JP2020058705A - 加熱調理器 - Google Patents

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Abstract

【課題】鍋温度検知手段の検知誤差の有無に関わらず被調理物の好適な加熱調理を行うことができ、かつ、製品の開発期間の長期化を回避できる加熱調理器を提供すること。【解決手段】加熱調理器に、被調理物を入れる内鍋と、内鍋を加熱可能な加熱手段と、内鍋の鍋温度を検知可能なセンターセンサと、被調理物の沸騰を検知可能な沸騰検知手段と、センターセンサで検知される検知温度に基づいて加熱手段を制御する制御手段と、が備えられ、制御手段は、沸騰検知手段による被調理物の沸騰の検知を条件として、検知温度が設定温調温度T2に向かうように加熱手段の出力の制御を設定温調時間H行う温調加熱工程P5を実行するように構成されている。【選択図】図6

Description

本発明は、被調理物を入れる内鍋と、内鍋を加熱可能な加熱手段と、内鍋の鍋温度を検知可能な鍋温度検知手段と、が備えられている加熱調理器に関する。
加熱調理器では、内鍋と加熱手段との間に米粒や塵芥等の異物が挟まり込むことがある。異物は内鍋で隠れるために発見し難く、ユーザが異物の存在に気付かずに加熱調理を開始してしまう場合がある。そのような場合、加熱手段から内鍋への熱伝達が適切に行われないことから、加熱手段と内鍋との間の空間の雰囲気温度が異常に上昇し、その異常に上昇した雰囲気温度を鍋温度検知手段が鍋温度として誤検知する異常状態となる。そのような異常状態では、実際の内鍋の温度が低いにも関わらず鍋温度検知手段の検知温度が設定仕上げ加熱温度(例えば、設定炊き上げ温度)に達するようになるため、仕上げ加熱工程(例えば、炊き上げ工程)が極端に短縮されて終了する早切れが発生し、被調理物が加熱不足の生煮え状態となったまま加熱料理が終了してしまう。
そこで、下記特許文献1に記載の技術では、そのような早切れ対策として、鍋温度検知手段の検知温度に関して異物検知条件を設定し、異物検知条件を満たすと、内鍋と加熱手段との間に異物が挟まり込んでいるとみなし、通常シーケンスに比べて長時間の加熱を行う異物シーケンスを実行するようにしている。これにより、異物の存在時にも被調理物へしっかりと加熱を行うことが可能になり、被調理物が生煮え状態のまま加熱調理が終了することを回避している。
特許4765565号公報
しかし、上記従来の技術では、鍋温度検知手段の検知温度の誤差が大きい場合等には、異物検知条件による異物の存否の判定がうまくいかないことがあった。例えば、異物が存在しないにも関わらず異物シーケンスが実行されると、加熱過多となって被調理物が焦げ付いてしまい、逆に、例えば、異物が存在するのにも関わらず通常シーケンスが実行されると、加熱不足の生煮え状態のまま加熱調理が終了してしまう。
鍋温度検知手段の検知温度の誤差等は、内鍋等の構成部品の寸法誤差、各種センサの組み付け誤差、被調理物の温度特性等の様々な要因によって生じる。多様な要因に幅広く対応できる異物検知条件の設定を行うことが望ましいが、そのためには、多数の実験データの収集が必要になる上、複雑な異物検知条件の設定や専用の異物シーケンス設定等も必要になる。このため、そのような異物対策の調整に要する労力や時間が多大となって、製品の開発期間の長期化を招きがちとなっていた。
上記実情に鑑み、鍋温度検知手段の検知誤差の有無に関わらず被調理物の好適な加熱調理を行うことができ、かつ、製品の開発期間の長期化を回避できる加熱調理器が要望されていた。
本発明の加熱調理器は、
被調理物を入れる内鍋と、
前記内鍋を加熱可能な加熱手段と、
前記内鍋の鍋温度を検知可能な鍋温度検知手段と、
前記被調理物の沸騰を検知可能な沸騰検知手段と、
前記鍋温度検知手段で検知される検知温度に基づいて前記加熱手段を制御する制御手段と、が備えられ、
前記制御手段は、前記沸騰検知手段による前記被調理物の沸騰の検知を条件として、前記検知温度が設定温調温度に向かうように前記加熱手段の出力の制御を設定温調時間行う温調加熱工程を実行するように構成されているものである。
