JP2014013879A - 光半導体用光反射部材およびそれを用いた光半導体実装用基板ならびに光半導体装置 - Google Patents
光半導体用光反射部材およびそれを用いた光半導体実装用基板ならびに光半導体装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014013879A JP2014013879A JP2013060065A JP2013060065A JP2014013879A JP 2014013879 A JP2014013879 A JP 2014013879A JP 2013060065 A JP2013060065 A JP 2013060065A JP 2013060065 A JP2013060065 A JP 2013060065A JP 2014013879 A JP2014013879 A JP 2014013879A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical semiconductor
- substrate
- reflecting member
- light reflecting
- resin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/58—Optical field-shaping elements
- H01L33/60—Reflective elements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/52—Encapsulations
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/45144—Gold (Au) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00011—Not relevant to the scope of the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0008—Processes
- H01L2933/0033—Processes relating to semiconductor body packages
- H01L2933/005—Processes relating to semiconductor body packages relating to encapsulations
Abstract
【解決手段】貫通孔3が設けられた白色顔料を含有する樹脂成形体1と、この樹脂成形体1の下面に形成される白色顔料含有接合層2とを備え、上記貫通孔3の開口内に、基板上の光半導体素子実装予定部または光半導体素子実装部を位置決めした状態で、上記白色顔料含有接合層2を介してその基板上に接合されるようになっており、上記貫通孔3の開口内に実装された光半導体素子の発する光が、上記貫通孔3の内周面3’によって反射されるようにした。
【選択図】図1
Description
<光半導体用光反射部材Aの製造>
下記に示す材料を、プラネタリーミキサーを用いて溶融混合し、樹脂成形体1形成用の熱硬化性樹脂組成物を作製した。
(熱硬化性樹脂組成物)
トリグリシジルイソシアヌレート:100重量部
ヘキサヒドロフタル酸無水物:165重量部
テトラ−n−ブチルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロンジチオエート:2重量部溶融シリカ(平均粒径45μm):150重量部
ルチル型酸化チタン(平均粒径0.21μm):200重量部
基板4として、厚み2mmのアルミ板を用い、このアルミ板上に80体積%のアルミナを配合したエポキシ樹脂からなる絶縁層を形成し、この絶縁層の上に、フォトリソグラフィの方法で銅からなる配線回路を形成した。つぎに、光半導体素子の実装予定部と、外部電源等との接続予定部とにマスクを設け、LED用白色反射材(タムラ製作所製、RPW−2000−11)をスクリーン印刷によって塗布し硬化させて、光半導体素子の実装予定部と外部電源等との接続予定部を除く領域に保護層を形成した。
上記樹脂成形体1の代わりに、熱硬化性樹脂組成物を溶融混合した直後の溶融液状状態で、トランスファー成形用金型に注型し、冷却固化し、成形後に硬化を完了させるための加熱処理を行わないようにして、樹脂成形体1の形状を有する半硬化状態(B−ステージ状)の半硬化体を形成するとともに、白色顔料含有接合層を形成せずに、この半硬化体を、予め180℃に加熱した基板4の光半導体素子実装面に圧着し(圧着条件:時間10分間、圧力0.2MPa)、その後、0.2MPaの圧力を維持しながら熱風乾燥機を用いて180℃の温度で3時間の後加熱処理を行い、この半硬化体を完全硬化させ、樹脂成形体として基板4上に直接接合するほかは、実施例1と同様にして、光半導体実装用基板を製造した。
実施例1および比較例1の光半導体実装用基板をそれぞれ20個製造し、それらの樹脂成形体のサイズ(幅、長さ、厚み)を測定し、設計サイズ(金型内寸)と対比したところ、実施例1品は設計サイズとほぼ同寸であったのに対し、比較例1品は厚み方向に平均100μmの変形が見られた。
<光半導体装置Cの製造>
