WO2016056651A1 - 結像光学系、照明装置および顕微鏡装置 - Google Patents

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Definitions

  • the present invention relates to an imaging optical system, an illumination device, and a microscope device.
  • Patent Document 1 and Patent Document 2 since the plane mirror is disposed on the intermediate image plane, scratches and foreign matter on the surface of the plane mirror overlap the acquired final image and the illumination light projected on the object. There is an inconvenience. Further, since the method of Patent Document 2 is an optical system in which an enlarged intermediate image is interposed between the optical path length adjusting means and the object, the optical magnification is such that the vertical magnification is equal to the square of the horizontal magnification. According to the basic principle, the enlarged intermediate image greatly moves in the direction of the optical axis even if the focal point is slightly moved in the direction along the optical axis.
  • the present invention has been made in view of the above-described circumstances, and prevents the intermediate image from being damaged by the optical element even if the intermediate image is formed at a position coinciding with the optical element. It is an object of the present invention to provide an imaging optical system, an illuminating device, and a microscope device that can acquire a clear and clear final image.
  • One aspect of the present invention includes a plurality of imaging lenses that form a final image and at least one intermediate image, and are disposed closer to the object side than any of the intermediate images formed by the imaging lens.
  • a first phase modulation element that imparts spatial disturbance to the wavefront of the light, and at least one intermediate image interposed between the first phase modulation element and the first phase modulation element
  • a second phase modulation element for canceling the spatial disturbance applied to the wavefront of the light from the object, and the imaging lens is configured to satisfy the Herschel condition It is an optical system.
  • clear image is a state in which no spatial disturbance is applied to the wavefront of light emitted from an object, or in a state where the applied disturbance is canceled and eliminated. Means a spatial frequency band determined by the wavelength of light and the numerical aperture of the imaging lens, a spatial frequency band equivalent thereto, or a desired spatial frequency band according to the purpose.
  • an “unclear image” is an image generated through an imaging lens in a state where spatial disturbance is added to the wavefront of light emitted from an object. It means that the surface of the optical element arranged in the vicinity of the image, a scratch, a foreign object, a defect, or the like existing on the inside has a characteristic that is not substantially formed as a final image.
  • the “blurred image” (or “blurred image”) formed in this way is different from simply an out-of-focus image, and is supposed to be originally imaged (ie, the spatial disturbance of the wavefront).
  • the image does not have a clear peak of image contrast over a wide range in the optical axis direction, including the image at the position where the image is formed when the image is not applied, and the spatial frequency band is the space of the “clear image”. It is always narrower than the frequency band.
  • the “clear image” and the “unclear image” (or “blurred image”) in this specification are based on the above concept, and the movement of the intermediate image on the Z-axis is the It means to move in the state of a blurred intermediate image.
  • the Z-axis scanning is not limited to the movement of light on the Z-axis, but may be accompanied by light movement on XY as will be described later.
  • the light incident from the object side of the imaging lens is focused by the imaging lens to form a final image.
  • a spatial disturbance is imparted to the wavefront of the light, and the formed intermediate image is blurred.
  • the light that forms the intermediate image passes through the second phase modulation element, thereby canceling the spatial disturbance of the wavefront imparted by the first phase modulation element.
  • a clear image can be obtained in the final image formed after the second phase modulation element.
  • the light passing through the imaging optical system by the scanning system moves the intermediate image on the Z axis while maintaining the spatial modulation state described above, and the intermediate image is obtained for any lens of the imaging optical system during the Z axis scanning. Passes with blurry.
  • the imaging lens is configured to satisfy the Herschel condition provides an important idea in the imaging optical system, illumination device, and microscope device of the present invention. That is, the spatial disturbance imparted by the first phase modulation element and the canceling action of the disturbance by the second phase modulation element on the wavefront of the light from the object can be obtained by using the Herschel's condition, and the aberration associated with the Z scan. Variations can be eliminated. That is, it is preferable to provide a wavefront adjusting means having a wavefront adjusting function that can maintain the Herschel condition even if the magnification or NA (numerical aperture) changes due to switching of the objective lens. As an operational effect of the wavefront adjusting means, it is possible to suppress aberration fluctuations associated with Z scanning.
  • the lens having a shape that reduces the beam diameter and the lens diameter in the Z-axis scanning optical system it is preferable to use a lens having a shape that reduces the beam diameter and the lens diameter in the Z-axis scanning optical system.
  • a wavefront adjusting means such that the beam in the Z-axis optical system is a beam having a wavefront adjusted shape, for example, a Laguerre Gaussian beam, so as to suppress the wavefront deformation caused by the reduction in the lens diameter.
  • the wavefront adjusting means the aberration can be substantially reduced by reducing the diameter of the lens, the number of lenses can be reduced, the weight can be reduced, and both the scanning width and scanning speed can be improved.
  • the first phase modulation element and the second phase modulation element may be arranged at optically conjugate positions. By doing so, the spatial disturbance imparted to the wavefront of light from the object by the first phase modulation element can be accurately canceled by the second phase modulation element to form a clear final image. it can.
  • the first phase modulation element and the second phase modulation element may be disposed in the vicinity of the pupil position of the imaging lens.
  • the first phase modulation element and the second phase modulation element can be reduced in size by being arranged in the vicinity of the pupil position where the luminous flux does not vary.
  • optical path length varying means capable of changing the optical path length between the two imaging lenses arranged at positions sandwiching any one of the intermediate images. By doing so, the imaging position of the final image can be easily changed in the optical axis direction by changing the optical path length between the two imaging lenses by the operation of the optical path length varying means.
  • the optical path length varying means is arranged perpendicular to the optical axis and reflects the light that folds back the light forming the intermediate image, and the actuator that moves the flat mirror in the optical axis direction;
  • a beam splitter that branches light reflected by the plane mirror in two directions may be provided.
  • the light from the object side collected by the imaging lens on the object side is reflected by the plane mirror and folded, and then branched by the beam splitter and incident on the imaging lens on the image side.
  • the actuator to move the plane mirror in the optical axis direction, the optical path length between the two imaging lenses can be easily changed, and the imaging position of the final image can be easily changed in the optical axis direction. Can be changed.
  • the final image position is changed in the optical axis direction by changing a spatial phase modulation that is disposed in the vicinity of the pupil position of any one of the imaging lenses and applied to the wavefront of light.
  • a variable spatial phase modulation element may be provided. By doing so, spatial phase modulation that changes the final image position in the optical axis direction by the variable spatial phase modulation element can be applied to the wavefront of the light, and by adjusting the phase modulation to be applied, The imaging position of the final image can be easily changed in the optical axis direction.
  • At least one function of the first phase modulation element or the second phase modulation element may be performed by the variable spatial phase modulation element.
  • the spatial phase modulation that changes the final image position in the optical axis direction and the phase modulation that blurs the intermediate image or the blur of the intermediate image are canceled by the variable spatial phase modulation element. Both phase modulation can be handled. Thereby, a simple imaging optical system can be configured with fewer components.
  • the first phase modulation element and the second phase modulation element may impart phase modulation that changes in a one-dimensional direction orthogonal to the optical axis to the wavefront of light.
  • phase modulation that changes in a one-dimensional direction orthogonal to the optical axis can be applied to the wavefront of the light by the first phase modulation element, and the intermediate image can be blurred.
  • the optical element is arranged so that it overlaps the intermediate image and is finally formed as a part of the final image. Occurrence can be prevented.
  • a phase modulation that cancels the phase modulation changed in the one-dimensional direction is applied to the wavefront of the light by the second phase modulation element, and a clear final image that is not blurred can be formed.
  • the first phase modulation element and the second phase modulation element may impart phase modulation that changes in a two-dimensional direction orthogonal to the optical axis to the wavefront of the light beam.
  • phase modulation that changes in a two-dimensional direction orthogonal to the optical axis to the wavefront of the light by the first phase modulation element.
  • a phase modulation that cancels the phase modulation changed in the two-dimensional direction is applied to the wavefront of the light by the second phase modulation element, so that a clearer final image can be formed.
  • first phase modulation element and the second phase modulation element may be transmission elements that give phase modulation to the wavefront when transmitting light.
  • first phase modulation element and the second phase modulation element may be reflective elements that give phase modulation to a wavefront when light is reflected.
  • the first phase modulation element and the second phase modulation element may have complementary shapes.
  • the first phase modulation element that imparts to the wavefront spatial disturbance that blurs the intermediate image, and the second that applies phase modulation that cancels the spatial disturbance applied to the wavefront can be configured easily.
  • the first phase modulation element and the second phase modulation element may impart phase modulation to the wavefront by a refractive index distribution of a transparent material.
  • an illumination comprising any one of the imaging optical systems described above and a light source that is disposed on the object side of the imaging optical system and generates illumination light that is incident on the imaging optical system.
  • the illumination light emitted from the light source arranged on the object side is incident on the imaging optical system, so that the illumination object arranged on the final image side can be irradiated with the illumination light.
  • the intermediate image formed by the imaging optical system is blurred by the first phase modulation element, some optical element is disposed at the intermediate image position, and the surface or the inside of the optical element is scratched. Even if foreign matter, defects, or the like are present, they can be prevented from overlapping with the intermediate image and finally formed as part of the final image.
  • Another aspect of the present invention includes any one of the imaging optical systems described above and a photodetector that is disposed on the final image side of the imaging optical system and detects light emitted from the observation target. It is good.
  • the image forming optical system detects a clear final image formed by preventing an image such as a scratch, a foreign object, or a defect from overlapping the intermediate image on the surface or inside of the optical element. Can be detected.
  • the photodetector may be an image sensor that is disposed at a final image position of the imaging optical system and captures the final image.
  • any one of the imaging optical systems described above a light source that is disposed on the object side of the imaging optical system and generates illumination light incident on the imaging optical system, and the coupling
  • the microscope apparatus includes a photodetector that is disposed on the final image side of the image optical system and detects light emitted from an observation object.
  • the light from the light source is collected by the imaging optical system and irradiated on the observation object, and the light generated on the observation object is detected by the photodetector arranged on the final image side.
  • a Nipkow disc type confocal optical system disposed between the light source and the photodetector and the imaging optical system may be provided. In this way, a clear image of the observation object can be acquired at high speed by causing the observation object to scan with multiple spot lights.
  • the light source may be a laser light source
  • the photodetector may include a confocal pinhole and a photoelectric conversion element.
  • a microscope apparatus including the illumination device and a photodetector that detects light emitted from an observation object illuminated by the illumination device, wherein the light source is a pulsed laser light source. It is. By doing in this way, it is possible to observe the observation object with a clear multiphoton excitation image without image of scratches, foreign matter, defects, etc. at the intermediate image position.
  • an optical scanner is provided, and the optical scanner is disposed at an optically conjugate position with respect to the first phase modulation element, the second phase modulation element, and the pupil of the imaging lens. It is good to be. With this configuration, it is possible to obtain a clear image of the scanning range of the illumination light on the observation object by scanning the illumination light on the observation object with the optical scanner.
  • the present invention even if the intermediate image is formed at a position that coincides with the optical element, it is possible to prevent a scratch, a foreign object, a defect, or the like of the optical element from overlapping the intermediate image and obtain a clear final image. There is an effect that can be done.
  • the intermediate image is moved by the inner focusing method, that is, the inner focus method, in a magnifying optical system such as a microscope, even if the moved intermediate image on the Z-axis overlaps with the lens located before and after the intermediate image, A noise image is not generated in which scratches on the surface of the lens, foreign matter, or defects in the lens are reflected in the final image.
  • wavefront adjusting means it is possible to reduce aberrations that can occur in the course of scanning in various scanning directions and improve scanning performance.
  • FIG. 3 is an enlarged view showing from the pupil position on the object side to the wavefront recovery element in FIG. 2.
  • FIG. 3 is an enlarged view showing from the pupil position on the object side to the wavefront recovery element in FIG. 2.
  • FIG. 2 It is a schematic diagram which shows the imaging optical system used for the conventional microscope apparatus. It is a figure which shows the state which has arrange
  • FIG. 10 It is a figure which shows an example of the imaging optical system which concerns on the 2nd modification of one Embodiment of this invention. It is a schematic diagram which shows the observation apparatus which concerns on the 1st reference embodiment of this invention. It is a schematic diagram which shows the observation apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention.
  • the observation apparatus of FIG. 10 it is a schematic diagram which shows the state which has arrange
  • the observation apparatus which concerns on the 2nd reference embodiment of this invention It is a schematic diagram which shows the observation apparatus which concerns on the 3
  • FIG. 20 is a schematic diagram illustrating a state in which the second lens having a short focal length and the collimator lens having a long focal length are arranged on the optical path in the observation apparatus of FIG. 19.
  • FIG. 20 is a schematic diagram illustrating a state in which the second lens having a short focal length and the collimator lens having a long focal length are arranged on the optical path in the observation apparatus of FIG. 19.
  • FIG. 20 is a schematic diagram illustrating a state where the second lens having a long focal length and the collimator lens having a short focal length are arranged on the optical path in the observation apparatus of FIG. 19. It is a schematic diagram which shows the illumination optical system of the observation apparatus which concerns on the 1st modification of 2nd Embodiment of this invention. It is a schematic diagram which shows the illumination optical system of the observation apparatus which concerns on the 2nd modification of 2nd Embodiment of this invention. It is a perspective view which shows the cylindrical lens as an example of the phase modulation element used for the imaging optical system and observation apparatus of this invention. It is a schematic diagram explaining the effect
  • FIG. 43 is a transverse cross-sectional view showing a passage position of a light beam by a scanning operation in the wavefront recovery element of FIG.
  • FIG. 43 is a transverse cross-sectional view showing a light beam passage position by a scanning operation at a pupil position of the objective lens of FIG. 42. It is an enlarged schematic diagram which shows a part of illuminating device which concerns on one Example of this invention.
  • the imaging optical system 1 includes a pair of imaging lenses 2 and 3 arranged at intervals, and an intermediate between these imaging lenses 2 and 3.
  • a field lens 4 arranged on the imaging plane, a wavefront confusion element (first phase modulation element) 5 arranged near the pupil position PPO of the imaging lens 2 on the object O side, and an imaging lens on the image I side
  • a wavefront recovery element (second phase modulation element) 6 disposed in the vicinity of the third pupil position PPI.
  • reference numeral 7 denotes an aperture stop.
  • the wavefront confusion element 5 imparts disturbance to the wavefront when transmitting the light emitted from the object O and collected by the imaging lens 2 on the object O side. By imparting disturbance to the wavefront by the wavefront confusion element 5, the intermediate image formed on the field lens 4 is blurred.
  • the wavefront recovery element 6 imparts phase modulation to the light so as to cancel the disturbance of the wavefront imparted by the wavefront confusion element 5 when transmitting the light collected by the field lens 4. .
  • the wavefront recovery element 6 has a phase characteristic opposite to that of the wavefront confusion element 5, and forms a clear final image I by canceling the disturbance of the wavefront.
  • the imaging optical system 1 has a telecentric arrangement with respect to the object O side and the image I side.
  • the wavefront confusion element 5 is disposed at a position aF away from the field lens 4 on the object O side
  • the wavefront recovery element 6 is disposed at a position bF away from the field lens 4 on the image I side.
  • symbol fO is the focal length of the imaging lens 2
  • symbol fI is the focal length of the imaging lens 3
  • symbols FO and FO ′ are the focal positions of the imaging lens 2
  • symbols FI and FI ′ are the imaging lens 3.
  • the focal positions of II, IIA, IIB and IIB are intermediate images.
  • the wavefront confusion element 5 is not necessarily arranged near the pupil position PPO of the imaging lens 2
  • the wavefront recovery element 6 is not necessarily arranged near the pupil position PPI of the imaging lens 3.
  • the wavefront confusion element 5 and the wavefront recovery element 6 need to be arranged in a positional relationship conjugated with each other as shown in Expression (1) with respect to the image formation by the field lens 4.
  • f F 1 / a F + 1 / b F (1)
  • f F is the focal length of the field lens 4.
  • FIG. 3 is a diagram showing in detail from the pupil position PPO on the object O side in FIG. 2 to the wavefront recovery element 6.
  • ⁇ L is a phase advance amount based on a light beam transmitted through a specific position (that is, a light beam height), which is given by the light passing through the optical element.
  • ⁇ L O (x O ) and ⁇ L I (x I ) satisfy the following expression (2).
  • ⁇ F is a lateral magnification in the conjugate relationship between the wavefront confusion element 5 and the wavefront recovery element 6 by the field lens 4 and is represented by the following expression (3).
  • ⁇ F ⁇ b F / a F (3)
  • one light beam R enters such an imaging optical system 1 and passes through the position x O on the wavefront confusion element 5, it undergoes phase modulation of ⁇ L O (x O ), and is refracted, diffracted and scattered.
  • a confusion ray Rc due to the above is generated.
  • the wavefront confusion element 5 and the wavefront recovery element 6 are in a conjugate positional relationship and have the characteristic of equation (2), the light beam that has undergone phase modulation via one position on the wavefront confusion element 5 is It always passes through a specific position of the wavefront recovery element 6 that has a one-to-one correspondence with the position and applies phase modulation that cancels the phase modulation received from the wavefront confusion element 5.
  • the optical system shown in FIGS. 2 and 3 acts on the light ray R as described above regardless of the incident position x O and the incident angle in the wavefront confusion element 5. That is, the intermediate image II can be made unclear and the final image I can be clearly formed with respect to all the light rays R.
  • FIG. 4 shows a conventional imaging optical system.
  • this imaging optical system the light condensed by the imaging lens 2 on the object O side forms a clear intermediate image II in the field lens 4 arranged on the intermediate imaging surface, and then the image I side. It is condensed by the imaging lens 3 to form a clear final image I.
  • the imaging optical system 1 according to the present embodiment, the intermediate image II blurred by the wavefront confusion element 5 is formed on the intermediate imaging surface arranged at a position coincident with the field lens 4.
  • the foreign object image superimposed on the intermediate image II is blurred by the same phase modulation when the wavefront recovery element 6 undergoes phase modulation to sharpen the blurred intermediate image II. Therefore, it is possible to prevent the image of the foreign matter on the intermediate image plane from overlapping the clear final image I.
  • a short imaging lens 2b is used, and as the imaging lens 3, an imaging lens 3a having a longer focal length and an imaging lens 3b having a shorter focal length than the imaging lens 3a are used.
  • the focal length set of long imaging lens 2a and the focal length is long imaging lens 3a is disposed in the optical path
  • the inclination theta I1 of marginal ray in inclination theta O1 and the image I of the marginal ray at the object O is one
  • the focal distance is short imaging lens 2b and the focal length is set shorter imaging lens 3b is disposed in the optical path
  • the parameters of the imaging lenses 2a and 2b and the imaging lenses 3a and 3b are determined so as to match.
  • the imaging optical system 1 includes a switching device (wavefront adjusting unit) 8 that switches between the imaging lens 2a and the imaging lens 2b and selectively arranges them on the optical path, and the imaging lens 3a. And a switching device (wavefront adjusting means) 9 that switches between the focusing lens 3b and the imaging lens 3b and selectively arranges them on the optical path.
  • the imaging optical system 1 configured in this way, as shown in FIG. 5, when the imaging lens 2a is arranged on the optical path by the switching device 8, the imaging lens 3a is placed on the optical path by the switching device 9.
  • the object point O 1C not only forms an image as the image point I 1C without any aberration, but also the object points O 1 ⁇ and O 1+ before and after the object point O 1C become the image points I 1 ⁇ and I 1+ without any aberration. Form an image.
  • the imaging lens 1 even if ⁇ O is changed by switching the imaging lenses 2a and 2b, ⁇ I is made to coincide with ⁇ O by switching the imaging lenses 3a and 3b.
  • Herschel's condition it is possible to suppress fluctuations in aberration caused by changes in magnification and NA (numerical aperture) due to switching of the imaging lens.
  • ⁇ O changes by switching the imaging lenses 2a and 2b has been described as an example.
  • the object space where the object O is arranged is filled with a liquid or the like, Even when the refractive index of the space changes, it is possible to satisfy the Herschel condition by making ⁇ I coincide with ⁇ O by switching the imaging lenses 3a and 3b. Therefore, it is possible to suppress aberration fluctuations accompanying changes in the refractive index of the object space.
  • This embodiment can be modified as follows.
  • the imaging lens 3 is moved in the direction of the optical axis arranged between the two convex lenses 83a and 83c and the two convex lenses 83a and 83c as shown in FIG. It may be configured by one possible concave lens 83b.
  • a conversion lens 87 a that converts the focal length to the image I side on the optical path adjacent to the imaging lens 3 and a focal length that is shortened are converted. It is good also as arranging the conversion lens 87b to be detachable.
  • a switching mechanism 89 that switches between the conversion lenses 87a and 87b that are alternatively arranged on the optical path of the illumination light may be employed. In this case, by switching the conversion lenses 87a and 87b arranged on the optical axis by the insertion / removal mechanism 89, it is possible to make ⁇ I coincide with ⁇ O and satisfy the Herschel condition.
  • the two imaging lenses 2 and 3 are described as being telecentric.
  • the present invention is not limited to this, and the same effect is obtained even in a non-telecentric system.
  • the phase advance amount function is a one-dimensional function, it can be similarly operated as a two-dimensional function instead.
  • the space between the imaging lens 2, the wavefront confusion element 5, and the field lens 4 and the space between the field lens 4, the wavefront recovery element 6, and the imaging lens 3 are not necessarily required. May be optically bonded.
  • each lens constituting the imaging optical system 1 that is, each of the imaging lenses 2 and 3 and the field lens 4 is configured to clearly share the functions of imaging and pupil relay.
  • US Pat. No. 5,637 a configuration in which one lens has both functions of image formation and pupil relay is also used. Even in such a case, if the above condition is satisfied, the wavefront confusion element 5 imparts a disturbance to the wavefront to blur the intermediate image II, and the wavefront recovery element 6 cancels the wavefront disturbance and obtains the final image I. It can be sharpened.
  • the observation apparatus 10 includes a light source 11 that generates non-coherent illumination light, an illumination optical system 12 that irradiates the observation object A with illumination light from the light source 11, and An imaging optical system 13 that condenses the light from the observation object A, and an imaging element (photodetector) 14 that captures the light collected by the imaging optical system 13 and obtains an image are provided. Yes.
  • the illumination optical system 12 includes condenser lenses 15a and 15b that collect the illumination light from the light source 11, and an objective lens 16 that irradiates the observation object A with the illumination light collected by the condenser lenses 15a and 15b. It has.