例えば、内鍋と加熱手段との間に米粒や塵埃等の異物が挟まり込む等して加熱手段から内鍋に対する熱伝導が適切に行われず、加熱手段と内鍋との間の空間の雰囲気温度が異常に上昇し、その異常に上昇した雰囲気温度を鍋温度検知手段が鍋温度として誤検知する異常状態が生じているとする。本発明によると、そのような異常状態が生じている場合には、鍋温度検知手段の検知温度が設定温調温度を超えていると、加熱手段による加熱が弱められ、その後、検知温度が設定温調温度を下回ると、再び加熱手段による加熱が強められるという制御が設定温調時間の間行われる。設定温調温度は、ある程度の高い温度に設定されるため、被調理物が加熱不足にならず、被調理物が生煮え状態で加熱調理が終了することを回避できる。また、従来のように、加熱調理の全体時間が長くなり過ぎることがない。
一方、例えば、加熱手段から内鍋に対する熱伝導が適切に行われている正常状態では、鍋温度検知手段の検知温度が設定温調時間に達し難くなるため、温調加熱工程において、加熱が弱められることなく、設定温調時間の間、継続的な加熱が行われる。このため、正常状態では、温調加熱工程においてある程度の強い加熱が行われるが、その加熱時間を設定温調時間に限っているので、被調理物が加熱過多にならず、被調理物が焦げ付くことを回避できる。
このように、本発明によれば、沸騰検知手段で被調理物の沸騰を検知し、その検知がなされてから設定温調時間だけ設定温調温度に向かうように加熱手段を制御する温調加熱工程が実行される。これにより、加熱手段から内鍋への熱伝達が適切に行われているか否かに関わらず、被調理物に対して必要十分な加熱を行うことができるようになる。このため、従来のような異物検知条件や異物シーケンスを設けることなく、加熱手段から内鍋へ熱伝達が適切に行われる正常状態かそうでない異常状態のいずれであるかに関わらず、被調理物を喫食に適した状態へ良好に加熱調理可能となる。
したがって、本発明であれば、鍋温度検知手段の検知誤差の有無に関わらず被調理物の好適な加熱調理を行うことができ、かつ、製品の開発期間の長期化を回避できる加熱調理器が構成される。
尚、本発明における「被調理物の沸騰」には、被調理物が煮え立つ沸騰状態に加えて被調理物が沸騰状態となる少し手前の状態も含まれる。
上記構成において、
前記被調理物から発生する蒸気を検知可能な蒸気センサが備えられ、
前記沸騰検知手段が、前記蒸気センサの検知結果に基づいて前記被調理物の沸騰を検知するように構成されていると好適である。
本構成によれば、被調理物の蒸気を利用して被調理物の沸騰を正確に検知できる。これにより、温調加熱工程の開始タイミングと終了タイミングが適切なものとなり、被調理物の加熱不足や加熱過多が生じることを回避できる。
上記構成において、
前記沸騰検知手段が、前記鍋温度検知手段で検知される前記検知温度の上昇率の低下に基づいて前記被調理物の沸騰を検知するように構成されていると好適である。
本発明者は、加熱手段から内鍋への熱伝達が適切に行われているか否かに関わらず、鍋温度検知手段の検知温度は、内鍋内の被調理物が沸騰することで、上昇率が低下して平衡状態に近くなるという知見を得ている。このため、本構成であれば、蒸気センサを備えなくとも、被調理物の沸騰を検知して温調加熱工程を実行可能となるので、構成の簡素化を実現できる。
上記構成において、
前記被調理物に対して仕上げ加熱を行う設定仕上げ加熱温度が、前記沸騰検知手段による前記被調理物の沸騰の検知時点における前記検知温度に基づいて設定されるようになっていると好適である。
本構成によれば、予め決まった設定仕上げ加熱温度を用意しておく場合に比べて、被調理物の種類の違い(温度特性の違い)等の実際の条件に対応する適切な設定仕上げ加熱温度が設定されるため、実際の条件に応じて最適な仕上げ加熱を行うことができる。
上記構成において、
前記沸騰検知手段による前記被調理物の沸騰の検知時点における前記検知温度に基づいて設定される前記設定仕上げ加熱温度が、上限温度以下の温度に設定されると好適である。
本構成によれば、設定仕上げ加熱温度が、高く設定されることが防止され、経年劣化の早まりや故障が生じる可能性を低減できる。
上記構成において、
前記設定温調温度が、100℃以上の温度に設定されるようになっていると好適である。
本構成によれば、設定温調温度を高い温度に設定しておくことで、異常状態においても温調加熱工程で被調理物に対して十分な加熱が行われるようになり、被調理物が加熱不足となることを好適に回避できる。
