JP4245085B2 - 不揮発性メモリ装置及びその製造方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体メモリ装置及びその製造方法に係り、特に不揮発性メモリ装置及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
不揮発性メモリ装置は、通常、フロ−ティングゲ−トとコントロ−ルゲ−トとからなるゲ−ト電極と、ソ−スと、ドレインで構成される1つのトランジスタが1つのメモリセルを構成する。フロ−ティングゲ−トはデ−タを保持し、コントロ−ルゲ−トはフロ−ティングゲ−トを制御する。
【0003】
一般の不揮発性メモリセルの動作は、フロ−ティングゲ−トからソ−ス、ドレイン及びバルク(チャネル)に電子を引き抜いてセルのスレショルド電圧(VTH)を下げる消去動作、チャネルホットエレクトロンをフロ−ティングゲ−トに注入することによってセルのスレショルド電圧を高めるプログラム動作及びセルの消去状態又はプログラム状態を読み出す読出し動作からなる。
【0004】
このようなプログラム動作及び消去動作のためにメモリセルに印加される電圧は、周辺回路領域に形成される抵抗の抵抗値によって決定される。通常、半導体メモリ装置における抵抗は導電層、例えば多結晶シリコンからなり、その抵抗値は抵抗を構成する導電層の大きさとド−ピング濃度によって定まる。
【0005】
多結晶シリコン抵抗の形成方法、特に不揮発性メモリ装置の抵抗形成方法が米国特許第4367580号(発明者:Daniel C. Cuterman, 出願人:Texas Instruments)に記載されている。
【0006】
この米国特許において、ポリシリコン抵抗素子は、MOS集積回路で、一般の二重ポリシリコン工程と違って、別途のマスク及び食刻工程が不要な方法によって形成される。抵抗はFAMOS素子においてフロ−ティングゲ−トを形成する第1レベルポリシリコンに限定される。抵抗は抵抗マスクが生成されると同時にFAMOS用のコントロ−ルゲ−トを限定するようパタニングされた第2レベルポリシリコンによってマスクされる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、製造収率を下げるストリンガ−の発生を抑制した構造を有する不揮発性メモリ装置を提供することにある。
【0008】
本発明の他の目的は、ストリンガ−の発生を抑制すると共に、素子のスル−プットを低下させるミスアラインのマ−ジンを改善し得る不揮発性メモリ装置の製造方法を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するためになされた本発明の不揮発性メモリ装置は、メモリセル領域内に形成され、第1導電層からなるフローティングゲートと、該フローティングゲート上に形成された第1層間絶縁層と、該第1層間絶縁層上に形成され第2導電層からなるコントロールゲートと、を具備する不揮発性メモリセルのゲートと、周辺回路領域内に形成された第1導電層からなる抵抗層と、前記抵抗層上に第1層間絶縁層を介して配された第2導電層からなるキャッピング層と、を具備し、前記キャッピング層、前記第1層間絶縁層、及び前記抵抗層が1回の食刻工程で順にパタニングされることにより前記キャッピング層が前記抵抗層と略同一の大きさで形成され、前記キャッピング層には第1コンタクトホールが形成されて該キャッピング層上に第2層間絶縁層が形成され、前記抵抗層の側部にはストリンガーが存在せず該第2層間絶縁層が接触していることを特徴とする。
【0011】