上記光半導体実装用基板Bの貫通孔3の開口内に、光半導体素子(Cree社製、TR−5050)をダイアタッチ剤(信越化学工業社製、KER−3000−M2)で所定位置に接着固定するとともに、金ワイヤ(田中貴金属社製、SR−25)で配線回路にワイヤボンディングを行い実装した。そして、蛍光体(Genelite社製、GLD(Y)-550A)を約10重量%配合した封止剤(信越化学工業社製、KER−2500)を用いて、この貫通孔3と基板4とで形成される凹部を封止することにより、目的の光半導体装置Cを得た(図4参照)。これをブレードダイシング(装置:DISCO社製「DFD6361」、ブレード:DISCO社製「B1A801-SDC320N50M51 54*0.2*40」)を用いて光半導体素子ごとに切り分け、個片化した光半導体装置を得た。
上記光半導体実装用基板Bに代えて、下記の光半導体実装用基板αを用いたほかは、実施例2と同様にして目的の光半導体装置を得た。
(光半導体実装用基板α)
白色顔料含有組成物を作製せずに、シリコーン系粘着剤をそのまま樹脂成形体1の下面に塗布し、接合層を形成したほかは、実施例1と同様にして製造した光半導体実装用基板。
実施例2および比較例2で製造した、光半導体素子ごとに個片化した光半導体装置をそれぞれ20個用意し、それらを定電流150mAで駆動発光させ、その輝度を、半球型積分球を備えた全光束測定機を用いて測定した。その結果、実施例2の光半導体装置の平均輝度は、全光束30ルーメンであったのに対し、比較例2の光半導体装置の平均輝度は、28ルーメンと低いものであった。
<光半導体用光反射部材A’−1の製造>
実施例1と同様に、光半導体用光反射部材Aを製造し、白色顔料含有接合層2の全面に、剥離ライナー(三菱樹脂社製、PETフィルム「MRS50」)を貼り合せたものを準備した。そして、下記に示すようにシリコーン樹脂組成物を調製し、このシリコーン樹脂組成物100質量部に対し、市販のYAG系蛍光体(平均粒径8.9μm)を5質量%配合して自転公転式混合器で混合し、蛍光体入りシリコーン樹脂組成物を作製した。
(シリコーン樹脂組成物)
ジメチルビニルシリル末端ポリジメチルシロキサン(ビニルシリル基当量0.071mmol/g)20g(1.4mmolビニルシリル基)、トリメチルシリル末端ジメチルシロキサン−メチルヒドロシロキサン共重合体(ヒドロシリル基当量4.1mmol/g)0.40g(1.6mmolヒドロシリル基)、ヘキサメチルジシラザン処理シリカ粒子2g、白金−ジビニルテトラメチルジシロキサン錯体のキシレン溶液(白金濃度2質量%)0.036mL(1.9μmol)、および、水酸化テトラメチルアンモニウムのメタノール溶液(10質量%)0.063mL(57μmol)を混合し、20℃で10分間撹拌することにより、シリコーン樹脂組成物を調製した。
つぎに、基板とする粘着シート(日東電工社製、品番 リバアルファ31950E)の非発泡面上に、フリップチップ型の光半導体素子(LEDチップ:Cree社製、DA1000)を配置した。そして、光半導体用光反射部材A’−1から剥離ライナーを剥離して、白色顔料含有接合層2を露出させ、貫通孔3の開口内に光半導体素子を位置決めし、加圧プレス機を用い0.2MPaの圧力をかけることにより、光半導体用光反射部材A’−1を、白色顔料含有接合層2を介して、上記粘着シートに接合した。これを100℃で1時間加熱し、さらに、150℃で2時間加熱することにより、B−ステージ状の透明樹脂18をC−ステージ状(完全硬化)させて、光半導体素子を封止を完了した。これを、光半導体素子ごとにブレードダイサーでダイシングし、目的の光半導体装置を得た。
<光半導体用光反射部材A’−2の製造>
実施例1の樹脂成形体1形成用の熱硬化性樹脂組成物の代わりに、熱硬化性シリコーン樹脂(信越化学工業社製、KER−2500:A液およびB液を等量混合)100質量部に対し、ルチル型酸化チタン(平均粒径:0.21μm)68重量部を配合したもの用い、これを自転公転式混合器で混合して、金型に注型し、樹脂成形体1を作製した他は、実施例1と同様にして、光半導体用光反射部材Aを製造した。そして、この光半導体用光反射部材Aの白色顔料含有接合層2の全面に、剥離ライナー(三菱樹脂社製、PETフィルム「MRS50」)を貼り合せた。そして、実施例3と同様にして、蛍光体入りシリコーン樹脂組成物を作製し、光半導体用光反射部材Aの貫通孔3と剥離ライナーとで形成される凹部20にポッティングで充填し、これを加熱してB−ステージ状とすることにより、光半導体用光反射部材A’−2を得た。
光半導体用光反射部材A’−2を用いた他は、実施例3と同様にして、目的の光半導体装置を得た。
白色顔料含有組成物の代わりに、ルチル型酸化チタンを含有しない単なるシリコーン系粘着剤(東レデュポン社製、SD4580)を、樹脂成形体1の下面に塗布し、厚み100μmの白色顔料不含の接合層を形成し、光半導体用光反射部材Aを作製した他は、実施例3と同様にして、目的の光半導体装置を得た。すなわち、このものは、白色顔料含有接合層2ではなく、白色顔料不含の粘着剤からなる接合層を介して、光半導体素子が配置された粘着シート(基板)に接合している。
実施例3、4および比較例3の光半導体装置をそれぞれ10個製造し、それらを定電流350mAでそれぞれ駆動発光させ、その輝度を、半球型積分球を備えた全光束測定機を用いて測定した。その結果、実施例3の光半導体装置の平均輝度は、全光束125ルーメンであり、実施例4の光半導体装置の平均輝度は、126ルーメンであった。これに対し、比較例3の光半導体装置の平均輝度は、117ルーメンと低いものであった。これらの結果から、実施例3および4の光半導体用光反射部材は、高性能の光半導体装置を製造することができるだけでなく、光反射部材形成時に、光半導体素子の封止部分まで同時に形成することができ、生産性にも優れていることがわかる。