第1実施形態における蓋体が閉状態の炊飯器(加熱調理器)の一例を示す斜視図である。 第1実施形態における蓋体が開状態の炊飯器(加熱調理器)の一例を示す斜視図である。 第1実施形態における制御構成の一例を示すブロック図である。 第1実施形態における炊飯シーケンス(加熱調理シーケンス)の一例を示すフローチャートである。 第1実施形態における正常状態での炊飯シーケンス(加熱調理シーケンス)が実行された場合の状態変化を模式的に示す図である。 第1実施形態における異常状態での炊飯シーケンス(加熱調理シーケンス)が実行された場合の状態変化を模式的に示す図である。 第2実施形態における制御構成の一例を示すブロック図である。 第2実施形態における正常状態での炊飯シーケンス(加熱調理シーケンス)が実行された場合の状態変化を模式的に示す図である。 第2実施形態における異常状態での炊飯シーケンス(加熱調理シーケンス)が実行された場合の状態変化を模式的に示す図である。
以下、本発明の一例である実施形態について図面を参照しながら説明する。
[第1実施形態]
まず、第1実施形態について説明する。図1、図2等に示すように、「加熱調理器」の一例である電気式の炊飯器には、被調理物を入れる内鍋1、内鍋1を収容可能な有底円筒状の収容部2を有する本体3、収容部2の上方を開閉可能に覆う蓋体4、内鍋1を加熱可能な加熱手段5等が備えられている。被調理物は、例えば、米と水の混合物である被炊飯物であり、この混合物には、野菜、豆類、肉類等の各種具材が含まれていてもよい。
図1、図2等に示すように、蓋体4には、加熱調理時の蒸気を放出可能な蒸気放出口6を有する調圧キャップ7が備えられている。調圧キャップ7は、炊飯器の内部の圧力を調節する調圧機構の上端部分に位置している。蓋体4の内面には、環状のパッキン8を有する内蓋9が着脱可能に取り付けられている。蓋体4が閉状態になると、内蓋9が内鍋1の上面の開口部を覆い、パッキン8で内鍋1の内部の空間を密閉するようになっている。
蓋体4は、本体3の後部側に位置する横軸心回りに揺動することで開閉自在となっている。蓋体4は、スプリングコイル(図示せず)により開方向に付勢されている。蓋体4は、ロック機構(図示せず)により閉状態でロック可能となっている。本体3の上側の前面部には、ロック機構(図示せず)のロックを解除操作可能な解除操作具10が備えられている。ユーザが解除操作具10を押圧操作すると、ロック機構のロックが解除され、蓋体4側が、スプリングコイル(図示せず)の付勢力によって後部の横向き軸心周りに揺動して閉状態から開状態になる。
本体3の上側の前面部には、ユーザが操作入力を行うことが可能な操作パネル11が備えられている。操作パネル11には、炊飯器の電源のオン/オフや各種の加熱調理シーケンスを選択可能な複数の操作スイッチ12、操作内容や炊飯器の状態を表示可能な例えば液晶パネル等で構成される表示部13等が備えられている。
図2、図3に示すように、加熱手段5には、本体3の底部に配置された円環状のヒータ14(図3参照)、ヒータ14から伝達される熱を内鍋1の底面部に伝達する加熱プレート15等が備えられている。加熱手段5の熱が内鍋1に伝達されることで、内鍋1に収容されている被調理物の加熱が行われる。
図2、図3に示すように、炊飯器には、センサ類として、内鍋1の鍋温度を検知可能なセンターセンサ16(「鍋温度検知手段」の一例)、被調理物から発生する蒸気を検知可能な蒸気センサ17(図3参照)等が備えられている。
図2に示すように、センターセンサ16は、本体3の収容部2の底面の中央部側に配置されている。説明を加えると、センターセンサ16は、加熱プレート15の中心部側に配置されている。センターセンサ16は、本体3の底部から上方に向けてバネ等の付勢部材により付勢されている。正常状態では、内鍋1の底部分に加熱プレート15が適切に接触し、センターセンサ16の先端面が内鍋1の中心部の底面に押し当てられた状態となっている。
図3に示す蒸気センサ17は、蓋体4の内部に備えられている。蒸気センサ17は、内鍋1内の上方空間の蒸気温度を検知可能になっている。蒸気センサ17は、例えば、熱電対やサーミスタ等の熱電素子のような一般的な温度センサで構成できる。
<正常状態と異常状態>
正常状態は、内鍋1の底面部が加熱手段5の加熱プレート15に全体が適切に接触しており、加熱手段5から内鍋1に熱伝達が適切に行われ、センターセンサ16の検知温度が、内鍋1の鍋温度を正しく反映している状態である。
