JP2016504702A - 格納されたロウハンマ閾値に基づくロウハンマの監視 - Google Patents
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Abstract
Description
この特許文献の開示の複数の部分は、著作権保護の対象となる題材を含むかも知れない。著作権所有者は、特許商標庁の特許包袋もしくは記録の通りに特許文献もしくは特許開示が何人により再現されようと異議を申し立てないが、その他のあらゆる著作権およびその他の権利を留保する。著作権表示は、以下に記載されるあらゆる情報、本明細書に添付される図面に記載されるあらゆる情報、および、以下に記載されるいかなるソフトウェアにも適用される:著作権、2012年、インテル・コーポレーション、無断複写・複製・転載を禁ず。
[項目1]
複数のメモリセルの多数の物理的な行を有するメモリデバイスと、
前記メモリデバイスに結合された検出ロジックと
を備え、
前記検出ロジックは、
前記メモリデバイスの設定情報を格納するレジスタから、前記メモリデバイスに対するアクセスレートの閾値を得て、
前記閾値に基づいて、前記メモリデバイスの前記多数の物理的な行の1つへのアクセス数が前記閾値を超過するかを判断し、
前記閾値をアクセス数が超過したこと検出に応じて、アクセス数が前記閾値を超過した前記行に物理的に隣接するビクティム行を標的とするリフレッシュを前記メモリデバイスが行うことを引き起こし、
前記閾値は、タイムウィンドウ内でのメモリの特定の行に対するアクセス数であって、アクセスされる前記行に物理的に隣接する行でのデータ破壊のリスクを生じさせるアクセス数を特定するメモリサブシステム。
[項目2]
前記検出ロジックは、前記メモリデバイスに結合されたメモリコントローラの検出ロジックを有する、項目1に記載のメモリサブシステム。
[項目3]
前記検出ロジックは、前記メモリデバイスの分散検出ロジックを有する、項目1に記載のメモリサブシステム。
[項目4]
前記メモリデバイスの設定情報を格納する前記レジスタは、メモリモジュールの設定ストレージデバイスを有し、前記メモリデバイスは前記メモリモジュールの一部である、項目1から3の何れか1項に記載のメモリサブシステム。
[項目5]
前記メモリデバイスの設定情報を格納する前記レジスタは、前記メモリデバイスに設定レジスタを有する、項目1から3の何れか1項に記載のメモリサブシステム。
[項目6]
前記検出ロジックは、前記閾値を示す3ビットコードを得る、項目1から5の何れか1項に記載のメモリサブシステム。
[項目7]
前記メモリデバイスに対する前記閾値は、第1の閾値であり、前記メモリサブシステムにおける異なるメモリデバイスに対する第2の閾値とは異なる、項目1から6の何れか1項に記載のメモリサブシステム。
[項目8]
前記検出ロジックは、各メモリデバイスを、その異なる閾値に従って監視する、項目7に記載のメモリサブシステム。
[項目9]
前記検出ロジックは、さらに、どの閾値がより低いかを特定し、より低い前記閾値に従って複数の前記メモリデバイスを監視する、項目7または8に記載のメモリサブシステム。
[項目10]
複数のメモリセルの多数の物理的な行を有するメモリデバイス、及び、前記メモリデバイスに結合された検出ロジック、を有するメモリサブシステムと、
前記メモリデバイスからアクセスされたデータに基づいてユーザディスプレイを提供するタッチスクリーンディスプレイデバイスと
を備え、
前記検出ロジックは、
前記メモリデバイスの設定情報を格納するレジスタから前記メモリデバイスに対するアクセスレートの閾値を得て、
前記閾値に基づいて、前記メモリデバイスの前記多数の物理的な行の1つへのアクセス数が前記閾値を超過するかを判断し、
前記閾値をアクセス数が超過したこと検出に応じて、アクセス数が前記閾値を超過した前記行に物理的に隣接するビクティム行を標的とするリフレッシュを前記メモリデバイスが行うことを引き起こし、
前記閾値は、タイムウィンドウ内でのメモリの特定の行に対するアクセス数であって、アクセスされる前記行に物理的に隣接する行でのデータ破壊のリスクを生じさせるアクセス数を特定する電子デバイス。
[項目11]
前記メモリデバイスの設定情報を格納する前記レジスタは、メモリモジュールの設定ストレージデバイスを有し、前記メモリデバイスは前記メモリモジュールの一部である、項目10に記載の電子デバイス。
