JP2011188436A - 測定装置、測定方法およびプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】直交変調器のIQ間の位相誤差およびゲイン誤差の少なくとも一方を測定する測定装置であって、トーン信号を発生させるIQ信号のI成分に対応する基準I信号およびIQ信号のQ成分に対応する基準Q信号を、時間的にずらして直交変調器に供給する供給部と、基準I信号を供給したことに応じて直交変調器から出力される変調信号に含まれるトーン信号に対応するI信号周波数成分、および、基準Q信号を供給したことに応じて変調信号に含まれるトーン信号に対応するQ信号周波数成分に基づき、位相誤差およびゲイン誤差の少なくとも一方を算出する算出部と、を備える測定装置を提供する。
【選択図】図1
Description
特許文献2 国際公開第2007/072653号パンフレット
特許文献3 国際公開第2007/077686号パンフレット
ωcは、キャリア周波数を表す。
ω0は、直交変調器200に入力される信号の角周波数を表す。
I(t)は、直交変調器200に入力されるI信号の時間波形を表す。
Q(t)は、直交変調器200に入力されるQ信号の時間波形を表す。
s(t)は、直交変調器200から出力される変調信号の時間波形を表す。
HI(ω)は、直交変調器200のI信号経路の、角周波数ωに対するフィルタ特性を表す。
HQ(ω)は、直交変調器200のQ信号経路の、角周波数ωに対するフィルタ特性を表す。
M0は、直交変調器200のゲインを表す。
Gは、直交変調器200のIQ間のゲイン誤差を表す。
τは、直交変調器200のIQ間のスキューを表す。
θ、θωcは、直交変調器200のキャリア位相誤差を表す。
φは、キャリア信号の初期位相を表す。
Claims (23)
- 直交変調器のIQ間の位相誤差およびゲイン誤差の少なくとも一方を測定する測定装置であって、
トーン信号を発生させるIQ信号のI成分に対応する基準I信号および前記IQ信号のQ成分に対応する基準Q信号を、時間的にずらして前記直交変調器に供給する供給部と、
前記基準I信号を供給したことに応じて前記直交変調器から出力される変調信号に含まれる前記トーン信号に対応するI信号周波数成分、および、前記基準Q信号を供給したことに応じて前記変調信号に含まれる前記トーン信号に対応するQ信号周波数成分に基づき、前記位相誤差および前記ゲイン誤差の少なくとも一方を算出する算出部と、
を備える測定装置。 - 前記算出部は、複数の周波数のそれぞれの前記トーン信号に対応する前記I信号周波数成分および前記Q信号周波数成分に基づき、前記位相誤差の周波数特性および前記ゲイン誤差の周波数特性の少なくとも一方を算出する
請求項1に記載の測定装置。 - 前記供給部は、正の周波数および負の周波数の何れか一方にマルチトーン信号を発生させるIQ信号に対応する基準I信号および基準Q信号を、時間的にずらして前記直交変調器に供給する
請求項1または2に記載の測定装置。 - 前記供給部は、折返し成分が重ならないマルチトーン信号を発生させるIQ信号に対応する基準I信号および基準Q信号を、時間的にずらして前記直交変調器に供給する
請求項3に記載の測定装置。 - 前記算出部は、前記I信号周波数成分における正の周波数成分と前記Q信号周波数成分における正の周波数成分との比、および、前記I信号周波数成分における負の周波数成分と前記Q信号周波数成分における負の周波数成分との比の少なくとも一方に基づき、前記位相誤差および前記ゲイン誤差の少なくとも一方を算出する
請求項1から4の何れかに記載の測定装置。 - 前記算出部は、
前記I信号周波数成分における正の周波数成分に対する前記Q信号周波数成分における正の周波数成分の比をP(ω)とし、
前記I信号周波数成分における負の周波数成分に対する前記Q信号周波数成分における負の周波数成分の比をN(−ω)とした場合において、
(−N(−ω)/P(ω))の位相の1/2を位相誤差として算出する
請求項5に記載の測定装置。 - 前記算出部は、前記P(ω)を前記位相誤差により補正し、補正したP(ω)の振幅をゲイン誤差として算出する
請求項6に記載の測定装置。 - 前記算出部は、前記P(ω)を前記位相誤差により補正し、補正したP(ω)の位相をキャリア位相誤差として算出する
請求項6または7に記載の測定装置。 - 前記算出部は、
前記I信号周波数成分における正の周波数成分に対する前記Q信号周波数成分における正の周波数成分の比をP(ω)とし、
前記I信号周波数成分における負の周波数成分に対する前記Q信号周波数成分における負の周波数成分の比をN(−ω)とした場合において、
(−N(−ω)・P(ω))の振幅の平方根をゲイン誤差として算出する
請求項5に記載の測定装置。 - 前記算出部は、
前記I信号周波数成分における正の周波数成分に対する前記Q信号周波数成分における正の周波数成分の比をP(ω)とし、
前記I信号周波数成分における負の周波数成分に対する前記Q信号周波数成分における負の周波数成分の比をN(−ω)とした場合において、
(−N(−ω)・P(ω))の位相の1/2をキャリア位相誤差として算出する
