JP3847994B2 - ノーア型半導体メモリ装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、単一ビット又はマルチビットを貯蔵する複数のメモリセルのノーア型メモリアレーを有する非揮発性半導体メモリ装置及びメモリセルからデータを読出するための方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
ノーア型メモリセルアレーを有するマスクROMの階層的なビットライン構造が1988年Symposium onVLSIで16MB ROM DesignUsing Bank Select Architecture題目の pp85−88に詳細に示している。この論文において読出動作は、3つの段階、即ちメーンビットラインを予め設定された電圧レベルにプレチャージする段階、選択されたメモリセルがオンセルであるか、オフセルであるか、決定するためメーンビットラインの電圧レベルを感知する段階、選択されたメモリセルから感知された出力データをメモリ装置に出力する段階からなる。図1を参照すると、メモリブロックのメモリセルに貯蔵された感知データのため1対のバンク選択ラインBS1、BE2がメーンビットラインMB5に選択するため活性化され、電源電圧が選択されたメモリセルM81連結されるワードラインWL0に印加される。メモリセルからデータビットを指定する電圧レベルが選択されたメモリセルを通して流れる電流状態によって感知増幅器SA5から検出される。選択されたメモリセルM81がオンセルであると、メーンビットラインMB5に対応する電圧レベルがプレチャージレベルよりもっと低め、選択されたメモリセルがオフセルであると、メーンビットラインMB5のプレチャージレベルがそのまま維持される。
【0003】
しかしながら、選択されたメモリセルM81がオンセルであり、メーンビットラインMB3に対応するM41がオフセルであり、M51、M62、M71がオンセルである場合において、バンク選択ラインBS1、BE2がインエイブルされ、ワードラインWL0が活性化されることによってM51、M61、M71を通する電流パスがサブビットラインSB8に沿って形成され、それによってメーンビットラインMB5に連結されるサブビットラインSB9の感知電流がM51乃至M71のオンセルに起因する電流によって流れることができないため、選択されたメモリセルM81の状態感知が行われない。M81がオフセルに見なすと、メーンビットラインMB5の電圧レベルが電流流れの妨害のためもっと低めることができない。
【0004】
又、選択されたメモリセルM81がオフセルであり、隣接したメモリセルM91、M101、そしてM111がオンセルであると、隣接したセルを通して漏泄電流が選択されたメモリセルM81に流れてセンシング安定を低下させる。その結果、選択されたメモリセルの状態が何でもメモリセルのパフォーマンスが低下される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
したがって、本発明の目的は上述の諸般問題点を解決するため提案されたこととして、メモリセルのセンシング能力を向上させることができる非揮発性半導体メモリ装置を提供するためである。
【0006】
本発明の他の目的はセンシング速度及び安定性を向上させるための非揮発性半導体メモリ装置を提供することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上述のような本発明の目的を達成するための本発明の特徴によると、半導体メモリ装置は、複数のメモリセルブロックを有し、各メモリセルブロックはビットラインを含むメモリセルアレーと、複数のアドレス信号に応じて複数のディコーディング信号を発生する列ディコーダと、1つのグループの複数のビットラインのバイアス条件を決定する複数の第1バイアス/接地選択信号を発生する第1バイアス/接地選択制御回路と、第1バイアス/接地選択制御回路から発生された第1バイアス/接地選択信号に応じて1つグループの複数のビットラインのバイアス条件を判断するための第1バイアス/接地選択回路と、1つグループの複数のビットラインのバイアス条件を決定するための複数の第2バイアス/接地選択信号を発生する第2バイアス/接地選択制御回路と、第2バイアス/接地選択制御回路から発生される第2選択信号に応じて他のグループの複数のビットラインのバイアス条件を判断するための第2バイアス/接地選択回路を含む。
【0008】