[項目12]
前記メモリデバイスの設定情報を格納する前記レジスタは、前記メモリデバイスに設定レジスタを有する、項目10に記載の電子デバイス。
[項目13]
前記メモリデバイスに対する前記閾値は、第1の閾値であり、前記メモリサブシステムにおける異なるメモリデバイスに対する第2の閾値とは異なる、項目10から12の何れか1項に記載の電子デバイス。
[項目14]
前記検出ロジックは、各メモリデバイスを、その異なる閾値に従って監視する、項目13に記載の電子デバイス。
[項目15]
前記検出ロジックは、さらに、どの閾値がより低いかを特定し、より低い前記閾値に従って前記メモリデバイスを監視する、項目13または14に記載の電子デバイス。
[項目16]
前記検出ロジックは、前記閾値を示すコードを格納する設定レジスタのフィールドを得る、項目10から15の何れか1項に記載の電子デバイス。
[項目17]
メモリデバイスの設定情報を格納するレジスタから、前記メモリデバイスに対するアクセスレートの閾値を得る段階と、
前記閾値に基づいて、前記メモリデバイスの多数の物理的な行の1つへのアクセス数が前記閾値を超過するかを判断する段階と、
前記閾値をアクセス数が超過したことの検出に応じて、アクセス数が前記閾値を超過した前記行に物理的に隣接するビクティム行を標的とするリフレッシュを前記メモリデバイスが行うことを引き起こすトリガを生成する段階と、
を含み、
前記閾値は、タイムウィンドウ内でのメモリの特定の行に対するアクセス数であって、アクセスされる前記行に物理的に隣接する行でのデータ破壊のリスクを生じさせるアクセス数を特定する方法。
[項目18]
前記トリガを生成する前記段階は、前記メモリデバイスに対するターゲットリフレッシュコマンドをメモリコントローラが発行することを引き起こすべく、前記メモリコントローラの検出ロジックから警告を送信する段階を含む、項目17に記載の方法。
[項目19]
前記トリガを生成する前記段階は、前記メモリデバイスに対するターゲットリフレッシュコマンドをメモリコントローラが発行することを引き起こすべく、前記メモリデバイスの分散検出ロジックから前記メモリコントローラへ警告を送信する段階を含む、項目17に記載の方法。
[項目20]
前記レジスタから得る前記段階は、メモリモジュールの設定ストレージデバイスにアクセスする段階を含み、
前記メモリデバイスは前記メモリモジュールの一部である、項目17から19の何れか1項に記載の方法。
[項目21]
前記レジスタから得る前記段階は、前記メモリデバイスの設定ストレージデバイスにアクセスする段階を含む、項目17から19の何れか1項に記載の方法。
[項目22]
前記レジスタから前記閾値を得る前記段階は、前記閾値を示す3ビットコードにアクセスする段階を含む、項目17から21の何れか1項に記載の方法。
[項目23]
アクセス数が前記閾値を超過するかを判断する前記段階は、さらに、
前記タイムウィンドウにおける前記メモリデバイスの複数の行への複数のアクセスを監視する段階と、
前記複数の行の何れかに対するアクセス数が前記閾値を超過するかを判断する段階と、
前記タイムウィンドウにおけるアクセス数が前記閾値を超過したと判断された行についてのアドレス情報を示す段階と
を含む、項目17から22の何れか1項に記載の方法。
[項目24]
前記メモリデバイスに対する前記閾値は第1の閾値であり、前記メモリデバイスとメモリサブシステムを共有する異なるメモリデバイスに対する第2の閾値とは異なる、項目17から23の何れか1項に記載の方法。
[項目25]
前記閾値に基づいて判断する前記段階は、さらに、前記第1及び第2の閾値の何れがより低いかを判断する段階と、より低いと判断された前記閾値に基づいて両方のメモリデバイスを監視する段階とを含む、項目24に記載の方法。
[項目26]
前記メモリデバイスは、それぞれ異なる閾値を有する多数のメモリデバイスの1つであり、
前記閾値に基づいてアクセス数が前記閾値を超過するかを判断する前記段階は、各メモリデバイスについて、その異なる閾値に従って別々に判断する段階を含む、項目24または25に記載の方法。
[項目27]
メモリデバイスの設定情報を格納するレジスタから前記メモリデバイスに対するアクセスレートの閾値を取得する手段と、
前記閾値に基づいて、前記メモリデバイスの多数の物理的な行の1つへのアクセス数が前記閾値を超過するかを判断する手段と、