2 白色顔料含有接合層
3 貫通孔
3’ 貫通孔内周面
Claims (8)
- 基板の光半導体素子実装面上に接合される光半導体用光反射部材であって、上下方向に貫通しその内周面が白色に形成された貫通孔を有する樹脂成形体と、上記樹脂成形体の下面に形成される白色顔料含有接合層とを備え、上記貫通孔の開口内に、基板上の光半導体素子実装予定部または光半導体素子実装部を位置決めした状態で、上記白色顔料含有接合層を介してその基板上に接合されるようになっており、上記貫通孔の開口内に実装された光半導体素子の発する光が、上記貫通孔の内周面によって反射されるようになっていることを特徴とする光半導体用光反射部材。
- 上記樹脂成形体が、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、ウレタン樹脂、ユリア樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂からなる群から選ばれた少なくとも一種を主成分とする熱硬化性樹脂組成物の硬化体である請求項1記載の光半導体用光反射部材。
- 上記白色顔料が、酸化チタン、酸化亜鉛、酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、酸化ジルコニウム、炭酸カルシウム、炭酸バリウム、硫酸バリウムからなる群から選ばれた少なくとも一種である請求項1または2記載の光半導体用光反射部材。
- 上記樹脂成形体が、トランスファー成形、コンプレッション成形、射出成形または注型成形によって形成されている請求項1〜3のいずれか一項に記載の光半導体用光反射部材。
- 上記樹脂成形体の貫通孔が、B−ステージ状の透明樹脂により満たされている請求項1〜4のいずれか一項に記載の光半導体用光反射部材。
- 上記B−ステージ状の透明樹脂が、シリコーン樹脂である請求項5記載の光半導体用光反射部材。
- 上記請求項1〜4のいずれか一項に記載の光半導体用光反射部材が基板上に接合され、上記光半導体用光反射部材の貫通孔の開口内に、その基板上の光半導体素子実装予定部が位置決めされていることを特徴とする光半導体実装用基板。
- 上記請求項1〜7のいずれか一項に記載の光半導体用光半反射部材が基板上に接合一体化され、上記光半導体用光反射部材の貫通孔の開口内に光半導体素子が実装されており、上記貫通孔内が透明樹脂によって封止されていることを特徴とする光半導体装置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013060065A JP2014013879A (ja) | 2012-06-06 | 2013-03-22 | 光半導体用光反射部材およびそれを用いた光半導体実装用基板ならびに光半導体装置 |
US13/909,450 US20130328091A1 (en) | 2012-06-06 | 2013-06-04 | Light reflecting member for optical semiconductor, and substrate for mounting optical semiconductor and optical semiconductor device using the light reflecting member |
KR1020130064432A KR20130137089A (ko) | 2012-06-06 | 2013-06-05 | 광 반도체용 광 반사 부재, 및 광 반사 부재를 사용한 광 반도체 실장용 기판 및 광 반도체 장치 |
CN2013102241332A CN103474563A (zh) | 2012-06-06 | 2013-06-06 | 用于光半导体的光反射部件和用于安装光半导体的基板以及使用光反射部件的光半导体器件 |
EP13170847.1A EP2672533A3 (en) | 2012-06-06 | 2013-06-06 | Light reflecting member for optical semiconductor, and substrate for mounting optical semiconductor and optical semiconductor device using the light reflecting member |
TW102120200A TWI601319B (zh) | 2012-06-06 | 2013-06-06 | 光學半導體用光反射構件、及使用該光反射構件之光學半導體搭載用基板和光學半導體裝置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012129073 | 2012-06-06 | ||
JP2012129073 | 2012-06-06 | ||
JP2013060065A JP2014013879A (ja) | 2012-06-06 | 2013-03-22 | 光半導体用光反射部材およびそれを用いた光半導体実装用基板ならびに光半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014013879A true JP2014013879A (ja) | 2014-01-23 |
Family
ID=48576831
