JP2016103809A - 撮像装置、撮像システム、撮像装置の駆動方法、及び撮像装置の検査方法 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、本実施例の撮像装置の構成を示した図である。画素部100には、複数の画素10が行列状に配されている。垂直走査部50は、画素部100の画素10を行ごとに走査する。
本実施例の撮像装置について、実施例1と異なる点を中心に説明する。
本実施例の撮像装置について、実施例1と異なる点を中心に説明する。
本実施例の撮像装置について、実施例1と異なる点を中心に説明する。
本実施例の撮像装置について、実施例1と異なる点を中心に述べる。本実施例の撮像装置は、複数の保持部を有する。そして本実施例の撮像装置は、各列の複数の保持部で、カウント信号の異なるビットを保持するビットメモリに不良が検出された場合においても、AD変換部の回路規模の増大を抑制しながら、AD変換精度の低減することができる構成を有する。
本実施例の撮像装置について、実施例5と異なる点を中心に説明する。
実施例1〜6に述べた撮像装置を適用した撮像システムについて説明する。
100 画素部
102 比較器
103 ランプ発生器
106 計測カウンタ
107 第1の切替部
108 切替制御部
111 第2の切替部
Claims (13)
- 行列状に配され、各々が入射光に基づく光電変換信号を出力する複数の画素と、
前記複数の画素の列に各々が対応して設けられ、各々が前記光電変換信号を複数ビットのデジタル信号に変換する複数のAD変換部とを有する撮像装置であって、
前記複数のAD変換部の各々は、前記デジタル信号を保持するメモリ部を有し、
前記メモリ部は、前記デジタル信号の各ビットの信号を、各々の1つのビットメモリが保持する複数のビットメモリを有し、
さらに前記撮像装置は、
前記デジタル信号のうちの所定のビットである第1のビットの信号を保持するビットメモリの、前記複数のビットメモリの中からの選択を、前記複数のAD変換部の各々の前記メモリ部で共通に行う選択部を有することを特徴とする撮像装置。 - 前記複数のAD変換部の各々の前記メモリ部は、前記デジタル信号の所定のビットの信号を保持する冗長ビットメモリを前記複数のビットメモリの一部として有し、
前記選択部は、前記第1のビットの信号を保持させるビットメモリとして、前記冗長ビットメモリと前記複数のビットメモリの他の一部のビットメモリのいずれか一方を選択することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。 - 前記第1のビットは、最上位ビットよりも下位のビットであって、
前記選択部は、
前記第1のビットの信号を保持させるビットメモリとして、前記複数のビットメモリから第1のビットメモリを選択し、前記第1のビットの1ビット上位の信号を保持させるビットメモリとして、前記複数のビットメモリのうちの第2のビットメモリを選択する第1の動作と、
前記第1のビットの信号を保持させるビットメモリとして、前記複数のビットメモリのうちの前記第2のビットメモリを選択する第2の動作との一方を、前記複数のAD変換部の各々の前記メモリ部で共通に行うことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。 - 前記第1のビットは、最下位ビットよりも下位のビットであって、
前記選択部は、
前記第1のビットの信号を保持させるビットメモリとして、前記複数のビットメモリのうちの第1のビットメモリを選択し、前記第1のビットの1ビット下位の信号を保持させるビットメモリとして、前記複数のビットメモリのうちの第2のビットメモリを選択する第1の動作と、
前記第1のビットの信号を保持させるビットメモリとして、前記複数のビットメモリのうちの前記第2のビットメモリを選択する第2の動作との一方を、前記複数のAD変換部の各々の前記メモリ部で共通に行うことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。 - 前記複数のAD変換部の各々の前記メモリ部は、前記デジタル信号の所定のビットの信号を保持する冗長ビットメモリを前記複数のビットメモリの一部として有し、
