JP4089704B2 - 半導体集積回路 - Google Patents

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Description

本発明は、一般に、ICやLSI等の半導体集積回路に関し、特に、複数の電源電位が供給されて動作する半導体集積回路に関する。
近年、各種の電子機器の高速動作や低消費電力を実現するために、これらの電子機器において使用されるICやLSI等の半導体集積回路の高集積化や低電圧化が進んでいる。しかし、全ての半導体集積回路の動作電圧を一律に低電圧化することは、デバイス固有の特性を考慮すると、極めて困難である。従って、異なる電源電位で動作する複数の半導体集積回路が互いに接続される場合が生じる。
そのような場合に対応するために、低い電源電位が供給されて動作する内部回路と高い電源電位が供給されて動作する出力回路とを有する半導体集積回路が開発されている。このように2種類の電源電位が供給されて動作する半導体集積回路の例について、図6を参照しながら説明する。
図6に示す半導体集積回路は、第1の電源電位LVDD(例えば、1.8V)が供給されたときに動作する内部回路10と、第1の電源電位LVDDが供給されたときに内部回路10の出力信号を反転するインバータ20と、内部回路10の出力信号を第1の入力端子(ノードA)に入力すると共にインバータ20の出力信号を第2の入力端子(ノードB)に入力して、第2の電源電位HVDD(例えば、3.3V)が供給されたときに、入力された信号のレベルをシフトさせたレベルシフト信号を第1の出力端子(ノードC)及び第2の出力端子(ノードD)においてそれぞれ生成し、第2の出力端子(ノードD)からレベルシフト信号を出力するレベルシフト回路30と、第2の電源電位HVDDが供給されたときに動作する出力回路(ここでは、インバータ40)とを有している。
レベルシフト回路30は、内部回路10の出力信号がゲートに入力される直列接続されたPチャネルMOSトランジスタQP1及びNチャネルMOSトランジスタQN1と、インバータ20の出力信号がゲートに入力される直列接続されたPチャネルMOSトランジスタQP2及びNチャネルMOSトランジスタQN2と、トランジスタQP1及びQN1に電流を供給するPチャネルMOSトランジスタQP3と、トランジスタQP2及びQN2に電流を供給するPチャネルMOSトランジスタQP4とによって構成される。
レベルシフト回路30は、入力された信号のレベルをシフトさせることにより、電源電位HVDDが供給されて動作するインバータ40に適したレベルを有するレベルシフト信号を生成する。このレベルシフト信号は、インバータ40によって反転された後に、出力パッドを介して、電源電位HVDD又はそれよりも高い電源電位で動作する外部回路に供給される。
上記のような半導体集積回路において、第1の電源電位LVDDが供給されないときでも、出力パッドに接続されている外部回路が動作している等の理由により、第2の電源電位HVDDが供給される場合がある。そのような場合には、内部回路10及びインバータ20の出力がハイインピーダンス状態(電位不定)となるので、ノードA及びノードBの電位によっては、トランジスタQP3、QP1及びQN1を介して貫通電流Iが流れてしまうおそれがある。また、ノードA及びノードBの電位によっては、トランジスタQP4、QP2及びQN2を介して貫通電流Iが流れてしまうおそれがある。
関連する技術として、下記の特許文献1には、望まない又は予期しない電源遮断に対して、データがランダムに記憶されたり消去されたりするのを防ぐように集積回路を保護する装置が開示されている。この装置は、プログラミング/消去電圧Vppを発生する電圧源と、この電圧源に対応する集積回路の給電入力との間に直列に接続されたカットオフ手段を備え、さらに、正常電源電圧Vccを発生する電圧源に接続されて上記カットオフ手段をアクティブにする手段を備えている。このカットオフ手段は、電圧Vccの値がある閾値よりも下降したときにアクティブにされて、データを書換えや消去から保護する。しかしながら、特許文献1には、2種類の電源電位の内の一方のみが供給されているときにレベルシフト回路に貫通電流が流れるのを防止することに関しては、何ら開示されていない。
特開平6−236693号公報(第4頁、図1)
そこで、上記の点に鑑み、本発明は、複数の電源電位が供給されて動作する半導体集積回路において、2種類の電源電位の内の一方のみが供給されているときに、レベルシフト回路に貫通電流が流れるのを防止することを目的とする。
