JP4172911B2 - 位置センサ - Google Patents

位置センサ Download PDF

Info

Publication number
JP4172911B2
JP4172911B2 JP2000516201A JP2000516201A JP4172911B2 JP 4172911 B2 JP4172911 B2 JP 4172911B2 JP 2000516201 A JP2000516201 A JP 2000516201A JP 2000516201 A JP2000516201 A JP 2000516201A JP 4172911 B2 JP4172911 B2 JP 4172911B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
sensor
winding
loop
loops
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2000516201A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001520368A5 (ja
JP2001520368A (ja
Inventor
デイビッド・トーマス・エリオット・エリイ
アンドリュー・ニコラス・デイムズ
Original Assignee
シナプティクス (ユーケー) リミテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by シナプティクス (ユーケー) リミテッド filed Critical シナプティクス (ユーケー) リミテッド
Publication of JP2001520368A publication Critical patent/JP2001520368A/ja
Publication of JP2001520368A5 publication Critical patent/JP2001520368A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4172911B2 publication Critical patent/JP4172911B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/20Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying inductance, e.g. by a movable armature
    • G01D5/204Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying inductance, e.g. by a movable armature by influencing the mutual induction between two or more coils
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/30Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/16Printed circuits incorporating printed electric components, e.g. printed resistor, capacitor, inductor
    • H05K1/165Printed circuits incorporating printed electric components, e.g. printed resistor, capacitor, inductor incorporating printed inductors