前記閾値をアクセス数が超過したことの検出に応じて、アクセス数が前記閾値を超過した前記行に対して物理的に隣接するビクティム行を標的とするリフレッシュを前記メモリデバイスが行うことを引き起こすトリガを生成する手段と
を備え、
前記閾値は、タイムウィンドウ内でのメモリの特定の行に対するアクセス数であって、アクセスされる前記行に物理的に隣接する行でのデータ破壊のリスクを生じさせるアクセス数を特定する装置。
[項目28]
前記トリガを生成する前記手段は、前記メモリデバイスに対するターゲットリフレッシュコマンドをメモリコントローラが発行することを引き起こすべく、前記メモリコントローラの検出ロジックから警告を送信する手段を含む、項目27に記載の装置。
[項目29]
前記トリガを生成する前記手段は、前記メモリデバイスに対するターゲットリフレッシュコマンドをメモリコントローラが発行することを引き起こすべく、前記メモリデバイスの分散検出ロジックから前記メモリコントローラへ警告を送信する手段を含む、項目27に記載の装置。
[項目30]
前記レジスタから得る前記手段は、メモリモジュールの設定ストレージデバイスにアクセスする手段を含み、
前記メモリデバイスは前記メモリモジュールの一部である、項目27から29の何れか1項に記載の装置。
[項目31]
前記レジスタから得る前記手段は、前記メモリデバイスの設定ストレージデバイスにアクセスする手段を含む、項目27から29の何れか1項に記載の装置。
[項目32]
前記レジスタから前記閾値を得る前記手段は、前記閾値を示す3ビットコードにアクセスする手段を含む、項目27から31の何れか1項に記載の装置。
[項目33]
アクセス数が前記閾値を超過するかを判断する前記手段は、さらに、
前記タイムウィンドウにおける前記メモリデバイスの複数の行への複数のアクセスを監視する手段と、
前記複数の行の何れかに対するアクセス数が前記閾値を超過するかを判断する手段と、
前記タイムウィンドウにおけるアクセス数が前記閾値を超過したと判断された行についてのアドレス情報を示す手段と
を含む、項目27から32の何れか1項に記載の装置。
[項目34]
前記メモリデバイスに対する前記閾値は第1の閾値であり、前記メモリデバイスとメモリサブシステムを共有する異なるメモリデバイスに対する第2の閾値とは異なる、項目27から33の何れか1項に記載の装置。
[項目35]
前記閾値に基づいて判断する前記手段は、さらに、前記第1及び第2の閾値の何れがより低いかを判断する手段と、より低いと判断された前記閾値に基づいて両方のメモリデバイスを監視する手段とを含む、項目34に記載の装置。
[項目36]
前記メモリデバイスは、それぞれ異なる閾値を有する多数のメモリデバイスの1つであり、
前記閾値に基づいてアクセス数が前記閾値を超過するかを判断する前記手段は、各メモリデバイスについて、その異なる閾値に従って別々に判断する手段を含む、項目34または35に記載の装置。
Claims (36)
- 複数のメモリセルの多数の物理的な行を有するメモリデバイスと、
前記メモリデバイスに結合された検出ロジックと
を備え、
前記検出ロジックは、
前記メモリデバイスの設定情報を格納するレジスタから、前記メモリデバイスに対するアクセスレートの閾値を得て、
前記閾値に基づいて、前記メモリデバイスの前記多数の物理的な行の1つへのアクセス数が前記閾値を超過するかを判断し、
前記閾値をアクセス数が超過したこと検出に応じて、アクセス数が前記閾値を超過した前記行に物理的に隣接するビクティム行を標的とするリフレッシュを前記メモリデバイスが行うことを引き起こし、
前記閾値は、タイムウィンドウ内でのメモリの特定の行に対するアクセス数であって、アクセスされる前記行に物理的に隣接する行でのデータ破壊のリスクを生じさせるアクセス数を特定するメモリサブシステム。 - 前記検出ロジックは、前記メモリデバイスに結合されたメモリコントローラの検出ロジックを有する、請求項1に記載のメモリサブシステム。
- 前記検出ロジックは、前記メモリデバイスの分散検出ロジックを有する、請求項1に記載のメモリサブシステム。
- 前記メモリデバイスの設定情報を格納する前記レジスタは、メモリモジュールの設定ストレージデバイスを有し、前記メモリデバイスは前記メモリモジュールの一部である、請求項1から3の何れか1項に記載のメモリサブシステム。
- 前記メモリデバイスの設定情報を格納する前記レジスタは、前記メモリデバイスに設定レジスタを有する、請求項1から3の何れか1項に記載のメモリサブシステム。