  • the illumination optical system 12 is so-called Koehler illumination, and the condenser lenses 15a and 15b are arranged so that the light emitting surface of the light source 11 and the pupil surface of the objective lens 16 are conjugate with each other.
  • the imaging optical system 13 includes the objective lens (imaging lens) 16 that collects the observation light (for example, reflected light) emitted from the observation object A arranged on the object side, and the objective lens 16 collects the observation light.
  • a wavefront confusion element 17 that gives disturbance to the wavefront of the illuminated observation light
  • a first beam splitter 18 that branches the light given disturbance to the wavefront from the illumination optical path from the light source 11, and an interval in the optical axis direction.
  • Optical path length varying means 22 and second bee A wavefront recovery element 23 disposed between the splitter 20 and the second intermediate imaging lens 21 and the light transmitted through the wavefront recovery element 23 and the second beam splitter 20 are condensed to form a final image.
  • the imaging lens 24 is provided.
  • the imaging device 14 is a two-dimensional image sensor such as a CCD or a CMOS, for example, and includes an imaging surface 14a arranged at the imaging position of the final image by the imaging lens 24, and images incident light.
  • the wavefront confusion element 17 is disposed in the vicinity of the pupil position of the objective lens 16.
  • the wavefront confusion element 17 is made of an optically transparent material that can transmit light. When the light is transmitted, the wavefront confusion element 17 imparts phase modulation to the light wavefront according to the uneven shape of the surface. In the present embodiment, the necessary wavefront disturbance is imparted by transmitting the observation light from the observation object A once.
  • the wavefront recovery element 23 is disposed in the vicinity of the pupil position of the second intermediate imaging lens 21.
  • the wavefront recovery element 23 is also made of an optically transparent material that can transmit light, and when the light is transmitted, phase modulation according to the uneven shape of the surface is applied to the wavefront of the light.
  • the wavefront recovery element 23 transmits the observation light deflected by the beam splitter 20 and the observation light reflected so as to be folded back by the optical path length varying unit 22 twice, so that the wavefront confusion element 17 is reciprocated twice. Is applied to the wavefront of the light so as to cancel the disturbance of the wavefront imparted by.
  • the optical path length varying means 22 as an optical axis (Z-axis) scanning system includes a plane mirror 22a disposed orthogonal to the optical axis, and an actuator 22b that displaces the plane mirror 22a in the optical axis direction.
  • the optical path length between the second intermediate imaging lens 21 and the plane mirror 22a is changed.
  • the position of the object A conjugate with the imaging surface 14a, that is, the in-focus position in front of the objective lens 16 can be changed in the optical axis direction.
  • the imaging lens 24 is disposed on the pupil conjugate plane.
  • the illumination optical system 12 irradiates the observation object A with illumination light from the light source 11.
  • the observation light emitted from the observation object A is collected by the objective lens 16, passes through the wavefront confusion element 17 once, passes through the first beam splitter 18 and the intermediate imaging optical system 19, and passes through the second beam.
  • the splitter 20 it is deflected by 90 ° and transmitted through the wavefront recovery element 23, reflected so as to be folded back by the plane mirror 22 a of the optical path length varying means 22, transmitted again through the wavefront recovery element 23, and transmitted through the beam splitter 20.
  • the final image formed by the image lens 24 is taken by the image sensor 14.
  • the optical path length between the second intermediate imaging lens 21 and the plane mirror 22a can be changed by operating the actuator 22b of the optical path length varying means 22 and moving the plane mirror 22a in the optical axis direction. Accordingly, the focal position in front of the objective lens 16 can be moved in the optical axis direction for scanning. A plurality of images focused on different positions in the depth direction of the observation object A can be acquired by photographing the observation light at different focal positions. Furthermore, after combining these by addition averaging, an image with a deep depth of field can be acquired by performing high-frequency emphasis processing.
  • an intermediate image is formed by the second intermediate imaging lens 21 in the vicinity of the plane mirror 22 a of the optical path length varying means 22, and this intermediate image is given by passing through the wavefront confusion element 17.
  • the wavefront disturbance is smeared by the wavefront disturbance left partially canceled by passing through the wavefront recovery element 23 once.
  • the light after forming the blurred intermediate image is condensed by the second intermediate imaging lens 21 and then passed again through the wavefront recovery element 23, so that the wavefront disturbance is completely eliminated. Be countered.
  • the observation apparatus 10 even if foreign matter such as scratches and dust is present on the surface of the plane mirror 22a, the foreign matter image is prevented from being captured on the final image.
  • a clear image of the observation object A can be obtained.
  • the intermediate image formed by the first intermediate imaging lens pair 19 also varies greatly in the optical axis direction.
  • the intermediate image is blurred. Therefore, it is possible to prevent the image of the foreign object from being captured on the final image.
  • the above-described scanning system is mounted, no noise image is generated even if light moves on the Z axis on any optical element arranged in the imaging optical system.
  • observation apparatus microwave apparatus 120 according to the first embodiment of the present invention
  • portions having the same configuration as those of the observation apparatus 10 according to the first reference embodiment described above are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.
  • the imaging optical system 13 is replaced with the objective lens 16, and the objective lens (imaging lens) 121 a having a long focal length and a low magnification, and the objective lens A revolver that has a high-magnification objective lens (imaging lens) 121b that has a shorter focal length than 121a and objective lenses 121a and 121b, and that can be alternatively inserted into the optical path of the illumination light. (Wavefront adjusting means) 123.
  • the observation device 120 replaces the second intermediate imaging lens 21 with a relay lens 125a having a long focal length and a small NA, and a focal length shorter and a larger NA than the relay lens 125a.
  • a relay lens 125b and a switching mechanism (wavefront adjusting means) 127 that switches between relay lenses 125a and 125b that are alternatively arranged on the optical path of the illumination light are provided.
  • These relay lenses 125 a and 125 b relay light deflected by the second beam splitter 20 to the plane mirror 22 a of the optical path length varying means 22.
  • the observation device 120 also includes a relay lens 129 that relays the light that has been folded by the optical path length varying unit 22 and transmitted through the second beam splitter 20, and the wavefront recovery element 23 includes the relay lens 129, the imaging lens 24, and the like. It is arranged between.
  • the marginal ray inclination ⁇ Oa of the objective lens 121a and the relay are arranged.
  • the set of the objective lens 121b having a short focal length and a high magnification and the relay lens 125b having a short focal length and a large NA are arranged on the optical path, the inclination ⁇ Ra of the marginal ray of the lens 125a coincides.
  • the parameters of the objective lenses 121a and 121b and the relay lenses 125a and 125b are determined so that the inclination ⁇ Ob of the marginal ray coincides with the inclination ⁇ Rb of the marginal ray of the relay lens 125b.
  • the relay lens 125a is arranged on the optical path by the switching mechanism 127.
  • the optical path length changing unit 22 changes the optical path length between the relay lenses 125a and 125b and the plane mirror 22a, and the objective lenses 121a and 121b in the observation object A are thus changed.
  • the in-focus position in front of the lens is moved (Z-axis scanning)
  • the aberration variation can be suppressed by switching the relay lenses 125a and 125b.
  • the observation device 30 condenses the laser light source 31 and the laser light from the laser light source 31 on the observation object A, while the light from the observation object A is condensed.
  • An imaging optical system 32 that condenses, an image sensor (photodetector) 33 that captures the light collected by the imaging optical system 32, and between the light source 31, the image sensor 33, and the imaging optical system 32.
  • the Niipou disc type confocal optical system 34 is provided.
  • the laser light source 31 and the imaging optical system 32 constitute an illumination device.
  • the Nipkow disc type confocal optical system 34 includes two discs 34a and 34b arranged at a parallel interval, and an actuator 34c that simultaneously rotates the discs 34a and 34b.
  • a number of microlenses (not shown) are arranged on the disk 34a on the laser light source 31 side, and a number of pinholes (not shown) are provided on the object side disk 34b at positions corresponding to the respective microlenses.
  • a dichroic mirror 34d that divides the light that has passed through the pinhole is fixed in the space between the two disks 34a and 34b.
  • the light branched by the dichroic mirror 34d is condensed by the condenser lens 35. Then, the final image is formed on the imaging surface 33a of the imaging device 33, and the image is acquired.
  • the first beam splitter 18 and the second beam splitter 20 in the first reference embodiment are made common to form a single beam splitter 36, and the pinhole of the Niipou disc type confocal optical system 34 is used.
  • the optical path for irradiating the observation object A with the light that has passed through and the optical path that occurs in the observation object A and enters the pinhole of the Niipou disc type confocal optical system 34 are completely shared.
  • the observation device 30 configured as described above will be described below.
  • the light that has entered the imaging optical system 32 from the pinhole of the Niipou disc type confocal optical system 34 passes through the beam splitter 36 and the phase modulation element 23, and then the second The light is condensed by the intermediate imaging lens 21 and reflected so as to be folded back by the plane mirror 22a of the optical path length varying means 22.
  • the second intermediate imaging lens 21 After passing through the second intermediate imaging lens 21, the light passes through the phase modulation element 23 again, is deflected by 90 ° by the beam splitter 36, and passes through the first intermediate imaging lens pair 19 and the phase modulation element 17. Then, the light is condensed on the observation object A by the objective lens 16.
  • the phase modulation element 23 through which the laser light is initially transmitted twice functions as a wavefront confusion element that imparts a disturbance to the wavefront of the laser light, and the phase modulation element 17 that is transmitted once thereafter has the phase It functions as a wavefront recovery element that applies phase modulation that cancels the disturbance of the wavefront applied by the modulation element 23.
  • the image of the light source formed in a number of point light sources by the Niipou disc type confocal optical system 34 is formed as an intermediate image on the plane mirror 22a by the second intermediate imaging lens 21, but the second intermediate connection is formed. Since the intermediate image formed by the image lens 21 is blurred by passing through the phase modulation element 23 once, the inconvenience that the image of the foreign matter existing on the intermediate imaging surface overlaps the final image is prevented. it can.
  • the disturbance imparted to the wavefront by passing through the phase modulation element 23 twice is canceled by passing through the phase modulation element 17 once, so that a clear image of many point light sources is displayed on the observation object A.
  • An image can be formed.
  • light for example, fluorescence
  • the objective lens 16 is collected by the objective lens 16 and transmitted through the phase modulation element 17 and the first intermediate imaging lens pair 19. Thereafter, it is deflected by 90 ° by the beam splitter 36, passes through the phase modulation element 23, is collected by the second intermediate imaging lens 21, and is reflected so as to be folded by the plane mirror 22 a. Thereafter, the light is condensed again by the second intermediate imaging lens 21, transmitted through the phase modulation element 23 and the beam splitter 36, condensed by the imaging lens 24, and pinhole position of the Niipou disc type confocal optical system 34. Is imaged.
  • the light that has passed through the pinhole is branched from the optical path from the laser light source by the dichroic mirror, condensed by the condenser lens, and formed as a final image on the imaging surface of the imaging device.
  • the phase modulation element 17 through which the fluorescence generated in a large number of dots in the observation object passes functions as a wavefront confusion element as in the first embodiment, and the phase modulation element 23 functions as a wavefront recovery element.
  • the fluorescent light whose disturbance is given to the wavefront by passing through the phase modulation element 17 is in a state where the disturbance is partially canceled by passing through the phase modulation element 23 once, but is connected to the plane mirror 22a.
  • the intermediate image to be imaged is blurred.
  • the fluorescence whose wavefront disturbance has been completely cancelled forms an image on the pinhole of the Niipou disc type confocal optical system 34 and passes through the pinhole.
  • the light is branched by the dichroic mirror 34d, condensed by the condenser lens 35, and a clear final image is formed on the imaging surface 33a of the imaging device 33.
  • the intermediate image is unclear both as an illumination device for irradiating the observation target A with laser light and as an observation device for photographing fluorescence generated in the observation target A.
  • a clear final image can be obtained while preventing the image of the foreign matter on the intermediate image plane from overlapping the final image.
  • the above-described scanning system when the above-described scanning system is mounted, no noise image is generated even if light moves on the Z axis on any optical element arranged in the imaging optical system. In the present embodiment, when the above-described scanning system is mounted, no noise image is generated even if light moves on the Z axis on any optical element arranged in the imaging optical system.
  • the observation apparatus of the present invention may be applied to the observation apparatus 40 including the Niipou disc type confocal optical system 34 in the second reference embodiment.
  • the imaging objective lenses 121a and 121b and the revolver 123 are adopted as in the first embodiment of the present invention shown in FIG.
  • relay lenses 125 a and 125 b and a switching mechanism 127 may be employed.
  • the relay lens 129 and the wavefront recovery element 23 may be disposed between the second beam splitter 20 and the imaging lens 24.
  • an observation apparatus 40 according to a third reference embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
  • portions having the same configuration as those of the observation apparatus 30 according to the second reference embodiment described above are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.
  • the observation apparatus 40 is a laser scanning confocal observation apparatus as shown in FIG.
  • the observation device 40 includes a laser light source 41, an imaging optical system 42 that condenses the laser light from the laser light source 41 on the observation object A, and condenses the light from the observation object A, and the connection.
  • a confocal pinhole 43 that allows the fluorescence condensed by the image optical system 42 to pass therethrough and a photodetector 44 that detects the fluorescence that has passed through the confocal pinhole 43 are provided.
  • the imaging optical system 42 is disposed in the vicinity of a position conjugate with the pupil of the objective lens 16, a beam expander 45 that expands the beam diameter of the laser light, a dichroic mirror 46 that deflects the laser light and transmits fluorescence.
  • the galvanometer mirror 47 and the third intermediate imaging lens pair 48 are provided as different configurations from the observation device 30 according to the second reference embodiment.
  • a phase modulation element 23 that imparts disturbance to the wavefront of the laser light is disposed in the vicinity of the galvanometer mirror 47.
  • reference numeral 49 denotes a mirror.
  • the laser light emitted from the laser light source 41 is enlarged by the beam expander 45, deflected by the dichroic mirror 46, and scanned two-dimensionally by the galvano mirror 47. After that, the light passes through the phase modulation element 23 and the third intermediate imaging lens pair 48 and enters the beam splitter 36. After entering the beam splitter 36, it is the same as the observation apparatus 30 according to the second reference embodiment.
  • the laser light forms an intermediate image on the plane mirror 22a of the optical path length varying means 22 after the wave front is disturbed by the phase modulation element 23, the intermediate image is blurred, and the intermediate image formation surface It can prevent that the image of the foreign material which exists in is overlapped.
  • the wavefront disturbance is canceled out by the phase modulation element 17 disposed at the pupil position of the objective lens 16, a sharpened final image can be formed on the observation object A. Further, the imaging depth of the final image can be arbitrarily adjusted by the optical path length varying means 22.
  • the fluorescence generated at the imaging position of the final image of the laser light on the observation object A is collected by the objective lens 16 and passes through the phase modulation element 17, and then follows an optical path opposite to the laser light.
  • the light is deflected by the beam splitter 36, passes through the third intermediate imaging lens pair 48, the phase modulation element 23, the galvano mirror 47, and the dichroic mirror 46, and is then condensed by the imaging lens 24 onto the confocal pinhole 43. Only the fluorescence that has passed through the focal pinhole 43 is detected by the photodetector 44.
  • the fluorescence condensed by the objective lens 16 forms an intermediate image after the wave front is disturbed by the phase modulation element 17, the intermediate image is blurred and exists on the intermediate image plane. It can prevent that the image of the foreign material to overlap. Since the wavefront disturbance is canceled by transmitting through the phase modulation element 23, a sharpened image can be formed on the confocal pinhole 43, and the final image of the laser beam is observed on the observation object A. The fluorescence generated at the image position can be detected efficiently. As a result, there is an advantage that a bright high-resolution confocal image can be acquired. In the present embodiment, when the above-described scanning system is mounted, no noise image is generated even if light moves on the Z axis on any optical element arranged in the imaging optical system.
  • the laser scanning confocal observation device is illustrated, but instead, it may be applied to a laser scanning multiphoton excitation observation device as shown in FIG.
  • an ultrashort pulse laser light source such as a titanium sapphire laser may be employed as the laser light source 41
  • the dichroic mirror 46 may be eliminated, and the dichroic mirror 46 may be employed in place of the mirror 49.
  • the intermediate image can be made unclear and the final image can be made clear by the function of the illumination device that irradiates the observation object A with the ultrashort pulse laser beam.
  • the fluorescence generated in the observation object A is collected by the objective lens 16, and after being transmitted through the phase modulation element 17 and the dichroic mirror 46, is collected by the condenser lens 51 without forming an intermediate image.
  • the light detector 44 detects the light as it is.
  • the focal point position in front of the objective lens is changed in the optical axis direction by the optical path length varying means 22 that changes the optical path length by moving the plane mirror that turns the optical path.
  • the optical path length varying means as shown in FIG. 15, one of the lenses 61a and 61b constituting the intermediate imaging optical system 61 is moved in the optical axis direction by an actuator 62.
  • an observation device 60 that employs a device that changes the optical path length may be configured.
  • reference numeral 63 denotes another intermediate imaging optical system.
  • another intermediate imaging optical system 80 is disposed between two galvanometer mirrors 47 constituting a two-dimensional optical scanner, and the two galvanometer mirrors 47 are phase modulation elements 17. , 23 and the aperture stop 81 arranged in the pupil of the objective lens 16 may be arranged in an optically conjugate positional relationship with high accuracy.
  • a spatial light modulation element (SLM) 64 such as a reflective LCOS may be employed as the optical path length varying means.
  • SLM spatial light modulation element
  • phase modulation applied to the wavefront can be changed at high speed by controlling the LCOS liquid crystal, and the focal position in front of the objective lens 16 can be changed at high speed in the optical axis direction.
  • reference numeral 65 denotes a mirror.
  • a spatial light modulation element 66 such as the transmission type LCOS may be adopted as shown in FIG. Compared with the reflective LCOS, the mirror 65 is not required, so that the configuration can be simplified.
  • Means for moving the in-focus position in the observation object A in the optical axis direction are those shown in the above embodiments (optical path length varying means 22, intermediate imaging optical system 61 and actuator 62, or reflective spatial light).
  • modulation element 64 or the transmissive spatial light modulation element 66 various power variable optical elements known as active optical elements can be used.
  • a variable shape mirror (DFM) is assumed to have a mechanical movable part. : Deformable Mirror), there is a variable shape lens using liquid or gel.
  • a liquid crystal lens As a similar element having no mechanical moving part, a liquid crystal lens, a potassium tantalate niobate (KTN: KTa 1-X Nb X O 3 ) crystal lens, which controls the refractive index of a medium by an electric field, and an acoustooptic There are lenses that apply a cylindrical lens effect in a deflector (AOD / Acousto-Optical Defect), and the like.
  • observation apparatus 130 microwave apparatus 130 according to the second embodiment of the present invention
  • parts having the same configuration as those of the observation apparatus 40 according to the third reference embodiment and the modification thereof described above are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.
  • the observation device 130 according to the present embodiment is different in configuration from the observation device 40 according to the third reference embodiment in the objective lens 131 and the illumination optical system 132. That is, as shown in the figure, the observation apparatus 130 according to the present embodiment includes an objective lens (imaging lens) 131a having a low magnification, a small NA, a large pupil diameter, and the objective lens 131a, instead of the objective lens 16. And an objective lens (imaging lens) 131b having a high magnification, a large NA, and a small pupil diameter. These objective lenses 131a and 131b are held by a revolver 123, and are arranged alternatively on the optical path of illumination light by the revolver 123.
  • an objective lens (imaging lens) 131a having a low magnification, a small NA, a large pupil diameter
  • an objective lens (imaging lens) 131b having a high magnification, a large NA, and a small pupil diameter.
  • the observation device 130 includes a second lens 133a having a shorter focal length and a second lens 133b having a longer focal length than the second lens 133a as the second lens of the beam expander 45. And a switching mechanism (wavefront adjusting means) 135 that switches between the second lenses 133a and 133b that are alternatively arranged on the optical path of the illumination light.
  • the observation device 130 has a collimator lens 137a having a longer focal length and a focal length longer than that of the collimator lens 137a, instead of the collimator lens 61b constituting the intermediate imaging optical system 61 shown in FIG. Is provided with a short collimator lens 137b and a switching mechanism (wavefront adjusting means) 139 for switching between collimator lenses 137a and 137b that are alternatively arranged on the optical path of the illumination light.
  • the objective lens 131a when a set of an objective lens 131a having a low magnification, a small NA and a large pupil diameter, a second lens 133a having a short focal length, and a collimator lens 137a having a long focal length are arranged on the optical path, the objective lens 131a. with the maximum inclination angle theta Za coincides in the light flux of the illumination light focused by the slope theta Oa and the lens 61a of the marginal ray of the light flux diameter of the illumination light enters the objective lens 131a is the pupil diameter of the objective lens 131a The parameters of the objective lens 131a, the second lens 133a, and the collimator lens 137a are determined so as to match.
  • a marginal ray of the objective lens 131b is obtained.
  • the maximum and the inclination angle theta Zb match in the light flux of the illumination light focused by the slope theta Ob and the lens 61a, so that the beam diameter of the illumination light enters the objective lens 131b matches the pupil diameter of the objective lens 131b
  • parameters of the objective lens 131b, the second lens 133b, and the collimator lens 137b are determined.
  • the observation device 130 configured in this way, as shown in FIG. 20, when the objective lens 131a is arranged on the optical path by the revolver 123, the second lens 133a is arranged on the optical path by the switching mechanism 135. in the beam of light flux of the illumination light emitted from the expander 45 and thin, to reduce the maximum inclination angle theta Za in the light flux of the illumination light is collected by the lens 61a, the theta Za marginal ray of the objective lens 131a inclination theta Herschel's condition can be satisfied by matching Oa .
  • the collimator lens 137a is arranged on the optical path by the switching mechanism 139, and the illumination light condensed by the lens 61a is collimated by the collimator lens 137a, thereby increasing the diameter of the emitted light beam and the objective lens 131a. Illumination light having a light beam diameter that matches the pupil diameter can be made incident on the objective lens 131a.
  • the illumination emitted from the beam expander 45 is arranged by arranging the second lens 133 b on the optical path by the switching mechanism 135. by thickening the light flux of the light, it increases the maximum inclination angle theta Z in the light flux of the gathered illumination light by the lens 61a, theta to match the marginal ray inclination theta Ob objective lens 131b that Herschel condition is satisfied of Zb Can do.
  • the collimator lens 137b is arranged on the optical path by the switching mechanism 139, and the illumination light condensed by the lens 61a is collimated by the collimator lens 137b, thereby reducing the diameter of the emitted light beam and the objective lens 131b.