Description

【0001】
本発明は、相対的に可動な少なくとも2つの部材間の相対位置を検知する位置センサに使用される装置に関する。本発明は、線形および回転誘導式位置センサを用途とする。
【0002】
WO95/31696 は、一方の部材が、センサ印刷回路基板に取り付けられた一つの励起巻線と多数のセンサ巻線とを担持し、他方の部材が、これも印刷回路基板に取り付けられた共振器を担持する、誘導式位置センサを開示している。作動時には、交流電流が励起巻線に加えられ、励起巻線はセンサ印刷回路基板の領域に交番磁場を発生させる。この磁場がセンサ印刷回路基板に接近して置かれると、共振器と誘導結合して、その共振器を共振させる。これが次に、それ自身の、空間的にパターン化された交番磁場をセンサ印刷回路基板の近傍に発生させる。この共振器磁場は、センサ巻線内に、振幅が、2つの部材間の相対位置とともに正弦的に変化する交番信号を誘導する。同様のシステムが EP0182085 に開示されているが、これは共振器の代わりに、導電性スクリーンを使用している。しかし、導電性スクリーンの使用は、出力信号レベルがはるかに小さく、また、導電性スクリーンによってセンサ巻線内に誘導される信号は、励起巻線から直にセンサ巻線で生成される信号と実質的に同位相だが反対極性を持つという欠点がある。それに対して、共振器の場合は、共振器によってセンサ巻線内に誘導された信号と、励起巻線によってセンサ巻線内に誘導された信号との間に90°の位相ずれがある。従がって、共振器では、同期検出を使って、共振器信号を励起ブレイクスルーから隔離することが可能である。
【0003】
これらの両システムのセンサ巻線の設計は、位置センサの動作にとって極めて重要である。特に、共振器との必要な正弦波結合が存在するように、かつ励起巻線との最少の結合が存在するように、それらを形成しなければならない。これは、共通磁場によって隣接ループ内に誘導される信号が互いに反対になるように編成された多数の直列接続ループかスパイラル巻線を形成することによって、また、励起巻線を、センサ巻線の周辺のまわりの一つ以上のループとして形成することによって達成される。
【0004】
本発明の一つの目的は、センサおよび励起巻線の別の幾何学的形状を提供することである。
【0005】
センサ巻線と励起巻線とは、多層回路基板に比べて安価で製造が容易な2層印刷回路基板上に形成するのが望ましい。低価格で、小型で、最適なEMC特性のために、励起電流の発生と、センサ巻線内に誘導される信号の処理とに使用される電子装置は、センサ巻線と同一の回路基板上に取り付ける必要がある。今日までに提供されたシステムでは、これらの接続部は面倒で、高価で、信頼性に欠けることがあるツイストペア・フライングリード(twisted pair flying leads) で作られてきた。接続部は従来型のPCBトラック経路設定技術を使って製作できる。しかしながら、この接続トラックは通常、(i)センサ巻線と共振器間の正弦的結合関係に外乱をもたらし、また(ii)センサ巻線が、励起コイルによって生じた磁場に敏感になり、両方とも、位置センサの総合精度を低下させる。
【0006】
この問題の一つの解決策は、単純に多層印刷回路基板を使用することである。しかし、この方法は、わずか2つではなく、幾つもの印刷回路基板の層が正確な整合を要求するので、コストを高め、位置の検知精度を低下させる場合がある。
【0007】
一局面によれば、本発明は:直列に接続されるとともに、共通電磁場によってループに生成された信号が互いに反対になるように編成された、少なくとも2つのループを有する第1回路と;測定路に沿って延びるとともに、第1回路のループにオーバーラップされるが電気的にはそれらから隔離された、少なくとも一つのループを有する第2回路;とを備える、位置エンコーダに使用される変換器を提供する。
【0008】
そのような変換器は、所定のサイズの回路基板に対して、第2回路の巻数とは無関係に、第1回路のループの面積を最大にできるという利点を提供する。
【0009】
この局面はまた、測定路に沿って編成された第1の複数の導体トラックと;測定路に沿って編成された第2の複数の導体トラックとを備え;第1と第2のの複数の導体トラックは互いに重ね合わされて、(i)直列に接続されるとともに、共通電磁場によってループ内に生成された信号が互いに反対になるように編成される、測定路に沿った少なくとも2つの前記ループ、を有する第1回路と、(ii)前記測定路に沿って延びる少なくとも一つのループを有する第2回路とを画成し;前記第1の複数の導体トラックのうちの、前記第1回路の一部を形成する導体トラックが、前記測定路に対して横方向に間隔をあけて配置される第1と第2のグループを成して編成されること;前記第2の複数の導体トラックのうちの、第1回路の一部を形成する導体トラックが、第1グループ内の導体トラックを第2グループ内の導体トラックと接続するように編成されること;そして第2の複数の導体トラックのうちの、前記第2回路の前記少なくとも一つのループを形成する導体トラック(単数または複数)が、前記第1と第2のグループの導体トラック間に配置されること;を特徴とする、位置エンコーダに使用される装置を提供する。
【0010】
別の局面によれば、本発明は:少なくとも任意の交差点において、インシュレータによって絶縁された2層の導体トラックを備え、その導体トラックは、(i)直列に接続されるとともに、共通磁場によってループ内に誘導された信号が互いに反対になるように編成される、測定路に沿って延びる少なくとも2つの前記ループ、を有する第1回路と、(ii)前記測定路に沿って延びるとともに、前記第1回路の前記少なくとも2つのループにオーバーラップされるが電気的にはそれらから隔離された少なくとも一つのループ、を有する第2回路と、を画成するように編成され;前記第2回路の少なくとも一つのループと前記第1回路の一つ以上のループ間の電磁結合面積が、前記第2回路に対する接続トラックの編成によって生じた、第2回路の少なくとも前記一つのループと第1回路のひとつのループ間の結合の変動効果に反対するように変えられる;位置センサに使用される変換器を提供する。
【0011】
この局面で、第2回路は多重始点 (multi-start) スパイラル巻線を備え、結合面積の変動が、スパイラル巻線に対するその始点または各始点の近傍で提供されることが好ましい。
【0012】
ここに、本発明の例示としての実施の形態を添付の図面に関して説明する。
【0013】
図1はシャフト1を概略的に示し、シャフトは、その軸のまわりに回動自在であり、支持壁5に備えられた軸受3を貫通している。レゾネータ(図示せず)を担持する第1の印刷回路基板9は、シャフト1により(矢印7で示すように)ブッシュ11を介して、回転可能に(断面で示す)第2の印刷回路基板15の隣へ搭載され、第2の印刷回路基板15は、多数のセンサ巻線(図示せず)と励振巻線(図示せず)を担持する。第2の印刷回路基板15は、支持壁5に固定され、回動シャフト1が貫通する中央孔16を有する。
【0014】
励振巻線、センサ巻線、およびレゾネータは、励振電流が励振巻線に印加されるとレゾネータが励振されて、センサ巻線に信号を誘導し、信号のピーク振幅がシャフトの回転の角度により正弦的に変化するように、編成されている。センサ巻線は、回動シャフト1の回転角を決定するよう誘導信号を処理する電子処理装置(図示せず)へ接続されている。
【0015】
この実施の形態では、回路基板15のまわりの円周方向へ延在する2つの2ターン・センサ巻線が使用される。各センサ巻線の各ターンは同じ幾何学的形状を持ち、3周期の巻線を備え、各周期は約120°の角度にわたり円周方向へ延在する。図2aは、センサ巻線21の1つの1ターン21−1の形状を示し、図2bは、それをリニア(直線状)経路にわたり伸ばされた場合のこのターン21−1の形状を図示する。図2aと2bに示すように、センサ巻線ターン21−1は、直列に接続された導体の、6個の6角形のループ21−1a〜21−1fを備え、隣のループは反対向きに巻かれるよう接続されている。従がって、同じ磁界により、1つのループで誘導されるどのEMFも、隣のループで誘導されるEMFと反対向きになる。この実施の形態では、各ループで囲まれた面積はほぼ同じであり、そのために、隣のループで誘導されるEMFは実質的に相互に打消すので、各ターン、従がって各センサ巻線を、電磁妨害環境に対して免疫性を持たせている。
【0016】
この実施の形態では、センサ巻線は、約25mmの直径を有する2層印刷回路基板上に形成されている。(使用中は支持壁5に面する)上面上の導体は、図2aと2bで破線で示され、(使用中はレゾネータ回路基板9に面する)下面上の導体は実線で示されている。図で見て取れるように、導体の大部分は、使用中にレゾネータ印刷回路基板9に最も近い、印刷回路基板の側上に配置されている。これにより、レゾネータとセンサ巻線との間の最大の結合が保証される。図2aと2bから分かるように、印刷回路基板15のトップ層とボトム層上の導体を接続するバイアホール22は、ループの内側と外側の端に位置し、これらの端を接続する導体は、全て印刷回路基板の下側にある。
【0017】
この実施の形態では、通常は(印刷回路基板の反対面に延びる導体24と26を接続するための)点Aにあるはずのバイアをなくすことにより、および点Aでのこれらの導体の端から接続パッド23と25まで1組の接続トラック28を延ばすことにより、センサ巻線のターン21−1から1組の接続パッド23と25までの接続がおこなわれる。図示のように、接続トラック28は、相互にPCBの反対面上に従がい、そのために、接続トラック28とレゾネータ(図示せず)との間、および接続トラック28と励振巻線(図示せず)との間の磁気結合を最少化する。
【0018】
上記で説明したように、この実施の形態では、印刷回路基板15上に、2つの2ターンのセンサ巻線および励振巻線がある。図2cは、これら全ての巻線のある印刷回路基板15を示す。図示のように、センサ巻線21の第1ターン21−1は、太線を使って強調し、各センサ巻線21および27の2つのターンは、円周方向へ15°(周期の8分の1)間隔をあけられていて、センサ巻線21の第1ターン21−1は、センサ巻線27の第1ターン27−1から30°(周期の4分の1)間隔をあけられている。図示のように、センサ巻線21の第2ターン21−2は、1組の接続トラック32により、接続パッド23と30へ接続され、接続トラック28と同様、相互に印刷回路基板15の反対面上に従がう。同様に、接続トラック34および36が、それぞれターン27−1および27−2をそれぞれ接続パッド31と33、および31と35へ接続する。この方法で、ターン21−1および21−2は直列に接続され、ターン27−1および27−2も直列に接続され、これらの巻線への接続トラックは、センサ巻線21および27と励振巻線との間、およびセンサ巻線21および27とレゾネータとの間の磁気結合に影響を及ぼさない。
【0019】
図2dは、リニア経路にわたり伸ばされた場合のセンサ巻線21を共に形成する2つのターン21−1および21−2を示す。図示のように、この実施の形態では、2つのターン間のズレ (stagger)つまり隔りは15°である。出力信号が大きく、空間歪みを低減するので、2ターンのセンサ巻線を使用する。空間歪みが低いことは、レゾネータとセンサ巻線間の空間結合関係がより正弦(波)に近いことを意味する。これは、より正確なセンサを保証する。理想的には、コイルのずらし角度は、高調波誤差の主成分を抑制するので、周期の6分の1の境域(すなわち、この実施の形態では20°)であるべきである。最低高調波誤差のための正確なずらし角度は、正確に周期の6分の1ではないかもしれず、実験およびまたはモデリングにより決定できる。この実施の形態では、スペース不足のため各センサ巻線の導体間の衝突を避けるよう、ピッチの8分の1のコイルずらし角を選択した。(代替のアプローチは、スペースに重要なバイアの位置を一定に保持すると同時に、半径方向の線の位置を最適の周期の6分の1により近くずらすことである。そのようなセンサ巻線を形成するであろう印刷回路基板のトップ層とボトム層を図2eと図2fに示す。)
図2gは、リニア経路にわたり伸ばされた場合の、この実施の形態の2つのセンサ巻線21および27を形成する4つのターン21−1、21−2、27−1、27−2を示す。図示のように、2つのセンサ巻線21および27間の隔り、つまりずらし角は30°であり、周期の4分の1に相当する。従がって、それぞれのセンサ巻線による信号出力は、90°位相差になる。
【0020】
再度、図2cを参照すると、回路基板15のトップ層とボトム層上のセンサ巻線21および27を形成する導体間の接続は、2つの内円のバイア42および2つの外円のバイア44により提供される。図2hは、(トップ層から見て)印刷回路基板15上の導体のボトム層を示す。図示のように、内円のバイア42と外円のバイア44との間の導体トラックは、全てこの層上に作成されている。従がって、図2cに示すように、励振巻線29を、センサ巻線21および27と衝突させることなく、バイアのこれらの内円と外円との間に巻くことができる。このことは図2iに図示され、そこでは印刷回路基板15のトップ層上に形成される導体が示されている。
【0021】
図2cに示すように、励振巻線29は、2−開始スパイラル巻線により形成される7本の同心ループを備える。詳細には、励振巻線29は、バイア24からC点まで、反時計回りに増加スパイラルで延在し、C点で、外ループは導体38によりバイア26へ接続される。バイア26で、励振巻線29は、反時計回りに増加スパイラルで継続してD点に至る。この技術に精通した者は理解するであろうように、各センサ巻線の各ループは、励振巻線29と結合することになる。しかし、各ループは反対向きに巻かれているので、励振巻線29から1つのループに誘導されたどの信号も、隣のループに誘導された信号と反対向きになる。従がって、励振巻線29とセンサ巻線21および27の各ループとの間の磁気結合が同じである場合、励振巻線により1つのループに誘導された信号は、隣のループに誘導された信号と実質的に打消し合うことになり、従がって、励振巻線29と、センサ巻線21および27との間の正味の結合は無いことになる。しかし、以下の説明から明らかになるであろうように、この実施の形態では、励振巻線29を接続パッド37と39へ接続する接続トラック40が理由で、励振巻線29と各センサ巻線の各ループ間の磁気結合が同じであるように確保することはできない。
