JP3797874B2 - 走査型光学顕微鏡 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、走査型光学顕微鏡に関し、特に、波面変換素子を用いて光軸方向の焦点移動を行うレーザー走査型顕微鏡(LSM)に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、例えばLSMにおいて、標本の3次元像を得るためには、標本又は対物レンズを機械的に光軸方向に移動させて、標本内部の各面における光学像を順次取り込んでいく必要があった。しかし、この方法は機械的駆動を必要とするため、位置制御を高い精度と再現性で実現することは困難である。また、標本を移動させる方法においては、標本が大きい場合は高速走査ができない等の問題があった。
【0003】
さらに、生体標本を観察する際に、対物レンズを標本に直接接触させるかあるいは標本の培養液に浸した状態で対物レンズを走査すると、その振動による悪影響を観察する標本に与えることになり、好ましくない。
【0004】
これらの問題を解決する方法として、特開平11−101942号記載のアダプティブ光学装置がある。特開平11−101942号のアダプティブ光学装置は、パワーを変化させることのできる光学素子(波面変換素子)を備えた顕微鏡であって、図27、図28にその構成を示す。この先行例では、観察光路及び/又は照明光路内に波面変換素子を有し、その波面変換素子を用いて光学系の焦点距離を変化させると共に、この焦点距離変化に伴って生じる収差も補正するものである。こうすることによって、対物レンズと標本との距離を変えることなく、物体空間内での焦点の形成と移動、さらに収差補正を行うことができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来技術において、物体空間内での焦点移動及び収差補正の作用を有効に機能させるためには、波面変換素子を対物レンズの瞳面又はこれと共役な位置に置くことが好ましい。もし波面変換素子が瞳面と共役でなければ、対物レンズで検出する物体高によって照明光又は結像光が波面変換素子上の異なった位置を通ることになる。焦点移動又は収差補正を行うためには、物体高によって波面形状を変化させなければならないが、できない場合は物体高の高い範囲で画質劣化が大きくなる可能性が高い。
【0006】
物体高の変化に応じて波面変換素子を最適形状に変化させれば、たとえ波面変換素子が瞳面と共役でなくても、物体高の高い範囲での画質劣化を避けることはできる。しかし、これを実現するには、波面変換を高速かつ回転非対称形状に制御する必要があり、これは非常に困難である。
【0007】
このような理由により、波面変換素子は瞳と共役な位置に置かれることが望ましい。しかし、これを実施する際には、以下に示す別の問題がある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成する本発明のズームレンズは、物体側より順に、最も物体側に凹面を物体側に向けた負メニスカスレンズが配置され、続いて両凸正レンズが配置された正屈折力の第1レンズ群と、1枚の負レンズと正レンズ及び負レンズからなる負屈折力の第2レンズ群より構成された、広角端から望遠端に変倍するときに、第1レンズ群と第2レンズ群が相互の間隔が小さくなるように物体側に移動すると共に、以下の条件式を満足することを特徴とするものである。
0.02<|f2 |/fT <0.35 ・・・(1)
0.30<ΔX2T/fT <0.58 ・・・(2)
2.25<β2T/β2W <5.0 ・・・(3)
ただし、f2 は第2レンズ群の焦点距離、fT は望遠端の全系の焦点距離、ΔX2Tは広角端を基準としたときの第2レンズ群の望遠端までのズーミング移動量、β2Tは望遠端の第2レンズ群の横倍率、β2Wは広角端の第2レンズ群の横倍率である。
【0009】
また、波面変換素子の位置をレーザー走査部材の位置、さらには対物レンズ瞳の位置と互いに共役に配置しなければならない。そのため、最低でも2組の瞳リレー光学系を必要とし、大型で複雑な装置になってしまう。
【0010】
また、上記従来技術においては、反射型の波面変換素子を照明・検出光路に組み込んでいるので、図27及び図28に示すように、ビームスプリッターを用いている。したがって、光源として非偏光レーザー、ビームスプリッターとして非偏光タイプを用いた場合は、波面変換素子を1回通る毎に光量が1/4に減少する。
【0011】
すなわち、照明の段階で1/4に、検出の段階で1/4に、トータルで1/16に減少することになる。また、光源として直線偏光レーザー、偏光ビームスプリッター、4分の1波長板を用いれば、照明の段階での損失は防げるが、無偏光状態になる蛍光を観察する際には、(蛍光)検出の段階で1/2に減少する。
【0012】
さらに、上記偏光ビームスプリッター、4分の1波長板を用いる場合でも、光源に直線偏光レーザーを使えるとは限らず、無偏光レーザーを使って蛍光を観察する場合は、照明の段階で1/2に、検出の段階で1/2に、トータルで1/4に減少することになる。
【0013】
本発明は従来の技術が持つ上記問題点を解決するためになされたものであって、その目的は、以下の2項目である。まず、対物レンズ瞳と波面変換素子とが共役に配置されていなくても、軸外での性能劣化が少なく、かつ、波面変換素子の制御方法が極めて簡単であり、さらに、瞳リレー光学系の構成が簡単であるか、あるいは、不要である、波面変換素子を用いたレーザー走査型顕微鏡(LSM)等の走査型光学顕微鏡を提供することである。次に、反射型の波面変換素子を用いる場合であっても、光量の損失が抑えられる、波面変換素子を用いたLSMを提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するための本発明の第1の走査型光学顕微鏡は、光源と、該光源から発する照明光に任意の波面変換を与える波面変換素子と、該波面変換素子から発する波面変換後の照明光を試料に集光する対物レンズと、該試料から発する信号光を検出する検出器と、前記対物レンズを光軸と直交する方向に走査するアクチュエーターとを有することを特徴とするものである。
【0015】
なお、波面変換素子から発する照明光は略平行な光束になっているのが望ましい。
【0016】
本発明の第2の走査型光学顕微鏡は、前記アクチュエーターが前記対物レンズで光軸と直交する試料の一断面上を走査する場合、前記波面変換素子は、前記照明光に対して一定の波面変換を与えることを特徴とするものである。
【0017】
本発明の第3の走査型光学顕微鏡は、前記対物レンズが光軸と直交する方向へ移動したときの移動量をΔXとするとき、下記条件式(1)を満たすことを特徴とする上記1又は2記載の走査型光学顕微鏡。
【0018】
ΔX≦0.66fOB・λ/(ΔZ・NA4 ) ・・・(1)
ここで、fOB:対物レンズの焦点距離
ΔZ:波面変換素子によって生じる焦点移動量
λ :照明光の波長
NA:対物レンズの開口数
である。
【0019】
本発明の第4の走査型光学顕微鏡は、光源と、該光源から発する照明光を収束光に変換する正のパワーを有する光学素子と、開口を有する反射鏡と、該照明光に任意の波面変換を与える反射型の波面変換素子と、該波面変換された照明光を試料に集光する対物レンズと、該試料から発する信号光を検出する検出器とを有することを特徴とするものである。
【0020】
本発明の第5の走査型光学顕微鏡は、第4の走査型光学顕微鏡における開口を有する反射鏡を含む光学系が、下記条件式(2)を満たすことを特徴とするものである。
【0021】
Hmin/rMinc≦0.5 ・・・(2)
ここで、rHmin:光軸から反射鏡部エッジまでの長さの最小値
Minc:開口を有する反射鏡に入射する波面変換された照明光の半径
である。
【0022】
本発明の第6の走査型光学顕微鏡は、光源と、該光源から発する照明光を収束光に変換する正のパワーを有する光学素子と、前記収束光の集光位置に配置された反射鏡と、該照明光に任意の波面変換を与える反射型の波面変換素子と、該波面変換された照明光を試料に集光する対物レンズと、該試料から発する信号光を検出する検出器とを有することを特徴とするものである。
【0023】
本発明の第7の走査型光学顕微鏡は、第6の走査型光学顕微鏡における反射鏡を含む光学系が、下記条件式(3)を満たすことを特徴とするものである。
【0024】
Mmin/rAinc≦0.5 ・・・(3)
ここで、rMmin:光軸から反射鏡部エッジまでの長さの最小値
Ainc:反射鏡の位置における波面変換された照明光の半径
である。
【0025】
本発明の第8の走査型光学顕微鏡は、光源と、該光源から発する照明光に任意の波面変換を与える反射型の波面変換素子と、波面変換後のレーザービームを試料に集光する対物レンズとを備え、前記光源が該試料から発する信号光を検出する検出器であることを特徴とするものである。
【0026】
本発明の第9の走査型光学顕微鏡は、光源と、該光源から発する照明光に任意の波面変換を与える反射型の波面変換素子と、該波面変換素子から発する波面変換後の照明光を試料に集光する対物レンズと、該試料から発する信号光を検出する検出器とを有し、前記反射型の波面変換素子を下記条件式(4)を満たすように光路中に配置したことを特徴とするものである。
【0027】