上記の他の目的を達成するためになされた本発明の不揮発性メモリ装置の製造方法は、メモリセル領域と周辺回路領域とに分けられた半導体基板上に第1導電層を形成する第1工程と、前記第1導電層をパタニングして、メモリセル領域にフローティングゲートの形成のための第1導電層パターンを形成する第2工程と、前記第1導電層パターンの形成された結果物の全面に第1層間絶縁層及び第2導電層を形成する第3工程と、前記メモリセル領域及び周辺回路領域の前記第2導電層、第1層間絶縁層、及び第1導電層パタ−ンを同時に食刻して、前記メモリセル領域にはコントロールゲート、第1層間絶縁層、及びフローティングゲートからなる不揮発性メモリセルのゲートを形成し、前記周辺回路領域には抵抗層、第1層間絶縁層、及び該抵抗層と同一の大きさを有するキャッピング層を形成する第4工程と、前記キャッピング層に第1コンタクトホールを形成して該キャッピング層上に第2層間絶縁層を形成する第5工程と、を含み、前記抵抗層の側部にはストリンガーが存在せず前記第2層間絶縁層が接触し、前記第2導電層は、多結晶シリコン及び金属シリサイド層を積層してなることを特徴とする。
【0012】
このように、本発明に拠れば、キャッピング層と抵抗層を同時にパタニングして抵抗層と略同一の大きさに形成する。これによって、キャッピング層を形成するための導電層のパタニングの際に、抵抗層の側壁に導電物が残存することを抑制することができる。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、添付した図面に基づき本発明の好適な実施の形態を詳細に説明する。
【0014】
図1及び図2に示すように、本発明に係る不揮発性メモリ装置の第1及び第2実施の形態によれば、メモリセル領域内の半導体基板50,70上にゲ−ト61,81が形成される。ゲ−ト61,81はフロ−ティングゲ−ト56a,76a、絶縁層58,78及びコントロ−ルゲ−ト60a,80aを具備する。一方、周辺回路領域内の半導体基板50,70上には、フロ−ティングゲ−ト56a,76aと同一の導電層からなる抵抗層56b,76bが形成され、その上に、コントロ−ルゲ−ト60a,80aと同一の導電層からなるキャッピング層60b,80bが絶縁層58,78を介在して形成されている。
【0015】
キャッピング層は、抵抗層56bより大きく形成しても良いし(第1の実施の形態、図1の60b参照)、抵抗層76bと同一の大きさに形成しても良い(第2の実施の形態、図2の80b参照)。キャッピング層60b,80b内にはこれを貫く第1コンタクトホ−ルh1 ,m1 が夫々形成されている。この第1コンタクトホ−ルh1,m1 内には層間絶縁層66,86と、これを貫通する第2コンタクトホ−ルh2,m2とが夫々形成され、この第2コンタクトホ−ルh2,m2を通じて抵抗層56b,76bと金属層68,88とが夫々接続されている。
【0016】
なお、52,72は、活性領域と素子分離膜とを限定するためのフィ−ルド酸化膜、53,73はフィ−ルド酸化膜の下に形成されたチャネル阻止層である。
【0017】
前述のように、キャッピング層は、抵抗層より大きく形成され(図1のキャッピング層60b及び抵抗層56bを参照)又は抵抗層と同一の大きさに形成(図2のキャッピング層80b及び抵抗層76bを参照)される。したがって、キャッピング層60b,80bを形成するための導電層のパタニング時に、抵抗層56b,76bが露出されない。その結果、抵抗層56b,76bの側壁に多結晶シリコンなどの導電物が残存することがない。
【0018】
図3A乃至3Eは、本発明の第1の実施の形態に係る不揮発性メモリ装置の製造方法を説明するための断面図である。
【0019】
図3Aは、第1導電層パタ−ン56及び抵抗層56bを形成する工程を示す図である。この工程では、先ず、メモリセル領域と周辺回路領域とに区分された半導体基板50、例えばP型の半導体基板に、活性領域と素子分離領域とを限定するためのフィ−ルド酸化膜52を形成し、該活性領域に通常の熱酸化方法を用いてゲ−ト酸化膜54を形成する。次いで、ゲ−ト酸化膜54の形成された結果物の全面に導電物、例えば多結晶シリコンを堆積(deposit)して第1導電層を形成し、不純物を注入して導電性を調節した後に、該第1導電層をパタニングし、メモリセル領域にはフロ−ティングゲ−トの形成のための第1導電層パタ−ン56を、周辺回路領域には抵抗層56bを形成する。
【0020】
ここで、フィ−ルド酸化膜52を形成した後に、不純物をイオン注入してフィ−ルド酸化膜52の下にチャンネル阻止層53、例えばP+チャンネル阻止層を形成することが好ましい。