【0022】
上で説明したように、レゾネータおよび励振巻線29との結合が実質的に無い接続トラックを使用して、センサ巻線の各ターンへの接続がなされた。この理由は、接続トラックが相互に印刷回路基板15の各面に従がうからであり、また励振巻線およびレゾネータにより生成される磁界のほとんどが、回路基板15の面に垂直だからである。図2hと図2iから分かるように、2層の回路基板設計のこの実施の形態では、センサ巻線21および27と衝突することなく、励振巻線29へ同様な組の接続トラックを延ばすことはできない。詳細には、図2cを参照して、励振巻線29を接続パッド37と39へ接続する接続トラック40は、これらのパッドから印刷回路基板15の各面上をB点まで進み、ここで、印刷回路基板15のトップ層上の接続トラックが左へ進み、D点で励振巻線29の外ターンに達し、印刷回路基板15のボトム層上の接続トラックが、右へ進み、バイアホール24で励振巻線29の内ターンに接続する。接続トラック40が取るこの経路の分枝は、結果として、励振巻線29と、センサ巻線21および27のループとの間の結合に不均衡をもたらす。
【0023】
励振巻線29の一部とセンサ巻線21の第1ターン21−1を示す図2jを参照して、この不均衡の理由を以下に説明する。図示のように、接続トラック40がB点で分枝するところで、例えば、励振巻線29とループ21−1cとの間のオーバーラップ領域と比較して、励振巻線29とループ21−1bとの間にオーバーラップする追加領域43がある。この追加のオーバーラップは、励振巻線29とループ21−1cとの間の磁気結合より、励振巻線29とループ21−1bとの間の磁気結合を増加させる結果となる。同様な不均衡は、励振巻線29と他のセンサ巻線27との間にも生成される。
【0024】
この実施の形態では、更なる不均衡が、接続トラックにより生じる不均衡を打消すように計画的に追加される。詳細には、同様な不均衡が、反対向きに巻かれた巻線21−1のループで、領域43と同様な領域を創出することにより生成される。この実施の形態では、この計画的な不均衡は、ループ21−1bで接続トラックにより生じる不均衡から180°の隔りをおいたループ21−1eで、追加のオーバーラップ領域45を追加することにより作られる。この技術に精通した者は理解するであろうように、計画的な不均衡は、ループ21−1a、21−1c、または21−1eの任意の一つで作ることができるであろう。代替として、接続トラックにより生じる主たる不均衡を打消すために、これらのループの各々により小さい不均衡を追加することもできるだろう。
【0025】
図3aは、レゾネータ印刷回路基板9のトップ層を示し、図3bは、トップ層から見た場合のレゾネータ印刷回路基板9のボトム層を示す。印刷回路基板9は、直径が約25mmの円板から形成され、固定ピン52、54、および56を受容する2つの切欠き部9−aと9−bを有し、ピンは、ブッシュ11上に搭載され、使用中、回路基板9をブッシュ11に対して固定する。図3aに示すように、回路基板9のトップ層は、円周方向に120°隔たっている3つのコイル部分53a、55a、および57aを備える。同様に、図3bに示すように、レゾネータ印刷回路基板9のボトム層は、また円周方向に120°隔っている3つのコイル部分53b、55b、および57bを備え、コイル53bはコイル53aの真裏に配置され、コイル55bはコイル55aの真裏に配置され、コイル57bはコイル57aの真裏に配置されている。この実施の形態では、使用中、レゾネータ回路基板9のトップ層は、センサ回路基板15に面し、その間隔は約2mmである。
【0026】
コイル53、55、および57の各々は直列に接続され、コイルの終端は、一対のコンデンサーマウント61と63に接続され、これら一対のマウントは、一対のコンデンサをコイルと直列に接続し、LCレゾネータ50を形成する。より詳細には、導体トラックは、レゾネータ回路基板9のトップ層上でコンデンサーマウント61から反時計回りの減少スパイラルで延在し、53aを画成してバイア65へ達し、そこを通り抜けてトラックは基板9の他側へ至る。バイア65から、導体トラックは、基板9のボトム層上で反時計回りの増加スパイラルで延在し、コイル53bを画成して、バイア67へ達し、ここでトラックは回路基板9のトップ層へ戻る。次いで、導体トラックは、反時計回りの減少スパイラルで連続してコイル55aを画成し、バイア69へ達し、そこを通り抜けて回路基板9のボトム層へ戻る。導体トラックは、バイア69から反時計回りの増加スパイラルで巻かれ、コイル55bをバイア71に至るまで画成し、ここで導体が通り抜けて回路基板のトップ層へ戻る。バイア71から、トラックが反時計回りの減少スパイラルで巻かれ、コイル57aを画成して、バイア73へ達する。バイア73を通り抜けて、導体はボトム層へ戻り、反時計回りの増加スパイラルで続いてコイル57bを画成して、バイア75へ達し、ここでトラックは他のコンデンサーマウント63へ接続される。
【0027】
回路基板9がブッシュ11上へ回動自在に搭載され、回路基板15が支持壁5へ固定され、それにより、レゾネータ回路基板9の内端76がセンサ回路基板15の内端16と同心であり、コイル53、55、および57は、励振巻線29とセンサ巻線21および27に隣接して位置する。励振電流が励振巻線29へ印加される場合、励振巻線により生成される磁界は、回路基板9の外端に最も近いコイル53、55、および57の導体トラックと結合し、これらのコイルの各々でEMFを誘導する。コイルは全て同じ方向に巻かれているので、これらのEMFが加わり、各コイル53、55、および57を通って流れるレゾネータ電流が生成され、それにより、コイル53、55、および57の中心に位置する3つの主軸を有する空間的にパターン化されたレゾネータ磁界を生成する。レゾネータ50は、センサ巻線の周期と同じ数のコイル53、55、および57を有するので、そしてこれらのコイル間の間隔はセンサ巻線の1周期に相当するので、図2hに示す領域43と45での励振巻線29での非対称性は、レゾネータ基板9の全ての角度位置に対して一定である、励振巻線29とレゾネータ50との間の結合には影響しない。
【0028】
この技術に精通した者は理解するであろうように、レゾネータ50が共振している場合、レゾネータにより生成される空間的にパターン化された磁界は、センサ巻線21および27と相互作用することになり、レゾネータ回路基板9の角度位置と共に変化する出力信号を各々で生成する。例えば、コイル53が、ループ21−1a上に位置する場合、コイル55はループ21−1c上に位置することになり、コイル57はループ21−1e上に位置することになる。コイル53、55、および57は、同じ方向に巻かれているので、レゾネータが共振している場合、これらのコイルに流れる電流によって生成される磁界により、同じサイズと大きさのEMFが、これらの3つのループ21−1a、21−1c、および21−1eの各々で誘導される。センサ巻線のこれらのループは、同じ方向に巻かれているので、これらのEMFは相互に加わって、出力信号を生成する。
【0029】
レゾネータ回路基板9がセンサ巻線に対して回転し、それによりコイル53、55、および57が隣のセンサーループの間に位置する場合、隣のループで誘導されるEMFは、相互に打消しあい、結果としてセンサ巻線21−1に出力信号を生成することはない。更にレゾネータ基板が回転するのに伴い、それにより例えば、コイル53、55および57が、隣のループ21−1b、21−1d、および21−1fに位置すると、それらの中に誘導されるEMFはそれら全てが加わるが、レゾネータ基板9が、コイル53、55、57がループ21−1a、21−1c、21−1eであるような角度であった場合に誘導された全EMFとは逆の極性である。
【0030】
従がって、センサーコイル21と27に対してレゾネータが回転するにつれて、そこに誘導される出力信号は、レゾネータ基板9が回転するのに従がって周期的に変化する。2つのセンサ巻線21および27は、円周方向に周期の4分の1だけ隔たっているので、1つのセンサ巻線に誘導される信号の周期的変化は、もう一方のセンサ巻線に誘導される信号の周期的変化と90°位相であることになる。理想的には、この周期的変化は、正確に正弦波であるのがよい。しかし、通常は、高次の高調波変動があり、それが出力信号に歪みを生じる。上で説明したように、多ターンのセンサ巻線を使用する実施の形態では、この高調波歪みを低減させるために、異なるターンの導体間のスペースに関して編成することは可能である。この高調波歪みの影響は、レゾネータ回路基板9とセンサ回路基板15との間の間隙を増加させるに従がい、低減する。しかし、直径25mmの装置で、レゾネータ回路基板9とセンサ回路基板15間に2mmの間隙を持つこの実施の形態では、この高調波歪みの殆どが無視できる。
【0031】
図4は、励振巻線29を励振し、センサ巻線21および27に誘導される信号を処理するのに使用される、励振と処理の回路構成101を示す。この実施の形態では、励振と処理の回路構成101は、回路基板15上に搭載され、接続パッド37と39で励振巻線29へ接続され、接続パッド25と30、および33と35とで、それぞれセンサ巻線21および27へ接続されている。図示のように、励振と処理の回路構成101はデジタル波形生成器103を備え、それは水晶発振器105から発振入力を受取り、励振ドライバ107経由で励振巻線29へ印加される励振信号を出力するよう動作する。
【0032】
この実施の形態では、励振信号は、1MHzの基本波周波数Fを有する矩形波電圧であり、それはレゾネータ回路基板9上に取付けられたレゾネータ50の共振周波数と整合する。励振巻線29に流れる励振電流は、レゾネータ回路基板9付近に電磁界を生成し、それがレゾネータ50を共振させる。共振する場合、レゾネータ50は、それ自体の磁界を生成し、それは、レゾネータ50の回転により、ピーク振幅(21および27)が90°位相で正弦的に変化するEMFを受信巻線21および27の各々に誘導する。このピーク振幅が回転角(θ)により変化する様式を図5に示す。図示のように、正弦的変化は、センサ巻線21および27の周期またはピッチに相当する120°毎に繰返す。
【0033】
図4に示すように、センサ巻線21および27に誘導されたEMFは、それぞれミキサ109および111へ入力され、ここで、誘導されたEMFを復調するために、励振巻線29へ印加された励振信号の、90°位相シフトしたバージョンと混合される。90°位相シフトは、レゾネータ50が共振する場合の動作故に必要である。ミキサ109および111からの出力は各々、対応するセンサ巻線に誘導されたEMFのそれぞれのピーク振幅に相当するDC成分と共に、高周波時間変化する成分を含む。
【0034】
ミキサからの出力は、続いて次々に、スイッチ113を通り低域通過フィルタ115へ供給され、これが高周波時間変化成分を除去する。このピーク振幅値は、次にアナログ/デジタル・コンバータ117によりアナログ値からデジタル値へ変換され、マイクロプロセッサ119へ送られ、これが、これらのデジタル値に逆正接 (arc-tangent) 関数を使用することにより、レゾネータ基板9の回転角を決定する。(破線121および123で表わされるように、マイクロプロセッサ119はスイッチ113の切換、およびデジタル波形生成器103により生成される信号も制御する。)この技術に精通した者は理解するであろうように、マイクロプロセッサ119は、シャフト角度120°にわたりレゾネータ基板の回転角を明確に決定することができる。従がって、この位置エンコーダは、単に90°だけ回転するエンジンのスロットル弁の角度位置を決定するために適するであろう。代替として、マイクロプロセッサ119が周期を計数する場合、レゾネータ基板9の回転が、連続してトラッキングされることができる。
【0035】
本発明の実施の形態に採用された励振と処理の回路構成につき簡潔な概観を記したが、より詳細な説明は、例えば、本出願人の先の国際出願WO95/31696に見ることができ、その内容を本明細書に援用する。回転角を決定するのに逆正接関数を使用しない、代替の処理回路構成が、本出願人の先の国際出願WO98/00921に見ることができ、その内容も本明細書に援用する。
【0036】
上記実施の形態は、導入部で説明した従来技術のシステムを克服する数多くの著しい利点を有する。これら利点には以下が含まれる:
(1)センサ巻線のループ上に励振巻線を巻いた結果、印刷回路基板スペースの有効利用が達成される。詳細には、所定のセンサ印刷回路基板のサイズに対して、センサ巻線ループの可能な限り大きなサイズを維持しつつ、励振巻線のより多くのターンが提供できる。励振巻線がセンサーループの外側まわりに巻かれる従来技術のシステムでは、励振巻線のターン数を増加させる場合、センサ印刷回路基板の幅を増加させるか、センサ巻線ループの幅を減らさねばならない。いくつかの用途では、センサ回路基板のサイズを大きくすることはできず、センサ巻線ループのサイズを小さくすると、出力信号レベルを低下させてしまう。
【0037】
(2)センサ巻線の各々から電子処理装置へ、(a)センサ巻線とレゾネータとの間の正弦的結合関係の著しい騒乱を発生することなく、(b)センサ巻線と励振巻線との間に有意な正味の結合を発生することなく、(c)センサ巻線が電磁妨害環境に影響を受けやすくすることなく、接続がなされる。