  • Illumination light having a light beam diameter that matches the pupil diameter can be made incident on the objective lens 131b.
  • the observation apparatus 130 when the objective lenses 131a and 131b are switched, the Herschel condition is satisfied and the aberration variation is suppressed, and the pupil diameter of the objective lenses 131a and 131b is reduced. Illumination light can be incident without excess or deficiency, and the optical performance can be sufficiently exhibited.
  • the illumination optical system 132 is composed of a pair of a magnifying optical system 141 that expands a light beam composed of a pair of a concave lens 141a and a convex lens 141b, and a convex lens 143a and a concave lens 143b.
  • a reduction optical system 143 that reduces the luminous flux, and a switching mechanism that switches between a state in which the enlargement optical system 141 is disposed on the optical path, a state in which the reduction optical system 143 is disposed, and a state in which these are not disposed in the optical path.
  • the beam diameter of the illumination light may be adjustable between the beam expander 45 and the lens 61a.
  • the illumination optical system 132 includes an enlarging optical system 147 that expands a light beam consisting of a set of a concave lens 147a and a convex lens 147b, and a reduction optical system that reduces a light beam consisting of a set of a convex lens 149a and a concave lens 149b. 149, and a switching mechanism 151 for switching between a state in which the magnifying optical system 147 is disposed on the optical path, a state in which the reduction optical system 149 is disposed, and a state in which these are not disposed in the optical path.
  • the beam diameter of the illumination light collimated by 61b may be adjustable.
  • the illumination optical system 132 includes a zoom optical system 153 and a concave lens 153b in which a convex lens 153a, a concave lens 153b, and a convex lens 153c are arranged in this order from the light source 41 side.
  • a moving mechanism (wavefront adjusting means) 155 that moves in the optical axis direction may be provided so that the beam diameter of the illumination light can be adjusted between the beam expander 45 and the lens 61a.
  • the illumination optical system 132 moves the zoom optical system 157 and the concave lens 157b arranged in the order of the convex lens 157a, the concave lens 157b, and the convex lens 157c from the intermediate imaging optical system 61 side in the optical axis direction.
  • a moving mechanism (wavefront adjusting means) 159 may be provided, and the light beam diameter of the illumination light collimated by the collimator lens 61b may be adjusted so that the light beam of the illumination light matches the pupil diameter of the objective lenses 133a and 133b.
  • each of the embodiments of the microscope of the present invention has some means for moving the in-focus position on the observation object A in the optical axis direction. Further, these in-focus position optical axis direction moving means are compared with the means in the conventional microscope for the same purpose (which moves either the objective lens or the observation object in the optical axis direction).
  • the operating speed can be greatly increased because of the use of a physical phenomenon with a small mass or a fast response speed. This has the advantage that a faster phenomenon can be detected in the observation object (for example, a living biological tissue specimen).
  • the spatial light modulators 64 and 66 such as transmissive or reflective LCOS are employed, the spatial light modulators 64 and 66 can have the function of the phase modulator 23.
  • the phase modulation element 23 as a wavefront confusion element can be abbreviate
  • the phase modulation element 23 is omitted in the combination of the spatial light modulation element and the laser scanning type multiphoton excitation observation apparatus.
  • the spatial light modulation element and the laser scanning type common apparatus are omitted.
  • the phase modulation element 23 can be omitted. That is, in FIGS. 17 and 18, a mirror 49 is employed instead of the dichroic prism 36, a dichroic mirror 46 is employed between the beam expander 45 and the spatial light modulators 64 and 66, and a branched optical path is formed.
  • the spatial light modulators 64 and 66 can have the function of the phase modulation element 23 after employing the imaging lens 24, the confocal pinhole 43, and the photodetector 44.
  • the spatial light modulators 64 and 66 impart a disturbance to the wavefront as a wavefront confusion element for the laser light from the laser light source 41, while phase is applied to the fluorescence from the observation object A. It acts as a wavefront recovery element that cancels the disturbance of the wavefront imparted by the modulation element 17.
  • phase modulation element for example, cylindrical lenses 17 and 23 as shown in FIG. 24 may be adopted.
  • the intermediate image since the intermediate image is linearly extended by the cylindrical lens 17 due to astigmatism, the intermediate image can be blurred by this action, and the cylindrical lens 23 having a shape complementary thereto.
  • the final image can be sharpened.
  • either a convex lens or a concave lens may be used as a wavefront confusion element or a wavefront recovery element.
  • FIG. 25 shows an example in which cylindrical lenses 5 and 6 are used as the phase modulation elements in FIGS.
  • a cylindrical lens having a power ⁇ O x in the x direction is used as the phase modulation element (wavefront confusion element) 5 on the object O side.
  • a cylindrical lens having power ⁇ I x in the x direction is used as the phase modulation element (wavefront recovery element) 6 on the image I side.
  • C position in the cylindrical lens 5 of the axial ray R X in the xz plane (ray height) and x O.
  • D position in the cylindrical lens 6 in the axial ray R X in the xz plane (ray height) to x I.
  • symbols II 0X and II 0Y are intermediate images.
  • the optical path length difference L (x) ⁇ L (0) has the same absolute value as the phase advance amount of the emitted light at the height x with respect to the emitted light at the height 0, but the opposite sign. Therefore, the phase advance amount is expressed by the following equation (6) in which the sign of equation (5) is inverted.
  • L (0) -L (x) (x 2/2) (n-1) (1 / r 1 -1 / r 2) ⁇ (6)
  • the optical power ⁇ of the thin lens is expressed by the following equation (7).
  • axial rays R X in the xz plane is a phase lead amount [Delta] L Oc for rays R A along the axial principal ray i.e. the optical axis for receiving the cylindrical lens 5, on the basis of the equation (8) Is done.
  • L Oc (x O ) is a function of the optical path length from the incident side tangent plane to the exit side tangent plane along the light beam having the height x O in the cylindrical lens 5.
  • the values of ⁇ Ox and ⁇ Ix are opposite in sign, and the ratio of their absolute values needs to be proportional to the square of the lateral magnification of the field lens 4.
  • the description has been made based on the on-axis light beam.
  • the cylindrical lenses 5 and 6 similarly perform the function of wavefront confusion and wavefront recovery for the off-axis light beam.
  • phase modulation elements 5, 6, 17, and 23 shown as phase modulation elements 5 and 6 in the figure
  • a one-dimensional binary diffraction grating as shown in FIG. Adopting a one-dimensional sine wave diffraction grating as shown in FIG. 28, a free-form surface lens as shown in FIG. 29, a cone lens as shown in FIG. 30, and a concentric binary diffraction grating as shown in FIG.
  • the concentric diffraction grating is not limited to the binary type, and any form such as a blazed type or a sine wave type can be adopted.
  • the diffraction gratings 5 and 6 are used as the wavefront modulation element.
  • the intermediate image II in this case, one point image is separated into a plurality of point images by diffraction. By this action, it is possible to prevent the intermediate image II from being blurred, and the foreign object image on the intermediate imaging surface from appearing overlapping the final image.
  • FIG. 32 shows an example of a preferable path of the axial principal ray, that is, the light beam RA along the optical axis when the diffraction gratings 5 and 6 are used as the phase modulation element, and a preferable path of the axial light beam R X.
  • a preferable path of the axial principal ray that is, the light beam RA along the optical axis when the diffraction gratings 5 and 6 are used as the phase modulation element
  • R X An example of each is shown in FIG. In these drawings, the light rays R A and R X are separated into a plurality of diffracted lights through the diffraction grating 5, but are converted into a single original light beam through the diffraction grating 6.
  • the expression (2) indicates that “the sum of the phase modulations received by one axial ray RX by the diffraction gratings 5 and 6 is the axial principal ray RA is the diffraction gratings 5 and 6. In other words, it is always equal to the sum of the phase modulations received at.
  • FIG. 34 is a detailed view of the diffraction grating 5, and FIG.
  • the conditions for the diffraction gratings 5 and 6 to satisfy Expression (2) are as follows. That is, the modulation period p I in the diffraction grating 6 is equal to the modulation period p O by the diffraction grating 5 projected by the field lens 4, and the modulation phase by the diffraction grating 6 is due to the diffraction grating 5 projected by the field lens 4. The phase of the modulation is inverted, and the magnitude of the phase modulation by the diffraction grating 6 and the magnitude of the phase modulation by the diffraction grating 6 must be equal in absolute value.
  • the diffraction grating 5 is The center of one of the mountain regions may be arranged so as to coincide with the optical axis, and the diffraction grating 6 may be arranged so that one of the centers of its valley regions may coincide with the optical axis.
  • FIG. 34 and FIG. 35 are not an example.
  • the diffraction grating 5 functions as a wavefront scattering and the diffraction grating 6 functions as a wavefront recovery for off-axis light beams as long as the above condition is satisfied.
  • the sectional shape of the diffraction gratings 5 and 6 has been described as a trapezoid here, it is needless to say that other shapes can perform the same function.
  • phase modulation elements 5 and 6 a spherical aberration element as shown in FIG. 36, an irregularly shaped element as shown in FIG. 37, a transmissive spatial light modulation element 64 as shown in FIG. A reflection type wavefront modulation element by a combination of the above, or a gradient index element as shown in FIG. 39 may be adopted.
  • phase modulation elements 5 and 6 a fly-eye lens or a micro lens array in which a large number of minute lenses are arranged, or a micro prism array in which a large number of minute prisms are arranged may be employed.
  • the phase confusion element 5 is disposed inside the objective lens (imaging lens) 70
  • the phase recovery element 6 may be disposed in the vicinity of the eyepiece lens 73 disposed on the opposite side of the objective lens 70 with the relay optical system 72 including the plurality of field lenses 4 and the condenser lens 71 interposed therebetween.
  • a tube lens provided in the microscope main body 75 is provided with a wavefront confusion element 5 in an endoscope-type thin objective lens 74 with an inner focus function that drives a lens 61a by an actuator 62.
  • the wavefront recovery element 6 may be disposed near the pupil position of the (imaging lens) 76.
  • the actuator itself may be a known lens driving means (for example, a piezoelectric element).
  • spatial modulation of the intermediate image can be executed from the same viewpoint as the above-described embodiment. It is important that the arrangement is as follows.
  • the embodiment described above discusses the case where the smearing of the intermediate image by spatial modulation is applied to the imaging optical system of the observation apparatus from the viewpoint of the movement of the intermediate image on the Z axis.
  • the viewpoint of moving the intermediate image on the XY axis (or XY plane) which is another viewpoint
  • the case of applying to an observation apparatus (microscope apparatus) will be discussed below. Therefore, according to the present invention, not only the optical scanning on the Z axis but also the optical scanning on the XY plane, the aberration that may occur in the optical scanning process is effectively reduced by providing the above-described wavefront adjusting means.
  • an observation device having an imaging optical system, an illumination device, and an imaging optical system.
  • the present invention can also be applied to three-dimensional observation that combines the movement of both intermediate images on the Z axis and the XY axis.
  • the following aspects describe in detail the movement of the intermediate image on the XY axes.
  • the moving means for executing only the movement of the intermediate image on the XY axes is referred to as a scanner in order to distinguish from the moving means for executing only the movement of the intermediate image on the Z axis.
  • the intermediate on the Z-axis It includes solving problems in terms of image movement.
  • One aspect of the present invention includes a plurality of imaging lenses that form a final image and at least one intermediate image, and are disposed closer to the object side than any of the intermediate images formed by the imaging lens.
  • a first phase modulation element that imparts spatial disturbance to the wavefront of the light, and at least one intermediate image interposed between the first phase modulation element and the first phase modulation element
  • An imaging optical system comprising: a second phase modulation element that cancels a spatial disturbance imparted to the wavefront of light from the object, and the imaging optical system disposed on the object side of the imaging optical system;
  • a light detector for detecting, and the first phase modulation element and the second phase modulation element are disposed at a position optically conjugate with the first scanner
  • the final image is formed by being condensed by the imaging lens.
  • a spatial disturbance is given to the wavefront of the illumination light by passing through the first phase modulation element arranged on the object side of one of the intermediate images, and the formed intermediate image is blurred.
  • the illumination light that forms the intermediate image passes through the second phase modulation element, thereby canceling the spatial disturbance of the wavefront imparted by the first phase modulation element.
  • a clear image can be obtained in the final image formed after the second phase modulation element.
  • the illumination light from the light source is scanned two-dimensionally by the first scanner and the second scanner, so that the final image formed on the observation object can be scanned two-dimensionally.
  • the first scanner when the first scanner is operated, the luminous flux of the illumination light moves in a one-dimensional linear direction, but the first scanner and the second phase modulation element are arranged at optically conjugate positions. For this reason, the position of the light beam passing through the second phase modulation element does not fluctuate.
  • the second scanner which is spaced from the first scanner in the optical axis direction, is not disposed in an optically conjugate positional relationship with the second phase modulation element, and thus activates the second scanner. Then, the luminous flux of the illumination light moves so as to change the passing position of the second phase modulation element. Since the direction in which the phase distribution characteristic of the second phase modulation element changes coincides with the scanning direction of the illumination light by the first scanner, the phase distribution in the direction orthogonal to this, that is, the scanning direction of the illumination by the second scanner The characteristic does not change, and the phase modulation applied to the illumination light does not change even if the passage position of the illumination light beam changes.
  • the second phase is not affected by the scanning state of the illumination light.
  • a constant state can be maintained without changing the phase modulation by the modulation element, and the spatial disturbance of the wavefront provided by the first phase modulation element can be completely canceled.
  • the first phase modulation element and the second phase modulation element may be lenticular elements.
  • the first phase modulation element and the second phase modulation element may be a prism array.
  • the first phase modulation element and the second phase modulation element may be diffraction gratings.
  • the first phase modulation element and the second phase modulation element may be cylindrical lenses.
  • an imaging optical system including a plurality of imaging lenses that form a final image and at least one intermediate image, and an imaging optical system disposed on the object side of the imaging optical system.
  • a light source that generates illumination light to be incident on the system, a first scanner and a second scanner that are arranged at intervals in the optical axis direction and that scan the illumination light from the light source, and the final of the imaging optical system
  • a method for sharpening a final image in an observation apparatus comprising a photodetector for detecting light emitted from an observation object arranged at an image position, wherein any one of the intermediate images formed by the imaging lens
  • a first phase modulation element that imparts spatial disturbance to the wavefront of the illumination light from the light source at a position optically conjugate with the first scanner closer to the object side, and the first phase At least one intermediate image between the modulation element
  • the first phase modulation element has a one-dimensional phase distribution characteristic that changes in a direction that coincides with a scanning direction of illumination light from the first scanner at
  • the observation apparatus 101 is, for example, a multiphoton excitation microscope.
  • the observation apparatus 101 includes an illumination apparatus 102 that irradiates an observation object A with an ultrashort pulse laser beam (hereinafter simply referred to as laser light (illumination light)), and a laser produced by the illumination apparatus 102.
  • a detector optical system 104 that guides the fluorescence generated in the observation object A due to light irradiation to the photodetector 105 and a photodetector 105 that detects the fluorescence guided by the detector optical system 104 are provided.
  • the illumination device 102 includes a light source 106 that generates laser light and an imaging optical system 103 that irradiates the observation object A with the laser light from the light source 106.
  • the imaging optical system 103 condenses the beam expander 107 that expands the beam diameter of the laser light from the light source 106 and the laser light that has passed through the beam expander 107 to form an intermediate image, and its imaging position. Are moved in a direction along the optical axis S, and a collimating lens 109 for converting the laser light that has passed through the Z scanning unit 108 and formed an intermediate image into substantially parallel light.
  • the imaging optical system 103 is formed by a wavefront confusion element (first phase modulation element) 110 disposed at a position where laser light that has been substantially collimated by the collimator lens 109 passes, and a Z scanning unit 108.
  • the laser beam that has passed through the element (second phase modulation element) 114 and the wavefront recovery element 114 is condensed and irradiated onto the observation object A, while the observation object A
  • the Z scanning unit 108 includes a condensing lens 108a that condenses the laser light whose beam diameter has been expanded by the beam expander 107, and an actuator 108b that moves the condensing lens 108a in a direction along the optical axis S. ing.
  • the focusing position 108a can be moved in the direction along the optical axis S by moving the condenser lens 108a in the direction along the optical axis S by the actuator 108b.
  • the wavefront confusion element 110 is a lenticular element made of an optically transparent material that can transmit light.
  • the wavefront confusion element 110 imparts phase modulation that changes in a one-dimensional direction perpendicular to the optical axis S to the wavefront of the laser light according to the shape of the surface 116 when the laser light is transmitted.
  • the necessary wavefront disturbance is imparted by transmitting the laser light from the light source 106 once.
  • the relay lens pair 111 condenses the laser light, which has become substantially parallel light by the collimator lens 109, by one lens 111a to form an intermediate image II, and then condenses the diffusing laser light again by the other lens 111b. So that it returns to almost parallel light.
  • the two relay lens pairs 111 and 112 are arranged at an interval so as to sandwich the XY scanning unit 113 in the direction along the optical axis S.
  • the galvanometer mirrors 113a and 113b are provided so as to be swingable about an axis perpendicular to the optical axis S and in a twisted relationship with each other. These galvanometer mirrors 113a and 113b are oscillated to change the tilt angle of the laser beam in a two-dimensional direction orthogonal to the optical axis S, and the position of the final image IF by the objective lens 115 intersects the optical axis S. It is possible to scan in a two-dimensional direction.
  • the wavefront recovery element 114 is a lenticular element made of an optically transparent material capable of transmitting light and having a phase distribution characteristic opposite to that of the wavefront confusion element 110.
  • the wavefront recovery element 114 imparts phase modulation that changes only in a one-dimensional direction orthogonal to the optical axis S according to the shape of the surface 117 to the wavefront of the light when the laser light is transmitted, and is imparted by the wavefront confusion element 110. It is designed to cancel the wave front disturbance.
  • the two galvanometer mirrors 113a and 113b are arranged with a gap in the direction along the optical axis S, and their intermediate position 113c is optically substantially the same as the pupil position POB of the objective lens 115. It arrange
  • the galvanometer mirror 113a on the light source 106 side is disposed at a position optically conjugate with the wavefront confusion element 110 and the wavefront recovery element 114.
  • the central ray Ra of the light beam P of the laser beam is reflected by the wavefront recovery element.
  • 114 intersects the optical axis S on the surface 117 of the surface. That is, the laser beam P can pass through the same region without changing the passage position in the wavefront recovery element 114.
  • this galvanometer mirror 113a is arrange
  • the light beam P of the laser beam passes through the same region of the wavefront recovery element 114 regardless of the oscillation of the galvanometer mirror 113a, so that the phase modulation applied to the laser beam changes even if the galvanometer mirror 113a oscillates. You do n’t have to.
  • the galvanometer mirror 113b on the observation object A side is disposed at a position optically unconjugated to the wavefront recovery element 114.
  • the galvano mirror 113b on the observation object A side is swung so that the laser beam is tilted, as shown in FIG. 44, the central ray Rb of the light beam P of the laser beam is restored to the wavefront.
  • the surface of the element 114 is separated from the optical axis S.
  • this galvanometer mirror 113b makes the rocking
  • the laser beam is caused by the oscillation of the galvo mirrors 113a and 113b.
  • 46 moves in the two-dimensional directions of arrows X and Y as shown in FIG. 46 at the pupil position POB of the objective lens 115.
  • the movement range is limited to the movement of a minute range that can pass without being kicked by the opening 118a of the aperture stop 118 disposed at the pupil position POB of the objective lens 115.
  • the detector optical system 104 includes a dichroic mirror 119 that branches the fluorescence collected by the objective lens 115 from the optical path of the laser beam, and two condenser lenses 104a and 104b that collect the fluorescence branched by the dichroic mirror 119. And.
  • the photodetector 105 is, for example, a photomultiplier tube, and detects the intensity of incident fluorescence.
  • the observation object A is irradiated with the laser light emitted from the light source 106 by the imaging optical system 103.
  • the beam diameter of the laser beam is expanded by the beam expander 107 and passed through the Z scanning unit 108, the collimating lens 109, and the wavefront confusion element 110.
  • Laser light is condensed by the condensing lens 108a of the Z scanning unit 108, and the condensing position can be adjusted in the direction along the optical axis S by the operation of the actuator 108b. Further, the laser light is allowed to pass through the wavefront confusion element 110, so that spatial disturbance is imparted to the wavefront.
  • the laser light is passed through the two relay lens pairs 111 and 112 and the XY scanning unit 113, whereby the inclination angle of the light beam P is changed while forming the intermediate image II, and passes through the dichroic mirror 119. . Then, the laser light that has passed through the dichroic mirror 119 passes through the wavefront recovery element 114, cancels the spatial disturbance imparted by the wavefront confusion element 110, and is condensed by the objective lens 115, and the final image IF is observed. An image is formed on the object A.
  • Focus position of the imaging optical system 103 is the position of the final image I F imaged laser beam, the operation of the actuator 108b by moving the condenser lens 108a, is moved in the direction along the optical axis S It is done. Thereby, the observation depth of the observation object A can be adjusted. Further, the focus position of the laser beam on the observation object A can be two-dimensionally scanned in the direction orthogonal to the optical axis S by swinging the galvanometer mirrors 113a and 113b.
  • the laser light to which the wavefront confusion element 110 imparts a spatial disturbance of the wavefront is used for the lenticular element that forms the wavefront confusion element 110, that is, the cylindrical lens array.
  • astigmatism is given after one light beam P is divided into a large number of small light beams.
  • a point image that is originally one is blurred and formed as a collection of a large number of circular images, elliptical images, or linear images arranged in a straight line.
  • the laser light passes through the wavefront recovery device 14, since the spatial disturbance of the wavefront applied by the wavefront confusion element 110 is canceled, the imaging of the final image I F made in the wavefront recovery device 114 after In, a clear image can be obtained.
  • the intermediate image II is located in the vicinity of an optical element in which scratches, foreign matter, or defects are present on the surface or inside because the intermediate image II is blurred and blurred, the scratches, foreign matter, or defects etc. is superimposed over the intermediate image II, the final image I F which is formed on the observation object a can be prevented from becoming unclear. As a result, a very small spot as the final image I F can be imaged.
  • the light beam P of the laser light moves in a one-dimensional linear direction, but is in a positional relationship optically conjugate with the galvano mirror 113a.
  • the light flux P in the wavefront recovery element 114 passes through the same region in the direction of the arrow X. Therefore, it is not necessary to change the phase modulation applied to the laser beam by the wavefront recovery element 114 regardless of the oscillation of the galvanometer mirror 113a.