この望ましい実施形態において、Y−パスゲートは、第1バイアス/接地選択回路と感知増幅器との間に連結される。
【0009】
この望ましい実施形態において、第1バイアス/接地選択制御回路から発生される第1選択信号は、複数のバイアス選択信号と複数の接地選択信号を含む。
【0010】
この望ましい実施形態において、第1バイアス/接地選択制御回路は、バイアス選択信号の電圧レベルを調節するための回路手段を含む。
【0011】
この望ましい実施形態において、第2バイアス/接地選択制御回路から発生される第2バイアス/接地選択信号は、複数のバイアス選択信号と複数の接地選択信号を含む。
【0012】
(作用)
本発明によると、オンセルの電流流入とオフセルの漏泄電流流れを防ぐことができ、半導体装置のセンシング安定及びセンシング速度を向上させることができる。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下本発明による実施形態を添附された図面、図2乃至図8を参照して詳細に説明する。
【0014】
図2を参照すると、本発明によるマスクROMはメモリセルアレー100、列ディコーダ200、Y−パスゲート300、第1バイアス/接地選択制御回路400、第2バイアス/接地選択制御回路420、第2バイアス/接地選択回路500、第2バイアス/接地選択回路520、そして感知増幅器600とを含む。メモリセルアレー100は複数のメモリブロックBLK0-BLKjで構成される。列ディコーダ200は、アドレス信号Aiを受けてディコーディング信号YAi、YAj、YBkを発生する。YAiは、第1及び第2バイアス/接地選択制御回路400、420に印加される。YAj及びYBkは、ビットラインと感知増幅器600を連結する列を選択するためのY−パスゲート300に印加される。第1バイアス/接地選択制御回路400は列ディコーダ200からアドレス信号Aiとディコーディング信号YAiを受けて第1バイアス/接地選択回路500に印加されるバイアス選択信号BIjと接地選択信号Gjを発生する。第2バイアス/接地選択制御回路420は列ディコーダ200からアドレス信号Aiとディコーディング信号YAiを受けて第2バイアス/接地選択回路500に印加されるバイアス選択信号BIjと接地選択信号Gjを発生する。第1及び第2バイアス/接地選択回路500、520は、メモリセルアレー100の上下部に位置し、2つのうち、1つはバイアスライン及び接地ラインを有するメモリセルアレーのメーンビットラインを選択する。
【0015】
図3及び図4は、メモリセルアレーブロックとバイアス/接地選択回路の間の相互連結を示す。
【0016】
メーンビットラインMB1−MB64は、メモリセルアレー100のメモリブロックに含まれる。図3を参照すると、1バイアス/接地選択回路500は、奇数番目メーンビットラインMB1、MB3、…、MB63を連結するNMOSトランジスター501-505とバイアス選択信号BI0、BI1、BI7、BI8に応じて奇数番目ビットラインをバイアス電圧レベルにチャージするPMOSトランジスター506と、そして接地選択信号G0、G1、G7、G8に応じて奇数番目ビットラインを接地レベルにディスチャージするNMOSトランジスター507を含む。そして図4を参照すると、第2バイアス/接地選択回路520は、偶数番目メーンビットラインMB2、MB4、MB64を連結するNMOSトランジスター521−525と、接地選択信号G0、G1、G7、G8に応じて偶数番目メーンビットラインを接地レベルにディスチャージするNMOSトランジスター526と、そして偶数番目メーンビットバイアス電圧レベルにチャージするPMOSトランジスター527を含む。
【0017】
メモリブロックに対応するバイアス/接地選択回路のユニット数は、メモリセルアレー100内で分離される。
【0018】
図5及び図6に示すように列ディコーダ200は、アドレス信号A0/A0B、A1/A1B、A2/ A2B、A5/A5B、A6/A6Bを受けて複数のナンドゲート201とナンドゲート201の出力を変換してメーンビットライン及び接地ラインを選択することにおいて、使用されるディコーダ信号YA0−YA7、YB0−YB3に出力する個のインバータ202で構成される。接地ラインは接地選択信号によって接地と連結されるメーンビットラインである。
【0019】
図7は、バイアス/接地選択制御回路400、420に共通に含まれるロジック回路を示す。
【0020】