前記第2の動作が、前記第1のビットの信号を、前記複数のビットメモリのうちの前記第2のビットメモリに保持させ、前記第1のビットの1ビット上位の信号を、前記冗長ビットメモリに保持させる動作であることを特徴とする請求項3に記載の撮像装置。 - 前記複数のAD変換部の各々の前記メモリ部は、前記デジタル信号の所定のビットの信号を保持する冗長ビットメモリを前記複数のビットメモリの一部として有し、
前記第2の動作が、前記第1のビットの信号を、前記複数のビットメモリのうちの前記第2のビットメモリに保持させ、前記第1のビットの1ビット下位の信号を、前記冗長ビットメモリに保持させる動作であることを特徴とする請求項4に記載の撮像装置。 - 前記複数のAD変換部の各々の前記メモリ部は、前記複数のビットメモリの一部として第1の冗長ビットメモリと第2の冗長ビットメモリとを有し、
前記選択部は、
前記第1のビットの信号を保持させるビットメモリとして、前記複数のビットメモリのうちの第1のビットメモリを選択し、前記第1のビットとは別のビットである第2のビットの信号を保持させるビットメモリとして、前記複数のビットメモリのうちの第2のビットメモリを選択する第1の動作と、
前記第1のビットの信号を保持させるビットメモリとして、前記第1の冗長ビットメモリを選択し、前記第2のビットの信号を保持させるビットメモリとして、前記第2の冗長ビットメモリを選択する第2の動作の一方を、前記複数のAD変換部の各々の前記メモリ部で共通に行うことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。 - 前記撮像装置はさらに出力部を有し、
前記出力部は、前記第2の動作によって前記デジタル信号を保持した前記メモリ部が出力する前記デジタル信号の前記複数ビットの並びを、前記第1の動作によって前記デジタル信号を保持した場合に前記メモリ部が出力する前記デジタル信号の前記複数ビットの並びと一致するように並び替えることを特徴とする請求項3〜7のいずれか1項に記載の撮像装置。 - 前記撮像装置はさらに、クロックを計数したカウント信号を前記複数のメモリ部に共通して供給する計測カウンタを有し、
前記カウント信号は、前記計測カウンタから前記選択部を介して前記複数のメモリ部に供給されることを特徴とする請求項1〜8のいずれか1項に記載に撮像装置。 - 前記複数のAD変換部の各々は、クロックを計数したカウント信号を前記メモリ部に供給する計測カウンタをさらに有することを特徴とする請求項1〜8のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 請求項1〜10のいずれか1項に記載の撮像装置と、前記撮像装置が出力する信号を処理することで画像を生成する信号処理部とを有することを特徴とする撮像システム。
- 行列状に配され、各々が入射光に基づく光電変換信号を出力する複数の画素と、
前記複数の画素の列に各々が対応して設けられ、各々が前記光電変換信号を複数ビットのデジタル信号に変換する複数のAD変換部とを有し、
前記複数のAD変換部の各々が、前記デジタル信号を保持するメモリ部を有し、
前記メモリ部が、前記デジタル信号の各ビットの信号を各々が保持する複数のビットメモリを有する撮像装置の駆動方法であって、
前記デジタル信号のうちの第1のビットの信号を保持させるビットメモリの前記複数のビットメモリからの選択を、前記複数のAD変換部の各々の前記メモリ部で共通に行うことを特徴とする撮像装置の駆動方法。 - 行列状に配され、各々が入射光に基づく光電変換信号を出力する複数の画素と、
前記複数の画素の列に各々が対応して設けられ、各々が前記光電変換信号を複数ビットのデジタル信号に変換する複数のAD変換部とを有し、
前記複数のAD変換部の各々が、前記デジタル信号を保持するメモリ部を有し、
前記メモリ部が、前記デジタル信号の各ビットの信号を各々が保持する複数のビットメモリを有する撮像装置の検査方法であって、
前記複数のメモリ部の各々の前記複数のビットメモリに第1の信号を入力するステップと、
前記複数のメモリ部の各々が出力する信号と、前記第1の信号とを比較することによって、前記複数のビットメモリにおいて不良のビットメモリの検出を行うステップと、
前記検出の結果に基づいて、前記デジタル信号のうちの第1のビットの信号を保持させるビットメモリの前記複数のビットメモリからの選択を、前記複数のAD変換部の各々の前記メモリ部で共通に行うステップとを有することを特徴とする撮像装置の検査方法。
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