以上の課題を解決するため、本発明の第1の観点に係る半導体集積回路は、第1の電源電位と、該第1の電源電位よりも高い第2の電源電位とを含む複数の電源電位が供給されて動作する半導体集積回路であって、(i)第1の電源電位が供給されたときに動作する内部回路と、(ii)内部回路の出力信号が供給されるゲートを第1の入力端子としてドレインを第1の出力端子とする直列接続された第1のPチャネルMOSトランジスタ及び第1のNチャネルMOSトランジスタと、内部回路反転された出力信号が供給されるゲートを第2の入力端子としてドレインを第2の出力端子とする直列接続された第2のPチャネルMOSトランジスタ及び第2のNチャネルMOSトランジスタと、第2の出力端子の電位がゲートに供給されて第2の電源電位から第1のPチャネルMOSトランジスタ及び第1のNチャネルMOSトランジスタに電流を供給する第3のPチャネルMOSトランジスタと、第1の出力端子の電位がゲートに供給されて第2の電源電位から第2のPチャネルMOSトランジスタ及び第2のNチャネルMOSトランジスタに電流を供給する第4のPチャネルMOSトランジスタとを含み、第1及び第2の入力端子の電位をシフトさせて、第1及び第2の出力端子の内の一方からレベルシフト信号を出力するレベルシフト回路と、(iii)第2の電源電位が供給され第1の電源電位が供給されていないときに、制御信号を活性化する制御回路と、(iv)制御信号が活性化されたときに、レベルシフト回路の第1の入力端子及び第2の出力端子をローレベルに固定し、又は、レベルシフト回路の第2の入力端子及び第1の出力端子の電位をローレベルに固定する第3及び第4のNチャネルMOSトランジスタとを具備する。
ここで、半導体集積回路が、第2の電源電位が供給されたときに、レベルシフト回路から出力されるレベルシフト信号に基づいて動作する出力回路をさらに具備するようにても良い。
また、本発明の第2の観点に係る半導体集積回路は、第1の電源電位と、該第1の電源電位よりも高い第2の電源電位とを含む複数の電源電位が供給されて動作する半導体集積回路であって、(i)第1の電源電位が供給されたときに動作する内部回路と、(ii)内部回路の出力信号が供給されるゲートを第1の入力端子としてドレインを第1の出力端子とする直列接続された第1のPチャネルMOSトランジスタ及び第1のNチャネルMOSトランジスタと、内部回路の反転された出力信号が供給されるゲートを第2の入力端子としてドレインを第2の出力端子とする直列接続された第2のPチャネルMOSトランジスタ及び第2のNチャネルMOSトランジスタと、第2の出力端子の電位がゲートに供給されて第2の電源電位から第1のPチャネルMOSトランジスタ及び第1のNチャネルMOSトランジスタに電流を供給する第3のPチャネルMOSトランジスタと、第1の出力端子の電位がゲートに供給されて第2の電源電位から第2のPチャネルMOSトランジスタ及び第2のNチャネルMOSトランジスタに電流を供給する第4のPチャネルMOSトランジスタとを含み、第1及び第2の入力端子の電位をシフトさせて、第1及び第2の出力端子の内の一方からレベルシフト信号を出力する第1のレベルシフト回路と、(iii)内部回路の出力信号が供給されるゲートを第3の入力端子としてドレインを第3の出力端子とする直列接続された第5のPチャネルMOSトランジスタ及び第3のNチャネルMOSトランジスタと、内部回路の反転された出力信号が供給されるゲートを第4の入力端子としてドレインを第4の出力端子とする直列接続された第6のPチャネルMOSトランジスタ及び第4のNチャネルMOSトランジスタと、第4の出力端子の電位がゲートに供給されて第2の電源電位から第5のPチャネルMOSトランジスタ及び第3のNチャネルMOSトランジスタに電流を供給する第7のPチャネルMOSトランジスタと、第3の出力端子の電位がゲートに供給されて第2の電源電位から第6のPチャネルMOSトランジスタ及び第4のNチャネルMOSトランジスタに電流を供給する第8のPチャネルMOSトランジスタとを含み、第3及び第4の入力端子の電位をシフトさせて、第3及び第4の出力端子の内の一方からレベルシフト信号を出力する第2のレベルシフト回路と、(iv)第2の電源電位が供給され第1の電源電位が供給されていないときに、制御信号を活性化する制御回路と、(v)制御信号が活性化されたときに、第1のレベルシフト回路の第1の入力端子及び第2の出力端子をローレベルに固定すると共に第2のレベルシフト回路の第3の入力端子及び第4の出力端子をローレベルに固定し、又は、第1のレベルシフト回路の第2の入力端子及び第1の出力端子の電位をローレベルに固定すると共に第2のレベルシフト回路の第4の入力端子及び第3の出力端子の電位をローレベルに固定する第5〜第8のNチャネルMOSトランジスタとを具備する
ここで、半導体集積回路が、第2の電源電位が供給されたときに、第1及び第2のレベルシフト回路からそれぞれ出力されるレベルシフト信号に基づいて出力信号を生成する直列接続されたPチャネルMOSトランジスタ及びNチャネルMOSトランジスタを含む出力ドライバをさらに具備するようにしても良い
