JP2014147990A - 研磨装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】研磨装置は、研磨面3aを有する研磨具3を支持する研磨テーブル5と、基板Wを研磨面3aに押圧するためのトップリング15を有する研磨ヘッドと、研磨ヘッドを覆う研磨ヘッドカバー50と、研磨ヘッドカバー50の外周面に洗浄液を供給する第1洗浄液供給機構54と、研磨ヘッドカバー50の内周面に洗浄液を供給する第2洗浄液供給機構とを備える。
【選択図】図3
Description
本発明の好ましい態様は、前記第1洗浄液供給機構は、前記研磨ヘッドカバーの外周面の全体に洗浄液を供給することを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記第2洗浄液供給機構は、前記研磨ヘッドカバーの内周面の全体に洗浄液を供給することを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記第2洗浄液供給機構は、洗浄液が流れる洗浄液流路と、前記洗浄液流路に接続された複数の洗浄ノズルとを備え、前記複数の洗浄ノズルの先端開口部は前記研磨ヘッドカバーの内周面に近接または接触しており、該内周面に沿って洗浄液を供給することを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記研磨ヘッドカバーの外周面および/または内周面は、撥水性の被膜で被覆されていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記研磨ヘッドカバーの外周面には水平方向に延びる凸部または凹部が形成されており、前記凸部または凹部は前記第1洗浄液供給機構の下方に位置することを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記研磨ヘッドカバーの内周面には水平方向に延びる凸部または凹部が形成されており、前記凸部または凹部は前記第2洗浄液供給機構の下方に位置することを特徴とする。
図1は、ウェハなどの基板を研磨する研磨装置を示す斜視図である。図2は図1に示す研磨装置の平面図である。図1に示すように、研磨装置は、研磨具としての研磨パッド3を支持するための研磨テーブル5と、ウェハWを保持しかつウェハWを研磨テーブル5上の研磨パッド3に押圧するための研磨ヘッド4と、研磨パッド3に研磨液(例えばスラリー)を供給するための研磨液供給機構10とを備えている。研磨パッド3は研磨テーブル5の上面に貼付されており、研磨パッド3の上面がウェハWを研磨する研磨面3aを構成している。研磨具としては、研磨パッド3に代えて固定砥粒または研磨布などを用いてもよい。
4 研磨ヘッド
5 研磨テーブル
6 テーブル軸
8 テーブルモータ
10 研磨液供給機構
15 トップリング
16 トップリングシャフト
17 トップリング昇降機構
18 トップリングアーム
19 トップリング旋回軸
26 軸受
28 ブリッジ
29 支持台
30 支柱
32 ボールねじ
38 サーボモータ
40 ドレッシングヘッド
41 ドレッサ
43 ドレッサシャフト
45 ドレッサアーム
47 ドレッサ旋回軸
50 研磨ヘッドカバー
50a 外周面
50b 内周面
51 溝(凹部)
53 堰(凸部)
54 第1洗浄液供給機構
55 洗浄液流路
56 洗浄ノズル
61 第2洗浄液供給機構
62 洗浄液流路
63 洗浄ノズル
71 溝(凹部)
73 堰(凸部)
81 ドレッシングヘッドカバー
Claims (9)
- 研磨面を有する研磨具を支持する研磨テーブルと、
基板を前記研磨面に押圧するためのトップリングを有する研磨ヘッドと、
前記研磨ヘッドを覆う研磨ヘッドカバーと、
前記研磨ヘッドカバーの外周面に洗浄液を供給する第1洗浄液供給機構と、
前記研磨ヘッドカバーの内周面に洗浄液を供給する第2洗浄液供給機構とを備えたことを特徴とする研磨装置。 - 前記第1洗浄液供給機構および前記第2洗浄液供給機構は、前記研磨ヘッドカバーに取り付けられていることを特徴とする請求項1に記載の研磨装置。
- 前記第1洗浄液供給機構は、前記研磨ヘッドカバーの外周面の全体に洗浄液を供給することを特徴とする請求項1または2に記載の研磨装置。
- 前記第2洗浄液供給機構は、前記研磨ヘッドカバーの内周面の全体に洗浄液を供給することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の研磨装置。
- 前記第2洗浄液供給機構は、洗浄液が流れる洗浄液流路と、前記洗浄液流路に接続された複数の洗浄ノズルとを備え、
前記複数の洗浄ノズルの先端開口部は前記研磨ヘッドカバーの内周面に近接または接触しており、前記複数の洗浄ノズルは該内周面に沿って洗浄液を供給することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の研磨装置。 - 前記研磨ヘッドカバーの外周面および/または内周面は、親水性の被膜で被覆されていることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の研磨装置。
- 前記研磨ヘッドカバーの外周面および/または内周面は、撥水性の被膜で被覆されていることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の研磨装置。
- 前記研磨ヘッドカバーの外周面には水平方向に延びる凸部または凹部が形成されており、前記凸部または凹部は前記第1洗浄液供給機構の下方に位置することを特徴とする請求項1乃至7のいずれか一項に記載の研磨装置。
- 前記研磨ヘッドカバーの内周面には水平方向に延びる凸部または凹部が形成されており、前記凸部または凹部は前記第2洗浄液供給機構の下方に位置することを特徴とする請求項1乃至7のいずれか一項に記載の研磨装置。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016055398A (ja) * | 2014-09-11 | 2016-04-21 | 株式会社荏原製作所 | バフ処理モジュール、基板処理装置、及び、バフパッド洗浄方法 |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SG10201503374QA (en) * | 2014-04-30 | 2015-11-27 | Ebara Corp | Substrate Polishing Apparatus |
