JP5118912B2 - 波形発生装置、波形生成装置、試験装置およびプログラム - Google Patents

Description

本発明は、波形発生装置、波形生成装置、試験装置およびプログラムに関する。本発明は、特に、アナログ信号を発生する波形発生装置、波形生成装置、試験装置およびプログラムに関する。

波形発生装置は、任意波形を表す波形データを波形メモリから読み出す。そして、波形発生装置は、読み出した波形データをＤＡ変換して、任意波形の信号を出力する（例えば、特許文献１参照。）。また、波形発生装置は、この波形データを繰返してＤＡ変換することにより、任意波形を繰り返す信号を出力することができる。
特開２００１−２２３５８５号公報

ところで、任意波形を繰返し出力する場合、当該任意波形の最後と最初とが不連続であると、波形発生装置は、スプリアスを含んだ信号を出力してしまう。例えば、任意のデータをＦＳＫ変調した任意波形を繰返し出力する場合、当該任意波形の初期位相と最終位相とが異なると、波形発生装置は、スプリアスを含んだ信号を出力してしまう。

そこで本発明は、上記の課題を解決することのできる波形発生装置、波形生成装置、試験装置およびプログラムを提供することを目的とする。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。

上記課題を解決するために、本発明の第１の形態においては、所定サンプル数の基本波形データを元にアナログ信号を発生する波形発生装置であって、当該波形発生装置が発生する信号に変調されるべき入力データ列を、予め定められた第１変調周波数群によりＦＳＫ変調した信号の初期位相と最終位相との位相差を算出する位相差算出部と、位相差の２πの剰余を所定サンプル数で除算した値に応じた補正周波数を算出する周波数算出部と、第１変調周波数群から補正周波数を減算した第２変調周波数群により入力データ列をＦＳＫ変調した信号に応じた波形を表す基本波形データを生成する波形生成部と、基本波形データにより表された波形を繰り返す信号を出力する出力部とを備える波形発生装置を提供する。

本発明の第２の形態においては、波形発生装置により発生されるアナログ信号の元となる所定サンプル数の基本波形データを生成する波形生成装置であって、波形発生装置が発生する信号に変調されるべき入力データ列を、予め定められた第１変調周波数群によりＦＳＫ変調した信号の初期位相と最終位相との位相差を算出する位相差算出部と、位相差の２πの剰余を所定サンプル数で除算した値に応じた補正周波数を算出する周波数算出部と、第１変調周波数群から補正周波数を減算した第２変調周波数群により入力データ列をＦＳＫ変調した信号に応じた波形を表す基本波形データを生成する波形生成部とを備える波形生成装置を提供する。

本発明の第３の形態においては、所定サンプル数の基本波形データを元に発生した試験信号を供給して被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスに供給する信号に変調されるべき入力データ列を、予め定められた第１変調周波数群によりＦＳＫ変調した信号の初期位相と最終位相との位相差を算出する位相差算出部と、位相差の２πの剰余を所定サンプル数で除算した値に応じた補正周波数を算出する周波数算出部と、第１変調周波数群から補正周波数を減算した第２変調周波数群により入力データ列をＦＳＫ変調した信号に応じた波形を表す基本波形データを生成する波形生成部と、基本波形データにより表された波形を繰り返す試験信号を出力する出力部と、試験信号に応じて被試験デバイスが出力した出力信号に基づき被試験デバイスの特性を測定する測定部とを備える試験装置を提供する。

本発明の第４の形態においては、波形発生装置により発生されるアナログ信号の元となる所定サンプル数の基本波形データを生成する波形生成装置として、情報処理装置を機能させるプログラムであって、情報処理装置を、波形発生装置が発生する信号に変調されるべき入力データ列を、予め定められた第１変調周波数群によりＦＳＫ変調した信号の初期位相と最終位相との位相差を算出する位相差算出部と、位相差の２πの剰余を所定サンプル数で除算した値に応じた補正周波数を算出する周波数算出部と、第１変調周波数群から補正周波数を減算した第２変調周波数群により入力データ列をＦＳＫ変調した信号に応じた波形を表す基本波形データを生成する波形生成部として機能させるプログラムを提供する。

なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。

図１は、本実施形態に係る試験装置１０の構成をＤＵＴ（被試験デバイス）２００と共に示す。試験装置１０は、ＤＵＴ２００を試験する。ＤＵＴ２００は、一例として、ＧＳＭ（Ｇｌｏｂａｌ Ｓｙｓｔｅｍ ｆｏｒ Ｍｏｂｉｌｅ Ｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎｓ）等の通信デバイスに用いられる増幅器、変調器または復調器等であってよい。

試験装置１０は、波形発生装置２０と、測定部２２と、比較部２４とを備える。波形発生装置２０は、所定サンプル数の基本波形データを元にアナログ信号を発生する。より詳しくは、波形発生装置２０は、外部から入力した入力データ列に基づき所定サンプル数の基本波形データを生成して、当該基本波形データにより表された波形を繰り返すアナログ信号を試験信号として発生する。そして、波形発生装置２０は、発生した試験信号をＤＵＴ２００に供給する。なお、本実施形態においては、波形発生装置２０は、発生した試験信号を予め定められたキャリア周波数のキャリア信号に変調して、ＤＵＴ２００に供給する。

測定部２２は、試験信号が与えられたことに応じてＤＵＴ２００が出力した出力信号を入力する。そして、測定部２２は、入力した出力信号に基づきＤＵＴ２００の特性を測定する。測定部２２は、一例として、ＤＵＴ２００により出力された出力信号の周波数毎の電力（スペクトラム特性）を測定してよい。これに代えてまたはこれに加えて、測定部２２は、一例として、ＤＵＴ２００の隣接周波数チャネルへの漏洩電力を測定してもよいし、また、測定周波数範囲外をマスクした測定周波数範囲内の周波数毎の電力を測定してもよい。

比較部２４は、測定部２２の測定結果を期待値と比較して、ＤＵＴ２００の良否を判定する。比較部２４は、一例として、測定部２２の測定結果を期待値と比較して、ＤＵＴ２００をクラス分けしてもよい。このような試験装置１０によれば、基本波形データにより表された波形を繰り返す試験信号をＤＵＴ２００に与え、当該試験信号が与えられたことに応じて出力される出力信号に基づきＤＵＴ２００の特性を測定することができる。

図２は、本実施形態に係る波形発生装置２０の構成を示す。波形発生装置２０は、位相差算出部２６と、周波数算出部２８と、波形生成部３０と、波形メモリ３２と、出力部３４とを有する。

位相差算出部２６は、当該波形発生装置２０が発生する信号に変調されるべき入力データ列、すなわち、ＤＵＴ２００に供給する信号に変調されるべき入力データ列を、例えば外部から入力する。そして、位相差算出部２６は、入力データ列を予め定められた第１変調周波数群によりＦＳＫ（Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ Ｓｈｉｆｔ Ｋｅｙｉｎｇ）変調した信号の初期位相と最終位相との位相差を算出する。ここで、ＦＳＫ変調は、シンボル間の位相が連続するＦＳＫ変調である。また、位相差算出部２６は、一例として、下記の式（１）、（２）により表される周波数ｆ、−ｆを用いた２周波ＦＳＫ変調した信号の初期位相と最終位相との位相差を算出してよい。

ｆ＝ Ｒ×０．５×ｈ …（１）
−ｆ＝−Ｒ×０．５×ｈ …（２）

式（１）、（２）において、Ｒは、シンボルレートを表す。すなわち、Ｒは、当該波形発生装置２０により発生された信号に含まれるデータ列のシンボル周波数である。ｈは、変調指数を表す。

周波数算出部２８は、位相差算出部２６により算出された位相差の２πの剰余を所定サンプル数で除算した値を算出する。すなわち、周波数算出部２８は、位相差算出部２６により算出された位相差を２πで割った余りを、基本波形データのサンプル数で除算した値（平均位相差）を算出する。

そして、周波数算出部２８は、算出した値（平均位相差）に応じた補正周波数ｆａを算出する。すなわち、周波数算出部２８は、基本波形データの１サンプリング周期において、算出した値（平均位相差）分の位相変化を生じさせる周波数を、補正周波数ｆａとして算出する。

