JP2014528166A - はんだ付け緩和方法およびそれを使用した半導体デバイス - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 58
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 50
- 238000005476 soldering Methods 0.000 title description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 78
- 239000008393 encapsulating agent Substances 0.000 claims abstract description 72
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 58
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 claims description 7
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000010297 mechanical methods and process Methods 0.000 description 1
- 230000005226 mechanical processes and functions Effects 0.000 description 1
- 230000000116 mitigating effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000012778 molding material Substances 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000005382 thermal cycling Methods 0.000 description 1
Images
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/10—Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/11—Manufacturing methods
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
- H01L21/4814—Conductive parts
- H01L21/4846—Leads on or in insulating or insulated substrates, e.g. metallisation
- H01L21/4853—Connection or disconnection of other leads to or from a metallisation, e.g. pins, wires, bumps
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
- H01L21/56—Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/498—Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
- H01L23/49811—Additional leads joined to the metallisation on the insulating substrate, e.g. pins, bumps, wires, flat leads
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3431—Leadless components
- H05K3/3436—Leadless components having an array of bottom contacts, e.g. pad grid array or ball grid array components
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/12—Passive devices, e.g. 2 terminal devices
- H01L2924/1204—Optical Diode
- H01L2924/12042—LASER
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15311—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
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- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
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Abstract
Description
102 基板の第1の面
104 基板の第2の面
106 半導体素子
108 マウント場所
110 導電パッド
112 配線導体
114 ビア
116 導電性相互接続部材
118 導電性相互接続部材の第1の端部
120 導電性相互接続部材の第2の端部
200 封入材
202 封入材の外面
300 環状領域
302 第2の面に平行な平面
304 平坦な底部
306 側壁
500 複数の電気接点を有する表面
502 電気接点
1000 基板
1002 はんだボール
1004 封入材
1006 はんだボールの端部
1100 基板
1102 封入材
1104 はんだボール
Claims (38)
- 半導体デバイスを形成する方法であって、
少なくとも1つの半導体素子用のマウント場所を有する上側と、前記上側の場所に電気的に接続された複数の場所を有する下側とを有する基板を提供するステップと、
前記下側の前記複数の場所に複数の導電性相互接続部材を形成するステップと、
前記相互接続部材を完全に封入することなく封入材により前記複数の導電性相互接続部材を少なくとも部分的に封入するステップと、
前記封入材により封入された前記下側に隣接する前記相互接続部材の一部を残しながら前記相互接続部材のすでに封入された部分を露出させるために前記相互接続部材の各々に隣接する前記封入材の一部を除去するステップと
を含む、方法。 - 前記除去するステップは、レーザーアブレーションによって実行される、請求項1に記載の方法。
- 前記相互接続部材は、はんだボールであり、前記はんだボールの少なくとも1つの直径は、前記下側に平行な平面内にある、請求項1に記載の方法。
- 前記封入材の一部を除去するステップは、前記封入材を前記平面のレベルまで除去するステップを含む、請求項3に記載の方法。
- 前記封入材の一部を除去するステップは、前記はんだボールの前記少なくとも1つの周りの前記封入材に環状領域を形成するステップを含み、前記環状領域は、前記平面に平行であるか、または前記平面内にある平坦な底部を有する、請求項3に記載の方法。
- 前記封入材の一部を除去するステップは、前記はんだボールの前記少なくとも1つの周りの前記封入材に環状領域を形成するステップを含み、前記領域は、前記平面に平行であるか、または前記平面内にある平坦な底部と、前記はんだボールのうちの前記少なくとも1つから離間し、前記平坦な底部から鈍角で延びる側壁とを有する、請求項3に記載の方法。
- 前記封入材の一部を除去した後に前記相互接続部材を洗浄するステップ
をさらに含む、請求項1に記載の方法。 - 前記除去するステップは、レーザーアブレーションによって実行され、
前記相互接続部材は、はんだボールであり、前記はんだボールの少なくとも1つの直径は、前記下側に平行な平面内にあり、
前記封入材の一部を除去するステップは、前記はんだボールの前記少なくとも1つの周りの前記封入材に環状領域を形成するステップを含み、前記環状領域は、前記平面に平行であるか、または前記平面内にある平坦な底部と、前記はんだボールのうちの前記少なくとも1つから離間し、前記平坦な底部から鈍角で延びる側壁とを有する、
請求項1に記載の方法。 - 半導体デバイスを形成する方法であって、
第1の面内にある平坦な第1の側を有する基板を提供するステップと、
前記平坦な第1の側に複数の導電性相互接続部材を形成するステップと、
前記相互接続部材を完全に封入することなく封入材により前記複数の導電性相互接続部材を少なくとも部分的に封入するステップと、
前記第1の面に平行であるか、または前記第1の面内にある平坦な底部を有する、前記相互接続部材の周りの前記封入材に環状領域を形成するステップと
を含む、方法。 - 前記環状領域は、鈍角で前記平坦な底部から離れて延びる側壁を含む、請求項9に記載の方法。
- 前記平坦な第1の側と反対側の、前記基板の第2の側に半導体素子をマウントするステップを含む、請求項9に記載の方法。
- 前記相互接続部材は、前記第1の面に平行な第2の面内にある直径を有するはんだボールを含み、前記平坦な底部は、前記第2の面に平行であるか、または前記第2の面内にある、請求項9に記載の方法。
- 前記形成するステップは、レーザーアブレーションを含み、前記環状領域は、鈍角で前記平坦な底部から離れて延びる側壁を含む、請求項9に記載の方法。
- 前記平坦な第1の側と反対側の、前記基板の第2の側に半導体素子をマウントするステップと、
表面に対して前記はんだボールを押すステップと
を含み、
前記相互接続部材は、前記第1の面に平行な第2の面内にある直径を有するはんだボールを含み、前記平坦な底部は、前記第2の面に平行であるか、または前記第2の面内にあり、
前記形成するステップは、レーザーアブレーションにより除去するステップを含み、
前記環状領域は、鈍角で前記平坦な底部から離れて延びる側壁を含む、
請求項9に記載の方法。 - 上面および底面を有する基板と、
前記基板にアタッチされた第1の端部と、前記基板から離間した第2の端部とを各々が有する前記基板の前記底面上の複数の導電性相互接続部材と、
前記複数の導電性相互接続部材を部分的に封入し、第1の面内にある外面を有する封入材であって、前記第2の端部は、前記基板の底面とは反対の前記第1の面の側に配置される、封入材と、
前記複数の導電性相互接続部材の各々を囲む前記封入材の環状領域であって、前記底面に平行な平坦な底部を有する環状領域と
を含む、半導体デバイス。 - 前記上面は、マウント場所を含み、前記底面は、前記上面上の場所に電気的に接続された複数の場所を有し、半導体素子が前記マウント場所にマウントされ、
前記複数の導電性相互接続部材は、前記複数の場所にマウントされる、
請求項15に記載の半導体デバイス。 - 前記環状領域は、鈍角で前記平坦な底部から離れて突起する側壁を含む、請求項15に記載の半導体デバイス。
- 前記複数の導電性相互接続部材は、前記平坦な底部に平行であるか、または前記平坦な底部を含む第2の面内にある直径を各々が有するはんだボールを含む、請求項15に記載の半導体デバイス。
- 前記半導体デバイスが組み込まれた、セットトップボックス、音楽プレーヤ、ビデオプレーヤ、エンターテインメントユニット、ナビゲーションデバイス、通信デバイス、携帯情報端末(PDA)、固定位置データユニット、およびコンピュータからなるグループから選択されたデバイスをさらに備える、請求項15に記載の半導体デバイス。
- 上面および底面を有する基板であって、前記上面は、少なくとも1つの半導体素子用のマウント場所を含み、前記底面は、前記上面上の場所に電気的に接続された複数の導電パッドを有する、基板と、
前記導電パッドにアタッチされた第1の端部と、前記基板から離間した第2の端部とを各々が有する、前記導電パッドにおける複数の導電性相互接続部材と、
前記複数の導電性相互接続部材を部分的に封入し、第1の面内にある外面を有する封入材であって、前記第2の端部は、前記基板の底面とは反対の前記第1の面の側に配置される、封入材と、
前記複数の導電性相互接続部材の各々を囲む前記封入材の環状領域であって、前記第1の面と前記基板の底面との間に配置された平坦な底部を有する環状領域と
を含む、半導体デバイス。 - 前記相互接続部材は、前記底面に平行な第2の面内にある直径を各々が有するはんだボールを含み、前記平坦な底部は、前記第1の面に配置される、請求項20に記載の半導体デバイス。
- 前記平坦な底部は、前記第1の面に平行である平坦な壁を含む、請求項20に記載の半導体デバイス。
- 前記平坦な底部から前記第1の面まで延びる側壁を含む、請求項22に記載の半導体デバイス。
- 前記半導体デバイスが組み込まれた、セットトップボックス、音楽プレーヤ、ビデオプレーヤ、エンターテインメントユニット、ナビゲーションデバイス、通信デバイス、携帯情報端末(PDA)、固定位置データユニット、およびコンピュータからなるグループから選択されたデバイスをさらに備える、請求項20に記載の半導体デバイス。
- 半導体デバイスを形成する方法であって、
少なくとも1つの半導体素子用のマウント場所を有する上側と、前記上側の場所に電気的に接続された複数の場所を有する下側とを有する基板を提供するステップと、
前記下側の前記複数の場所に複数の導電性相互接続部材を形成するためのステップと、
前記導電性相互接続部材を完全に封入することなく封入材により前記複数の導電性相互接続部材を少なくとも部分的に封入するためのステップと、
前記封入材により封入された前記下側に隣接する前記導電性相互接続部材の一部を残しながら前記導電性相互接続部材のすでに封入された部分を露出させるために前記導電性相互接続部材の各々に隣接する前記封入材の一部を除去するためのステップと
を含む、方法。 - 前記除去するためのステップは、レーザーアブレーションを含む、請求項25に記載の方法。
- 前記封入材の一部を前記除去するためのステップは、前記はんだボールの前記少なくとも1つの周りの前記封入材に環状領域を形成するステップを含み、前記環状領域は、前記下側に平行である平坦な底部を有する、請求項25に記載の方法。
- 前記封入材の前記一部を除去した後、前記相互接続部材を洗浄するためのステップをさらに含む、請求項25に記載の方法。
- 半導体デバイスを形成する方法であって、
第1の面内にある平坦な第1の側を有する基板を提供するステップと、
前記平坦な第1の側に複数の導電性相互接続部材を形成するためのステップと、
前記導電性相互接続部材を完全に封入することなく封入材により前記複数の導電性相互接続部材を少なくとも部分的に封入するためのステップと、
前記第1の面に平行であるか、または前記第1の面内にある平坦な底部を有する、前記導電性相互接続部材の周りの前記封入材に環状領域を形成するためのステップと
を含む、方法。 - 前記平坦な第1の側と反対側の、前記基板の第2の側に半導体素子をマウントするためのステップを含む、請求項29に記載の方法。
- 前記形成するためのステップは、レーザーアブレーションを含み、前記環状領域は、鈍角で前記平坦な底部から離れて延びる側壁を含む、請求項29に記載の方法。
- 上面および底面を有する基板手段と、
前記基板手段にアタッチされた第1の端部と、前記基板手段から離間した第2の端部とを各々が有する前記基板の前記底面上の複数の導電性相互接続手段と、
前記複数の導電性相互接続手段を部分的に封入し、第1の面内にある表面を有する封入手段であって、前記第2の端部は、前記基板の底面とは反対の前記第1の面の側に配置される、封入手段と、
前記複数の導電性相互接続手段の各々を囲む前記封入手段の環状スペース手段であって、前記底面に平行である平坦な底部を有する環状スペース手段と
を含む、半導体デバイス。 - 前記上面は、マウント手段を含み、前記底面は、前記上面上の場所に電気的に接続された複数の場所を有し、半導体素子は、前記マウント手段にマウントされ、
前記複数の導電性相互接続手段は、前記複数の場所にマウントされる、
請求項32に記載の半導体デバイス。 - 前記複数の導電性相互接続手段は、前記平坦な底部に平行であるか、または前記平坦な底部を含む第2の面内にある直径を各々が有するはんだボールを含む、請求項32に記載の半導体デバイス。
- 上面および底面を有する基板手段であって、前記上面は、少なくとも1つの半導体素子用のマウント手段を含み、前記底面は、前記上面上の場所に電気的に接続された複数の導電パッドを有する、基板手段と、
前記導電パッドにアタッチされた第1の端部と、前記基板手段から離間した第2の端部とを各々が有する、前記導電パッドにおける導電性相互接続手段と、
前記相互接続手段を部分的に封入し、第1の面内にある外面を有する封入手段であって、前記第2の端部は、前記基板の底面とは反対の前記第1の面の側に配置される、封入手段と、
前記複数の相互接続手段の各々を囲む前記封入手段の環状領域手段であって、前記第1の面と前記基板手段の底面との間に配置された平坦な底部を有する環状領域手段と
を含む、半導体デバイス。 - 前記相互接続手段は、前記底面に平行な第2の面内にある直径を各々が有するはんだボールを含み、前記平坦な底部は、前記第1の面に配置される、請求項35に記載の半導体デバイス。