CN107206566B (zh) * | 2014-11-12 | 2021-05-18 | 伊利诺斯工具制品有限公司 | 平面研磨机 |
CN107000158B (zh) * | 2014-12-19 | 2020-11-06 | 应用材料公司 | 用于化学机械抛光工具的部件 |
TWI547348B (zh) * | 2015-08-31 | 2016-09-01 | 力晶科技股份有限公司 | 化學機械研磨裝置與方法 |
KR102214510B1 (ko) * | 2016-01-18 | 2021-02-09 | 삼성전자 주식회사 | 기판 씨닝 장치, 이를 이용한 기판의 씨닝 방법, 및 반도체 패키지의 제조 방법 |
CN108621033B (zh) * | 2017-03-21 | 2020-04-07 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 研磨垫的研磨方法 |
JP7098238B2 (ja) * | 2018-08-10 | 2022-07-11 | 株式会社ディスコ | 光デバイスウェーハの加工方法 |
CN109159020B (zh) * | 2018-10-26 | 2021-05-11 | 长江存储科技有限责任公司 | 研磨装置 |
CN110125794A (zh) * | 2019-06-25 | 2019-08-16 | 吉姆西半导体科技(无锡)有限公司 | 晶圆平坦化设备 |
CN110170916A (zh) * | 2019-06-25 | 2019-08-27 | 吉姆西半导体科技(无锡)有限公司 | 晶圆平坦化设备研磨头旋转机构 |
TWI695741B (zh) * | 2019-10-01 | 2020-06-11 | 力晶積成電子製造股份有限公司 | 研磨後清潔裝置 |
US11484987B2 (en) | 2020-03-09 | 2022-11-01 | Applied Materials, Inc. | Maintenance methods for polishing systems and articles related thereto |
US20210402565A1 (en) * | 2020-06-24 | 2021-12-30 | Applied Materials, Inc. | Cleaning system for polishing liquid delivery arm |
US11823916B2 (en) * | 2020-11-06 | 2023-11-21 | Applied Materials, Inc. | Apparatus and method of substrate edge cleaning and substrate carrier head gap cleaning |
CN115922557B (zh) * | 2023-03-09 | 2023-07-25 | 长鑫存储技术有限公司 | 一种抛光组件及抛光设备 |
CN117245542B (zh) * | 2023-11-17 | 2024-01-23 | 苏州博宏源机械制造有限公司 | 晶圆双面抛光设备及工艺 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001053040A (ja) * | 1999-08-09 | 2001-02-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 研磨装置および研磨方法 |
US6206760B1 (en) * | 1999-01-28 | 2001-03-27 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Method and apparatus for preventing particle contamination in a polishing machine |
JP2002059361A (ja) * | 2000-08-21 | 2002-02-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体製造装置及びその製造方法 |
JP2003145389A (ja) * | 2001-11-09 | 2003-05-20 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 切削装置 |
JP2006229100A (ja) * | 2005-02-21 | 2006-08-31 | Seiko Epson Corp | 研磨装置および半導体装置の製造方法 |
JP2007190614A (ja) * | 2006-01-17 | 2007-08-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 研磨装置および研磨方法 |
JP2012055979A (ja) * | 2010-09-06 | 2012-03-22 | Seiko Epson Corp | 研磨装置 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100546288B1 (ko) * | 1999-04-10 | 2006-01-26 | 삼성전자주식회사 | 화학 기계적 폴리싱 장치 |
JP2000326208A (ja) * | 1999-05-17 | 2000-11-28 | Ebara Corp | ポリッシング装置 |
KR100304706B1 (ko) * | 1999-06-16 | 2001-11-01 | 윤종용 | 화학기계적 연마장치 및 연마 헤드 내부의 오염 물질 세척방법 |
JP4197103B2 (ja) * | 2002-04-15 | 2008-12-17 | 株式会社荏原製作所 | ポリッシング装置 |
JP2003332274A (ja) * | 2002-05-17 | 2003-11-21 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 化学的機械研磨方法及び化学的機械研磨装置 |