  • the galvanometer mirror 113b on the observation object A side is swung, the tilt of the light beam P of the laser light is changed by the swing of the galvanometer mirror 113b, and the passing position of the light beam P in the wavefront recovery element 114 is indicated by an arrow.
  • Move in the Y direction Since the direction of the arrow Y coincides with the direction in which the phase distribution characteristics of the wavefront recovery element 114 do not change, it is given even if the wavefront recovery element 114 passes through a different region in the direction of the arrow Y due to the movement of the passage position of the light beam P.
  • the phase modulation does not change. Therefore, even if the galvano mirror 113b is swung, it is not necessary to change the phase modulation applied to the laser light by the wavefront recovery element 114.
  • the wavefront recovery element 114 always maintains a constant phase modulation without being affected by the scanning state of the laser beam. And the spatial disturbance of the wavefront imparted by the wavefront confusion element 110 can be completely cancelled.
  • fluorescence can be generated by increasing the photon density in an extremely small region.
  • the generated fluorescence is collected by the objective lens 115, branched by the dichroic mirror 119, and can be detected by guiding the fluorescence to the photodetector 105 by the detector optical system 104.
  • the fluorescence intensity detected by the photodetector 105 corresponds to the scanning position of the three-dimensional laser beam by the position in the directions of arrows X and Y by the galvanometer mirrors 113a and 113b and the position in the direction along the optical axis S by the actuator 108b.
  • the fluorescence image of the observation object A is acquired by adding and storing. That is, according to the observation apparatus 101 according to the present embodiment, since fluorescence is generated in an extremely small spot area at each scanning position, there is an advantage that a fluorescence image with high spatial resolution can be acquired.
  • the observation apparatus 101 since the observation apparatus 101 according to the present embodiment does not need to arrange a relay lens pair between the two galvanometer mirrors 113a and 113b, the number of parts of the apparatus can be reduced. Further, by adopting a configuration in which the galvanometer mirrors 113a and 113b are arranged close to each other without arranging the relay lens pair, the apparatus can be reduced in size.
  • lenticular elements are illustrated as the wavefront confusion element 110 and the wavefront recovery element 114, but instead, elements having a one-dimensional phase distribution characteristic may be employed.
  • elements having a one-dimensional phase distribution characteristic may be employed.
  • a prism array, a diffraction grating, or a cylindrical lens may be employed.
  • the galvanometer mirrors 113a and 113b are exemplified as the first scanner and the second scanner which are moving means of the intermediate image on the XY axes.
  • a type of scanner may be used instead.
  • a polygon mirror, AOD (acousto-optic element), KTN (potassium tantalate niobate) crystal, or the like may be employed.
  • observation apparatus 101 which concerns on this embodiment illustrated the multiphoton excitation microscope, it may replace with this and may apply to a confocal microscope. According to this, by forming a very small spot on the observation object A as the sharpened final image IF, it is possible to increase the photon density in a very small region and to generate fluorescence, and the confocal pinhole A bright confocal image can be obtained by increasing the fluorescence passing through the lens.
  • the present invention has been described as the observation apparatus 101.
  • the present invention can also be understood as a final image sharpening method. That is, the final image sharpening method according to an embodiment of the present invention is a conventional laser scanning multiphoton excitation microscope in which the wavefront confusion element 110 and the wavefront recovery element 114 are removed from the observation apparatus 101 shown in FIG. This is a method for sharpening the final image IF.
  • the wavefront confusion element 110 is disposed at a position optically conjugate with the galvano mirror 113a between the galvano mirror 113a on the light source 106 side and the light source 106
  • the wavefront recovery element 114 is disposed at a position optically conjugate with the galvano mirror 113a on the rear light source 106 side.
  • the wavefront recovery element 114 is arranged so that the phase distribution characteristic thereof coincides with the scanning direction of the laser light (direction of arrow X) by the galvano mirror 113a.
  • the wavefront recovery element 114 can cancel the spatial turbulence of the wavefront imparted by the wavefront confusion element 110 regardless of the swing angle of the galvanometer mirrors 113a and 113b. Therefore, it is possible to image the objects blocking the intermediate image II is blurred intermediate image II imaging position is prevented from overlapping the intermediate image II, sharpens the final image I F. That is, simply adding on a wavefront recovery element 114 wavefront confusion element 110 to an existing general scanning multiphoton excitation microscope, the final image I F can be sharpening, to obtain a high spatial resolution image There is an advantage that you can.
  • the observation apparatus 101 includes an illumination device 102, a detector optical system 104, and a photodetector 105.
  • the distance a from the pupil position POB of the objective lens 115 to the wavefront recovery element 114 satisfies the condition of Expression (16).
  • a b (fTL / fPL) 2 (16)
  • b is the distance from the position 113c substantially conjugate to the pupil position POB of the objective lens 115 located between the two galvanometer mirrors 113a and 113b to the galvanometer mirror 113a on the light source 106 side
  • fPL is the relay lens pair 112.
  • the focal length fTL of the lens 112a on the light source 106 side indicates the focal length of the lens 112b on the observation object A side of the relay lens pair 112.
  • the distance c from the screw rear end of the objective lens 115 to the wavefront recovery element 114 satisfies the condition of Expression (17).
  • c a ⁇ (d + e) (17)
  • d is the screw protrusion amount of the objective lens 115
  • e is the distance from the body surface of the objective lens 115 to the pupil position POB of the objective lens 115.
  • the wavefront recovery element 114 is disposed at a position optically conjugate with the galvano mirror 113 a on the light source 106 side behind the objective lens 115 without contacting the outer frame of the objective lens 115.
  • the present invention makes microscope observation more useful when combined with the above aspect relating to the movement of the intermediate image on the Z axis. Therefore, in the present invention, the intermediate image on the XY axis exemplified in FIGS. 42 to 47 is opposed to the viewpoint of blurring of the intermediate image moving on the Z axis as referred to in FIGS. From the perspective of blurring, the following additional items are also included.
  • a plurality of imaging lenses that form a final image and at least one intermediate image, and light from the object that is disposed closer to the object side than any of the intermediate images formed by the imaging lens
  • a first phase modulation element that imparts spatial disturbance to the wavefront of the first phase modulation element, and at least one intermediate image sandwiched between the first phase modulation element and the first phase modulation element
  • An imaging optical system comprising a second phase modulation element that cancels a spatial disturbance applied to the wavefront of light from the object, and is disposed on the object side of the imaging optical system and is incident on the imaging optical system
  • a light source that generates illumination light to be emitted, a first scanner and a second scanner that are arranged at intervals in the optical axis direction and that scan the illumination light from the light source, and a final image position of the imaging optical system Detects light emitted from a placed observation object
  • the first phase modulation element and the second phase modulation element are arranged at a position optically conjugate with the first scanner arranged on the
  • (Additional Item 2) The observation apparatus according to Additional Item 1, wherein the first phase modulation element and the second phase modulation element are lenticular elements.
  • (Additional Item 3) The observation apparatus according to Additional Item 1, wherein the first phase modulation element and the second phase modulation element are prism arrays.
  • (Additional Item 4) The observation apparatus according to Additional Item 1, wherein the first phase modulation element and the second phase modulation element are diffraction gratings.
  • (Additional Item 5) The observation apparatus according to Additional Item 1, wherein the first phase modulation element and the second phase modulation element are cylindrical lenses.
  • An imaging optical system that is applied together with the operation of the Z-axis scanning microscope apparatus and includes a plurality of imaging lenses that form a final image and at least one intermediate image, and an object side of the imaging optical system
  • a light source that generates illumination light to be incident on the imaging optical system, a first scanner and a second scanner that are arranged at intervals in the optical axis direction and that scan the illumination light from the light source;
  • a final image sharpening method in an observation apparatus comprising a photodetector for detecting light emitted from an observation object disposed at a final image position of the imaging optical system, the method comprising:
  • a first phase modulation element for providing a spatial disturbance to the wavefront of the illumination light from the light source at a position optically conjugate with the first scanner on the object side of any one of the intermediate images Between the first phase modulation element and the first phase modulation element.
  • It has a one-dimensional phase distribution characteristic that changes in a direction that coincides with the scanning direction of illumination light from the first scanner at a position optically conjugate with the first scanner with at least one intermediate image interposed therebetween. And a final image sharpening method in which a second phase modulation element is disposed to cancel a spatial disturbance applied to a wavefront of light from the object by the first phase modulation element.
  • the said aspect can also be summarized as follows. That is, in the above supplementary item, even if the intermediate image is formed at a position that coincides with the optical element, the intermediate image is prevented from overlapping with scratches, foreign matters, defects, or the like of the optical element to obtain a clear final image. This is a technical issue. Further, as a means for solving the technical problem according to the above supplementary items, generally as shown in FIG. 42, the imaging lenses 111, 112, and 115 for forming the final image IF and the intermediate image II, and any one of the intermediate images II are used.
  • the first phase modulation element 110 disposed closer to the object side and imparts spatial disturbance to the light wavefront, and the spatial phase disposed on the final image IF side from the one or more intermediate images II and applied to the wavefront of light.