ナンドゲート401は、アドレス信号A0/A0B、A1/A1B、A2/A2Bを受ける。ナンドゲート402は、ナンドゲート401の出力を受けて、それの出力は、アドレス信号A3によって制御される排他的論理(exclusive OR)ゲートXOR403の入力に印加される。XORの出力は直列に連結されるインバータ404、405を通して信号BYA0−BYA7に出力される。信号BYA0−BYA7はバイアス及び接地選択信号を発生する図8及び図9の回路に各各印加される。以下は、図7の回路に配列される構成のディコーディングを示す表であり、各各の表1及び表2はXORゲート403の入力を制御するアドレス信号A3が論理"1"と論理"0"であるときである。
【0021】
【表1】
【0022】
【表2】
【0023】
A3のトグルは、BYAi論理値が反対になるようにし、これは第1バイアス/接地選択回路がバイアス電圧(又は、プレチャージ電圧)に連結されるか、又は接地電圧に連結されるか、又は第2バイアス/接地選択回路が接地電圧に連結されるか、又はバイアス電圧(又は、プレチャージ電圧)に連結されるかを決定する。
【0024】
図8は、第1バイアス/電圧選択制御回路400を示す図面にバイアス選択及び接地選択信号を発生する回路の各ユニットを提供する。ユニット400bは列ディコーダ200及び図7の回路から各各YA0、BYA0を受けて接地選択信号G0とバイアス選択信号BIOを発生する。ユニット400bは、列ディコーダ200と図7の回路から各各YA1及びBYA1を受けて接地選択信号G1とバイアス選択信号BI1を発生する。ユニット400cは、他のユニットと同一である。
【0025】
接地選択信号発生回路400cgで、列ディコーダ200から発生されたYA7はインバータ406、407を通してXORゲート410の入力に印加され、NORゲート409の入力に直接印加される。ディコーディング信号BYA7はインバータ408を通してNORゲート410の入力に印加される。NORゲート409の出力は、XORゲート410の入力に印加される。XORゲート410の出力は、直列連結されるインバータ411、412を通して接地選択信号G7に出力される。
【0026】
バイアス選択信号発生回路400cdは、 回路400cgのXORゲート410の1対の入力ノードN1、N2に連結される1対の入力端子を有する。N2は電源電圧に連結されるMOSトランジスター413のゲートに連結され、又バイアス選択信号BI7と接地との間に連結されるNMOSトランジスター418のゲートにも連結される。N1は、PMOSトランジスター413とBI7との間に連結されるPMOSトランジスター414のゲートに連結され、接地に連結されるNMOSトランジスター417のゲートにも連結される。PMOSトランジスター415がPMOSトランジスター413とBI7との間に連結され、PMOSトランジスター415のゲートはBI7に連結される。ゲートが基準電圧VREFに連結されるNMOSトランジスター416はBI7とNMOSトランジスター417との間に連結される。
【0027】
図8の第2バイアス/接地選択制御回路420は接地及びバイアス選択信号を発生する回路のユニットが形成される。ユニット420aは列ディコーダ200と図7の回路から各各YA0とBYA0を受け、接地選択信号G0及びバイアス信号BI0を発生する。ユニット420bは、列ディコーダ200と図7の回路から各各YA1とBYA1を受けて接地選択信号G1とバイアス選択信号BI1を発生する。ユニット420c構造は、他のユニットと同一である。420cユニットで、YA7はインバータ421を通してナンドゲート422の入力に印加され、BYA1はナンドゲート422のようにナンドゲート423の入力に印加される。インバータ421の出力は、ナンドゲート423の入力にも印加される。ナンドゲート422、423の出力は、各々接地及びバイアス選択信号G7、 B17になる。
【0028】
Y−パスゲート300は、メーンビットラインMB1、MB3、…、MB63に連結される PMOSトランジスター601を含む。PMOSトランジスター601のソースは、電源電圧端子に連結される。PMOSトランジスター601のドレーンは、ゲートがYA0−YA7に連結される。NMOSトランジスター603のソースと連結される。第4NMOSトランジスターの各グループは、ゲートがYBi(i=0-3)に連結されるNMOSトランジスター606を通して感知増幅器600と連結される。PMOSトランジスター601の導電は、メーンビットラインの電圧レベルによって決定される。
【0029】