- 前記検出ロジックは、前記閾値を示す3ビットコードを得る、請求項1から5の何れか1項に記載のメモリサブシステム。
- 前記メモリデバイスに対する前記閾値は、第1の閾値であり、前記メモリサブシステムにおける異なるメモリデバイスに対する第2の閾値とは異なる、請求項1から6の何れか1項に記載のメモリサブシステム。
- 前記検出ロジックは、各メモリデバイスを、その異なる閾値に従って監視する、請求項7に記載のメモリサブシステム。
- 前記検出ロジックは、さらに、どの閾値がより低いかを特定し、より低い前記閾値に従って複数の前記メモリデバイスを監視する、請求項7または8に記載のメモリサブシステム。
- 複数のメモリセルの多数の物理的な行を有するメモリデバイス、及び、前記メモリデバイスに結合された検出ロジック、を有するメモリサブシステムと、
前記メモリデバイスからアクセスされたデータに基づいてユーザディスプレイを提供するタッチスクリーンディスプレイデバイスと
を備え、
前記検出ロジックは、
前記メモリデバイスの設定情報を格納するレジスタから前記メモリデバイスに対するアクセスレートの閾値を得て、
前記閾値に基づいて、前記メモリデバイスの前記多数の物理的な行の1つへのアクセス数が前記閾値を超過するかを判断し、
前記閾値をアクセス数が超過したこと検出に応じて、アクセス数が前記閾値を超過した前記行に物理的に隣接するビクティム行を標的とするリフレッシュを前記メモリデバイスが行うことを引き起こし、
前記閾値は、タイムウィンドウ内でのメモリの特定の行に対するアクセス数であって、アクセスされる前記行に物理的に隣接する行でのデータ破壊のリスクを生じさせるアクセス数を特定する電子デバイス。 - 前記メモリデバイスの設定情報を格納する前記レジスタは、メモリモジュールの設定ストレージデバイスを有し、前記メモリデバイスは前記メモリモジュールの一部である、請求項10に記載の電子デバイス。
- 前記メモリデバイスの設定情報を格納する前記レジスタは、前記メモリデバイスに設定レジスタを有する、請求項10に記載の電子デバイス。
- 前記メモリデバイスに対する前記閾値は、第1の閾値であり、前記メモリサブシステムにおける異なるメモリデバイスに対する第2の閾値とは異なる、請求項10から12の何れか1項に記載の電子デバイス。
- 前記検出ロジックは、各メモリデバイスを、その異なる閾値に従って監視する、請求項13に記載の電子デバイス。
- 前記検出ロジックは、さらに、どの閾値がより低いかを特定し、より低い前記閾値に従って前記メモリデバイスを監視する、請求項13または14に記載の電子デバイス。
- 前記検出ロジックは、前記閾値を示すコードを格納する設定レジスタのフィールドを得る、請求項10から15の何れか1項に記載の電子デバイス。
- メモリデバイスの設定情報を格納するレジスタから、前記メモリデバイスに対するアクセスレートの閾値を得る段階と、
前記閾値に基づいて、前記メモリデバイスの多数の物理的な行の1つへのアクセス数が前記閾値を超過するかを判断する段階と、
前記閾値をアクセス数が超過したことの検出に応じて、アクセス数が前記閾値を超過した前記行に物理的に隣接するビクティム行を標的とするリフレッシュを前記メモリデバイスが行うことを引き起こすトリガを生成する段階と、
を含み、
前記閾値は、タイムウィンドウ内でのメモリの特定の行に対するアクセス数であって、アクセスされる前記行に物理的に隣接する行でのデータ破壊のリスクを生じさせるアクセス数を特定する方法。 - 前記トリガを生成する前記段階は、前記メモリデバイスに対するターゲットリフレッシュコマンドをメモリコントローラが発行することを引き起こすべく、前記メモリコントローラの検出ロジックから警告を送信する段階を含む、請求項17に記載の方法。
- 前記トリガを生成する前記段階は、前記メモリデバイスに対するターゲットリフレッシュコマンドをメモリコントローラが発行することを引き起こすべく、前記メモリデバイスの分散検出ロジックから前記メモリコントローラへ警告を送信する段階を含む、請求項17に記載の方法。
- 前記レジスタから得る前記段階は、メモリモジュールの設定ストレージデバイスにアクセスする段階を含み、
前記メモリデバイスは前記メモリモジュールの一部である、請求項17から19の何れか1項に記載の方法。 - 前記レジスタから得る前記段階は、前記メモリデバイスの設定ストレージデバイスにアクセスする段階を含む、請求項17から19の何れか1項に記載の方法。