一方、異常状態は、内鍋1の底面部が加熱手段5の加熱プレート15に適切に接触しておらず加熱手段5から内鍋1に熱伝達が適切に行われない等の不都合を生じる状態である。異常状態は、内鍋1の底面と加熱プレート15との間にお米を研ぐ際等の米粒や塵埃等の異物が挟まり込んだり、収容部2と内鍋1の寸法誤差が大きかったり等の種々の要因で生じうる。異常状態であっても、パッキン8の弾性で蓋体4を閉状態でロック可能であるため、ユーザが気付かずに加熱調理を開始してしまう場合がありうる。
異常状態では、加熱手段5から内鍋1へ伝達されない熱が加熱手段5と内鍋1との間の空間に滞留し、その空間の雰囲気温度が内鍋1の鍋温度よりも高くなり、センターセンサ16の検知温度が、内鍋1の鍋温度(被調理物の温度)ではなく、その雰囲気温度を反映したものとなる。このため、異常状態では、加熱手段5による加熱を行った際、センターセンサ16による検知温度が、実際の内鍋1の鍋温度から乖離して異常に上昇するようになる。
<第1実施形態の制御構成について>
図3に示すように、炊飯器には、入力される情報に基づいて各種出力機器の制御を行うコントローラ20が備えられている。コントローラ20は、マイコンや各種論理回路の組み合わせ等で構成できる。
コントローラ20には、被調理物の沸騰を検知可能な沸騰検知手段21、時間測定等を行うクロック発生回路等により構成される計時手段22、加熱調理シーケンス等の各種情報を記憶する記憶手段23、加熱手段5を制御する制御手段24等が備えられている。
コントローラ20には、操作スイッチ12、センターセンサ16、蒸気センサ17が接続され、各センサの検知情報が入力される。
沸騰検知手段21は、蒸気センサ17の検知結果に基づいて被調理物の沸騰を検知するように構成されている。
計時手段22は、加熱調理シーケンスにおける各工程の時間計測などを行うことが可能に構成されている。
記憶手段23には、複数の工程からなる炊飯シーケンス(加熱調理シーケンス)等が予め記憶されている。記憶手段23は、例えば、半導体メモリ等で構成できる。操作スイッチ12の操作により、所望のモードの炊飯シーケンスを選択可能となっている。
記憶手段23には、図5、図6に示すような設定炊き上げ温度T1(「設定仕上げ加熱温度」の一例)や設定温調温度T2等の予め設定される温度も記憶されている。設定温調温度T2は、被調理物の沸騰温度である100℃よりも高い温度に設定される。また、本第1実施形態では、設定温調温度T2は、設定炊き上げ温度T1よりも高い温度に設定される。
制御手段24は、センターセンサ16で検知される検知温度の情報、蒸気センサ17が検知する蒸気温度の情報、計時手段22により計測される時間情報等に基づいて、記憶手段23に記憶される炊飯シーケンスにおける加熱調理の各工程を実行するべく、加熱手段5への電力供給を制御するようになっている。
特に、制御手段24は、沸騰検知手段21による被調理物の沸騰の検知を条件として、センターセンサ16の検知温度が設定温調温度T2となるように設定温調時間Hだけ加熱手段5を制御する温調加熱工程P5を実行するように構成されている。
また、特に図示しないが、コントローラ20には、操作スイッチ12の操作等に基づいて表示部13に表示される情報を制御する入出力手段が備えられている。
<第1実施形態の炊飯シーケンス(加熱調理シーケンス)>
図4〜図6に示すように、第1実施形態の炊飯シーケンスには、おおまかに、吸水工程P1、初期昇温工程P2、合数判定工程P3、沸騰昇温工程P4、温調加熱工程P5、炊き上げ工程P6(「仕上げ加熱工程」の一例)、蒸らし工程P7、保温工程P8が含まれている。尚、図5、図6の図は、あくまで模式的なものであり、スケール等は正確ではない。
吸水工程P1では、センターセンサ16の検知温度が吸水設定温度(例えば、約55℃)となるように、加熱手段5が温調制御される。吸水工程P1が開始されてから吸水設定時間が経過すると、初期昇温工程P2に移行する。
初期昇温工程P2では、センターセンサ16の検知温度が、後述する合数判定工程P3における合数判定を行うのに適した開始設定温度(例えば、約65℃)になるまで昇温するように、加熱手段5が制御される。初期昇温工程P2において、センターセンサ16の検知温度が、開始設定温度に達すると、合数判定工程P3に移行する。
合数判定工程P3では、加熱手段5による所定の加熱を行い、センターセンサ16の検知温度の変化に応じて、内鍋1に収容されている被調理物の合数(量)を判定する。説明を加えると、合数判定工程P3では、階段状に温度を上昇させる複数段階の小工程を行い、各段階を所定時間の経過毎に切り換える。合数判定工程P3において合数の判定が完了すると、沸騰昇温工程P4に移行する。