  • the imaging optical system 3 including the second phase modulation element 114 that cancels the disturbance, the light source 106 disposed on the object side, and the first and second scanners 113a disposed at an interval in the optical axis S direction. , 113b and an optical detector 105 for detecting light, and a position optically conjugate with the first scanner 113a in which the two phase modulation elements 110 and 114 are arranged on the light source 106 side. Placed in Providing an observation device 101 having a one-dimensional phase distribution characteristic that varies in a direction corresponding to the scanning direction of the bright light.

Abstract

 中間像が光学素子に一致する位置で結像されても、中間像に光学素子の傷、異物および欠陥等が重なることを防止することを目的として、本発明の顕微鏡装置は、光源と、照明光を観察対象物に照射する照明光学系と、観察対象物からの光を集光する結像光学系と、集光された光を撮影する撮像素子(光検出器)とを備え、結像光学系が、最終像(I)および1つ以上の中間像(II)を形成する複数の結像レンズ(2),(3)と、いずれかの中間像(II)よりも物体(O)側に配置され、物体(O)からの光の波面に空間的な乱れを付与する第1の位相変調素子(5)と、第1の位相変調素子(5)との間に1つ以上の中間像(II)を挟む位置に配され、第1の位相変調素子(5)により物体(O)からの光の波面に付与された空間的な乱れを打ち消す第2の位相変調素子(6)とを備える結像光学系(1)を備え、結像レンズがハーシェルの条件を満たすように構成されている。

Description

結像光学系、照明装置および顕微鏡装置
 本発明は、結像光学系、照明装置および顕微鏡装置に関するものである。
 従来、中間像位置において光路長を調節することにより、対象物における合焦点位置を光軸に沿う方向(Z軸上)に移動させる方法が知られている(例えば、特許文献1および特許文献2参照。)。
特許第4011704号公報 特表2010-513968号公報
 しかしながら、特許文献1および特許文献2の方法では、中間像面に平面鏡を配置するので、平面鏡の表面の傷や異物が、取得された最終像や対象物に投影された照明光に重なってしまうという不都合がある。また、特許文献2の方法は、光路長の調節手段と対象物との間に拡大された中間像が介在する光学系であるため、縦倍率は横倍率の2乗に等しくなるという光学上の基本原理により、合焦点位置の光軸に沿う方向への僅かな移動によっても、拡大された中間像はその光軸方向に大きく移動する。その結果、移動した中間像がその前後に位置していたレンズに重なると、上記と同様に、レンズの表面の傷や異物あるいはレンズ内の欠陥等が最終的な像や投影された照明光に重なってしまうという不都合がある。そしてこの種の不都合は、上記先行技術を拡大光学系である顕微鏡に適用した場合に特に顕著である。このことから、従来技術による光軸(Z軸)方向走査機能を備えた顕微鏡装置においては、Z軸方向に異なる合焦位置で観察等を行おうすると、鮮明な最終像を得ることが困難であり、長年、光軸方向走査型の顕微鏡装置における宿命として解消できない課題であった。
 本発明は上述した事情に鑑みてなされたものであって、中間像が光学素子に一致する位置で結像されても、中間像に光学素子の傷、異物および欠陥等が重なることを防止して鮮明な最終像を取得することができる結像光学系、照明装置および顕微鏡装置を提供することを目的としている。
 上記目的を達成するために、本発明は以下の手段を提供する。
 本発明の一態様は、最終像および少なくとも1つの中間像を形成する複数の結像レンズと、該結像レンズにより形成されるいずれかの前記中間像よりも物体側に配置され、前記物体からの光の波面に空間的な乱れを付与する第1の位相変調素子と、該第1の位相変調素子との間に少なくとも1つの中間像を挟む位置に配置され、前記第1の位相変調素子により前記物体からの光の波面に付与された空間的な乱れを打ち消す第2の位相変調素子とを備え、前記結像レンズがハーシェルの条件を満たすように構成されたことを特徴とする結像光学系である。
 本明細書においては、像のあり方として、「鮮明な像」および「不鮮明な像」(または「ぼやけた像」)という2つの概念を用いる。
 まず「鮮明な像」とは、物体から発した光の波面に、空間的な乱れが付与されていない状態で、あるいは一旦付与された乱れが打ち消され解消された状態で、結像レンズを介して生成された像であり、光の波長と結像レンズの開口数とで決まる空間周波数帯域、あるいはそれに準ずる空間周波数帯域、あるいは目的に応じた所望の空間周波数帯域を有するものを意味する。また、「不鮮明な像」(または「ぼやけた像」)とは、物体から発した光の波面に、空間的な乱れが付与された状態で、結像レンズを介して生成された像であり、その像の近傍に配置された光学素子の表面や内部に存在する傷や異物や欠陥等が、実質的に最終像として形成されない様な特性を有するものを意味する。
 このようにして形成された「不鮮明な像」(または「ぼやけた像」)は、単に焦点の外れた像とは異なり、本来結像されるはずだった位置(すなわち仮に波面の空間的な乱れが付与されなかった場合に結像される位置)における像も含めて、光軸方向の広い範囲にわたって、像コントラストの明確なピークを持たず、その空間周波数帯域は、「鮮明な像」の空間周波数帯域に比べて、常に狭いものとなる。
 以下、本明細書における「鮮明な像」および「不鮮明な像」(または「ぼやけた像」)は、上記概念に基づくものであり、Z軸上での中間像の移動とは、本発明ではぼやけた中間像の状態のまま移動することを意味する。また、Z軸走査とは、Z軸上での光の移動のみに限らず、後述するようにXY上の光移動を伴なっていてもよい。
 本態様によれば、結像レンズの物体側から入射された光は結像レンズによって集光されることにより最終像を結像する。この場合において、中間像の一つよりも物体側に配置された第1の位相変調素子を通過することにより、光の波面に空間的な乱れが付与され、結像される中間像はぼやける。また、中間像を結像した光は第2の位相変調素子を通過することにより、第1の位相変調素子によって付与された波面の空間的な乱れが打ち消される。これにより、第2の位相変調素子以降においてなされる最終像の結像においては、鮮明な像を得ることができる。特に、走査系により、結像光学系を通過する光は上記の空間変調状態を保ったままZ軸上を中間像が移動し、Z軸走査中に結像光学系のどのレンズについても中間像がぼやけたまま通過する。
 すなわち、中間像をぼやけさせることにより、中間像位置に何らかの光学素子が配置されて、該光学素子の表面や内部に傷、異物あるいは欠陥等が存在していてもそれらが中間像に重なって、最終的に最終像の一部として形成されてしまう不都合の発生を防止することができる。また、顕微鏡光学系に適用される場合には、フォーカシング等によりZ軸上での移動した中間像がその前後に位置していたレンズに重なったとしても、レンズの表面の傷や異物あるいはレンズ内の欠陥等が最終的な像に映りこむようなノイズ画像を生じない。
 ここで、前記結像レンズがハーシェルの条件を満たすように構成されていることが、本発明の結像光学系、照明装置および顕微鏡装置において重要な発想を提供する。すなわち、物体からの光の波面に対する、第1の位相変調素子による空間的な乱れの付与と第2の位相変調素子による乱れの取り消し作用は、ハーシェルの条件を用いることで、Zスキャンに伴う収差変動を無くすことが可能となる。すなわち、対物レンズの切り換え等により倍率やNA(開口数)が変化しても、ハーシェルの条件を保てるような波面調整機能を有する波面調整手段を設けるのが好ましい。かかる波面調整手段による作用効果として、Z走査に伴う収差変動を抑えることができる。
 一方で、小型レンズを駆動することによりZ軸走査を実行するには、Z軸走査光学系におけるビーム径とレンズ径を小さくするような形状のレンズを用いるのが好ましい。さらにZ軸光学系におけるビームを、レンズ径の小型化により生じる波面の変形を抑制するように波面調整された形状のビーム、たとえばラゲールガウシアンビームにするような波面調整手段を設けるのが好ましい。かかる波面調整手段による作用効果として、レンズの小径化により、収差が実質的に低減し、レンズ構成枚数が減り軽量化できると共に、走査幅、走査速度共に向上する。
 上記態様においては、前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子が光学的に共役な位置に配置されていることとしてもよい。
 このようにすることで、第1の位相変調素子により物体からの光の波面に付与された空間的な乱れを第2の位相変調素子により精度よく打ち消して、鮮明な最終像を形成することができる。
 上記態様においては、前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子が、前記結像レンズの瞳位置近傍に配置されていてもよい。
 このようにすることで、光束の変動しない瞳位置近傍に配置して第1の位相変調素子および第2の位相変調素子を小型化することができる。
 上記態様においては、いずれかの前記中間像を挟む位置に配置される2つの前記結像レンズ間の光路長を変更可能な光路長可変手段を備えることとしてもよい。
 このようにすることで、光路長可変手段の作動により、2つの結像レンズ間の光路長を変更することにより、最終像の結像位置を光軸方向に容易に変更することができる。
 また、上記態様においては、前記光路長可変手段が、光軸に直交して配置され前記中間像を形成する光を折り返すように反射する平面鏡と、該平面鏡を光軸方向に移動させるアクチュエータと、前記平面鏡により反射された光を2方向に分岐するビームスプリッタとを備えていてもよい。
 このようにすることで、物体側の結像レンズにより集光された物体側からの光が平面鏡によって反射されて折り返された後、ビームスプリッタによって分岐されて像側の結像レンズに入射される。この場合において、アクチュエータを作動させて平面鏡を光軸方向に移動させることにより、2つの結像レンズ間の光路長を容易に変更することができ、最終像の結像位置を光軸方向に容易に変更することができる。
 また、上記態様においては、いずれかの前記結像レンズの瞳位置近傍に配置され、光の波面に付与する空間的な位相変調を変更することにより、前記最終像位置を光軸方向に変化させる可変空間位相変調素子を備えていてもよい。
 このようにすることで、可変空間位相変調素子によって最終像位置を光軸方向に変化させるような空間的な位相変調を光の波面に付与することができ、付与する位相変調を調節することにより最終像の結像位置を光軸方向に容易に変更することができる。
 また、上記態様においては、前記第1の位相変調素子または前記第2の位相変調素子の少なくとも一方の機能が、前記可変空間位相変調素子によって担われていてもよい。
 このようにすることで、可変空間位相変調素子に最終像位置を光軸方向に変化させるような空間的な位相変調と、中間像をぼやけさせるような位相変調あるいは中間像のぼやけを打ち消すような位相変調との両方を受け持たせることができる。これにより、構成部品を少なくして簡易な結像光学系を構成することができる。
 また、上記態様においては、前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子が、光軸に直交する1次元方向に変化する位相変調を光の波面に付与してもよい。
 このようにすることで、第1の位相変調素子により光軸に直交する1次元方向に変化する位相変調を光の波面に付与して、中間像をぼやけさせることができ、中間像位置に何らかの光学素子が配置されて、該光学素子の表面や内部に傷、異物あるいは欠陥等が存在していてもそれらが中間像に重なって、最終的に最終像の一部として形成されてしまう不都合の発生を防止することができる。また、1次元方向に変化した位相変調を打ち消すような位相変調を第2の位相変調素子により光の波面に付与して、ぼやけない鮮明な最終像を結像させることができる。
 また、上記態様においては、前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子が、光軸に直交する2次元方向に変化する位相変調を光束の波面に付与してもよい。
 このようにすることで、第1の位相変調素子により光軸に直交する2次元方向に変化する位相変調を光の波面に付与して、中間像をより確実にぼやけさせることができる。また、2次元方向に変化した位相変調を打ち消すような位相変調を第2の位相変調素子により光の波面に付与して、より鮮明な最終像を結像させることができる。
 また、上記態様においては、前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子が、光を透過させる際に波面に位相変調を付与する透過型素子であってもよい。
 また、上記態様においては、前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子が、光を反射させる際に波面に位相変調を付与する反射型素子であってもよい。
 また、上記態様においては、前記第1の位相変調素子と前記第2の位相変調素子とが、相補的な形状を有していてもよい。
 このようにすることで、中間像をぼやけさせる空間的な乱れを波面に付与する第1の位相変調素子と、波面に付与された空間的な乱れを打ち消すような位相変調を付与する第2の位相変調素子とを簡易に構成することができる。
 また、上記態様においては、前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子が、透明材料の屈折率分布によって波面に位相変調を付与してもよい。
 このようにすることで、第1の位相変調素子を光が透過する際に屈折率分布に従う波面の乱れを生じさせ、第2の位相変調素子を光が透過する際に屈折率分布によって波面の乱れを打ち消すような位相変調を光の波面に付与することができる。
 また、本発明の他の態様は、上記いずれかの結像光学系と、該結像光学系の物体側に配置され、該結像光学系に入射させる照明光を発生する光源とを備える照明装置である。
 本態様によれば、物体側に配置された光源から発せられた照明光が結像光学系に入射されることにより、最終像側に配置された照明対象物に照明光を照射することができる。この場合に、第1の位相変調素子によって、結像光学系により形成される中間像がぼやけさせられるので、中間像位置に何らかの光学素子が配置されて、該光学素子の表面や内部に傷、異物あるいは欠陥等が存在していてもそれらが中間像に重なって、最終的に最終像の一部として形成されてしまう不都合の発生を防止することができる。
 また、本発明の他の態様は、上記いずれかの結像光学系と、該結像光学系の最終像側に配置され、観察対象物から発せられた光を検出する光検出器を備えることとしてもよい。
 本態様によれば、結像光学系により、光学素子の表面や内部に傷、異物あるいは欠陥等の像が中間像に重なることが防止されることによって形成された鮮明な最終像を光検出器によって検出することができる。
 上記態様においては、前記光検出器が、前記結像光学系の最終像位置に配置され、該最終像を撮影する撮像素子であってもよい。
 このようにすることで、結像光学系の最終像位置に配置された撮像素子により、鮮明な最終像を撮影して、精度の高い観察を行うことができる。
 また、本発明の他の態様は、上記いずれかの結像光学系と、該結像光学系の物体側に配置され、該結像光学系に入射させる照明光を発生する光源と、前記結像光学系の最終像側に配置され、観察対象物から発せられた光を検出する光検出器とを備える顕微鏡装置である。
 本態様によれば、光源からの光が結像光学系によって集光されて観察対象物に照射され、観察対象物において発生した光が最終像側に配置された光検出器により検出される。これにより、中間の光学素子の表面や内部に傷、異物あるいは欠陥等の像が中間像に重なることが防止されることによって形成された鮮明な最終像を光検出器によって検出することができる。
 上記態様においては、前記光源および前記光検出器と前記結像光学系との間に配置されたニポウディスク型コンフォーカル光学系を備えていてもよい。
 このようにすることで、観察対象物に多点のスポット光を走査させて観察対象物の鮮明な画像を高速に取得することができる。
 また、上記態様においては、前記光源がレーザ光源であり、前記光検出器が共焦点ピンホールおよび光電変換素子を備えていてもよい。
 このようにすることで、中間像位置における傷や異物や欠陥等の像の写り込みのない、鮮明な共焦点画像による観察対象物の観察を行うことができる。
 また、本発明の他の態様は、上記照明装置と、該照明装置によって照明された観察対象物から発せられた光を検出する光検出器とを備え、前記光源がパルスレーザ光源である顕微鏡装置である。
 このようにすることで、中間像位置における傷や異物や欠陥等の像の写り込みのない、鮮明な多光子励起画像による観察対象物の観察を行うことができる。
 上記態様においては、光スキャナを備え、該光スキャナが、前記第1の位相変調素子、前記第2の位相変調素子および前記結像レンズの瞳に対して光学的に共役な位置に配置されていることとしてもよい。
 このように構成することで、光スキャナにより観察対象物において照明光を走査させて、観察対象物における照明光の走査範囲の鮮明な画像を取得することができる。
 本発明によれば、中間像が光学素子に一致する位置で結像されても、中間像に光学素子の傷、異物および欠陥等が重なることを防止して鮮明な最終像を取得することができるという効果を奏する。特に、顕微鏡のような拡大光学系においてインナーフォーカシング方式すなわち内焦点方式によって中間像を移動させた場合、Z軸上での移動した中間像がその前後に位置していたレンズに重なったとしても、レンズの表面の傷や異物あるいはレンズ内の欠陥等が最終的な像に映りこむようなノイズ画像を生じない。とくに、波面調整手段を設けることにより、各種走査方向への走査の過程で生じ得る収差を低減することが可能となり、走査性能を向上することができる。
本発明の顕微鏡装置に用いられる結像光学系の一実施形態を示す模式図である。 図1の結像光学系の作用を説明する模式図である。 図2の物体側の瞳位置から波面回復素子までを示す拡大図である。 従来の顕微鏡装置に用いられる結像光学系を示す模式図である。 焦点距離が長い結像レンズの組を光路に配置した状態を示す図である。 焦点距離が短い結像レンズの組を光路上に配置した状態を示す図である。 本発明の一実施形態の第1変形例に係る結像光学系の一例を示す図である。 本発明の一実施形態の第2変形例に係る結像光学系の一例を示す図である。 本発明の第1の参考実施形態に係る観察装置を示す模式図である。 本発明の第1実施形態に係る観察装置を示す模式図である。 図10の観察装置において、焦点距離が短く高倍率の対物レンズおよび焦点距離が短くNAが大きいリレーレンズを光路に配置した状態を示す模式図である。 本発明の第2の参考実施形態に係る観察装置を示す模式図である。 本発明の第3の参考実施形態に係る観察装置を示す模式図である。 図13の観察装置の変形例を示す模式図である。 図14の観察装置の第1の変形例を示す模式図である。 図14の観察装置のさらなる変形例を示す模式図である。 図14の観察装置の第2の変形例を示す模式図である。 図14の観察装置の第3の変形例を示す模式図である。 本発明の第2実施形態に係る観察装置を示す模式図である。 図19の観察装置において、焦点距離が短い第2レンズと焦点距離が長いコリメータレンズを光路上に配置した状態を示す模式図である。 図19の観察装置において、焦点距離が長い第2レンズと焦点距離が短いコリメータレンズを光路上に配置した状態を示す模式図である。 本発明の第2実施形態の第1変形例に係る観察装置の照明光学系を示す模式図である。 本発明の第2実施形態の第2変形例に係る観察装置の照明光学系を示す模式図である。 本発明の結像光学系および観察装置に使用される位相変調素子の一例としてのシリンドリカルレンズを示す斜視図である。 図24のシリンドリカルレンズを用いた場合の作用を説明する模式図である。 図25の説明に使用するガウス光学に基づく位相変調量と光学パワーの関係を説明する図である。 本発明の結像光学系および観察装置に使用される位相変調素子の他の例としてのバイナリ回折格子を示す斜視図である。 本発明の結像光学系および観察装置に使用される位相変調素子の他の例としての1次元正弦波回折格子を示す斜視図である。 本発明の結像光学系および観察装置に使用される位相変調素子の他の例としての自由曲面レンズを示す斜視図である。 本発明の結像光学系および観察装置に使用される位相変調素子の他の例としてのコーンレンズを示す縦断面図である。 本発明の結像光学系および観察装置に使用される位相変調素子の他の例としての同心円型バイナリ回折格子を示す斜視図である。 位相変調素子として回折格子を用いた場合の光軸に沿う光線の作用を説明する模式図である。 位相変調素子として回折格子を用いた場合の軸上光線の作用を説明する模式図である。 波面錯乱素子として機能する回折格子の作用を説明する中央部の詳細図である。 波面回復素子として機能する回折格子の作用を説明する中央部の詳細図である。 本発明の結像光学系および観察装置に使用される位相変調素子の他の例としての球面収差素子を示す縦断面図である。 本発明の結像光学系および観察装置に使用される位相変調素子の他の例としての不規則形状素子を示す縦断面図である。 本発明の結像光学系および観察装置に使用される位相変調素子の他の例としての反射型の位相変調素子を示す模式図である。 本発明の結像光学系および観察装置に使用される位相変調素子の他の例としての屈折率分布型素子を示す模式図である。 本発明の結像光学系を内視鏡的用途でもって顕微鏡的に拡大観察するための装置に適用する場合のレンズ配列の一例を示す図である。 本発明の結像光学系を、インナーフォーカス機能付き内視鏡型細径対物レンズを備えた顕微鏡に適用する場合のレンズ配列の一例を示す図である。 本発明の一実施形態に係る観察装置を示す模式図である。 図42の照明装置を示す平面図である。 図42の照明装置を示す側面図である。 図42の波面回復素子におけるスキャン動作による光束の通過位置を示す横断面図である。 図42の対物レンズの瞳位置におけるスキャン動作による光束の通過位置を示す横断面図である。 本発明の一実施例に係る照明装置の一部を示す拡大模式図である。
 本発明の顕微鏡装置に用いられる結像光学系1の一実施形態について、図面を参照して以下に説明する。
 本実施形態に係る結像光学系1は、図1に示されるように、間隔をあけて配置された2つ1組の結像レンズ2,3と、これらの結像レンズ2,3の中間結像面に配置されたフィールドレンズ4と、物体O側の結像レンズ2の瞳位置PPO近傍に配置された波面錯乱素子(第1の位相変調素子)5と、像I側の結像レンズ3の瞳位置PPI近傍に配置された波面回復素子(第2の位相変調素子)6とを備えている。図中、符号7は開口絞りである。
 波面錯乱素子5は、物体Oから発せられ物体O側の結像レンズ2により集光された光を透過させる際に波面に乱れを付与するようになっている。波面錯乱素子5によって波面に乱れを付与することにより、フィールドレンズ4に結像される中間像が不鮮明化されるようになっている。
 一方、波面回復素子6は、フィールドレンズ4により集光された光を透過させる際に、波面錯乱素子5によって付与された波面の乱れを打ち消すような位相変調を光に付与するようになっている。波面回復素子6は、波面錯乱素子5とは逆の位相特性を有し、波面の乱れを打ち消すことによって、鮮明な最終像Iを結像させるようになっている。
 本実施形態に係る結像光学系1の、より一般的な概念について詳細に説明する。
 図2に示される例では、結像光学系1は、物体O側および像I側に関してテレセントリックな配置になっている。また、波面錯乱素子5はフィールドレンズ4から物体O側に距離aFだけ離れた位置に配置され、波面回復素子6はフィールドレンズ4から像I側に距離bFだけ離れた位置に配置されている。
 図2において、符号fOは結像レンズ2の焦点距離、符号fIは結像レンズ3の焦点距離、符号FO,FO´は結像レンズ2の焦点位置、符号FI,FI´は結像レンズ3の焦点位置、符号II〇,IIA,IIBは中間像である。
 ここで、波面錯乱素子5は必ずしも結像レンズ2の瞳位置PPO近傍に配置されている必要はなく、波面回復素子6も必ずしも結像レンズ3の瞳位置PPI近傍に配置されている必要はない。
 ただし、波面錯乱素子5と波面回復素子6は、フィールドレンズ4による結像に関して、式(1)に示されるように、互いに共役な位置関係に配置されている必要がある。
  1/f=1/a+1/b・・・・・(1)
 ここで、fはフィールドレンズ4の焦点距離である。
 図3は、図2の物体O側の瞳位置PPOから波面回復素子6までを詳細に示す図である。
 ここで、ΔLは、光が光学素子を透過することによって付与される、特定の位置(すなわち光線高さ)を透過する光線を基準とした、位相の進み量である。
 また、ΔL(x)は、光が波面錯乱素子5の光軸上(x=0)を通過する場合を基準とした、波面錯乱素子5の任意の光線高さxを通過する場合の位相の進み量を与える関数である。
 さらに、ΔLI(xI)は、光が波面回復素子6の光軸上(x=0)を通過する場合を基準とした、波面回復素子6の任意の光線高さxを通過する場合の位相の進み量を与える関数である。
 ΔL(x)とΔL(x)は、下式(2)を満たしている。
  ΔL(x)+ΔL(x)=ΔL(x)+ΔL(β・x)=0・・・・・(2)
 ここで、βは、フィールドレンズ4による波面錯乱素子5と波面回復素子6の共役関係における横倍率であり、下式(3)により表される。
  β=-b/a・・・・・(3)
 このような結像光学系1に1本の光線Rが入射し、波面錯乱素子5上の位置xを通過すると、そこで、ΔL(x)の位相変調を受け、屈折、回折、散乱等による錯乱光線Rcを生じる。錯乱光線Rcは、光線Rの位相変調を受けなかった成分とともに、フィールドレンズ4によって波面回復素子6上の位置x=β・xに投影される。投影された光線はここを通過することにより、ΔL(β・x)=-ΔL(x)の位相変調を受け、波面錯乱素子5によって受けた位相変調が打ち消される。これにより、波面の乱れのない1本の光線R´に戻る。
 波面錯乱素子5と波面回復素子6が共役な位置関係にあり、かつ式(2)の特性を有する場合には、波面錯乱素子5上の1つの位置を経て位相変調を受けた光線は、その位置と一対一対応し、かつ波面錯乱素子5から受けた位相変調を打ち消すような位相変調を付与する波面回復素子6の特定の位置を必ず通過する。図2および図3に示される光学系は、光線Rに対して、波面錯乱素子5におけるその入射位置xや入射角に関わりなく、上記のように作用する。すなわち、あらゆる光線Rに関して、中間像IIを不鮮明化し、かつ最終像Iを鮮明に結像させることができる。
 図4に、従来の結像光学系を示す。この結像光学系によれば、物体O側の結像レンズ2によって集光された光は中間結像面に配置されるフィールドレンズ4において鮮明な中間像IIを形成した後、像I側の結像レンズ3によって集光されて鮮明な最終像Iを形成する。