θPR≦50・NA-1√(λ・ΔZ-1) ・・・(4)
ここで、θPR:前記波面変換素子への主光線の入射角(°)
ΔZ:焦点移動量
λ :前記照明光の波長
NA:前記対物レンズの開口数
である。
【0028】
本発明の第10の走査型光学顕微鏡は、光源と、前記光源から発する照明光に波面変換を与える反射型の波面変換素子と、該波面変換素子から発する波面変換後の照明光を試料に集光する対物レンズと、該試料から発する信号光を検出する検出器とを有し、前記反射型の波面変換素子の反射面が非球面トーリック面形状に制御されることを特徴とするものである。
【0029】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明の走査型光学顕微鏡の具体的な構成と作用を図を用いて説明する。なお、説明に用いる図中において、繰り返し用いられる同一の要素には同一の記号を付し、重複する説明は行わない。また、光源としてレーザー発振器を使用したレーザー走査型顕微鏡(LSM)で説明する。
【0030】
第1発明の走査型光学顕微鏡の基本構成、Zスキャン(光軸方向のスキャン)時の物点移動による波面収差、バリエーションを図1〜図4を参照して説明する。
【0031】
LSMは、図1に示す構成によって実現することができる。図1において、レーザー光源6は、照明光2を発生する。照明光2は、コリメーションレンズ4によって平面波に変換され、ビームスプリッター21を透過し、補正前照明光15として波面変換素子5に入射する。波面変換素子5では、後述する所定の波面変換がなされ、補正後照明光17として射出し、対物レンズ7によって球面波に変換され、試料9上の一点を照明する。その反射光は、再び対物レンズ7で集光され、補正前観察光18として波面変換素子5に入射し、再び所定の波面変換がなされ、平面波である補正後観察光16として射出する。そして、ビームスプリッター21で反射し、凸レンズ28によって集光され、観察光3として光検出器29に入射する。
【0032】
対物レンズ7は、その物体側焦点Fに物体面が一致しているときに収差が最も小さくなる、いわゆる無限遠補正型である。また、対物レンズアクチュエータ8は対物レンズ7をX−Y方向に走査する。
【0033】
ここで、波面変換素子5は、照明光の波面を変換することができるので、図2(a)のように、補正後照明光17を発散光波面13とし、合焦位置を物体側焦点Fよりも遠い+側移動焦点11に移動することができる。また、逆に、図2(b)のように、補正後照明光17を収束光波面14とし、合焦位置を物体側焦点Fよりも近い−側移動焦点12に移動することもできる。すなわち、対物レンズ7や試料9を動かさずに、合焦位置を移動させることができる。
【0034】
また、対物レンズ7は、対物レンズアクチュエータ8によってX−Y方向に走査されるので、物体側焦点Fを、図3のように、X−Y方向に移動することができる。
【0035】
すなわち、本装置は、レーザー光を集光し、その合焦位置を空間的に移動させ、試料9からの光を観察光として検出する、いわゆるレーザー走査型顕微鏡として機能する。
【0036】
ここで、図2(a)、(b)に示した焦点位置の移動における波面変換素子5の作用について説明する。
【0037】
対物レンズ7は無限遠補正型なので、照明光源が有限な距離にある場合には、焦点位置が物体側焦点Fからずれるのみならず、球面収差が増大する。したがって、+側移動焦点11及び−側移動焦点12において、良好な結像をさせるためには、対物レンズ7に入射する発散光波面13及び収束光球面14が近軸焦点を移動させる成分に加えて、その近軸焦点の移動に伴って発生する球面収差を補正する成分を有することが望ましい。
【0038】
この球面収差補正成分について、図4を用いて説明する。対物レンズ7における物体側焦点Fの近傍で、距離ΔZだけ隔てた光軸上の点Qに傾角uの光線が集光するとき、物体側焦点Fに対する波面収差Wは、下記式(5)で表される。
【0039】
W=WF +WSA ・・・(5)
ここで、WF =−2ΔZsin2 (u/2)
SA=−2ΔZsin4 (u/2)
である。ここで、WF はいわゆる像点移動の波面収差であり、WSAはこの像点移動に伴って発生する球面収差の波面収差表示である。これらWF やWSAはハーシェルの条件から導き出される。すなわち、図2(a)、(b)における+側移動焦点11や−側移動焦点12において、球面収差の補正された像を得るためには、波面変換素子5によって、補正前照明光15に対し、上記式(5)で表わされる波面収差W相当の波面変換を与えればよい。
【0040】
次に、上記図1で示した構成のバリエーションについて説明する。上記図1では、レーザー光源手段と光検出手段として、別々の素子に各役割を持たせたが、一つの素子が光源と光検出の両方の役割を果たすこともできる。すなわち、光源として半導体レーザーチップを用いると、これは同時に光検出器として機能することも可能である。よって、このような場合は、ビームスプリッター21は不要となり、いわゆるレーザーフィードバック顕微鏡を構成する。また、光源にガスレーザーを用いた場合は、その射出ビームは細い平行光であるから、ビームエキスパンダーをコリメーションレンズ4の代わりに用いればよい。
【0041】
また、波面変換素子5としては、液晶セル等を用いた透過型でもよいし、メンブレンミラーのような反射型でもよい。また、ここでは、波面変換素子5に入射する補正前照明光15を平行光としたが、発散光や収束光でもよい。
【0042】
また、光検出光路を照明光路と重ねて配置する必要は必ずしもなく、試料9の裏側に配置して透過光を検出してもよいし、試料9の側面に配置して散乱光を検出してもよい。特に、光源6としてパルスレーザーを用い、試料9を2光子蛍光観察を行う際には、2光子蛍光固有の非線型特性により、非共焦点光学系でも光軸方向の分解能が得られる。このような場合には、光の検出効率を向上させるためにも、光検出器は照明光路よりも試料自体の近くに配置することが望ましい。
【0043】
第2発明の走査型光学顕微鏡に関し、図5を参照して説明する。ここでは、X−Yスキャン時に波面が一定であることを、瞳と波面変換素子が共役な位置関係になっているの場合と、瞳が非共役な位置関係になっているの場合のそれぞれについて説明する。
【0044】
まず、対物レンズ7の走査が像に及ぼす影響について説明する。対物レンズ7は、対物レンズアクチュエーター8によってX−Y方向に走査されるが、この走査の間に波面変換素子5によって与えられる波面変換量は、前記式(5)に示された量である。そして、本発明走査型光学顕微鏡では、X、Yの値によらず一定にしている。
【0045】
対物レンズ7は無限遠補正型なので、図3のように、補正後照明光17が平面波である場合は、対物レンズ7をX−Y方向に走査しても、結像特性が劣化することはない。しかし、図2(a)、(b)のように、焦点移動を行った状態で、さらにX−Y方向の走査を行うと、結像特性が劣化する。図5は、図2(b)において、ΔXなるX走査を行った状態を示したものである。ここで、39は理想波面、14は前述の収束光波面である。ΔX=0の場合は、収束光波面14と理想波面39は一致するが、ΔX≠0の場合は、図中ΔWで示される波面のずれを生じる。このずれは、集光点Qに対する波面収差に他ならない。この波面収差ΔWは結像性能に影響するが、所定の範囲内であれば実用上問題なく、ストレール強度比が70%以上であればよい。
【0046】
表1〜表3は、上記のように焦点移動と対物レンズのX−Y方向の走査を同時に行った場合について、種々の条件における結像特性の変化をシミュレーションした結果である。
【0047】
表1は、波面変換素子と対物レンズの瞳が共役になるように配置し、ΔZ=0.05(mm)とするための最適な波面変換Wを与え、その場合のストレール強度比が70%以上となるΔXの範囲を、以下の光の波長及びNAについて求めたものである。光の波長830nm、546.7nm、248nm、NA0.5〜0.9。なお、対物レンズは焦点距離fOB=3(mm)の無収差対物レンズである。
【0048】
表2は、同様にfOB=10(mm)、ΔZ=0.05(mm)とし、表3は、fOB=20(mm)、ΔZ=0.15(mm)とし、NA0.5〜0.7について求めたものである。
【0049】
Figure 0003797874
【0050】
Figure 0003797874
【0051】
Figure 0003797874
【0052】
これらの表において、例えば波長546.07nm、NA0.7の結果に着目すると、表1では、ΔX=0.099(mm)、表2では、ΔX=0.300(mm)、表3では、ΔX=0.200(mm)である。これらの視野ΔXの範囲では、上記の波面収差ΔWが十分に小さいと言えるため、この範囲内でX−Y走査を行えば、走査に応じて波面を変化させる必要はない。すなわち、波面を一定に保ったままでも、良好な結像性能が得られる。これらのことは他の波長、NAにおいても言える。
【0053】
上記表1〜表3は、対物レンズの瞳と波面変換素子とが共役になるように構成した場合の結果である。次に、両者が共役な位置関係になっていない場合について、以下に説明する。
【0054】