波形生成部３０は、入力データ列を入力する。波形生成部３０は、第１変調周波数群から補正周波数を減算した第２変調周波数群により、入力データ列をＦＳＫ変調した信号に応じた波形を表す基本波形データを生成する。すなわち、波形生成部３０は、予め定められた第１変調周波数群に含まれる複数の周波数のそれぞれから補正周波数を減算した第２変調周波数群により、入力データ列をＦＳＫ変調した信号に応じた波形を表す基本波形データを生成する。例えば、第１変調周波数群が周波数ｆ、−ｆを含む場合、第２変調周波数群は、周波数ｆ−ｆａ、−ｆ−ｆａを含む。

波形メモリ３２は、波形生成部３０により生成された基本波形データを記憶する。出力部３４は、波形メモリ３２に記憶された基本波形データを読み出して例えばＤＡ変換して、基本波形データにより表された波形を繰り返す試験信号を発生する。そして、出力部３４は、試験信号をＤＵＴ２００に対して出力する。本実施形態においては、出力部３４は、試験信号を予め定められたキャリア周波数のキャリア信号により変調して、ＤＵＴ２００に対して出力する。

ここで、ＦＳＫ変調した信号の初期位相と最終位相とが連続するためには、当該ＦＳＫ変調した信号における初期位相と最終位相とが一致しなければならない。ＦＳＫ変調した信号における初期位相と最終位相とを一致させるには、下記式（３）が成り立つ必要がある。

式（３）において、ｆｒ（ｎ）はＦＳＫ変調した信号の各シンボルの周波数を表し、ｎはシンボル番号を表し、ＮはＦＳＫ変調した信号のサンプル数を表し、Ｐｈａｓｅ（０）はＦＳＫ変調した信号の初期位相を表し、ｋは任意の整数を表す。

次に、ＦＳＫ変調した信号をベースバンド上で周波数シフトした場合を考える。ＦＳＫ変調した信号をベースバンド上で周波数ｆａ分の周波数シフトした信号は、ｆｒ（ｎ）からｆａを減算した式により表される。従って、ＦＳＫ変調した信号をベースバンド上で周波数ｆａ分の周波数シフトをした信号における初期位相と最終位相とを一致させるには、下記式（４）が成り立つ必要がある。

上記式（４）が成り立つ場合、シフトすべき周波数ｆａは、下記式（５）により表される。

下記式（６）は、ｆｒ（ｎ）の累積値（ｆｒ（０）からｆｒ（Ｎ−１）までの総和）を２πで割った余り、すなわち、ｆｒ（ｎ）の累積値の２πの剰余で表される。

このことから、上記式（５）は、下記式（７）に変換できる。

ＦＳＫ変調した信号の各シンボルの周波数（ｆｒ（ｎ））の累積値は、ＦＳＫ変調した信号の初期位相と最終位相との位相差を表す。このことから、式（７）により表されるように、シフトすべき周波数ｆａが、第１変調周波数群によりＦＳＫ変調した信号の初期位相と最終位相との位相差の２πの剰余をサンプル数Ｎで除算した値である場合、ＦＳＫ変調した信号をベースバンド上で周波数ｆａ分の周波数シフトをした信号の初期位相と最終位相とが一致することがわかる。

このように、波形生成部３０は、第１変調周波数群から補正周波数ｆａを減算した第２変調周波数群により入力データ列をＦＳＫ変調した信号に応じた基本波形データを生成するので、入力データ列をＦＳＫ変調した信号に応じた波形であって、初期位相と最終位相とが連続する波形を表す基本波形データを生成することができる。更に、このような波形生成部３０を有する波形発生装置２０によれば、基本波形データにより表された波形を繰返し含む信号をキャリア信号に変調した場合、繰返し波形の接続部分（終了部分と開始部分の接続点）において発生するスプリアスを低減させることができる。さらに、このような波形発生装置２０を備える試験装置１０によれば、ＤＵＴ２００の特性を精度良く測定することができる。