 従来の結像光学系では、フィールドレンズ4の表面に傷や塵埃等があったり、フィールドレンズ4の内部に空洞等の欠陥があったりした場合に、フィールドレンズ4に鮮明に形成された中間像にこれらの異物の像が重なってしまい、最終像Iにも異物の像が形成されてしまうという問題が発生する。
 これに対し、本実施形態に係る結像光学系1によれば、フィールドレンズ4に一致する位置に配置される中間結像面には、波面錯乱素子5によって不鮮明化された中間像IIが結像されるので、中間像IIに重なった異物の像は、波面回復素子6によって位相変調を受けて不鮮明な中間像IIが鮮明化される際に同じ位相変調によって不鮮明化される。したがって、鮮明な最終像Iに中間結像面の異物の像が重なることを防止することができる。
 ここで、本実施形態に係る結像光学系1は、図5および図6に示すように、結像レンズ2として、焦点距離が長い結像レンズ2aと、結像レンズ2aよりも焦点距離が短い結像レンズ2bとが用いられ、結像レンズ3として、焦点距離が長い結像レンズ3aと、結像レンズ3aよりも焦点距離が短い結像レンズ3bとが用いられるようになっている。
 焦点距離が長い結像レンズ2aと焦点距離が長い結像レンズ3aの組が光路に配置された場合に、物体Oにおけるマージナル光線の傾きΘO1と像Iにおけるマージナル光線の傾きΘI1とが一致し、焦点距離が短い結像レンズ2bと焦点距離が短い結像レンズ3bの組が光路に配置された場合に、物体Oにおけるマージナル光線の傾きΘO2と像Iにおけるマージナル光線の傾きΘI2とが一致するように、これら結像レンズ2a,2bおよび結像レンズ3a,3bのパラメータが決められている。
 さらに、本実施形態に係る結像光学系1は、結像レンズ2aと結像レンズ2bとを切り替えて光路上に択一的に配置する切替装置(波面調整手段)8と、結像レンズ3aと結像レンズ3bとを切り替えて光路上に択一的に配置する切替装置(波面調整手段)9とを備えている。
 このように構成された結像光学系1によれば、図5に示すように、切替装置8により結像レンズ2aを光路上に配置した場合は、切替装置9により結像レンズ3aを光路上に配置することで、物体OにおけるΘO1と像IにおけるΘI1とを等しくして(ΘO1=ΘI1)、ハーシェルの条件を満すことができる。この場合、物点O1Cが像点I1Cとして収差なく結像するだけでなく、物点O1Cの前後の物点O1-,O1+もそれぞれ像点I1-,I1+として収差なく結像する。
 一方、図6に示すように、切替装置8により結像レンズ2bを光路上に配置した場合は、切替装置9により結像レンズ3bを光路上に配置することで、物体OにおけるΘO2と像IにおけるΘI2とを等しくして(ΘO2=ΘI2)、ハーシェルの条件が満たすことができる。この場合も、物点O2Cが像点I2Cとして収差なく結像するだけでなく、物点O2Cの前後の物点O2-,O2+もそれぞれ像点I2-,I2+として収差なく結像する。
 したがって、本実施形態に係る結像レンズ1によれば、結像レンズ2a,2bの切り替えによりΘが変化したとしても、結像レンズ3a,3bの切り替えによってΘをΘに一致させてハーシェルの条件を満たすことで、結像レンズの切り換え等による倍率やNA(開口数)の変化に伴う収差変動を抑えることができる。
 本実施形態においては、結像レンズ2a,2bを切り替えることによりΘが変化する場合を例示して説明したが、例えば、物体Oが配置される物体空間を液体等で満たした場合など、物体空間の屈折率が変化した場合も、結像レンズ3a,3bの切り替えによってΘをΘに一致させてハーシェルの条件を満たすことができる。したがって、物体空間の屈折率の変化に伴う収差変動を抑えることができる。
 本実施形態は以下のように変形することができる。
 第1変形例としては、例えば、結像レンズ3として、図7に示すように、2枚の凸レンズ83a,83cと、これら2枚の凸レンズ83a,83cの間に配置される光軸方向に移動可能な1枚の凹レンズ83bとにより構成することとしてもよい。また、波面調整手段として、凹レンズ83bを光軸方向に移動させる移動機構85を採用することとしてもよい。
 この場合、凹レンズ3bを光軸方向に移動させることで、像Iにおけるマージナル光線の傾きΘを変更することができる。したがって、移動機構85により凹レンズ83bの光軸方向の位置を調節することで、ΘをΘに一致させてハーシェルの条件を満たすことができる。
 また、第2変形例としては、例えば、図8に示すように、結像レンズ3に隣接して光路上の像I側に、焦点距離を長く変換するコンバージョンレンズ87aと、焦点距離を短く変換するコンバージョンレンズ87bとを挿脱可能に配置することとしてもよい。また、波面調整手段として、照明光の光路上に択一的に配置するコンバージョンレンズ87a,87bを切り替える切替機構89を採用することとしてもよい。この場合は、挿脱機構89により、光軸上に配置するコンバージョンレンズ87a,87bを切り替えることで、ΘをΘに一致させてハーシェルの条件を満たすことができる。
 なお、上記説明においては、2つの結像レンズ2,3をそれぞれテレセントリックな配置として説明したが、これに限定されるものではなく、非テレセントリック系であっても同様に作用する。
 また、位相進み量の関数を1次元的な関数としたが、これに代えて、2次元的な関数としても同様に作用し得る。
 また、結像レンズ2と波面錯乱素子5とフィールドレンズ4の間の空間、およびフィールドレンズ4と波面回復素子6と結像レンズ3の間の空間は、必ずしも必要でなく、これらの素子の間は光学的に接合されていてもよい。
 また、結像光学系1をなす各レンズ、すなわち、結像レンズ2,3およびフィールドレンズ4の各々が結像と瞳リレーの機能を明確に分担する構成としたが、実際の結像光学系においては、1つのレンズが結像と瞳リレーの両機能を同時に有するような構成も用いられている。このような場合においても、上記条件が満たされる場合には、波面錯乱素子5は波面に乱れを付与して中間像IIを不鮮明化し、波面回復素子6は波面の乱れを打ち消して最終像Iを鮮明化することができる。
 次に、本発明の第1の参考実施形態に係る観察装置10について、図面を参照して以下に説明する。
 本実施形態に係る観察装置10は、図9に示されるように、非コヒーレントな照明光を発生する光源11と、光源11からの照明光を観察対象物Aに照射する照明光学系12と、観察対象物Aからの光を集光する結像光学系13と、該結像光学系13により集光された光を撮影して画像を取得する撮像素子(光検出器)14とを備えている。
 照明光学系12は、光源11からの照明光を集光する集光レンズ15a,15bと、該集光レンズ15a,15bにより集光された照明光を観察対象物Aに照射する対物レンズ16とを備えている。
 また、この照明光学系12は、いわゆるケーラー照明であり、集光レンズ15a,15bは、光源11の発光面と対物レンズ16の瞳面とが互いに共役になるように配置されている。
 結像光学系13は、物体側に配置された観察対象物Aから発せられた観察光(例えば、反射光)を集光する上記対物レンズ(結像レンズ)16と、該対物レンズ16により集光された観察光の波面に乱れを付与する波面錯乱素子17と、波面に乱れを付与された光を光源11からの照明光路から分岐させる第1のビームスプリッタ18と、光軸方向に間隔を明けて配置された第1の中間結像レンズ対19と、該第1の中間結像レンズ対19の各レンズ19a,19bを通過した光を90°偏向する第2のビームスプリッタ20と、該第2のビームスプリッタ20により偏向された光を集光して中間像を結像させる第2の中間結像レンズ21と、該第2の中間結像レンズ21による中間結像面に配置された光路長可変手段22と、第2のビームスプリッタ20と第2の中間結像レンズ21との間に配置された波面回復素子23と、該波面回復素子23および第2のビームスプリッタ20を透過した光を集光して最終像を結像させる結像レンズ24とを備えている。
 撮像素子14は、例えば、CCDあるいはCMOSのような2次元のイメージセンサであり、結像レンズ24による最終像の結像位置に配置された撮像面14aを備え、入射される光を撮影することにより観察対象物Aの2次元的な画像を取得することができるようになっている。
 波面錯乱素子17は、対物レンズ16の瞳位置近傍に配置されている。波面錯乱素子17は、光を透過可能な光学的に透明な材料により構成され、光が透過する際に、表面の凹凸形状に従う位相変調を光の波面に付与するようになっている。本実施形態においては、観察対象物Aからの観察光を1回透過させることにより、必要な波面の乱れを付与するようになっている。
 また、波面回復素子23は、第2の中間結像レンズ21の瞳位置近傍に配置されている。波面回復素子23も光を透過可能な光学的に透明な材料により構成され、光が透過する際に、表面の凹凸形状に従う位相変調を光の波面に付与するようになっている。本実施形態においては、波面回復素子23は、ビームスプリッタ20により偏向された観察光および光路長可変手段22により折り返すように反射された観察光を往復で2回透過させることにより、波面錯乱素子17により付与された波面の乱れを打ち消すような位相変調を光の波面に与えるようになっている。
 光軸(Z軸)走査系としての光路長可変手段22は、光軸に直交して配置された平面鏡22aと、該平面鏡22aを光軸方向に変位させるアクチュエータ22bとを備えている。光路長可変手段22のアクチュエータ22bの作動により、平面鏡22aを光軸方向に変位させると、第2の中間結像レンズ21と平面鏡22aとの間の光路長が変化させられ、それによって、観察対象物Aにおける、撮像面14aと共役な位置、すなわち、対物レンズ16の前方の合焦点位置が、光軸方向に変化させられるようになっている。
 結像レンズ24は瞳共役面に配置されている。
 このように構成された本実施形態に係る観察装置10を用いて観察対象物Aの観察を行うには、光源11からの照明光を照明光学系12によって観察対象物Aに照射する。観察対象物Aから発せられた観察光は対物レンズ16によって集光され、波面錯乱素子17を1回透過して第1のビームスプリッタ18および中間結像光学系19を通過し、第2のビームスプリッタ20において、90°偏向されて波面回復素子23を透過し、光路長可変手段22の平面鏡22aによって折り返されるように反射されて波面回復素子23を再度透過し、ビームスプリッタ20を透過して結像レンズ24によって結像された最終像が撮像素子14によって撮影される。
 光路長可変手段22のアクチュエータ22bを作動させて、平面鏡22aを光軸方向に移動させることにより、第2の中間結像レンズ21と平面鏡22aとの間の光路長を変化させることができ、これによって、対物レンズ16の前方の合焦点位置を光軸方向に移動させ走査することができる。そして、異なる合焦点位置において観察光を撮影することにより、観察対象物Aの奥行き方向に異なる位置に合焦させた複数の画像を取得することができる。さらに、これらを加算平均によって合成した後、高域強調処理を施すことにより、被写界深度の深い画像を取得することができる。
 この場合において、光路長可変手段22の平面鏡22a近傍には第2の中間結像レンズ21による中間像が結像されるが、この中間像は、波面錯乱素子17を透過することにより付与された波面の乱れが、波面回復素子23を1回透過することにより部分的に打ち消されて残った波面の乱れによって、不鮮明化されている。そして、不鮮明化された中間像を結像した後の光は、第2の中間結像レンズ21によって集光された後に、波面回復素子23を再度通過させられることにより、波面の乱れが完全に打ち消される。
 その結果、本実施形態に係る観察装置10によれば、平面鏡22aの表面に傷や塵埃等の異物が存在していても、異物の像が最終像に重なって撮影されてしまうことを防止することができ、かつ、観察対象物Aの鮮明な画像を得ることができるという利点がある。
 また、同様にして、観察対象物Aにおける合焦点位置を光軸方向に移動させると、第1の中間結像レンズ対19によって形成される中間像も光軸方向に大きく変動するが、その変動の結果、中間像が第1の中間結像レンズ対19の位置に重なったとしても、あるいはまた、その変動範囲内に何らかの他の光学素子が存在する場合であっても、中間像が不鮮明化されているので、異物の像が最終像に重なって撮影されてしまうことを防止することができる。本実施形態において、上述したような走査系を搭載した場合には、結像光学系に配置されるあらゆる光学素子上で、光がZ軸移動してもノイズ画像を生じない。
 次に、本発明の第1実施形態に係る観察装置(顕微鏡装置)120について、図面を参照して以下に説明する。
 本実施形態の説明において、上述した第1の参考実施形態に係る観察装置10と構成を共通とする箇所には同一符号を付して説明を省略する。
 本実施形態に係る観察装置120は、図10に示すように、結像光学系13が、対物レンズ16に代えて、焦点距離が長く低倍率の対物レンズ(結像レンズ)121aと、対物レンズ121aよりも焦点距離が短く高倍率の対物レンズ(結像レンズ)121bと、対物レンズ121a,121bを保持し、これら対物レンズ121a,121bを照明光の光路上に択一的に挿入可能なレボルバ(波面調整手段)123とを備えている。
 また、観察装置120は、同図に示すように、第2の中間結像レンズ21に代えて、焦点距離が長くNAが小さいリレーレンズ125aと、リレーレンズ125aよりも焦点距離が短くNAが大きいリレーレンズ125bと、照明光の光路上に択一的に配置するリレーレンズ125a,125bを切り替える切替機構(波面調整手段)127とを備えている。これらリレーレンズ125a,125bは、第2のビームスプリッタ20により偏向された光を光路長可変手段22の平面鏡22aにリレーするようになっている。
 また、観察装置120は、光路長可変手段22により折り返されて第2のビームスプリッタ20を透過した光をリレーするリレーレンズ129を備え、波面回復素子23が、リレーレンズ129と結像レンズ24との間に配置されている。
 本実施形態においては、焦点距離が長く低倍率の対物レンズ121aと焦点距離が長くNAが小さいリレーレンズ125aの組を光路上に配置した場合に、対物レンズ121aのマージナル光線の傾きΘOaとリレーレンズ125aのマージナル光線の傾きΘRaとが一致し、焦点距離が短く高倍率の対物レンズ121bと焦点距離が短くNAが大きいリレーレンズ125bの組を光路上に配置した場合に、対物レンズ121bのマージナル光線の傾きΘObとリレーレンズ125bのマージナル光線の傾きΘRbとが一致するように、これら対物レンズ121a,121bおよびリレーレンズ125a,125bのパラメータが決められている。
 このように構成された観察装置120においては、図10に示すように、レボルバ123により対物レンズ121aを光路上に配置した場合は、切替機構127によりリレーレンズ125aを光路上に配置することで、ΘOa=ΘRaが成り立ち、ハーシェルの条件を満すことができる。また、図11に示すように、レボルバ123により対物レンズ121bを光路上に配置した場合は、切替機構127によりリレーレンズ125bを光路上に配置することで、ΘOb=ΘRbが成り立ち、ハーシェルの条件を満すことができる。
 したがって、本実施形態に係る観察装置120によれば、光路長可変手段22により、リレーレンズ125a,125bと平面鏡22aとの間の光路長を変化させて、観察対象物Aにおける対物レンズ121a,121bの前方の合焦点位置を移動(Z軸走査)させた場合に、リレーレンズ125a,125bの切り替えにより、収差変動を抑制することができる。
 次に、本発明の第2の参考実施形態に係る観察装置30について、図面を参照して以下に説明する。
 本実施形態の説明において、上述した第1の参考実施形態に係る観察装置10と構成を共通とする箇所には同一符号を付して説明を省略する。
 本実施形態に係る観察装置30は、図12に示されるように、レーザ光源31と、該レーザ光源31からのレーザ光を観察対象物Aに集光させる一方、観察対象物Aからの光を集光する結像光学系32と、該結像光学系32により集光された光を撮影する撮像素子(光検出器)33と、光源31および撮像素子33と結像光学系32との間に配置されたニポウディスク型コンフォーカル光学系34とを備えている。レーザ光源31と結像光学系32とにより照明装置が構成される。
 ニポウディスク型コンフォーカル光学系34は、平行間隔をあけて配置される2枚のディスク34a,34bと、該ディスク34a,34bを同時に回転させるアクチュエータ34cとを備えている。レーザ光源31側のディスク34aには、マイクロレンズ(図示略)が多数配列されており、物体側のディスク34bには、各マイクロレンズに対応する位置に多数のピンホール(図示略)が設けられている。また、2枚のディスク34a,34bの間の空間には、ピンホールを通過した光を分岐するダイクロイックミラー34dが固定されており、ダイクロイックミラー34dによって分岐された光は集光レンズ35によって集光され、撮像素子33の撮像面33aに最終像が結像されて、画像が取得されるようになっている。
 結像光学系32は、第1の参考実施形態における第1のビームスプリッタ18と第2のビームスプリッタ20とを共通化して単一のビームスプリッタ36とし、ニポウディスク型コンフォーカル光学系34のピンホールを通過した光を観察対象物Aに照射するための光路と、観察対象物Aにおいて発生し、ニポウディスク型コンフォーカル光学系34のピンホールに入射するまでの光路とを完全に共通化している。
 このように構成された本実施形態に係る観察装置30の作用について、以下に説明する。
 本実施形態に係る観察装置30によれば、ニポウディスク型コンフォーカル光学系34のピンホールから結像光学系32に入射した光は、ビームススプリッタ36および位相変調素子23を透過した後に、第2の中間結像レンズ21によって集光され、光路長可変手段22の平面鏡22aによって折り返されるように反射される。そして、第2の中間結像レンズ21を通過した後に、位相変調素子23を再度透過し、ビームスプリッタ36によって90°偏向され、第1の中間結像レンズ対19および位相変調素子17を透過して対物レンズ16により観察対象物Aに集光される。
 本実施形態においては、レーザ光が最初に2回透過する位相変調素子23は、レーザ光の波面に乱れを付与する波面錯乱素子として機能し、その後に1回透過する位相変調素子17は、位相変調素子23により付与された波面の乱れを打ち消すような位相変調を付与する波面回復素子として機能する。
 したがって、ニポウディスク型コンフォーカル光学系34によって多数の点光源状に形成された光源の像は第2の中間結像レンズ21によって平面鏡22a上に中間像として結像されるが、第2の中間結像レンズ21により形成される中間像は、位相変調素子23を1回通過することにより不鮮明化されているので、中間結像面に存在する異物の像が、最終像に重なってしまう不都合を防止できる。
 また、位相変調素子23を2回透過することにより波面に付与された乱れは、位相変調素子17を1回透過することにより打ち消されるので、観察対象物Aに鮮明な多数の点光源の像を結像させることができる。そして、ニポウディスク型コンフォーカル光学系34のアクチュエータ34cの作動によりディスク34a,34bを回転させることにより、観察対象物Aに結像している多数の点光源の像を光軸に交差するXY方向に移動させ、高速走査を行うことができる。
 一方、観察対象物Aにおける点光源の像の結像位置において発生した光、例えば、蛍光は、対物レンズ16により集光され、位相変調素子17および第1の中間結像レンズ対19を透過した後、ビームスプリッタ36によって90°偏向されて、位相変調素子23を透過し、第2の中間結像レンズ21によって集光されて、平面鏡22aによって折り返されるように反射される。その後、再度、第2の中間結像レンズ21によって集光され、位相変調素子23およびビームスプリッタ36を透過して、結像レンズ24により集光され、ニポウディスク型コンフォーカル光学系34のピンホール位置に結像される。
 ピンホールを通過した光はダイクロイックミラーによって、レーザ光源からの光路から分岐され、集光レンズによって集光されて撮像素子の撮像面に最終像として結像される。
 この場合において、観察対象物において多数の点状に発生した蛍光が透過する位相変調素子17は第1の参考実施形態と同様に波面錯乱素子として機能し、位相変調素子23は波面回復素子として機能する。
 したがって、位相変調素子17を透過することにより波面に乱れが付与された蛍光は、位相変調素子23を1回透過することにより、部分的に乱れが打ち消された状態ではあるが、平面鏡22aに結像される中間像は不鮮明化されたものとなる。そして、位相変調素子23をもう1回透過することにより、波面の乱れが完全に打ち消された状態となった蛍光は、ニポウディスク型コンフォーカル光学系34のピンホールに結像し、ピンホールを通過した後にダイクロイックミラー34dによって分岐され、集光レンズ35により集光されて撮像素子33の撮像面33aに鮮明な最終像を結像する。
 これにより、本実施形態に係る観察装置30によれば、観察対象物Aにレーザ光を照射する照明装置としても、観察対象物Aにおいて発生した蛍光を撮影する観察装置としても、中間像を不鮮明化して中間結像面における異物の像が最終像に重なることを防止しつつ、鮮明な最終像を得ることができるという利点を有する。本実施形態において、上述したような走査系を搭載した場合には、結像光学系に配置されるあらゆる光学素子上で、光がZ軸移動してもノイズ画像を生じない。本実施形態において、上述したような走査系を搭載した場合には、結像光学系に配置されるあらゆる光学素子上で、光がZ軸移動してもノイズ画像を生じない。
 次に、本発明の観察装置は、上記第2の参考実施形態におけるニポウディスク型コンフォーカル光学系34を備える観察装置40に適用することとしてもよい。この場合、図12の観察装置30の対物レンズ16に代えて、図10に示す本発明の第1実施形態と同様に、結像対物レンズ121a,121bとレボルバ123を採用し、また、第2の中間結像レンズ21に代えて、リレーレンズ125a,125bと切替機構127を採用することとすればよい。また、第2のビームスプリッタ20と結像レンズ24との間に、リレーレンズ129および波面回復素子23を配置することとすればよい。
 次に、本発明の第3の参考実施形態に係る観察装置40について、図面を参照して以下に説明する。
 本実施形態の説明において、上述した第2の参考実施形態に係る観察装置30と構成を共通とする箇所には同一符号を付して説明を省略する。
 本実施形態に係る観察装置40は、図13に示されるように、レーザ走査型共焦点観察装置である。
 この観察装置40は、レーザ光源41と、該レーザ光源41からのレーザ光を観察対象物Aに集光させる一方、観察対象物Aからの光を集光する結像光学系42と、該結像光学系42により集光された蛍光を通過させる共焦点ピンホール43と、該共焦点ピンホール43を通過した蛍光を検出する光検出器44とを備えている。
 結像光学系42は、レーザ光のビーム径を拡大するビームエキスパンダ45と、レーザ光を偏向し蛍光を透過するダイクロイックミラー46と、対物レンズ16の瞳と共役な位置の近傍に配置されたガルバノミラー47と、第3の中間結像レンズ対48とを第2の参考実施形態に係る観察装置30とは異なる構成として備えている。また、レーザ光の波面に乱れを付与する位相変調素子23をガルバノミラー47の近傍に配置している。図中、符号49はミラーである。
 このように構成された本実施形態に係る観察装置40の作用について以下に説明する。
 本実施形態に係る観察装置40によれば、レーザ光源41から発せられたレーザ光は、ビームエキスパンダ45によってビーム径が拡大されてダイクロイックミラー46により偏向され、ガルバノミラー47によって2次元的に走査された後、位相変調素子23および第3の中間結像レンズ対48を通過してビームスプリッタ36に入射する。ビームスプリッタ36への入射後は、第2の参考実施形態に係る観察装置30と同様である。
 すなわち、レーザ光は、位相変調素子23によって波面に乱れを付与された後に、光路長可変手段22の平面鏡22aに中間像を結像するので、中間像が不鮮明化されており、中間結像面に存在する異物の像が重なることを防止することができる。また、対物レンズ16の瞳位置に配置された位相変調素子17によって、波面の乱れが打ち消されるので、鮮明化された最終像を観察対象物Aに結像させることができる。また、最終像の結像深さは、光路長可変手段22によって任意に調節することができる。
 一方、観察対象物Aにおけるレーザ光の最終像の結像位置において発生した蛍光は、対物レンズ16によって集光され、位相変調素子17を透過した後に、レーザ光とは逆の光路を辿って、ビームスプリッタ36により偏向され、第3の中間結像レンズ対48、位相変調素子23、ガルバノミラー47およびダイクロイックミラー46を通過した後に結像レンズ24によって、共焦点ピンホール43に集光され、共焦点ピンホール43を通過した蛍光のみが光検出器44によって検出される。
 この場合においても、対物レンズ16により集光された蛍光は、位相変調素子17によって波面に乱れを付与された後に中間像を結像するので、中間像が不鮮明化され、中間結像面に存在する異物の像が重なることを防止することができる。そして、位相変調素子23を透過することによって波面の乱れが打ち消されるので、鮮明化された像を共焦点ピンホール43に結像させることができ、観察対象物Aにおいてレーザ光の最終像の結像位置において発生した蛍光を効率よく検出することができる。その結果、高分解能の明るい共焦点画像を取得することができるという利点がある。本実施形態において、上述したような走査系を搭載した場合には、結像光学系に配置されるあらゆる光学素子上で、光がZ軸移動してもノイズ画像を生じない。
 なお、本実施形態においては、レーザ走査型共焦点観察装置を例示したが、これに代えて、図14に示されるようにレーザ走査型多光子励起観察装置に適用してもよい。
 この場合、レーザ光源41として、チタンサファイアレーザのような極短パルスレーザ光源を採用し、ダイクロイックミラー46を無くし、ミラー49に代えて、ダイクロイックミラー46を採用すればよい。
 図14の観察装置50においては、極短パルスレーザ光を観察対象物Aに照射する照明装置の機能において、中間像を不鮮明化し、最終像を鮮明化することができる。観察対象物Aにおいて発生した蛍光については、対物レンズ16により集光され、位相変調素子17およびダイクロイックミラー46を透過した後に、中間像を結像することなく、集光レンズ51によって集光されて、光検出器44によりそのまま検出される。
 また、上記各実施形態においては、光路を折り返す平面鏡の移動により光路長を変化させる光路長可変手段22により、対物レンズの前方の合焦点位置を光軸方向に変化させることとした。これに代えて、光路長可変手段としては、図15に示されるように、中間結像光学系61を構成するレンズ61a,61bの一方のレンズ61aをアクチュエータ62によって光軸方向に移動させることにより、光路長を変化させるものを採用した観察装置60を構成してもよい。図中、符号63は他の中間結像光学系である。
 また、図16に示されるように、2次元の光スキャナを構成する2枚のガルバノミラー47の間に、他の中間結像光学系80を配置し、2つのガルバノミラー47が位相変調素子17,23および対物レンズ16の瞳に配置されている開口絞り81に対して、精度よく光学的に共役な位置関係に配置されているように構成してもよい。
 また、光路長可変手段として、図17に示されるように、反射型のLCOSのような空間光変調素子(SLM)64を採用してもよい。このようにすることで、LCOSの液晶の制御によって高速に波面に与える位相変調を変化させ、対物レンズ16の前方の合焦点位置を光軸方向に高速に変化させることができる。図中、符号65は、ミラーである。
