
図5は、図4に示す断面図の断面方向と交差する方向を断面方向とする断面図であり、図4に続く工程を示している。図5に示すように、シリコン酸化膜10の半導体基板1から突出する端部が丸みを有している。周辺領域のMOSFETが形成される領域にMOSFETのゲート酸化膜22を形成した後、半導体装置全面に例えばポリシリコン膜を堆積する。続いて、このポリシリコン膜上に図示せぬフォトレジストを堆積し、このフォトレジストにフォトリソグラフィ工程を用いて、セル領域のメモリセルのゲートパターンを転写する。このフォトレジストをマスクとしてRIE法によりポリシリコン、上記第1,第2のゲート材5,11、ONO膜13をエッチングする。こうすることにより、セル領域において第1のゲート材5及び第2のゲート材11からなる浮遊ゲート電極11aと、制御ゲート電極18と、を形成する。この後、フォトレジストを除去する。
【0033】
次に、周辺領域において上記ポリシリコン膜上に図示せぬフォトレジストを堆積し、このフォトレジストにフォトリソグラフィ工程を用いてMOSFETのゲートパターンを転写する。続いて、このフォトレジストをマスクとして、上記ポリシリコンをRIE法によりエッチングすることにより、MOSFETのゲート電極17を形成する。この後、フォトレジストを除去し、後酸化を行う。
【0034】
次に、セル領域及び周辺領域の半導体基板1表面に、制御ゲート電極18及びゲート電極17をマスクとして不純物を拡散し、ソース領域14、ドレイン領域15を形成する。続いて、セル領域のゲート絶縁膜4、浮遊ゲート11a、制御ゲート18の側面上と、周辺領域のMOSFETのゲート絶縁膜22、ゲート電極17の側面上と、にゲート側壁19を形成する。この後、セル領域の制御ゲート電極18上と、周辺領域のMOSFETのゲート電極17上と、ソース領域14及びドレイン領域15の半導体基板上と、にそれぞれサリサイド20を形成する。これにより、サリサイドが形成された部分が低抵抗とされる。この後、半導体装置全面に図示せぬシリコン窒化膜及びBPSGを堆積する。
【0035】
続いて、フォトリソグラフィ工程及びRIE法を用いてコンタクトホールを適宜形成した後、Al配線膜を例えばスパッタリング法により堆積する。このとき、コンタクトホールがAlにより充填され、コンタクト21が形成される。フォトリソグラフィ工程、RIE法を用いて上記Alを加工して配線パターン23を形成後、Al配線を保護するため、図示せぬPSGを堆積する。次に、PE−CVD(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition)により図示せぬシリコン窒化膜を堆積し、ボンディング用パッド上の保護材をエッチングにより加工し、ウェハとして完成する。
【0036】
図6は図5に示す断面図を上から見た平面図である。図6において、10はシリコン酸化膜、14はソース領域、15はドレイン領域であり、17はMOSFETのゲート電極、18はメモリセルの制御ゲートである。
【0037】
上記実施形態によれば、シリコン窒化膜6を堆積した後、周辺領域のシリコン窒化膜6、第1のゲート材5、ゲート酸化膜4の側面上のみにシリコン酸化膜7を堆積し、この後、このシリコン酸化膜7及びシリコン窒化膜6をマスクとしてトレンチ9を形成した後、シリコン酸化膜7を除去する。このため、トレンチ9に隣接する半導体基板1表面が一部露出し、この後トレンチ9をシリコン酸化膜10により埋め込む際、この半導体基板1表面が露出する部分上にもシリコン酸化膜10が堆積される。したがって、周辺領域のシリコン窒化膜6、第1のゲート材5、ゲート酸化膜4をウェットエッチングにより除去する際、エッチング溶液がシリコン酸化膜10と半導体基板1との間に入り込むことを防ぐことができる。よって、シリコン酸化膜10と半導体基板1との間に空隙が形成されることを防止し、この部分にゲート電極材が埋め込まれて電界集中が起こることを回避できる。よって、サブスレッショルド特性にKink特性が生じ、このゲート電極を含むMOSFETの消費電流が増大したり、狭チャネル効果が悪化して動作速度が遅くなる問題を回避できる。
【0038】
尚、上記実施形態では、上記トレンチ9を形成後、シリコン酸化膜10により、トレンチ9を充填した。しかし、図7に示すように、上記トレンチ9を形成した後、トレンチ9周辺の半導体基板1の角部をエッチングにより丸みを設けた構成とすることもできる。この後の工程で、シリコン酸化膜10を堆積する際、この丸みを設けた部分にもシリコン酸化膜10が形成される。こうすることにより、この丸みを設けた部分において電界集中が発生することを防止できる。