以上の様に構成した本発明によれば、第2の電源電位が供給され第1の電源電位が供給されていないときにレベルシフト回路の一方の入力端子と一方の出力端子の電位を固定する回路を設けたことにより、簡単な回路構成としながらレベルシフト回路に貫通電流が流れるのを防止することができる。
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら詳しく説明する。なお、同一の要素には同一の番号を付して、説明を省略する。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す図である。この半導体集積回路は、第1の電源電位LVDD(例えば、1.8V)と、第1の電源電位よりも高い第2の電源電位HVDD(例えば、3.3V)と、基準電位VSS(例えば、接地電位0V)とが供給されて動作する。
図1に示すように、この半導体集積回路は、電源電位LVDDが供給されたときに動作する内部回路10と、電源電位LVDDが供給されたときに内部回路10の出力信号を反転するインバータ20と、内部回路10の出力信号を第1の入力端子(ノードA)に入力すると共にインバータ20の出力信号を第2の入力端子(ノードB)に入力し、電源電位HVDDが供給されたときに、第1及び第2の入力端子に入力された信号のレベルをシフトさせたレベルシフト信号を第1の出力端子(ノードC)及び第2の出力端子(ノードD)においてそれぞれ生成して、第1及び第2の出力端子の内の一方(本実施形態においては、第2の出力端子)からレベルシフト信号を出力するレベルシフト回路30と、電源電位HVDDが供給されたときに、レベルシフト回路30から出力されるレベルシフト信号に基づいて動作する出力回路(本実施形態においては、出力用のインバータ40)とを有している。
レベルシフト回路30は、内部回路10の出力信号がゲートに入力される直列接続されたPチャネルMOSトランジスタQP1及びNチャネルMOSトランジスタQN1と、インバータ20の出力信号がゲートに入力される直列接続されたPチャネルMOSトランジスタQP2及びNチャネルMOSトランジスタQN2と、トランジスタQP1及びQN1に電流を供給するPチャネルMOSトランジスタQP3と、トランジスタQP2及びQN2に電流を供給するPチャネルMOSトランジスタQP4とを含んでいる。
内部回路10及びインバータ20の出力信号が、レベルシフト回路30の第1の入力端子(ノードA)及び第2の入力端子(ノードB)にそれぞれ入力されると、レベルシフト回路30は、入力された信号のレベルをシフトさせたレベルシフト信号を生成して、第1の出力端子(ノードC)及び第2の出力端子(ノードD)に供給する。本実施形態においては、これらの出力端子の内、第2の出力端子(ノードD)のレベルシフト信号がインバータ40に出力され、インバータ40によって反転された後に、出力パッドを介して、電源電位HVDD又はそれよりも高い電源電位で動作する外部回路に出力される。
このような半導体集積回路において、電源電位LVDDが供給されないときでも、出力パッドに接続されている外部回路が動作している等の理由により、電源電位HVDDが供給される場合がある。そのような場合には、内部回路10及びインバータ20の出力がハイインピーダンス状態(電位不定)となるので、ノードA及びノードBの電位によっては、トランジスタQP3、QP1及びQN1を介して貫通電流が流れてしまうおそれがある。また、ノードA及びノードBの電位によっては、トランジスタQP4、QP2及びQN2を介して貫通電流が流れてしまうおそれがある。
そこで、本発明においては、電源電位HVDDが供給され電源電位LVDDが供給されていないときに、レベルシフト回路30の第1及び第2の入力端子、又は、第1及び第2の入力端子の内の一方と第1及び第2の出力端子の内の一方の電位を固定する電位固定回路を設けることにより、レベルシフト回路30における貫通電流を防止している。
第1の実施形態においては、電位固定回路として、パワーオンコントロール(POC)回路50と、NチャネルMOSトランジスタQN3及びQN4とが設けられている。POC回路50は、電源電位HVDDが供給されたときに、電源電位LVDDが供給されているか否かを検出して、電源電位LVDDが供給されていない場合にハイレベルのPOC信号を出力し、電源電位LVDDが供給されている場合にローレベルのPOC信号を出力する。POC回路50から出力されるPOC信号は、トランジスタQN3及びQN4のゲートに供給される。
トランジスタQN3のドレインは、レベルシフト回路30の第1の入力端子(ノードA)に接続されており、ソースは、基準電位VSSに接続されている。また、トランジスタQN4のドレインは、レベルシフト回路30の第1の出力端子(ノードC)に接続されており、ソースは、基準電位VSSに接続されている。