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013060065A Pending JP2014013879A (ja) | 2012-06-06 | 2013-03-22 | 光半導体用光反射部材およびそれを用いた光半導体実装用基板ならびに光半導体装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20130328091A1 (ja) |
EP (1) | EP2672533A3 (ja) |
JP (1) | JP2014013879A (ja) |
KR (1) | KR20130137089A (ja) |
CN (1) | CN103474563A (ja) |
TW (1) | TWI601319B (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016178270A (ja) * | 2015-03-23 | 2016-10-06 | ローム株式会社 | Ledパッケージ |
JP2016192441A (ja) * | 2015-03-30 | 2016-11-10 | 大日本印刷株式会社 | Led素子用基板 |
WO2021182327A1 (ja) * | 2020-03-12 | 2021-09-16 | 日東電工株式会社 | 接合シート |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6166612B2 (ja) * | 2013-07-31 | 2017-07-19 | ミネベアミツミ株式会社 | 面状照明装置 |
US10199545B2 (en) * | 2015-09-30 | 2019-02-05 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Substrate for light emitting element and module |
CN108352433B (zh) * | 2015-10-29 | 2021-09-21 | 京瓷株式会社 | 发光元件搭载用基板和发光装置 |
JP6447557B2 (ja) * | 2016-03-24 | 2019-01-09 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置の製造方法 |
DE102016106833A1 (de) | 2016-04-13 | 2017-10-19 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Bauelement mit Reflektor und Verfahren zur Herstellung von Bauelementen |
US11502228B2 (en) * | 2017-08-04 | 2022-11-15 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Method of producing an optoelectronic semiconductor device |
CN107623063B (zh) * | 2017-09-29 | 2020-05-05 | 开发晶照明(厦门)有限公司 | 封装支架和封装支架制备方法 |
JP6940775B2 (ja) * | 2018-10-30 | 2021-09-29 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置の製造方法 |
CN109741685B (zh) * | 2019-02-18 | 2021-11-02 | 深圳市洲明科技股份有限公司 | 一种led显示模组及其制作方法 |
US10811578B1 (en) | 2019-03-27 | 2020-10-20 | Lextar Electronics Corporation | LED carrier and LED package having the same |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006269079A (ja) * | 2005-03-22 | 2006-10-05 | Hitachi Lighting Ltd | 光源モジュール、液晶表示装置および光源モジュールの製造方法 |
JP2009182149A (ja) * | 2008-01-30 | 2009-08-13 | Nitto Denko Corp | 光半導体素子封止用樹脂シートおよび光半導体装置 |
JP2009295909A (ja) * | 2008-06-09 | 2009-12-17 | Nec Lighting Ltd | 発光装置 |
JP2010106243A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-05-13 | Shin-Etsu Chemical Co Ltd | 光半導体装置用シリコーン樹脂組成物 |
JP2012009469A (ja) * | 2010-06-22 | 2012-01-12 | Nitto Denko Corp | 複合シートおよびそれを用いた半導体発光装置 |
JP2012069794A (ja) * | 2010-09-24 | 2012-04-05 | Dainippon Printing Co Ltd | 反射材組成物、反射体及び半導体発光装置 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5135494B2 (ja) * | 1999-12-22 | 2013-02-06 | 綜研化学株式会社 | アクリル系粘着テープおよびその製造方法 |
