JP3269665B2 - アライメント検出装置及び該アライメント検出装置を用いた眼科装置 - Google Patents
アライメント検出装置及び該アライメント検出装置を用いた眼科装置Info
- Publication number
- JP3269665B2 JP3269665B2 JP22489692A JP22489692A JP3269665B2 JP 3269665 B2 JP3269665 B2 JP 3269665B2 JP 22489692 A JP22489692 A JP 22489692A JP 22489692 A JP22489692 A JP 22489692A JP 3269665 B2 JP3269665 B2 JP 3269665B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- alignment
- corneal reflection
- eye
- axis
- cornea
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Eye Examination Apparatus (AREA)
Description
測定系等とのアライメントを行うアライメント検出装置
及び該アライメント検出装置を用いた眼科装置に関す
る。
としては、角膜形状測定装置や眼屈折計やレンズメ−タ
等がある。眼科装置のアライメント状態(本明細書にお
けるアライメントとは、特に限定のない限り、上下左右
方向の位置合わせと光軸方向の位置合わせの双方を含む
ものとする)の検出機構としては、被検眼に角膜反射に
よるプルキンエ第一像を形成し、プルキンエ第一像を利
用した機構が知られている。即ち、TVモニタ等で観察
しながら、被検眼に対して測定部を相対的に移動させる
ことによって、プルキンエ第一像とアライメント用レチ
クルが所定の位置関係で、しかもプルキンエ第一像にピ
ントがあった状態に置くことによって、アライメントを
行う。この装置においては、被検眼にコリメ−トされた
光束で照明する等誤差の発生を押える等の工夫を施して
いる。また、被検眼の斜め方向からアライメント用光束
を投射すると共に、角膜頂点と装置とが所定の位置にあ
るときに受光素子が最大受光量を得るように配置された
アライメント機構も提案されている。
ンエ第一像にピントが合う位置から前後どちらに移動し
ても同じように大きくぼけるのでアライメント状態の検
出が困難であり、プルキンエ第一像へのフォ−カシング
操作(所定のワ−キングディスタンスの設定)も難しい
という欠点がある。また、誤差の発生も実際上さけられ
ない。また、後者の機構では受光素子の検出範囲が狭い
ので、アライメント状態の検出域が狭すぎるという問題
点がある。本発明は、上記従来装置の欠点に鑑みて、ア
ライメント状態が正確かつ容易に検出することができる
アライメント検出装置及び該アライメント検出装置を用
いた眼科装置を提供することを技術課題とする。
達成するために、以下のような特徴を有する。 (1) 被検眼と測定系等の検査ユニットとのアライメ
ントを行うアライメント検出装置において、異なった集
光状態で角膜に入射する指標を被検眼の角膜に向けてそ
れぞれ投影する光学系であって、該光学系は前記検査ユ
ニットの軸線に対して所定の角度(但し、0ではない)
の光軸を持つ投影光学系と、該投影光学系に投影された
前記角膜反射像の位置をそれぞれ検出する位置検出手段
と、該位置検出手段に基づいて前記測定系等の軸線に対
する角膜反射像の高さを得、各角膜反射像の高さの比較
によりワ−キングディスタンスの調整を判断する判断手
段と、を備えることを特徴とする。
おいて、前記判断手段により判断されたワーキングディ
スタンスの調整状態を表示する表示手段を有することを
特徴とする。
おいて、被検物と測定系等とのアライメント用レチクル
を配置し、前記判断手段により判断されたワーキングデ
ィスタンスの調整状態はアライメント用レチクルを変調
して表示することを特徴とする。
おいて、前記判断手段により判断されたワーキングディ
スタンスの調整状態に基づいて測定系等を駆動する駆動
手段を有することを特徴とする。
とのアライメントを行う眼科装置において、異なった集
光状態で角膜に入射する一対の指標を前記検査ユニット
の軸線に対して同一の角度(但し、0ではない)の光軸
を持ちしかも対称的な方向から被検眼の角膜に向けてそ
れぞれ投影する投影光学系と、該投影光学系に投影され
た前記指標の角膜反射像の位置をそれぞれ検出する位置
検出手段と、該位置検出手段に基づいて前記測定系等の
軸線に対する各指標の角膜反射像の高さを得、該角膜反
射像の高さの比較によりワ−キングディスタンスの調整
状態を判断する判断手段と、を備えることを特徴とす
る。
た例であり、図1は装置の光学系を示したものである。
1a,1b,1c,1d(1c,1dは図示せず)は近
赤外の光を出射する点光源であり、測定光軸lから等距
離の位置に等間隔で配置されており、その投影光軸は測
定光軸lに対して所定の角度をなしている。点光源1a
〜1dの少なくとも1つは他と光学的距離を変えること
ができる。本実施例では点光源1b〜1dを無限遠にお
くために投影光路にコリメ−タレンズ2b〜2dを配置
し、点光源1aの光路にはコリメ−タレンズ2aを挿脱
可能に配置しアライメント時だけ他と光学的距離を変え
るようにしている。なお、コリメ−タレンズ2aを光軸
方向に移動させる等により光学距離を変えて(すなわ
ち、指標光束の集光状態を変えて)も良い。3a´〜3
d´は点光源1a〜1dの角膜反射像である。
点位置にはテレセントリック絞り6が配置されている。
7は光路を2分割するビ−ムスプリッタであり、各光路
には検出方向が互いに交差するように一次元位置検出素
子5a,5bが置かれている。テレセントリック絞り6