沸騰昇温工程P4は、内鍋1内の被調理物を沸騰させるべく、加熱手段5に付与する加熱量(電力量)を制御するようになっている。沸騰昇温工程P4では、加熱手段5の加熱量を略最大にして、内鍋1の内部を一気に沸騰状態まで昇温させる。
図5、図6に示すように、沸騰昇温工程P4は、沸騰検知手段21による沸騰の検知により終了し、温調加熱工程P5に移行する。説明を加えると、沸騰昇温工程P4では、蒸気センサ17で検知される被調理物の蒸気温度を監視しており、蒸気センサ17による被炊飯物の蒸気が検知されると、被調理物の沸騰が検知されたとみなし、温調加熱工程P5に移行する。蒸気センサ17による蒸気の検知は、例えば、蒸気センサ17で検知される蒸気温度が蒸気閾値温度T3(例えば、約85℃)に達したことで行う。
温調加熱工程P5では、センターセンサ16の検知温度が設定温調温度T2(例えば、約140℃)に向かうように設定温調時間Hの間だけ加熱手段5の温調制御が行われる。温調加熱工程P5における加熱手段5の加熱量は、最大の加熱量よりも小さく(通電率が100%未満であり)、例えば、80%以下の出力に設定するとよい。温調加熱工程P5では、合数判定工程P3において判定される合数(米の量)に基づいて、加熱手段5による加熱量(加熱手段5に対する通電率)が設定される。説明を加えると、温調加熱工程P5では、合数判定工程P3において判定される合数(米の量)が多くなる程、加熱手段5の加熱量を大きくするようになっている。また、温調加熱工程P5では、合数判定工程P3において判定される合数(米の量)が多くなる程、設定温調時間Hは、短い時間となる。この設定温調時間Hは、予め取得される実験データに基づき、正常状態において、被調理物に焦げ付きが生じず、かつ、被調理物に十分な加熱量を付与可能な時間に設定される。温調加熱工程P5を開始してから設定温調時間Hが経過すると、炊き上げ工程P6に移行する。
図5に示すように、正常状態では、温調加熱工程P5において、被炊飯物における余剰の水分が蒸発し切っていないため、センターセンサ16の検知温度は、設定温調温度T2には達しない傾向にある。つまり、正常状態では、温調加熱工程P5において、一定の加熱が設定温調時間Hの間途切れずに継続される。
一方、図6に示すように、異常状態では、温調加熱工程P5において、センターセンサ16の検知温度は、設定温調温度T2に達し、センターセンサ16の検知温度が設定温調温度T2に近付くように、加熱手段5のオン/オフ制御が行われる。この場合、温調加熱工程P5の開始時点において、センターセンサ16の検知温度が、設定温調温度T2を既に超えていることが多い。
炊き上げ工程P6では、センターセンサ16の検知温度が設定炊き上げ温度T1(例えば、約130℃)に達するように、加熱手段5の温調制御が行われる。図5に示すように、正常状態では、炊き上げ工程P6は、ある程度の時間幅を有するものとなる。一方、図6に示すように、異常状態では、炊き上げ工程P6は、設定炊き上げ温度T1が設定温調温度T2より低いため、時間幅がほぼ零の状態ですぐに終了する。炊き上げ工程P6で、センターセンサ16の検知温度が設定炊き上げ温度T1に達すると、蒸らし工程P7に移行する。
蒸らし工程P7では、センターセンサ16の検知温度が設定蒸らし温度(例えば、約100℃)に向かうように、加熱手段5の温調制御を行った後、予め設定される設定蒸らし時間(例えば、約15分)が経過すると、適宜に保温工程P8に移行し、終了となる。
[第2実施形態]
次に、上記第1実施形態に変更を施した第2実施形態について説明する。説明箇所以外は、第1実施形態と同様であるため、同一の構成には同一の符号を付し、その説明を省略する。
第2実施形態では、第1実施形態のような蒸気センサ17を備えなくてもよい。図7に示すように、第2実施形態では、第1実施形態のコントローラ20とは構成の異なるコントローラ120が備えられている。
<第2実施形態の制御構成>
図7に示すように、コントローラ120には、被調理物の沸騰を検知可能な沸騰検知手段121、経過時間の計測を行う計時手段122、シーケンス等の各種情報を記憶する記憶手段123、加熱調理シーケンス等の各種情報を記憶する記憶手段123、加熱手段5を制御する制御手段124、各種温度の演算を行う演算手段125等が備えられている。