TW451436B (en) * | 2000-02-21 | 2001-08-21 | Advanced Semiconductor Eng | Manufacturing method for wafer-scale semiconductor packaging structure |
US6874910B2 (en) * | 2001-04-12 | 2005-04-05 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Light source device using LED, and method of producing same |
JP2006186297A (ja) * | 2004-12-03 | 2006-07-13 | Toshiba Corp | 半導体発光装置及びその製造方法 |
JP2007088062A (ja) * | 2005-09-20 | 2007-04-05 | Toyoda Gosei Co Ltd | 発光装置及びその製造方法 |
JP5232369B2 (ja) * | 2006-02-03 | 2013-07-10 | 日立化成株式会社 | 光半導体素子搭載用パッケージ基板の製造方法およびこれを用いた光半導体装置の製造方法 |
KR20090091283A (ko) * | 2006-12-22 | 2009-08-27 | 아사히 가라스 가부시키가이샤 | 복합 입자 및 그 용도 |
JP5064278B2 (ja) * | 2008-03-25 | 2012-10-31 | 日東電工株式会社 | 光半導体素子封止用樹脂シートおよび光半導体装置 |
JP5545246B2 (ja) * | 2010-03-30 | 2014-07-09 | 信越化学工業株式会社 | 樹脂組成物及び発光半導体素子用リフレクター、及び発光半導体装置 |
KR20130096094A (ko) * | 2012-02-21 | 2013-08-29 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광소자 패키지, 발광 소자 패키지 제조방법 및 이를 구비한 조명 시스템 |
JP6290874B2 (ja) * | 2012-05-30 | 2018-03-07 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 積層フィルムの製造方法 |
-
2013
- 2013-03-22 JP JP2013060065A patent/JP2014013879A/ja active Pending
- 2013-06-04 US US13/909,450 patent/US20130328091A1/en not_active Abandoned
- 2013-06-05 KR KR1020130064432A patent/KR20130137089A/ko not_active Application Discontinuation
- 2013-06-06 CN CN2013102241332A patent/CN103474563A/zh active Pending
- 2013-06-06 EP EP13170847.1A patent/EP2672533A3/en not_active Withdrawn
- 2013-06-06 TW TW102120200A patent/TWI601319B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006269079A (ja) * | 2005-03-22 | 2006-10-05 | Hitachi Lighting Ltd | 光源モジュール、液晶表示装置および光源モジュールの製造方法 |
JP2009182149A (ja) * | 2008-01-30 | 2009-08-13 | Nitto Denko Corp | 光半導体素子封止用樹脂シートおよび光半導体装置 |
JP2009295909A (ja) * | 2008-06-09 | 2009-12-17 | Nec Lighting Ltd | 発光装置 |
JP2010106243A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-05-13 | Shin-Etsu Chemical Co Ltd | 光半導体装置用シリコーン樹脂組成物 |
JP2012009469A (ja) * | 2010-06-22 | 2012-01-12 | Nitto Denko Corp | 複合シートおよびそれを用いた半導体発光装置 |
JP2012069794A (ja) * | 2010-09-24 | 2012-04-05 | Dainippon Printing Co Ltd | 反射材組成物、反射体及び半導体発光装置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016178270A (ja) * | 2015-03-23 | 2016-10-06 | ローム株式会社 | Ledパッケージ |