と一次元位置検出素子5a,5bの間には円筒レンズ8
a,8bがその軸(母線)が一次元位置検出素子の検出
方向と一致するように配置されている。円筒レンズ8
a,8bの焦点距離は、円筒軸方向断面では無限大で、
円筒軸方向と直交する方向の断面では、テレセントリッ
ク絞り6と一次元位置検出素子5a,5bとがほぼ共役
となるよう設計されている。
0は4個の点光源(1a〜1d)を点灯するためのLE
Dドライバ、11は検出素子5a,5b上の信号をとら
えるための駆動回路、12はクロックカウンタ、13は
クロック発生回路、14は11から送られてくる信号の
ピ−ク電圧を保持するためのピ−クホ−ルド回路、15
は11からの信号とピ−クホ−ルド回路14からコンピ
ュ−タ17を経てピ−ク電圧の1/2に変換された信号
との電圧を比較してストロ−ブ信号を出すためのコンパ
レ−タ、16はストロ−ブ信号が入ったときのカウンタ
の値を保持するためのラッチ、18はA/Dコンバ−
タ、19はD/Aコンバ−タである。20は文字やグラ
フィックを表示するための表示回路、21は合成回路、
22はTVモニタである。TVモニタ22は合成回路2
1を介してTVカメラ23により撮影された前眼部像を
映出すると共にアライメント情報や測定デ−タ等を表示
する。
信号は駆動回路11に入力され、駆動回路11からの信
号はコンパレ−タ15及びピ−クホ−ルド回路14に伝
達される。ピ−クホ−ルド回路14により検出されたピ
−ク電圧はA/Dコンバ−タ18によりデジタル信号に
変換された後、マイクロコンピュ−タ17に入力され
る。17で出力されたピ−ク電圧のデジタル信号はD/
Aコンバ−タ19でピ−ク電圧の1/2の電圧信号に変
換され、コンパレ−タ15に入力される。この信号と直
接コンパレ−タ15に入った信号とを比較してストロ−
ブ信号を出すが、ピ−ク電圧の1/2の信号は1回前に
入力した信号と比較することになる。ストロ−ブ信号に
よりカウンタ12の信号がラッチ16に入り、そのとき
の波形から明暗エッジの位置を読み取る。
作を次に説明する。測定光学系の光軸lと被検眼との上
下左右方向のアライメント操作を説明する。円環状のア
ライメント用レチクル(レチクルは光学的に形成しても
良いし、モニタ上に電気的に作り出しても良い)と角膜
反射輝点を所定の関係に置き、ラフに位置合わせする。
これらは周知の機構であるので、その説明は省略する。
点光源1c,1dを点灯させ、点光源像3c´,3d´
の検出位置から2点の中心である中心点Oの座標を求め
た後、座標Oと測定光学系の光軸lとの偏位量及び偏位
方向を演算する。これらの演算結果はTVモニタ22に
表示する。勿論、演算された偏位量及び偏位方向をその
まま表示しても良いが、矢印等によるグラフィック表示
の方が操作しやすい。測定光軸と被検眼の偏位が所定の
範囲内である旨表示されるまで、検者は表示に従って装
置を移動する。
ングディスタンスの調整を説明する。前記のようにして
求められた中心点Oの座標を用い、中心点Oから3a´
と3b´のそれぞれから長さを求める。3b´は光学的
に無限距離の光源1bの像であるので、装置がフォ−カ
ス方向にずれてもOb´の長さはほとんど変化しない
(図3のa参照)。これに対して3a´は光学的に有限
距離の光源1aの像であるので、装置のフォ−カス方向
のずれによりOa´の長さは変化する(図3のb)。結
像レンズ4と被検眼の距離(ワ−キングディスタンス)
を、Oa´/Ob´=αとなるように設定しておく(α
は定数)。なお、αの値は装置の要求するアライメント
精度との関係で幅を持たせても良い。これらの関係を利
用して、次のようにしてフォ−カスずれの状態を検出す
る。 (1)Oa´/Ob´>α :角膜が手前にずれてい
る。 (2)Oa´/Ob´<α :角膜が後方にずれてい
る。 (3)Oa´/Ob´=α :位置合わせ完了。 マイクロコンピュ−タ17はこの情報を表示回路等を介
してTVモニタ22に表示する。表示方法としては、直
接移動方向を指示するものであっても、予め約束された
指示マ−クを示すものであっても良い。後者の方法とし
ては、例えば前述のアライメント用レチクルの色調を変
えることによって指示する。このとき、レチクルを光学
的に形成する場合は、照明光源として赤と黄色のLED
を用意し、照明光源の組み合わせにより色調を変える。
なお、Oa´/Ob´の値はずれ量と1対1に対応する
ので、ずれ量を定量的に表示しても良い。
と、完了時の測定値に基づいて角膜の曲率半径を演算す
る。この測定および演算方法は特開昭61−85920
号公報に詳細に説明されているので、その説明を援用す
る。
について説明したが、本発明はこれに限定されるもので
はない。この実施例は種々の変容が可能であり、例え
ば、実施例では3a´と3b´の像の高さから求めてい
るが、前述のように1aの光学的距離を可変にするとき
は、光学的距離の変化の前後のデ−タから求めると、不
正乱視の影響を避けることができる。また、被検眼の正
面から無限遠の光を投影する等、被検眼の視軸上に角膜
反射輝点を形成すれば、中心点Oを容易に求めることが
できるし、光源は点光源でなくても良い。さらに、前記
実施例ではアライメント状態の検出及び表示に基づいて
検者自身がアライメント操作をするが、モ−タ等の駆動
機構を設け、アライメント状態の検出結果に基づいて、
この駆動機構を動作させると、自動的にアライメントが
できる。
ば、アライメント状態が正確かつ容易に検出することが
できる。
Claims (5)
- 【請求項1】 被検眼と測定系等の検査ユニットとのア
ライメントを行うアライメント検出装置において、異な
った集光状態で角膜に入射する指標を被検眼の角膜に向
けてそれぞれ投影する光学系であって、該光学系は前記
検査ユニットの軸線に対して所定の角度(但し、0では
ない)の光軸を持つ投影光学系と、該投影光学系に投影
された前記角膜反射像の位置をそれぞれ検出する位置検