コントローラ120には、操作スイッチ12、センターセンサ16が接続され、各センサの検知情報が入力される。また、コントローラ120には、表示部13、ヒータ14が接続され、コントローラ120は、検知情報に基づいて表示部13に表示される情報の表示制御、ヒータ14に付加される電力量の制御(加熱量の制御)を行うようになっている。
沸騰検知手段121は、沸騰昇温工程P4において、センターセンサ16で検知される検知温度の上昇率の低下(平衡状態への移行)に基づいて被調理物の沸騰を検知するように構成されている。説明を加えると、沸騰検知手段121は、沸騰昇温工程P4において、センターセンサ16で検知される検知温度の上昇率が、所定の設定値Rを下回るタイミングを監視するようになっている。設定値Rは、例えば、零(温度勾配が零。温度変化が無くなる)としてもよい。
計時手段122は、加熱調理シーケンスにおける各工程の時間計測などを行うことが可能に構成されている。
記憶手段123には、複数の工程からなる加熱調理シーケンス等が予め記憶されている。記憶手段123は、例えば、半導体メモリ等で構成できる。操作スイッチ12の操作により、所望のモードの炊飯シーケンス(加熱調理シーケンス)を選択可能となっている。また、記憶手段123は、演算手段125の演算結果の値(温度等)も記憶するようになっている。
制御手段124は、センターセンサ16が検知する検知温度の情報、計時手段22により計測される時間情報、沸騰検知手段121により検知される沸騰検知の情報、演算手段125の演算結果の値等に基づいて、記憶手段123に記憶される炊飯シーケンスにおける加熱調理の各工程を実行するべく、加熱手段5への電力供給を制御するようになっている。
第2実施形態においても、制御手段124は、沸騰検知手段121による被調理物の沸騰の検知を条件として、センターセンサ16の検知温度が設定温調温度T2となるように設定温調時間Hだけ加熱手段5を制御する温調加熱工程P5を実行するように構成されている。
演算手段125は、沸騰検知手段21から沸騰検知信号を入力すると、沸騰検知信号の入力時におけるセンターセンサ16の検知温度を基準温度T4として記憶手段23に記憶する。また、演算手段125は、沸騰検知時のセンターセンサ16の検知温度である基準温度T4に加算温度T5を加えて設定炊き上げ温度T1を算出する。
つまり、図8、図9に示すように、第2実施形態では、設定炊き上げ温度T1は、沸騰検知手段121による被調理物の沸騰の検知時点におけるセンターセンサ16の検知温度に基づいて設定されるようになっている。説明を加えると、演算手段125により、沸騰検知手段121による被調理物の沸騰の検知時点におけるセンターセンサ16の検知温度を基準温度T4として、加算温度T5(例えば、約40℃)を加えて設定炊き上げ温度T1が算出される。第2実施形態では、設定炊き上げ温度T1は、設定温調温度T2よりも高くなることが多い。
設定温調温度T2が上限温度T6を超える場合には、設定温調温度T2は、上限温度T6に設定される。これにより、炊飯器の故障等を防止できる。
制御手段124は、操作スイッチ12の操作情報、センターセンサ16で検知される検知温度、蒸気センサ17で検知される蒸気温度、計時手段122の計時時間等に基づいて、記憶手段123に記憶された加熱調理シーケンスにしたがって加熱手段5に対する電力供給を制御するようになっている。
<第2実施形態の炊飯シーケンス(加熱調理シーケンス)>
第2実施形態の加熱調理シーケンスにおいて、吸水工程P1、初期昇温工程P2、合数判定工程P3、蒸らし工程P7、保温工程P8は、第1実施形態の加熱調理シーケンスの各工程と同じである。尚、図8、図9の図は、あくまで模式的なものであり、スケール等は正確ではない。
図8、図9に示すように、沸騰昇温工程P4では、センターセンサ16の検知温度を活用して沸騰検知手段121による沸騰の検知を行うことで終了し、温調加熱工程P5に移行する。説明を加えると、沸騰昇温工程P4では、沸騰検知手段121によりセンターセンサ16の検知温度の上昇率が設定値Rを下回ることが検知されると、被調理物が沸騰したとみなし、温調加熱工程P5に移行するようになっている。
また、図8、図9に示すように、沸騰昇温工程P4では、演算手段125により、沸騰検知手段121による沸騰の検知の時点のセンターセンサ16の検知温度を基準温度T4として、その基準温度T4に加算温度T5を加えて設定炊き上げ温度T1が算出される。設定炊き上げ温度T1は、上限温度T6を超えないように設定される。