【0038】
(3)励振巻線がセンサ巻線の内側に巻かれ、そして励振巻線は、センサ巻線のいずれとも正味の磁気結合を生成することなく、印刷回路基板のトラックを使用して励振電子装置へ接続されるように成した、2層印刷回路基板が提供された。これは、励振巻線の接続トラックにより生じる不均衡を打消すように計画的に不均衡を追加することにより達成される。
【0039】
(4)各センサ巻線との接続パッドおよび励振巻線との接続パッドは、トラックパターンの外側に配置されるので、そこへの接続を簡単な方法で行なうことができる。
【0040】
(5)センサ巻線のループ面積は、所定の印刷回路基板のサイズに対して最大化されたので、装置は、センサ回路基板15とレゾネータ回路基板9との間の隔りをより大きくして動作できる。というのは、この隔りに対する信号の減少の率は緩慢だからである。隔りが大きいほど、より厚い保護被覆層が可能であり、この保護被覆層は、一般的に適用が安価で容易でかつより強固であるので、環境保護のために両部品を個別にシールする場合に重要である。
【0041】
(6)励振巻線の外径が最大化され、内径は最小化されるので、レゾネータへの結合は最大化される。これは、(a)励振巻線の外ループをバイア44の外円へ可能な限り接近させて巻くことにより;そして(b)励振巻線の内ループの径を、レゾネータ回路基板9の中心からレゾネータコイル53、55、および57の中心点までの距離と等しくすることにより;この実施の形態において達成される。これは、励振巻線が、回路基板9の外端にあるコイル53、55、および57のトラックと主に結合するからである。励振巻線の幅がこれらコイルの内トラック方向へ増加するにつれて、これらの内トラックでの結合は外トラックでの結合を打消すので、励振巻線との全体の結合は減少する。
【0042】
(7)励振巻線のインダクタンスを増加させる多ターンの励振巻線が提供され、それにより、(a)共通のセンサ供給電圧(約3ボルト)の使用が可能となることにより、ステップダウン電圧変換回路構成を排除することができ、そして(b)励振巻線へ印加される前に信号生成器により出力される信号を増幅するために、効率の低いリニア・パワーアンプでなく、半波ブリッジ、または全波ブリッジスイッチング増幅器の使用が可能になる。
【0043】
変更と代替の実施の形態
上記実施の形態では、多ターンの励振巻線が使用され、全ての巻線は同じ方向に巻かれていた。これは、インダクタンス増加という利点を提供するが、他方、レゾネータとの結合が低減を始める前に励振巻線が持てるターン数に限界があるという不利点を被る。図6は、直列接続の6ターンを持つ励振巻線131の代替形状を図示し、ここで外側の3ターンが一方向に巻かれ、内側の3ターンが反対方向に巻かれている。この励振コイルは、外側ターンはレゾネータ回路基板の外側端でのトラックと結合し、内側トラックは外側トラックとの結合に加わる、レゾネータ回路基板の内側端でのトラックと結合するので、レゾネータとの磁気結合を増加させる利点を有する。レゾネータと励振巻線131との間の結合の増加があるので、このことが、より大きな信号レベル、ひいては精度の改善と電磁妨害能力の改善をもたらす。図6は、センサ巻線(図示せず)に関連するバイア42と44の内円と外円も示す。図6には示されていないが、励振回路構成と励振巻線131の終端との接続トラックは、第1の実施の形態と同様な方法で接続を行なうことができ、それにより励振巻線とセンサ巻線との間には結合は無いことになる。
【0044】
図6に示す励振巻線の更なる利点は、他の電子回路と干渉するかもしれない励振巻線からの電磁放射を低減することである。加えて、内コイルのターンを増やし、それにより内側と外側のコイルの磁気双極子(ダイポール (dipole))が等しく反対向きであるようにすることにより、励振コイルを電磁妨害に対して実質的に免疫性を持たせることが可能である。そのような実施の形態の欠点は、励振巻線がインダクタンスを低減させていまい、このことが、駆動することをより困難にさせる、という点である。
【0045】
第1の実施の形態では、励振巻線は、2開始点スパイラル巻線を備えていた。接続トラックにより生じる不均衡を、例えば、対応するする不均衡を、単開始点スパイラル巻線の内ループで生成することにより打消すことが可能である。しかし、多数開始点スパイラル巻線が好ましい。というのは、不均衡は対称的な方法で生成されることができ、もし励振電圧が全波ブリッジスイッチング回路を介して励振巻線へ差動で印加される場合、2開始点スパイラル巻線は、励振巻線とセンサ巻線との間の静電容量結合の影響を低減することになるからである。
【0046】
第1の実施の形態では、接続トラックにより生じる不均衡を打消すために、センサ巻線の幾つかのループへ不均衡を追加できることを説明した。好ましくは、励振巻線へのスパイラル開始点の数は、(接続トラック不均衡を含み)不均衡の数と等しくし、それによりこの不均衡が相互に対称性を維持する。
【0047】
上記実施の形態では、2つの2ターン周期的センサ巻線が、120°の回転角に相当する周期を有して提供された。この技術に精通した者は理解するであろうように、上記手法は、センサ回路基板のまわりを円周方向へ巻かれる任意数の周期を持つ任意数のセンサ巻線を有し、そして任意のターン数を有する実施の形態で使用できる。例えば、2つの1ターン、単周期センサ巻線が、回路基板上で円周方向に90°の間隔をおいて提供できる。このセンサ巻線で誘導される信号から、レゾネータの位置は360°にわたり明白に決定できる。しかし、上記で検討した利点により、多ターンのセンサ巻線が好ましく、スペースが許される場合に使用するのがよい。
【0048】
上記実施の形態は、回転位置エンコーダに関して説明された。第1の実施の形態の特徴の多くは、リニア位置エンコーダにも当てはまる。図7は、2つの3周期、20mmピッチ、2ターンのセンサ巻線135および137を示し、ここで、各センサ巻線のターン間の間隔は、ピッチの6分の1(3.3mm)であり、巻線135の第1ターンと巻線137の第1ターン間の間隔はピッチの4分の1(5mm)である。第1の実施の形態での通り、各センサ巻線の2ターンからの接続は、接続トラック139、141、143、145を使用してなされ、接続トラックは、センサーコイルとレゾネータ(図示せず)との間の正弦的結合を騒乱せず、励振巻線147と結合しない。
【0049】
図7に示すように、この実施の形態では、励振巻線147は、4ターンの導体を備え、センサ巻線ループの中央を通り抜ける。この実施の形態では、励振巻線147への接続は、また、センサ回路基板(図示せず)のいずれかの側上を相互に従がい、センサ巻線と結合しない接続トラック149を使用してなされ得る。従がって、この実施の形態では、接続トラックにより生じる不均衡を打消すために、励振巻線147と、センサ巻線135および137との間に不均衡を計画的に用意する必要はない。これが可能なのは、励振コイルへの接続がその一方の終端でなされ得るからである。しかし、これが可能でなく、接続が、センサ巻線135および137の中央のどこかでなされなくてはならない用途があるかもしれない。その場合は、不均衡が、励振巻線147への接続トラックにより生成され、従がって、この不均衡を打消すために、第1の実施の形態で追加された方法に類似の方法で、更なる不均衡が追加されねばならない。
【0050】
この技術に精通した者は理解するであろうように、図7に示すリニアの実施の形態は、回転の実施の形態のために上で説明した利点の多くを持っており、センサーコイルの幅が、所定のセンサ基板の幅に対して最大化され、従がって信号レベルを増加させることも含んでいる。これは、例えば、小径のチューブに嵌め込めるように、位置センサの全体の幅を低減する圧力のあるところでは、特に重要である。
【0051】
上記実施の形態は、センサ巻線と励振巻線を2層の印刷回路基板上に形成することを参照して説明された。同様の考察が、これらの巻線が厚膜または薄膜技術を使用して形成されるところでも適合し、そこで、導体膜の第1層がセラミックの絶縁基板上に設けられ、続いて絶縁層(交差点だけ絶縁するようにパターン化されてもよい)、続いて第2導体膜により励振とセンサ巻線のセットを作る。
【0052】
上記実施の形態では、個別のミキサが、それぞれのセンサ巻線からの信号を復調するために提供され、変調された信号は、次に、スイッチ経由で、共通のフィルタとアナログ/デジタル・コンバータへ、次いでマイクロプロセッサへ送信された。代替の実施の形態では、個別のフィルタとアナログ/デジタル・コンバータが、ミキサの各々の出力のために提供できる。加えて、この回路構成全てが、デジタルASIC(特定用途向けIC)を使用して実現されてもよく、それは、全体のコストと設計の複雑さを低減することになろう。
【0053】
第1の実施の形態では、レゾネータは、センサ巻線の各周期のためのコイルを持つように編成された。これは、レゾネータ基板の全ての回転角に対してレゾネータと励振巻線との間に一定の結合があることを保証した。これは好ましいが、必須ではない。詳細には、レゾネータと励振巻線との間の結合が位置とともに変化する場合、この変化は、センサ巻線に誘導される両信号に共通であり、マイクロプロセッサにより遂行されるレシオメトリック (ratiometric) 計算により除去される。
【0054】
上記実施の形態では、レゾネータがセンサ巻線に対して移動するのに従がい、変化する磁界を生成するのに、レゾネータが使用された。同様な磁界は、フェライト磁極、または短絡コイル、または金属スクリーンのような、他の電磁素子により生成できる。そのような短絡コイルの実施の形態は、図3に示すコイル53、55および57を、終端がコンデンサを介して接続されるのでなく直列に接続して使用できるかもしれない。短絡コイルまたは金属スクリーンを使用する実施の形態では、励振巻線とセンサ巻線との間の磁束の結合は、短絡コイルまたは金属スクリーンの有無により決まり、コイルまたはスクリーンの配置の周到な設計により、センサ巻線から、同様なセットの正弦的に変化する出力信号が生起される。そのような位置エンコーダは、レゾネータ設計よりも安価であるという利点を有する。しかし、レゾネータ設計の方が好ましい。というのは、それは、より大きな出力レベルを提供するパルスエコー・モードの動作を使用できるからであり(ここでは、励振信号のバーストが励振巻線に印加され、センサ巻線の信号は、バーストが終了した後にのみ処理される−これは、励振信号が取り去られた後も、レゾネータが「振動 (ring)」し続けるので可能である)、そしてレゾネータ信号が励振信号と90°位相差で、励振バースト信号から分離するのが容易だからである。
【0055】
上記実施の形態では、励振信号が励振巻線に印加され、センサ巻線に誘導される信号がレゾネータの位置を決定するのに使用された。代替の実施の形態では、励振信号は、レゾネータを励振するために、代りにセンサ巻線の各々に印加することもでき、レゾネータにより励振回路に誘導される信号が、位置情報を持つであろう。
【0056】
第1の実施の形態では、励振巻線は、励振巻線とレゾネータとの間の磁気結合を低減するので、レゾネータコイルの中心点を超えて延在しなかった。しかし、センサ回路基板とレゾネータ回路基板との間の間隔が増加すると、この影響は減少する。これは、間隔が増加すると、励振コイルの磁界の実効半径が増加するからである。総合的な影響は、レゾネータ間隔の変化に伴って受取られる信号レベルのダイナミックレンジでの減少であり、これは、著しい間隔変化を受ける用途では、電子処理装置にとってしばしば有利である。この変更の別の利益は、励振コイルの可能な最大インダクタンスが増加できることである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は、回動シャフトの位置をエンコードするために、シャフトに対して搭載された位置エンコーダを有する前記回転シャフトを概略的に図示し;
【図2a】 図2aは、図1に示す位置エンコーダのセンサ巻線形成部分の1ターンを概略的に示し;
【図2b】 図2bは、リニア経路にわたり伸ばされた場合の図2aに示す巻線の形状を概略的に示し;
【図2c】 図2cは、図2aに示す巻線が、3つの同様な巻線および励振巻線と共に搭載された印刷回路基板を示し;
【図2d】 図2dは、リニア経路にわたり伸ばされた場合の図2cに示す巻線の2つを図示し、これらの2つの巻線が直列に接続され、センサ巻線を形成する様式を図示し;
【図2e】 図2eは、印刷回路基板の一部を形成する印刷された導体のトップ層を示し;
【図2f】 図2fは、図2eに示す導体のトップ層と共に、励振巻線および2つの2ターン・センサ巻線を有する変換器を形成する、導体のボトム層を示し、各センサ巻線のターン間のスペースは、高調波歪みを低減するように編成され;
【図2g】 図2gは、リニア経路にわたり伸ばされた場合の図2cに示す2つのセンサ巻線を示し;
【図2h】 図2hは、図2cに示す印刷回路基板一部を形成する導体のトップ層を示し;
【図2i】 図2iは、図2cに示す印刷回路基板一部を形成する導体のボトム層を示し;
【図2j】 図2jは、励振巻線の一部と共に図2aに示す巻線を示し、励振巻線が、センサ巻線と結合することなくその接続パッドへ接続される様式を図示し;
【図3a】 図3aは、レゾネータ印刷回路基板のトップ層を示し;
【図3b】 図3bは、レゾネータ印刷回路基板のボトム層を示し;
【図4】 図4は、図2cに示す励振巻線を励振し、図2cに示すセンサ巻線で受信された信号を処理するのに使用される励振と処理の回路構成の概略的表示であり;
【図5】 図5は、各センサ巻線に誘導される信号のピーク振幅が回動軸の角度位置により変化する様式を図示し;
【図6】 図6は、図2cに示す励振巻線の代替形状を図示し;そして、
【図7】 図7は、リニアエンコーダの一部を形成する励振巻線と1組のセンサ巻線の形状を図示する。