これにより、電源電位HVDDが供給され電源電位LVDDが供給されていないときに、トランジスタQN3が、第1の入力端子(ノードA)の電位をローレベルに固定すると共に、トランジスタQN4が、第1の出力端子(ノードC)の電位をローレベルに固定するようにしている。
ノードA及びCの電位がローレベルになると、トランジスタQP3及びQP1がオン状態となり、トランジスタQN1がオフ状態となる。また、ノードDの電位がハイレベルとなり、トランジスタQP4がカットオフする。従って、電源電位HVDDが供給され電源電位LVDDが供給されていないときに、レベルシフト回路30における貫通電流を防止することができる。
さらに、ノードDの電位がハイレベルに固定されるので、インバータ40における貫通電流を防止することができる。なお、インバータ40に出力するレベルシフト信号をレベルシフト回路30の第1の出力端子(ノードC)からとる場合には、第2の入力端子(ノードB)の電位を固定すると共に、第2の出力端子(ノードD)の電位を固定するようにしても良い。
図2は、本発明の実施形態において用いられるPOC回路の構成を示す回路図である。POC回路50は、電源電位LVDDに接続された抵抗R1と、直列接続されたPチャネルMOSトランジスタQP11〜QP12及びNチャネルMOSトランジスタQN11〜QN12と、直列接続されたPチャネルMOSトランジスタQP21〜QP22及び抵抗R2と、インバータAを構成するPチャネルMOSトランジスタQP31及びNチャネルMOSトランジスタQN31と、インバータBを構成するPチャネルMOSトランジスタQP41及びNチャネルMOSトランジスタQN41とを含んでいる。
電源電位LVDDが供給されていないときには、電源電位LVDDがローレベルになるので、トランジスタQP11〜QP12がオンしてトランジスタQN11〜QN12がオフする。従って、ハイレベルの信号が入力されたインバータAが、ローレベルの反転POC信号を出力し、ローレベルの反転POC信号が入力されたインバータBが、ハイレベルのPOC信号を出力する。反転POC信号は、トランジスタQP21に正帰還されて、この状態を一層安定化する。一方、電源電位LVDDが供給されているときには、各部のレベル関係が逆転して、インバータAがハイレベルの反転POC信号を出力し、インバータBがローレベルのPOC信号を出力する。
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
図3は、本発明の第2の実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す図である。第2の実施形態においては、電位固定回路として、POC回路50と、NチャネルMOSトランジスタQN5及びQN6とが設けられている。POC回路50から出力されるPOC信号は、トランジスタQN5及びQN6のゲートに供給される。
トランジスタQN5のドレインは、レベルシフト回路30の第2の入力端子(ノードB)に接続されており、ソースは、基準電位VSSに接続されている。また、トランジスタQN6のドレインは、レベルシフト回路30の第2の出力端子(ノードD)に接続されており、ソースは、基準電位VSSに接続されている。
これにより、電源電位HVDDが供給され電源電位LVDDが供給されていないときに、トランジスタQN5が、第2の入力端子(ノードB)の電位をローレベルに固定すると共に、トランジスタQN6が、第2の出力端子(ノードD)の電位をローレベルに固定するようにしている。
ノードB及びDの電位がローレベルとなるから、トランジスタQP4及びQP2がオン状態となり、トランジスタQN2がオフ状態となる。また、ノードCの電位がハイレベルとなり、トランジスタQP3がカットオフする。従って、電源電位HVDDが供給され電源電位LVDDが供給されていないときに、レベルシフト回路30における貫通電流を防止することができる。
さらに、ノードDの電位がローレベルに固定されるので、インバータ40における貫通電流を防止することができる。なお、インバータ40に出力するレベルシフト信号をレベルシフト回路30の第1の出力端子(ノードC)からとる場合には、第1の入力端子(ノードA)の電位を固定すると共に、第1の出力端子(ノードC)の電位を固定するようにしても良い。
次に、本発明の第3の実施形態について説明する。
図4は、本発明の第3の実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す図である。第3の実施形態においては、電位固定回路として、POC回路50と、NチャネルMOSトランジスタQN7及びQN8とが設けられている。POC回路50から出力されるPOC信号は、トランジスタQN7及びQN8のゲートに供給される。
