JP4151278B2 - セラミック積層体の製造方法 - Google Patents

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Description

【0001】
【技術分野】
本発明は,セラミック層を複数積層してなるセラミック積層体を製造する方法に関する。
【0002】
【従来技術】
セラミック積層体は,例えば圧電アクチュエータ等の高性能部品に用いられる場合がある。上記圧電アクチュエータには,セラミック層と内部電極層とを交互に積層して構成したセラミック積層体が用いられる。これを例に取ると,近年,圧電アクチュエータは,低電圧で高い変位を得るために,セラミック層の薄肉化と積層数の増加が図られ,さらに装置への組み込みを容易にするために全体の小型化が図られている。
【0003】
【解決しようとする課題】
しかしながら,セラミック層の薄肉化と積層数の増大は,得られるセラミック積層体において,デラミ(層間剥離)や,クラックが生じ易くなるという問題を招く。このデラミやクラックは,セラミック積層体の動作不良を引き起こす原因となってしまう。
また,このような問題は,圧電アクチュエータに用いる場合に限らず,その他のセラミック積層体においても同様に発生しうる。
【0004】
本発明は,かかる従来の問題点に鑑みてなされたもので,デラミ,クラック等の発生を抑制することができ,高信頼性が得られるセラミック積層体を製造する方法を提供しようとするものである。
【0005】
【課題の解決手段】
第1の発明は,セラミック層を複数積層してなるセラミック積層体を製造する方法において,
セラミック層を積層した状態で,その積層方向の直角方向に位置する側面の全周を側面治具により囲い,上記セラミック層を加熱すると共に上記積層方向に位置する両端面から端面治具によって押圧することにより,熱圧着させたセラミック積層体を形成する熱圧着工程と,
上記熱圧着工程において上記セラミック積層体に生じたダメージ部を含み上記側面全周を研削又は切削する側面研削工程とを含み,
上記ダメージ部は,上記セラミック層の厚み方向におけるそり方向が変化する変曲点及びそれよりも外方の部分であることを特徴とするセラミック積層体の製造方法にある(請求項1)。
【0006】
本発明における上記熱圧着工程においては,上記側面治具と端面治具とを用いて積層したセラミック層を加熱すると共に加圧して熱圧着させる。このとき,積層したセラミック層に対しては,積層方向だけでなく,上記側面治具から側面にも圧力が加わる。また,積層方向の加圧力の付加及び除去による影響と加熱及びその後の熱膨張の影響によって,セラミック層の少なくとも一部が積層方向において僅かに移動する。そのため,セラミック層の側面側においては,上記側面治具との摩擦力によって変形して,後にデラミやクラック等の不良の原因となるダメージ部となる。
【0007】
本発明では,上記のごとく,上記熱圧着工程の後に,上記側面研削工程を実施する。そして,上記熱圧着工程において生じた上記ダメージ部が含まれる範囲を上記側面の全周にわたって研削又は切削する。そのため,その後に上記ダメージ部を起因とするデラミやクラック等の不良が発生することを防止することができる。
【0008】
また,上記ダメージ部の位置を特定する方法としては,例えば,実験的に熱圧着工程直後のセラミック層の変形状態とその後のデラミやクラック等の発生状況を観察して統計的にダメージ部の位置を特定する方法などがある。しかしながら,多数のセラミック積層体を量産する際には,ダメージ部と特定された位置以外の部分に不良発生に影響を与える部分が生じる場合が希にある。この場合においても,本発明においては,上記側面の全周を研削又は切削により除去して,上記ダメージ部以外の部分をも除去するので,上記不良発生に影響を与える部分の除去も可能となり,デラミやクラック等の不良発生防止効果を更に高めることができる。
【0024】
【発明の実施の形態】
上記第1の発明(請求項1)においては,上記ダメージ部は,上記セラミック層の厚み方向におけるそり方向が変化する変曲点及びそれよりも外方の部分とするすなわち,上記熱圧着工程においては,加熱及び加圧によってセラミック積層体が積層方向に収縮する方向に変位し,その後,加圧の除去によってセラミック積層体が積層方向に膨張する方向に変位することが実験的に求められた。このため,セラミック積層体を構成するセラミック層の変形状態は上記の2段階の変位の発生によって,上記変曲点を伴って異なる方向のそりが生じる場合がある。この場合には,上記変曲点よりも外方が最終的にデラミやクラック等の不良となり易い。そのため,この範囲を上記ダメージ部とすることができる。
【0025】
また,上記セラミック層は圧電セラミックスよりなり,上記セラミック積層体の少なくとも一部は,上記セラミック層と内部電極層とを交互に積層して構成されており,かつ,上記セラミック層の積層数は50層以上であることが好ましい(請求項2)。この場合には,上記デラミやクラックが生じやすいので,上記第1の発明の作用効果を得ることが特に有効である。
【0026】
また,上記熱圧着工程実施時の上記セラミック積層体は四角柱形状を有しており,上記側面研削工程においては,上記セラミック積層体を円柱形状,樽形形状又は八角形状に成形することが好ましい(請求項3)。上記セラミック積層体に熱圧着工程を施す際に,セラミック積層体を四角柱形状とした場合には,特に角部分にダメージ部が生じやすい。この場合,円柱形状,樽形形状又は八角形状に成形すれば,四角形の角部を大きく除去することができ,上記側面研削工程によるダメージ部の除去を容易に行うことができる。
【0027】