読出動作時、メモリセルからデータを読出するためメーンビットラインMB13が感知されると仮定すると、現アドレスが110(A2A1A0)であり、A3が1、YA6(=1)を除外した列ディコーダ200からのディコーディング信号YAiは全部0であり、バイアス/接地選択制御回路400、420が共通に含まれる図7の回路から発生される信号BYAiは表1のように示す。YA6=1、BYA=0になることによって、第1バイアス/接地選択制御回路400はG6=0及びBI6=0を発生し、反面に第2バイアス/接地選択制御回路420は、G6=1及びBI6=1を発生する。図8の回路において、BI6の電圧レベルはメーンビットラインのプレチャージ電圧レベルに影響を及ぼすVREFの電圧レベルによって決定される。BI6(=0)の電圧レベルは、論理的に完全に接地レベルに低めない。
【0030】
その次、図3を参照すると、G6(=0)は、第1バイアス/接地選択回路500のNMOSトランジスター507のゲートに印加され、それによってトランジスター507がターンオフされ、BI6のためメーンビットラインMB13にプレチャージ電圧(選択されたメモリセルの状態を感知するための電源電圧として)を供給するため第1バイアス/接地選択回路500のPMOSトランジスター506がターンオンされる。反面に、図4を参照すると、第2バイアス/接地選択制御回路420から発生されたG6(=1)及びB1(=1)はメーンビットラインMB14に連結されるNMOSトランジスター及びPMOSトランジスター526、527のゲートに各各印加され、メーンビットラインMB14は1のG6によってターンオンされるNMOSトランジスター526を通して選択されたメモリを接地と連結する導電ラインで作用する。
【0031】
もし、MB13とMB14の間に配列される選択されたメモリセルがオンセルであると、MB13の電圧レベルは、低レベルになり、それによってY−パスゲート300のPMOSトランジスター601がMB13の電圧変化に応じてターンオンされる。YA6が高レベルになることによって、PMOSトランジスター601を通したフールダウン電圧がNMOSトランジスター603、606(YB=1)を通して感知増幅器600に伝達される。反面に、MB13とMB14との間に配列される選択されたメモリセルがオフセルであるとき、MB14からMB14まで電流パスが形成されないためMB13の電圧レベルはPMOSトランジスター506を通して供給されるプレチャージ電圧レベルを維持する。
【0032】
メーンビットラインMB13が感知される間、MB13の左側に配列されるメーンビットラインは接地レベルに設定され、MB14の右側に配列されるメーンビットラインはPMOSトランジスター527によって供給されるバイアス電圧に維持される。アドレス110を有する表1によると、MB13とMB14との間に配列される選択されたメモリセルに貯蔵されたデータを読出するためMB13とMB14を通して形成されたセンシングパスは第2バイアス/電圧選択回路520のPMOSトランジスター527を通して印加されるバイアス電圧にチャージされ、トランジスター527はBI7(BI7に連結されるすべてのPMOSトランジスター同一)によってターンオンされ、MB6、MB8、MB10、そしてMB12は接地電圧に連結される。そのため、MB13とMB14との間に選択されたセルがオンセルであるとき、選択されたセンシングパスに電流が流入されなく、選択されたメモリセルがオフセルであるとき、選択されたセンシングパスに漏洩電流が落ちることができない。
【0033】
図11乃至図13は、本発明の実施形態による隣接する各メモリブロックBLK0、BLK1のMB0からMB15までの16個のメーンビットラインの多様な条件を示す。
【0034】
図11を参照すると、MB8が感知されるため選択されるとき、MB8の右側に配列されるMB9乃至MB15はバイアス電圧に連結され、MB8の左側に配列されるMB0乃至MB7は接地電圧に連結される。隣接したブロックBLK1において、メーンビットラインのバイアス条件はブロックBLK0と同一である。他の場合において、図12を参照すると、BLK0とBLK1に属するメーンビットラインのうち、1つの第1メーンビットラインMB0が指定されると仮定すると、第1メーンビットラインMB0は接地レベルに維持され、 BLK0とBLK1のMB8からMB15までは接地電圧に維持され、BLK0とBLK1のMB1からMB7まではバイアス電圧に連結される。図13はBLK0内にあるし、BLK1に一番近接したメーンビットラインが選択された境遇を示す。
【0035】