表4は、対物レンズの瞳と波面変換素子との共役関係を崩していった場合の結像特性の変化を示すものである。対物レンズがfOB=10(mm)、NA0.7の無収差対物レンズである。この対物レンズについて、その瞳と波面変換素子との距離を0から300mmまで変化させた場合の、ΔX=0〜0.3(mm)におけるストレール強度比を求めてある(波長546.07nm)。
【0055】
Figure 0003797874
【0056】
表4の結果より、本方式では、対物レンズの瞳と波面変換素子の位置関係が共役でなくても、軸外での像の劣化が少ないことが分かる。例えばΔX=0.2(mm)の走査範囲では、瞳が200mm離れていても、0.75以上のストレール強度比が得られることが分かる。
【0057】
以上のように、本方式は、光軸と直交する方向、すなわち、X方向に対物レンズを走査する場合に、波面変換素子によって与えられる波面変換が一定であることを特徴とする。しかしながら、X−Y平面内の2次元スキャンにおいても本方式が適用されることは言うまでもない。
【0058】
第3発明の走査型光学顕微鏡について、対物レンズのスキャン範囲を、図6、図7を参照して説明する。
【0059】
上記のように対物レンズのX−Y走査は結像特性に影響を及ぼす。しかしながら、所定の範囲ならば、この影響は実用上問題なく、十分な結像性能が得られる、すなわち、ストレール強度比が0.7以上になる走査幅ΔXは、諸条件によって変化するが、下記式によって求めることができる。
【0060】
ΔX≦0.66fOB・λ/(ΔZ・NA4 ) ・・・(1)
ここで、fOB:対物レンズの焦点距離
ΔZ:波面変換素子によって生じる焦点移動量
λ :照明光の波長
NA:対物レンズの開口数
である。
【0061】
上記表1及び表2の結果を、上記式(1)の曲線と合わせて、それぞれ図6及び図7に示す。図6、図7より、式(1)の曲線は、表1、表2の結果と一致することが分かる。すなわち、本発明では、対物レンズの走査片側振幅ΔXを、式(1)を満足するように制御している。これにより、波面を一定に保った状態で良好な結像性能が得られる。
【0062】
第4発明及び第5発明の走査型光学顕微鏡について、開口を有する反射鏡につい説明する。
【0063】
まず、第4発明の走査型光学顕微鏡について、光量損失を低減させる基本構成、そのバリエーションを図8、図9を参照して説明する。
【0064】
波面変換素子によって焦点移動を行い、かつ、光量の損失が極めて少なく、明るい像が得られるLSMは、図8の構成によって実現できる。この構成において、レーザー光源6は照明光2を発し、その照明光2はビームエキスパンダー20によって拡大され、ビームスプリッター21を透過し、凸レンズ22で集光される。集光された光は、開口25と反射面24を有する反射鏡42(以下、開口を有する反射鏡と言う。)に入射し、開口25を透過して反射型波面変換素子26に入射する。反射型波面変換素子26で反射される際に波面変換を受けた照明光は、反射面24で反射され、コリメーションレンズ27で略平行光となり、対物レンズ7によって試料9上に集光される。試料9からの観察光は逆の経路をたどり、ビームスプリッター21で反射し、凸レンズ28で光検出器29に集光される。
【0065】
ここで、反射型波面変換素子26によって焦点移動及びこれに伴う球面収差の補正がなされること、及び、アクチュエーター8によって対物レンズ7のX−Y走査がなされることは、前記図1の例と同様である。
【0066】
ここでは、反射型波面変換素子26に照明光を導く手段として、開口を有する反射鏡42を用いている。よって、図27、図28の従来技術で用いられているビームスプリッターと異なり、光量の損失を極めて少なくすることができる。また、絞られたビームが開口25を通過するので、この開口サイズを適切に設定することにより、共焦点効果を得ることができる。この共焦点効果は、蛍光試料の観察に特に有効である。蛍光観察を行う際には、ビームスプリッター21の代わりに、適切な波長特性を有するダイクロイックミラーを用いることが望ましい。
【0067】
図9は、開口を有する反射鏡を用いた別の実施例の構成を示す。ここでは、開口を有する反射鏡として、2つの直角プリズムと反射面よりなる開口を有する反射プリズム23を用いる。開口を有する反射プリズム23は2つのプリズムの接合面に反射面24が形成され、その一部に開口25が設けられている。また、半導体レーザーチップ1を光源兼光検出器として用い、いわゆるレーザーフィードバック顕微鏡を構成している。
【0068】
照明光2は、ビームエキスパンダーを用いずに凸レンズ30のみを用いて開口25に集光している。その他の構成は、図8と同様である。また、反射型波面変換素子26による焦点移動及びこれに伴う球面収差の補正、アクチュエーター8による対物レンズ7のX−Y走査、及び、開口を有する反射鏡23による光量損失低減の作用、効果も、図8の構成と同じである。
【0069】
なお、対物レンズの切り換えに伴う対物レンズの瞳位置の変動や、瞳リレー光学系により装置が大型化する問題があるが、開口を有する反射鏡をビームスキャン型LSMに適用することも可能である。これを、以下に示す。
【0070】
図10は、開口を有する反射鏡を用いる別の実施例の構成を示す。ここでは、ガルバノミラー47を走査手段として用い、2組の瞳リレー光学系46によって、対物レンズ瞳45、ガルバノミラー47、反射型波面変調素子26が共役になるように配置している。不図示の部分は、図8の構成と同様である。
【0071】
この開口を有する反射鏡42は、図8、図9に示した対物レンズ走査方式のLSMのみならず、図10に示したガルバノミラー等によるビームスキャン方式のLSMにおいても、反射型波面変調素子による焦点移動を行う際には、光量損失を減らす上で極めて有効である。ビームスキャンの手段として、ガルバノミラーの他に、ポリゴンミラーやAOM(音響光学素子)を同様に適用できることはもちろんである。
【0072】
次に、第5発明の走査型光学顕微鏡について、図11〜図13を参照して説明する。第5発明の走査型光学顕微鏡の構成は図8、図9と同じである。ここでは、開口25に関して述べる。
【0073】
図8、図9で示した開口を有する反射鏡が、いかに照明光を波面変換素子へ効率良く導くことができるかを、図11、図12(a)及び図13を併用して以下に説明する。
【0074】
図8、図9において、照明光2は、開口を有する反射鏡42又は開口を有する反射プリズム23に入射するとき、レンズ22あるいはレンズ30で集光する。このとき、集光位置と開口25が一致するように、開口を有する反射鏡42又は開口を有する反射プリズム23を配置する。このように配置することで、照明光は開口25を通過するので、開口25を通過あるいは透過する際の光量損失はほとんどない。照明光は開口25を通過すると発散光となり、反射型波面変換素子26で反射される。反射された光は補正後照明光17となり、さらに発散して反射面24で反射する。このとき、照明光の一部は反射せずに開口25を通過するので、ここで光量損失が発生する。この様子を図11に示す。開口25における損失量は、反射型波面変換素子26と平行な面40において評価することができる。補正後照明光17のビーム外径が面40と交わって作る輪郭の半径をrMinc、開口25を透過する補正後照明光17が面40と交わって作る輪郭の半径をrH とすると、半径rH の範囲が補正後照明光17の中の損失分である。照明光の中、半径rH 以上、ビーム半径rMinc以下の範囲を、反射面24で100%反射するとすれば、反射率ηH は次のように計算される。
【0075】
補正後照明光17が、図13のようなビーム半径rMincのガウシアンビームであるとすると、その強度分布I(r)は次式で表わされる。
【0076】
I(r)=I0 ・exp(−2r2 /rMinc 2 ) ・・・(6)
式(6)より、半径r内の強度の積分値E(r)は次のように表わされる。
【0077】
Figure 0003797874
前述のように、補正後照明光17の中、半径rH の範囲が失われるので、ビーム半径rMinc範囲内の全光量を基準にすると、(7)式より、反射率ηH 、すなわち効率は次のように表わされる。
【0078】
Figure 0003797874
上記(8)式より、ηH はrH とrMincの比で決まることが分かる。
【0079】
(rH /rMinc)とηH との関係を表5に示す。
【0080】
Figure 0003797874
【0081】
表5より、(rH /rMinc)≦0.5であれば、ηH ≧0.54となる。また、(rH /rMinc)が小さい程ηH は大きくなり、そして(rH /rMinc)=0.1においてはηH =0.977に達し、極めて反射率が高い、すなわち光の損失が少ないことが分かる。
【0082】
従来技術で用いられるビームスプリッターの場合、照明光を波面変換素子へ導くために、比較的損失の少ない偏光ビームスプリッターを用いたとしても、仮に光源からの光がランダム偏光だとすると、ランダム偏光を直線偏光に変換する際に光量の少なくとも半分が損なわれる。これに対して、本発明では、偏光、非偏光に関わらず光学系を(rH /rMinc)≦0.5となるようにすることで、ηH ≧0.54となる。この結果、従来のビームスプリッターよりも効率良く照明光を波面変換素子へ導くことができる。
【0083】