なお、第２変調周波数群により入力データ列をＦＳＫ変調した信号の周波数特性は、第１変調周波数群により入力データ列をＦＳＫ変調した信号の周波数特性と相違する。従って、波形発生装置２０が第２変調周波数群により入力データ列をＦＳＫ変調した信号を出力した場合、測定部２２は、この相違により、誤差を含む測定結果を出力してしまう。しかしながら、補正周波数ｆａが十分に小さい場合、例えば、補正周波数ｆａが周波数スペクトル解析における周波数ピッチよりも十分に小さい場合、この測定誤差は、スプリアスによって生じる測定誤差と比較して十分に小さくなる。従って、このような試験装置１０によれば、本来出力されるべき信号と異なる周波数特性の信号を波形発生装置２０が出力するが、総合的にはＤＵＴ２００の特性を精度良く測定することができる。

また、波形発生装置２０における波形メモリ３２および出力部３４を除く構成（すなわち、位相差算出部２６と、周波数算出部２８と、波形生成部３０とを備える装置）は、本発明に係る波形生成装置の一例として機能する。この本発明の一例としての波形発生装置は、入力データ列をＦＳＫ変調した信号に応じた波形であって、初期位相と最終位相とが連続する波形を表す基本波形データを生成することができる。

図３は、位相差算出部２６および周波数算出部２８の構成の一例を示す。図４は、２周波ＦＳＫ変調した信号に応じた波形を表す基本波形データを生成する場合における、位相差算出部２６内の各信号の一例を示す。

位相差算出部２６は、一例として、第１周波数割当部３６と、第１位相変化量変換部３８と、第１累積積分部４０とを含んでよい。第１周波数割当部３６は、入力データ列を入力する。第１周波数割当部３６は、一例として、図４の（Ａ）に示されるような２値の入力データ列を入力してよい。

そして、第１周波数割当部３６は、入力した入力データ列の各データ値を、予め定められた第１変調周波数群によりＦＳＫ変調した場合に割り当てられる周波数値に変換し、変換した周波数値を順次に出力する。例えば、図４の（Ａ）に示された２値の入力データ列を入力した場合、第１周波数割当部３６は、図４の（Ｂ）に示すように、データ値０を周波数ｆを表す周波数値に変換し、データ値１を周波数−ｆを表す周波数値に変換し、変換した各周波数値を順次に出力してよい。

第１位相変化量変換部３８は、第１周波数割当部３６から出力された周波数値の系列を、位相変化量の系列に変換する。すなわち、第１位相変化量変換部３８は、２πをシンボル周波数で除算した値（２π／ｆｓｙｍｂｏｌ）を各周波数値に乗算することにより、位相変化量を算出する。そして、第１位相変化量変換部３８は、算出した位相変化量を順次に出力する。なお、ｆｓｙｍｂｏｌは、シンボル周波数を表す。

第１累積積分部４０は、第１位相変化量変換部３８により出力された位相変化量の系列を、図４の（Ｃ）に示されるような位相値の系列に変換する。すなわち、第１累積積分部４０は、順次に出力される位相変化量を累積加算し、各シンボル位置における位相を算出する。そして、第１累積積分部４０は、得られた位相値の系列の最終シンボルの位相を、第１変調周波数群によりＦＳＫ変調した信号の初期位相と最終位相との位相差Δθとして出力する。このようにして、位相差算出部２６は、入力データ列を第１変調周波数群によりＦＳＫ変調した信号の初期位相と最終位相との位相差Δθを算出することができる。

周波数算出部２８は、一例として、剰余算出部４２と、サンプル数除算部４４と、周波数変換部４６とを含んでよい。剰余算出部４２は、位相差算出部２６により出力された位相差Δθを、２π（ラジアン）で除算した剰余（以下、剰余位相差Δθ´と称する。）を算出する。すなわち、剰余算出部４２は、第１変調周波数群によりＦＳＫ変調した信号の初期位相と最終位相との位相差Δθの、２πラジアン未満（すなわち、３６０°未満）の値を算出する。

サンプル数除算部４４は、剰余算出部４２により算出された剰余位相差Δθ´を、波形メモリ３２に記憶されるべき基本波形データのサンプル数Ｎで除算する。すなわち、サンプル数除算部４４は、剰余位相差Δθ´の１サンプル当たりの値（平均剰余位相差θ_Ｍ）を算出する。

周波数変換部４６は、平均剰余位相差θ_Ｍを、対応する周波数値に変換する。すなわち、周波数変換部４６は、サンプリング周波数を２πで除算した値（ｆｓ／２π）を平均剰余位相差θ_Ｍに乗算して周波数値に変換する。周波数変換部４６は、得られた周波数値を、補正周波数ｆａとして出力する。このようにして、周波数変換部４６は、位相差Δθの２πの剰余を所定サンプル数Ｎで除算した値に応じた補正周波数ｆａを算出することができる。

図５は、本実施形態に係る波形生成部３０の構成の一例を示す。図６は、２周波ＦＳＫ変調した信号に応じた波形を表す基本波形データを生成する場合における、波形生成部３０内の各信号の一例を示す。

波形生成部３０は、一例として、周波数補正部５０と、第２周波数割当部５２と、オーバーサンプル部５４と、フィルタ５６と、第２位相変化量変換部５８と、第２累積積分部６０と、ＩＱ変換部６２とを含んでよい。周波数補正部５０は、第１変調周波数群から補正周波数ｆａを減算して、第２変調周波数群を生成する。周波数補正部５０は、一例として、第１変調周波数群（ｆ、−ｆ）のそれぞれの周波数から補正周波数ｆａを減算した周波数の組（ｆ−ｆａ、−ｆ−ｆａ）を、第２変調周波数群として出力してよい。

第２周波数割当部５２は、与えられた入力データ列を入力する。第２周波数割当部５２は、一例として、図６の（Ａ）に示されるような、擬似ランダム符号列（ＰＲＢＳ）を表す２値の入力データ列を入力してよい。

そして、第２周波数割当部５２は、入力した入力データ列の各データ値を、第２変調周波数群によりＦＳＫ変調した場合に割り当てられる周波数値に変換し、変換した周波数値を順次に出力する。例えば、図６の（Ａ）に示された入力データ列を入力した場合、第２周波数割当部５２は、図６の（Ｂ）に示すように、データ値０を周波数ｆ−ｆａを表す周波数値に変換し、データ値１を周波数−ｆ−ｆａを表す周波数値に変換し、変換した各周波数値を順次に出力してよい。

オーバーサンプル部５４は、第２周波数割当部５２により出力された周波数値の系列を、所定のオーバーサンプリング率によりオーバーサンプリングする。すなわち、オーバーサンプル部５４は、シンボルレートに対応する周波数値の系列を、生成すべき基本波形データのサンプリングレート（シンボルレート×オーバーサンプリング率）に対応する周波数値の系列に変換する。オーバーサンプル部５４は、一例として、図６の（Ｂ）に示された周波数値ｆ−ｆａまたは周波数値−ｆ−ｆａの系列を、図６の（Ｃ）に示されるような０次ホールドフィルタによって補間をしてオーバーサンプリングした系列に変換してよい。

フィルタ５６は、オーバーサンプル部５４により出力されたオーバーサンプリングされた周波数値の系列を、例えばガウスフィルタまたは平均化フィルタ等のフィルタによりフィルタリングする。フィルタ５６は、一例として、図６の（Ｃ）に示されオーバーサンプリングされた周波数値ｆ−ｆａおよび周波数値−ｆ−ｆａの系列を、図６の（Ｄ）に示されるようにガウスフィルタ等によってフィルタリングしてよい。これにより、フィルタ５６は、シンボル境界における位相変化を滑らかにして、シンボル境界において発生するスプリアスを低減することができる。

更に、フィルタ５６は、例えばガウスフィルタまたは平均化フィルタ等のフィルタにより、オーバーサンプリングされた周波数値の系列の開始部分及び終了部分を、円状フィルタリングしてよい。すなわち、フィルタ５６は、オーバーサンプリングされた周波数値の系列の開始部分の前に終了部分を付加し、当該開始部分のフィルタリングを実行してよい。更に、フィルタ５６は、オーバーサンプリングされた周波数値の系列の終了部分の後ろに開始部分を付加し、当該終了部分のフィルタリングを実行してよい。これにより、フィルタ５６は、周波数値の系列の終了部分から開始部分への位相変化を滑らかにすることができる。そして、フィルタ５６は、当該波形生成部３０により生成された基本波形データにより表される信号を繰り返して出力した場合、繰返し単位の境界において発生するスプリアスを低減することができる。