トランジスタQN7のドレインは、レベルシフト回路30の第1の入力端子(ノードA)に接続されており、ソースは、基準電位VSSに接続されている。また、トランジスタQN8のドレインは、レベルシフト回路30の第2の入力端子(ノードB)に接続されており、ソースは、基準電位VSSに接続されている。
これにより、電源電位HVDDが供給され電源電位LVDDが供給されていないときに、トランジスタQN7が、第1の入力端子(ノードA)の電位をローレベルに固定すると共に、トランジスタQN8が、第2の入力端子(ノードB)の電位をローレベルに固定するようにしている。
ノードA及びBの電位がローレベルとなるから、トランジスタQN1及びQN2がカットオフする。従って、電源電位HVDDが供給され電源電位LVDDが供給されていないときに、レベルシフト回路30における貫通電流を防止することができる。
次に、本発明の第4の実施形態について説明する。
図5は、本発明の第4の実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す図である。図5に示すように、この半導体集積回路は、電源電位LVDDが供給されたときに動作する内部回路10と、電源電位LVDDが供給されたときに内部回路10の出力信号を反転するインバータ21及び22と、内部回路10の出力信号を第1の入力端子(ノードA)に入力すると共にインバータ21及び22の出力信号を第2の入力端子(ノードB)にそれぞれ入力し、電源電位HVDDが供給されたときに、第1及び第2の入力端子に入力された信号のレベルをシフトさせたレベルシフト信号を第1の出力端子及び第2の出力端子においてそれぞれ生成して、第1又は第2の出力端子(本実施形態においては、第1の出力端子(ノードC))からレベルシフト信号をそれぞれ出力するレベルシフト回路31及び32と、電源電位HVDDが供給されたときに、レベルシフト回路31及び32から出力されるレベルシフト信号をそれぞれ反転するインバータ41及び42と、出力ドライバ60とを有している。
ここで、インバータ21及び22を、1つの共通インバータとしても良い。また、レベルシフト回路31及び32の各々の構成は、図1に示すレベルシフト回路30の構成と同一である。出力ドライバ60は、PチャネルMOSトランジスタ61及びNチャネルMOSトランジスタ62を含んでいる。
レベルシフト回路31及び32に、内部回路10から出力信号が供給されると共にインバータ21及び22から反転された出力信号が供給されると、レベルシフト回路31及び32は、供給された信号のレベルをシフトさせることにより、電源電位HVDDで動作するインバータ41及び42に適したレベルを有するレベルシフト信号をそれぞれ生成する。これらのレベルシフト信号は、インバータ41及び42によってそれぞれ反転された後に、出力ドライバ60を構成するトランジスタ61及び62のゲートにそれぞれ供給される。トランジスタ61及び62のドレインから出力される出力信号は、出力パッドを介して、電源電位HVDD又はそれよりも高い電源電位で動作する外部回路に供給される。
このような半導体集積回路において、電源電位LVDDが供給されないときでも、出力パッドに接続されている外部回路が動作している等の理由により、電源電位HVDDが供給される場合がある。そのような場合には、内部回路10及びインバータ21及び22の出力がハイインピーダンス状態(電位不定)となるので、ノードA及びノードBの電位によっては、レベルシフト回路31及び32に貫通電流が流れてしまうおそれがある。さらに、レベルシフト回路31及び32の出力が不定状態になると、出力ドライバ60を構成するトランジスタ61及び62の両方が共にオン状態となって、出力ドライバ60に貫通電流が流れてしまうおそれがある。
そこで、本実施形態においては、電位固定回路として、POC回路50と、NチャネルMOSトランジスタQN51〜QN54とが設けられている。POC回路50は、電源電位HVDDが供給されたときに、電源電位LVDDが供給されているか否かを検出し、電源電位LVDDが供給されていない場合にハイレベルのPOC信号を出力し、電源電位LVDDが供給されている場合にローレベルのPOC信号を出力する。POC回路50から出力されるPOC信号は、トランジスタQN51〜QN54のゲートに供給される。
トランジスタQN51のドレインは、レベルシフト回路31の第1の入力端子(ノードA)に接続されており、ソースは、基準電位VSSに接続されている。また、トランジスタQN52のドレインは、レベルシフト回路31の第1の出力端子(ノードC)に接続されており、ソースは、基準電位VSSに接続されている。