ここでは、図12(a)における開口25の形状を半径rH の円形として説明したが、上記光量損失低減の効果はこれに限られない。例えば、楕円、多角形、星型、スリット、不規則形状等であっても、光軸が開口内を通っていれば、効率的に照明光を波面変換素子へ導くことができる。開口の形状が円形以外である場合、その反射鏡部エッジ(反射面と開口の境界)から光軸までの長さの最小値rHminをrH とみなせばよい。これを、図12(b)、(c)に示す。
【0084】
以上より、開口を有する反射鏡を含む光学系が下記式(2)を満たすことが望ましい。
【0085】
Hmin/rMinc≦0.5 ・・・(2)
ここで、rHmin:光軸から反射鏡部エッジまでの長さの最小値
Minc:開口を有する反射鏡に入射する波面変換された照明光の半径
である。なお、式(2)を満たす光学系は、光源から対物レンズに至る光学系のことである。
【0086】
さらに、特筆すべきは、本発明における開口25が対物レンズ7の焦点位置と共焦点の関係にあるために、共焦点信号を検出して共焦点顕微鏡観察を行うことが極めて容易なことである。もちろん、その場合には、開口25の形状・寸法を観察光のエアリーディスク径に合わせる等、共焦点観察に適したものにすることが望ましい。開口25を共焦点観察に適合させる場合、その寸法は必然的に小さくなるので、(rH /rMinc)も極めて小さくなる。したがってη≒1となり、光量損失はほとんど皆無となる。
【0087】
第6発明及び第7発明の走査型光学顕微鏡について説明する。
【0088】
第6発明において、光量損失を低減させる基本構成のバリエーションを図14を参照して説明する。波面変換素子によって焦点移動を行い、かつ、光量の損失が極めて少なく明るい像が得られる別のLSMは、図14の構成によって実現できる。
【0089】
レーザー光源6は照明光2を発し、その照明光2はビームスプリッター21を透過する。そして、凸レンズ30を経て反射面を有するプリズム31に入射し、反射面32上に集光し、反射する。次に、照明光は発散光となって、反射型波面変換素子26に入射し、ここで波面変換を受ける。反射型波面変換素子26を射出した照明光は反射面を有するプリズム31を透過し、コリメーションレンズ27で略平行光となり、対物レンズ7によって試料9上に集光される。試料9からの観察光は逆の経路をたどり、ビームスプリッター21で反射し、光検出器29に集光される。反射型波面変換素子26によって焦点移動及びこれに伴う球面収差の補正がなされ、アクチュエーター8によって対物レンズ7のX−Y走査がなされることは、前記図1、図8、図9の例と同様である。
【0090】
ここでは、反射型波面変換素子26へ照明光を導く手段として、収束ビームの集光位置に配置された反射面を有する光学素子、すなわち、反射面を有するプリズム31を用いている。そのため、図27、図28の従来技術で用いられているビームスプリッターと異なり、光量の損失が極めて少ない。そして、試料9中の、反射面32と共役な領域から発した反射光は、観察光3として光検出器29に達する。逆に、共役な領域以外から発した反射光は光検出器29に達しない。すなわち、共焦点光学系と同様の作用を呈する。反射面32のサイズを適切に設定することにより、共焦点効果を得ることができる。また、この共焦点効果は、蛍光試料の観察に特に有効である。蛍光観察を行う際には、ビームスプリッター21の代わりに、適切な波長特性を有するダイクロイックミラーを用いることが望ましい。
【0091】
反射面を有する光学素子、例えばここで説明した反射面を有するプリズム31は、図14に示した対物レンズ走査方式のLSMのみならず、ガルバノミラー等によるビームスキャン方式のLSMにおいても、反射型波面変調素子26による焦点移動を行う際には、光量損失を減らす上で極めて有効である。
【0092】
第7発明の走査型光学顕微鏡について、図15、図16を参照して反射鏡形状に関して説明する。
【0093】
図14で示した反射面を有する光学素子が、いかに効率良く照明光を波面変換素子に導くことができるかを、図13、図15、図16を併用して以下に説明する。
【0094】
図14において、照明光2は反射面を有するプリズム31に入射するとき、レンズ30によって収束し、その焦点位置に設けられた反射面32で反射する。反射面32で反射する際の光量損失はほとんどない。照明光2は反射面32で反射すると発散光となり、反射型波面変換素子26に入射する。反射型波面変換素子26で反射した照明光は補正後照明光17となり、さらに発散して反射面を有するプリズム31を透過する。このとき、照明光の一部は透過せずに反射面32で反射するので、これが損失となる。
【0095】
この様子を図15に示す。反射面32における損失量は、反射型波面変換素子26と平行な面41において評価することができる。補正後照明光17のビーム外径が面41と交わって作る輪郭の半径をrAinc、反射面32で反射する補正後照明光17が面41と交わって作る輪郭の半径をrM とすると、半径rM の範囲が補正後照明光17の中の損失分である。補正後照明光のうち、半径rM 以上、rAinc以下の範囲が、反射面を有するプリズム31を100%透過し、かつ、照明光17が図13のようなビーム半径rAincのガウシアンビームであるとする。すると、ここでの透過率ηM は、前記図8、図9における開口を有する反射鏡の反射率ηH を表わす式(8)と全く同様にして求まり、次のように、式(8)におけるrH をrM に、そしてrMincをrAincに置き換えるだけでよい。
【0096】
Figure 0003797874
言うまでもなく、式(9)におけるηM とrAinc及びrM の関係は、前記式(8)におけるηH とrMinc及びrH の関係と同様である。したがって、(rM /rAinc)とηM との関係は、表5における(rH /rMinc)とηH との関係と一致する。
【0097】
ここでは、図16における反射面の形状を半径rM の円形として説明したが、光量損失低減の効果はこれに限られない。例えば、楕円、多角形、星型、スリット、不規則形状等であっても、光軸が反射面内を通っていれば、効率的に照明光を波面変換素子まで導くことができる。また、反射面32は必ずしも光透過部材(平行平面板やプリズム)上に形成される必要はない。例えば、必要な面積の反射面を有する微小な反射部材を支持部材で支持してもよい。反射面の形状が円形以外である場合、その反射鏡部エッジから光軸までの長さの最小値rMminをrM とみなせばよい。
【0098】
以上から、反射面を含む光学系が下記式(3)を満たすことが望ましい。
【0099】
Mmin/rAinc≦0.5 ・・・(3)
ここで、rMmin:光軸から反射鏡部エッジまでの長さの最小値
Ainc:反射鏡の位置における波面変換された照明光の半径
である。
【0100】
第8発明の走査型光学顕微鏡について、光量損失低減及び小型化に関して図17、図18を参照して説明する。
【0101】
波面変換素子によって焦点移動を行い、かつ、光量の損失が極めて少なく明るい像が得られる別のLSMは、図17の構成によって実現できる。
【0102】
支持部材34によって支持された光学素子43は、発光部と受光部の両方の機能を有する。光学素子43から発した照明光2は、コリメーションレンズ33を経て反射型波面変換素子26に入射し、ここで波面変換を受けて反射する。反射した光は再びコリメーションレンズ33を透過し、略平行光となり、対物レンズ7によって試料9上に集光される。試料9からの観察光は逆の経路をたどり、再び光学素子43に集光される。本構成でも、反射型波面変換素子26によって焦点移動及びこれに伴う球面収差の補正がなされ、アクチュエーター8によって対物レンズ7のX−Y走査がなされることは前記図1、図8、図9、図14の例と同様である。
【0103】
ここでは、発光部兼受光部である光学素子43を光路中に配置することによって、図27、図28の従来技術で用いられているビームスプリッターをなくした。この場合、光学素子43や支持部材34として遮光性の低いものを用いることにより、光量損失を低減することができる。例えば、光学素子43として半導体レーザーチップを用いれば、その外径は小さく、本例のように光路中に配置しても光を遮る面積は小さい。さらに、半導体レーザーチップに光源素子と光検出素子の両機能を持たせれば、いわゆるレーザーフィードバック顕微鏡として構成することができる。また、支持部材34としては、ガラス等の透明基板を用いればよい。
【0104】
図18は、本方式の別の実施例である。ここでは、光ファイバー36の先端をコリメーションレンズ35の中心に取り付けてある。光ファイバー36の他端は、不図示のレーザー光源及び光検出器に接続されている。したがって、コリメーションレンズに取り付けられた光ファイバー36の先端は、前記図17における光学素子43と同様に機能する。光ファイバー36は細く作ることができるので、本例のように光路中に配置しても、光路を遮る面積が小さく、光量損失を低減することができる。その他の構成は前記図17と同様であり、反射型波面変換素子26によって焦点移動及びこれに伴う球面収差の補正がなされ、アクチュエーター8によって対物レンズ7のXーY走査がなされる。
【0105】
第9発明の走査型光学顕微鏡について、図19、図20及び表6を参照して説明する。第9発明の走査型光学顕微鏡は、光量損失低減のバリエーションであって、照明光が波面変換素子に対して斜めから入射するように構成したものである。
【0106】