第２位相変化量変換部５８は、フィルタ５６によりフィルタリングされた周波数値の系列を、位相変化量の系列に変換する。すなわち、第２位相変化量変換部５８は、２πをサンプリング周波数で除算した値（２π／ｆｓ）を各周波数値に乗算して位相変化量を算出する。そして、第２位相変化量変換部５８は、算出した位相変化量を順次に出力する。

第２累積積分部６０は、第２位相変化量変換部５８により出力された位相変化量の系列を、位相値の系列に変換する。すなわち、第２累積積分部６０は、順次に出力される位相変化量を累積加算し、各サンプル点における位相を算出する。第２累積積分部６０は、一例として、位相変化量の系列を、図６の（Ｅ）に示されるような位相（θ）を表す値の系列に変換してよい。

なお、第２累積積分部６０により生成された位相値の系列は、第１変調周波数群から補正周波数を減算した第２変調周波数群により入力データ列をＦＳＫ変調した信号を元にした系列である。従って、第２累積積分部６０により生成された位相値の系列は、図６の（Ｅ）に示されるように、初期値（初期位相）と最終値（最終位相）とが一致している。

ＩＱ変換部６２は、第２累積積分部６０により出力された位相値の系列を、直交座標上のＩ成分（実数成分）およびＱ成分（虚数成分）の系列に変換する。そして、ＩＱ変換部６２は、変換したＩ成分およびＱ成分の系列を、基本波形データとして波形メモリ３２に書き込む。

このような波形生成部３０によれば、入力データ列をＦＳＫ変調した信号に応じた波形であって、初期位相と最終位相とが連続する波形を表す基本波形データを生成することができる。なお、波形生成部３０において、フィルタ５６は、オーバーサンプル部５４の後段に代えて、第２位相変化量変換部５８の後段に設けられてもよい。この場合であっても、フィルタ５６は、オーバーサンプル部５４の後段に設けられた場合と同様の効果を奏する。

図７は、出力部３４の構成の一例を波形メモリ３２とともに示す。出力部３４は、一例として、Ｉ側ＤＡ変換器７２と、Ｑ側ＤＡ変換器７４と、キャリア発生器７６と、＋９０度移相器７８と、Ｉ側乗算器８０と、Ｑ側乗算器８２と、加算器８４とを含んでよい。

Ｉ側ＤＡ変換器７２は、波形メモリ３２に記憶された基本波形データのＩ成分の系列をサンプリングレートで順次に読み出して、ＤＡ変換してアナログ信号を生成する。この場合において、Ｉ側ＤＡ変換器７２は、基本波形データを連続して繰返してＤＡ変換する。これにより、Ｉ側ＤＡ変換器７２は、基本波形データにより表される波形を繰り返すアナログ信号を生成することができる。Ｉ側ＤＡ変換器７２は、生成したアナログ信号をＩ側乗算器８０に出力する。

Ｑ側ＤＡ変換器７４は、波形メモリ３２に記憶された基本波形データのＱ成分の系列をサンプリングレートで順次に読み出して、ＤＡ変換してアナログ信号を生成する。この場合において、Ｑ側ＤＡ変換器７４は、基本波形データを連続して繰返してＤＡ変換する。これにより、Ｑ側ＤＡ変換器７４は、基本波形データにより表される波形を繰り返すアナログ信号を生成することができる。Ｑ側ＤＡ変換器７４は、生成したアナログ信号をＱ側乗算器８２に出力する。