Claims (27)

  1. 励磁巻線およびセンサ巻線を有する変換器と、前記変換器の前記励磁巻線および前記センサ巻線に対向して電磁結合される電磁素子とを備えた位置エンコーダであって:
    前記変換器は、
    第1面および第1面に実質的に平行な第2面を有する絶縁体と;
    前記第1面上に形成された第1の複数の導体トラックと;
    前記第2面上に形成された第2の複数の導体トラックと;を備え、
    前記第1と第2の複数の導体トラックは互いに重ね合わされて、第1回路と第2回路を形成し、(i)前記第1回路は、直列に接続されるとともに、共通電磁場によって、隣接するループに生成されたそれぞれの信号が互いに反対になるように2以上のループが形成され、前記2以上のループによって形成される領域は前記第1面および第2面に実質的に平行であり、(ii)前記第2回路は、少なくとも一つのループを有し、前記少なくとも一つのループによって形成される領域は前記第1回路の2以上のループによって形成される領域に対して実質的に平行である;
    前記第1の複数の導体トラックのうちの、前記第1回路の一部を形成する導体トラックは、測定方向に対して垂直な方向に間隔をあけて形成される第1と第2のグループを成して形成されること;
    前記第2の複数の導体トラックのうちの、前記第1回路の一部を形成する導体トラックにより、前記第1グループ内の導体トラックを前記第2グループ内の導体トラックに接続して、前記第1回路の前記2以上のループを形成し;
    前記第1の複数の導体トラックのうちの、前記第2回路の前記少なくとも一つのループを形成する導体トラック(単数または複数)が、前記第1と第2のグループの導体トラック間に配置され、かつ、前記第1および第2グループの導体トラックから電気的に分離されること;
    前記第1の回路はセンサ巻線、前記第2の回路は励磁巻線として用いるためのものであり、または前記第1の回路は励磁巻線、前記第2の回路はセンサ巻線として用いるためのものであること;を特徴とする、
    位置エンコーダ。
  2. 励磁巻線およびセンサ巻線を有し、当該励磁巻線およびセンサ巻線に電磁素子を対向させて電磁結合させて位置エンコーダに用いるための変換器であって:
    前記変換器は、
    第1面および第1面に実質的に平行な第2面を有する絶縁体と;
    前記第1面上に形成された第1の複数の導体トラックと;
    前記第2面上に形成された第2の複数の導体トラックと;を備え、
    前記第1と第2の複数の導体トラックは互いに重ね合わされて、第1回路と第2回路を形成し、(i)前記第1回路は、直列に接続されるとともに、共通電磁場によって、隣接するループに生成されたそれぞれの信号が互いに反対になるように2以上のループが形成され、前記2以上のループによって形成される領域は前記第1面および第2面に実質的に平行であり、(ii)前記第2回路は、少なくとも一つのループを有し、前記少なくとも一つのループによって形成される領域は前記第1回路の2以上のループによって形成される領域に対して実質的に平行である;
    前記第1の複数の導体トラックのうちの、前記第1回路の一部を形成する導体トラックは、前記測定方向に対して垂直な方向に間隔をあけて形成される第1と第2のグループを成して形成されること;
    前記第2の複数の導体トラックのうちの、前記第1回路の一部を形成する導体トラックにより、前記第1グループ内の導体トラックを前記第2グループ内の導体トラックに接続して、前記第1回路の前記2以上のループを形成し;
    前記第1の複数の導体トラックのうちの、前記第2回路の前記少なくとも一つのループを形成する導体トラック(単数または複数)が、前記第1と第2のグループの導体トラック間に配置され、かつ、前記第1および第2グループの導体トラックから電気的に分離されること;
    前記第1の回路はセンサ巻線、前記第2の回路は励磁巻線として用いるためのものであり、または前記第1の回路は励磁巻線、前記第2の回路はセンサ巻線として用いるためのものであること;を特徴とする、
    位置エンコーダに用いる変換器。
  3. 前記第1と第2の複数の導体トラックは、実質的に平坦なインシュレータのそれぞれの側に担持される請求項2の変換器。
  4. 前記第1と第2の複数の導体トラックは、互いに電気的に分離しているとともに一方が他方の上に配置された複数の前記第1回路を定義するため互いに重畳され、また、各第1回路の少なくとも2つのループが前記測定路に沿って空間的に分離されている請求項2〜3のいずれかによる変換器。
  5. 前記第1と第2回路は、それらの間で電磁結合により生じた信号が実質的に打ち消されるように編成される請求項2〜4のいずれかによる変換器。
  6. 前記第2回路が、スパイラル巻導体トラックの複数の巻きを備える請求項2〜5のいずれかによる変換器。
  7. 前記第2回路は、複数の同心スパイラル巻線が直列に接続され、当該複数の同心スパイラル巻線は同一方向に巻かれている請求項2〜6のいずれかによる変換器。
  8. 前記第2回路は少なくとも一つの外ループと、当該外ループと直列に接続された少なくとも一つの内ループとを備え、前記内ループおよび外ループは互いに反対方向に巻かれている請求項2〜7のいずれかによる変換器。
  9. 前記第1と第2の複数の導体トラックは、前記第1回路が導体の複数の巻きによって形成されるように、前記第1回路の各ループが測定方向に沿って実質的に同じ幅を有し、導体の巻きは、空間高調波歪みを減少させるために前記ループの幅の約3分の1だけ測定方向に空間的に分離されるように構成される請求項2〜8のいずれかによる変換器。
  10. 一対の電気的に分離された接続トラックが前記第1回路に提供され、また前記接続トラックの一方は、前記測定路に垂直な方向から見て、他方の接続トラックにオーバーラップされる請求項2〜9のいずれかによる変換器。
  11. 前記第1回路のループの各々によって囲まれる面積が実質的に同一である請求項2〜10のいずれかによる変換器。
  12. 励磁巻線およびセンサ巻線を有し、当該励磁巻線およびセンサ巻線に電磁素子を対向させて電磁結合させて位置エンコーダに用いるための変換器であって:
    測定方向に沿って延びる第1と第2の表面を有する絶縁体と;
    前記第1面上に形成された第1の複数の導体トラックと;
    前記第2面上に形成された第2の複数の導体トラックと;を備え、
    前記絶縁体は、第1面上に形成された導体トラックと、第2面上に形成された導体トラックとを接続するための複数のバイアホールを有しており、前記バイアホールにより接続された前記第1と第2の複数の導体トラックは第1回路と第2回路を形成し、(i)前記第1回路は、直列に接続されるとともに、共通電磁場によって、隣接するループに生成されたそれぞれの信号が互いに反対になるように2以上のループが形成され、前記2以上のループによって形成される領域は前記第1面および第2面に実質的に平行であり、(ii)前記第2回路は、少なくとも一つのループを有し、前記少なくとも一つのループによって形成される領域は前記第1回路の2以上のループによって形成される領域に対して実質的に平行である;
    前記第1と第2の複数の導体トラックと前記バイアホールとは、前記第2回路の少なくとも一つのループが前記第1回路の前記少なくとも2つのループを横切って延びるように編成されること;
    前記第1の回路はセンサ巻線、前記第2の回路は励磁巻線として用いるためのものであり、または前記第1の回路は励磁巻線、前記第2の回路はセンサ巻線として用いるためのものであること;を特徴とする、
    位置エンコーダに用いる変換器。
  13. 励磁巻線およびセンサ巻線を有し、当該励磁巻線およびセンサ巻線に電磁素子を対向させて電磁結合させて位置エンコーダに用いるための変換器であって:
    測定方向に沿って延びる第1と第2の表面を有する絶縁体と;
    前記第1面上に形成された第1の複数の導体トラックと;
    前記第2面上に形成された第2の複数の導体トラックと;を備え、
    前記絶縁体は、第1面上に形成された導体トラックと、第2面上に形成された導体トラックとを接続するための複数のバイアホールを有しており、前記バイアホールにより接続された前記第1と第2の複数の導体トラックは第1回路と第2回路を形成し、(i)前記第1回路は、直列に接続されるとともに、共通電磁場によって、隣接するループに生成されたそれぞれの信号が互いに反対になるように2以上のループが形成され、前記2以上のループによって形成される領域は前記第1面および第2面に実質的に平行であり、(ii)前記第2回路は、少なくとも一つのループを有し、前記少なくとも一つのループによって形成される領域は前記第1回路の2以上のループによって形成される領域に対して実質的に平行である;
    前記第1回路の一部を形成する前記第1表面上の導体トラックは、前記測定方向に対して実質的に垂直な方向に間隔をあけて配置される第1と第2グループを成して編成されること;
    前記第1回路の一部を形成する前記第2表面上の導体トラックは、前記第1グループ内の導体トラックを前記第2グループ内の導体トラックと接続するように編成されること;
    前記第2回路の前記少なくとも一つのループを形成する導体トラック(単数または複数)は前記第1と第2のグループ間に、前記第1表面によって装着されること;
    前記第1の回路はセンサ巻線、前記第2の回路は励磁巻線として用いるためのものであり、または前記第1の回路は励磁巻線、前記第2の回路はセンサ巻線として用いるためのものであること;を特徴とする、
    位置エンコーダに使用される変換器。
  14. 前記第1回路の2以上のループの一つは、単数巻または複数巻によって形成されることを特徴とする請求項2〜13のいずれかの変換器。
  15. 前記電磁素子は、レゾネータ、フェライト磁極、短絡コイル、金属スクリーンのいずれかである請求項2〜14のいずれかの変換器。
  16. 位置センサであって:
    測定方向に沿って相対的に可動な第1と第2の部材を備え、
    前記第1部材は請求項2〜15のいずれかによる変換器を備え、
    前記第2部材は、前記回路の一方に加えられた入力駆動信号に応じて、前記測定路に沿った前記第1と第2の部材間の相対位置の関数として変化する出力信号が、他方の前記回路内に誘導されるよう前記変換器上の前記回路と電磁的に相互に作用する手段を備える、
    位置センサ。
  17. 前記相互作用手段が、電磁共振装置、短絡コイル、導体スクリーン、またはフェライト磁極片の少なくとも一つを備える請求項16によるセンサ。
  18. 前記出力信号は、前記相互作用手段と、前記少なくとも2つのループとの間の相対位置の関数として周期的に変化する請求項17によるセンサ。
  19. 更に、前記入力駆動信号を前記第1と第2回路の一方に加える駆動手段と、前記他方の回路に生成された信号を処理するとともに、前記第1と第2の部材の相対位置の、そこからの指示を提供するための処理手段とを備える請求項16から請求項18のいずれかによるセンサ。
  20. 前記処理手段は、前記他方の回路内に前記相互作用手段によって生成された信号の位相に合致する復調器を備える請求項19によるセンサ。
  21. 前記装置は2つ以上の前記第1回路を備え、それぞれの第1回路のループは前記測定方向に沿って空間的に分離され、また、前記処理回路は、前記2つ以上の第1回路に生成された信号の三角比計算を実行するように作動可能である請求項19または請求項20によるセンサ。
  22. 前記他方の回路に生成された前記出力信号は、前記少なくとも2つのループに対する、前記相互作用手段の前記測定方向に沿った位置の関数として正弦的に変化し、また、前記正弦変動の1周期は、前記直列接続ループの2つの範囲の測定方向に沿った相対運動に対応する請求項19から請求項21のいずれかによるセンサ。
  23. 前記第1と第2の回路は回路基板上に取り付けられ、また、前記駆動手段および/または前記処理手段は前記回路基板上に取り付けられる請求項19から請求項22のいずれかによるセンサ。
  24. 前記第1回路の2以上のループの一つは、単数巻または複数巻によって形成されることを特徴とする請求項1、16〜23のいずれかのセンサ。
  25. 前記電磁素子は、レゾネータ、フェライト磁極、短絡コイル、金属スクリーンのいずれかである請求項1、16〜24のいずれかのセンサ。
  26. 測定方向に沿って相対的に可動な第1と第2の部材の位置を検出する方法であって:
    請求項16から請求項25のいずれかによる位置センサを提供するステップ;
    前記装置の回路の一方に駆動信号を加えるステップ;および、
    前記他方の回路に生成された信号を検出して、それから前記第1と第2の部材の相対位置を導くステップ;
    を有する方法。
  27. 前記駆動信号は、10kHz〜10MHzの範囲の周波数を有する交番信号を含む請求項26による方法。
JP2000516201A 1997-10-15 1998-10-15 位置センサ Expired - Fee Related JP4172911B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB9721891.1 1997-10-15
GBGB9721891.1A GB9721891D0 (en) 1997-10-15 1997-10-15 Symmetrically connected spiral transducer
PCT/GB1998/003100 WO1999019691A1 (en) 1997-10-15 1998-10-15 Position sensor