図12のように、BLK0とBLK1のMB8乃至B15は、接地電圧に維持され、BLK0とBLK1のMB1乃至この望ましいMB7はバイアス電圧に連結される。
【0036】
上述のように、本発明によると、オンセルから感知した電流と隣接したオンセルによる漏洩電流の流入を防ぎ、ノーア型メモリ装置のセンシング安定と読出速度を向上させることができる。
【0037】
以上から、本発明による回路の構成及び動作をした説明及び図面によって図示したが、これは例をあげて説明したことにし、本発明の技術的思想を外れない範囲内で多様した変化及び変更が可能である。
【0038】
【発明の効果】
以上のような本発明によると、セルの状態によって入される電流の流れを防ぐことができ、半導体メモリ装置のセンシング安定及び読出速度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 一般的な非揮発性メモリ装置のノーア型メモリセルアレーの構造を示す図である。
【図2】 本発明によるメモリ装置の機能的な構成を示すブロック図である。
【図3】 メモリセルアレーと周邊回路の構成を示す図である。
【図4】 メモリセルアレーと周邊回路の構成を示す図である。
【図5】 列ディコーダのロジック回路を示す図である。
【図6】 列ディコーダのロジック回路を示す図である。
【図7】 バイアス電圧及び接地電圧の選択を制御する信号を発生するロジック回路を示す図である。
【図8】 第1バイアス電圧及び接地電圧の選択を制御するための回路の構造を示す図である。
【図9】 第1バイアス電圧及び接地電圧の選択を制御するための回路の構造を示す図である。
【図10】 Y−パスゲートの回路図である。
【図11】 本発明によるメモリセルの感知電流流れの特性を示す図である。
【図12】 本発明によるメモリセルの感知電流流れの特性を示す図である。
【図13】 本発明によるメモリセルの感知電流流れの特性を示す図である。
【符号の説明】
100 メモリセルアレー
200 列ディコーダ
300 Y−パスゲート
400 第1バイアス/接地選択制御回路
420 第2バイアス/接地選択制御回路
500 第1バイアス/接地選択回路
520 第2バイアス/接地選択回路
600 感知増幅器
Claims (8)
- 複数のメモリセルブロックを有し、
前記各メモリセルブロックはビットラインを含むメモリセルアレーと、
複数のアドレス信号に応じて複数のディコーディング信号を発生する列ディコーダと、
1つのグループの複数のビットラインのバイアス条件を決定する複数の第1選択信号を発生する第1選択制御回路と、
前記第1選択制御回路から発生された前記第1選択信号に応じて1つのグループの複数のビットラインのバイアス条件を判断するための第1選択回路と、
1つのグループの複数のビットラインのバイアス条件を決定するための複数の第2選択信号を発生する第1選択制御回路と、
前記第2選択制御回路から発生される第2選択信号に応じて他のグループの複数のビットラインのバイアス条件を判断するための第2選択回路を含み、
前記メモリセルアレーでは、
複数のメモリセルが直列に接続され、
前記複数のメモリセル同士の接続箇所の各々には1本のビットラインが接続され、
前記ビットラインは、交互に、感知増幅器または接地電位に接続され
読み出し対象となるメモリセルを基準として、
該メモリセルと接地電位とを接続するビットライン側の複数のビットラインに接地電圧を印加し、
該メモリセルと感知増幅器とを接続するビットライン側の複数のビットラインのうち、前記メモリセルと感知増幅器とを接続するビットラインを除くビットラインにバイアス電圧を印加することを特徴とする半導体メモリ装置。 - 前記第2選択回路と感知増幅器の間に連結されるパスゲート回路を付加的に含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリ装置。
- 前記第1選択制御回路から発生される第1選択信号は、複数のバイアス選択信号と複数のグラウンド選択信号を含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリ装置。
- 前記第1選択制御回路は、前記バイアス選択回路の電圧レベルを調節するための回路手段を含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリ装置。
- 前記第2選択制御から発生される前記第1選択信号は、複数のバイアス信号と複数のグラウンド選択信号を含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリ装置。