また,上記セラミック層と上記内部電極層とは略多角形状を有しており,上記セラミック積層体は,積層方向に隣接した上記セラミック層の間に上記内部電極層が存在する部分とその周囲の少なくとも一方において上記内部電極層が存在しない控え部を有しており,上記側面研削工程においては,上記控え部を有する側面を研削又は切削する際に,上記控え部と上記内部電極層との境界線に略平行に研削又は切削することが好ましい(請求項4)。
【0028】
上記セラミック積層体が,上記控え部を有する場合には,上記控え部と上記内部電極層との境界線に平行に上記ダメージ部が生じやすい。そのため,この場合には,上記のごとく上記境界線に平行に研削又は切削することにより,ダメージ部の除去を行うことができる。
【0029】
また,上記側面研削工程においては,上記控え部を有する側面以外の側面を最初に研削又は切削して上記内部電極層を側面に露出させ,次いで,上記控え部を有する側面を研削又は切削することが好ましい(請求項5)。この場合には,上記控え部を有していない側面を最初に研削又は切削して,上記内部電極層を露出させる。これにより,上記控え部の位置が明確になる。そのため,その後上記控え部を有する側面を研削又は切削する際の削り代の設定を容易かつ正確に行うことができる。それ故,控え部におけるダメージ部をより確実に除去することができる。
【0030】
また,上記熱圧着工程と上記側面研削工程との間には,上記セラミック積層体を焼成する焼成工程を行うことが好ましい(請求項6)。焼成工程を実施することにより,セラミック積層体の硬度が向上し,研削又は切削が容易となる。そのため,上記側面研削工程の前に焼成工程を実施することによって,側面研削工程における研削又は切削の精度を向上させることができる。
【0031】
なお,上記熱圧着工程の直後に上記側面研削工程を行い,その後焼成工程を行うことも勿論可能である。
更に,研削代を少なくして研削時間を短縮するため,熱圧着後で研削前に積層体を切断または分断して形を整えてもよい。
また,上記焼成工程は,例えば,上記セラミック積層体を1100℃に2時間保持することにより行うことができる。
【0034】
また,上記発明においては,上記セラミック積層体は,インジェクタに用いられる圧電素子であり,積層方向の寸法をA,幅寸法をBとした場合の縦横比A/Bが2以上であることが好ましい(請求項7)。ここでの縦横比は,上記のごとく,積層方向を縦として,これに直交する幅方向を横として,横の寸法に対する縦の寸法の比である。そして縦横比(A/B)が2とは,縦の寸法(積層方向の寸法)が,横の寸法(幅寸法)の2倍であることを意味する。
【0035】
インジェクタに用いられる圧電素子は,非常に高速で精度の高い変位が求められており,過酷な使用がなされる。そのため,デラミやクラックの発生があれば,上記圧電素子としては致命傷となる。特に上記縦横比が2以上の場合には圧電素子としては変位量を大きくすることができるが,上記デラミやクラックの発生も生じやすくなる。そのため,上記各発明の作用効果を発揮させることが有効である。
【0043】
【実施例】
(実施例1)
以下,本発明の実施例につき,図1〜図12を用いて説明する。
本例は,図12に示すごとく,セラミック層11を複数積層してなるセラミック積層体1を製造する方法である。特に本例では,セラミック層11は圧電セラミックスよりなり,またセラミック積層体1は,上記セラミック層11と内部電極層2とを交互に積層して構成されている。そして,セラミック層11の積層数は50層以上である。
このセラミック積層体1を製造するに当たり,本例では,後述するごとく熱圧着工程S6と側面研削工程S9とを含む製造方法を用いる。
【0044】
上記熱圧着工程S6は,セラミック層11を積層した状態で,その積層方向の直角方向に位置する側面の全周を側面治具71により囲い,上記セラミック層11を加熱すると共に上記積層方向に位置する両端面から端面治具72によって押圧することにより,熱圧着させたセラミック積層体を形成する工程である。
また,上記側面研削工程S9は,上記熱圧着工程においてセラミック積層体1に生じたダメージ部9を含み上記側面全周を研削又は切削する工程である。
【0045】
以下,これを詳説する。
本例では,上記セラミック積層体1を製造するに当たって,まず図1に示すごとく,セラミック層11の基となる長尺のセラミックシートを成形するシート成形工程S1と,この長尺のセラミックシートから所定の大きさのセラミックシート110(図2)を打ち抜くシート打抜き工程S2を行う。
【0046】
シート成形工程S1は,ドクターブレード法,押出成形法,その他の種々の方法を採ることができるが,本例では,ドクターブレード法によってロール状に巻き上げた長尺のセラミックシートを作製する。この原料としては,焼成後に所望の圧電セラミックスとなるよう調整されたものを用いる。具体的には,種々の原料を用いることができるが,本例では,PZT(ジルコン酸チタン酸鉛)となる原料を用いた。
上記シート打抜き工程S2では,16枚のセラミック層11が採取可能な大きさのセラミックシート110を上記の長尺のセラミックシートから切り出す。
【0047】
次に,図1,図2(a)に示すごとく,内部電極印刷工程S3を実施する。この工程では,各セラミックシート110に内部電極層2をパターン印刷する。このとき,内部電極層2の印刷位置は,最終的にセラミック層11上に控え部15(図5)が形成されるように設定しておく。
【0048】
次に,図1,図2(b)(c)に示すごとく,仮圧着工程S4を行う。この仮圧着工程S4では,内部電極層2を印刷済みのセラミックシート110を10枚積層して熱圧着する。なお,図2では,枚数等を簡略化して描いている。このときの熱圧着条件は,後述の熱圧着工程S6よりも低温,低圧の条件で行う。具体的な条件は,加熱温度80℃,加圧力5MPaであり,上下からのみ治具(図示略)により3分間プレスするという条件とした。