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2001520368A JP2001520368A (ja) 2001-10-30
JP2001520368A5 JP2001520368A5 (ja) 2006-01-05
JP4172911B2 true JP4172911B2 (ja) 2008-10-29

Family

ID=10820621

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000516201A Expired - Fee Related JP4172911B2 (ja) 1997-10-15 1998-10-15 位置センサ

Country Status (9)

Country Link
US (1) US6522128B1 (ja)
EP (2) EP1023575B1 (ja)
JP (1) JP4172911B2 (ja)
AT (1) ATE230479T1 (ja)
AU (1) AU9451998A (ja)
DE (1) DE69810504T2 (ja)
GB (1) GB9721891D0 (ja)
TW (1) TW453013B (ja)
WO (1) WO1999019691A1 (ja)

Families Citing this family (151)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6788221B1 (en) * 1996-06-28 2004-09-07 Synaptics (Uk) Limited Signal processing apparatus and method
US7019672B2 (en) * 1998-12-24 2006-03-28 Synaptics (Uk) Limited Position sensor
DE60007270T2 (de) * 2000-02-01 2004-09-02 Cherry Gmbh Position sensor
US8149048B1 (en) 2000-10-26 2012-04-03 Cypress Semiconductor Corporation Apparatus and method for programmable power management in a programmable analog circuit block
US8176296B2 (en) 2000-10-26 2012-05-08 Cypress Semiconductor Corporation Programmable microcontroller architecture
US7765095B1 (en) 2000-10-26 2010-07-27 Cypress Semiconductor Corporation Conditional branching in an in-circuit emulation system
US8103496B1 (en) 2000-10-26 2012-01-24 Cypress Semicondutor Corporation Breakpoint control in an in-circuit emulation system
US6724220B1 (en) 2000-10-26 2004-04-20 Cyress Semiconductor Corporation Programmable microcontroller architecture (mixed analog/digital)
US8160864B1 (en) 2000-10-26 2012-04-17 Cypress Semiconductor Corporation In-circuit emulator and pod synchronized boot
AU2002326008A1 (en) * 2001-05-21 2003-01-02 Synaptics (Uk) Limited Position sensor
JP2002365006A (ja) * 2001-05-24 2002-12-18 Hella Kg Hueck & Co 誘導ポジションセンサー
US7196604B2 (en) 2001-05-30 2007-03-27 Tt Electronics Technology Limited Sensing apparatus and method
EP1417496B1 (en) * 2001-07-27 2010-10-13 Delphi Technologies, Inc. Tachometer apparatus and method for motor velocity measurement
US7406674B1 (en) 2001-10-24 2008-07-29 Cypress Semiconductor Corporation Method and apparatus for generating microcontroller configuration information
US8078970B1 (en) 2001-11-09 2011-12-13 Cypress Semiconductor Corporation Graphical user interface with user-selectable list-box
US8042093B1 (en) 2001-11-15 2011-10-18 Cypress Semiconductor Corporation System providing automatic source code generation for personalization and parameterization of user modules
US7774190B1 (en) 2001-11-19 2010-08-10 Cypress Semiconductor Corporation Sleep and stall in an in-circuit emulation system
US6971004B1 (en) 2001-11-19 2005-11-29 Cypress Semiconductor Corp. System and method of dynamically reconfiguring a programmable integrated circuit
US8069405B1 (en) 2001-11-19 2011-11-29 Cypress Semiconductor Corporation User interface for efficiently browsing an electronic document using data-driven tabs
US7844437B1 (en) 2001-11-19 2010-11-30 Cypress Semiconductor Corporation System and method for performing next placements and pruning of disallowed placements for programming an integrated circuit
US7770113B1 (en) 2001-11-19 2010-08-03 Cypress Semiconductor Corporation System and method for dynamically generating a configuration datasheet
GB2403017A (en) * 2002-03-05 2004-12-22 Synaptics Position sensor
US7191754B2 (en) * 2002-03-06 2007-03-20 Borgwarner Inc. Position sensor apparatus and method
EP1342896B1 (en) * 2002-03-06 2006-11-02 BorgWarner Inc. Assembly for electronic throttle control with non-contacting position sensor
US8103497B1 (en) 2002-03-28 2012-01-24 Cypress Semiconductor Corporation External interface for event architecture
US7466307B2 (en) * 2002-04-11 2008-12-16 Synaptics Incorporated Closed-loop sensor on a solid-state object position detector
US7308608B1 (en) 2002-05-01 2007-12-11 Cypress Semiconductor Corporation Reconfigurable testing system and method
WO2003105072A2 (en) * 2002-06-05 2003-12-18 Synaptics (Uk) Limited Signal transfer method and apparatus
US7761845B1 (en) 2002-09-09 2010-07-20 Cypress Semiconductor Corporation Method for parameterizing a user module
GB2394293A (en) 2002-10-16 2004-04-21 Gentech Invest Group Ag Inductive sensing apparatus and method
KR20040072446A (ko) * 2003-02-12 2004-08-18 삼성전자주식회사 반도체 기판의 가장자리 상의 금속막을 선택적으로제거하는 방법
GB0303627D0 (en) 2003-02-17 2003-03-19 Sensopad Technologies Ltd Sensing method and apparatus
DE10320990A1 (de) * 2003-05-09 2004-11-25 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Induktiver Drehwinkelsensor und damit ausgestatteter Drehgeber
GB0317370D0 (en) * 2003-07-24 2003-08-27 Synaptics Uk Ltd Magnetic calibration array
GB0319945D0 (en) * 2003-08-26 2003-09-24 Synaptics Uk Ltd Inductive sensing system
ES2286697T3 (es) * 2003-11-29 2007-12-01 Tt Electronics Technology Limited Aparato y procedimiento de deteccion de posicion de tipo inductivo.
US6964205B2 (en) * 2003-12-30 2005-11-15 Tekscan Incorporated Sensor with plurality of sensor elements arranged with respect to a substrate
US20050168443A1 (en) * 2004-01-29 2005-08-04 Ausbeck Paul J.Jr. Method and apparatus for producing one-dimensional signals with a two-dimensional pointing device
CN101390034B (zh) * 2004-01-29 2012-03-14 辛纳普蒂克斯有限公司 采用二维定位设备产生一维信号的方法及装置
US6895751B1 (en) * 2004-03-08 2005-05-24 Christopher Greentree Vane control
US7295049B1 (en) 2004-03-25 2007-11-13 Cypress Semiconductor Corporation Method and circuit for rapid alignment of signals
US7191759B2 (en) * 2004-04-09 2007-03-20 Ksr Industrial Corporation Inductive sensor for vehicle electronic throttle control
US7276897B2 (en) * 2004-04-09 2007-10-02 Ksr International Co. Inductive position sensor
US7538544B2 (en) * 2004-04-09 2009-05-26 Ksr Technologies Co. Inductive position sensor
US8286125B2 (en) 2004-08-13 2012-10-09 Cypress Semiconductor Corporation Model for a hardware device-independent method of defining embedded firmware for programmable systems
US8069436B2 (en) 2004-08-13 2011-11-29 Cypress Semiconductor Corporation Providing hardware independence to automate code generation of processing device firmware
GB0427410D0 (en) * 2004-12-14 2005-01-19 Kreit Darran Data acquisition system
JP4532417B2 (ja) * 2005-01-25 2010-08-25 古河電気工業株式会社 回転センサ
US7332976B1 (en) 2005-02-04 2008-02-19 Cypress Semiconductor Corporation Poly-phase frequency synthesis oscillator
US7292026B2 (en) * 2005-04-08 2007-11-06 Ksr International Co. Signal conditioning system for inductive position sensor
US7385389B2 (en) * 2005-04-19 2008-06-10 Mitutoyo Corporation Absolute rotary encoder and micrometer
US7400183B1 (en) 2005-05-05 2008-07-15 Cypress Semiconductor Corporation Voltage controlled oscillator delay cell and method
US8089461B2 (en) 2005-06-23 2012-01-03 Cypress Semiconductor Corporation Touch wake for electronic devices
US7449878B2 (en) 2005-06-27 2008-11-11 Ksr Technologies Co. Linear and rotational inductive position sensor
US8085067B1 (en) 2005-12-21 2011-12-27 Cypress Semiconductor Corporation Differential-to-single ended signal converter circuit and method
US7312616B2 (en) 2006-01-20 2007-12-25 Cypress Semiconductor Corporation Successive approximate capacitance measurement circuit
US20070176903A1 (en) * 2006-01-31 2007-08-02 Dahlin Jeffrey J Capacitive touch sensor button activation
GB0606055D0 (en) * 2006-03-25 2006-05-03 Scient Generics Ltd Non-contact wheel encoder
US8067948B2 (en) 2006-03-27 2011-11-29 Cypress Semiconductor Corporation Input/output multiplexer bus
US8144125B2 (en) 2006-03-30 2012-03-27 Cypress Semiconductor Corporation Apparatus and method for reducing average scan rate to detect a conductive object on a sensing device
US8040142B1 (en) 2006-03-31 2011-10-18 Cypress Semiconductor Corporation Touch detection techniques for capacitive touch sense systems
US7721609B2 (en) 2006-03-31 2010-05-25 Cypress Semiconductor Corporation Method and apparatus for sensing the force with which a button is pressed
US8537121B2 (en) * 2006-05-26 2013-09-17 Cypress Semiconductor Corporation Multi-function slider in touchpad
US8089472B2 (en) 2006-05-26 2012-01-03 Cypress Semiconductor Corporation Bidirectional slider with delete function
DE102006026543B4 (de) * 2006-06-07 2010-02-04 Vogt Electronic Components Gmbh Lagegeber und zugehöriges Verfahren zum Erfassen einer Position eines Läufers einer Maschine
US8040321B2 (en) 2006-07-10 2011-10-18 Cypress Semiconductor Corporation Touch-sensor with shared capacitive sensors
US9507465B2 (en) * 2006-07-25 2016-11-29 Cypress Semiconductor Corporation Technique for increasing the sensitivity of capacitive sensor arrays
US9766738B1 (en) 2006-08-23 2017-09-19 Cypress Semiconductor Corporation Position and usage based prioritization for capacitance sense interface
US7583090B2 (en) * 2006-08-30 2009-09-01 David S. Nyce Electromagnetic apparatus for measuring angular position
DE102006041934B4 (de) * 2006-09-07 2017-05-04 Werner Turck Gmbh & Co. Kg Vorrichtung zur Bestimmung der Position eines Beeinflussungselementes
US8547114B2 (en) 2006-11-14 2013-10-01 Cypress Semiconductor Corporation Capacitance to code converter with sigma-delta modulator
US8089288B1 (en) 2006-11-16 2012-01-03 Cypress Semiconductor Corporation Charge accumulation capacitance sensor with linear transfer characteristic
US8058937B2 (en) 2007-01-30 2011-11-15 Cypress Semiconductor Corporation Setting a discharge rate and a charge rate of a relaxation oscillator circuit
DE102007015195A1 (de) * 2007-03-29 2008-10-09 Cherry Gmbh Drehwinkelsensor oder Längensensor
US8026739B2 (en) 2007-04-17 2011-09-27 Cypress Semiconductor Corporation System level interconnect with programmable switching
US8092083B2 (en) 2007-04-17 2012-01-10 Cypress Semiconductor Corporation Temperature sensor with digital bandgap
US7737724B2 (en) 2007-04-17 2010-06-15 Cypress Semiconductor Corporation Universal digital block interconnection and channel routing
US8040266B2 (en) 2007-04-17 2011-10-18 Cypress Semiconductor Corporation Programmable sigma-delta analog-to-digital converter
US8516025B2 (en) 2007-04-17 2013-08-20 Cypress Semiconductor Corporation Clock driven dynamic datapath chaining
US8130025B2 (en) 2007-04-17 2012-03-06 Cypress Semiconductor Corporation Numerical band gap
US9564902B2 (en) 2007-04-17 2017-02-07 Cypress Semiconductor Corporation Dynamically configurable and re-configurable data path
US8065653B1 (en) 2007-04-25 2011-11-22 Cypress Semiconductor Corporation Configuration of programmable IC design elements
US8266575B1 (en) 2007-04-25 2012-09-11 Cypress Semiconductor Corporation Systems and methods for dynamically reconfiguring a programmable system on a chip
US9720805B1 (en) 2007-04-25 2017-08-01 Cypress Semiconductor Corporation System and method for controlling a target device
US8144126B2 (en) 2007-05-07 2012-03-27 Cypress Semiconductor Corporation Reducing sleep current in a capacitance sensing system
US7605585B2 (en) 2007-05-08 2009-10-20 Honeywell International Inc. Air-core transformer position sensor
EP2145158B1 (en) * 2007-05-10 2018-03-07 Cambridge Integrated Circuits Limited Transducer
US9500686B1 (en) 2007-06-29 2016-11-22 Cypress Semiconductor Corporation Capacitance measurement system and methods
US8570053B1 (en) 2007-07-03 2013-10-29 Cypress Semiconductor Corporation Capacitive field sensor with sigma-delta modulator
US8089289B1 (en) 2007-07-03 2012-01-03 Cypress Semiconductor Corporation Capacitive field sensor with sigma-delta modulator
US8169238B1 (en) * 2007-07-03 2012-05-01 Cypress Semiconductor Corporation Capacitance to frequency converter
WO2009006556A1 (en) 2007-07-03 2009-01-08 Cypress Semiconductor Corporation Normalizing capacitive sensor array signals
US8049569B1 (en) 2007-09-05 2011-11-01 Cypress Semiconductor Corporation Circuit and method for improving the accuracy of a crystal-less oscillator having dual-frequency modes
US7906960B2 (en) * 2007-09-21 2011-03-15 Ksr Technologies Co. Inductive position sensor
US8525798B2 (en) 2008-01-28 2013-09-03 Cypress Semiconductor Corporation Touch sensing
US8487912B1 (en) 2008-02-01 2013-07-16 Cypress Semiconductor Corporation Capacitive sense touch device with hysteresis threshold
US8358142B2 (en) 2008-02-27 2013-01-22 Cypress Semiconductor Corporation Methods and circuits for measuring mutual and self capacitance
US8319505B1 (en) 2008-10-24 2012-11-27 Cypress Semiconductor Corporation Methods and circuits for measuring mutual and self capacitance
US9104273B1 (en) 2008-02-29 2015-08-11 Cypress Semiconductor Corporation Multi-touch sensing method
US8321174B1 (en) 2008-09-26 2012-11-27 Cypress Semiconductor Corporation System and method to measure capacitance of capacitive sensor array
US8487639B1 (en) 2008-11-21 2013-07-16 Cypress Semiconductor Corporation Receive demodulator for capacitive sensing
US8866500B2 (en) 2009-03-26 2014-10-21 Cypress Semiconductor Corporation Multi-functional capacitance sensing circuit with a current conveyor
US9448964B2 (en) 2009-05-04 2016-09-20 Cypress Semiconductor Corporation Autonomous control in a programmable system
JP4913843B2 (ja) * 2009-06-01 2012-04-11 株式会社ミツトヨ 誘導型変位検出装置及びマイクロメータ
US8723827B2 (en) 2009-07-28 2014-05-13 Cypress Semiconductor Corporation Predictive touch surface scanning
KR101066248B1 (ko) * 2009-08-12 2011-09-20 서울대학교산학협력단 멀티 루프 코일을 구비하는 봉부재용 비접촉식 트랜스듀서
US8698490B2 (en) * 2010-12-15 2014-04-15 Infineon Technologies Ag Magnetoresistive angle sensors having conductors arranged in multiple planes
GB2488389C (en) 2010-12-24 2018-08-22 Cambridge Integrated Circuits Ltd Position sensing transducer
DE112012000422T5 (de) 2011-01-07 2013-10-17 Woodward Mpc, Inc. Verfahren und Vorrichtung für ein Halbbrücken-Differentialtransformator-Positionserfassungssystem
US9268441B2 (en) 2011-04-05 2016-02-23 Parade Technologies, Ltd. Active integrator for a capacitive sense array
DE202011051104U1 (de) 2011-08-25 2012-11-28 Turck Holding Gmbh Drehwinkel oder Weg-Sensor
US20130317280A1 (en) * 2012-05-22 2013-11-28 Biotest Medical Corporation Magnetic field generating seat cushion
GB2503006B (en) 2012-06-13 2017-08-09 Cambridge Integrated Circuits Ltd Position sensing transducer
FR3002034B1 (fr) * 2013-02-12 2015-03-20 Continental Automotive France Capteur de position inductif
DE102013018564B4 (de) * 2013-11-05 2018-04-05 Gea Tuchenhagen Gmbh Ventilsteuereinrichtung und Prozessventil
US9285386B2 (en) 2013-12-06 2016-03-15 Rosemount Aerospace Inc. Inductive rotational speed sensors
DE102013225897A1 (de) * 2013-12-13 2015-06-18 Continental Teves Ag & Co. Ohg Induktiver Sensor mit einem beliebig langen Messweg
DE102013225874A1 (de) * 2013-12-13 2015-06-18 Continental Teves Ag & Co. Ohg Induktiver Drehwinkelsensor
US10180736B2 (en) 2014-11-26 2019-01-15 Synaptics Incorporated Pen with inductor
FR3031586B1 (fr) * 2015-01-13 2017-02-10 Dymeo Capteurs inductifs de deplacement
FR3031587B1 (fr) 2015-01-13 2018-11-16 Hutchinson Capteurs inductifs de deplacement
FR3031589B1 (fr) 2015-01-13 2018-11-16 Hutchinson Capteurs inductifs de deplacement
FR3031588B1 (fr) 2015-01-13 2018-11-16 Hutchinson Capteurs inductifs de deplacement
US10527457B2 (en) 2015-02-27 2020-01-07 Azoteq (Pty) Ltd Inductance sensing
JP6480809B2 (ja) * 2015-05-21 2019-03-13 オークマ株式会社 多回転検出器
DE102016202859B3 (de) * 2016-02-24 2017-06-29 Robert Bosch Gmbh Drehwinkelsensor
DE102016202871B3 (de) * 2016-02-24 2017-06-29 Robert Bosch Gmbh Drehwinkelsensor
WO2018022533A1 (en) 2016-07-28 2018-02-01 Microsemi Corporation Angular rotation sensor system
US10415952B2 (en) 2016-10-28 2019-09-17 Microsemi Corporation Angular position sensor and associated method of use
CN108571985A (zh) * 2017-03-07 2018-09-25 赛卓电子科技(上海)有限公司 电磁感应式旋转编码器
WO2018170282A1 (en) * 2017-03-17 2018-09-20 Efficient Power Conversion Corporation Large area scalable highly resonant wireless power coil
US11125591B2 (en) * 2017-08-15 2021-09-21 KSR IP Holdings, LLC Systems and methods for correcting non-sinusoidal signals generated from non-circular couplers
US10739166B2 (en) 2017-08-29 2020-08-11 KSR IP Holdings, LLC Systems and methods for correcting non-sinusoidal signals generated from high speed inductive sensors
US10921155B2 (en) 2018-02-02 2021-02-16 Microsemi Corporation Multi cycle dual redundant angular position sensing mechanism and associated method of use for precise angular displacement measurement
US10837847B2 (en) 2018-10-05 2020-11-17 Microsemi Corporation Angular rotation sensor
DE102018220032A1 (de) * 2018-11-22 2020-05-28 Conti Temic Microelectronic Gmbh Magnetisches Positionssensorsystem
US10760928B1 (en) 2019-02-21 2020-09-01 Microsemi Corporation Planar linear inductive position sensor having edge effect compensation
ES1239859Y (es) * 2019-07-23 2020-07-02 Piher Sensors & Controls S A Sistema sensor de posicion
US11448528B2 (en) * 2019-08-02 2022-09-20 Analog Devices International Unlimited Company Resettable closed-loop multi-turn magnetic sensor
JP7347100B2 (ja) * 2019-10-11 2023-09-20 Tdk株式会社 回転電機
CN110994911A (zh) * 2019-11-27 2020-04-10 赛卓电子科技(上海)有限公司 带有位置编码器的外转子直驱电机
JP2021096160A (ja) * 2019-12-17 2021-06-24 株式会社ミツトヨ スケールおよびエンコーダ
CN113008129B (zh) * 2019-12-19 2022-11-25 通用技术集团国测时栅科技有限公司 多圈绝对式时栅角位移传感器
DE102020206396A1 (de) * 2020-05-20 2021-11-25 Infineon Technologies Ag Induktiver winkelsensor mit zwei zueinander versetzt angeordneten pickup-spulenanordnungen
EP3954973B1 (en) * 2020-08-10 2024-02-14 Melexis Technologies SA An inductive position sensor with asymmetric target
DE102020216144A1 (de) * 2020-12-17 2022-06-23 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Induktiver Positionssensor, Einrichtung
US11713983B2 (en) 2021-06-30 2023-08-01 Mitutoyo Corporation Sensing winding configuration for inductive position encoder
EP4053508A1 (en) * 2021-03-02 2022-09-07 TE Connectivity Sensors Germany GmbH Inductive angle sensor
DE112021007398T5 (de) 2021-03-25 2024-01-04 Microchip Technology Incorporated Erfassungsspule zur induktiven Drehpositionsmessung und zugehörige Vorrichtungen, Systeme und Verfahren
US20230055773A1 (en) * 2021-08-23 2023-02-23 Shanghai Jiao Tong University Object tracking method, device, backend and medium
CN117040182A (zh) * 2023-08-15 2023-11-10 深圳市速云物联科技有限公司 一种直驱伺服电机及应用其的道闸栏杆机