【0021】
ゲ−ト酸化膜54は、例えば熱酸化法のうち乾式酸化法を用いて、例えば90Å程度の厚さに形成し、抵抗層56bの形成のための第1導電層は、例えば多結晶シリコンを、例えば低圧化学気相蒸着法(以下、LPCVD法という)を用いて1500Å程度の厚さに堆積して形成する。
【0022】
抵抗層56aの抵抗値は、第1導電層に注入される不純物の注入量によるが、第1導電層が55Ω/□程度のシート抵抗を有するように不純物、例えば燐 (phosphrus)を注入することが好ましい。
【0023】
図3Bは、絶縁層58及び第2導電層60を形成する工程を示す図である。この工程では、先ず、第1導電層パタ−ン56及び抵抗層56bが形成された結果物の全面に酸化膜/窒化膜/酸化膜(ONO)を積層して絶縁層58を形成し、この絶縁層58上に導電物質を堆積して第2導電層60を形成する。次いで、第2導電層60上にフォトレジストを塗布した後に、これをパタニングして第1フォトレジストパタ−ン62を形成する。
【0024】
第1フォトレジストパタ−ン62は、コントロ−ルゲ−トの形成のための食刻マスクとして用いられるが、コントロ−ルゲ−トの形成される部分と周辺回路領域の全体とを覆うよう形成される。
【0025】
第2導電層60は、多結晶シリコンで形成し、その抵抗を低くするための不純物を注入した後に、この多結晶シリコン層上にゲ−ト電極の抵抗を低くするための低抵抗物質層、例えばタングステンシリサイド(WSix) 層を積層して形成することが好ましい。
【0026】
ここで、この多結晶シリコンは、例えばLPCVDを用いて1500Å程度の厚さに形成し、前記不純物の注入は、この多結晶シリコン層が55Ω/□程度のシート抵抗を有するように行い、タングステンシリサイド層は、プラズマを利用した化学気相蒸着法(以下、PECVD法という)を用いて1500Åの厚さに形成することが好ましい。
【0027】
絶縁層58は、例えば乾式酸化法を用いて80Å程度の厚さに酸化膜を形成し、続いてLPCVD法を用いて120Å程度の窒化膜を蒸着した後に、湿式酸化法で40〜50Å程度の窒化膜を形成することによってなる。
【0028】
ここで、絶縁層58は、第2導電層60を形成する前にパタニングして、第1導電層パタ−ン56及び抵抗層56bの上部にのみ限定しても良い。
【0029】
図3Cは、メモリセル領域のゲ−ト61を形成する工程を示す図である。この工程では、第1フォトレジストパタ−ン62を用いてメモリセル領域の第2導電層60、絶縁層58及び第1導電層56を食刻し、その後、第1フォトレジストパタ−ン62を取り除くことによって、メモリセル領域にコントロ−ルゲ−ト60a、絶縁層58及びフロ−ティングゲ−ト56aからなる不揮発性メモリセルのゲ−ト61を形成する。
【0030】
図3Dは、キャッピング層60b及び第1コンタクトホ−ルh1 を形成する工程を示す図である。この工程では、先ず、上記の結果物の全面にフォトレジストを塗布し、これをパタニングして、キャッピング層60b及び第1コンタクトホ−ルh1の形成時に食刻マスクとして用いられる第2フォトレジストパタ−ン64を形成する。この際、メモリセル領域は第2フォトレジストパタ−ン64によって覆われている。
【0031】
第2フォトレジストパタ−ン64は、後続工程で形成されるキャッピング層60bが抵抗層56bを十分に覆うように、抵抗層56bより大きく形成され、さらにキャッピング層60b内に第1コンタクトホ−ルh1が形成されるように、その一部が開口されている。
【0032】
次いで、第2フォトレジストパタ−ン64を食刻マスクとして周辺回路領域内に残存する第2導電層60(図3C参照)をパタニングすることによって、抵抗層56b上に、該抵抗層56bより大きいキャッピング層60bを形成すると共にキャッピング層60b内に絶縁層58を部分的に露出させる第1コンタクトホ−ルh1 を形成する。この際、周辺回路領域のトランジスタのゲ−ト(図示せず)も共に形成する。
【0033】