また,上記セラミックシート110の積層は,内部電極2の存在しない上記控え部15の位置が,積層した状態で交互に左右にずれるようにする。
【0049】
次に,図1,図2(d)に示すごとく,ユニット切断工程S5を行う。このユニット切断工程S5では,10枚積層してなる上記セラミックシート110を,各セラミック層11の大きさに切断する。これにより,10枚のセラミック層11を仮圧着してなるユニット体112が,上記仮圧着後のセラミックシート110からそれぞれ16個ずつ得られる。
【0050】
次に,図1,図2(e),(f),図3,図4に示すごとく,20個のユニット体112を積層して熱圧着工程S6を実施する。
具体的には,図3に示すごとく,側面治具71として,断面コの字状の第1側面治具711とこれに被せる第2側面治具712を用いる。また,端面治具72としては,上記第1側面治具711の凹部713に挿入可能な一対のものを用いる。
【0051】
そして,同図に示すごとく,20個のユニット体112を積層させながら第1側面治具711の凹部713に挿入する。次いで,第1側面治具712に第2側面治具712を被せる。この状態で,側面治具71の両端から上記端面治具72を第1側面治具711の凹部713挿入して熱圧着工程を実施する。
本例では,加圧の前に加熱を行うため,治具とセラミック積層体とを120℃の恒温槽内に30分間放置する。その後,プレス機に移動し加圧する。
【0052】
また本例では,端面治具72から積層方向への加圧力を340MPaとした。また,加圧時間は3分間とした。また,加圧中に積層体が冷却されないように,プレス機の温度も120℃に保持した。
なお,加熱温度は80〜250℃の範囲で変更することができる。さらに加圧力は5〜100MPaの範囲で変更することができる。また,加圧及び加熱の時間は,セラミック層11の大きさ,積層数などによって変更することができる。
【0053】
また,本例では,上記熱圧着工程S6の加熱及び加圧を所定時間行った後,すぐに,上記端面治具72からの加圧力を除去した後,冷却し,端面治具72を取り外し,側面治具71を分解した。これにより,図2(f)に示すごとく,四角柱形状を有したセラミック積層体1が得られた。
【0054】
このセラミック積層体1の展開図を図5に示す。同図に示すごとく,セラミック積層体1を構成する各セラミック層11と内部電極層2とは四角形状を有している。また,セラミック積層体1は,隣り合ったセラミック層11の間に内部電極層2が存在しない控え部15を上記側面における対向する2つの側面側101,102に交互に有している。
【0055】
次に,本例では,上記熱圧着工程S6直後のセラミック積層体1における,各セラミック層11の変形状態を観察した。その結果を図6に示す。同図(a)に示すごとく,セラミック積層体1を立てた状態で,その上部,中部,下部の積層状態を観察した。その結果をそれぞれ同図(b)〜(d)に示した。
【0056】
同図(b)に示すごとく,上部のセラミック層11は,中央部分は,端部に近づくに従って徐々に上方に反り上がる方向に反っており,変曲点Pから反対に反り下がっている。また,同図(d)に示すごとく,下部のセラミック層11は,上部の場合と全く逆で,中央部分は,端部に行くに従って徐々に下方に反り下がる方向に反っており,変曲点Pから反対に反り上がっている。また,同図(c)に示すごとく,中部のセラミック層11は,ほとんど変形が見られなかった。
【0057】
これまでの実験から,上部及び下部における少なくとも上記変曲点Pよりも外方部分は,セラミック積層体1を圧電素子として使用する際にデラミやクラックを生じやすいダメージ部9になりうることがわかっている。そして,本例のセラミック積層体1においては,図7に示すごとく,樽形の形状を残し,その周囲がダメージ部9として判断される。すなわち,四角柱の角部においては円弧状の輪郭で,控え部15が存在する側面においては控え部15と内部電極層2との境界線に平行な輪郭で囲まれた部分よりも外方の部分がダメージ部9である。
【0058】
そこで,上記ダメージ部9を除去するために,次の2工程を実施した後に側面研削工程S9を行った。
側面研削工程S9の前には,図1に示すごとく,上記セラミック積層体1に対して,脱脂工程S7と焼成工程S8を行った。脱脂工程S7は,温度350℃に5時間保持するという条件で行った。また焼成工程S8は,温度1100℃に2時間保持するという条件で行った。
【0059】
本実施例では,最終積層数,例えば50層以上にするための中間体としてユニット体を形成しているが,内部電極層が印刷されたセラミック層11を1枚ずつ直接最終積層数に積層して熱圧着させることもできる。この場合にも,上記と同様のダメージ部9が生じる。本実施例では焼成後に研削を実施しているが,熱圧着後に(脱脂,焼成前に)ダメージ部を研削により除去しても同様の効果は得られる。また,その他の積層方法でも,上記と同様の熱圧着方法を行う限り同様のダメージ部9の問題が生まれる。それ故,以下の工程は,ダメージ部9が生じたすべての場合に有効である。
【0060】
次に,図1に示すごとく,側面研削工程S9を行う。
本例では,図8に示すごとく,まず,仮研削工程として,控え部15を有する側面101,102以外の側面103,104を最初に砥石5により平坦に研削して上記内部電極層2を側面103,104に露出させる。これにより,図9に示すごとく,控え部15の長さLを側面103,104から正確に把握することができる。
【0061】
次に,図10に示すごとく,控え部15を有する側面101,102を砥石5により研削する。このとき,上記控え部15と内部電極層2との境界線に平行に研削した。
次に,図11に示すごとく,側面103,104が円弧状となるように,砥石5により研削した。これにより,図12に示すごとく,断面形状が樽形のセラミック積層体1が得られた。
【0062】