Family Cites Families (112)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2145742A (en) 1935-09-18 1939-01-31 Gen Electric Band filtering device with variable band breadth
US2867783A (en) 1948-11-06 1959-01-06 Edward G Martin Measuring device
US2942212A (en) 1956-01-31 1960-06-21 British Thomson Houston Co Ltd Position sensing devices
DE1134848B (de) 1956-10-25 1962-08-16 S E A Soc D Elctronique Et D A Differenzbildner zum Erzeugen einer Ausgangsspannung, welche die Differenz zwischen je einer Funktion zweier mechanischer Eingangssignale angibt
US3219956A (en) 1961-09-22 1965-11-23 Sperry Rand Corp Ford Instr Co Brushless rotary inductive devices
FR1325017A (fr) 1962-03-14 1963-04-26 Csf Dispositif électromécanique de contact électrique tournant
US3297940A (en) 1962-06-01 1967-01-10 Internat Instr Inc Means for reproducing a pattern as a d. c. output
US3482242A (en) 1966-05-25 1969-12-02 Computing Devices Canada Synchro to digital converter using storage capacitors and sampling circuits
GB1122763A (en) 1967-03-14 1968-08-07 Merckle Flugzeugwerke Gmbh Inductive angular position transmitter
US3647963A (en) 1969-03-10 1972-03-07 Bendix Corp Automatic coordinate determining device
GB1414517A (en) 1971-11-26 1975-11-19 Bosch Gmbh Robert Rotary inductive transducers
US4097684A (en) 1971-12-20 1978-06-27 Kollmorgen Technologies Inc. Electric wiring assemblies
US3772587A (en) 1972-03-15 1973-11-13 Inductosyn Corp Position measuring transformer
US3851242A (en) 1972-06-27 1974-11-26 J Ellis Frequency-modulated eddy-current proximity gage
FR2207594A5 (ja) 1972-11-20 1974-06-14 Cem Comp Electro Mec
US3906436A (en) 1973-02-08 1975-09-16 Sumitomo Electric Industries Detection system for the location of moving objects
NL7305172A (ja) 1973-04-13 1974-10-15
US3895356A (en) 1973-10-10 1975-07-15 Kraus Instr Inc Automatic digital height gauge
GB1485646A (en) 1973-11-16 1977-09-14 Hitachi Ltd Digital displacement sensors
US3898635A (en) 1973-12-20 1975-08-05 Ibm Position measuring transformer
FR2298082A1 (fr) 1975-01-20 1976-08-13 Fok Gyem Finommech Elekt Convertisseu
US4014015A (en) 1975-05-05 1977-03-22 Devtron Corporation Absolute digital position measurement system
US4065850A (en) 1975-08-13 1978-01-03 Kollmorgen Technologies Corporation Method of making multi-wire electrical interconnecting member having a multi-wire matrix of insulated wires mechanically terminated thereon
DE2711597A1 (de) 1976-03-23 1977-10-06 Hughes Microelectronics Ltd Wandler zur erzeugung elektrischer signale, die eine funktion mehrerer verschiedener parameter sind
IT1072337B (it) 1976-05-18 1985-04-10 Olivetti Controllo Numerico Cp Trasduttore di precisione per misure di posizioni e relativo processo di fabbricazione
SE406642B (sv) 1977-02-16 1979-02-19 Aga Ab Elektromekanisk legesgivare
US4081603A (en) 1977-03-07 1978-03-28 Summagraphics Corporation Position coordinate determination device
IT1111425B (it) 1977-05-18 1986-01-13 Conte Alberto Trasduttore assoluto di precisione per misure di posizioni lineari od angolari
US4156192A (en) 1977-08-11 1979-05-22 Moskovskoe Nauchno-Proizvodstvennoe Obiedinenie Po Stroitelstvu I Dorozhnomu Mashinostroeniju Inductive displacement transducer using plural magnetic screens rotatable about different axis to modify an inductance proportional to the displacement
GB2012431A (en) 1977-08-17 1979-07-25 Hayter J E Electromagnetic Position Transducer Uses Eddy Currents Induced in Conductive Member
GB1604824A (en) 1978-05-11 1981-12-16 Ranco Inc Displacement measuring transducers
US4282485A (en) 1978-05-22 1981-08-04 Pneumo Corporation Linear variable phase transformer with constant magnitude output
US4210775A (en) 1978-07-03 1980-07-01 Talos Systems, Inc. Method and apparatus for digitizing the location of an instrument relative to a grid
US4227165A (en) 1979-01-22 1980-10-07 Farrand Industies, Inc. Correction of linear errors in position measuring transducers
GB2059593B (en) 1979-08-20 1984-02-08 Cain Encoder Apparatus and method for remotely determining the position speed and/or direction of movement of a movable object
US4255617A (en) 1979-08-27 1981-03-10 Hewlett-Packard Company Travelling wave digitizer
GB2064125A (en) 1979-11-27 1981-06-10 Atomic Energy Authority Uk Position indicating apparatus
US4341385A (en) 1980-01-24 1982-07-27 Doyle Holly Thomis Electronic board game apparatus
GB2074736B (en) 1980-04-26 1984-03-07 Lucas Industries Ltd Displacement measuring transducers and their use for sensing vehicle suspension displacements
US4425511A (en) 1981-02-09 1984-01-10 Amnon Brosh Planar coil apparatus employing a stationary and a movable board
GB2103943B (en) 1981-07-21 1985-09-04 Scisys W Limited Electronic game board
US4507638A (en) 1981-12-10 1985-03-26 Amnon Brosh Rotary position sensors employing planar coils
US4482784A (en) 1982-02-01 1984-11-13 Summagraphics Corporation Position determination device
US4423286A (en) 1982-07-21 1983-12-27 Talos Systems, Inc. Apparatus and method for determining the position of a driven coil within a grid of spaced conductors
US4532376A (en) 1983-05-26 1985-07-30 Sanders Associates, Inc. Electronic pen with switching mechanism for selectively providing tactile or non-tactile feel
GB2141235B (en) 1983-06-09 1987-08-12 Evershed Power Optics Position measurement
US4593245A (en) 1983-12-12 1986-06-03 General Electric Company Eddy current method for detecting a flaw in semi-conductive material
JPS60150121A (ja) 1984-01-13 1985-08-07 Wacom Co Ltd デイスプレイ付座標入力装置
JPS60153537A (ja) 1984-01-20 1985-08-13 Wacom Co Ltd デイスプレイ付座標入力装置
JPS60165512A (ja) 1984-02-08 1985-08-28 Toshiba Corp デイジタル回転角検出器
EP0218745A1 (en) 1985-10-15 1987-04-22 Pencept, Inc. Digitizing tablet system having stylus tilt correction
US4577057A (en) 1984-03-02 1986-03-18 Pencept, Inc. Digitizing tablet system having stylus tilt correction
JPS60189231A (ja) 1984-03-08 1985-09-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd ワイヤボンデイング装置
US4697144A (en) 1984-04-19 1987-09-29 Verify Electronics Limited Position sensing apparatus
IE55855B1 (en) 1984-10-19 1991-01-30 Kollmorgen Ireland Ltd Position and speed sensors
KR930011886B1 (ko) 1984-12-28 1993-12-22 가부시기가이샤 와꼬무 위치 검출 장치
DE3500121A1 (de) 1985-01-04 1986-07-10 Atlas Fahrzeugtechnik GmbH, 5980 Werdohl Anordnung zur beruehrungslosen messung der ventilbewegung
US4723446A (en) 1985-04-04 1988-02-09 Kanto Seiki Co., Ltd. Device for measuring displacement
JPS61260321A (ja) 1985-05-14 1986-11-18 Wacom Co Ltd 位置検出装置
AT383212B (de) 1985-07-10 1987-06-10 Rsf Elektronik Gmbh Laengenmesssystem fuer werkzeugmaschinen
US4711026A (en) 1985-07-19 1987-12-08 Kollmorgen Technologies Corporation Method of making wires scribed circuit boards
US4693778A (en) 1985-07-19 1987-09-15 Kollmorgen Technologies Corporation Apparatus for making scribed circuit boards and circuit board modifications
US4642321A (en) 1985-07-19 1987-02-10 Kollmorgen Technologies Corporation Heat activatable adhesive for wire scribed circuits
EP0229637A3 (en) 1986-01-09 1988-10-05 Wacom Co., Ltd. Electronic blackboard apparatus
US4985691A (en) 1986-02-26 1991-01-15 University Of Pittsburgh Contactless motion sensor
DE3608148A1 (de) 1986-03-12 1987-09-24 Schwab Technologieberatung Anordnung zum ueberwachen und anzeigen von schachpartien
DE3620412A1 (de) 1986-06-18 1987-12-23 Bosch Gmbh Robert Schaltungsanordnung zum betreiben eines magnetoelastischen sensors
EP0254297B1 (en) 1986-07-23 1994-06-01 Wacom Company, Ltd. Coordinates input system
JPH07107661B2 (ja) 1986-09-08 1995-11-15 株式会社ワコム 位置指示器の状態検出方式
JPS6370326A (ja) 1986-09-12 1988-03-30 Wacom Co Ltd 位置検出装置
US4734546A (en) 1987-03-16 1988-03-29 Calcomp, Inc. Digitizer system with loopback conductor grid
DE3713305A1 (de) 1987-04-18 1988-11-03 Heldt & Rossi Servoelektronik Tachogenerator fuer elektrische maschinen
IE871118L (en) 1987-05-01 1988-11-01 Univ Manchester Improvements in or relating to linear motion screened¹inductance sensors.
US4893077A (en) 1987-05-28 1990-01-09 Auchterlonie Richard C Absolute position sensor having multi-layer windings of different pitches providing respective indications of phase proportional to displacement
JP2583509B2 (ja) 1987-06-16 1997-02-19 株式会社 ワコム 座標入力装置
EP0313046B1 (en) 1987-10-21 1992-09-02 Canon Kabushiki Kaisha Motor control apparatus
US4891590A (en) * 1988-06-08 1990-01-02 Unico, Inc. Linear resolver utilizing plural nulled coil sets
DE3821050A1 (de) 1988-06-22 1989-12-28 Thomson Brandt Gmbh Tachogenerator
GB8821675D0 (en) 1988-09-02 1988-10-19 Craig T R Rotation & displacement sensing apparatus
US5088928A (en) 1988-11-15 1992-02-18 Chan James K Educational/board game apparatus
NL8900750A (nl) 1989-03-28 1990-10-16 Philips Nv Inrichting voor het meten van een relatieve verplaatsing.
JPH02275314A (ja) 1989-04-17 1990-11-09 Omron Corp インダクトシン基板
US4963703A (en) 1989-07-18 1990-10-16 Numonics Corporation Coordinate determining device using spatial filters
GB8920204D0 (en) 1989-09-07 1989-10-18 Saitek Ltd Sensory games
DE68901599D1 (de) 1989-10-25 1992-06-25 Saitek Ltd Elektronisches spielgeraet.
US5129654A (en) 1991-01-03 1992-07-14 Brehn Corporation Electronic game apparatus
US5136125A (en) 1991-05-06 1992-08-04 International Business Machines Corporation Sensor grid for an electromagnetic digitizer tablet
US5218173A (en) 1991-10-17 1993-06-08 Ibm Corporation Shielding materials for electromagnetic digitizers
FR2682760A1 (fr) 1991-10-22 1993-04-23 Prototype Mecanique Ind Capteurs de deplacements lineaires ou angulaires sans contact.
JPH05187803A (ja) 1992-01-14 1993-07-27 Kanbayashi Seisakusho:Kk センサ
DE4203433A1 (de) 1992-02-06 1993-08-12 Magnet Motor Gmbh Induktiv arbeitender stellungsdetektor fuer einen elektromotor
US5406155A (en) 1992-06-03 1995-04-11 Trw Inc. Method and apparatus for sensing relative position between two relatively rotatable members
US5625239A (en) 1992-06-03 1997-04-29 Trw Inc. Method and apparatus for sensing relative position between two relatively rotatable members using concentric rings
US5486731A (en) 1992-10-27 1996-01-23 Tamagawa Seiki Kabushiki Kaisha Sinusoidally distributed winding method suitable for a detector winding
GB2273778A (en) 1992-12-22 1994-06-29 Tds Cad Graphics Limited Cordless digitizer
US5434372A (en) 1993-08-19 1995-07-18 Acer Peripherals, Inc. Position detecting apparatus with coils of opposite loop direction
JP2541489B2 (ja) 1993-12-06 1996-10-09 日本電気株式会社 ワイヤボンディング装置
JP3225157B2 (ja) 1994-03-18 2001-11-05 株式会社ワコム 位置検出装置及び方法
EP0675581B1 (en) 1994-03-31 1997-08-27 STMicroelectronics S.r.l. Bonding apparatus for semiconductor electronic devices
JP3510318B2 (ja) 1994-04-28 2004-03-29 株式会社ワコム 角度情報入力装置
US5815091A (en) 1994-05-14 1998-09-29 Scientific Generics Limited Position encoder
JPH07322568A (ja) 1994-05-20 1995-12-08 Jidosha Denki Kogyo Co Ltd モータ
JP3015269B2 (ja) 1994-12-05 2000-03-06 株式会社ワコム 位置検出装置及びその方法
US5748110A (en) 1995-04-13 1998-05-05 Wacom Co., Ltd. Angular input information system relative to a tablet for determining an incline angle of a pointer or stylus
EP0743508A2 (en) * 1995-05-16 1996-11-20 Mitutoyo Corporation Induced current position transducer
JPH11513797A (ja) * 1995-10-17 1999-11-24 サイエンティフィック ジェネリクス リミテッド 位置検出エンコーダー
JP3195528B2 (ja) 1995-11-01 2001-08-06 株式会社セイコーアイ・インフォテック スタイラスペン及びそのスタイラスペンを使用した座標読取システム
GB9523991D0 (en) * 1995-11-23 1996-01-24 Scient Generics Ltd Position encoder
US5783940A (en) 1996-12-23 1998-07-21 Dana Corporation Encoder circuit for determining the position of a rotor of a multiphase motor
DE19738836A1 (de) * 1997-09-05 1999-03-11 Hella Kg Hueck & Co Induktiver Winkelsensor
DE19738841A1 (de) * 1997-09-05 1999-03-11 Hella Kg Hueck & Co Induktiver Winkelsensor
US6304076B1 (en) * 1999-09-07 2001-10-16 Bei Sensors & Systems Company, Inc. Angular position sensor with inductive attenuating coupler