キャリア発生器７６は、予め定められた周波数ｆｃのキャリア信号を発生する。＋９０度移相器７８は、キャリア発生器７６により発生されたキャリア信号を、＋９０°位相をシフトする。Ｉ側乗算器８０は、Ｉ側ＤＡ変換器７２から出力された入力データ列をＦＳＫ変調した信号における実数成分（Ｉ（ｔ））に、キャリア発生器７６により発生されたキャリア信号を乗じる。Ｑ側乗算器８２は、Ｑ側ＤＡ変換器７４から出力された入力データ列をＦＳＫ変調した信号における虚数成分（Ｑ（ｔ））に、キャリア発生器７６により発生されたキャリア信号を乗じる。

加算器８４は、実数成分（Ｉ（ｔ））にキャリア信号を乗じた信号と、虚数成分（Ｑ（ｔ））にキャリア信号を乗じた信号とを加算する。そして、加算器８４は、加算した結果得られた信号をＤＵＴ２００に出力する。このようにして、出力部３４は、基本波形データにより表された波形を繰り返す試験信号をキャリア信号に変調した変調信号を、ＤＵＴ２００に対して出力することができる。

以上の構成に代えて、出力部３４は、Ｉ側ＤＡ変換器７２と、Ｑ側ＤＡ変換器７４とを備えてよい。これにより、ＤＵＴ２００がベースバンド信号を予め定められた周波数ｆｃのキャリア信号により変調する変調器の場合、出力部３４は、ベースバンドの試験信号をＤＵＴ２００に出力することができる。

図８は、測定部２２の構成の一例を示す。測定部２２は、一例として、基準信号発生器１０２と、＋９０度移相器１０４と、Ｉ側乗算器１０６と、Ｉ側ＬＰＦ１０８と、Ｑ側乗算器１１０と、Ｑ側ＬＰＦ１１２と、Ｉ側ＡＤ変換器１１４と、Ｑ側ＡＤ変換器１１６と、取込メモリ１１８と、演算部１２０とを含んでよい。

本例において、ＤＵＴ２００は、試験信号が与えられたことに応じて、実数成分（Ｉ´（ｔ））および虚数成分（Ｑ´（ｔ））が直交変調された変調信号を、出力信号として出力する。ＤＵＴ２００が例えば増幅器である場合、当該ＤＵＴ２００は、試験信号が変調された変調信号を増幅した信号を、出力信号として出力する。また、ＤＵＴ２００が例えば変調器である場合、当該ＤＵＴ２００は、与えられた試験信号を変調した変調信号を、出力信号として出力する。

基準信号発生器１０２は、入力した変調信号のキャリア信号の周波数ｆｃに対応する周波数（例えば同じ周波数）の基準信号を発生する。＋９０度移相器１０４は、基準信号発生器１０２により発生された基準信号を、＋９０°位相シフトする。Ｉ側乗算器１０６は、入力された変調信号と基準信号発生器１０２により発生された基準信号とを乗じる。Ｉ側ＬＰＦ１０８は、基準信号と変調信号とを乗じた信号をローパスフィルタリングし、和周波成分を除去する。この結果、Ｉ側ＬＰＦ１０８は、変調信号に直交変調されていた信号の実数成分（Ｉ´（ｔ））を出力することができる。

Ｑ側乗算器１１０は、入力された変調信号と＋９０度移相器１０４により出力された＋９０°位相シフトした基準信号とを乗じる。Ｑ側ＬＰＦ１１２は、＋９０°位相シフトした基準信号と変調信号とを乗じた信号をローパスフィルタリングし、和周波成分を除去する。この結果、Ｑ側ＬＰＦ１１２は、変調信号に直交変調されていた信号の虚数成分（Ｑ´（ｔ））を出力することができる。

Ｉ側ＡＤ変換器１１４は、Ｉ側ＬＰＦ１０８から出力された実数成分（Ｉ´（ｔ））をサンプリングする。すなわち、Ｉ側ＡＤ変換器１１４は、出力信号の実数成分をサンプリングレートで順次にサンプルしてＡＤ変換し、出力信号の実数成分に応じたデジタル値の系列（Ｉ´（ｎ））を出力する。