- 前記レジスタから前記閾値を得る前記段階は、前記閾値を示す3ビットコードにアクセスする段階を含む、請求項17から21の何れか1項に記載の方法。
- アクセス数が前記閾値を超過するかを判断する前記段階は、さらに、
前記タイムウィンドウにおける前記メモリデバイスの複数の行への複数のアクセスを監視する段階と、
前記複数の行の何れかに対するアクセス数が前記閾値を超過するかを判断する段階と、
前記タイムウィンドウにおけるアクセス数が前記閾値を超過したと判断された行についてのアドレス情報を示す段階と
を含む、請求項17から22の何れか1項に記載の方法。 - 前記メモリデバイスに対する前記閾値は第1の閾値であり、前記メモリデバイスとメモリサブシステムを共有する異なるメモリデバイスに対する第2の閾値とは異なる、請求項17から23の何れか1項に記載の方法。
- 前記閾値に基づいて判断する前記段階は、さらに、前記第1及び第2の閾値の何れがより低いかを判断する段階と、より低いと判断された前記閾値に基づいて両方のメモリデバイスを監視する段階とを含む、請求項24に記載の方法。
- 前記検出ロジックは、各メモリデバイスを、その異なる閾値に従って監視する、請求項24または25に記載の方法。
- メモリデバイスの設定情報を格納するレジスタから前記メモリデバイスに対するアクセスレートの閾値を取得する手段と、
前記閾値に基づいて、前記メモリデバイスの多数の物理的な行の1つへのアクセス数が前記閾値を超過するかを判断する手段と、
前記閾値をアクセス数が超過したことの検出に応じて、アクセス数が前記閾値を超過した前記行に対して物理的に隣接するビクティム行を標的とするリフレッシュを前記メモリデバイスが行うことを引き起こすトリガを生成する手段と
を備え、
前記閾値は、タイムウィンドウ内でのメモリの特定の行に対するアクセス数であって、アクセスされる前記行に物理的に隣接する行でのデータ破壊のリスクを生じさせるアクセス数を特定する装置。 - 前記トリガを生成する前記手段は、前記メモリデバイスに対するターゲットリフレッシュコマンドをメモリコントローラが発行することを引き起こすべく、前記メモリコントローラの検出ロジックから警告を送信する手段を含む、請求項27に記載の装置。
- 前記トリガを生成する前記手段は、前記メモリデバイスに対するターゲットリフレッシュコマンドをメモリコントローラが発行することを引き起こすべく、前記メモリデバイスの分散検出ロジックから前記メモリコントローラへ警告を送信する手段を含む、請求項27に記載の装置。
- 前記レジスタから得る前記手段は、メモリモジュールの設定ストレージデバイスにアクセスする手段を含み、
前記メモリデバイスは前記メモリモジュールの一部である、請求項27から29の何れか1項に記載の装置。 - 前記レジスタから得る前記手段は、前記メモリデバイスの設定ストレージデバイスにアクセスする手段を含む、請求項27から29の何れか1項に記載の装置。
- 前記レジスタから前記閾値を得る前記手段は、前記閾値を示す3ビットコードにアクセスする手段を含む、請求項27から31の何れか1項に記載の装置。
- アクセス数が前記閾値を超過するかを判断する前記手段は、さらに、
前記タイムウィンドウにおける前記メモリデバイスの複数の行への複数のアクセスを監視する手段と、
前記複数の行の何れかに対するアクセス数が前記閾値を超過するかを判断する手段と、
前記タイムウィンドウにおけるアクセス数が前記閾値を超過したと判断された行についてのアドレス情報を示す手段と
を含む、請求項27から32の何れか1項に記載の装置。 - 前記メモリデバイスに対する前記閾値は第1の閾値であり、前記メモリデバイスとメモリサブシステムを共有する異なるメモリデバイスに対する第2の閾値とは異なる、請求項27から33の何れか1項に記載の装置。
- 前記閾値に基づいて判断する前記手段は、さらに、前記第1及び第2の閾値の何れがより低いかを判断する手段と、より低いと判断された前記閾値に基づいて両方のメモリデバイスを監視する手段とを含む、請求項34に記載の装置。
- 前記検出ロジックは、各メモリデバイスを、その異なる閾値に従って監視する、請求項34または35に記載の装置。
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