 また、反射型のLCOSのような空間光変調素子64に代えて、図18に示されるように、透過型のLCOSのような空間光変調素子66を採用してもよい。反射型のLCOSと比較してミラー65が不要となるので、構成を簡易化することができる。
 観察対象物Aにおける合焦点位置を光軸方向に移動させる手段としては、上記各実施例に示したもの(光路長可変手段22、あるいは中間結像光学系61とアクチュエータ62、あるいは反射型空間光変調素子64、あるいは透過型空間光変調素子66)の他にも、能動光学素子として知られるパワー可変光学素子が各種利用可能であり、まず機械的可動部を有するものとして、形状可変鏡(DFM:Deformable Mirror)、液体やゲルを用いた形状可変レンズがある。そして機械的可動部を持たない同様の素子として、電界により媒質の屈折率を制御する、液晶レンズやタンタル酸ニオブ酸カリウム(KTN:KTa1-XNb)結晶レンズ、さらには音響光学偏向器(AOD/Acousto-Optical Deflector)におけるシリンドリカルレンズ効果を応用したレンズ、等がある。
 次に、本発明の第2実施形態に係る観察装置(顕微鏡装置)130について、図面を参照して説明する。
 本実施形態の説明において、上述した第3の参考実施形態およびその変形例に係る観察装置40と構成を共通とする箇所には同一符号を付して説明を省略する。
 本実施形態に係る観察装置130は、図19に示すように、対物レンズ131および照明光学系132において、第3の参考実施形態に係る観察装置40と構成が異なる。すなわち、本実施形態に係る観察装置130は、同図に示すように、対物レンズ16に代えて、倍率が低くNAが小さく瞳径が大きい対物レンズ(結像レンズ)131aと、対物レンズ131aよりも倍率が高くNAが大きく瞳径が小さい対物レンズ(結像レンズ)131bとを備えている。これら対物レンズ131a,131bは、レボルバ123により保持され、レボルバ123により照明光の光路上に択一的に配置されるようになっている。
 また、観察装置130は、図20に示すように、ビームエキスパンダ―45の第2レンズとして、焦点距離が短い第2レンズ133aと、第2レンズ133aよりも焦点距離が長い第2レンズ133bと、照明光の光路上に択一的に配置する第2レンズ133a,133bを切り替える切替機構(波面調整手段)135とを備えている。
 また、観察装置130は、図15に示す中間結像光学系61を構成するコリメータレンズ61bに代えて、図20に示すように、焦点距離が長いコリメータレンズ137aと、コリメータレンズ137aよりも焦点距離が短いコリメータレンズ137bと、照明光の光路上に択一的に配置するコリメータレンズ137a,137bを切り替える切替機構(波面調整手段)139とを備えている。
 本実施形態においては、倍率が低くNAが小さく瞳径が大きい対物レンズ131aと焦点距離が短い第2レンズ133aと焦点距離が長いコリメータレンズ137aの組を光路上に配置した場合に、対物レンズ131aのマージナル光線の傾きΘOaとレンズ61aにより集光される照明光の光束における最大傾き角ΘZaとが一致するとともに、対物レンズ131aに入射させる照明光の光束径が対物レンズ131aの瞳径に一致するように、これら対物レンズ131aと第2レンズ133aとコリメータレンズ137aのパラメータが決められている。同様に、倍率が高くNAが大きく瞳径が小さい対物レンズ131bと焦点距離が長い第2レンズ133bと焦点距離が短いコリメータレンズ137bの組を光路上に配置した場合に、対物レンズ131bのマージナル光線の傾きΘObとレンズ61aにより集光される照明光の光束における最大傾き角ΘZbとが一致するとともに、対物レンズ131bに入射させる照明光の光束径が対物レンズ131bの瞳径に一致するように、これら対物レンズ131bと第2レンズ133bとコリメータレンズ137bのパラメータが決められている。
 このように構成された観察装置130によれば、図20に示すように、レボルバ123により対物レンズ131aを光路上に配置した場合に、切替機構135により第2レンズ133aを光路上に配置することで、ビームエキスパンダ45から射出される照明光の光束を細くして、レンズ61aにより集められる照明光の光束における最大傾き角ΘZaを小さくし、ΘZaを対物レンズ131aのマージナル光線の傾きΘOaに一致させてハーシェルの条件を満たすことができる。この場合において、切替機構139によりコリメータレンズ137aを光路上に配置して、レンズ61aにより集光された照明光をコリメータレンズ137aによりコリメートすることで、射出光束の径を太くして、対物レンズ131aの瞳径に一致する光束径の照明光を対物レンズ131aに入射させることができる。
 一方、図21に示すように、レボルバ123により対物レンズ131bを光路上に配置した場合に、切替機構135により第2レンズ133bを光路上に配置することで、ビームエキスパンダ45から射出される照明光の光束を太くして、レンズ61aにより集められる照明光の光束における最大傾き角Θを大きくし、ΘZbを対物レンズ131bのマージナル光線の傾きΘObに一致させてハーシェルの条件を満たすことができる。この場合において、切換機構139によりコリメータレンズ137bを光路上に配置して、レンズ61aにより集光された照明光をコリメータレンズ137bによりコリメートすることで、射出光束の径を細くして、対物レンズ131bの瞳径に一致する光束径の照明光を対物レンズ131bに入射させることができる。
 したがって、本実施形態に係る観察装置130によれば、対物レンズ131a,131bを切り替えた場合に、ハーシェルの条件を満たして収差変動を抑制するとともに、対物レンズ131a,131bに対してその瞳径に過不足なく照明光を入射させて光学性能を十分に発揮させることができる。
 本実施形態は以下のように変形することができる。
 第1変形例としては、例えば、図22に示すように、照明光学系132が、凹レンズ141aおよび凸レンズ141bの組からなる光束を拡大する拡大光学系141と、凸レンズ143aおよび凹レンズ143bの組からなる光束を縮小する縮小光学系143と、光路上に拡大光学系141を配置した状態、縮小光学系143を配置した状態、および光路にこれらを配置しないで素通しにした状態のいずれかに切り替える切換機構145とを備え、ビームエキスパンダ―45とレンズ61aとの間で照明光の光束径を調整可能にすることとしてもよい。
 さらに、同図に示すように、照明光学系132が、凹レンズ147aおよび凸レンズ147bの組からなる光束を拡大する拡大光学系147と、凸レンズ149aおよび凹レンズ149bの組からなる光束を縮小する縮小光学系149と、光路上に拡大光学系147を配置した状態、縮小光学系149を配置した状態、および光路にこれらを配置しないで素通しにした状態のいずれかに切り替える切換機構151とを備え、コリメートレンズ61bによりコリメートされた照明光の光束径を調整可能にすることとしてもよい。
 次に、第2変形例としては、例えば、図23に示すように、照明光学系132が、光源41側から凸レンズ153a、凹レンズ153b、凸レンズ153cの順に配置したズーム光学系153と、凹レンズ153bを光軸方向に移動させる移動機構(波面調整手段)155とを備え、ビームエキスパンダ-45とレンズ61aとの間で照明光の光束径を調整可能にすることとしてもよい。
 さらに、同図に示すように、照明光学系132が、中間結像光学系61側から凸レンズ157a、凹レンズ157b、凸レンズ157cの順に配置したズーム光学系157と、凹レンズ157bを光軸方向に移動させる移動機構(波面調整手段)159とを備え、コリメートレンズ61bによりコリメートされた照明光の光束径を調整して、照明光の光束を対物レンズ133a,133bの瞳径に合わせることとしてもよい。
 以上、本発明の顕微鏡としての実施形態は、いずれも観察対象物Aにおける合焦点位置を光軸方向に移動させる何らかの手段を有する。さらに、これらの合焦点位置光軸方向移動手段は、同じ目的に対する従来の顕微鏡における手段(対物レンズか観察対象物かの何れかを光軸方向に移動させる)に比較して、駆動対象物の質量が小さい、あるいは応答速度の速い物理現象を利用している、という理由により、動作速度を大幅に高めることができる。
 このことには、観察対象物(例えば、生きた生体組織標本)における、より高速な現象を検出し得る、という利点がある。
 また、透過型あるいは反射型のLCOSのような空間光変調素子64,66を採用する場合には、位相変調素子23の機能を空間光変調素子64,66に担わせることができる。このようにすることで、波面錯乱素子としての位相変調素子23を省略でき、構成をさらに簡易化することができるという利点がある。
 また、上記例は、空間光変調素子とレーザ走査型多光子励起観察装置との組み合わせにおける、位相変調素子23の省略であるが、これと同様にして、空間光変調素子と、レーザ走査型共焦点観察装置との組み合わせにおいても、位相変調素子23を省略することが可能である。すなわち、図17,図18において、ダイクロイックプリズム36に代えてミラー49を採用し、ビームエキスパンダ45と空間光変調素子64,66との間にダイクロイックミラー46を採用して分岐光路をなし、さらに結像レンズ24、共焦点ピンホール43、および光検出器44を採用した上で、位相変調素子23の機能を空間光変調素子64,66に担わせることができる。この場合の空間光変調素子64,66は、レーザ光源41からのレーザ光に対しては、波面錯乱素子として波面に乱れを付与する一方で、観察対象物Aからの蛍光に対しては、位相変調素子17によって付与された波面の乱れを打ち消す波面回復素子として作用する。
 位相変調素子としては、例えば、図24に示されるような、シリンドリカルレンズ17,23を採用することにしてもよい。
 この場合には、シリンドリカルレンズ17によって中間像は非点収差によって点像が線状に伸ばされるので、この作用により、中間像を不鮮明化することができ、これと相補的な形状のシリンドリカルレンズ23により、最終像を鮮明化することができる。
 図24の場合、凸レンズまたは凹レンズのいずれを波面錯乱素子として使用してもよいし、波面回復素子として使用してもよい。
 位相変調素子としてシリンドリカルレンズ5,6を用いる場合の作用について、以下に詳細に説明する。図25は、図2および図3における位相変調素子としてシリンドリカルレンズ5,6を用いた例を示す。
 ここでは、特に、下記条件を設定する。
 (a)物体O側の位相変調素子(波面錯乱素子)5として、x方向にパワーψOを有するシリンドリカルレンズを用いる。
 (b)像I側の位相変調素子(波面回復素子)6として、x方向にパワーψIを有するシリンドリカルレンズを用いる。
 (c)xz平面上の軸上光線Rのシリンドリカルレンズ5における位置(光線高さ)をxとする。
 (d) xz平面上の軸上光線Rのシリンドリカルレンズ6における位置(光線高さ)をxとする。
 図25において、符号II〇X,II〇Yは中間像である。
 この例における作用を説明する前に、ガウス光学に基づく位相変調量と光学パワーとの関係について、図26を用いて説明する。
 図26において、高さ(光軸からの距離)xでのレンズの厚さをd(x)、高さ0(光軸上)でのレンズの厚さをdとすると、高さxの光線に沿った入射側接平面から射出側接平面までの光路長L(x)は次式(4)で表される。
  L(x)=(d-d(x))+n・d(x)・・・・・(4)
 高さxにおける光路長L(x)と高さ0(光軸上)における光路長L(0)との差は、薄肉レンズとしての近似を用いると、次式(5)で表される。
  L(x)-L(0)=(-x/2)(n-1)(1/r-1/r)・・・・・(5)
 上記光路長差L(x)-L(0)は、高さ0における射出光に対する、高さxにおける射出光の位相進み量と、絶対値が等しく符号が逆である。したがって、上記位相進み量は、式(5)の符号を反転させた次式(6)で表される。
  L(0)-L(x)=(x/2)(n-1)(1/r-1/r)・・・・・(6)
 一方、この薄肉レンズの光学パワーψは、次式(7)で表される。
  ψ=1/f=(n-1)(1/r-1/r)・・・・・(7)
 したがって、式(6)、(7)から位相進み量L(0)-L(x)と光学パワーψとの関係が次式(8)によって求められる。
  L(0)-L(x)=ψ・x/2・・・・・(8)
 ここで、図25の説明に戻る。
 xz面上の軸上光線Rがシリンドリカルレンズ5において受ける軸上主光線すなわち光軸に沿った光線Rに対する位相進み量ΔLOcは、式(8)に基づいて次式(9)で表される。
  ΔLOc(x)=LOc(0)-LOc(x)=ψOx・x /2・・・・・(9)
 ここで、LOc(x)はシリンドリカルレンズ5における高さxの光線に沿った、入射側接平面から射出側接平面までの光路長の関数である。
 これと同様にして、xz平面上の軸上光線Rがシリンドリカルレンズ6において受ける、軸上主光線すなわち光軸に沿った光線Rに対する位相進み量ΔLIcは、次式(10)で表される。
  ΔLIc(x)=LIc(0)-LIc(x)=ψIx・x /2・・・・・(10)
 ここで、LIc(x)はシリンドリカルレンズ6における高さxの光線に沿った、入射側接平面から射出側接平面までの光路長の関数である。
 上記式(2)に式(9)、(10)および(x/x)2=β の関係を適用すると、この例において、シリンドリカルレンズ5が波面錯乱、シリンドリカルレンズ6が波面回復の機能をそれぞれ果たすための条件が式(11)に示すように求められる。
  ψOx/ψIx=-β ・・・・・(11)
 すなわち、ψOxとψIxの値は互いに符号が逆であり、かつ、それらの絶対値の比はフィールドレンズ4の横倍率の2乗に比例する必要がある。
 なお、ここでは軸上光線に基づいて説明したが、上記条件を満たすならば、シリンドリカルレンズ5,6は軸外光線に対しても同様に波面錯乱と波面回復の機能を果たす。
 また、位相変調素子5,6,17,23(図においては、位相変調素子5,6として表示。)としては、シリンドリカルレンズに代えて、図27に示されるような1次元バイナリ回折格子、図28に示されるような1次元正弦波回折格子、図29に示されるような自由曲面レンズ、図30に示されるようなコーンレンズ、図31に示されるような同心円型バイナリ回折格子を採用してもよい。同心円型回折格子としてはバイナリ型に限定されるものではなく、ブレーズド型、正弦波型等の任意の形態を採用することができる。
 ここで、波面変調素子として回折格子5,6を用いた場合について、以下に詳細に説明する。
 この場合の中間像IIにおいては回折によって1つの点像が複数の点像に分離される。
 この作用によって、中間像IIが不鮮明化され、中間結像面の異物の像が最終像に重なって表れることを防止することができる。
 位相変調素子として、回折格子5,6を用いた場合における軸上主光線、すなわち、光軸に沿った光線Rの好ましい経路の一例を図32に、また、軸上光線Rの好ましい経路の一例を図33にそれぞれ示す。これらの図において、光線R,Rは回折格子5を経て複数の回折光に分離するが、回折格子6を経ることにより元通りの1本の光線になる。
 この場合においても、上記式(1)から(3)を満たすことによって上記効果を達成することができる。
 ここで、図32および図33に準じて、式(2)は「1本の軸上光線RXが回折格子5,6で受ける位相変調の和は、軸上主光線RAが回折格子5,6で受ける位相変調の和と常に等しい。」と言い換えることができる。
 また、回折格子5,6が周期構造を有する場合、それらの形状(すなわち位相変調特性)が一周期分の領域において式(2)を満たすならば、他の領域においても同様に満たすとみなすことができる。
 そこで、回折格子5,6の中央部、すなわち、光軸近傍領域に着目して説明する。図34は回折格子5の、図35は回折格子6の、それぞれ中央部の詳細図である。
 ここで、回折格子5,6が式(2)を満たすための条件は以下の通りである。
 すなわち、回折格子6における変調の周期pがフィールドレンズ4によって投影された回折格子5による変調の周期pと等しく、回折格子6による変調の位相がフィールドレンズ4によって投影された回折格子5による変調の位相に対して反転しており、かつ、回折格子6による位相変調の大きさと回折格子6による位相変調の大きさとが絶対値で等しくなければならない。
 まず、周期pと投影された周期pとが等しくなるための条件は式(12)により表される。
  p=|β|・p・・・・・(12)
 次に、回折格子6による変調の位相が投影された回折格子5による変調の位相に対して反転しているためには、上記式(12)を満たした上で、例えば、回折格子5はその山領域の中心の1つが光軸と一致するように配置されるとともに、回折格子6はその谷領域の中心の1つが光軸と一致するように配置されればよい。図34および図35はその一例にならない。
 最後に、回折格子6による位相変調の大きさと、回折格子5による位相変調の大きさとが絶対値で等しいための条件を求める。
 回折格子5の光学的なパラメータ(山領域厚さtOc、谷領域厚さtOt、屈折率n)より、回折格子5の谷領域を透過する軸上光線Rに付与される、光軸に沿った(山領域を透過する)光線Rに対する位相進み量ΔLOdtは、次式(13)で表される。
  ΔLOdt=n・tOc-(n・tOt+(tOc-tOt))=(n-1)(tOc-tOt)・・・・・(13)
 同様にして、回折格子6の光学的なパラメータ(山領域厚さtIc、谷領域厚さtIt、屈折率n)より、回折格子6の山領域を透過する軸上光線Rに付与される、光軸に沿った(谷領域を透過する)光線Rに対する位相進み量ΔLIdtは、次式(14)で表される。
  ΔLIdt=(n・tIt+(tIc-tIt))-n・tIc=-(n-1)(tIc-tIt)・・・・・(14)
 この場合、ΔLOdtの値は正、ΔLIdtの値は負なので、両者の絶対値が等しいための条件は次式(15)で表される。
  ΔLOdt+ΔLIdt=(n-1)(tOC-tOt)-(nOt-1)(tIc-tIt)=0・・・・・(15)
 なお、ここでは軸上光線に基づいて説明したが、上記条件を満たすならば、軸外光線に対しても、回折格子5は波面散乱、回折格子6は波面回復の機能を果たす。
 また、ここでは回折格子5,6の断面形状を台形として説明したが、他の形状でも同様の機能を果たし得ることは言うまでもない。
 さらに、位相変調素子5,6としては、図36に示されるような球面収差素子、図37に示されるような不規則形状素子、図38に示されるような透過型の空間光変調素子64との組み合わせによる反射型の波面変調素子、図39に示されるような屈折率分布型素子を採用してもよい。
 さらにまた、位相変調素子5,6としては、多数の微小なレンズが並んだフライアイレンズやマイクロレンズアレイ、あるいは多数の微小なプリズムが並んだマイクロプリズムアレイを採用してもよい。
 また、上記実施形態に係る結像光学系1を内視鏡に適用する場合には、図40に示されるように、対物レンズ(結像レンズ)70の内部に位相錯乱素子5を配置し、複数のフィールドレンズ4および集光レンズ71を含むリレー光学系72を挟んで対物レンズ70とは反対側に配置された接眼レンズ73近傍に位相回復素子6を配置すればよい。このようにすることで、フィールドレンズ4の表面近傍に形成される中間像を不鮮明化し、接眼レンズ73によって結像される最終像を鮮明化することができる。
 また、図41に示されるように、アクチュエータ62によってレンズ61aを駆動するインナーフォーカス機能付き内視鏡型細径対物レンズ74内に、波面錯乱素子5を設け、顕微鏡本体75に設けられたチューブレンズ(結像レンズ)76の瞳位置近傍に波面回復素子6を配置してもよい。このように、アクチュエータ自身は公知なレンズ駆動手段(たとえば圧電素子)でもよいが、Z軸上での中間像の移動という点では上述した実施形態と同様の観点で中間像の空間変調を実行できるよう配置であることが重要である。
 以上に説明した実施形態は、Z軸上での中間像の移動という観点で、空間変調による中間像の不鮮明化を観察装置の結像光学系に適用する場合を論じたものである。もう一つの観点であるXY軸(あるいはXY面)上での中間像の移動という観点で、同様に、観察装置(顕微鏡装置)に適用する場合を以下に論ずる。したがって、本発明は、Z軸上での光走査だけでなく、XY面上での光走査についても、上述した波面調整手段を設けることで光走査の過程で生じ得る収差を効果的に低減することができる結像光学系、照明装置および結像光学系を有する観察装置(顕微鏡装置)を含むものである。さらに、本発明は、Z軸上およびXY軸上での両方の中間像の移動を組合せた三次元的な観察にも適用できる。以下の態様は、XY軸上での中間像の移動について詳しく述べる。Z軸上での中間像の場合によっては交替させたり、同時に実行するように適用することも望ましい。以下では、Z軸上での中間像の移動のみを実行するための移動手段と区別するために、XY軸上での中間像の移動のみを実行するための移動手段をスキャナと称する。かかるスキャナに関する以下の説明においても、XY軸上での中間像の移動の間の一部または全部においてXY軸上の面形状がZ軸方向に変化し得る場合には、Z軸上での中間像の移動という観点での課題解決が含まれる。
 本発明の一態様は、最終像および少なくとも1つの中間像を形成する複数の結像レンズと、該結像レンズにより形成されるいずれかの前記中間像よりも物体側に配置され、前記物体からの光の波面に空間的な乱れを付与する第1の位相変調素子と、該第1の位相変調素子との間に少なくとも1つの中間像を挟む位置に配置され、前記第1の位相変調素子により前記物体からの光の波面に付与された空間的な乱れを打ち消す第2の位相変調素子とを備える結像光学系と、該結像光学系の物体側に配置され、該結像光学系に入射させる照明光を発生する光源と、光軸方向に間隔をあけて配置され、前記光源からの照明光を走査する第1のスキャナおよび第2のスキャナと、前記結像光学系の最終像位置に配置された観察対象物から発せられた光を検出する光検出器とを備え、前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子が、前記光源側に配置された前記第1のスキャナと光学的に共役な位置に配置されるとともに、前記第1のスキャナによる照明光の走査方向に一致する方向に変化する一次元的な位相分布特性を有する観察装置を提供する。
 本態様によれば、光源から発せられた照明光が結像レンズの物体側から入射されると、結像レンズによって集光されることにより最終像を結像する。この過程において、中間像の一つよりも物体側に配置された第1の位相変調素子を通過することにより、照明光の波面に空間的な乱れが付与され、結像される中間像はぼやけて不鮮明化する。また、中間像を結像した照明光は第2の位相変調素子を通過することにより、第1の位相変調素子によって付与された波面の空間的な乱れが打ち消される。これにより、第2の位相変調素子以降においてなされる最終像の結像においては、鮮明な像を得ることができる。
 すなわち、中間像をぼやけさせ不鮮明化させることにより、表面や内部に傷、異物あるいは欠陥等が存在する光学素子の近傍に中間像が位置する場合であっても、該傷や異物あるいは欠陥等が中間像に重なって、最終的に最終像の一部として形成されてしまう不都合の発生を防止することができる。
 また、光源からの照明光は第1のスキャナおよび第2のスキャナによって二次元的に走査されることにより、観察対象物に結像された最終像を二次元的に走査させることができる。この場合において、第1のスキャナを作動させると、照明光の光束は一次元的な直線方向に移動するが、第1のスキャナと第2の位相変調素子とが光学的に共役な位置に配置されているために、第2の位相変調素子を通過する光束の位置は変動しない。
 一方、第1のスキャナに対して光軸方向に間隔をあけた第2のスキャナは、第2の位相変調素子とは光学的に共役な位置関係に配置されないため、第2のスキャナを作動させると、照明光の光束は、第2の位相変調素子の通過位置を変化させるように移動する。第2の位相変調素子の位相分布特性の変化する方向が第1のスキャナによる照明光の走査方向に一致するので、これに直交する方向すなわち第2のスキャナによる照明の走査方向には、位相分布特性が変化しておらず、照明光の光束の通過位置が変化しても照明光に付与される位相の変調は変化しない。
 したがって、本態様によれば、光軸方向に間隔をあけた第1のスキャナおよび第2のスキャナのどちらを作動させても、照明光の走査の状態から影響を受けることなく、第2の位相変調素子による位相変調を変化させずに一定の状態を保つことが可能であり、第1の位相変調素子によって付与された波面の空間的な乱れを完全に打ち消すことができる。
 上記態様においては、前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子がレンチキュラー素子であってもよい。また、上記態様においては、前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子がプリズムアレイであってもよい。
また、上記態様においては、前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子が回折格子であってもよい。また、上記態様においては、前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子がシリンドリカルレンズであってもよい。
 また、本発明の他の態様は、最終像および少なくとも1つの中間像を形成する複数の結像レンズを備える結像光学系と、該結像光学系の物体側に配置され、該結像光学系に入射させる照明光を発生する光源と、光軸方向に間隔をあけて配置され、前記光源からの照明光を走査する第1のスキャナおよび第2のスキャナと、前記結像光学系の最終像位置に配置された観察対象物から発せられた光を検出する光検出器とを備える観察装置における最終像の鮮明化方法であって、前記結像レンズにより形成されるいずれかの前記中間像よりも物体側の前記第1のスキャナと光学的に共役な位置に、前記光源からの照明光の波面に空間的な乱れを付与する第1の位相変調素子を配置し、該第1の位相変調素子との間に少なくとも1つの中間像を挟んだ前記第1のスキャナと光学的に共役な位置に、前記第1のスキャナによる照明光の走査方向に一致する方向に変化する一次元的な位相分布特性を有し、前記第1の位相変調素子により前記物体からの光の波面に付与された空間的な乱れを打ち消す第2の位相変調素子を配置する最終像の鮮明化方法を提供する。
 XY軸上での中間像の移動において、本発明の態様によれば、中間像が光学素子に一致する位置で結像されても、中間像に光学素子の傷、異物および欠陥等が重なることを防止して鮮明な最終像を取得することができるという効果を奏する。
 本発明の一実施形態に係る観察装置101および最終像の鮮明化方法について、図面を参照して以下に説明する。本実施形態に係る観察装置101は、例えば、多光子励起顕微鏡である。観察装置101は、図42に示されるように、観察対象物Aに極短パルスレーザ光(以下、単にレーザ光(照明光)という。)を照射する照明装置102と、該照明装置102によるレーザ光の照射により観察対象物Aにおいて発生する蛍光を光検出器105に導く検出器光学系104と、該検出器光学系104により導かれた蛍光を検出する光検出器105とを備えている。