この側面研削工程S9において除去した領域は,前述した図7に示すごとく,四角形の角部が最も多く,次に,上記控え部15のある側面101,102部分である。
そして,このセラミック積層体1は,側面電極の配設等の後工程を追加することによって,圧電素子にすることができる。
【0063】
次に,本例の作用効果につき説明する。
本例においては,上記のごとく,その製造工程において,熱圧着工程S6の後に,上記側面研削工程S9を実施する。そして,上記ダメージ部9を十分に研削除去する。そのため,その後に,ダメージ部を起因とするデラミやクラック等の発生を防止することができる。
【0064】
特に本例のセラミック積層体1は,上記のごとく,セラミック層11の積層数は50層以上であり,圧電素子として使用される。そのため,従来ならば,非常にデラミやクラックが生じやすい。しかし,上記のごとく,側面研削工程S9の実施によって,ダメージ部9を取り除いているので,デラミやクラックの発生を抑制することができる。
【0065】
更に,本例では,熱圧着工程S6実施時にはセラミック積層体1の形状が四角柱形状を有しており,側面研削工程S9においては,上記セラミック積層体1を樽形形状とした。これにより,上記変曲点Pを含み比較的面積の広い角部のダメージ部9を確実に除去することができる。また,上記樽形形状の研削を行うことによって,控え部15に生じるダメージ部も,控え部15と内部電極層2との境界線に平行に研削を行うことによって十分に除去することができる。
【0066】
そしてまた,本例では,側面研削工程S9を実施する際に,控え部15を有する側面101,102以外の側面103,104を最初に研削して内部電極層2を側面103,104に露出させる。そのため,控え部15を有する側面101,102の削り代を容易かつ正確に定めることができる。これによっても,ダメージ部をより確実に除去することができる。
【0067】
また,本例では,熱圧着工程S6と側面研削工程S9との間には,セラミック積層体1の脱脂工程S7と焼成工程S8を実施した。これにより,セラミック積層体1の硬度が向上し,研削を容易かつ精度よく行うことができる。
そして,このような精度の高い側面研削工程S9の実施によって,上記のごとくデラミやクラックの発生を十分に抑制することができる。
【0068】
参考例1
本例は,実施例1の製造工程はそのままとし,上記熱圧着工程S6において使用する側面治具71の内面,即ち,第1側面治具711の凹部713と,第2側面治具712の内面に摩擦低減材を予め塗布する。本例では,摩擦低減材としてシリコーンオイルを用いる。
その他は実施例1と同様である。
【0069】
本例においては,熱圧着工程S6の過程において,セラミック層11が積層方向に移動した場合にも,セラミック層11の側面と側面治具71との摩擦力を上記摩擦低減材によって低減させることができる。そのため,セラミック層11が,セラミック層が熱圧着工程によって変形が生じることを抑制することができ,その後にデラミやクラック等の不良となるようなダメージ部が生じること自体を防止することができる。それ故,更に確実にデラミやクラックの発生を防止することができる。
その他は実施例1と同様の作用効果が得られる。
【0070】
参考例2
本例は,実施例1の製造工程はそのままとし,上記熱圧着工程S6を行った後の圧力除去手順を変更する例である。なお,実施例1においては,加圧完了後,すぐに加圧の停止を実施する。
【0071】
本例では,セラミック積層体1を,セラミック層に含有されたバインダ樹脂のガラス転移点以下の温度まで冷却した後に,端面治具72からセラミック積層体1への圧力を除去する。具体的には,上記熱圧着工程S6の加熱温度120℃から上記ガラス転移点75℃までは圧力をかけたままとする。そして75℃以下となってから端面治具72からの圧力をすぐに解除し,治具の解体を実施する。
【0072】
その他は実施例1と同様である。
本例においては,熱圧着に必要な加熱及び加圧が完了した後,加圧力除去の際のセラミック積層体1の変位量を低減することができる。これにより,セラミック層11の側面と側面治具71との摩擦による変形を低減することができ,ダメージ部の発生自体を抑制することができる。それ故,更に確実にデラミやクラックの発生を防止することができる。
その他は実施例1と同様の作用効果が得られる。
【0073】
参考例3
本例は,実施例1の製造工程はそのままとし,上記熱圧着工程S6を行った後,端面治具72からセラミック積層体1への圧力を除去する速度を,100MPa/秒以下の速度で行う例である。具体的には,本例では,上記圧力の除去速度を17MPa/秒とする。即ち,端面治具72から加圧力34MPaを与えて熱圧着工程S6を実施した後,その加圧力を除去するのに2秒間かけて行う。
その他は実施例1と同様である。
【0074】
この場合には,熱圧着工程S6後に圧力除去を行った際に生じるセラミック積層体1の変位がゆっくりとなる。そのため,急激な変位によってセラミック層11の側面と側面治具71との摩擦により変形が生じることを抑制することができる。
したがって,本例では,ダメージ部自体の発生を低減することができ,更に確実にデラミやクラックの発生を防止することができる。
その他は実施例1と同様の作用効果が得られる。
【0075】
参考例4
本例は,実施例1の製造工程はそのままとし,熱圧着工程S6を行った後,治具の解体の方法を変更する例である。
即ち,本例では,熱圧着工程S6の実質的処理が完了した後,セラミック積層体1への圧力を除去する際に,端面治具72からの圧力は維持したままとし,最初に側面治具71を分離してセラミック積層体1の側面側を解放する。そしてその後端面治具72からの圧力を除去する。
【0076】
これにより,端面治具72からの圧力を除去した際にセラミック積層体1が積層方向へ変位しても,セラミック層11の側面に摩擦力が付与されることがない。それ故,セラミック層11の側面と側面治具との摩擦による変形を防止することができる。
それ故,本例では,ダメージ部の発生自体を抑制することができ,更に確実にデラミやクラックの発生を防止することができる。
その他は実施例1と同様の作用効果が得られる。
【0077】
本件発明は上記実施例に限定されるものではなく,実施例1に記載の製造工程の順序の変更,別工程の追加等は可能である。例えば,熱圧着工程の後に,セラミック積層体を切断或いは分断し,その後,上記側面研削工程を実施してもよい。更に,セラミック積層体を切断或いは分断する工程を脱脂及び焼成工程の後に持ってきても前に持ってきてもよい。
また,上述したごとく,ユニット体を途中で設けることなく,直接セラミック層を最終積層数まで重ねることも可能である。
【0078】
参考例5
本例は,図19に示すごとく,後述する1つのユニット体112のみよりなるセラミック積層体1を製造する例である。本例でも,セラミック層11は圧電セラミックよりなり,また得られるセラミック積層体1は,セラミック層11と内部電極層2とを交互に積層して構成されている(図18)。そして,セラミック層11の積層数は2層以上である。
本例では,図13に示すごとく,このセラミック積層体1を製造するに当たり,後述する熱圧着工程S204と,切断工程S205と,側面研削工程S208とを含む製造方法を用いる。
【0079】
上記熱圧着工程S204は,セラミックシートを複数枚積層した状態で,加熱すると共に積層方向に押圧することにより,熱圧着させた広幅中間積層体119を形成する工程である。また,上記切断工程S205は,図15に示すごとく,鋭角状の刃先を有する切断刃55を上記広幅中間積層体119の一方の表面から押し込んで切断を行ってユニット体を形成する工程である。また,上記側面研削工程S208は,切断工程により形成された切断面を含み上記ユニット体の側面を研削又は切削する工程である。
以下,さらに詳説する。
【0080】
本例では,まず,図13に示すごとく,セラミック層11の基となる長尺のセラミックシートを成形するシート成形工程S201と,この長尺のセラミックシートから所定の大きさのセラミックシート110を打ち抜くシート打抜き工程S202を行う。
【0081】
シート成形工程S201は,ドクターブレード法,押出成形法,その他の種々の方法を採ることができるが,本例では,実施例1と同様に,ドクターブレード法によってロール状に巻き上げた長尺のセラミックシートを作製する。この原料としては,焼成後に所望の圧電セラミックスとなるよう調整されたものを用いる。具体的には,種々の原料を用いることができるが,本例では,PZT(ジルコン酸チタン酸鉛)となる原料を用いた。
上記シート打抜き工程S220では,多数枚のセラミック層11が採取可能な大きさのセラミックシート110を上記の長尺のセラミックシートから切り出す。
【0082】
次に,図13,図14(a)に示すごとく,内部電極印刷工程S203を実施する。この工程では,各セラミックシート110に内部電極層2をパターン印刷する。このとき,内部電極層2の印刷位置は,最終的にセラミック層11上に後述する控え部151,152(図18)が形成されるように設定しておく。
【0083】
次に,図13,図14(b)(c)に示すごとく,熱圧着工程S204を行う。この熱圧着工程S204では,内部電極層2を印刷済みのセラミックシート110を10枚積層して熱圧着して広幅中間積層体119を形成する。なお,図14では,枚数等を簡略化して描いている。このときの熱圧着条件は,加熱温度120℃,加圧力15MPaであり,上下から治具により3分間プレスするという条件とした。
また,図18に示すごとく,上記セラミックシート110の積層は,内部電極2の存在しない上記控え部151,152がそれぞれずれた状態で配置されるようにする。
【0084】
次に,図13,図14(d),図15に示すごとく,切断工程S205を行う。この切断工程S205では,上記セラミックシート110を10枚積層してなる広幅中間積層体119を,切断刃55によって切断する。
切断刃55としては,図15に示すごとく,刃先551が鋭角状となっており,先端から離れるに連れ徐々に厚みが厚くなるようなものを用いた。これを上記広幅中間積層体19の一方の表面から押し込んで切断を行った。
【0085】
これにより,ユニット体112は,非常に効率よく個片化された。
また,図16に示すごとく,得られた各ユニット体112は,側面から見た形状が略台形状となる。即ち,側面の切断面113は,上記切断刃55の形状に沿って圧縮され,同図において上方ほど圧縮量が大きい形状となっている。従って,切断面113の近傍には,上記圧縮量が大きいところほど密度が高いというダメージ,つまり,切断によるダメージ部が残った状態となっている。
【0086】
次に,本例では,図13に示すごとく,脱脂工程S206と焼成工程S207を行う。この結果,上記ユニット体112の側面全周における切断面113においては,密度の差によって収縮率が異なり,変形等が生じる。
本例では,図17に示すごとく,上記切断によるダメージ部の影響で変形等が生じる部分を確実に除去すべく,側面部113近傍を切削する側面研削工程S208を行う。
【0087】
同図に示すごとく,研削範囲は,ユニット体12のうち最終的に残留する領域Aの周囲全周であり,側方から見た形状は台形から略長方形に変わる。残留する領域Aの形状は,四角形の角をとったような略八角形のものとなる。
そして,本例では,ユニット体112を1つ用いてそのままセラミック積層体1とする。そのため,得られるセラミック積層体1は,図19に示すごとく,比較的厚みの薄い八角柱状のものとなる。
【0088】
なお,本例では,図15,図17に示すごとく,切断刃55を最初に押し当てた面である上面118において,少なくとも幅Bが50μm以上の部分が除去されるように側面研削工程S208で行った。これにより,切断時のダメージ部が確実に除去されるようにした。
【0089】
また,セラミック積層体1の内部の積層状態は,図18に示すごとく,異なる形状の控え部151,152を有するように配設した内部電極層2とセラミック層11とが積層した状態となる。同図に示すごとく,一方の控え部151の形状は,4つの長辺と4つの短辺を交互に連ねた略八角形のうち,1つの長辺とそれを囲む2つの短辺の外周側のみに設けたものである。他方の控え部152は,1つの長辺を除く7つの辺の外周側に設けたものである。
【0090】
そして,最終的には,図18(c)におけるH1〜H5の辺に接する内部電極層の領域251と,H7の辺に接する内部電極層の領域252とが交互に存在し,透過すれば八角形の領域250には必ず内部電極層2が存在する状態となる。これにより,一対の側面電極を配設するに当たっては,上記領域251のいずれかの場所に接するところに一方の側面電極を配置し,領域252に接する場所に他方の側面電極を配置することができる。
【0091】
次に,本例の作用効果につき説明する。
本例においては,上記のごとく,その製造工程において,上記切断刃55を用いて押し切りを行う切断工程S205を採用した。そのため,非常に効率よくユニット体112の個片化を行うことができる。
【0092】
また,上記切断刃55を用いた押し切りによるダメージ部は,上記側面研削工程S208において除去することができる。そのため,切断によるダメージ部の影響によって生ずるデラミやクラック等の欠陥のないセラミック積層体を得ることができる。
【0093】
なお,本例では,側面研削工程S208は,焼成工程S207を行った後に行ったが,切断工程S205の直後に側面研削工程S208を行うこともできる。また,本例では,図19に示すごとく,上記ユニット体112を1つでセラミック積層体1とした。これに代えて,図20に示すごとく,側面研削工程S208の後に,複数のユニット体112を接着剤層4を介して積層する接着工程を行って比較的積層高さが高いセラミック積層体1を得ることもできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施例1における,製造工程を示すブロック図。
【図2】 実施例1における,製造工程を示す説明図。
【図3】 実施例1における,熱圧着工程に使用する治具を示す説明図。
【図4】 実施例1における,熱圧着工程を行っている状態を示す説明図。
【図5】 実施例1における,セラミック層の積層状態を示す展開説明図。
【図6】 実施例1における,熱圧着工程直後のセラミック積層体の変形状態を示す説明図。
【図7】 実施例1における,ダメージ部を示す説明図。
【図8】 実施例1における,仮研削工程を行っている状態を示す説明図。
【図9】 実施例1における,控え部の長さを示す説明図。
【図10】 実施例1における,控え部を有する側面を研削している状態を示す説明図。
【図11】 実施例1における,控え部を有する側面でない側面を円弧状に研削している状態を示す説明図。
【図12】 実施例1における,断面樽形状のセラミック積層体を示す斜視図。
【図13】 参考例5における,製造工程を示すブロック図。
【図14】 参考例5における,製造工程を示す説明図。
【図15】 参考例5における,切断工程を示す説明図。
【図16】 参考例5における,切断工程直後のユニット体を示す,(a)平面図,(b)側面図。
【図17】 参考例5における,側面研削工程で研削する領域(研削後に残存する領域)を示す説明図。
【図18】 参考例5における,電極パターンを示す説明図。
【図19】 参考例5における,1つのユニット体よりなるセラミック積層体を示す説明図。
【図20】 参考例5における,複数のユニット体を接着して作製した別例のセラミック積層体を示す説明図。
【符号の説明】
1...セラミック積層体,
11...セラミック層,
112...ユニット体,
119...広幅中間積層体,
15...控え部,
2...内部電極層,
71...側面治具,
711...第1側面治具,
712...第2側面治具,
72...端面治具,
9...ダメージ部,

Claims (7)

  1. セラミック層を複数積層してなるセラミック積層体を製造する方法において,
    セラミック層を積層した状態で,その積層方向の直角方向に位置する側面の全周を側面治具により囲い,上記セラミック層を加熱すると共に上記積層方向に位置する両端面から端面治具によって押圧することにより,熱圧着させたセラミック積層体を形成する熱圧着工程と,
    上記熱圧着工程において上記セラミック積層体に生じたダメージ部を含み上記側面全周を研削又は切削する側面研削工程とを含み,
    上記ダメージ部は,上記セラミック層の厚み方向におけるそり方向が変化する変曲点及びそれよりも外方の部分であることを特徴とするセラミック積層体の製造方法。
  2. 請求項1において,上記セラミック層は圧電セラミックスよりなり,上記セラミック積層体の少なくとも一部は,上記セラミック層と内部電極層とを交互に積層して構成されており,かつ,上記セラミック層の積層数は50層以上であることを特徴とするセラミック積層体の製造方法。
  3. 請求項1又は2において,上記熱圧着工程実施時の上記セラミック積層体は四角柱形状を有しており,上記側面研削工程においては,上記セラミック積層体を円柱形状,樽形形状又は八角形状に成形することを特徴とするセラミック積層体の製造方法。
  4. 請求項2において,上記セラミック層と上記内部電極層とは略多角形状を有しており,上記セラミック積層体は,積層方向に隣接した上記セラミック層の間に上記内部電極層が存在する部分とその周囲の少なくとも一方において上記内部電極層が存在しない控え部を有しており,上記側面研削工程においては,上記控え部を有する側面を研削又は切削する際に,上記控え部と上記内部電極層との境界線に略平行に研削又は切削することを特徴とするセラミック積層体の製造方法。
  5. 請求項4において,上記側面研削工程においては,上記控え部を有する側面以外の側面を最初に研削又は切削して上記内部電極層を側面に露出させ,次いで,上記控え部を有する側面を研削又は切削することを特徴とするセラミック積層体の製造方法。
  6. 請求項1〜5のいずれか1項において,上記熱圧着工程と上記側面研削工程との間には,上記セラミック積層体を焼成する焼成工程を行うことを特徴とするセラミック積層体の製造方法。
  7. 請求項1〜6のいずれか1項において,上記セラミック積層体は,インジェクタに用いられる圧電素子であり,積層方向の寸法をA,幅寸法をBとした場合の縦横比A/Bが2以上であることを特徴とするセラミック積層体の製造方法。
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DE2002115993 DE10215993B4 (de) 2001-04-12 2002-04-11 Verfahren zur Herstellung eines Keramikschichtkörpers

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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10217097A1 (de) * 2001-04-18 2002-11-21 Denso Corp Verfahren zur Herstellung eines keramischen Laminats
US6985348B2 (en) * 2003-02-26 2006-01-10 Kyocera Corporation Laminated electronic part
JP4479271B2 (ja) * 2003-04-15 2010-06-09 株式会社デンソー 積層型圧電体素子
US20110155822A1 (en) * 2008-07-29 2011-06-30 Kyocera Corporation Multi-Layer Piezoelectric Element, Method for Manufacturing Multi-Layer Piezoelectric Element, Injection Device, and Fuel Injection System
WO2011024894A1 (ja) * 2009-08-27 2011-03-03 京セラ株式会社 積層型圧電素子およびこれを備えた噴射装置ならびに燃料噴射システム
JP5620450B2 (ja) * 2012-10-02 2014-11-05 Tdk株式会社 圧電素子
DE102013100764B4 (de) * 2013-01-25 2021-04-22 Bürkert Werke GmbH Verfahren zur Herstellung von durch physikalische Gasphasenabscheidung erzeugten Elektroden sowie ein Verfahren zur Herstellung von Piezoelementen mit durch physikalische Gasphasenabscheidung erzeugten Elektroden
DE102014112207A1 (de) 2014-08-26 2016-03-03 Epcos Ag Verfahren zur Herstellung von keramischen Vielschichtbauelementen und keramisches Vielschichtbauelement
DE102015210797B4 (de) * 2015-06-12 2019-03-28 Continental Automotive Gmbh Verfahren zur Herstellung eines piezoelektrischen Schichtstapels
KR102145310B1 (ko) * 2018-11-19 2020-08-18 삼성전기주식회사 커패시터 부품 및 그 제조 방법
CN111018332B (zh) * 2019-11-25 2024-05-03 杭州美迪凯光电科技股份有限公司 一种蓝玻璃改圆用夹具及利用此夹具对镀膜蓝玻璃大片改小片的方法

Family Cites Families (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4347650A (en) * 1980-09-22 1982-09-07 Avx Corporation Method of making marginless multi-layer ceramic capacitors
JPH01235633A (ja) * 1988-03-17 1989-09-20 Toshiba Corp セラミックス多層基板の製造方法
JPH0670940B2 (ja) * 1988-12-15 1994-09-07 株式会社村田製作所 セラミック積層成形体の製造方法
JPH02163983A (ja) * 1988-12-16 1990-06-25 Toyota Motor Corp 積層セラミック圧電素子用積層体の分極処理方法
US5163209A (en) * 1989-04-26 1992-11-17 Hitachi, Ltd. Method of manufacturing a stack-type piezoelectric element