Also Published As

Publication number Publication date
WO1999019691A1 (en) 1999-04-22
EP1023575B1 (en) 2003-01-02
TW453013B (en) 2001-09-01
AU9451998A (en) 1999-05-03
GB9721891D0 (en) 1997-12-17
EP1023575A1 (en) 2000-08-02
ATE230479T1 (de) 2003-01-15
EP1308697A3 (en) 2005-06-08
DE69810504D1 (de) 2003-02-06
DE69810504T2 (de) 2003-11-20
JP2001520368A (ja) 2001-10-30
EP1308697A2 (en) 2003-05-07
US6522128B1 (en) 2003-02-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4172911B2 (ja) 位置センサ
US6534970B1 (en) Rotary position sensor and transducer for use therein
KR101313121B1 (ko) 선형 및 회전형 유도 위치 센서
EP2145158B1 (en) Transducer
US10444037B2 (en) Inductive position sensor
JP3754083B2 (ja) 位置エンコーダ
US9470505B2 (en) Position sensing transducer
US6304014B1 (en) Motor control system
US9410791B2 (en) Position sensing transducer
US6999007B2 (en) Linear position sensor
EP3187819B1 (en) Rotation-detecting apparatus
CN101501454A (zh) 用于检测机器的可动部件的位置的位置编码器和方法
EP3187818A1 (en) Rotation detector
WO2023243618A1 (ja) 誘導型位置検出器
TW202409519A (zh) 感應型位置檢測器
GB2500522A (en) Position Sensing Transducer
JP2002022488A (ja) 誘導式トランスデューサ

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050829

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050829

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070906

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070918

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20071217

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20071225

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20080116

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20080123

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20080218

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20080225

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080229

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080630

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080703

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080728

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080812

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110822

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120822

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120822

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130822

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees