JP2015227947A - 積層体およびその製造方法、偏光板、液晶表示装置、有機ｅｌ表示装置 - Google Patents

Abstract

【課題】偏光子と光配向膜とを含み、偏光子の湿熱耐久性に優れる積層体、積層体の製造方法、並びに、上記積層体を含む、偏光板、液晶表示装置、および、有機ＥＬ表示装置を提供する。【解決手段】偏光子と、偏光子上に隣接して配置された光配向膜とを有し、光配向膜が、光配向膜形成用組成物を偏光子表面に直接接触させて形成される層であり、光配向膜形成用組成物が、光配向性基を有する化合物Ａおよび架橋性基を有する化合物Ｂを含有するか、または、光配向性基および架橋性基を有する化合物Ｃを含有する、積層体。【選択図】なし

Description

本発明は、積層体およびその製造方法、偏光板、液晶表示装置、および、有機ＥＬ表示装置に関する。

液晶表示装置や有機ＥＬ表示装置など種々の表示装置には、偏光板が使用されている。例えば、液晶表示装置に含まれる偏光板としては、位相差を用いた光学補償によってより高品位の画像表示を実現するために、偏光子と光学異方性層とを含む偏光板が使用されている。
偏光板としては、例えば、特許文献１において、偏光膜（偏光子）と液晶性分子から形成された光学異方性層とを有し、光学異方性層が偏光子の表面に配向膜を介して設けられる偏光板が開示されている。つまり、偏光子と、配向膜と、光学異方性層とをこの順で有する偏光板が開示されている。

特開２００４−５３７７０号公報

一方、近年、表示装置（例えば、ＩＰＳモードの液晶表示装置）の薄型化が進んでおり、それに伴い使用される部材（例えば、偏光板）の薄型化が求められている。このような状況を鑑みると、より薄い偏光子を用いることができれば、表示装置の薄型化につながることが期待できる。
本発明者らは、特許文献１を参照して、薄い偏光子上に直接配向膜形成用組成物の層を配置してラビング処理を施して配向膜の作製を試みたところ、厚みの減少による偏光子の機械的強度の低下のために、ラビングロールを押し当てて擦るという処理を実施すると、偏光子自体が裂ける、または、配向膜が剥がれる、などの問題が生じることを知見した。
そこで、本発明者らは、配向膜として、光照射により配向能を発現する、いわゆる光配向膜を用いる検討を行ったところ、得られた偏光子と光配向膜とを含む積層体においては、偏光子の湿熱耐久性は必ずしも十分でなく、更なる改良が必要であった。

本発明は、上記実情に鑑みて、偏光子と光配向膜とを含み、偏光子の湿熱耐久性に優れる積層体を提供することを課題とする。
また、本発明は、上記積層体の製造方法、並びに、上記積層体を含む、偏光板、液晶表示装置、および、有機ＥＬ表示装置を提供することも課題とする。

本発明者らは、従来技術の問題点について鋭意検討した結果、所定の成分を含む光配向膜形成用組成物を用いることにより、上記課題を解決できることを見出した。
すなわち、以下の構成により上記目的を達成することができることを見出した。

（１） 偏光子と、偏光子上に隣接して配置された光配向膜とを有し、
光配向膜が、光配向膜形成用組成物を偏光子表面に直接接触させて形成される層であり、
光配向膜形成用組成物が、光配向性基を有する化合物Ａおよび架橋性基を有する化合物Ｂを含有するか、または、光配向性基および架橋性基を有する化合物Ｃを含有する、積層体。
（２） 光配向性基が、光二量化または光異性化する構造を有する基である、（１）に記載の積層体。
（３） 光配向性基が、アゾベンゼン構造を有する基、および、シンナモイル構造を有する基からなる群から選択される基である、（１）または（２）に記載の積層体。
（４） 架橋性基が、光架橋性基である、（１）〜（３）のいずれかに記載の積層体。
（５） 光架橋性基が、（メタ）アクリロイル基、ビニル基、スチリル基、アリル基、エポキシ基、オキセタニル基、および、ビニルオキシ基からなる群から選択される少なくとも１種を含む、（４）に記載の積層体。
（６） 架橋性基が、熱架橋性基である、（１）〜（３）のいずれかに記載の積層体。
（７） 熱架橋性基が、ヒドロキシ基、カルボキシル基、アミノ基、チオール基、メチロール基、アルコキシシラン基、イソシアネート基、酸無水物基、エポキシ基、オキセタン基、および、ボロン酸基からなる群から選択される少なくとも１種を含む、（６）に記載の積層体。
（８） 熱架橋性基が、ヒドロキシ基、カルボキシル基、アミノ基、および、チオール基からなる群から選択される少なくとも１種と、メチロール基、アルコキシシラン基、イソシアネート基、酸無水物基、エポキシ基、オキセタン基、および、ボロン酸からなる群から選択される少なくとも１種とを含む、（６）または（７）に記載の積層体。
（９） さらに、光配向膜の偏光子側とは反対側の表面上に、液晶化合物を含む光学異方性層を有する、（１）〜（８）のいずれかに記載の積層体。
（１０） （１）〜（９）のいずれかに記載の積層体の製造方法であって、
光配向性基を有する化合物Ａおよび架橋性基を有する化合物Ｂを含有するか、または、光配向性基および架橋性基を有する化合物Ｃを含有する光配向膜形成用組成物を、偏光子表面と直接接触させ、偏光子上に塗膜を形成する工程と、
塗膜に硬化処理および光配向処理を順不同に実施して光配向膜を形成する工程と、を少なくとも有する、積層体の製造方法。
（１１） （１）〜（９）のいずれかに記載の積層体を含む偏光板。
（１２） （１）〜（９）のいずれかに記載の積層体を含む液晶表示装置。
（１３） ＩＰＳモードである、（１２）に記載の液晶表示装置。
（１４） （１）〜（９）のいずれかに記載の積層体を含む有機ＥＬ表示装置。

本発明によれば、偏光子と光配向膜とを含み、偏光子の湿熱耐久性に優れる積層体を提供することができる。
また、本発明によれば、上記積層体の製造方法、並びに、上記積層体を含む、偏光板、液晶表示装置、および、有機ＥＬ表示装置を提供することもできる。

以下、本発明について詳細に説明する。以下に記載する構成要件の説明は、本発明の代表的な実施態様に基づいてなされることがあるが、本発明はそのような実施態様に限定されるものではない。なお、本明細書において「〜」を用いて表される数値範囲は、「〜」の前後に記載される数値を下限値および上限値として含む範囲を意味する。また、角度について「直交」および「平行」とは、厳密な角度±１０°の範囲を意味するものとし、並びに角度について「同一」および「異なる」は、その差が５°未満であるか否かを基準に判断できる。

本発明において、「傾斜角」とは、傾斜した液晶化合物が層平面となす角度を意味し、液晶化合物の屈折率楕円体において最大の屈折率の方向が層平面となす角度のうち、最大の角度を意味する。従って、正の光学的異方性を持つ棒状液晶化合物では、傾斜角は棒状液晶化合物の長軸方向すなわちダイレクター方向と層平面とのなす角度を意味する。また、本発明において、「平均傾斜角」とは、光学異方性層の上界面での上記傾斜角から下界面までの上記傾斜角の平均値を意味する。傾斜角（即ち、光学異方性層の屈折率が最大となる方向の、上記光学異方性層面に対する傾き）は、自動複屈折率計（例えば、ＫＯＢＲＡ−２１ＡＤＨ、王子計測機器（株）社製）を用いて測定することができる。

本明細書において、Ｒｅ（λ）、Ｒｔｈ（λ）は各々、波長λにおける面内のレターデーションおよび厚さ方向のレターデーションを表す。Ｒｅ（λ）はＫＯＢＲＡ ２１ＡＤＨまたはＷＲ（商品名、王子計測機器（株）製）において波長λｎｍの光をフィルム法線方向に入射させて測定される。
測定されるフィルムが１軸または２軸の屈折率楕円体で表されるものである場合には、以下の方法によりＲｔｈ（λ）は算出される。
Ｒｔｈ（λ）は、上記Ｒｅ（λ）を、面内の遅相軸（ＫＯＢＲＡ ２１ＡＤＨまたはＷＲにより判断される）を傾斜軸（回転軸）として（遅相軸がない場合にはフィルム面内の任意の方向を回転軸とする）のフィルム法線方向に対して法線方向から片側５０度まで１０度ステップで各々その傾斜した方向から波長λｎｍの光を入射させて全部で６点測定し、その測定されたレターデーション値と平均屈折率の仮定値および入力された膜厚値を基にＫＯＢＲＡ ２１ＡＤＨまたはＷＲにおいて算出される。

上記において、法線方向から面内の遅相軸を回転軸として、ある傾斜角度にレターデーションの値がゼロとなる方向をもつフィルムの場合には、その傾斜角度より大きい傾斜角度でのレターデーション値はその符号を負に変更した後、ＫＯＢＲＡ ２１ＡＤＨまたはＷＲにおいて算出される。なお、遅相軸を傾斜軸（回転軸）として（遅相軸がない場合にはフィルム面内の任意の方向を回転軸とする）、任意の傾斜した２方向からレターデーション値を測定し、その値と平均屈折率の仮定値および入力された膜厚値を基に、以下の数式（１）および数式（２）によりＲｔｈを算出することもできる。

式中、Ｒｅ（θ）は法線方向から角度θ傾斜した方向におけるレターデーション値を表す。ｎｘは面内における遅相軸方向の屈折率を表し、ｎｙは面内においてｎｘに直交する方向の屈折率を表し、ｎｚはｎｘおよびｎｙに直交する方向の屈折率を表す。ｄはフィルムの膜厚を表す。

測定されるフィルムが１軸や２軸の屈折率楕円体で表現できないもの、いわゆる光学軸（ＯＰＴＩＣ ＡＸＩＳ）がないフィルムの場合には、以下の方法によりＲｔｈ（λ）が算出される。
Ｒｔｈ（λ）は、上記Ｒｅ（λ）を、面内の遅相軸（ＫＯＢＲＡ ２１ＡＤＨまたはＷＲにより判断される）を傾斜軸（回転軸）としてフィルム法線方向に対して−５０度から＋５０度まで１０度ステップで各々その傾斜した方向から波長λｎｍの光を入射させて１１点測定し、その測定されたレターデーション値と平均屈折率の仮定値および入力された膜厚値を基にＫＯＢＲＡ ２１ＡＤＨまたはＷＲにより算出される。
上記の測定において、平均屈折率の仮定値は、ポリマーハンドブック（ＪＯＨＮ ＷＩＬＥＹ＆ＳＯＮＳ，ＩＮＣ）、各種光学フィルムのカタログの値を使用することができる。平均屈折率の値が既知でないものについてはアッベ屈折計で測定することができる。主な光学フィルムの平均屈折率の値を以下に例示する：セルロースアシレート（１．４８）、シクロオレフィンポリマー（１．５２）、ポリカーボネート（１．５９）、ポリメチルメタクリレート（１．４９）、ポリスチレン（１．５９）である。これら平均屈折率の仮定値と膜厚を入力することで、ＫＯＢＲＡ ２１ＡＤＨまたはＷＲにおいてｎｘ、ｎｙ、ｎｚが算出される。この算出されたｎｘ、ｎｙ、ｎｚによりＮｚ＝（ｎｘ−ｎｚ）／（ｎｘ−ｎｙ）が更に算出される。

本発明の積層体の特徴点の一つとしては、所定の成分を含む光配向膜形成用組成物を直接偏光子に接触させて光配向膜を形成している点が挙げられる。光配向膜形成用組成物中には、架橋性基を有する化合物（後述する化合物ＢまたはＣ）が含まれる。偏光子の湿熱耐久性が向上する理由の詳細は不明だが、上記架橋性基を有する化合物が影響していると考えられる。より具体的には、この化合物は架橋性基を介して偏光子と結合可能であり、光配向膜と偏光子との間の密着性が向上することにより、例えば、偏光子中にヨウ素などの２色性成分が含まれる場合、この２色性成分の移動が抑制され、結果として偏光子の湿熱耐久性（湿熱環境下における耐久性）が向上するものと考えられる。

本発明の積層体は、偏光子と、偏光子上に隣接して配置された光配向膜とを有する。
以下では、まず、積層体の製造方法について詳述し、その後、積層体の構成について詳述する。

＜積層体の製造方法＞
積層体の製造方法は、光配向膜形成用組成物を偏光子表面と直接接触させ、偏光子上に塗膜を形成する工程（工程１）と、塗膜から光配向膜を形成する工程（工程２）とを少なくとも有する。
以下、工程ごとに使用される材料および手順について詳述する。

［工程１：塗膜形成工程］
工程１は、光配向膜形成用組成物を偏光子表面と直接接触させ、偏光子上に塗膜を形成する工程である。本工程を実施することにより、光配向膜の前駆体膜に該当する塗膜（光配向材料層）が得られる。
以下では、まず、本工程で使用される部材・材料について詳述し、その後、本工程の手順について詳述する。

（偏光子）
偏光子は、光を特定の直線偏光に変換する機能を有する部材（直線偏光子）であればよく、主に、吸収型偏光子を利用することができる。
吸収型偏光子としては、ヨウ素系偏光子、二色性染料を利用した染料系偏光子、およびポリエン系偏光子などが用いられる。ヨウ素系偏光子および染料系偏光子には、塗布型偏光子と延伸型偏光子があり、いずれも適用できるが、ポリビニルアルコールにヨウ素または二色性染料を吸着させ、延伸して作製される偏光子が好ましい。
なかでも、取り扱い性の点から、ポリビニルアルコール系樹脂（−ＣＨ_２−ＣＨＯＨ−を繰り返し単位として含むポリマー、特に、ポリビニルアルコールおよびエチレン−ビニルアルコール共重合体からなる群から選択される少なくとも１つが好ましい。）を含む偏光子であることが好ましい。
なお、吸収型偏光子以外にも、複屈折の異なる薄膜を積層した偏光子、ワイヤーグリッド型偏光子、選択反射域を有するコレステリック液晶と１／４波長板とを組み合わせた偏光子などの反射型偏光子も使用可能である。
偏光子の厚みは特に制限されないが、画像表示装置の薄型化の点から、３５μｍ以下が好ましく、３〜２５μｍがより好ましく、５〜２０μｍがさらに好ましい。

（光配向膜形成用組成物）
光配向膜形成用組成物は、光配向膜を形成するために使用される組成物であり、光配向性基を有する化合物Ａおよび架橋性基を有する化合物Ｂを含有するか、または、光配向性基および架橋性基を有する化合物Ｃを含有する。つまり、光配向膜形成用組成物は、光配向性基を有する化合物Ａおよび架橋性基を有する化合物Ｂという２種の化合物を含有するか、または、光配向性基および架橋性基を有する化合物Ｃという２種の官能基を有する一分子を含有する。なお、化合物Ｃを使用する場合は、光配向膜形成用組成物には上記化合物Ｃと共に、さらに化合物Ａおよび／または化合物Ｂが含まれていてもよい。

化合物Ａおよび化合物Ｃに含まれる光配向性基とは、光照射により膜に異方性を付与することができる官能基である。より具体的には、光、例えば平面偏光の照射により、その基中の分子構造に変化が起こり得る基であり、典型的には、光、例えば平面偏光の照射により、光異性化反応、光二量化反応、および光分解反応から選ばれる少なくとも１つの光反応が引き起こされる基をいう。
これら光配向性基の中でも、光異性化反応を起こす基（光異性化する構造を有する基）、および、光二量化反応を起こす基（光二量化する構造を有する基）が好ましく、光二量化反応を起こす基がより好ましい。

上記光異性化反応とは、光の作用で立体異性化、構造異性化を引き起こす反応をいう。このような光異性化反応を起こす物質としては、例えば、アゾベンゼン構造を有する物質（K. Ichimura et al.,Mol.Cryst.Liq.Cryst.,298,221(1997)）、ヒドラゾノ−β−ケトエステル構造を有する物質（S. Yamamura et al., Liquid Crystals, vol. 13, No. 2, page 189 (1993)）、スチルベン構造を有する物質（J.G.Victor and J.M.Torkelson,Macromolecules,20,2241(1987)）、およびスピロピラン構造を有する物質（K. Ichimura et al., Chemistry Letters, page 1063 (1992) ；K.Ichimura et al., Thin Solid Films, vol. 235, page 101 (1993)）などが知られている。
上記光異性化反応を起こす基としては、Ｃ＝Ｃ結合またはＮ＝Ｎ結合を含む光異性化反応を起こす基が好ましく、このような基としては、例えば、アゾベンゼン構造（骨格）を有する基、ヒドラゾノ−β−ケトエステル構造（骨格）を有する基、スチルベン構造（骨格）を有する基、スピロピラン構造（骨格）を有する基などが挙げられる。

上記光二量化反応とは、光の作用で二つの基の間で付加反応が起こり、典型的には環構造が形成される反応をいう。このような光二量化を起こす物質としては、例えば、桂皮酸構造を有する物質（M. Schadt et al., J. Appl. Phys., vol. 31, No. 7, page 2155 (1992)）、クマリン構造を有する物質（M. Schadt et al., Nature., vol. 381, page 212 (1996)）、カルコン構造を有する物質（小川俊博他、液晶討論会講演予稿集，2AB03(1997))、ベンゾフェノン構造を有する物質（Y. K. Jang et al., SID Int. Symposium Digest,P-53(1997)）などが知られている。
上記光二量化反応を起こす基としては、例えば、桂皮酸（シンナモイル）構造（骨格）を有する基、クマリン構造（骨格）を有する基、カルコン構造（骨格）を有する基、ベンゾフェノン構造（骨格）を有する基、アントラセン構造（骨格）を有する基などが挙げられる。これら基の中でも、桂皮酸構造を有する基、クマリン構造を有する基が好ましく、桂皮酸構造を有する基がより好ましい。

なお、化合物Ａおよび化合物Ｃに含まれる光配向性基の数は特に制限されず、複数あってもよい。また、化合物Ａおよび化合物Ｃには、１種のみ、または、複数種の光配向性基が含まれていてもよい。

化合物Ｂおよび化合物Ｃに含まれる架橋性基とは、架橋可能な基であり、上述した偏光子と架橋（結合）可能な基であることが好ましい。なお、架橋性基は、架橋性基同士で反応してもよい。
架橋性基の種類は特に制限されないが、架橋反応（硬化反応）によって、主に、光架橋性基と熱架橋性基とが挙げられる。
光架橋性基とは光照射によって架橋する基であり、例えば、ラジカル重合性基やカチオン重合性基が挙げられる。ラジカル重合性基としては、好適なものとして、（メタ）アクリロイル基を挙げることができる。カチオン重合性基としては、具体的には、脂環式エーテル基、環状アセタール基、環状ラクトン基、環状チオエーテル基、スピロオルソエステル基、ビニルオキシ基などを挙げることができる。なかでも、脂環式エーテル基、ビニルオキシ基が好適であり、エポキシ基、オキセタニル基、ビニルオキシ基が特に好ましい。なかでも、光架橋性基としては、（メタ）アクリロイル基、ビニル基、スチリル基、アリル基、エポキシ基、オキセタニル基、または、ビニルオキシ基などが好ましく挙げられる。（メタ）アクリロイル基とは、メタアクリロイル基およびアクリロイル基の両者を包含する概念である。
なお、光架橋性基の中には、上述した光配向性基（例えば、桂皮酸構造を有する基）は含まれない。

熱架橋性基とは加熱処理によって架橋する基であり、例えば、架橋剤ハンドブック（山本晋三、金子東助：大成社）に記載されている架橋性基が挙げられる。その中でも、アミド基、ハロゲン基、ヒドロキシ基、カルボキシル基、メチロール基、アルコキシシラン基、イソシアネート基、チオール基、酸無水物基、エポキシ基、オキセタン基、ボロン酸基、ビニル基、アルデヒド基、オキシム基などが好ましく挙げられ、ヒドロキシ基、カルボキシル基、メチロール基、アルコキシシラン基、イソシアネート基、酸無水物基、エポキシ基、オキセタン基、ボロン酸基などがより好ましく挙げられ、メチロール基、エポキシ基がさらに好ましい。

熱架橋性基の好適態様の一つしては、熱架橋性基が、ヒドロキシ基、カルボキシル基、アミノ基、および、チオール基からなる群から選択される少なくとも１種（熱架橋性基Ａ）と、メチロール基、アルコキシシラン基、イソシアネート基、酸無水物基、エポキシ基、オキセタン基、および、ボロン酸からなる群から選択される少なくとも１種（熱架橋性基Ｂ）とを含む態様が挙げられる。つまり、化合物中に含まれる熱架橋性基として、上記群から選択される熱架橋性基Ａと、上記群から選択される熱架橋性基Ｂとを有することが好ましい。上記態様であれば、偏光子の湿熱耐久性がより優れる。

なお、化合物Ｂおよび化合物Ｃに含まれる架橋性基の数は特に制限されず、複数あってもよい。化合物Ｂおよび化合物Ｃが後述するように低分子化合物である場合に、架橋性基の数が複数ある際、その数は２〜１０個が好ましく、４〜８個がより好ましい。
また、化合物Ｂおよび化合物Ｃには、１種のみ、または、複数種の架橋性基が含まれていてもよい。

化合物Ａ、化合物Ｂ、および、化合物Ｃは、いずれも低分子化合物であっても、高分子化合物であってもよい。低分子化合物とは分子量が２０００以下の化合物を意図し、高分子化合物とは分子量が２０００超の化合物を意図する。
化合物Ａ〜Ｃが高分子化合物である場合は、これらの化合物は所定の繰り返し単位を有することが好ましい。例えば、化合物Ａおよび化合物Ｃは、光配向性基を有する繰り返し単位（好ましくは、以下の式（Ａ１）で表される繰り返し単位）を有することが好ましく、化合物Ｂおよび化合物Ｃは、架橋性基を有する繰り返し単位（好ましく、以下の式（Ａ２）で表される繰り返し単位）を有することが好ましい。
なお、化合物Ｃは、光配向性基および架橋性基の両方を有する繰り返し単位を有していてもよい。

式（Ａ１）および式（Ａ２）中、Ｒ_１およびＲ_２は、それぞれ独立に、水素原子またはアルキル基を表す。アルキル基としては、炭素数１〜３のアルキル基が好ましく、メチル基がより好ましい。
式（Ａ１）および式（Ａ２）中、Ｌ_１およびＬ_２は、それぞれ独立に、単結合または２価の連結基を表す。２価の連結基としては、例えば、−Ｏ−、−ＣＯ−、−ＮＨ−、−ＣＯ−ＮＨ−、−ＣＯＯ−、−Ｏ−ＣＯＯ−、アルキレン基、アリーレン基、ヘテロ環基（ヘテロアリール基）、および、それらの組み合わせから選ばれる２価の連結基が挙げられる。
式（Ａ１）中、Ｘは光配向性基を表す。光配向性基の定義は上述の通りである。
式（Ａ２）中、Ｙは架橋性基を表す。架橋性基の定義は上述の通りである。

なお、化合物Ｃの一例としては、例えば、特開２００６−２８５１９７号公報に記載されている下記式（Ｘ）で示される化合物を挙げることができる。

式中、Ｒ^１およびＲ^２は、各々独立して、ヒドロキシ基、または（メタ）アクリロイル基、（メタ）アクリロイルオキシ基、（メタ）アクリルアミド基、ビニル基、ビニルオキシ基、およびマレイミド基からなる群から選ばれる重合性基を表す。
Ｘ^１は、Ｒ^１がヒドロキシ基の場合、単結合を表し、Ｒ^１が重合性基の場合、−（Ａ^１−Ｂ^１）_ｍ−で表される連結基を表し、Ｘ^２は、Ｒ^２がヒドロキシ基の場合、単結合を表し、Ｒ^２が重合性基の場合、−（Ａ^２−Ｂ^２）_ｎ−で表される連結基を表す。ここで、Ａ^１はＲ^１と結合し、Ａ^２はＲ^２と結合し、Ｂ^１およびＢ^２は各々隣接するフェニレン基と結合する。Ａ^１およびＡ^２は各々独立して単結合、または２価の炭化水素基を表し、Ｂ^１およびＢ^２は各々独立して単結合、−Ｏ−、−ＣＯ−Ｏ−、−Ｏ−ＣＯ−、−ＣＯ−ＮＨ−、−ＮＨ−ＣＯ−、−ＮＨ−ＣＯ−Ｏ−、または−Ｏ−ＣＯ−ＮＨ−を表す。ｍおよびｎは各々独立して０〜４の整数を表す。但し、ｍまたはｎが２以上のとき、複数あるＡ^１、Ｂ^１，Ａ^２およびＢ^２は同じであっても異なっていてもよい。但し、二つのＢ^１またはＢ^２の間に挟まれたＡ^１またはＡ^２は、単結合ではないものとする。Ｒ^３およびＲ^４は各々独立して、水素原子、ハロゲン原子、カルボキシル基、ハロゲン化メチル基、ハロゲン化メトキシ基、シアノ基、ニトロ基、−ＯＲ^７（ただしＲ^７は、炭素原子数１〜６の低級アルキル基、炭素原子数３〜６シクロアルキル基または炭素原子数１〜６の低級アルコキシ基で置換された炭素原子数１〜６の低級アルキル基を表す）、炭素原子数１〜４のヒドロキシアルキル基、−ＣＯＮＲ^８Ｒ^９（Ｒ^８およびＲ^９は、各々独立して水素原子または炭素原子数１〜６の低級アルキル基を表す）、またはメトキシカルボニル基を表す。但し、カルボキシル基はアルカリ金属と塩を形成していてもよい。
Ｒ^５およびＲ^６は各々独立して、カルボキシル基、スルホ基、ニトロ基、アミノ基、またはヒドロキシ基を表す。但し、カルボキシル基、スルホ基はアルカリ金属と塩を形成していてもよい。

光配向膜形成用組成物には、上述した化合物（化合物Ａ〜Ｃ）以外の成分が含まれていてもよい。
例えば、光配向膜形成用組成物には、溶媒が含まれていてもよい。溶媒の種類は特に制限されず、水や有機溶媒が挙げられる。有機溶媒の例には、アミド系溶媒（例：Ｎ，Ｎ−ジメチルホルムアミド）、スルホキシド（例：ジメチルスルホキシド）、ヘテロ環化合物系溶媒（例：ピリジン）、炭化水素系溶媒（例：ベンゼン、ヘキサン）、アルキルハライド系溶媒（例：クロロホルム、ジクロロメタン）、エステル系溶媒（例：酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル）、ケトン系溶媒（例：アセトン、メチルエチルケトン）、エーテル系溶媒（例：テトラヒドロフラン、１，２−ジメトキシエタン）が含まれる。
光配向膜形成用組成物中に溶媒が含まれる場合、光配向膜形成用組成物中に含まれる固形分濃度は、取り扱い性（塗布性など）の点から、組成物全質量に対して、０．１〜１０質量％が好ましく、１〜５質量％がより好ましい。
なお、固形分とは、光配向膜を形成する成分（例えば、化合物Ａ〜Ｃ）を意図する。

また、光配向膜形成用組成物に含まれてもよい他の成分としては、重合開始剤（ラジカル重合開始剤やカチオン重合開始剤）や、硬化剤などが挙げられる。
なお、後述するように、硬化処理を光照射処理で実施する場合は、光配向性基由来の吸収帯とは異なる光吸収波長帯域を持つ光重合開始剤を使用するのが好ましい。

（工程の手順）
本工程においては、光配向膜形成用組成物を偏光子表面と直接接触させることができれば、その方法は特に制限されず、公知の方法が採用される。例えば、スピンコート法、ロールコート法、フローコート法、プリント法、ディップコート法、流延成膜法、バーコート法、グラビア印刷法などが挙げられる。
なお、光配向膜形成用組成物と接触させる偏光子の表面は、片面だけでも、両面でもよい

光配向膜形成用組成物を偏光子表面に接触させた後、必要に応じて、揮発成分（例えば、溶媒）を除去するために乾燥処理を実施してもよい。乾燥処理の方法は特に制限されず、風乾処理や、加熱処理などが挙げられる。
上記手順によって得られる塗膜の厚みは特に制限されず、後述する光配向膜の所望の厚みが得られるように、適宜調整される。なかでも、光配向膜の配向性および取り扱い性の点から、１０ｎｍ〜１０μｍが好ましく、２０ｎｍ〜１μｍがより好ましい。

［工程２：光配向膜形成工程］
工程２は、上記工程１で得られた塗膜から光配向膜を形成する工程である。なお、光配向膜とは、後述するように、光照射により配向規制力が発現された配向膜をいう。
このような光配向膜を形成する手順としては、塗膜に対して硬化処理および光配向処理を順不同に実施する方法が挙げられる。より具体的には、塗膜に対して硬化処理を実施して、その後光配向処理を実施してもよいし、塗膜に対して光配向処理を実施して、その後硬化処理を実施してもよい。
以下、それぞれの処理の手順について詳述する。

（硬化処理）
硬化処理とは、上述した架橋性基を反応させる処理を意図する。本処理を実施することにより、塗膜中において架橋性基同士の反応や、偏光子と塗膜中の架橋性基との反応が進行する。このような反応が進行することにより、偏光子の湿熱耐久性が向上する。
硬化処理の手順は架橋性基の種類によって適宜最適な処理が選択されるが、架橋性基が光架橋性基の場合は光照射処理（光硬化処理）が実施され、架橋性基が熱架橋性基の場合は加熱処理（熱硬化処理）が実施されることが好ましい。

光照射処理で使用される光源の種類は特に制限されないが、上記光配向性基が有する吸収帯以外の波長で行われることが好ましく、具体的には３２０ｎｍ以下の紫外光を照射することが好ましく、２５０〜３００ｎｍの波長の光を照射することがより好ましい。ただし、３２０ｎｍ以下の紫外光により光配向膜の分解などが引き起こされる場合は、３２０ｎｍ以上の紫外光で重合処理を行ったほうが好ましい場合もある。
また、照射される光は、光配向性基の配向を乱さないために、拡散光で、かつ、偏光していない光であることが好ましい。
なお、光照射を後述する光配向処理と同じ方向から照射する場合は、光配向性基の配向状態を乱す恐れがないので、任意の波長を使用することができる。

加熱処理での加熱温度は特に制限されず、熱架橋性基の種類によって適宜最適な加熱温度が選択されるが、通常、４０〜３００℃の範囲が好ましく、５０〜１５０℃の範囲がより好ましい。

（光配向処理）
光配向処理とは、塗膜中に含まれる光配向性基に対して光を照射して、一定の方向に配列させ、液晶配向能を付与する処理である。
光配向処理の一つの方法としては、偏光を塗膜に照射する方法が挙げられる。偏光の照射は塗膜面に対して法線方向（垂直方向）から実施してもよいし、プレチルト角を付与するために斜め方向から実施してもよく、また、これらを組み合わせて行ってもよい。偏光の種類は特に制限されず、直線偏光、楕円偏光のいずれでもよいが、効率よく光配向を行うためには、消光比の高い直線偏光を使用することが好ましい。
光配向処理の他の方法としては、非偏光（無偏光の光）を塗膜に照射する方法が挙げられる。なお、非偏光を照射する場合は、塗膜面に対して斜めの方向から非偏光を照射する。このときの非偏光の入射角は塗膜表面の法線に対して１０〜８０°の範囲が好ましく、照射面における照射エネルギ−の均一性、得られるプレチルト角、配向効率等を考慮すると、２０〜６０°の範囲がより好ましく、４５°が最も好ましい。

なお、光照射装置において偏光を得るためには偏光フィルタ等を使用する必要があるので、塗膜面に照射される光強度が減少するといった欠点があるが、非偏光を照射する方法では、照射装置に偏光フィルタ等を必要とせず、大きな照射強度が得られ、光配向のための照射時間を短縮することができるという利点がある。
また、偏光を照射する際に、フォトマスクを使用すれば、光配向膜にパターン状に２以上の異なった方向に液晶配向能を生じさせることができる。具体的には、塗膜にフォトマスクを被せて全面に偏光または非偏光を照射し、パターン状に露光部分に液晶配向能を与えることができる。必要に応じてこれを複数回繰り返すことで、複数方向に液晶配向能を生じさせることができる。

光配向処理で照射される光の種類は特に制限されず、光配向性基の吸収帯に応じて最適な波長の光が選択されるが、例えば、１５０ｎｍ〜８００ｎｍの波長の光を含む紫外線および可視光線を用いることができ、３５０ｎｍ〜５００ｎｍの波長の光を用いることが好ましい。
照射光の光源としては、例えば、キセノンランプ、高圧水銀ランプ、超高圧水銀ランプ、メタルハライドランプ、ＫｒＦ、ＡｒＦ等の紫外光レ−ザ−等が挙げられる。
なお、光源からの光を偏光フィルタやグラントムソン、グランテ−ラ−等の偏光プリズムを通すことで直線偏光を得ることができる。また、偏光、非偏光のいずれを使用する場合でも、照射する光は、ほぼ平行光であることが特に好ましい。

光配向処理における照射量は特に制限されないが、効率よく液晶配向能を付与でき、製造コストが優れる点で、０．１〜３０００ｍＪ／ｃｍ^２が好ましく、１〜１０００ｍＪ／ｃｍ^２がより好ましい。

＜積層体＞
上述した工程を経ることにより、偏光子と、偏光子上に隣接して配置された光配向膜とを有する積層体が得られる。本発明の積層体は、偏光子と光配向膜とが直接接触していることから表示装置の薄型化に対応可能である。
積層体中に含まれる偏光子の定義は、上述の通りである。
積層体中に含まれる光配向膜は、上述したように、光の吸収により液晶配向能を生じる基（光配向性基）を有する化合物を含有する、液晶配向能を有する膜である。光配向膜中においては、上述した光配向処理によって、光配向性基が一定の方向に配列している。
光配向膜の厚みは特に制限されず、後述する光配向膜の所望の厚みが得られるように、適宜調整される。なかでも、光配向膜の配向性および取り扱い性の点から、１０ｎｍ〜１０μｍが好ましく、２０ｎｍ〜１μｍがより好ましい。
なお、上述したように、化合物Ｂおよび化合物Ｃに含まれる架橋性基は硬化処理の際に反応してほぼ失活するが、光配向膜中に一部残存していてもよい。

積層体には、偏光子および光配向膜以外の層が含まれていてもよく、例えば、光配向膜上（偏光子側とは反対側の表面上）に光学異方性層が配置されていてもよい。
以後、光学異方性層について詳述する。

（光学異方性層）
光学異方性層とは、この層を通過した光に位相差を生じさせる層をいう。光学異方性層には、液晶化合物が含まれることが好ましい。光学異方性層中においては、液晶化合物は一定の方向に配向した状態で固定されることが好ましい。
液晶化合物の種類は特に制限されないが、その形状から、棒状タイプ（棒状液晶化合物）と円盤状タイプ（円盤状液晶化合物。ディスコティック液晶化合物）に分類できる。さらにそれぞれ低分子タイプと高分子タイプがある。高分子とは一般に重合度が１００以上のものを指す（高分子物理・相転移ダイナミクス，土井 正男 著，２頁，岩波書店，１９９２）。本発明では、いずれの液晶化合物を用いることもできる。２種以上の棒状液晶化合物、２種以上の円盤状液晶化合物、または、棒状液晶化合物と円盤状液晶化合物との混合物を用いてもよい。
なお、棒状液晶化合物としては、例えば、特表平１１−５１３０１９号公報の請求項１や特開２００５−２８９９８０号公報の段落［００２６］〜［００９８］に記載のものを好ましく用いることができ、特に、本発明の積層体を含む表示装置のパネルコントラストがより優れる点で、スメクチック相を示す光学異方性層が好ましい。円盤状液晶化合物としては、例えば、特開２００７−１０８７３２号公報の段落［００２０］〜［００６７］や特開２０１０−２４４０３８号公報の段落［００１３］〜［０１０８］に記載のものを好ましく用いることができるが、これらに限定されない。

光学異方性層は、光学特性の温度変化や湿度変化を小さくできることから、重合性基を有する液晶化合物（棒状液晶化合物または円盤状液晶化合物）を用いて形成することがより好ましい。液晶化合物は２種類以上の混合物でもよく、その場合少なくとも１つが２以上の重合性基を有していることが好ましい。
つまり、光学異方性層は、重合性基を有する棒状液晶化合物または円盤状液晶化合物が重合等によって固定されて形成された層であることが好ましく、この場合、層となった後はもはや液晶性を示す必要はない。
棒状液晶化合物または円盤状液晶化合物に含まれる重合性基の種類は特に制限されず、付加重合反応が可能な官能基が好ましく、重合性エチレン性不飽和基または環重合性基が好ましい。より具体的には、（メタ）アクリロイル基、ビニル基、スチリル基、アリル基などが好ましく挙げられ、（メタ）アクリロイル基がより好ましい。

光学異方性層の形成方法は特に制限されず、公知の方法が挙げられる。
例えば、光配向膜上に、重合性基を有する液晶化合物を含む光学異方性層用組成物（以後、単に「組成物」とも称する）を塗布して塗膜を形成し、得られた塗膜に対して硬化処理（紫外線の照射（光照射処理）または加熱処理）を施すことにより、光学異方性層を製造できる。
上記組成物の塗布としては、公知の方法（例えば、ワイヤーバーコーティング法、押し出しコーティング法、ダイレクトグラビアコーティング法、リバースグラビアコーティング法、ダイコーティング法）により実施できる。

上記組成物には、上述した液晶化合物以外の成分が含まれていてもよい。
例えば、組成物には、重合開始剤が含まれていてもよい。使用される重合開始剤は、重合反応の形式に応じて選択され、例えば、熱重合開始剤、光重合開始剤が挙げられる。例えば、光重合開始剤の例には、α−カルボニル化合物、アシロインエーテル、α−炭化水素置換芳香族アシロイン化合物、多核キノン化合物、または、トリアリールイミダゾールダイマーとｐ−アミノフェニルケトンとの組み合わせなどが挙げられる。

また、組成物には、塗工膜の均一性、膜の強度の点から、重合性モノマーが含まれていてもよい。重合性モノマーとしては、ラジカル重合性またはカチオン重合性の化合物が挙げられる。好ましくは、多官能性ラジカル重合性モノマーであり、上記の重合性基含有の液晶化合物と共重合性のものが好ましい。例えば、特開２００２−２９６４２３号公報中の段落［００１８］〜［００２０］に記載のものが挙げられる。

また、組成物には、塗工膜の均一性、膜の強度の点から、界面活性剤が含まれていてもよい。界面活性剤としては、従来公知の化合物が挙げられるが、特にフッ素系化合物が好ましい。具体的には、例えば特開２００１−３３０７２５号公報中の段落［００２８］〜［００５６］に記載の化合物、特願２００３−２９５２１２号明細書中の段落［００６９］〜［０１２６］に記載の化合物が挙げられる。

また、組成物には溶媒が含まれていてもよく、有機溶媒が好ましく用いられる。有機溶媒の例としては、上述した光配向膜形成用組成物に含まれてもよい有機溶媒などが挙げられる。

また、組成物には、偏光界面側垂直配向剤、空気界面側垂直配向剤など垂直配向促進剤、偏光子界面側水平配向剤、空気界面側水平配向剤など水平配向促進剤などの各種配向剤が含まれていてもよい。これらの配向制御剤は、偏光子界面側または空気界面側において棒状液晶化合物を水平に配向制御可能な配向制御剤であり、円盤状液晶化合物を垂直に配向制御可能な配向制御剤である。これらの配向制御剤としては、公知の化合物が適宜使用されるが、例えば、円盤状液晶化合物の偏光子界面側垂直配向剤としては特開２０１２−２１５７０４号公報の段落［００７９］〜［０１０４］に記載の化合物が挙げられ、空気界面側垂直配向剤としては特開２０１２−２１５７０４号公報の段落［０１０６］〜［０１１３］に記載の化合物が挙げられ、その内容は本明細書に参照として取り込まれる。

さらに、組成物には、上記成分以外に、密着改良剤、可塑剤、ポリマーなどが含まれていてもよい。

光学異方性層の厚さは、用いる素材や設定する位相差値によっても異なるが、０．１〜１５μｍであることが好ましく、０．２〜１０μｍであることがより好ましく、０．３〜８μｍであることがさらに好ましい。
また、光学異方性層の波長５５０ｎｍにおける面内レターデーションＲｅ（５５０）は、用途によって好ましい範囲が異なる。
例えば、光学異方性層を含む偏光板を円偏光板等に用いられるλ/４板として作製する場合は、位相差がλ／４程度である位相差領域とするため、光学異方性層のＲｅ（５５０）が、１０〜２００ｎｍであることが好ましく、１１０〜１８０ｎｍであることがより好ましく、１１５〜１７０ｎｍであることがさらに好ましく、１２０〜１６０ｎｍであることが特に好ましい。この場合、Ｒｔｈ（５５０）としては特に制限されないが、Ａプレートである場合は、（Ｒｔｈ／Ｒｅ）＋０．５として表されるＮｚ係数の範囲が０．８〜１．２を満たす値であることが好ましく、１．０であることが最も好ましい。
また、λ／２板として作製する場合は、位相差がλ／２程度である位相差領域とするため、Ｒｅ（５５０）が、２２０〜３２５ｎｍであることが好ましく、２５０〜３００ｎｍであることがより好ましい。この場合、Ｒｔｈ（５５０）としては特に制限されないが、Ａプレートである場合は、（Ｒｔｈ／Ｒｅ）＋０．５として表されるＮｚ係数の範囲が０．８〜１．２を満たす値であることが好ましく、１．０であることが最も好ましい。
また、正のＣプレートと組合せた積層体をλ／２板様に用いる場合は、組み合わせるＣプレートの物性によって最適値は異なるが、例えば、１００ｎｍ≦Ｒｅ（５５０）≦１８０ｎｍが好ましく、１００ｎｍ≦Ｒｅ（５５０）≦１５０ｎｍがより好ましく、１２０ｎｍ≦Ｒｅ（５５０）≦１４０ｎｍがさらに好ましい。また、光学異方性層の波長５５０ｎｍにおける厚さ方向のレターデーションＲｔｈ（５５０ｎｍ）も用途によって好ましい範囲が異なるが、例えば、３０ｎｍ≦Ｒｔｈ（５５０）≦１００ｎｍが好ましく、４０ｎｍ≦Ｒｔｈ（５５０）≦９０ｎｍがより好ましく、５０ｎｍ≦Ｒｔｈ（５５０）≦８０ｎｍがさらに好ましい。

光学異方性層の好適態様の一つとして、重合性棒状液晶化合物がスメクチック相を発現した状態を固定した光学異方性層、または、重合性棒状液晶化合物がスメクチック相とネマチック相を示し、ネマチック相を発現した状態を固定化した光学異方性層が挙げられる。
なお、上記光学異方性層中、液晶化合物の分子はホモジニアス配向（水平配向）または液晶化合物が１０°以下の傾斜角を有した略水平の傾斜配向のスメクチック相またはネマチック相の状態で固定されていることが好ましい。上記の傾斜角は、屈折率の最大方向と層平面となす角が１０°以下であることを意図し、好ましくは３°以下、特に好ましくは１°以下である。屈折率の最大方向と層平面となす角の下限は０°以上であれば特に限定されない。

上記光学異方性層は、スメクチック液晶を固定化して作製できる。スメクチック液晶を用いる場合は、まずスメクチック液晶を（略）水平配向させた後、重合や光架橋や熱架橋によって固定することによって形成する。
スメクチック液晶は配向揺らぎによる光学異方性層の散乱偏光解消が小さいために１００ｎｍ以上の比較的大きなレターデーションが必要な使用においてより好ましく用いることができる。なお、スメクチック相としては特に限定が無くＳｍＡ，ＳｍＢ，ＳｍＣや、より高次の相であってもよい。
スメクチック相の状態で液晶化合物が固定されているかを確認するには、Ｘ線回折パターンによる観察によって行うことができる。スメクチック相の状態で固定されていれば、層秩序に由来するＸ線回折パターンが観察されるため、固定されている状態の判別が可能である。本発明の光学異方性層は、スメクチック液晶を、ネマチック相を示した状態で固定化したものでもよい。ネマチック相の状態で液晶化合物が固定されているかを確認するには、Ｘ線回折パターンによる観察によって行うことができる。ネマチック相の状態で固定されていれば、層形成に由来する低角側のシャープなピークは観測されず、広角側にブロードなハローピークのみが観測されることにより、固定されている状態の判別が可能である。
なお、本発明では所望の特性が得られる限りにおいて、ネマチック相のみ発現する液晶化合物を用いて、配向状態を固定させた光学異方性層を用いることも妨げない。

（光学異方性層の用途）
本発明の光学異方性層は、種々の用途に好ましく用いることができる。例えば、液晶セルを光学補償するための光学補償フィルムや、有機ＥＬ表示装置で外光の反射を防止するための広帯域λ／４板、または、λ／２板やλ／４板の位相差板として有用である。
さらに、光学異方性層としては、散乱成分が少ない、高コントラストなＡプレートまたは準Ａプレートを得ることができる。特に、逆波長分散性のＡプレートまたは準Ａプレートが得られるので、有機ＥＬ表示装置の広帯域λ／４板や液晶表示装置の光学補償フィルムとして好ましく用いることができる。
特に、光学異方性層としては、傾斜角が抑制された、Ａプレートまたは準Ａプレートが得られるので、プレ傾斜角０°の光配向膜を使用したＩＰＳ型やＦＦＳ型の液晶表示装置の光学補償フィルムとして好ましく用いることもできる。

本明細書では、傾斜角が１０°以下、特に１°以下の低傾斜（低傾斜角）の光学異方性層は、実質的に面内に遅相軸を有する、一軸性の複屈折層とみなす。
光学異方性層の実施態様の一例としては、波長４５０ｎｍ、５５０ｎｍおよび６５０ｎｍで測定したレターデーション値であるＲｅ（４５０）、Ｒｅ（５５０）およびＲｅ（６５０）が下記式（１）〜（３）を満足する、ポジティブＡプレートを挙げることができる。
式（１） １００≦Ｒｅ（５５０）≦１８０ｎｍ
式（２） ０．７０≦Ｒｅ（４５０）／Ｒｅ（５５０）≦０．９５
式（３） １．００≦Ｒｅ（６５０）／Ｒｅ（５５０）≦１．３０
なお、この光学異方性層の面内遅相軸は、偏光子の吸収軸とは直交していることが好ましい。

さらに、この光学異方性層に、波長５５０ｎｍで測定した厚み方向のレターデーション値であるＲｔｈ（５５０）が下記式（４）を満足する、ポジティブＣプレートが積層された態様にすることによって、例えば、ＩＰＳ型の光学補償フィルムや半波長板として、斜め方向の色味変化や光漏れを大幅に改善できる。
式（４） −１８０≦Ｒｔｈ（５５０）≦−１０

＜偏光板＞
本発明は、上記積層体を含む、偏光板にも関する。
本発明の偏光板の態様としては、例えば、上記積層体中の光配向膜の偏光子側とは反対側の表面上に光学異方性層が積層された態様や、上記積層体中の光配向膜の偏光子側とは反対側の表面上に光学異方性層が積層され、上記積層体中の偏光子の光配向膜側とは反対側の表面上に保護フィルムが積層された態様が挙げられる。
保護フィルムの構成は特に制限されず、例えば、いわゆる透明支持体やハードコート層であっても、透明支持体とハードコート層との積層体であってもよい。
ハードコート層としては、公知の層を使用することができ、例えば、多官能モノマーを重合硬化して得られる層であってもよい。
また、透明支持体としては、公知の透明支持体を使用することができ、例えば、透明支持体を形成する材料としては、セルロース、環状オレフィン、アクリル、ポリカーボネート、ポリエステル、ポリビニルアルコールなど光学材料に用いられている材料を好ましく用いることができる。保護フィルムの好ましい一例は、トリアセチルセルロースフィルム等のセルロースアシレートフィルムである。

＜液晶表示装置＞
本発明は、上記積層体を含む、液晶表示装置にも関する。
一般的に、液晶表示装置は、液晶セルおよびその両側に配置された２枚の偏光板を有し、液晶セルは、２枚の電極基板の間に液晶を担持している。更に、光学異方性層が、液晶セルと一方の偏光板との間に１枚配置されるか、または液晶セルと双方の偏光板との間に２枚配置されることもある。
液晶セルは、ＴＮモード、ＶＡモード、ＯＣＢモード、ＩＰＳモードまたはＥＣＢモードであることが好ましく、ＩＰＳモードであることがより好ましい。光配向を用いたＩＰＳモードであることが特に好ましい。
また、液晶セルに使用される棒状液晶化合物の光学異方性層に対する配向角は１°以下であることが好ましい。

＜有機ＥＬ表示装置＞
本発明は、本発明の積層体を含む、有機ＥＬ表示装置にも関する。
有機ＥＬ表示装置において、例えば、積層体（なお、積層体中において光配向膜は光学異方性層側に位置する）、光学異方性層、有機ＥＬパネルがこの順になるように設けられていればよい。

有機ＥＬパネルは、陽極、陰極の一対の電極間に発光層もしくは発光層を含む複数の有機化合物薄膜を形成した部材であり、発光層のほか正孔注入層、正孔輸送層、電子注入層、電子輸送層、保護層などを有してもよく、またこれらの各層はそれぞれ他の機能を備えたものであってもよい。各層の形成にはそれぞれ種々の材料を用いることができる。

陽極は正孔注入層、正孔輸送層、発光層などに正孔を供給するものであり、金属、合金、金属酸化物、電気伝導性化合物、またはこれらの混合物などを用いることができ、好ましくは仕事関数が４ｅＶ以上の材料である。具体例としては、酸化スズ、酸化亜鉛、酸化インジウム、酸化インジウムスズ（ＩＴＯ）等の導電性金属酸化物、金、銀、クロム、ニッケル等の金属、さらにこれらの金属と導電性金属酸化物との混合物または積層物、ヨウ化銅、硫化銅などの無機導電性物質、ポリアニリン、ポリチオフェン、ポリピロールなどの有機導電性材料、およびこれらとＩＴＯとの積層物などが挙げられ、好ましくは、導電性金属酸化物であり、特に、生産性、高導電性、透明性等の点からＩＴＯが好ましい。陽極の膜厚は材料により適宜選択可能であるが、通常１０ｎｍ〜５μｍの範囲のものが好ましく、より好ましくは５０ｎｍ〜１μｍであり、更に好ましくは１００ｎｍ〜５００ｎｍである。

以下に実施例を挙げて本発明をさらに具体的に説明する。以下の実施例に示す材料、使用量、割合、処理内容、処理手順等は、本発明の趣旨を逸脱しない限り、適宜、変更することができる。従って、本発明の範囲は以下に示す具体例に限定されるものではない。

＜実施例１＞
（保護膜の作製）
下記の組成物をミキシングタンクに投入し攪拌して、各成分を溶解し、コア層セルロースアシレートドープ１を調製した。
――――――――――――――――――――――――――――――――――――――
アセチル置換度２．８８のセルロースアセテート １００質量部
エステルオリゴマー（化合物１−１） １０質量部
耐久性改良剤（化合物１−２） ４質量部
紫外線吸収剤（化合物１−３） ３質量部
メチレンクロライド（第１溶媒） ４３８質量部
メタノール（第２溶媒） ６５質量部
――――――――――――――――――――――――――――――――――――――

（外層セルロースアシレートドープ１の作製）
上記のコア層セルロースアシレートドープ１９０質量部に下記のマット剤分散液１を１０質量部加え、外層セルロースアシレートドープ１を調製した。
――――――――――――――――――――――――――――――――――――――
平均粒子サイズ２０ｎｍのシリカ粒子
（ＡＥＲＯＳＩＬ Ｒ９７２、日本アエロジル（株）製） ２質量部
メチレンクロライド（第１溶媒） ７６質量部
メタノール（第２溶媒） １１質量部
コア層セルロースアシレートドープ１ １質量部
――――――――――――――――――――――――――――――――――――――

（セルロースアシレートフィルムの作製）
上記コア層セルロースアシレートドープ１とその両側に外層セルロースアシレートドープ１とを３層同時に流延口から２０℃のドラム上に流延した。溶媒含有率略２０質量％の状態でフィルムを剥ぎ取り、フィルムの幅方向の両端をテンタークリップで固定し、残留溶媒が３〜１５質量％の状態で、横方向に１．２倍延伸しつつ乾燥した。その後、熱処理装置のロール間を搬送することにより、厚さ２５μｍのセルロースアシレートフィルムを作製し、偏光板保護膜０１とした。

（偏光板０１の作製）
１）フィルムのケン化
作製した偏光板保護膜０１を３７℃に調温した４．５ｍｏｌ/Ｌの水酸化ナトリウム水溶液（ケン化液）に１分間浸漬した後、フィルムを水洗し、その後、０．０５ｍｏｌ／Ｌの硫酸水溶液に３０秒浸漬した後、更に水洗浴に通した。そして、エアナイフによる水切りを３回繰り返し、水を落とした後に７０℃の乾燥ゾーンに１５秒間滞留させて乾燥し、ケン化処理した偏光板保護膜０１を作製した。
２）偏光子の作製
特開２００１−１４１９２６号公報の実施例１に従い、２対のニップロール間に周速差を与え、長手方向に延伸し、幅１３３０ｍｍ、厚みは１５μｍの偏光子を調製した。このようにして作製した偏光子を偏光子１とした。
３）貼り合わせ
このようにして得た偏光子１と、ケン化処理した偏光板保護膜０１とを、ＰＶＡ（（株）クラレ製、ＰＶＡ−１１７Ｈ）３質量％水溶液を接着剤として、偏光子１の偏光軸（吸収軸）とケン化処理した偏光板保護膜０１の長手方向とが直交するようにロールツーロールで貼りあわせて片面保護膜付偏光板０１（以後、単に偏光板０１とも称する）を作製した。

［光配向膜Ａの作製］
偏光板０１中の偏光子上に、下記の組成の光配向膜Ａ形成用組成物をワイヤーバーで塗布した。次に、得られた塗膜を１００℃の温風で１２０秒乾燥し、空気下にて３００ｍＷ／ｃｍ^２の空冷メタルハライドランプ（アイグラフィックス（株）製）を用いて塗膜に対して光照射を実施した（光硬化処理に該当）。
次に、光硬化処理が施された塗膜に、空気下にて１６０ｍＷ／ｃｍ^２の空冷メタルハライドランプ（アイグラフィックス（株）製）を用いて紫外線を塗膜表面に対して垂直方向から照射して、光配向処理を実施し、光配向膜Ａを作製した。このとき、ワイヤーグリッド偏光子（Moxtek社製, ProFlux PPL02）を塗膜面と平行に、かつ、ワイヤーグリッド偏光子の透過軸と偏光子の吸収軸が平行になるようにセットして露光を行った。この際用いる紫外線の照度はＵＶ−Ａ領域（波長３８０ｎｍ〜３２０ｎｍの積算）において１００ｍＷ／ｃｍ^２、照射量はＵＶ−Ａ領域において１０００ｍＪ／ｃｍ^２とした。
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光配向膜Ａ形成用組成物の組成
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下記光配向用素材（ａ） ２質量部
下記密着改良剤１ １質量部
クロロホルム ９７質量部
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光配向用素材：

＜実施例２＞
［光配向膜Ｂの作製］
偏光板０１中の偏光子上に、スピンコーターを用いて下記の組成の光配向膜Ｂ形成用組成物を塗布した後、温度１００℃で６０秒間ホットプレート上においてベークを行い（熱硬化処理）、膜厚０．２μｍの塗膜を形成した。
この塗膜に３００〜４００ｎｍの直線偏光を塗膜面に対して垂直方向から照射して、光配向処理を実施し、光配向膜Ｂを作製した。
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光配向膜Ｂ形成用組成物の組成
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ＣＩＮ５（以下参照） ０．９９質量部
Ｐ２（以下参照） ５．９６質量部
ヘキサメトキシメチルメラミン １．２４質量部
ｐ−トルエンスルホン酸−水和物 ０．０２２質量部
プロピレングリコールモノメチルエーテル ５７．０１質量部
────────────────────────────────────

ＣＩＮ５：
Ｐ２：

＜実施例３＞
［光配向膜Ｃの作製］
偏光板０１中の偏光子上に、ダイコート法を用いて下記の組成の光配向膜Ｃ形成用組成物を塗布した後、１００℃に調整した乾燥機内に２分間流し、溶媒を蒸発させるとともに組成物を熱硬化させた。これによって、厚さ２００ｎｍの塗膜が形成された。
この塗膜に対して、ワイヤーグリッドを通した偏光紫外線を照射して、光配向処理を実施し、光配向層Ｃを得た。なお、このとき、紫外線照射装置は、「Ｈバルブ」（フュージョン社製）を用いた。また、偏光紫外線の波長は３１３ｎｍとし、積算光量は４０ｍＪ／ｃｍ^２とした。
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光配向膜Ｃ形成用組成物の組成
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光配向材料（商品名：ＲＯＰ−１０３，ロリック社製） １００質量部
（上記光配向材料は光配向性基（光二量化性基）と熱架橋性基との両方を有する）
メチルエチルケトン ９００質量部
────────────────────────────────────

＜実施例４＞
［光配向膜Ｄの作製］
偏光板０１中の偏光子上に、バーコーターを用いて下記の組成の光配向膜Ｄ形成用組成物を塗布した後、オーブン内にて１００℃で２分間ベークして（熱硬化処理）、膜厚１００ｎｍの塗膜を形成した。
この塗膜にＨｇ−Ｘｅランプおよびグランテーラープリズムを用いて３１３ｎｍの輝線を含む偏光紫外線１０ｍＪ／ｃｍ^２を、塗膜表面に対して垂直方向から照射して、光配向処理を実施し、光配向膜Ｄを作製した。
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光配向膜Ｄ形成用組成物の組成
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ポリオルガノシロキサン（ＰＡ−５）（以下参照） ８０質量部
ポリ（メタ）アクリレート（ＰＢ−５）（以下参照） ２０質量部
トリス（アセチルアセトネート）アルミニウム １０質量部
（アルミキレートＡ（Ｗ）、川研ファインケミカル製）
トリ（ｐ−トリル）シラノール ４０質量部
酢酸ｎ−ブチル ７０質量部
シクロヘキサノン ２０質量部
アセト酢酸エチル ５質量部
プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート ５質量部
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（ポリオルガノシロキサン（ＰＯＳ−３）の合成）
撹拌機、温度計、滴下漏斗および還流冷却管を備えた反応容器に、２−（３，４−エポキシシクロヘキシル）エチルトリメトキシシラン７０．５ｇ、テトラエトキシシラン１４．９ｇ、エタノール８５．４ｇおよびトリエチルアミン８．８ｇを仕込み、室温で混合した。次いで、脱イオン水７０．５ｇを滴下漏斗より３０分かけて滴下した後、還流下で攪拌しつつ、８０℃で２時間反応させた。反応溶液を濃縮し、酢酸ブチルで希釈する操作を２回繰り返すことにより、トリエチルアミンおよび水を留去し、ポリオルガノシロキサン（ＰＯＳ−３）を含む重合体溶液を得た。

（ポリオルガノシロキサン（ＰＡ−５）の合成）
１００ｍＬの三口フラスコに、ポリオルガノシロキサン（ＰＯＳ−３）９．３ｇ、桂皮酸誘導体（Ｃ−４）、ライトエステルＨＯＭＳ（共栄社化学製）、メチルイソブチルケトン２６ｇ、およびテトラブチルアンモニウムブロミド０．９３ｇを仕込み、８０℃で１２時間撹拌した。反応終了後、酢酸ブチル１００ｇで希釈し、３回水洗した。この溶液を濃縮し、酢酸ブチルで希釈する操作を２回繰り返し、最終的に光配向性基を有するポリオルガノシロキサン（ＰＡ−５）を含む溶液を得た。
なお、（Ｃ−４）およびライトエステルＨＯＭＳの使用量は、ポリオルガノシロキサン（ＰＯＳ−３）中のエポキシ基に対する導入量がそれぞれ４０モル％および１０モル％となるように調整した。

（ポリ（メタ）アクリレート（ＰＢ−５）の合成）
以下のポリ（メタ）アクリレート（ＰＢ−２）１００質量部、アクリロイル基含有カルボン酸（アロニックスＭ−５３００、東亜合成製）２０質量部、触媒としてのテトラブチルアンモニウムブロマイド１０質量部、溶媒としてのプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート１５０質量部を仕込み、窒素雰囲気下、９０℃で１２時間撹拌した。反応終了後、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート１００質量部で希釈し、３回水洗した。この溶液を濃縮し、酢酸ブチルで希釈する操作を２回繰り返し、最終的にポリ（メタ）アクリレート（ＰＢ−５）を含む重合体溶液を得た。

＜実施例５＞
［光配向膜Ｅの作製］
偏光板０１中の偏光子上に、バーコートにより下記の組成の光配向膜Ｅ形成用組成物を塗布した後、６０℃で１分間加熱し（熱硬化処理）、溶媒を除去することで塗膜を形成した。
次に、この塗膜に、超高圧水銀ランプより塗膜表面に対して９０°の方向から３１３ｎｍ付近の波長の直線偏光紫外線を１０ｍＪ／ｃｍ²照射して、光配向処理を実施し、膜厚約０．２μｍの光配向膜Ｅを作製した。
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光配向膜Ｅ形成用組成物の組成
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光配向性ポリマー（ｉ３−１） ０．１２５質量部
ポリマー（ｉｉ１−１） ０．０４質量部
ｐ−トルエンスルホン酸・水和物 ０．００５質量部
１−メトキシ２−プロパノール ３質量部
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＜実施例６＞
［光配向膜Ｆの作製］
偏光板０１中の偏光子上に、スピンコーターを用いて下記の組成の光配向膜Ｆ形成用組成物を塗布した後、１００℃で３分間乾燥し、塗膜を形成した。
次に、超高圧水銀ランプに波長カットフィルタ、ハンドパスフィルタ、および、偏光フィルタを介して、可視紫外光（波長３１３ｎｍ、照射強度：８ｍＷ／ｃｍ^２）の直線偏光でかつ平行光を、塗膜表面に対して斜め４５度方向から照射して、光配向処理を実施し、光配向膜Ｆを製造した。なお、照射量は１００ｍＪ／ｃｍ^２であった。
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光配向膜Ｆ形成用組成物の組成
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ＤｉＣｉｎ−１０ １質量部
下記密着改良剤１ ２質量部
シクロペンタノン ９７質量部
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以下式で表される化合物１質量部をエチルメチルケトン１０質量部に溶解させて溶液１とした。この溶液１にアゾビスイソブチロニトリル（ＡＩＢＮ）を０．０１質量部加えて、窒素雰囲気下２日間加熱還流し、溶液２を得た。次に、溶液２をメタノール６０質量部に滴下撹拌し、析出した固体をろ過した。得られた固体をテトラヒドロフラン（ＴＨＦ）５質量部に溶解させ、氷冷したヘキサン１２０質量部に滴下撹拌し、析出した固体をろ過した。得られた固体をＴＨＦに溶解させ、氷冷したメタノール１２０質量部に滴下撹拌し、析出した固体をろ過した。得られた固体をＴＨＦに溶解させた後真空乾燥することで、ＤｉＣｉｎ−１０を得た。

＜実施例７＞
［光配向膜Ｇの作製］
偏光板０１中の偏光子上に、下記の組成の光配向膜Ｇ形成用組成物をワイヤーバーで塗布した。得られた塗膜を１００℃の温風で１２０秒乾燥し、空気下にて３００ｍＷ／ｃｍ^２の空冷メタルハライドランプ（アイグラフィックス（株）製）を用いて光照射を実施した。
次に、得られた塗膜に対して、空気下にて１６０ｍＷ／ｃｍ^２の空冷メタルハライドランプ（アイグラフィックス（株）製）を用いて紫外線を塗膜表面の垂直方向から照射して、光配向処理を実施し、光配向膜Ｇを作製した。このとき、ワイヤーグリッド偏光子（Moxtek社製, ProFlux PPL02）を塗膜面と平行に、かつ、ワイヤーグリッド偏光子の透過軸と偏光子の吸収軸が平行になるようにセットして露光を行った。この際用いる紫外線の照度はＵＶ−Ａ領域（波長３８０ｎｍ〜３２０ｎｍの積算）において１００ｍＷ／ｃｍ^２、照射量はＵＶ−Ａ領域において１０００ｍＪ／ｃｍ^２とした。
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光配向膜Ｇ形成用組成物の組成
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下記光配向用素材 ２質量部
クロロホルム ９８質量部
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光配向用素材：

［比較例２］
＜配向膜Ｈの作製＞
偏光板０１中の偏光子上に、下記の組成の配向膜Ｈ形成用組成物を＃８のワイヤーバーで連続的に塗布した。塗膜を６０℃の温風で６０秒、さらに１００℃の温風で１２０秒乾燥し、配向膜Ｈを形成し、その後ラビング処理を施した。ラビング処理により偏光子と配向膜との界面に一部剥離が確認された。
なお、配向膜Ｈには、光配向性基は含まれていなかった。
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配向膜Ｈ形成用組成物の組成
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下記変性ポリビニルアルコール ２．４質量部
イソプロピルアルコール １．６質量部
メタノール ３６質量部
水 ６０質量部
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［比較例３］
＜光配向膜Ｉの作製＞
偏光板０１中の偏光子上に、下記の組成の光配向膜Ｉ形成用組成物をワイヤーバーで塗布した。塗膜を１００℃の温風で１２０秒乾燥し、空気下にて３００ｍＷ／ｃｍ^２の空冷メタルハライドランプ（アイグラフィックス（株）製）を用いて光照射を実施した。
次に、得られた塗膜に対して、空気下にて１６０ｍＷ／ｃｍ^２の空冷メタルハライドランプ（アイグラフィックス（株）製）を用いて紫外線を塗膜表面に対して垂直方向から照射して、光配向処理を実施し、光配向膜Ｉを作製した。このとき、ワイヤーグリッド偏光子（Moxtek社製, ProFlux PPL02）を塗膜面と平行に、かつ、ワイヤーグリッド偏光子の透過軸と偏光子の吸収軸が平行になるようにセットして露光を行った。この際用いる紫外線の照度はＵＶ−Ａ領域（波長３８０ｎｍ〜３２０ｎｍの積算）において１００ｍＷ／ｃｍ^２、照射量はＵＶ−Ａ領域において１０００ｍＪ／ｃｍ^２とした。
なお、光配向膜Ｉ形成用組成物には、架橋性基を有する化合物は含まれていなかった。
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光配向膜Ｉ形成用組成物の組成
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下記光配向用素材 ２質量部
クロロホルム ９８質量部
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光配向用素材：

＜光学異方性層の作製（その１）＞
上述した実施例および比較例にて作製した各配向膜上に、以下の手順に従って光学異方性層Ａまたは光学異方性層Ｂを作製した。なお、各配向膜上に配置される光学異方性層の種類は後述する表にまとめて示す。

（光学異方性層Ａの作製）
下記の光学異方性層用組成物Ａを作製した。この組成物をスライドガラスの表面に塗布し、加熱しながら偏光顕微鏡で観察した。その結果、スメクチックＡ相−ネマチック相の相転移温度は８２℃であった。
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光学異方性層用組成物Ａの組成
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スメクチック液晶化合物 Ｓｍ−１ ８５質量部
棒状化合物 ＲＬ−１ １５質量部
光重合開始剤 ３．０質量部
（イルガキュア９０７、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ（株）製）
含フッ素化合物Ａ ０．８量部
メチルエチルケトン ５８８質量部
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スメクチック液晶化合物 Ｓｍ−１

棒状化合物 ＲＬ−１

含フッ素化合物Ａ

光配向膜上に光学異方性層用組成物Ａを、バーコーターを用いて塗布した。次いで、膜面温度１００℃で６０秒間加熱熟成し、７０℃まで冷却した後に、空気下にて７０ｍＷ／ｃｍ^２の空冷メタルハライドランプ（アイグラフィックス（株）製）を用いて１０００ｍＪ／ｃｍ^２の紫外線を照射して、その配向状態を固定化することにより光学異方性層を形成した。形成された光学異方性層は、偏光照射方向に対し遅相軸方向が直交に棒状液晶化合物が配向していた。このとき、光学異方性層の厚みは０．８μｍであった。自動複屈折率計（ＫＯＢＲＡ−２１ＡＤＨ、王子計測機器（株）社製）を用いて、Ｒｅの光入射角度依存性および光軸の傾斜角（即ち、光学異方性層の屈折率が最大となる方向の、上記光学異方性層面に対する傾き）を測定した。結果は、後述する表にまとめて示す。
なお、偏光照射方向とは、偏光の振動面の方向である。

（光学異方性層Ｂの作製）
下記の光学異方性層用組成物Ｂを作製した。この組成物をスライドガラスの表面に塗布し、加熱しながら偏光顕微鏡で観察した。その結果、１４８℃から明瞭なスメクチックＡ相を与え、１８３℃でネマチック相に転移し、等方相転移温度は２５５℃であった。
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光学異方性層用組成物Ｂの組成
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スメクチック液晶化合物 Ｓｍ−２１ １００質量部
光重合開始剤 ３．０質量部
（イルガキュア８１９、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ（株）製）
上記フッ素化合物Ａ ０．８質量部
クロロホルム ９９０質量部
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スメクチック液晶化合物 Ｓｍ−２１；II−２−２

光配向膜上に、光学異方性層用組成物Ｂを、バーコーターを用いて塗布した。膜面温度１５０℃で６０秒間加熱熟成し、その後、空気下にて７０ｍＷ／ｃｍ^２の空冷メタルハライドランプ（アイグラフィックス（株）製）を用いて１０００ｍJ／ｃｍ^２の紫外線を照射して、その配向状態を固定化することにより光学異方性層Ｂを形成した。形成された光学異方性層Ｂは、偏光照射方向に対し遅相軸方向が直交に棒状液晶化合物Ｓｍ−２１が配向していた。このとき、光学異方性層の厚みは２μｍであった。自動複屈折率計（ＫＯＢＲＡ−２１ＡＤＨ、王子計測機器（株）社製）を用いて、Ｒｅの光入射角度依存性および光軸の傾斜角を測定した。結果は、後述する表にまとめて示す。

＜光学異方性層の作製（その２）＞
上記で作製した光学異方性層Ａまたは光学異方性層Ｂ上に、さらに以下の手順に従って光学異方性層Ｃを作製し、各実施例および比較例にて作製した積層体を用いて、光学異方性層を含む偏光板を作製した。

変性ポリビニルアルコールを市販の未変性ポリビニルアルコールＰＶＡ１０３（クラレ社製）に変更し、形成用仮支持体上に比較例２と同様の手順で配向膜を作製した。
この配向膜上に、下記光学異方性層用組成物Ｋを塗布し、６０℃にて６０秒間熟成させた後に、空気下にて７０ｍＷ／ｃｍ^２の空冷メタルハライドランプ（アイグラフィックス（株）製）を用いて１０００ｍＪ／ｃｍ^２の紫外線を照射して、その配向状態を固定化することにより、重合性棒状液晶化合物を垂直配向させ、光学異方性層Ｃ（正Ｃプレート）を作製した。波長５５０ｎｍにおいてＲｔｈが−１１５ｎｍであった。

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光学異方性層用組成物Ｋの組成
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液晶化合物Ｂ０１ ８０質量部
液晶化合物Ｂ０２ ２０質量部
垂直配液晶化合物向剤（Ｓ０１） １質量部
垂直配向剤（Ｓ０２） ０．５質量部
エチレンオキサイド変成トリメチロールプロパントリアクリレート
（Ｖ＃３６０、大阪有機化学（株）製） ８質量部
イルガキュア９０７（ＢＡＳＦ製） ３質量部
カヤキュアーＤＥＴＸ（日本化薬（株）製） １質量部
Ｂ０３ ０．４質量部
メチルエチルケトン １７０質量部
シクロヘキサノン ３０質量部
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上記で作製した光学異方性層Ａまたは光学異方性層Ｂ上に、粘着剤を用いて上記光学異方性層Ｃ（正Ｃプレート）を貼合した。貼合後に形成用仮支持体を剥離し、本発明の積層体上に光学異方性層が配置された偏光板を作製した。

＜各種評価＞
［湿熱耐久性評価］
本発明において、偏光板（積層体上に光学異方性層が配置された偏光板）の直交透過率ＣＴは、日本分光（株）製自動偏光フィルム測定装置ＶＡＰ−７０７０を用いて、以下の方法により波長４１０ｎｍで測定した。
本発明の偏光板を、粘着剤を介してガラスの上に貼り付けたサンプル（５ｃｍ×５ｃｍ）を２つ作製した。この際、偏光板保護膜となっている側がガラスと反対側（空気界面側）になるように貼り付ける。直交透過率測定はこのサンプルのガラスの側を光源に向けてセットして測定した。２つのサンプルをそれぞれ測定し、その平均値を直交透過率ＣＴとした。
その後、各偏光板を後述する経時条件にて経時保存した後に同様の方法で直交透過率ＣＴを測定した。経時前後の直交透過率ＣＴの変化を求め、これを偏光板耐久性として下記基準で評価した。なお、実用上「Ａ」または「Ｂ」が望ましい。
なお、調湿なしの環境下での相対湿度は、０〜２０％ＲＨの範囲であった。
−経時条件−
６０℃、相対湿度９５％ＲＨの環境下で５００時間
評価基準：
Ａ：経時前後の直交透過率ＣＴの変化が０．６％未満
Ｂ：経時前後の直交透過率ＣＴの変化が０．６〜１．０％
Ｃ：経時前後の直交透過率ＣＴの変化が１．０％を超える

［密着性］
実施例および比較例で得られた積層体の光配向膜上にガイドのある等間隔スペーサーを用いて、カッターナイフで１ｍｍ間隔に切り込みを入れて、１０×１０の格子パターンを形成した。続いて、格子パターンの上にセロハンテープを置き、しっかりと密着させた後、セロハンテープを引き剥がした。セロハンテープを引き剥がした後の光配向膜のカット部分を観察した。光配向膜がカットの線に沿って、または交差する点において剥離が生じている格子の目の個数が、格子パターン全体の個数に対して、剥離が確認されなかった場合を優良（「Ａ」）、１５％未満の場合を密着性が良好（「Ｂ」）、１５％以上の場合を密着性が不良（「Ｃ」）と判断した。

［耐溶剤性の評価］
各実施例および比較例にて使用した光配向膜形成用組成物または配向膜形成用組成物をそれぞれ、シリコンウェハにスピンコーターを用いて塗布した後、所定の硬化処理を施し、膜厚０．２μｍの硬化膜を形成した。なお、硬化処理としては、組成物中に含まれる化合物中の架橋性基が熱架橋性基の場合、熱硬化温度１３０℃で６０秒間ホットプレート上においてベークを行い、架橋性基が光架橋性基の場合、空気下にて３００ｍＷ／ｃｍ^２の空冷メタルハライドランプ（アイグラフィックス（株）製）を用いて塗膜に対して光照射を実施した。
膜厚はＦＩＬＭＥＴＲＩＣＳ社製 Ｆ２０を用いて測定した。この硬化膜をシクロヘキサノン（ＣＨＮ）中に６０秒間浸漬させた後、それぞれ温度１００℃にて６０秒間乾燥し、膜厚を測定した。ＣＨＮ浸漬後の膜厚変化がないものを「Ａ」、浸漬後に膜厚の減少が見られたものを「Ｂ」とした。

［膜硬度］
偏光板０１に代えてガラス基板を用いた以外は、各実施例および比較例と同様に操作して、光配向膜を作製した。この光配向膜について、塗膜用鉛筆引っかき試験機で膜硬度を測定した。鉛筆硬度測定結果が３Ｈ以上の場合を膜硬度が優良（「Ａ」）と判断し、３Ｈ未満Ｈ以上の場合を膜硬度が良好（「Ｂ」）と判断し、Ｈ未満の場合を膜硬度が不良（「Ｃ」）と判断した。

＜液晶表示装置の作製＞
ｉＰａｄ（光配向膜使用、Ａｐｐｌｅ社製）の液晶セルから視認側の偏光板を剥し、光配向膜を使用したＩＰＳモードの液晶セルとして利用した。なお、液晶セル中のプレ傾斜角は０°であった。
剥がした偏光板の代わりに、上記実施例および比較例にて作製した積層体上に光学異方性層が配置された偏光板を液晶セルに貼合し、液晶表示装置を作製した。このとき、液晶セル基板面に対して垂直な方向から観察したとき、偏光子の吸収軸と、液晶セル内の液晶層の光軸とが直交するように貼り合せた。また、偏光板中の光学異方性層がバックライト側と反対側になるように、設置した。
比較例１は、偏光板として、上記偏光板０１を用いて液晶表示装置を作製した態様に該当する。

表示性能の測定は、市販の液晶視野角、色度特性測定装置Ｅｚｃｏｍ（ＥＬＤＩＭ社製）を使用し、バックライトは市販の液晶表示装置ｉＰａｄ（Ａｐｐｌｅ社製）を使用した。偏光板を貼り合わせた液晶セルを、光学異方性層がバックライト側と反対側になるように、設置して測定を行った。結果を下記表にまとめて示す。

［パネルコントラスト（パネルＣＲ）］
上記液晶表示装置を用いて、白表示におけるパネルに対して垂直方向からの輝度（Ｙｗ）および黒表示におけるパネルに対して垂直方向からの輝度（Ｙｂ）を測定し、パネルに対して垂直方向のコントラスト比（Ｙｗ／Ｙｂ）を算出し、正面コントラストとし、以下の基準で評価した。
Ａ：正面コントラストが比較例１に対して９５％以上
Ｂ：正面コントラストが比較例１に対して８５％以上９５％未満
Ｃ：正面コントラストが比較例１に対して７５％以上８５％未満
Ｄ：正面コントラストが比較例１に対して７５％未満

［斜め方向の光漏れ（斜め光漏れ）］
上方向（方位角０〜１８０°、５°刻み）および下方向（方位角１８０〜３６０°、５°刻み）のそれぞれの黒輝度（Ｃｄ／ｍ^２）の最大値を平均した値（輝度ｍａｘ）を算出した。
数値が小さいほど黒表示の光漏れは少ないこと示し、下記のＡ〜Ｄの４段階で評価した。
Ａ：１以下
Ｂ：１を超え２以下
Ｃ：２を超え５以下
Ｄ：５を超える

表１中、「光学異方性層」欄の「種類」欄は、光学異方性層Ａまたは光学異方性層Ｂのいずれかを使用したかを示す。
なお、実施例および比較例において、光学異方性層ＡまたはＢの面内遅相軸と、偏光子の吸収軸とは直交していた。

上記表１から分かるように、本発明の積層体は、湿熱耐久性に優れることが確認された。また、それ以外にも各種効果（例えば、密着性、耐溶剤性、膜硬度、パネルＣＲ、斜め光漏れ）にも優れていた。
一方、所定の要件を満たさない比較例２および３の積層体においては、所望の効果が得られなかった。

Claims (14)

1. 偏光子と、前記偏光子上に隣接して配置された光配向膜とを有し、
   前記光配向膜が、光配向膜形成用組成物を偏光子表面に直接接触させて形成される層であり、
   前記光配向膜形成用組成物が、光配向性基を有する化合物Ａおよび架橋性基を有する化合物Ｂを含有するか、または、光配向性基および架橋性基を有する化合物Ｃを含有する、積層体。
2. 前記光配向性基が、光二量化または光異性化する構造を有する基である、請求項１に記載の積層体。
3. 前記光配向性基が、アゾベンゼン構造を有する基、および、シンナモイル構造を有する基からなる群から選択される基である、請求項１または２に記載の積層体。
4. 前記架橋性基が、光架橋性基である、請求項１〜３のいずれか１項に記載の積層体。
5. 前記光架橋性基が、（メタ）アクリロイル基、ビニル基、スチリル基、アリル基、エポキシ基、オキセタニル基、および、ビニルオキシ基からなる群から選択される少なくとも１種を含む、請求項４に記載の積層体。
6. 前記架橋性基が、熱架橋性基である、請求項１〜３のいずれか１項に記載の積層体。
7. 前記熱架橋性基が、ヒドロキシ基、カルボキシル基、アミノ基、チオール基、メチロール基、アルコキシシラン基、イソシアネート基、酸無水物基、エポキシ基、オキセタン基、および、ボロン酸基からなる群から選択される少なくとも１種を含む、請求項６に記載の積層体。
8. 前記熱架橋性基が、ヒドロキシ基、カルボキシル基、アミノ基、および、チオール基からなる群から選択される少なくとも１種と、メチロール基、アルコキシシラン基、イソシアネート基、酸無水物基、エポキシ基、オキセタン基、および、ボロン酸からなる群から選択される少なくとも１種とを含む、請求項６または７に記載の積層体。
9. さらに、前記光配向膜の前記偏光子側とは反対側の表面上に、液晶化合物を含む光学異方性層を有する、請求項１〜８のいずれか１項に記載の積層体。
10. 請求項１〜９のいずれか１項に記載の積層体の製造方法であって、
    光配向性基を有する化合物Ａおよび架橋性基を有する化合物Ｂを含有するか、または、光配向性基および架橋性基を有する化合物Ｃを含有する光配向膜形成用組成物を、偏光子表面と直接接触させ、前記偏光子上に塗膜を形成する工程と、
    前記塗膜に硬化処理および光配向処理を順不同に実施して光配向膜を形成する工程と、を少なくとも有する、積層体の製造方法。
11. 請求項１〜９のいずれか１項に記載の積層体を含む偏光板。
12. 請求項１〜９のいずれか１項に記載の積層体を含む液晶表示装置。
13. ＩＰＳモードである、請求項１２に記載の液晶表示装置。
14. 請求項１〜９のいずれか１項に記載の積層体を含む有機ＥＬ表示装置。