波面変換素子によって焦点移動を行い、かつ、光量の損失がなく、明るい像が得られるLSMは、図19の構成によって実現できる。レーザー光源6は照明光2を発し、コリメーションレンズ4で平行光に変換され、ビームスプリッター21を透過し、反射型波面変換素子26に入射角θPRで入射する。反射型波面変換素子26で波面変換を受けて反射した照明光は、対物レンズ7によって試料9上に集光される。試料9からの観察光は逆の経路をたどり、ビームスプリッター21で反射し、凸レンズ28で光検出器29に集光される。
【0107】
なお、反射型波面変換素子26によって焦点移動及びこれに伴う球面収差の補正がなされ、アクチュエータ8によって対物レンズ7のX−Y走査がなされることは、前述のものと同様である。
【0108】
また、蛍光観察を行う際には、ビームスプリッター21の代わりに、適切な波長特性を有するダイクロイックミラーを用いることが望ましい。この場合、図27の従来技術に比べて効率良く蛍光を検出できる。また、図28の従来技術に比べて効率良く照明光を試料に導くことができる。
【0109】
また、この反射型波面変換素子に対して光束を斜めに入射する配置は、ここに示した対物レンズ走査方式のLSMのみならず、ガルバノミラー等によるビームスキャン方式のLSMにおいても、光量損失を減らす上で極めて有効である。
【0110】
図20は、反射型波面変換素子に対して照明光を斜めに入射する配置の別の実施例である。ここでは、光ファイバー36の先端を対物レンズ7の光軸から距離aだけ離れた位置に置く。光ファイバ−36の他端は、不図示のレーザー光源及び光検出器に接続されている。したがって、この光ファイバー端部は発光部と受光部の両方の機能を有する。光ファイバー36から発した照明光2は、凸レンズ37でコリメーションされ、反射型波面変換素子26に対して入射角θPRで入射する。そして、ここで波面変換を受けて反射し、再びコリメーションレンズ37を透過し、略平行光となり、対物レンズ7によって試料9上に集光される。試料9からの観察光は逆の経路をたどり、再び光ファイバ−36の端部に集光され、不図示の検出器で検出される。本構成で、反射型波面変換素子26によって焦点移動及びこれに伴う球面収差の補正がなされ、アクチュエータ8によって対物レンズ7のX−Y走査がなされることは、前述のものと同様である。
【0111】
本構成においては、発光部となる光ファイバーを細く作ることができるので、図中の距離aを小さくすることができる。また、コリメーションレンズ37として、その焦点距離f37の長いものを選ぶことが設計上可能である。これは、反射型波面変換素子26に対する入射角θPRが小さくできることを意味し、後述する結像性能の観点から優れている。
【0112】
ここで、θPRと結像性能の関係について説明する。反射型波面変換素子は、光線の入射角度が0°の場合、回転対称形状の波面変換を行うことによって、集光位置における球面収差を完全に補正することができる。しかし、入射角度が大きくなると軸外収差の成分が発生するため、十分な補正ができなくなる。この結果、像が劣化する。しかしながら、入射角がある範囲内であればこの劣化は無視できる程に小さい。
【0113】
そこで、対物レンズの瞳と共役な位置に反射型波面変換素子を傾けて配置し、焦点移動と球面収差補正を行った場合に、ストレール強度比が0.7以上となる入射角θPRの上限値をシミュレーションによって求めた。その結果を表6〜表9に示す。なお、対物レンズは無限遠型の理想対物レンズである。
Figure 0003797874
【0114】
Figure 0003797874
【0115】
Figure 0003797874
【0116】
Figure 0003797874
【0117】
これより、θPRの上限はNA、波長、ΔZの関数であり、対物レンズの焦点距離fOBには関係がないことが分かり、次式(4)で表わされる。
【0118】
θPR≦50・NA-1√(λ・ΔZ-1) ・・・(4)
ここで、θPR:波面変換素子への主光線の入射角(°)
ΔZ:焦点移動量
λ :照明光の波長
NA:対物レンズの開口数
である。
【0119】
上記表6及び表9結果を、上記式(4)の曲線と合わせてそれぞれ図21及び図22に示す。
【0120】
図21、図22より、式(4)の曲線は表6、表9の結果と一致することが分かる。すなわち、反射型波面変換素子への入射角θPRは、式(4)によって決めることができる。
【0121】
第10発明の走査型光学顕微鏡について、トーリック面を用いた光量損失の低減に関して、図23〜図26、及び、表10を参照して説明する。
【0122】
波面変換素子によって焦点移動を行い、かつ、光量の損失がなく、明るい像が得られる別のLSMは、図23の構成によって実現できる。なお、以下の説明で用いる非球面トーリック面とは、面形状に関して、直交する2つの対称面を有し、かつ、これらの対称面と交わる曲線が非球面の断面形状で表わされるものを意味する。
【0123】
レーザー光源6は照明光2を発し、コリメーションレンズ4で平行光に変換され、ビームスプリッター21を透過し、非球面トーリック面形状に制御される反射型波面変換素子44(以下、トーリック面波面変換素子と略称する。)に斜めに入射する。照明光はトーリック面波面変換素子44で波面変換を受けて反射し、対物レンズ7によって試料9上に集光される。試料9からの観察光は逆の経路をたどり、ビームスプリッター21で反射し、凸レンズ28で光検出器29に集光される。
【0124】
ここで、トーリック面波面変換素子44によって焦点移動及びこれに伴う球面収差の補正がなされる。
【0125】
また、アクチュエータ8によって対物レンズ7のX−Y走査がなされることは前述のものと同様である。
【0126】
蛍光観察を行う際には、ビームスプリッター21の代わりに、適切な波長特性を有するダイクロイックミラーを用いることが望ましい。
【0127】
このトーリック面波面変換素子44に対して光束を斜めに入射する配置は、ここに示した対物レンズ走査方式のLSMのみならず、ガルバノミラー等によるビームスキャン方式のLSMにおいても、光量損失を減らす上で極めて有効である。
【0128】
ここで、波面変換素子の面形状としてなぜ非球面トーリック面を用いるかについて説明する。
【0129】
反射型波面変換素子を図23に示す配置で用い、焦点移動をさせる場合、収差を完全に補正するためには、波面変換素子の面形状を自由曲面形状に制御することが望ましい。しかし、自由曲面は形状に対称性を持たないため、必要な形状を光の波長オーダーの精度で正確に実現することは容易ではない。ところで、本願発明者は、図23の配置において、実際に必要とされる反射型波面変換素子の形状を解析した結果、確かに必要な形状は厳密には自由曲面であるが、高い対称性を持ち、非球面トーリック面に極めて近いことを見出した。このことを、図24〜図26を用いて説明する。
【0130】
図24は、反射型波面変換素子44を有する対物レンズ走査型顕微鏡のモデルである。ビーム径φ4.2mm、波長830nmの平行照明光が、長径5.94mm、短径4.20mmの楕円形有効径を有する反射型波面変換素子44に、入射角45°で入射する。照明光は波面変換を受け、光路を90°曲げられ光軸上で10mm離れて位置する対物レンズ7に入射する。対物レンズ7は、焦点距離3mm、NA0.7の理想対物レンズである。そして、この集光位置が、物体側焦点FからΔZ=0.04(mm)離れた位置に移動するように、反射型波面変換素子44の面形状を形成する。このとき、反射型波面変換素子44の面形状が自由曲面形状である場合と非球面トーリック面形状である場合を比較する。
【0131】
図25は、反射型波面変換素子44の面形状が自由曲面である場合の反射面形状の等高線図(単位:μm)である。また、図26は上記の自由曲面からξ−ζ平面とη−ζ平面を対称面とする非球面トーリック面を差し引いた形状の等高線図である。なお、図25、図26においては、長径5.6mm、短径3.9mmの楕円範囲を太線で示す。また、同範囲内での等高線を細線で示す。図25より、この反射面形状には、ξ−ζ平面に関してわずかに非対称な成分が認められる(η−ζ平面に関しては、対称であることが自明)。最大変位は8μmである。
【0132】
一方、図26における最大変位は、プラス側が+0.04μm、マイナス側が−0.06μmであり、何れも上記自由曲面の最大変位8μmの1%以下である。
【0133】
上記非球面トーリック面と自由曲面との形状の差が、実用上問題がないことを以下に示す。
【0134】
図24において、トーリック面波面変換素子44を置いた状態で、対物レンズ7にφ3mmの絞り48を付加し、絞り48と対物レンズ7を一体的にX−Y方向に走査した場合のストレール強度比を求めた。その結果を表10(a)、(b)に示す。ここで、結像特性のXY方向の分布に関して、X軸に関しては非対称、Y軸に関しては対称であることが自明なので、表10(a)においてΔX=0〜+0.5(mm)、表10(b)においてΔY=−0.5〜+0.5(mm)の範囲で求めた。
Figure 0003797874
Figure 0003797874
【0135】
これより、ΔX=±0.4(mm)、ΔY=±0.4(mm)の範囲においては、ストレール強度比が0.7以上となり、非球面トーリック面でも十分な結像性能が得られることが分かる。
【0136】
以上の本発明の走査型光学顕微鏡は例えば次のように構成することができる。