 照明装置102は、レーザ光を発生する光源106と、該光源106からのレーザ光を観察対象物Aに照射する結像光学系103とを備えている。結像光学系103は、光源106からのレーザ光のビーム径を拡大するビームエキスパンダ107と、該ビームエキスパンダ107を通過したレーザ光を集光して中間像を結像しその結像位置を光軸Sに沿う方向に移動させるZ走査部108と、該Z走査部108を通過して中間像を結像したレーザ光を略平行光にするコリメートレンズ109とを備えている。
 また、結像光学系103は、コリメートレンズ109により略平行光となったレーザ光を通過させる位置に配置された波面錯乱素子(第1の位相変調素子)110と、Z走査部108により形成された中間像をリレーする複数対のリレーレンズ対(結像レンズ)111,112と、該リレーレンズ対111,112間に配置された光源106側のガルバノミラー(第1のスキャナ)113aと観察対象物A側のガルバノミラー(第2のスキャナ)113bとからなるXY走査部113と、リレーレンズ対111,112を通過して略平行光となったレーザ光を通過させる位置に配置された波面回復素子(第2の位相変調素子)114と、該波面回復素子114を通過したレーザ光を集光して観察対象物Aに照射する一方、観察対象物Aにおけるレーザ光の
集光点(最終像IF)において発生した蛍光を集光する対物レンズ(結像レンズ)115とを備えている。
 Z走査部108は、ビームエキスパンダ107によりビーム径を拡大させられたレーザ光を集光する集光レンズ108aと、該集光レンズ108aを光軸Sに沿う方向に移動させるアクチュエータ108bとを備えている。アクチュエータ108bにより集光レンズ108aを光軸Sに沿う方向に移動させることで、その結像位置を光軸Sに沿う方向に移動させることができるようになっている。
 波面錯乱素子110は、光を透過可能な光学的に透明な材料により構成されたレンチキュラー素子である。波面錯乱素子110は、レーザ光が透過する際に、表面116の形状に従って光軸Sに直交する一次元方向に変化する位相変調をレーザ光の波面に付与するようになっている。本実施形態においては、光源106からのレーザ光を1回透過させることにより、必要な波面の乱れを付与するようになっている。
 リレーレンズ対111は、コリメートレンズ109によって略平行光となったレーザ光を一方のレンズ111aによって集光して中間像IIを形成した後に、拡散するレーザ光を他方のレンズ111bによって再度集光して略平行光に戻すようになっている。本実施形態においては、2つのリレーレンズ対111,112はXY走査部113を光軸Sに沿う方向に挟むように間隔をあけて配置されている。
 ガルバノミラー113a,113bは、それぞれ光軸Sに直交して互いにねじれの位置関係にある軸線回りに揺動可能に設けられている。これらのガルバノミラー113a,113bは、揺動させられることによって、レーザ光の傾き角度を光軸Sに直交する二次元方向に変化させ、対物レンズ115による最終像IFの位置を光軸Sに交差する二次元方向に走査させることができるようになっている。
 波面回復素子114は、光を透過可能な光学的に透明な材料により構成された、波面錯乱素子110とは逆の位相分布特性を有するレンチキュラー素子である。波面回復素子114は、レーザ光が透過する際に、表面117の形状に従って光軸Sに直交する一次元方向にのみ変化する位相変調を光の波面に付与し、波面錯乱素子110により付与された波面の乱れを打ち消すようになっている。
 本実施形態においては、2つのガルバノミラー113a,113bは、光軸Sに沿う方向に間隔をあけて配置され、かつ、それらの中間位置113cが、対物レンズ115の瞳位置POBと光学的に略共役な位置となるように配置されている。
 また、光源106側のガルバノミラー113aは、波面錯乱素子110および波面回復素子114と光学的に共役な位置に配置されている。これにより、光源106側のガルバノミラー113aが揺動させられてレーザ光に傾き角度が付与されても、図43に示されるように、該レーザ光の光束Pの中心光線Raは、波面回復素子114の表面117において、光軸Sと交わる。すなわち、レーザ光の光束Pは波面回復素子114における通過位置を変化させることなく、同一領域を通過させられるようになっている。
 そして、このガルバノミラー113aは、その揺動方向(図38における矢印Xの方向)を、波面回復素子114の位相分布特性が変化する方向に一致させて配置されている。
 上述したようにガルバノミラー113aの揺動に関わらず、レーザ光の光束Pが波面回復素子114の同一領域を通過するので、ガルバノミラー113aが揺動してもレーザ光に付与する位相変調を変化させずに済むようになっている。
 一方、観察対象物A側のガルバノミラー113bは、波面回復素子114とは光学的に非共役な位置に配置されている。これにより、観察対象物A側のガルバノミラー113bが揺動させられてレーザ光に傾きが付与されると、図44に示されるように、該レーザ光の光束Pの中心光線Rbは、波面回復素子114の表面において光軸Sから離れることになる。そしてこのガルバノミラー113bは、その揺動方向(図44における矢印Yの方向)を、波面回復素子114の位相分布特性が変化する方向に直交する方向(位相分布特性が変化しない方向)に一致させて配置されている。これにより、観察対象物A側のガルバノミラー113bが揺動させられてこの揺動に対応する傾きが光源106側のガルバノミラー113aからのレーザ光に付与されると、図45に示されるように、レーザ光に付与された傾きによって、波面回復素子114におけるレーザ光の光束Pの通過位置が波面回復素子114の位相分布特性が変化しない方向に移動するようになっている。
 なお、上述したように、ガルバノミラー113a,113bはいずれもが、対物レンズ115の瞳位置POBに対して非共役な位置に配置されているので、ガルバノミラー113a,113bの揺動によって、レーザ光の光束Pは、対物レンズ115の瞳位置POBにおいて、図46に示されるように、矢印Xおよび矢印Yの二次元方向に移動する。しかしながら、その移動範囲は、対物レンズ115の瞳位置POBに配置されている開口絞り118の開口部118aに蹴られることなく通過可能な微小範囲の移動に留められる。
 検出器光学系104は、対物レンズ115によって集光された蛍光をレーザ光の光路から分岐するダイクロイックミラー119と、該ダイクロイックミラー119によって分岐された蛍光を集光する2つの集光レンズ104a,104bとを備えている。光検出器105は、例えば、光電子増倍管であり、入射された蛍光の強度を検出するようになっている。
 このように構成された本実施形態に係る観察装置101の作用について以下に説明する。
 本実施形態に係る観察装置101を用いて観察対象物Aを観察するには、光源106から発せられたレーザ光を結像光学系103によって観察対象物Aに照射する。レーザ光は、まず、ビームエキスパンダ107によってビーム径が拡大され、Z走査部108、コリメートレンズ109および波面錯乱素子110を通過させられる。
 レーザ光は、Z走査部108の集光レンズ108aによって集光され、アクチュエータ108bの作動によって集光位置を光軸Sに沿う方向に調節することができる。また、レーザ光は、波面錯乱素子110を通過させられることにより、波面に空間的な乱れが付与される。
 レーザ光はその後、2つのリレーレンズ対111,112とXY走査部113とを通過させられることにより、中間像IIを形成しながら光束Pの傾き角度を変化させられて、ダイクロイックミラー119を通過する。そして、ダイクロイックミラー119を通過したレーザ光は、波面回復素子114を通過して波面錯乱素子110によって付与された空間的な乱れを打ち消されて対物レンズ115により集光され、最終像Iが観察対象物Aに結像される。
 結像光学系103によって結像される最終像Iの位置であるレーザ光の合焦点位置は、アクチュエータ108bの作動によって集光レンズ108aを移動させることで、光軸Sに沿う方向に移動させられる。これにより、観察対象物Aの観察深さを調節することができる。また、ガルバノミラー113a,113bの揺動によって、観察対象物Aにおけるレーザ光の合焦位置を光軸Sに直交する方向に二次元的に走査させることができる。
 波面錯乱素子110によって波面の空間的な乱れが付与されたレーザ光は、リレーレンズ対111,112によって複数の中間像IIが形成されても、波面錯乱素子110をなすレンチキュラー素子すなわちシリンドリカルレンズアレイの作用により、一つの光束Pが多数の小光束に分割された上で非点収差が付与される。これにより、本来は一つである点像が、一直線上に並んだ多数の円形像、あるいは楕円形像、あるいは線形像の集まりとして、不鮮明化されて結像される。そして、レーザ光は、波面回復素子14を通過することにより、波面錯乱素子110によって付与された波面の空間的な乱れが打ち消されるので、波面回復素子114以降においてなされる最終像Iの結像においては、鮮明な像を得ることができる。
 すなわち、中間像IIが不鮮明化されてぼやけることにより、表面や内部に傷、異物あるいは欠陥等が存在する光学素子の近傍に中間像IIが位置する場合であっても、該傷や異物あるいは欠陥等が中間像IIに重なって、観察対象物Aに形成される最終像Iが不鮮明になることを防止することができる。その結果、最終像Iとして極めて小さいスポットを結像させることができる。
 この場合において、光源106側のガルバノミラー113aが揺動させられても、レーザ光の光束Pは一次元的な直線方向に移動するが、このガルバノミラー113aと光学的に共役な位置関係にある波面回復素子114における光束Pは、矢印Xの方向において同一領域を通過する。したがって、ガルバノミラー113aの揺動に関わらず、波面回復素子114によってレーザ光に付与される位相変調を変化させずに済む。
 一方、観察対象物A側のガルバノミラー113bが揺動させられると、このガルバノミラー113bの揺動によってレーザ光の光束Pの傾きが変動させられて波面回復素子114における光束Pの通過位置が矢印Yの方向に移動する。矢印Yの方向は波面回復素子114の位相分布特性が変化しない方向に一致するので、光束Pの通過位置の移動によって波面回復素子114の矢印Yの方向において異なる領域を通過しても付与される位相変調は変化しない。したがって、ガルバノミラー113bが揺動しても、波面回復素子114によってレーザ光に付与される位相変調を変化させずに済む。
 その結果、2つのガルバノミラー113a,113bを揺動させてレーザ光を二次元方向に走査しても、レーザ光の走査の状態から影響を受けることなく、波面回復素子114によって常に一定の位相変調を付与することができ、波面錯乱素子110によって付与された波面の空間的な乱れを完全に打ち消すことができる。
 そして、観察対象物Aに極めて小さいスポットが結像されることにより、極めて小さい領域において光子密度を高めて蛍光を発生させることができる。そして、発生した蛍光を対物レンズ115によって集光し、ダイクロイックミラー119によって分岐し、検出器光学系104によって蛍光を光検出器105へ導くことによって検出することができる。
 光検出器105によって検出された蛍光強度が、ガルバノミラー113a,113bによる矢印X,Yの方向の位置およびアクチュエータ108bによる光軸Sに沿う方向の位置によって三次元的なレーザ光の走査位置と対応付けて記憶されることにより、観察対象物Aの蛍光画像が取得される。すなわち、本実施形態に係る観察装置101によれば、各走査位置において、極めて小さいスポットの領域において蛍光を発生させるので、空間分解能の高い蛍光画像を取得することができるという利点がある。
 また、本実施形態に係る観察装置101は、2つのガルバノミラー113a,113b間にリレーレンズ対を配置する必要がないため、装置の部品点数を少なくすることができる。また、リレーレンズ対を配置せずにガルバノミラー113a,113bを近接させて配置する構成を取ることによって、装置の小型化を図ることができる。
 なお、本実施形態においては波面錯乱素子110および波面回復素子114として、レンチキュラー素子を例示したが、これに代えて、一次元的な位相分布特性を有するものを採用してもよい。例えば、プリズムアレイ、回折格子、あるいはシリンドリカルレンズ等を採用してもよい。
 また、本実施形態においては、XY軸上での中間像の移動手段である第1のスキャナおよび第2のスキャナとしてガルバノミラー113a,113bを例示したが、これらのうちの片方または両方に別の種類のスキャナを代えて用いても良い。例えば、ポリゴンミラー、AOD(音響光学素子)、KTN(タンタル酸ニオブ酸カリウム)結晶等を採用しても良い。
 また、本実施形態に係る観察装置101は、多光子励起顕微鏡を例示したが、これに代えて、共焦点顕微鏡に適用してもよい。
 これによれば、鮮明化された最終像IFとして観察対象物Aに極めて小さいスポットが結像されることにより、極めて小さい領域において光子密度を高めて蛍光を発生させることができ、共焦点ピンホールを通過する蛍光を増加させて明るい共焦点画像を取得することができる。
 さらにまた、共焦点顕微鏡として共焦点ピンホールを通過する蛍光を検出するのに代えて、共焦点ピンホールを通過する、観察対象物Aにおいて反射または散乱した光を検出することとしても良い。
 また、本実施形態においては、観察装置101として本発明を説明したが、本発明は最終像の鮮明化方法としても捉えることができる。
すなわち、本発明の一実施形態に係る最終像の鮮明化方法は、図42に示される観察装置101から波面錯乱素子110および波面回復素子114を除いた一般的なレーザ走査型多光子励起顕微鏡の最終像IFを鮮明化する方法である。
 本実施形態に係る最終像の鮮明化方法は、光源106側のガルバノミラー113aと光源106との間のガルバノミラー113aと光学的に共役な位置に波面錯乱素子110を配置し、対物ンズ115の後ろ側の光源106側のガルバノミラー113aと光学的に共役な位置に、波面回復素子114を配置するものである。波面回復素子114は、その位相分布特性が、ガルバノミラー113aによるレーザ光の走査方向(矢印Xの方向)に一致するように配置する。
 この最終像の鮮明化方法によれば、ガルバノミラー113a,113bの揺動角度に関わらず、波面錯乱素子110によって付与された波面の空間的な乱れを波面回復素子114によって打ち消すことができる。したがって、中間像IIが不鮮明化されて中間像II結像位置にある異物の像が中間像IIに重なることを防止し、最終像Iを鮮明化することができる。すなわち、既存の一般的な走査型多光子励起顕微鏡に波面錯乱素子110と波面回復素子114とをアドオンするだけで、最終像Iを鮮明化することができ、空間分解能の高い画像を取得することができるという利点がある。
 次に、本実施形態に係る観察装置101の実施例について、図47を用いて以下に説明する。
 本実施形態に係る観察装置101は、照明装置102、検出器光学系104、および光検出器105を備えている。また、対物レンズ115の瞳位置POBから波面回復素子114までの距離aは、式(16)の条件を満足する。
  a=b(fTL/fPL)2・・・・・(16)
 ここで、bは2つのガルバノミラー113a,113bに挟まれて位置する対物レンズ115の瞳位置POBに略共役な位置113cから光源106側のガルバノミラー113aまでの距離、fPLはリレーレンズ対112の光源106側のレンズ112aの焦点距離、fTLはリレーレンズ対112の観察対象物A側のレンズ112bの焦点距離を示している。また、対物レンズ115のねじ後端から波面回復素子114までの距離cは、式(17)の条件を満足する。
  c=a-(d+e)・・・・・(17)
 ここで、dは対物レンズ115のねじ突出量、eは対物レンズ115の胴付面から対物レンズ115の瞳位置POBまでの距離を示している。
 本実施例における各値は以下の通りである。
  b=2.7(mm)
  fPL=52(mm)
  fTL=200(mm)
  d=5(mm)
  e=28(mm)
となる。
 したがって、式(16)よりa=39.9(mm)が算出され、式(17)よりc=6.9(mm)が算出される。その結果、波面回復素子114は、対物レンズ115の外枠に接触することなく、対物レンズ115の後ろ側の光源106側のガルバノミラー113aと光学的に共役な位置に配置される。
 以上のXY軸上での中間像の移動に関する上記態様によれば、本発明は、Z軸上での中間像の移動に関する上記態様と組合せることが顕微鏡観察を一層有益なものとする。したがって、本発明は、図1から図16で参照されるようなZ軸上で移動する中間像の不鮮明化という観点に対し、図42から図47で例示されたXY軸上での中間像の不鮮明化という観点に基づき、次のような付記項も含まれる。
 (付記項1)最終像および少なくとも1つの中間像を形成する複数の結像レンズと、該結像レンズにより形成されるいずれかの前記中間像よりも物体側に配置され、前記物体からの光の波面に空間的な乱れを付与する第1の位相変調素子と、該第1の位相変調素子との間に少なくとも1つの中間像を挟む位置に配置され、前記第1の位相変調素子により前記物体からの光の波面に付与された空間的な乱れを打ち消す第2の位相変調素子とを備える結像光学系と、該結像光学系の物体側に配置され、該結像光学系に入射させる照明光を発生する光源と、光軸方向に間隔をあけて配置され、前記光源からの照明光を走査する第1のスキャナおよび第2のスキャナと、前記結像光学系の最終像位置に配置された観察対象物から発せられた光を検出する光検出器とを備え、前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子が、前記光源側に配置された前記第1のスキャナと光学的に共役な位置に配置されるとともに、前記第1のスキャナによる照明光の走査方向に一致する方向に変化する一次元的な位相分布特性を有する、Z軸走査型顕微鏡装置に適用される観察装置。
 (付記項2)前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子がレンチキュラー素子である付記項1に記載の観察装置。
 (付記項3)前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子がプリズムアレイである付記項1に記載の観察装置。
 (付記項4)前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子が回折格子である付記項1に記載の観察装置。
 (付記項5)前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子がシリンドリカルレンズである付記項1に記載の観察装置。
 (付記項6)Z軸走査型顕微鏡装置の作動と共に適用され、最終像および少なくとも1つの中間像を形成する複数の結像レンズを備える結像光学系と、該結像光学系の物体側に配置され、該結像光学系に入射させる照明光を発生する光源と、光軸方向に間隔をあけて配置され、前記光源からの照明光を走査する第1のスキャナおよび第2のスキャナと、前記結像光学系の最終像位置に配置された観察対象物から発せられた光を検出する光検出器とを備える観察装置における最終像の鮮明化方法であって、前記結像レンズにより形成されるいずれかの前記中間像よりも物体側の前記第1のスキャナと光学的に共役な位置に、前記光源からの照明光の波面に空間的な乱れを付与する第
1の位相変調素子を配置し、該第1の位相変調素子との間に少なくとも1つの中間像を挟んだ前記第1のスキャナと光学的に共役な位置に、前記第1のスキャナによる照明光の走査方向に一致する方向に変化する一次元的な位相分布特性を有し、前記第1の位相変調素子により前記物体からの光の波面に付与された空間的な乱れを打ち消す第2の位相変調素子を配置する最終像の鮮明化方法。
 また、上記付記項によれば、次のように上記態様を要約することもできる。
 すなわち、上記付記項においては、中間像が光学素子に一致する位置で結像されても、中間像に光学素子の傷、異物および欠陥等が重なることを防止して鮮明な最終像を取得することが技術的課題であるといえる。また、上記付記項による技術課題を解決する手段は、概して図42に示されるように、最終像IFと中間像IIとを形成する結像レンズ111,112,115と、いずれかの中間像IIより物体側に配置され光の波面に空間的な乱れを付与する第1の位相変調素子110と、1以上の中間像IIより最終像IF側に配置され光の波面に付与された空間的な乱れを打ち消す第2の位相変調素子114とを備える結像光学系3と、物体側に配置される光源106と、光軸S方向に間隔をあけて配置された第1および第2のスキャナ113a,113bを備えるXY走査部113と、光を検出する光検出器105とを備え、2つの位相変調素子110,114が光源106側に配置された第1のスキャナ113aと光学的に共役な位置に配置され照明光の走査方向に一致する方向に変化する一次元的な位相分布特性を有する観察装置101を提供する。
 以上、本発明の各実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。例えば、本発明を上記各実施形態および変形例に適用したものに限定されることなく、これらの実施形態および変形例を適宜組み合わせた実施形態に適用してもよく、特に限定されるものではない。
 I  最終像
 II  中間像
 O  物体
 PP,PP  瞳位置
 1,13,32,42  結像光学系
 2,3  結像レンズ
 5  波面錯乱素子(第1の位相変調素子)
 6  波面回復素子(第2の位相変調素子)
 10,30,40,50,60,130  観察装置(顕微鏡装置)
 11,31,41  光源
 14,33  撮像素子(光検出器)
 17,23  位相変調素子
 20,36  ビームスプリッタ
 22  光路長可変手段
 22a  平面鏡
 22b  アクチュエータ
 34  ニポウディスク型コンフォーカル光学系
 43  共焦点ピンホール
 44  光検出器(光電子変換素子)
 61a  レンズ(光路長可変手段)
 62  アクチュエータ(光路長可変手段)
 64  空間光変調素子(可変空間位相変調素子)
 101  観察装置
 103  結像光学系
 105  光検出器
 106  極短パルスレーザ光(光源)
 110  波面錯乱素子(第1の位相変調素子)
 111,112  リレーレンズ対(結像レンズ)
 113  XY走査部
 113a  ガルバノミラー(第1のスキャナ)
 113b  ガルバノミラー(第2のスキャナ)
 114  波面回復素子(第2の位相変調素子)
 115  対物レンズ(結像レンズ)

Claims (21)

  1.  最終像および少なくとも1つの中間像を形成する複数の結像レンズと、
     該結像レンズにより形成されるいずれかの前記中間像よりも物体側に配置され、前記物体からの光の波面に空間的な乱れを付与する第1の位相変調素子と、
     該第1の位相変調素子との間に少なくとも1つの中間像を挟む位置に配置され、前記第1の位相変調素子により前記物体からの光の波面に付与された空間的な乱れを打ち消す第2の位相変調素子とを備え、
     前記結像レンズがハーシェルの条件を満たすように構成されたことを特徴とする結像光学系。
  2.  前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子が光学的に共役な位置に配置されている請求項1に記載の結像光学系。
  3.  前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子が、前記結像レンズの瞳位置近傍に配置されている請求項1または請求項2に記載の結像光学系。
  4.  いずれかの前記中間像を挟む位置に配置される2つの前記結像レンズ間の光路長を変更可能な光路長可変手段を備える請求項1から請求項3のいずれかに記載の結像光学系。
  5.  前記光路長可変手段が、光軸に直交して配置され前記中間像を形成する光を折り返すように反射する平面鏡と、該平面鏡を光軸方向に移動させるアクチュエータと、前記平面鏡により反射された光を2方向に分岐するビームスプリッタとを備える請求項4に記載の結像光学系。
  6.  いずれかの前記結像レンズの瞳位置近傍に配置され、光の波面に付与する空間的な位相変調を変更することにより、前記最終像位置を光軸方向に変化させる可変空間位相変調素子とを備える請求項1から請求項3のいずれかに記載の結像光学系。
  7.  前記第1の位相変調素子または前記第2の位相変調素子の少なくとも一方の機能が、前記可変空間位相変調素子によって担われる請求項6に記載の結像光学系。
  8.  前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子が、光軸に直交する1次元方向に変化する位相変調を光束の波面に付与する請求項4から請求項7のいずれかに記載の結像光学系。
  9.  前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子が、光軸に直交する2次元方向に変化する位相変調を光束の波面に付与する請求項4から請求項7のいずれかに記載の結像光学系。
  10.  前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子が、光を透過させる際に波面に位相変調を付与する透過型素子である請求項4から請求項9のいずれかに記載の結像光学系。
  11.  前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子が、光を反射させる際に波面に位相変調を付与する反射型素子である請求項4から請求項9のいずれかに記載の結像光学系。
  12.  前記第1の位相変調素子と前記第2の位相変調素子とが、相補的な形状を有する請求項4から請求項11のいずれかに記載の結像光学系。
  13.  前記第1の位相変調素子および前記第2の位相変調素子が、透明材料の屈折率分布によって波面に位相変調を付与する請求項10に記載の結像光学系。
  14.  請求項4から請求項13のいずれかに記載の結像光学系と、該結像光学系の物体側に配置され、該結像光学系に入射させる照明光を発生するための光源とを備える照明装置。
  15.  請求項4から請求項13のいずれかに記載の結像光学系と、該結像光学系の最終像側に配置され、観察対象物から発せられた光を検出する光検出器とを備える顕微鏡装置。
  16.  前記光検出器が、前記結像光学系の最終像位置に配置され、該最終像を撮影する撮像素子である請求項15に記載の顕微鏡装置。
  17.  請求項4から請求項13のいずれかに記載の結像光学系と、該結像光学系の物体側に配置され、該結像光学系に入射させる照明光を発生する光源と、
     前記結像光学系の最終像側に配置され、観察対象物から発せられた光を検出する光検出器とを備える顕微鏡装置。
  18.  前記光源および前記光検出器と前記結像光学系との間に配置されたニポウディスク型コンフォーカル光学系を備える請求項17に記載の顕微鏡装置。
  19.  前記光源がレーザ光源であり、
     前記光検出器が共焦点ピンホールおよび光電変換素子を備える請求項17に記載の顕微鏡装置。
  20.  請求項14に記載の照明装置と、
     該照明装置によって照明された観察対象物から発せられた光を検出する光検出器とを備え、
     前記光源がパルスレーザ光源である顕微鏡装置。
  21.  光スキャナを備え、
     該光スキャナが、前記第1の位相変調素子、前記第2の位相変調素子および前記結像レンズの瞳に対して光学的に共役な位置に配置されている請求項19または請求項20に記載の顕微鏡装置。
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