US5169310A (en) * 1989-10-06 1992-12-08 International Business Machines Corp. Hermetic package for an electronic device and method of manufacturing same
JPH03191322A (ja) * 1989-12-20 1991-08-21 Fujitsu General Ltd ライトバルブの製造方法
JP2841346B2 (ja) * 1990-04-27 1998-12-24 マルコン電子株式会社 積層セラミックコンデンサ及びその製造方法
JPH06120579A (ja) 1991-01-30 1994-04-28 Nec Corp 積層型圧電アクチュエータ
JPH04340778A (ja) * 1991-01-30 1992-11-27 Nec Corp 積層圧電アクチュエータ素子
JP2705333B2 (ja) * 1991-02-28 1998-01-28 日本電気株式会社 圧電効果素子および電歪効果素子並びにその製造方法
JP3185249B2 (ja) * 1991-06-26 2001-07-09 株式会社村田製作所 セラミックグリーンブロックのカット方法
JP2757657B2 (ja) * 1992-03-12 1998-05-25 日本電気株式会社 多層配線セラミック基板の製造方法
JP2695352B2 (ja) * 1992-07-27 1997-12-24 株式会社日立製作所 多層セラミック基板の製造装置
JP2976717B2 (ja) * 1992-09-29 1999-11-10 株式会社村田製作所 積層セラミック電子部品の製造方法
JPH06114817A (ja) * 1992-10-05 1994-04-26 Ibiden Co Ltd ラミネート用治具及びグリーンシートのラミネート方法
JPH06151999A (ja) * 1992-11-09 1994-05-31 Fuji Elelctrochem Co Ltd 積層型圧電/電歪アクチュエータ素子の製造方法
JP2824180B2 (ja) * 1993-02-03 1998-11-11 ローム株式会社 加熱プレス装置
JPH06252469A (ja) * 1993-02-25 1994-09-09 Nec Corp 積層圧電アクチュエータの製造方法
US5459371A (en) * 1993-03-12 1995-10-17 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Multilayer piezoelectric element
JPH06334236A (ja) * 1993-05-20 1994-12-02 Fujitsu Ltd 積層型圧電・電歪アクチュエータの製造方法
JPH0794359A (ja) * 1993-09-20 1995-04-07 Murata Mfg Co Ltd 積層セラミック電子部品の製造方法
JP3094069B2 (ja) * 1993-12-24 2000-10-03 日本特殊陶業株式会社 セラミックパッケージ本体の製造方法
JP3492421B2 (ja) * 1994-06-02 2004-02-03 株式会社村田製作所 積層セラミック電子部品の製造方法
JPH08181036A (ja) * 1994-12-20 1996-07-12 Murata Mfg Co Ltd 積層電子部品の製造方法
JPH08316088A (ja) * 1995-05-12 1996-11-29 Murata Mfg Co Ltd セラミック電子部品の製造方法
JP3804838B2 (ja) * 1996-06-19 2006-08-02 日立金属株式会社 積層体の製造方法
US5807455A (en) * 1996-07-23 1998-09-15 International Business Machines Corporation System and method for uniform product compressibility in a high throughput uniaxial lamination press
JP3048139B2 (ja) * 1998-07-29 2000-06-05 住友特殊金属株式会社 導電性ウェハ、薄板焼結体および薄膜磁気ヘッド用セラミックス基板の製造方法ならびに導電性ウェハの加工方法
US6221193B1 (en) * 1999-01-20 2001-04-24 International Business Machines Corporation Defect reduction method for screened greensheets and article produced therefrom
US6190477B1 (en) * 1999-05-04 2001-02-20 International Business Machines Corporation Method and apparatus for preparing a release layer of ceramic particulates
JP3440888B2 (ja) * 1999-06-21 2003-08-25 株式会社村田製作所 ダイシングブレード及び電子部品の製造方法
US6104598A (en) * 1999-07-28 2000-08-15 Delaware Capital Formation, Inc. Free form capacitor

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