温調加熱工程P5では、センターセンサ16の検知温度が設定温調温度T2(例えば、130℃)に向かうように設定温調時間Hの間だけ加熱手段5の温調制御が行われる。温調加熱工程P5における加熱手段5の加熱量は、最大の加熱量よりも小さく(通電率が100%未満であり)、例えば、80%以下の出力に設定するとよい。温調加熱工程P5では、合数判定工程P3において判定される合数(米の量)に基づいて、加熱手段5による加熱量(加熱手段5に対する通電率)が設定される。説明を加えると、温調加熱工程P5では、合数判定工程P3において判定される合数(米の量)が多くなる程、加熱手段5の加熱量を大きくするようになっている。また、温調加熱工程P5では、合数判定工程P3において判定される合数(米の量)が多くなる程、設定温調時間Hは、短い時間となる。この設定温調時間Hは、予め取得される実験データに基づき、正常状態において、被調理物に焦げ付きが生じず、かつ、被調理物に十分な加熱量を付与可能な時間に設定される。温調加熱工程P5を開始してから設定温調時間Hが経過すると、炊き上げ工程P6に移行する。
図8に示すように、正常状態では、温調加熱工程P5において、被炊飯物における余剰の水分が蒸発し切っていないため、センターセンサ16の検知温度は、設定温調温度T2には達しない傾向にある。つまり、正常状態では、温調加熱工程P5において、一定の加熱が設定温調時間Hの間途切れずに継続される。
一方、図9に示すように、異常状態では、温調加熱工程P5において、センターセンサ16の検知温度は、設定温調温度T2に達し、センターセンサ16の検知温度が設定温調温度T2に近付くように、加熱手段5のオン/オフ制御が行われる。この場合、温調加熱工程P5の開始時点において、センターセンサ16の検知温度が、設定温調温度T2を既に超えていることが多い。
炊き上げ工程P6では、センターセンサ16の検知温度が設定炊き上げ温度T1に達するように、加熱手段5の温調制御が行われる。正常状態では、炊き上げ工程P6は、ある程度の時間幅を有するものとなる。また、異常状態においても、炊き上げ工程P6は、ある程度の時間幅を有するものとなる。炊き上げ工程P6で、センターセンサ16の検知温度が設定炊き上げ温度T1に達すると、蒸らし工程P7に移行する。
上記のような第1実施形態と第2実施形態であれば、センターセンサ16の検知温度が内鍋1の鍋温度(被調理物の温度)を正確に反映しているか否かに関わらず、被調理物の沸騰の検知後に所定の温調加熱工程P5を設けることで、被調理物に適度な加熱量が付加される。このため、被調理物が生煮え状態のまま終了したり、焦げ付いたりすることが防止され、喫食に適した状態で適切な時間内に仕上げることができる。さらに、従来のような異物検知条件の設定や専用の異物シーケンスの構築が不要となるので、製品開発を短期間で行うことができるようになる。
[他の実施形態]
以下、上記実施形態に変更を施した他の実施形態を例示する。各実施形態は、矛盾が生じない限り、適宜組み合わせることができる。尚、本発明の範囲は、各実施形態に示した内容によって限定されるものではない。
(1)上記第1実施形態では、設定温調温度T2が、設定炊き上げ温度T1よりも高い温度に設定されるものを例示しているが、これに限られない。例えば、設定温調温度T2が、設定炊き上げ温度T1と同じ温度、または、設定炊き上げ温度T1よりも低い温度に設定されるようになっていてもよい。
(2)上記第1実施形態では、設定炊き上げ温度T1と設定温調温度T2を予め設定するようにしているものを例示しているが、これに限られない。例えば、上記第1実施形態における設定炊き上げ温度T1と設定温調温度T2を、上記第2実施形態のように、被調理物の沸騰の検知時のセンターセンサ16の検知温度を基準温度T4として、その基準温度T4に加算温度T5を加算して求めるようにしてもよい。
(3)上記第2実施形態では、設定炊き上げ温度T1が、設定温調温度T2よりも高くなるものを例示しているが、これに限られない。例えば、設定炊き上げ温度T1が、設定温調温度T2と同じかそれよりも低くなるようにしてもよい。
(4)上記第2実施形態では、設定炊き上げ温度T1を、被調理物の沸騰の検知時点のセンターセンサ16の検知温度に基づいて事後的に設定するものを例示しているが、これに限られない。例えば、上記第1実施形態のように、設定炊き上げ温度T1を所定の温度に設定していてもよい。