【0137】
〔1〕 光源と、該光源から発する照明光に任意の波面変換を与える波面変換素子と、該波面変換素子から発する波面変換後の照明光を試料に集光する対物レンズと、該試料から発する信号光を検出する検出器と、前記対物レンズを光軸と直交する方向に走査するアクチュエーターとを有することを特徴とする走査型光学顕微鏡。
【0138】
〔2〕 前記波面変換素子は、前記アクチュエーターが前記対物レンズで光軸と直交する試料の一断面上を走査する場合、前記照明光に対して一定の波面変換を与えることを特徴とする上記1記載の走査型光学顕微鏡。
【0139】
〔3〕 前記対物レンズが光軸と直交する方向へ移動したときの移動量をΔxとするとき、下記条件式(1)を満たすことを特徴とする上記1又は2記載の走査型光学顕微鏡。
【0140】
ΔX≦0.66fOB・λ/(ΔZ・NA4 ) ・・・(1)
ここで、fOB:対物レンズの焦点距離
ΔZ:波面変換素子によって生じる焦点移動量
λ :照明光の波長
NA:対物レンズの開口数
である。
【0141】
〔4〕 光源と、該光源から発する照明光を収束光に変換する正のパワーを有する光学素子と、開口を有する反射鏡と、該照明光に任意の波面変換を与える反射型の波面変換素子と、該波面変換された照明光を試料に集光する対物レンズと、該試料から発する信号光を検出する検出器とを有することを特徴とする走査型光学顕微鏡。
【0142】
〔5〕 前記開口を有する反射鏡を含む光学系が、下記条件式(2)を満たすことを特徴とする上記4記載の走査型光学顕微鏡。
【0143】
Hmin/rMinc≦0.5 ・・・(2)
ここで、rHmin:光軸から反射鏡部エッジまでの長さの最小値
Minc:開口を有する反射鏡に入射する波面変換された照明光の半径
である。
【0144】
〔6〕 光源と、該光源から発する照明光を収束光に変換する正のパワーを有する光学素子と、前記収束光の集光位置に配置された反射鏡と、該照明光に任意の波面変換を与える反射型の波面変換素子と、該波面変換された照明光を試料に集光する対物レンズと、該試料から発する信号光を検出する検出器とを有することを特徴とする走査型光学顕微鏡。
【0145】
〔7〕 前記反射鏡を含む光学系が、下記条件式(3)を満たすことを特徴とする上記6記載の走査型光学顕微鏡。
【0146】
Mmin/rAinc≦0.5 ・・・(3)
ここで、rMmin:光軸から反射鏡部エッジまでの長さの最小値
Ainc:反射鏡の位置における波面変換された照明光の半径
である。
【0147】
〔8〕 光源と、該光源から発する照明光に任意の波面変換を与える反射型の波面変換素子と、波面変換後の照明光を試料に集光する対物レンズとを備え、前記光源が該試料から発する信号光を検出する検出器であることを特徴とする走査型光学顕微鏡。
【0148】
〔9〕 光源と、該光源から発する照明光に任意の波面変換を与える反射型の波面変換素子と、該波面変換素子から発する波面変換後の照明光を試料に集光する対物レンズと、該試料から発する信号光を検出する検出器とを有し、前記反射型の波面変換素子を下記条件式(4)を満たすように光路中に配置したことを特徴とする走査型光学顕微鏡。
【0149】
θPR≦50・NA-1√(λ・ΔZ-1) ・・・(4)
ここで、θPR:前記波面変換素子への主光線の入射角(°)
ΔZ:焦点移動量
λ :前記照明光の波長
NA:前記対物レンズの開口数
である。
【0150】
〔10〕 光源と、前記光源から発する照明光に波面変換を与える反射型の波面変換素子と、該波面変換素子から発する波面変換後の照明光を試料に集光する対物レンズと、該試料から発する信号光を検出する検出器とを有し、前記反射型の波面変換素子の反射面が非球面トーリック面形状に制御されることを特徴とする走査型光学顕微鏡。
【0151】
【発明の効果】
本発明の波面変換素子を用いたレーザー走査型顕微鏡(LSM)等の走査型光学顕微鏡は、下記効果をもたらす。
【0152】
第1の走査型光学顕微鏡は、光軸と直交する方向の走査を対物レンズの走査によって行うので、波面変換素子によって焦点移動がなされている場合であっても、軸外での結像性能の劣化が少なく、かつ、装置の構成上も、対物レンズ瞳が波面変換素子と共役でなくてもよい。
【0153】
第2の走査型光学顕微鏡は、対物レンズを光軸と直交する方向に走査する場合に、波面変換素子が照明光に与える波面変換を変化させる必要がないので、波面変換素子の駆動制御が容易になる。
【0154】
第3の走査型光学顕微鏡は、波面変換素子による焦点移動を行い、かつ、良好な結像特性を有するLSMが得られる。
【0155】
第4〜第7の走査型光学顕微鏡は、反射型波面変換素子を用いながら光量の損失が少ないLSMが得られる。
【0156】
第8の走査型光学顕微鏡は、反射型波面変換素子を用いながら光量の損失が少なく、かつ、小型のLSMが得られる。
【0157】
第9〜第10の走査型光学顕微鏡は、反射型波面変換素子を用いながら光量の損失がないLSMが得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の波面変換素子による焦点移動と対物レンズ駆動によるX−Y走査をするレーザー走査型顕微鏡の構成を示す図である。
【図2】波面変換素子による+側移動焦点及び−側移動焦点を説明するための図である。
【図3】対物レンズのX−Y走査を説明するための図である。
【図4】焦点移動の波面収差を説明するための図である。
【図5】対物レンズの走査の波面収差を説明するための図である。
【図6】ストレール強度比が0.7以上になる走査幅ΔX(fOB=3(mm)の場合)のシミュレーション結果と(1)の曲線と合わせて示す図である。
【図7】ストレール強度比が0.7以上になる走査幅ΔX(fOB=10(mm)の場合)のシミュレーション結果と(1)の曲線と合わせて示す図である。
【図8】反射型波面変換素子と開口付き反射鏡を有する1実施例のレーザー走査型顕微鏡の構成を示す図である。
【図9】反射型波面変換素子と開口付き反射鏡を有する他の実施例のレーザー走査型顕微鏡の構成を示す図である。
【図10】ガルバノミラーと反射型波面変換素子と開口付き反射鏡を有する実施例のレーザー走査型顕微鏡の構成を示す図である。
【図11】開口付き反射鏡における光の損失を説明するための図である。
【図12】開口付き反射鏡におけるビーム径と開口の投影形状を示す図である。
【図13】ガウシアンビームの強度分布図である。
【図14】反射型波面変換素子と反射鏡を有する実施例のレーザー走査型顕微鏡の構成を示す図である。
【図15】反射鏡における光の損失を説明するための図である。
【図16】反射鏡におけるビーム径と反射面の投影形状を示す図である。
【図17】反射型波面変換素子と発光部兼受光部である開口を有する実施例のレーザー走査型顕微鏡の構成を示す図である。
【図18】反射型波面変換素子と光ファイバーを有する実施例のレーザー走査型顕微鏡の構成を示す図である。
【図19】反射型波面変換素子に光束を斜入射させる実施例のレーザー走査型顕微鏡の構成を示す図である。
【図20】反射型波面変換素子にコリメーションレンズを介して光束を斜入射させる実施例のレーザー走査型顕微鏡の構成を示す図である。
【図21】ストレール強度比が0.7以上になる斜入射角度ΔθPR(ΔZ=0.05(mm)の場合)のシミュレーション結果と(4)の曲線と合わせて示す図である。
【図22】ストレール強度比が0.7以上になる斜入射角度ΔθPR(ΔZ=0.02(mm)の場合)のシミュレーション結果と(4)の曲線と合わせて示す図である。
【図23】非球面トーリック面の反射型波面変換素子を用いる実施例のレーザー走査型顕微鏡の構成を示す図である。
【図24】非球面トーリック面の反射型波面変換素子を有する対物レンズ走査型顕微鏡のシミュレーションモデル図である。
【図25】反射型波面変換素子が自由曲面型である場合の最適化した反射面形状の等高線図である。
【図26】図25の最適化された自由曲面から最適化されたトーリック面を差し引いた形状の等高線図である。
【図27】ビームスプリッターによって光路分割をする従来の顕微鏡の構成を示す図である。
【図28】ビームスプリッターによって光路分割をする従来の2光子顕微鏡の構成を示す図である。
【符号の説明】
1…半導体レーザーチップ
2…照明光
3…観察光
4…コリメーションレンズ
5…波面変換素子
6…レーザー光源
7…対物レンズ
8…対物レンズアクチュエータ
9…試料
11…+側移動焦点
12…−側移動焦点
13…発散光波面
14…収束光波面
15…補正前照明光
16…補正後観察光
17…補正後照明光
18…補正前観察光
20…ビームエキスパンダー
21…ビームスプリッター
22…凸レンズ
23…開口を有する反射プリズム
24…反射面
25…開口
26…反射型波面変換素子
27…コリメーションレンズ
28…凸レンズ
29…光検出器
30…凸レンズ
31…反射面を有するプリズム
32…反射面
33…コリメーションレンズ
34…支持部材
35…コリメーションレンズ
36…光ファイバー
37…凸レンズ(コリメーションレンズ)
38…主光線
39…理想波面
40…投影面
41…投影面
42…開口を有する反射鏡
43…光学素子
44…反射型波面変換素子(トーリック面波面変換素子)
45…対物レンズ瞳
46…瞳リレー光学系
47…ガルバノミラー