KR101186239B1 (ko) * | 2004-11-01 | 2012-09-27 | 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 | 폴리싱장치 |
US7052376B1 (en) * | 2005-05-26 | 2006-05-30 | United Microelectronics Corp. | Wafer carrier gap washer |
JP2007245266A (ja) | 2006-03-14 | 2007-09-27 | Daikin Ind Ltd | Cmp装置 |
JP2008296293A (ja) | 2007-05-29 | 2008-12-11 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 研磨部のチャンバ内洗浄装置および洗浄方法 |
CN101362313B (zh) * | 2007-08-09 | 2010-11-10 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 化学机械研磨设备及化学机械研磨方法 |
JP2009231450A (ja) * | 2008-03-21 | 2009-10-08 | Fujitsu Microelectronics Ltd | 研磨装置及び半導体装置の製造方法 |
US20090242125A1 (en) * | 2008-03-25 | 2009-10-01 | Applied Materials, Inc. | Carrier Head Membrane |
CN201483358U (zh) * | 2009-08-26 | 2010-05-26 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 用于研磨垫调整装置的机械臂 |
JP5628067B2 (ja) * | 2011-02-25 | 2014-11-19 | 株式会社荏原製作所 | 研磨パッドの温度調整機構を備えた研磨装置 |
KR101689428B1 (ko) * | 2012-10-31 | 2016-12-23 | 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 | 연마 장치 및 연마 방법 |
-
2013
- 2013-01-31 JP JP2013017193A patent/JP5927129B2/ja active Active
-
2014
- 2014-01-28 TW TW103103081A patent/TWI543844B/zh active
- 2014-01-28 KR KR1020140010362A patent/KR101679905B1/ko active IP Right Grant
- 2014-01-29 CN CN201410043742.2A patent/CN103962938B/zh active Active
- 2014-01-29 US US14/167,941 patent/US9174324B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6206760B1 (en) * | 1999-01-28 | 2001-03-27 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Method and apparatus for preventing particle contamination in a polishing machine |
JP2001053040A (ja) * | 1999-08-09 | 2001-02-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 研磨装置および研磨方法 |
JP2002059361A (ja) * | 2000-08-21 | 2002-02-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体製造装置及びその製造方法 |
JP2003145389A (ja) * | 2001-11-09 | 2003-05-20 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 切削装置 |
JP2006229100A (ja) * | 2005-02-21 | 2006-08-31 | Seiko Epson Corp | 研磨装置および半導体装置の製造方法 |
JP2007190614A (ja) * | 2006-01-17 | 2007-08-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 研磨装置および研磨方法 |
JP2012055979A (ja) * | 2010-09-06 | 2012-03-22 | Seiko Epson Corp | 研磨装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016055398A (ja) * | 2014-09-11 | 2016-04-21 | 株式会社荏原製作所 | バフ処理モジュール、基板処理装置、及び、バフパッド洗浄方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN103962938A (zh) | 2014-08-06 |
JP5927129B2 (ja) | 2016-05-25 |
KR20140098696A (ko) | 2014-08-08 |
CN103962938B (zh) | 2016-09-28 |
TW201436947A (zh) | 2014-10-01 |
KR101679905B1 (ko) | 2016-11-25 |
US9174324B2 (en) | 2015-11-03 |
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US20140213158A1 (en) | 2014-07-31 |
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