キャッピング層60bは、多結晶シリコンに不純物をド−ピングして形成された抵抗層56bの抵抗値を一定に保つためのものであって、後続の工程において、他の層、例えばBPSG層のように不純物のド−ピングされた酸化膜から、抵抗層56bへ不純物が拡散されるのを防止する。
【0034】
このように、キャッピング層60bが抵抗層56bより大きく形成されて抵抗層56bの側壁を覆うため、キャッピング層の形成のためのパタニング時に、抵抗層56bの側壁に従来のようなストリンガ−が発生しない。
【0035】
図3Eは、第2コンタクトホ−ルh2及び金属層68を形成する工程を示す図である。この工程では、先ず、第2フォトレジストパタ−ン64を取り除いた後に、その結果物の全面に不純物イオンを注入してメモリセルトランジスタ及び周辺回路トランジスタのソ−ス/ドレイン(図示せず)を形成する。次いで、絶縁物、例えば酸化物を堆積し、これに平坦化工程を施して層間絶縁層(平坦化層)66を形成する。次いで、層間絶縁層66及び絶縁層58を部分的に食刻して抵抗層56bを部分的に露出させる第2コンタクトホ−ルh2を形成した後に、その結果物上に導電物、例えばアルミニウムを塗布しパタニングして金属層、例えば抵抗層56bと電気的に接続される金属層68を形成する。
【0036】
第2コンタクトホ−ルh2は、図3Eに示したように、第1コンタクトホ−ルh1 内に形成するのが好ましく、また、湿式食刻及び乾式食刻を併用することによってその上端部を下端部より広く形成して段差塗布性を向上させることが好ましい。
【0037】
層間絶縁層66は、酸化物、例えば高温酸化物(HTO)を約1000Å程度の厚さに堆積した後に、その上に流動性の絶縁物、例えばBPSGのような不純物のド−ピングされた酸化物を約6000Å程度の厚さに堆積し、炉でBPSGのリフロ−工程を施すことにより形成することができる。
【0038】
金属層68は、アルミニウムを約8000Å程度の厚さに堆積して形成することが好ましい。
【0039】
以上、本発明の第1の実施の形態によれば、抵抗層56bの抵抗値を一定に保つためのキャッピング層60bを、抵抗層56bの側壁を取り囲むことができる大きさに形成するため、キャッピング層60bの形成のための異方性食刻時において、抵抗層56bの側壁にキャッピングストリンガ−が発生しない。
【0040】
さらに、コントロ−ルゲ−ト56aとフロ−ティングゲ−ト60aが同一の写真工程で形成されるため、素子のスル−プットを低下させるミスアラインのマジ−ンが改善される。
【0041】
図4A乃至図4Dは、本発明の第2の実施の形態に係る不揮発性メモリ装置の製造方法を説明するための断面図である。この第2の実施の形態によれば、周辺回路領域の抵抗層及びキャッピング層を1回の食刻工程で形成することによって、抵抗層の側壁にキャッピング層ストリンガ−が発生することを回避することができる。
【0042】
図4Aは、第1導電層パターン76、絶縁層78及び第2導電層80を形成する工程を示す図である。メモリセル領域と周辺回路領域とに区分された半導体基板70上にフィ−ルド酸化膜72及びゲ−ト酸化膜74を形成する工程は、第1の実施の形態に係る工程と同様である。この工程の後、ゲ−ト酸化膜74の形成された結果物の全面に導電物を堆積して第1導電層を形成した後に、これをパタニングすることによってメモリセル領域のフロ−ティングゲ−トを形成するための第1導電層パタ−ン76を形成する。この際、周辺回路領域は食刻マスク(図示せず)によって覆っておき、第1導電層のパタニングを行わない。
【0043】
次いで、この結果物の全面に絶縁層78及び第2導電層80を順に形成し、その上にフォトレジストを塗布した後に、これをパタニングしてメモリセル領域のゲ−トと周辺回路領域の抵抗層が形成される領域を限定する第1フォトレジストパタ−ン82を形成する。
【0044】
ここで、第1の実施の形態と同様に、フィ−ルド酸化膜72を形成した後に、不純物をイオン注入してフィ−ルド酸化膜72の下にチャンネル阻止層73を形成しても良いし、第1導電層に不純物を注入することにより該第1導電層が一定のシート抵抗を有するようにしても良い。