- 複数のメモリブロックを有し、前記各メモリブロックは複数のメモリセルに連結される複数のビットラインを含み、前記ビットライン第1方向のビットラインと第2方向のビットラインに分かれるメモリセルアレーと、
複数のアドレス信号に応じて複数のディコーディング信号を発生する列ディコーダと、
第1電圧端子と第1方向のビットラインの間に連結される数個の第1トランジスターと、前記第1方向のビットラインと第2電圧端子の間に連結される複数の第2トランジスターを含み、前記第1トランジスターは第1選択信号に応じて前記第2トランジスターは第2選択信号に応じる第1選択回路と、
前記第1電圧端子と第2方向のビットラインの間に連結される複数の第3トランジスターと、前記第2方向のビットラインと前記第2電圧端子の間に連結される第4トランジスターを含み、前記第3トランジスターは第3選択信号に応じ、前記第4トランジスターは第4選択信号に応じる第2選択回路を含み、
前記メモリセルアレーでは、
複数のメモリセルが直列に接続され、
前記複数のメモリセル同士の接続箇所の各々には1本のビットラインが接続され、
前記第1方向のビットラインは、感知増幅器に接続され、前記第2方向のビットラインは接地電位に接続され、
前記第1方向のビットラインと前記第2方向のビットラインとが交互に配置され、
読み出し対象となるメモリセルを基準として、
該メモリセルと接地電位とを接続するビットライン側の複数のビットラインに接地電圧を印加し、
該メモリセルと感知増幅器とを接続するビットライン側の複数のビットラインのうち、前記メモリセルと感知増幅器とを接続するビットラインを除くビットラインにバイアス電圧を印加することを特徴とする半導体メモリ装置。 - 前記第1選択信号は、第1トランジスターを通してバイアス電圧の第1電圧端子に前記第1方向のビットラインを連結するためのものであり、前記第3選択信号は、前記第3トランジスターを通してバイアス電圧に前記第2方向のビットラインを連結するためのことを特徴とする請求項6に記載の半導体メモリ装置。
- 前記第2選択信号は第2トランジスターを通して接地電圧の前記第2電圧端子に第1方向のビットラインを連結するためのものであり、前記第4選択信号は第4トランジスターを通して接地電圧に第2方向のビットラインを連結するためのことを特徴とする請求項6に記載の半導体メモリ装置。
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Families Citing this family (10)
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IT1313873B1 (it) * | 1999-11-12 | 2002-09-24 | St Microelectronics Srl | Architettura per la gestione delle tensioni interne in una memoria nonvolatile, in particolare di tipo flash dual-work a singola tensione di |
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FR2881565B1 (fr) * | 2005-02-03 | 2007-08-24 | Atmel Corp | Circuits de selection de ligne binaire pour memoires non volatiles |
US8179708B2 (en) * | 2009-02-18 | 2012-05-15 | Atmel Corporation | Anti-cross-talk circuitry for ROM arrays |
US8982625B2 (en) * | 2012-08-31 | 2015-03-17 | Micron Technology, Inc. | Memory program disturb reduction |
US9293192B1 (en) | 2014-12-02 | 2016-03-22 | International Business Machines Corporation | SRAM cell with dynamic split ground and split wordline |
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