US10957676B2 (en) | 2015-03-23 | 2021-03-23 | Rohm Co., Ltd. | LED package |
JP2016192441A (ja) * | 2015-03-30 | 2016-11-10 | 大日本印刷株式会社 | Led素子用基板 |
WO2021182327A1 (ja) * | 2020-03-12 | 2021-09-16 | 日東電工株式会社 | 接合シート |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2672533A3 (en) | 2015-12-23 |
TWI601319B (zh) | 2017-10-01 |
US20130328091A1 (en) | 2013-12-12 |
TW201403883A (zh) | 2014-01-16 |
EP2672533A2 (en) | 2013-12-11 |
CN103474563A (zh) | 2013-12-25 |
KR20130137089A (ko) | 2013-12-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2014013879A (ja) | 光半導体用光反射部材およびそれを用いた光半導体実装用基板ならびに光半導体装置 | |
CN102823084B (zh) | 发光装置的制造方法 | |
JP6519311B2 (ja) | 発光装置 | |
EP2704223B1 (en) | Light emitting device and method for manufacturing the same | |
TWI697535B (zh) | 接著劑、及發光裝置 | |
CN102576798B (zh) | 光反射性导电颗粒、各向异性导电粘合剂和发光装置 | |
CN104364337B (zh) | 光反射性各向异性导电粘接剂及发光装置 | |
KR102050103B1 (ko) | 형광체 함유층과 형광체 비함유층을 갖는 열경화성 실리콘 수지 시트, 이를 사용하는 발광 장치의 제조 방법 및 상기 방법으로 얻어지는 발광 반도체 장치 | |
JP6641997B2 (ja) | 積層体およびそれを用いた発光装置の製造方法 | |
TWI749058B (zh) | 光學半導體元件覆蓋用薄片 | |
JP2014168033A (ja) | 反射層−蛍光体層被覆led、その製造方法、led装置およびその製造方法 | |
CN102934243A (zh) | 光反射性各向异性导电浆料和发光装置 | |
JP2014168032A (ja) | 蛍光体層被覆led、その製造方法およびled装置 | |
KR20130114745A (ko) | 렌즈 부착 광반도체 장치 및 그 제조방법 | |
JP2014168036A (ja) | 封止層被覆半導体素子、その製造方法および半導体装置 | |
KR20130096094A (ko) | 발광소자 패키지, 발광 소자 패키지 제조방법 및 이를 구비한 조명 시스템 | |
JP2012164742A (ja) | 照明装置および照明装置の製造方法 | |
JP2014168035A (ja) | 封止層被覆半導体素子、その製造方法および半導体装置 | |
EP2728633B1 (en) | Light emitting device | |
TWI692126B (zh) | 被覆有螢光體層之光半導體元件及其製造方法 | |
WO2017221606A1 (ja) | 蛍光体層付光半導体素子およびその製造方法 | |
JP2018014480A (ja) | 反射層および蛍光体層付光半導体素子 | |
US9470370B2 (en) | Light emitting module and light emitting device having the same | |
WO2015029664A1 (ja) | 封止半導体素子および半導体装置の製造方法 | |
JP2018041857A (ja) | 蛍光体層光拡散層被覆光半導体素子 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20151221 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160926 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20161004 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20161201 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20161201 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170516 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170620 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20170620 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170905 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20180227 |