【0045】
図4Bは、メモリセルのゲ−ト81、抵抗層76b及びキャッピング層80bを形成する工程を示す図である。この工程では、先ず、第1フォトレジストパタ−ン82をマスクとして、図4Aに示すメモリセル領域及び周辺回路領域の第2導電層80、絶縁層78及び第1導電層パターン76を順に食刻した後に、第1フォトレジストパタ−ン82を取り除く。これによって、メモリセル領域にはコントロ−ルゲ−ト80a、絶縁層78及びフロ−ティングゲ−ト76aからなるメモリセルゲ−ト81が形成され、周辺回路領域には抵抗層76b、絶縁層78及びキャッピング層80bが形成される。
【0046】
このように、この実施の形態に拠れば、1回の食刻工程で周辺回路領域の抵抗層76b及びキャッピング層80bが同時に形成されるため、従来のようなキャッピング層ストリンガ−が発生しない。ここで、キャッピング層80bは、第1の実施の形態における役割と同一の役割を有し、また、抵抗層76bと同一の大きさに形成される。
【0047】
図4Cの第1コンタクトホ−ルm1を形成する工程を示す図である。この工程では、先ず、メモリセルのゲ−ト81及び周辺回路領域の抵抗層76bの形成された結果物の全面にフォトレジストを塗布した後に、これをパタニングして、第2フォトレジストパタ−ン84を形成する。この第2フォトレジストパタ−ン84は、キャッピング層80b内に第1コンタクトホ−ルm1を形成すると共に周辺回路領域のゲ−ト(図示せず)を限定するようにパタニングされる。
【0048】
次いで、第2フォトレジストパタ−ン84を食刻マスクとして、キャッピング層80bを食刻することによって、絶縁層78を部分的に露出させる第1コンタクトホ−ルm1 と周辺回路トランジスタのゲ−ト(図示せず)を形成する。
【0049】
図4Dは、第2コンタクトホ−ルm2及び金属層88を形成する工程を示す図である。この工程では、先ず、第2フォトレジストパタ−ン84を取り除いた後に、その結果物の全面に不純物イオンを注入してメモリセルトランジスタ及び周辺回路トランジスタのソ−ス/ドレイン(図示せず)を形成する。次いで、絶縁物、例えば酸化物を堆積し、これに平坦化工程を施して層間絶縁層(平坦化層)86を形成し、この層間絶縁層86及び絶縁層78を部分的に食刻して抵抗層76bを部分的に露出させるコンタクトホ−ルm2を形成する。次いで、その結果物上に導電物、例えばアルミニウムを塗布しパタニングして金属層、例えば抵抗層76bと電気的に接続される金属層88を形成する。
【0050】
ここで、第2コンタクトホ−ルm2、層間絶縁層86及び金属層88の形成方法及び使用物質は、第1の実施の形態と同一であることが好ましい。
【0051】
以上のように、本発明の第2の実施の形態に拠れば、抵抗層76bとキャッピング層80bを1回の食刻工程で同時に形成する。従って、キャッピング層の形成のための異方性食刻工程の際に、抵抗層の側壁にキャッピング層ストリンガ−か発生しない。また、第1の実施の形態と同様に、ミスアラインのマ−ジンが改善される。
【0052】
本発明は、上記の特定の実施の形態に限定されず、本発明の技術的な思想の範囲内で様々な変形が可能である。
【0053】
【発明の効果】
本発明に拠れば、ストリンガーの発生が抑制され、ミスアラインのマージンが改善される。
【0054】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る不揮発性メモリ装置の構造を示す断面図である。
【図2】本発明の第2の実施の形態に係る不揮発性メモリ装置の構造を示す断面図である。
【図3A】本発明の第1の実施の形態に係る不揮発性メモリ装置の製造工程を示す断面図である。
【図3B】本発明の第1の実施の形態に係る不揮発性メモリ装置の製造工程を示す断面図である。
【図3C】本発明の第1の実施の形態に係る不揮発性メモリ装置の製造工程を示す断面図である。
【図3D】本発明の第1の実施の形態に係る不揮発性メモリ装置の製造工程を示す断面図である。