【0039】
その他、本発明の思想の範疇において、当業者であれば、各種の変更例及び修正例に想到し得るものであり、それら変更例及び修正例についても本発明の範囲に属するものと了解される。
【0040】
【発明の効果】
以上、詳述したように本発明によれば、素子分離絶縁膜と半導体基板との間に空隙が形成されることを防止し、この部分にゲート電極材が埋め込まれて電界集中が起こることを回避可能な半導体記憶装置の製造方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る半導体記憶装置の製造方法を示す断面図。
【図2】図1に続く工程を示す図。
【図3】図2に続く工程を示す図。
【図4】図3に続く工程を示す図。
【図5】図4の断面方向と交差する方向を断面方向とする断面図であり、図4に続く工程を示す図。
【図6】図5を上から見た平面図。
【図7】本発明に係る半導体記憶装置の他の実施形態を示す断面図。
【図8】半導体記憶装置の従来の製造方法を示す断面図。
【図9】図8に続く工程を示す図。
【図10】図9に続く工程を示す図。
【符号の説明】
1…半導体基板、
2…Pウェル領域、
3…Nウェル領域、
4…ゲート酸化膜、
5…第1のゲート材、
10…シリコン酸化膜、
11…第2のゲート材、
13…ONO膜。
Claims (2)
- セルトランジスタが形成されるセル領域と周辺回路の周辺トランジスタが形成される周辺領域とを有する半導体記憶装置の製造方法であって、
前記セル領域及び前記周辺領域の半導体基板上に第1のゲート酸化膜、第1のゲート材、及び第1の絶縁膜を順次形成する工程と、
前記第1の絶縁膜、前記第1のゲート材、及び前記第1のゲート酸化膜の一部をエッチングすることにより、前記セル領域及び前記周辺領域に前記第1の絶縁膜、前記第1のゲート材、及び前記第1のゲート酸化膜からなる複数の積層構造を形成する工程と、
前記周辺領域の全面に第2の絶縁膜を形成した後、異方性エッチングにより、前記周辺領域に形成された前記積層構造の側面上のみに前記第2の絶縁膜を残存させる工程と、
前記第1の絶縁膜及び前記第2の絶縁膜をマスクとして前記半導体基板をエッチングすることにより、前記セル領域及び前記周辺領域の前記半導体基板表面に複数のトレンチを形成する工程と、
前記周辺領域に形成された前記積層構造の側面上の前記第2の絶縁膜を除去することにより、前記トレンチの両側で前記積層構造近傍の前記半導体基板表面を露出させる工程と、
前記セル領域の前記トレンチ内に形成するとともに、前記積層構造近傍の前記半導体基板表面に接触して延在するように前記周辺領域の前記トレンチ内に素子分離絶縁膜を形成する工程と、
前記第1の絶縁膜を除去した後に、前記セル領域及び前記周辺領域の全面に第2のゲート材を形成する工程と、
前記セル領域の前記素子分離絶縁膜上の位置において、前記第2のゲート材にスリットを形成し、これを個々に分離する工程と、
前記セル領域の全面及び前記周辺領域の全面に第3の絶縁膜を形成する工程と、
前記周辺領域に形成された前記第3の絶縁膜、前記第2のゲート材、及び前記第1のゲート材を除去した後、前記第1のゲート酸化膜をウェットエッチングにより除去する工程と、
前記周辺領域の前記周辺トランジスタが形成される領域に第2のゲート酸化膜を形成する工程と、
前記セル領域の全面及び前記周辺領域の全面に第3のゲート材を形成する工程と、
前記セル領域に形成された前記第3のゲート材、前記第3の絶縁膜、前記第2のゲート材、及び前記第1のゲート材をエッチングすることにより、前記第1のゲート材、前記第2のゲート材からなる浮遊ゲート電極、前記第3の絶縁膜からなるONO膜、及び前記第3のゲート材からなる制御ゲート電極を含む前記セルトランジスタを形成する工程と、
前記周辺領域に形成された前記第3のゲート材をエッチングすることにより、前記第3のゲート材からなるゲート電極を含む前記周辺トランジスタを形成する工程と、
を具備することを特徴とする半導体記憶装置の製造方法。 - 前記第2の絶縁膜の厚さは、20乃至35nmであることを特徴とする請求項1記載の半導体記憶装置の製造方法。
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