これにより、電源電位HVDDが供給され電源電位LVDDが供給されていないときに、トランジスタQN51が、レベルシフト回路31の第1の入力端子(ノードA)の電位をローレベルに固定すると共に、トランジスタQN52が、レベルシフト回路31の第1の出力端子(ノードC)の電位をローレベルに固定するようにしている。
レベルシフト回路31のノードA及びCの電位がローレベルになると、図1に示すトランジスタQP3及びQP1がオン状態となり、トランジスタQN1がオフ状態となる。また、ノードDの電位がハイレベルとなり、トランジスタQP4がカットオフする。従って、電源電位HVDDが供給され電源電位LVDDが供給されていないときに、レベルシフト回路31における貫通電流を防止することができる。
一方、トランジスタQN53のドレインは、レベルシフト回路32の第2の入力端子(ノードB)に接続されており、ソースは、基準電位VSSに接続されている。また、トランジスタQN54のドレインは、レベルシフト回路32の第2の出力端子(ノードD)に接続されており、ソースは、基準電位VSSに接続されている。
これにより、電源電位HVDDが供給され電源電位LVDDが供給されていないときに、トランジスタQN53が、レベルシフト回路32の第2の入力端子(ノードB)の電位をローレベルに固定すると共に、トランジスタQN54が、レベルシフト回路32の第2の出力端子(ノードD)の電位をローレベルに固定するようにしている。
レベルシフト回路32のノードB及びDの電位がローレベルになると、図1に示すトランジスタQP4及びQP2がオン状態となり、トランジスタQN2がオフ状態となる。また、ノードCの電位がハイレベルとなり、トランジスタQP3がカットオフする。従って、電源電位HVDDが供給され電源電位LVDDが供給されていないときに、レベルシフト回路32における貫通電流を防止することができる。
また、インバータ41の入力電位がローレベルに固定され、インバータ42の入力電位がハイレベルに固定されるので、インバータ41及び42における貫通電流を防止することができる。さらに、出力ドライバ60において、トランジスタ61のゲートがハイレベルに固定され、トランジスタ62のゲートがローレベルに固定されるので、出力ドライバ60を構成するトランジスタ61及び62の両方をオフさせて貫通電流を防止することができる。
本発明の第1の実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す図。 本発明の実施形態において用いられるPOC回路の構成を示す回路図。 本発明の第2の実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す図。 本発明の第3の実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す図。 本発明の第4の実施形態に係る半導体集積回路の構成を示す図。 2種類の電源電位が供給されて動作する従来の半導体集積回路の例を示す図。
符号の説明
10 内部回路、 20〜22、40〜42 インバータ、 30〜32 レベルシフト回路、 50 POC回路、 60 出力ドライバ、 61、QP1〜QP41 PチャネルMOSトランジスタ、 62、QN1〜QN54 NチャネルMOSトランジスタ

Claims (4)

  1. 第1の電源電位と、該第1の電源電位よりも高い第2の電源電位とを含む複数の電源電位が供給されて動作する半導体集積回路であって、
    第1の電源電位が供給されたときに動作する内部回路と
    記内部回路の出力信号が供給されるゲートを第1の入力端子としてドレインを第1の出力端子とする直列接続された第1のPチャネルMOSトランジスタ及び第1のNチャネルMOSトランジスタと、前記内部回路反転された出力信号が供給されるゲートを第2の入力端子としてドレインを第2の出力端子とする直列接続された第2のPチャネルMOSトランジスタ及び第2のNチャネルMOSトランジスタと、前記第2の出力端子の電位がゲートに供給されて第2の電源電位から前記第1のPチャネルMOSトランジスタ及び前記第1のNチャネルMOSトランジスタに電流を供給する第3のPチャネルMOSトランジスタと、前記第1の出力端子の電位がゲートに供給されて第2の電源電位から前記第2のPチャネルMOSトランジスタ及び前記第2のNチャネルMOSトランジスタに電流を供給する第4のPチャネルMOSトランジスタとを含み、前記第1及び第2の入力端子の電位をシフトさせて、前記第1及び第2の出力端子の内の一方からレベルシフト信号を出力するレベルシフト回路と
    2の電源電位が供給され第1の電源電位が供給されていないときに、制御信号を活性化する制御回路と、
    制御信号が活性化されたときに、前記レベルシフト回路の前記第1の入力端子及び前記第2の出力端子をローレベルに固定し、又は、前記レベルシフト回路の前記第2の入力端子及び前記第1の出力端子の電位をローレベルに固定する第3及び第4のNチャネルMOSトランジスタと、
