JP2020031200A5 - 気相成長装置及び気相成長方法 - Google Patents
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Description
本発明の一態様の気相成長装置は、反応室と、前記反応室の上に設けられ、第1のプロセスガスが導入される第1のガス室と、前記第1のガス室から前記反応室に前記第1のプロセスガスを供給する複数の第1のガス流路と、前記反応室の中に設けられ、基板を載置可能なホルダと、前記基板を1500℃以上の温度に加熱することが可能なヒータと、を備え、前記複数の第1のガス流路のうち少なくとも1つは、第1の領域と、前記第1の領域と前記反応室との間に位置する第2の領域とを有し、前記第1の領域は前記第1のプロセスガスの流れる方向に垂直な面における第1の開口断面積と前記方向の第1の長さとを有し、前記第2の領域は前記方向に垂直な面における第2の開口断面積と前記方向の第2の長さとを有し、前記第1の開口断面積は前記第2の開口断面積よりも小さく、前記第1の長さは前記第2の長さ以下であり、前記第1の領域は第1のコンダクタンスを有し、前記第2の領域は第2のコンダクタンスを有し、前記第2のコンダクタンスに対する前記第1のコンダクタンスの比率は、1%以上40%以下である。
Claims (7)
- 反応室と、
前記反応室の上に設けられ、第1のプロセスガスが導入される第1のガス室と、
前記第1のガス室から前記反応室に前記第1のプロセスガスを供給する複数の第1のガス流路と、
前記反応室の中に設けられ、基板を載置可能なホルダと、
前記基板を1500℃以上の温度に加熱することが可能なヒータと、
を備え、
前記複数の第1のガス流路のうち少なくとも1つは、第1の領域と、前記第1の領域と前記反応室との間に位置する第2の領域とを有し、前記第1の領域は前記第1のプロセスガスの流れる方向に垂直な面における第1の開口断面積と前記方向の第1の長さとを有し、前記第2の領域は前記方向に垂直な面における第2の開口断面積と前記方向の第2の長さとを有し、前記第1の開口断面積は前記第2の開口断面積よりも小さく、前記第1の長さは前記第2の長さ以下であり、
前記第1の領域は第1のコンダクタンスを有し、前記第2の領域は第2のコンダクタンスを有し、前記第2のコンダクタンスに対する前記第1のコンダクタンスの比率は、1%以上40%以下である気相成長装置。 - 前記第1の領域は、前記第2の領域と分離可能な部品で形成される請求項1記載の気相成長装置。
- 前記第2の領域の内壁面と前記方向に対し垂直な面とのなす角度は80度以上である請求項1又は請求項2記載の気相成長装置。
- 前記第2の長さは5mm以上である請求項1ないし請求項3いずれか一項記載の気相成長装置。
- 前記反応室と前記第1のガス室との間に設けられ、前記第1のプロセスガスと異なる第2のプロセスガスが導入される第2のガス室と、
前記第2のガス室から前記反応室に前記第2のプロセスガスを供給する複数の第2のガス流路と、
を更に備え、
前記複数の第2のガス流路のうち少なくとも1つは、第3の領域と、前記第3の領域と前記反応室との間に位置する第4の領域とを有し、前記第3の領域は前記第2のプロセスガスの流れる第2の方向に垂直な面における第3の開口断面積と前記第2の方向の第3の長さとを有し、前記第4の領域は前記第2の方向に垂直な面における第4の開口断面積と前記第2の方向の第4の長さとを有し、前記第3の開口断面積は前記第4の開口断面積よりも小さく、前記第3の長さは前記第4の長さ以下である請求項1ないし請求項4いずれか一項記載の気相成長装置。 - 反応室上に設けられ、プロセスガスが導入されるガス室と、
前記ガス室から前記反応室に前記プロセスガスを供給する複数のガス流路と、
前記反応室の中に設けられ、基板を載置可能なホルダと、
前記基板を1500℃以上の温度に加熱することが可能なヒータと、
を備え、
複数の前記ガス流路のうちの少なくとも1つは、前記ガス流路の上端を含む第1の領域と、前記第1の領域と前記反応室との間に位置する第2の領域とを有し、前記ガス流路の前記上端の第1の流路面積より前記ガス流路の下端の第2の流路面積が大きく、前記ガス流路の前記上端と前記下端の中間位置における流路面積は、前記第1の流路面積より大きく、前記第2の流路面積以下であり、
前記第1の領域は第1のコンダクタンスを有し、前記第2の領域は第2のコンダクタンスを有し、前記第2のコンダクタンスに対する前記第1のコンダクタンスの比率は、1%以上40%以下である気相成長装置。 - 反応室内に基板を載置し、
前記基板を1500℃以上の温度に加熱し、
前記反応室の上に設けられたガス室から複数のガス流路を経て前記反応室内にプロセスガスを導入し、
複数の前記ガス流路のうちの少なくとも1つは、第1のコンダクタンスを有する第1の領域と、前記第1の領域と前記反応室との間に位置し前記第1の領域より距離が長く第2のコンダクタンスを有する第2の領域とを有し、前記第2のコンダクタンスに対する前記第1のコンダクタンスの比率は、1%以上40%以下である気相成長方法。
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US10009961B2 (en) * | 2014-07-18 | 2018-06-26 | Asm Ip Holding B.V. | Local temperature control of susceptor heater for increase of temperature uniformity |
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