出手段と、該位置検出手段に基づいて前記測定系等の軸
線に対する角膜反射像の高さを得、各角膜反射像の高さ
の比較によりワ−キングディスタンスの調整を判断する
判断手段と、を備えることを特徴とするアライメント検
出装置。 - 【請求項2】 請求項1のアライメント検出装置におい
て、前記判断手段により判断されたワーキングディスタ
ンスの調整状態を表示する表示手段を有することを特徴
とするアライメント検出装置。 - 【請求項3】 請求項2のアライメント検出装置におい
て、被検物と測定系等とのアライメント用レチクルを配
置し、前記判断手段により判断されたワーキングディス
タンスの調整状態はアライメント用レチクルを変調して
表示することを特徴とするアライメント検出装置。 - 【請求項4】 請求項1のアライメント検出装置におい
て、前記判断手段により判断されたワーキングディスタ
ンスの調整状態に基づいて測定系等を駆動する駆動手段
を有することを特徴とするアライメント検出装置。 - 【請求項5】 被検眼と測定系等の検査ユニットとのア
ライメントを行う眼科装置において、異なった集光状態
で角膜に入射する一対の指標を前記検査ユニットの軸線
に対して同一の角度(但し、0ではない)の光軸を持ち
しかも対称的な方向から被検眼の角膜に向けてそれぞれ
投影する投影光学系と、該投影光学系に投影された前記
指標の角膜反射像の位置をそれぞれ検出する位置検出手
段と、該位置検出手段に基づいて前記測定系等の軸線に
対する各指標の角膜反射像の高さを得、該角膜反射像の
高さの比較によりワ−キングディスタンスの調整状態を
判断する判断手段と、を備えることを特徴とする眼科装
置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22489692A JP3269665B2 (ja) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | アライメント検出装置及び該アライメント検出装置を用いた眼科装置 |
US08/098,786 US5463430A (en) | 1992-07-31 | 1993-07-29 | Examination apparatus for examining an object having a spheroidal reflective surface |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22489692A JP3269665B2 (ja) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | アライメント検出装置及び該アライメント検出装置を用いた眼科装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0646999A JPH0646999A (ja) | 1994-02-22 |
JP3269665B2 true JP3269665B2 (ja) | 2002-03-25 |
Family
ID=16820859
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22489692A Expired - Lifetime JP3269665B2 (ja) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | アライメント検出装置及び該アライメント検出装置を用いた眼科装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3269665B2 (ja) |
Families Citing this family (52)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3315517B2 (ja) * | 1994-03-07 | 2002-08-19 | キヤノン株式会社 | 角膜形状測定装置 |
JP3575825B2 (ja) * | 1994-03-31 | 2004-10-13 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
JPH07299037A (ja) * | 1994-04-28 | 1995-11-14 | Nidek Co Ltd | 眼科装置 |
JP3497007B2 (ja) * | 1995-03-30 | 2004-02-16 | 株式会社トプコン | 眼科装置 |
US5689325A (en) * | 1995-04-19 | 1997-11-18 | Nidek Co., Ltd. | Ophthalmologic apparatus with ease of operation |
US5905562A (en) * | 1996-07-31 | 1999-05-18 | Nidek Co., Ltd. | Ophthalmic apparatus for measuring an eye to be examined |
JP3630864B2 (ja) * | 1996-07-31 | 2005-03-23 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
JP3466027B2 (ja) * | 1996-07-31 | 2003-11-10 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
JP3630884B2 (ja) * | 1996-10-25 | 2005-03-23 | 株式会社ニデック | 眼科検査装置 |
JP3649839B2 (ja) * | 1997-01-31 | 2005-05-18 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