    を具備する半導体集積回路。
  2. 第2の電源電位が供給されたときに、前記レベルシフト回路から出力されるレベルシフト信号に基づいて動作する出力回路をさらに具備する、請求項1記載の半導体集積回路。
  3. 第1の電源電位と、該第1の電源電位よりも高い第2の電源電位とを含む複数の電源電位が供給されて動作する半導体集積回路であって、
    第1の電源電位が供給されたときに動作する内部回路と、
    前記内部回路の出力信号が供給されるゲートを第1の入力端子としてドレインを第1の出力端子とする直列接続された第1のPチャネルMOSトランジスタ及び第1のNチャネルMOSトランジスタと、前記内部回路の反転された出力信号が供給されるゲートを第2の入力端子としてドレインを第2の出力端子とする直列接続された第2のPチャネルMOSトランジスタ及び第2のNチャネルMOSトランジスタと、前記第2の出力端子の電位がゲートに供給されて第2の電源電位から前記第1のPチャネルMOSトランジスタ及び前記第1のNチャネルMOSトランジスタに電流を供給する第3のPチャネルMOSトランジスタと、前記第1の出力端子の電位がゲートに供給されて第2の電源電位から前記第2のPチャネルMOSトランジスタ及び前記第2のNチャネルMOSトランジスタに電流を供給する第4のPチャネルMOSトランジスタとを含み、前記第1及び第2の入力端子の電位をシフトさせて、前記第1及び第2の出力端子の内の一方からレベルシフト信号を出力する第1のレベルシフト回路と、
    前記内部回路の出力信号が供給されるゲートをの入力端子としてドレインを第3の出力端子とする直列接続された第5のPチャネルMOSトランジスタ及び第3のNチャネルMOSトランジスタと、前記内部回路の反転された出力信号が供給されるゲートを第4の入力端子としてドレインを第4の出力端子とする直列接続された第6のPチャネルMOSトランジスタ及び第4のNチャネルMOSトランジスタと、前記第4の出力端子の電位がゲートに供給されて第2の電源電位から前記第5のPチャネルMOSトランジスタ及び前記第3のNチャネルMOSトランジスタに電流を供給する第7のPチャネルMOSトランジスタと、前記第3の出力端子の電位がゲートに供給されて第2の電源電位から前記第6のPチャネルMOSトランジスタ及び前記第4のNチャネルMOSトランジスタに電流を供給する第8のPチャネルMOSトランジスタとを含み、前記第3及び第4の入力端子の電位をシフトさせて、前記第及び第の出力端子の内の一方からレベルシフト信号を出力する第2のレベルシフト回路と
    2の電源電位が供給され第1の電源電位が供給されていないときに、制御信号を活性化する制御回路と、
    制御信号が活性化されたときに、前記第1のレベルシフト回路の前記第1の入力端子及び前記第2の出力端子をローレベルに固定すると共に前記第2のレベルシフト回路の前記第3の入力端子及び前記第4の出力端子をローレベルに固定し、又は、前記第1のレベルシフト回路の前記第2の入力端子及び前記第1の出力端子の電位をローレベルに固定すると共に前記第2のレベルシフト回路の前記第4の入力端子及び前記第3の出力端子の電位をローレベルに固定する第5〜第8のNチャネルMOSトランジスタと、
    を具備する半導体集積回路。
  4. 第2の電源電位が供給されたときに、前記第1及び第2のレベルシフト回路からそれぞれ出力されるレベルシフト信号に基づいて出力信号を生成する直列接続されたPチャネルMOSトランジスタ及びNチャネルMOSトランジスタを含む出力ドライバをさらに具備する、請求項3記載の半導体集積回路。
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Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4978094B2 (ja) * 2006-07-31 2012-07-18 富士通セミコンダクター株式会社 出力バッファ回路
JP4939285B2 (ja) * 2007-04-09 2012-05-23 ラピスセミコンダクタ株式会社 レベルシフタ
JP2012169810A (ja) * 2011-02-14 2012-09-06 Renesas Electronics Corp レベルシフト回路
US8525572B2 (en) * 2011-02-15 2013-09-03 Cavium, Inc. Level-up shifter circuit
US8896360B2 (en) 2011-02-15 2014-11-25 Cavium, Inc. Level-up shifter circuit for high speed and low power applications