(5)上記第2実施形態では、コントローラ120にセンターセンサ16の検知温度の上昇率を監視する沸騰検知手段121を備え、沸騰検知手段121を利用して、被調理物の沸騰を検知するようにしているものを例示しているが、これに限られない。例えば、上記第2実施形態において、沸騰検知手段121の代わりに、上記第1実施形態のような蒸気センサ17と沸騰検知手段21を備え、蒸気センサ17の検知結果に基づいて沸騰検知手段21で被炊飯物の沸騰を検知するようにしてもよい。
(6)上記実施形態では、温調加熱工程P5において加熱手段5に対する通電率を100%未満に設定するものを例示しているが、これに限られない。例えば、温調加熱工程P5において加熱手段5に対する通電率を100%に設定するようにしてもよい。
(7)上記実施形態では、温調加熱工程P5において、合数判定工程P3において判定される合数(米の量)が多くなる程、設定温調時間Hは、短い時間となるようにしているものを例示しているが、これに限られない。例えば、温調加熱工程P5において、合数判定工程P3において判定される合数(米の量)に関係なく、設定温調時間Hを設定するようにしてもよい(例えば、設定温調時間Hを一定の時間にする)。
(8)上記実施形態では、沸騰昇温工程P4において、加熱手段5の加熱量を略最大にするものを例示しているが、これに限られない。例えば、沸騰昇温工程P4において、加熱手段5の加熱量を70%〜90%程度にしてもよい。
(9)上記実施形態では、沸騰昇温工程P4において被調理物の沸騰が検知されると、すぐに温調加熱工程P5へ移行するものを例示しているが、これに限られない。例えば、沸騰昇温工程P4において被調理物の沸騰が検知されてから所定待ち時間が経過してから温調加熱工程P5に移行するようにしてもよい。
(10)上記実施形態では、被調理物の合数に応じて設定温調時間Hを変更するようにしているものを例示しているが、これに限られない。例えば、被調理物の合数に関係なく設定温調時間Hを一定にしてもよい。
(11)上記実施形態では、「鍋温度検知手段」としてセンターセンサ16を例示したが、これに限られない。例えば、内鍋1の底部中心ではなく、側部等の別の部分の鍋温度を検知する温度センサ等の他の「鍋温度検知手段」でもよい。
(12)上記実施形態では、「加熱調理器」として電気式の炊飯器を例示したが、これに限られない。例えば、ガス式の炊飯器や炊飯鍋、米以外の被調理物を加熱調理するスープ調理器や具材調理器等の他の「加熱調理器」でもよい。
1 :内鍋
5 :加熱手段
16 :センターセンサ(鍋温度検知手段)
17 :蒸気センサ
21、121 :沸騰検知手段
24、124 :制御手段
T1 :設定炊き上げ温度(設定仕上げ加熱温度)
T2 :設定温調温度
T6 :上限温度

Claims (6)

  1. 被調理物を入れる内鍋と、
    前記内鍋を加熱可能な加熱手段と、
    前記内鍋の鍋温度を検知可能な鍋温度検知手段と、
    前記被調理物の沸騰を検知可能な沸騰検知手段と、
    前記鍋温度検知手段で検知される検知温度に基づいて前記加熱手段を制御する制御手段と、が備えられ、
    前記制御手段は、前記沸騰検知手段による前記被調理物の沸騰の検知を条件として、前記検知温度が設定温調温度に向かうように前記加熱手段の出力の制御を設定温調時間行う温調加熱工程を実行するように構成されている加熱調理器。
  2. 前記被調理物から発生する蒸気を検知可能な蒸気センサが備えられ、
    前記沸騰検知手段が、前記蒸気センサの検知結果に基づいて前記被調理物の沸騰を検知するように構成されている請求項1に記載の加熱調理器。
  3. 前記沸騰検知手段が、前記鍋温度検知手段で検知される前記検知温度の上昇率の低下に基づいて前記被調理物の沸騰を検知するように構成されている請求項1に記載の加熱調理器。
  4. 前記被調理物に対して仕上げ加熱を行う設定仕上げ加熱温度が、前記沸騰検知手段による前記被調理物の沸騰の検知時点における前記検知温度に基づいて設定されるようになっている請求項3に記載の加熱調理器。
  5. 前記沸騰検知手段による前記被調理物の沸騰の検知時点における前記検知温度に基づいて設定される前記設定仕上げ加熱温度が、上限温度以下の温度に設定される請求項4に記載の加熱調理器。
  6. 前記設定温調温度が、100℃よりも高い温度に設定されるようになっている請求項1〜5のいずれか一項に記載の加熱調理器。
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