48…絞り
F…物体側焦点
Q…集光点

Claims (1)

  1. 光源と、該光源から発する照明光に任意の波面変換を与える反射型の波面変換素子と、該波面変換素子から発する波面変換後の照明光を試料に集光する対物レンズと、該試料から発する信号光を検出する検出器とを有し、前記反射型の波面変換素子を下記条件式(4)を満たすように光路中に配置したことを特徴とする走査型光学顕微鏡。
    θPR≦50・NA-1√(λ・ΔZ-1) ・・・(4)
    ここで、θPR:前記波面変換素子への主光線の入射角(°)
    ΔZ:焦点移動量
    λ :前記照明光の波長
    NA:前記対物レンズの開口数
    である。
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Families Citing this family (55)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10227120A1 (de) * 2002-06-15 2004-03-04 Carl Zeiss Jena Gmbh Mikroskop, insbesondere Laserscanningmikroskop mit adaptiver optischer Einrichtung
DE10343276A1 (de) * 2003-09-18 2005-04-14 Carl Zeiss Jena Gmbh Mehr-Photonen-Fluoreszenzmikroskopie
JP4391806B2 (ja) * 2003-11-27 2009-12-24 オリンパス株式会社 光学顕微鏡
US7564622B2 (en) * 2003-12-12 2009-07-21 Olympus Corporation Methods for implement microscopy and microscopic measurement as well as microscope and apparatus for implementing them
JP4576137B2 (ja) * 2004-03-19 2010-11-04 オリンパス株式会社 顕微鏡
JP4615886B2 (ja) * 2004-04-01 2011-01-19 オリンパス株式会社 走査型光学顕微鏡
US7170675B2 (en) * 2004-05-19 2007-01-30 Celloptic, Inc. Method and system for wide-field multi-photon microscopy having a confocal excitation plane
JP2005345761A (ja) * 2004-06-03 2005-12-15 Olympus Corp 走査型光学顕微鏡装置及び走査型光学顕微鏡像から物体像の復元法
DE102004028471A1 (de) * 2004-06-11 2005-12-29 Leica Microsystems (Schweiz) Ag Beleuchtungseinrichtung, insbesondere Spaltlampe
DE102004042913A1 (de) * 2004-09-02 2006-03-30 Westfälische-Wilhelms Universität Münster Scanneranordnung und Verfahren zum optischen Abtasten eines Objektes
JP4723842B2 (ja) * 2004-10-05 2011-07-13 オリンパス株式会社 走査型光学顕微鏡
DE102004057451A1 (de) * 2004-11-24 2006-06-01 Carl Zeiss Jena Gmbh Objektiv-Tisch-System für Mikroskope
US7345816B2 (en) * 2005-01-11 2008-03-18 Olympus Corporation Optical microscope
US7326899B2 (en) * 2005-07-11 2008-02-05 Olympus Corporation Laser scanning microscope and image acquiring method of laser scanning microscope
US7764433B2 (en) * 2006-05-18 2010-07-27 The Regents Of The University Of California Method and system for correcting optical aberrations, including widefield imaging applications
JP4889375B2 (ja) * 2006-05-25 2012-03-07 オリンパス株式会社 共焦点顕微鏡および多光子励起型顕微鏡
US20080064920A1 (en) * 2006-09-08 2008-03-13 Ethicon Endo-Surgery, Inc. Medical drive system for providing motion to at least a portion of a medical apparatus
EP2074534B1 (en) * 2006-10-20 2017-01-25 Oricane AB Method, device, computer program product and system for representing a partition of n w-bit intervals associated to d-bit data in a data communications network
US20080116392A1 (en) * 2006-11-20 2008-05-22 Celloptic, Inc. Method and system for wide-field multi-photon microscopy having a confocal excitation plane
JP5112832B2 (ja) * 2006-12-11 2013-01-09 オリンパス株式会社 顕微鏡対物レンズ及びそれを用いた蛍光観察装置
JP4694538B2 (ja) * 2007-07-23 2011-06-08 オリンパス株式会社 走査型光学顕微鏡
JP5178107B2 (ja) * 2007-09-14 2013-04-10 オリンパス株式会社 レーザー走査型顕微鏡
DE102008021341B4 (de) * 2008-04-29 2015-05-07 Carl Zeiss Ag Anamorphotisches Abbildungsobjektiv
JP2010026165A (ja) 2008-07-17 2010-02-04 Olympus Corp レーザー走査型顕微鏡
US8077386B2 (en) 2008-10-22 2011-12-13 Microbrightfield, Inc. Movable objective lens assembly for an optical microscope and optical microscopes having such an assembly
EP2459142A4 (en) * 2009-07-29 2012-12-12 Alcon Lensx Inc OPTICAL SYSTEM FOR OPHTHALMIC SURGICAL LASER
US8982455B2 (en) * 2009-09-22 2015-03-17 Intelligent Imaging Innovations, Inc. Modular design of a scanning microscope attachment and accessories
US8634131B2 (en) * 2009-12-14 2014-01-21 Intelligent Imaging Innovations, Inc. Spherical aberration correction for non-descanned applications
JP5603786B2 (ja) 2010-01-21 2014-10-08 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
DE102010007727A1 (de) 2010-02-12 2011-08-18 Leica Microsystems CMS GmbH, 35578 Vorrichtung nach Art eines Scan-Mikroskops, Vorrichtung in Form einer Baueinheit für ein Mikroskop und Verfahren und Vorrichtung zum optischen Abtasten einer oder mehrerer Proben
DE102010007729A1 (de) 2010-02-12 2011-08-18 Leica Microsystems CMS GmbH, 35578 Vorrichtung zum Scannen eines Objekts, Verfahren zum Betreiben der Vorrichtung und Scanmikroskop