KR101353212B1 (ko) * 2011-06-14 2014-01-22 한국과학기술원 인버터 및 인버터가 구비된 스위칭회로
JP2013074339A (ja) * 2011-09-26 2013-04-22 Fujitsu Ltd レベルコンバータ及びプロセッサ
CN103176414B (zh) * 2011-12-21 2016-06-15 国民技术股份有限公司 一种漏电控制电路及其方法
US8872570B2 (en) 2012-12-28 2014-10-28 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Multiple power domain circuit and related method
WO2014171190A1 (ja) * 2013-04-18 2014-10-23 シャープ株式会社 レベルシフト回路
US9680380B2 (en) 2013-08-01 2017-06-13 Hitachi, Ltd. Semiconductor device and power conversion device
TWI533611B (zh) * 2014-06-18 2016-05-11 奕力科技股份有限公司 電流限制準位調整電路
US10355692B2 (en) 2014-12-16 2019-07-16 Sony Corporation Power source monitoring circuit, power on reset circuit, and semiconductor device
JP2016143029A (ja) * 2015-02-05 2016-08-08 シナプティクス・ディスプレイ・デバイス合同会社 半導体装置及び携帯端末
US10050624B2 (en) * 2016-05-18 2018-08-14 Cavium, Inc. Process-compensated level-up shifter circuit
US11854647B2 (en) * 2021-07-29 2023-12-26 Micron Technology, Inc. Voltage level shifter transition time reduction

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2694448B1 (fr) 1992-07-31 1994-10-07 Sgs Thomson Microelectronics Dispositif de protection d'un circuit intégré contre les coupures d'alimentation.
JPH09135160A (ja) 1995-11-10 1997-05-20 Seiko Epson Corp 半導体装置
JP4063982B2 (ja) 1998-12-04 2008-03-19 松下電器産業株式会社 レベルシフタ回路およびそれを用いた半導体装置
JP3743284B2 (ja) 2000-12-13 2006-02-08 セイコーエプソン株式会社 半導体装置
JP3672184B2 (ja) 2000-12-14 2005-07-13 株式会社東芝 中継用マクロセル
US6545521B2 (en) * 2001-06-29 2003-04-08 International Business Machines Corporation Low skew, power sequence independent CMOS receiver device
JP3719671B2 (ja) 2002-09-30 2005-11-24 松下電器産業株式会社 レベルシフタ回路
JP2004356779A (ja) 2003-05-28 2004-12-16 Seiko Epson Corp 半導体集積回路
JP2005102086A (ja) * 2003-09-26 2005-04-14 Renesas Technology Corp 半導体装置およびレベル変換回路
JP4158787B2 (ja) * 2005-06-14 2008-10-01 セイコーエプソン株式会社 半導体集積回路
KR100670653B1 (ko) * 2005-06-29 2007-01-17 주식회사 하이닉스반도체 반도체 소자의 출력 드라이버
KR20070013086A (ko) * 2005-07-25 2007-01-30 삼성전자주식회사 반도체 메모리 소자의 레벨 쉬프터 회로

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