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  1. 石英キャリア基板、
    前記石英キャリア基板の表面上に圧電層、及び
    前記石英キャリア基板に対向する前記圧電層の表面上に少なくとも1つの交差指電極、
    を備え、前記少なくとも1つの交差指電極の伝搬方向は、前記石英キャリア基板の水晶振動子のz軸または−z軸に関して10度未満の角度を形成する、弾性表面波(SAW)デバイス。
  2. 前記圧電層の厚さは、前記少なくとも1つの交差指電極のトランスデューサ電極周期の4倍未満である、請求項1に記載のSAWデバイス。
  3. 前記圧電層の厚さは、前記少なくとも1つの交差指電極のトランスデューサ電極周期の2倍未満である、請求項1に記載のSAWデバイス。
  4. 前記SAWデバイスは少なくとも1つのSAW共振子を備える、請求項1に記載のSAWデバイス。
  5. 前記圧電層は、YからY+60度の間の配向、及びX沿いの伝搬を有するタンタル酸リチウムから形成される、請求項に記載のSAWデバイス。
  6. 前記圧電層の前記厚さは、前記少なくとも1つの交差指電極の前記トランスデューサ電極周期の60%未満である、請求項5に記載のSAWデバイス。
  7. 前記石英キャリア基板の法線は、前記石英キャリア基板の前記水晶振動子のx軸またはy軸沿いに配向される、請求項6に記載のSAWデバイス。
  8. 前記圧電層の前記厚さは、前記少なくとも1つの交差指電極の前記トランスデューサ電極周期の30%から50%の間にある、請求項7に記載のSAWデバイス。
  9. 前記石英キャリア基板の法線は、前記石英キャリア基板の前記水晶振動子のx軸に関して30から55度の間の角度を形成する、請求項6に記載のSAWデバイス。
  10. 前記圧電層の前記厚さは、前記少なくとも1つの交差指電極の前記トランスデューサ電極周期の20%から40%の間にある、請求項9に記載のSAWデバイス。
  11. 前記圧電層は、YからY+60度の間の配向を有するタンタル酸リチウムから形成される、請求項1に記載のSAWデバイス。
  12. 前記圧電層は、Y−20度からY+60度の間の配向を有するニオブ酸リチウムから形成される、請求項1に記載のSAWデバイス。
  13. 前記石英キャリア基板と前記圧電層との間の前記石英キャリア基板の前記表面上に1層以上の追加の層をさらに含む、請求項1に記載のSAWデバイス。
  14. 前記1層以上の追加の層は、1層以上の誘電体層を含む、請求項13に記載のSAWデバイス。
  15. 前記1層以上の誘電体層は、少なくとも1層の酸化ケイ素を含む、請求項14に記載のSAWデバイス。
  16. 前記少なくとも1つの交差指電極は、1層以上の誘電体層内側に埋め込まれる、請求項1に記載のSAWデバイス。
  17. 前記1層以上の誘電体層は、酸化ケイ素を含む、請求項16に記載のSAWデバイス。
  18. 前記圧電層に対向する前記少なくとも1つの交差指電極の表面上に1層以上の誘電体層をさらに含む、請求項1に記載のSAWデバイス。
  19. 前記石英キャリア基板と前記圧電層との間の前記石英キャリア基板の前記表面上に少なくとも1層の酸化ケイ素をさらに含み、そこで前記少なくとも1層の酸化ケイ素は、その温度感度を低下させるようにドーピングされる、請求項1に記載のSAWデバイス。
  20. 前記少なくとも1層の酸化ケイ素は、フッ化物またはホウ素原子を含むドーパントによりドーピングされる、請求項19に記載のSAWデバイス。
  21. 石英キャリア基板、
    前記石英キャリア基板の表面上に圧電層、及び
    前記石英キャリア基板に対向する前記圧電層の表面上少なくとも1つの交差指電極、
    を含む、弾性表面波(SAW)共振子、
    を備え、前記少なくとも1つの交差指電極の伝搬方向は、前記石英キャリア基板の水晶振動子のz軸または−z軸に関して10度未満の角度を形成する、フィルタリング回路。
  22. 石英キャリア基板を提供し、
    前記石英キャリア基板の表面上に圧電層を提供し、
    前記石英キャリア基板に対向する前記圧電層の表面上に少なくとも1つの交差指電極を提供する、
    ことを備え、前記少なくとも1つの交差指電極の伝搬方向は、前記石英キャリア基板の水晶振動子のz軸または−z軸に関して10度未満の角度を形成する、弾性表面波(SAW)デバイスを製造する方法。
  23. 石英キャリア基板、
    前記石英キャリア基板の表面上に圧電層、及び
    前記石英キャリア基板に対向する前記圧電層の表面上の少なくとも1つの交差指電極、
    を備え、前記圧電層の結晶学的なx軸は、前記石英キャリア基板の結晶学的なz軸とアライメントを取る、弾性表面波(SAW)デバイス。
  24. 前記圧電層は、ニオブ酸リチウムまたはタンタル酸リチウムから形成される、請求項23に記載のSAWデバイス。
  25. 前記石英キャリア基板内のバルクカットオフ周波数が前記SAWデバイスの共振周波数よりも高い、請求項23に記載のSAWデバイス。
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