JP3523453B2 (ja) * | 1997-06-30 | 2004-04-26 | 株式会社ニデック | 検眼装置 |
JP3636886B2 (ja) * | 1997-07-03 | 2005-04-06 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
JP3764004B2 (ja) * | 1999-08-31 | 2006-04-05 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
JP3709335B2 (ja) * | 2000-09-28 | 2005-10-26 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
JP3703429B2 (ja) * | 2001-12-07 | 2005-10-05 | 株式会社ニデック | 角膜形状測定装置 |
JP4138533B2 (ja) | 2003-02-28 | 2008-08-27 | 株式会社ニデック | 眼底カメラ |
JP4349934B2 (ja) | 2003-03-31 | 2009-10-21 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
JP4280125B2 (ja) * | 2003-07-31 | 2009-06-17 | 株式会社ニデック | 眼調節機能測定装置 |
JP4047255B2 (ja) * | 2003-09-25 | 2008-02-13 | 株式会社ニデック | 眼底カメラ |
JP4233439B2 (ja) | 2003-11-28 | 2009-03-04 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
JP4268861B2 (ja) | 2003-11-28 | 2009-05-27 | 株式会社ニデック | 眼底カメラ |
JP4587741B2 (ja) | 2004-08-20 | 2010-11-24 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
JP4628763B2 (ja) | 2004-12-01 | 2011-02-09 | 株式会社ニデック | 眼底カメラ |
JP4570485B2 (ja) | 2005-03-04 | 2010-10-27 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
JP5085858B2 (ja) | 2005-09-27 | 2012-11-28 | 株式会社ニデック | 眼屈折力測定装置 |
JP4987276B2 (ja) | 2005-10-11 | 2012-07-25 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
JP5028057B2 (ja) | 2005-11-01 | 2012-09-19 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
KR101374829B1 (ko) | 2006-03-31 | 2014-03-17 | 가부시키가이샤 니데크 | 안과장치 |
JP4886387B2 (ja) * | 2006-06-29 | 2012-02-29 | 株式会社ニデック | 眼底カメラ |
JP4886389B2 (ja) * | 2006-06-29 | 2012-02-29 | 株式会社ニデック | 眼底カメラ |
JP4886388B2 (ja) * | 2006-06-29 | 2012-02-29 | 株式会社ニデック | 眼底カメラ |
JP4937792B2 (ja) | 2007-03-01 | 2012-05-23 | 株式会社ニデック | 眼底カメラ |
JP4916917B2 (ja) | 2007-03-01 | 2012-04-18 | 株式会社ニデック | 眼底カメラ |
JP4937840B2 (ja) | 2007-06-04 | 2012-05-23 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
JP5317042B2 (ja) | 2007-09-03 | 2013-10-16 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
EP2057938A1 (en) | 2007-11-08 | 2009-05-13 | Nidek Co., Ltd. | Fundus camera |
JP5042784B2 (ja) | 2007-11-08 | 2012-10-03 | 株式会社ニデック | 眼底カメラ |
JP5410768B2 (ja) | 2008-02-01 | 2014-02-05 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
WO2009113484A1 (ja) * | 2008-03-11 | 2009-09-17 | 株式会社ニコン | 基準球検出装置、基準球位置検出装置、及び、三次元座標測定装置 |
JP2011030689A (ja) * | 2009-07-31 | 2011-02-17 | Nidek Co Ltd | 眼底撮影システム及び立体眼底画像処理方法 |
JP5704946B2 (ja) | 2011-02-04 | 2015-04-22 | 株式会社ニデック | 眼科撮影装置 |
JP5772117B2 (ja) | 2011-03-22 | 2015-09-02 | 株式会社ニデック | 眼底撮影装置 |