【図3E】本発明の第1の実施の形態に係る不揮発性メモリ装置の製造工程を示す断面図である。
【図4A】本発明の第2の実施の形態に係る不揮発性メモリ装置の製造工程を示す断面図である。
【図4B】本発明の第2の実施の形態に係る不揮発性メモリ装置の製造工程を示す断面図である。
【図4C】本発明の第2の実施の形態に係る不揮発性メモリ装置の製造工程を示す断面図である。
【図4D】本発明の第2の実施の形態に係る不揮発性メモリ装置の製造工程を示す断面図である。
【符号の説明】
50,70 半導体基板
52,72 フィールド酸化膜
53,73 チャネル阻止層
54,74 ゲート酸化膜
56,76 第1導電層パターン
56a,76a フロ−ティングゲ−ト
56b,76b 抵抗層
58,78 絶縁層
60,80 第2導電層
60a,80a コントロールゲート
60b,80b キャッピング層
61,81 ゲート
62,82 第1フォトレジストパターン
64,84 第2フォトレジストパターン
66,86 層間絶縁層
68,88 金属層
h1,m1 第1コンタクトホール
h2,m2 第2コンタクトホール
Claims (5)
- メモリセル領域内に形成され、第1導電層からなるフローティングゲートと、該フローティングゲート上に形成された第1層間絶縁層と、該第1層間絶縁層上に形成され第2導電層からなるコントロールゲートと、を具備する不揮発性メモリセルのゲートと、
周辺回路領域内に形成された第1導電層からなる抵抗層と、
前記抵抗層上に第1層間絶縁層を介して配された第2導電層からなるキャッピング層と、を具備し、
前記キャッピング層、前記第1層間絶縁層、及び前記抵抗層が1回の食刻工程で順にパタニングされることにより前記キャッピング層が前記抵抗層と略同一の大きさで形成され、
前記キャッピング層には第1コンタクトホールが形成されて該キャッピング層上に第2層間絶縁層が形成され、前記抵抗層の側部にはストリンガーが存在せず該第2層間絶縁層が接触していることを特徴とする不揮発性メモリ装置。 - 前記第2層間絶縁層上に形成された金属層をさらに具備し、
前記第1コンタクトホ−ルを貫くようにして前記第2層間絶縁層に第2コンタクトホ−ルが形成され、前記第2コンタクトホ−ルを通じて前記金属層と抵抗層とが電気的に接続されていることを特徴とする請求項1に記載の不揮発性メモリ装置。 - 前記第1導電層は不純物が注入された多結晶シリコン膜であり、前記第1層間絶縁層は酸化膜/窒化膜/酸化膜よりなることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の不揮発性メモリ装置。
- 前記第2導電層は、多結晶シリコン層及び金属シリサイド層が積層されてなることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の不揮発性メモリ装置。
- メモリセル領域と周辺回路領域とに分けられた半導体基板上に第1導電層を形成する第1工程と、
前記第1導電層をパタニングして、メモリセル領域にフローティングゲートの形成のための第1導電層パターンを形成する第2工程と、
前記第1導電層パターンの形成された結果物の全面に第1層間絶縁層及び第2導電層を形成する第3工程と、
前記メモリセル領域及び周辺回路領域の前記第2導電層、第1層間絶縁層、及び第1導電層パタ−ンを同時に食刻して、前記メモリセル領域にはコントロールゲート、第1層間絶縁層、及びフローティングゲートからなる不揮発性メモリセルのゲートを形成し、前記周辺回路領域には抵抗層、第1層間絶縁層、及び該抵抗層と同一の大きさを有するキャッピング層を形成する第4工程と、
前記キャッピング層に第1コンタクトホールを形成して該キャッピング層上に第2層間絶縁層を形成する第5工程と、を含み、
前記抵抗層の側部にはストリンガーが存在せず前記第2層間絶縁層が接触し、前記第2導電層は、多結晶シリコン及び金属シリサイド層を積層してなることを特徴とする不揮発性メモリ装置の製造方法。
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