請求項5または9に記載の測定装置。 - 前記算出部は、前記P(ω)を少なくとも前記キャリア位相誤差により補正し、補正したP(ω)の位相を位相誤差として算出する
請求項10に記載の測定装置。 - 前記算出部は、
複数の周波数のそれぞれについて、前記I信号周波数成分における正の周波数成分と前記Q信号周波数成分における正の周波数成分との比を算出し、
前記比の周波数特性を算出ための予め定められた方程式および前記複数の周波数のそれぞれについて算出した前記比に基づき、前記比の周波数特性を表す関数を算出し、算出した関数に基づき、指定された周波数における前記ゲイン誤差および前記位相誤差の少なくとも一方を算出する
請求項5に記載の測定装置。 - 前記供給部は、前記基準I信号と前記基準Q信号との間に予め定められたガード期間を空ける
請求項1から12の何れかに記載の測定装置。 - 当該測定装置は、複数の直交変調器のそれぞれの位相誤差およびゲイン誤差の少なくとも一方を測定し、
当該測定装置は、前記複数の直交変調器のそれぞれから出力される変調信号を加算した加算信号を出力する加算部を更に備え、
前記供給部は、前記複数の直交変調器のそれぞれに、並列に、互いに周波数が重ならない前記トーン信号を発生させるIQ信号に対応する基準I信号および基準Q信号を供給し、
前記算出部は、前記複数の直交変調器のそれぞれについて、前記加算信号に含まれる前記トーン信号に対応するI信号周波数成分およびQ信号周波数成分に基づき前記位相誤差および前記ゲイン誤差の少なくとも一方を算出する
請求項1から13の何れかに記載の測定装置。 - 前記供給部は、
位相誤差およびゲイン誤差を測定する周波数範囲を複数の分割した分割領域を順次に選択し、
選択した分割領域にマルチトーン信号を発生させるIQ信号に対応する基準I信号および基準Q信号を時間的にずらして前記直交変調器に供給する処理を、繰り返して実行する
請求項1から14の何れかに記載の測定装置。 - 直交変調器のIQ間の位相誤差およびゲイン誤差の少なくとも一方を測定する測定方法であって、
トーン信号を発生させるIQ信号のI成分に対応する基準I信号および前記IQ信号のQ成分に対応する基準Q信号を、時間的にずらして前記直交変調器に供給し、
前記基準I信号を供給したことに応じて前記直交変調器から出力される変調信号に含まれる前記トーン信号に対応するI信号周波数成分、および、前記基準Q信号を供給したことに応じて前記変調信号に含まれる前記トーン信号に対応するQ信号周波数成分に基づき、前記位相誤差および前記ゲイン誤差の少なくとも一方を算出する
測定方法。 - 請求項1から請求項14の何れかの前記測定装置における前記算出部として、コンピュータを機能させるためのプログラム。
- 直交復調器のIQ間の位相誤差およびゲイン誤差の少なくとも一方を測定する測定装置であって、
トーン信号を発生させるIQ信号におけるI成分を直交変調した信号に対応する第1変調信号、および、前記IQ信号におけるQ成分を直交変調した信号に対応する第2変調信号を、時間的にずらして前記直交復調器に供給する供給部と、
前記直交復調器が前記第1変調信号を復調したベースバンド信号、および、前記直交復調器が前記第2変調信号を復調したベースバンド信号に基づき、前記位相誤差および前記ゲイン誤差の少なくとも一方を算出する算出部と、
を備える測定装置。 - 前記供給部は、正の周波数および負の周波数の何れか一方にマルチトーン信号を発生させるIQ信号におけるI成分を直交変調した第1変調信号と、前記IQ信号におけるQ成分を直交変調した第2変調信号とを、時間的にずらして前記直交復調器に供給する、
請求項18に記載の測定装置。 - 前記供給部は、
折返し成分が重ならないマルチトーン信号を発生させるIQ信号におけるI成分を直交変調した第1変調信号と、前記IQ信号におけるQ成分を直交変調した第2変調信号とを、時間的にずらして前記直交復調器に供給する
請求項19に記載の測定装置。 - 前記算出部は、前記第1変調信号を復調したベースバンド信号の正の周波数成分と前記第2変調信号を復調したベースバンド信号の正の周波数成分との比、および、前記第1変調信号を復調したベースバンド信号の負の周波数成分と前記第2変調信号を復調したベースバンド信号の負の周波数成分との比の少なくとも一方に基づき、前記位相誤差および前記ゲイン誤差の少なくとも一方を算出する
請求項18から20の何れかに記載の測定装置。 - 直交復調器のIQ間の位相誤差およびゲイン誤差の少なくとも一方を測定する測定方法であって、
トーン信号を発生させるIQ信号におけるI成分を直交変調した信号に対応する第1変調信号、および、前記IQ信号におけるQ成分を直交変調した信号に対応する第2変調信号を、時間的にずらして前記直交復調器に供給し、
前記直交復調器が前記第1変調信号を復調したベースバンド信号、および、前記直交復調器が前記第2変調信号を復調したベースバンド信号に基づき、前記位相誤差および前記ゲイン誤差の少なくとも一方を算出する
測定方法。 - 請求項18から請求項21の何れかの前記測定装置における前記算出部として、コンピュータを機能させるためのプログラム。
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