JP2016157938A5 - 半導体装置 - Google Patents

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  1. 基板上に酸化物半導体と、
    前記酸化物半導体と接する第1の電極及び第2の電極と、
    前記酸化物半導体、前記第1の電極、前記第2の電極上の絶縁体と、
    前記絶縁体上の第3の電極と、を有し、
    前記酸化物半導体は、前記第1の電極と重なる第1の領域、前記第2の電極と重なる第2の領域、及び前記第3の電極と重なる第3の領域を有し、
    前記第1の領域と、前記第3の領域とは重なる第4の領域を有し、
    前記第2の領域と、前記第3の領域とは重なる第5の領域を有し、
    前記第1の電極の上面および前記第2の電極の上面は、前記酸化物半導体の上面と同一平面、または前記同一平面よりも前記基板側に設けられていることを特徴とする半導体装置。
  2. 酸化物半導体と、第1の電極と、第2の電極と、第3の電極と、絶縁体と、を有し、
    前記第3の電極は、前記絶縁体を介して、前記酸化物半導体上に設けられ、
    前記酸化物半導体は、前記第1の電極と重なる第1の領域、前記第2の電極と重なる第2の領域、及び前記第3の電極と重なる第3の領域を有し、
    前記第1の領域と、前記第3の領域とは重なる第4の領域を有し、
    前記第2の領域と、前記第3の領域とは重なる第5の領域を有し、
    前記第1の電極の上面および前記第2の電極の上面は、前記酸化物半導体の前記絶縁体に近い面と同一平面、または前記同一平面よりも前記酸化物半導体側に設けられていることを特徴とする半導体装置。
  3. 請求項1または請求項2において、
    前記第4の領域及び前記第5の領域の長さは、0nm以上5nm以下であることを特徴とする半導体装置。
  4. 請求項1乃至請求項3のいずれか一において、
    前記酸化物半導体は、チャネルが形成される領域を有し、
    前記絶縁体は、前記チャネルが形成される領域と重なる領域において段差を有さないことを特徴とする半導体装置。
  5. 請求項1乃至請求項4のいずれか一において、
    前記第1の電極はソース電極及びドレイン電極の一方として機能し、
    前記第2の電極はソース電極及びドレイン電極の他方として機能することを特徴とする半導体装置。
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