US9039176B2 (en) | 2011-03-31 | 2015-05-26 | Nidek Co., Ltd. | Corneal endothelial cell photographing apparatus |
WO2013098981A1 (ja) | 2011-12-27 | 2013-07-04 | 株式会社ニデック | 手持型眼科装置 |
JP6007549B2 (ja) | 2012-03-30 | 2016-10-12 | 株式会社ニデック | 眼底撮影装置 |
JP6112949B2 (ja) | 2013-04-12 | 2017-04-12 | キヤノン株式会社 | 眼科装置、眼科装置の制御方法、プログラム |
US9723978B2 (en) | 2014-03-31 | 2017-08-08 | Nidek Co., Ltd. | Fundus photography device |
JP6436294B2 (ja) | 2014-09-30 | 2018-12-12 | 株式会社ニデック | 眼科装置、および眼科装置制御プログラム |
CN113940620A (zh) | 2015-11-13 | 2022-01-18 | 尼德克株式会社 | 主观式检眼装置 |
JP6928453B2 (ja) * | 2017-01-24 | 2021-09-01 | 株式会社トプコン | 眼科装置 |
EP3381350B1 (en) | 2017-03-31 | 2022-02-09 | Nidek Co., Ltd. | Subjective optometry apparatus and subjective optometry program |
EP3721788A4 (en) | 2017-12-04 | 2021-08-18 | Nidek Co., Ltd. | DEVICE FOR MEASURING EYEPIECE BREAKING FORCE |
-
1992
- 1992-07-31 JP JP22489692A patent/JP3269665B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0646999A (ja) | 1994-02-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3269665B2 (ja) | アライメント検出装置及び該アライメント検出装置を用いた眼科装置 | |
JP3709335B2 (ja) | 眼科装置 | |
US5463430A (en) | Examination apparatus for examining an object having a spheroidal reflective surface | |
JP3630884B2 (ja) | 眼科検査装置 | |
JPH0366355A (ja) | トポグラフィ測定方法とその装置 | |
JP3445635B2 (ja) | 眼科装置 | |
EP1442698B1 (en) | Ophthalmologic apparatus | |
JPH0282939A (ja) | 眼の検査器械のための位置調整装置 | |
JP3703310B2 (ja) | 手持ち型眼科装置 | |
JP2014209993A (ja) | 眼科装置、眼科装置の制御方法、プログラム | |
EP0862895B1 (en) | Ophthalmic measurement apparatus | |
JP3636886B2 (ja) | 眼科装置 | |
JP4630126B2 (ja) | 眼光学特性測定装置 | |
JP2003169778A (ja) | 形状測定装置 | |
JP3533292B2 (ja) | 眼屈折力測定装置 | |
JPH06343608A (ja) | 角膜形状測定装置 | |
JPH07280703A (ja) | 空間屈折計 | |
JP4551283B2 (ja) | 眼科装置 | |
JP3576656B2 (ja) | 眼科器械用位置合わせ検出装置 | |
JP4136691B2 (ja) | 眼科装置 | |
JPH035810B2 (ja) | ||
JP2933108B2 (ja) | 角膜手術装置 | |
JPH07299037A (ja) | 眼科装置 | |
JPH10272102A (ja) | 眼科装置 | |
JPH06315465A (ja) | 被検眼位置検出装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080118 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090118 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090118 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100118 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110118 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110118 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120118 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130118 Year of fee payment: 11 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130118 Year of fee payment: 11 |