DE102010007728A1 (de) * 2010-02-12 2011-09-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Scannen eines Objekts und Mikroskop
US9494781B2 (en) * 2011-01-19 2016-11-15 California Institute Of Technology Plane-projection multi-photon microscopy
CN102866492A (zh) * 2011-07-06 2013-01-09 黄书伟 平衡检测共聚焦显微镜成像系统及其三维影像重建方法
DE102011051949B4 (de) 2011-07-19 2017-05-18 Leica Microsystems Cms Gmbh Wechselvorrichtung für ein Mikroskop
US9675252B2 (en) * 2011-09-27 2017-06-13 British Columbia Cancer Agency Branch Scanning optical systems
DE102012009836A1 (de) * 2012-05-16 2013-11-21 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lichtmikroskop und Verfahren zur Bildaufnahme mit einem Lichtmikroskop
CN104303090B (zh) * 2012-05-17 2017-08-15 西铁城时计株式会社 像差校正器件及激光显微镜
JP6265898B2 (ja) 2012-08-16 2018-01-24 シチズン時計株式会社 収差補正光学ユニット及びレーザー顕微鏡
CN104769481B (zh) 2012-10-12 2018-12-18 统雷有限公司 紧凑、低色散以及低像差自适应光学扫描系统
JP2014197041A (ja) * 2013-03-29 2014-10-16 船井電機株式会社 プロジェクタ
EP2983027A4 (en) 2013-04-03 2017-03-15 Olympus Corporation Imaging optics, illumination device, and observation device
DE102013218795A1 (de) 2013-09-19 2015-03-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laserscanningmikroskop und Verfahren zur Korrektur von Abbildungsfehlern insbesondere in der hochauflösenden Scanning-Mikroskopie
DE112015003924T5 (de) * 2014-10-03 2017-05-18 Olympus Corporation Mikroskopvorrichtung zum Scannen in die Richtung der optischen Achse
WO2016056657A1 (ja) * 2014-10-09 2016-04-14 オリンパス株式会社 結像光学系、照明装置および観察装置
EP3035104B1 (en) 2014-12-15 2019-02-20 Olympus Corporation Microscope system and setting value calculation method
JP6555811B2 (ja) 2015-07-16 2019-08-07 オリンパス株式会社 顕微鏡システム、特定方法、及び、プログラム
JP6552041B2 (ja) * 2015-07-16 2019-07-31 オリンパス株式会社 顕微鏡システム、屈折率算出方法、及び、プログラム
DE102016214695B3 (de) * 2016-08-08 2017-10-19 Carl Zeiss Smt Gmbh Optisches System und Verfahren zur Korrektur von Maskenfehlern mit diesem System
US10242672B2 (en) * 2016-10-28 2019-03-26 Microsoft Technology Licensing, Llc Intelligent assistance in presentations
WO2018089865A1 (en) * 2016-11-12 2018-05-17 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Microscopy devices, methods and systems
EP3412400A1 (en) * 2017-06-09 2018-12-12 Bystronic Laser AG Beam shaper and use thereof, device for laser beam treatment of a workpiece and use thereof, method for laser beam treatment of a workpiece
GB201804951D0 (en) * 2018-03-27 2018-05-09 Pxyl Ltd Improved non-linear optical microscope
US11237370B2 (en) * 2018-04-30 2022-02-01 University Of Central Florida Research Foundation, Inc. Multiple inclined beam line-scanning imaging apparatus, methods, and applications
CN109745010B (zh) * 2019-01-31 2024-05-14 北京超维景生物科技有限公司 定位式吸附显微镜探测装置及激光扫描显微镜

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3245939C2 (de) * 1982-12-11 1985-12-19 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Vorrichtung zur Erzeugung eines Bildes des Augenhintergrundes
US5399866A (en) * 1993-03-24 1995-03-21 General Electric Company Optical system for detection of signal in fluorescent immunoassay
US5777719A (en) * 1996-12-23 1998-07-07 University Of Rochester Method and apparatus for improving vision and the resolution of retinal images
DE19733193B4 (de) 1997-08-01 2005-09-08 Carl Zeiss Jena Gmbh Mikroskop mit adaptiver Optik
US6771417B1 (en) * 1997-08-01 2004-08-03 Carl Zeiss Jena Gmbh Applications of adaptive optics in microscopy
DE19942998B4 (de) * 1999-09-09 2012-02-09 Carl Zeiss Jena Gmbh Mikroskop zur Auf- und Durchlichtmikroskopie
JP4531895B2 (ja) * 1999-12-06 2010-08-25 オリンパス株式会社 レーザ集光光学系及びそれを用いたレーザ走査型顕微鏡
US6754000B2 (en) * 2000-10-04 2004-06-22 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Optical arrangement, and method for the deflection of light beams
EP1427328B1 (en) * 2001-08-30 2014-07-02 University Of Rochester Adaptive optics in a scanning lase ophtalmoscope

Also Published As

Publication number Publication date
US20040201885A1 (en) 2004-10-14
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