- 前記平坦な底部は、前記第1の面に平行である平坦な壁を含む、請求項36に記載の半導体デバイス。
- 前記平坦な底部から前記第1の面まで延びる壁手段を含む、請求項37に記載の半導体デバイス。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/228,925 | 2011-09-09 | ||
US13/228,925 US8461676B2 (en) | 2011-09-09 | 2011-09-09 | Soldering relief method and semiconductor device employing same |
PCT/US2012/054491 WO2013036948A1 (en) | 2011-09-09 | 2012-09-10 | Soldering relief method and semiconductor device employing same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014528166A true JP2014528166A (ja) | 2014-10-23 |
JP5905104B2 JP5905104B2 (ja) | 2016-04-20 |
Family
ID=46981087
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014529953A Expired - Fee Related JP5905104B2 (ja) | 2011-09-09 | 2012-09-10 | はんだ付け緩和方法およびそれを使用した半導体デバイス |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US8461676B2 (ja) |
EP (1) | EP2754169B1 (ja) |
JP (1) | JP5905104B2 (ja) |
KR (1) | KR101610349B1 (ja) |
CN (1) | CN103782377B (ja) |
BR (1) | BR112014005202A2 (ja) |
WO (1) | WO2013036948A1 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8742603B2 (en) | 2010-05-20 | 2014-06-03 | Qualcomm Incorporated | Process for improving package warpage and connection reliability through use of a backside mold configuration (BSMC) |
US8461676B2 (en) | 2011-09-09 | 2013-06-11 | Qualcomm Incorporated | Soldering relief method and semiconductor device employing same |
TWI624016B (zh) * | 2017-08-16 | 2018-05-11 | 矽品精密工業股份有限公司 | 電子封裝件及其製法 |
US20210375814A1 (en) * | 2017-12-06 | 2021-12-02 | Anhui Yunta Electronic Technologies Co., Ltd. | Integrated circuit module structure and method for manufacturing same |
TWI800591B (zh) * | 2018-01-15 | 2023-05-01 | 美商艾馬克科技公司 | 半導體封裝以及其製造方法 |
US10861779B2 (en) | 2018-06-22 | 2020-12-08 | Advanced Semiconductor Engineering, Inc. | Semiconductor device package having an electrical contact with a high-melting-point part and method of manufacturing the same |
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EP2754169B1 (en) | 2019-11-27 |
JP5905104B2 (ja) | 2016-04-20 |
WO2013036948A1 (en) | 2013-03-14 |
US20130244384A1 (en) | 2013-09-19 |
KR101610349B1 (ko) | 2016-04-08 |
CN103782377A (zh) | 2014-05-07 |
CN103782377B (zh) | 2017-05-03 |
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US8461676B2 (en) | 2013-06-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150223 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A601 | Written request for extension of time |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
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