Ｑ側ＡＤ変換器１１６は、Ｑ側ＬＰＦ１１２から出力された虚数成分（Ｑ´（ｔ））をサンプリングする。すなわち、Ｑ側ＡＤ変換器１１６は、出力信号の虚数成分をサンプリングレートで順次にサンプルしてＡＤ変換し、出力信号の虚数成分に応じたデジタル値の系列（Ｑ´（ｎ））を出力する。

また、Ｉ側ＡＤ変換器１１４およびＱ側ＡＤ変換器１１６は、一例として、波形発生装置２０のサンプリングレートに同期したクロックにより出力信号をサンプリングしてよい。これにより、Ｉ側ＡＤ変換器１１４およびＱ側ＡＤ変換器１１６は、送信側と受信側とのクロック誤差を無くすことができる。

取込メモリ１１８は、Ｉ側ＡＤ変換器１１４およびＱ側ＡＤ変換器１１６によりサンプリングされた出力信号を記憶する。演算部１２０は、取込メモリ１１８に記憶されている出力信号の系列に基づき、ＤＵＴ２００の特性を算出する。演算部１２０は、一例として、出力信号のスペクトラム特性の算出、隣接周波数チャネルへの漏洩電力の算出、および、測定周波数範囲外をマスクした測定周波数範囲内の周波数毎の電力の算出を行ってよい。

そして、演算部１２０は、算出した結果を比較部２４に出力する。このようにして、測定部２２は、試験信号が与えられたことに応じて出力される出力信号に基づきＤＵＴ２００の特性を測定することができる。

なお、ＤＵＴ２００は、試験信号が与えられたことに応じて、実数成分（Ｉ´（ｔ））および虚数成分（Ｑ´（ｔ））に分離された出力信号を出力してもよい。ＤＵＴ２００は、一例として、試験信号が変調された変調信号が与えられ、与えられた変調信号を復調した結果得られた信号を出力信号として出力する復調器であってよい。

この場合、測定部２２は、基準信号発生器１０２、＋９０度移相器１０４、Ｉ側乗算器１０６、およびＱ側乗算器１１０を備えなくてよい。そして、この場合、Ｉ側ＡＤ変換器１１４は、試験信号に応じてＤＵＴ２００が出力した出力信号のうちの実数成分（Ｉ´（ｔ））をサンプリングする。Ｑ側ＡＤ変換器１１６は、試験信号に応じてＤＵＴ２００が出力した出力信号のうちの虚数成分（Ｑ´（ｔ））をサンプリングする。これにより、波形発生装置２０によれば、ＤＵＴ２００が復調器等であっても、特性を測定することができる。

図９は、本実施形態に係る測定部２２による測定範囲を示す。測定部２２は、一例として、基本波形データに応じた波形の周期（基本周期）の整数倍に対応する時間長の出力信号を試験信号の繰返し波形とは非同期に取得し、取得した出力信号に基づきＤＵＴ２００の特性を測定してよい。例えば出力信号の電力を測定する場合、測定部２２は、基本周期の整数倍に対応する時間長の出力信号を取得し、取得した出力信号に基づき電力を測定してよい。

波形発生装置２０から出力された試験信号は基本周期毎に波形が同一となっているので、出力信号のどの位置から基本周期（または基本周期の整数倍の期間）分の信号が抽出された場合であっても、抽出した信号の電力が同一となる。従って、測定部２２は、任意の位置から基本周期の整数倍の期間分の信号を抽出し、抽出した信号の電力等の特性を測定することができる。

例えば、基本波形データのサンプリング数が２のべき乗である場合、測定部２２は、基本波形データのサンプリング数と同数（または、基本波形データのサンプリング数の２べき乗）のポイント数の出力信号を、任意の位置から取り込んで、ＦＦＴ演算してスペクトラム算出をしてよい。

これにより、測定部２２によれば、試験信号の波形の繰返周期との同期処理を行わずに、出力信号の電力等を測定することができる。例えば、測定部２２によれば、ＦＦＴ演算の演算範囲を定める制御をせずに、出力信号のスペクトラム算出をすることができる。さらに、算出結果が取得位置に影響されないので、測定部２２によれば、再現性よく出力信号のスペクトラムを算出することができる。

図１０は、ＰＮ９の擬似ランダム符号が与えられ且つ第１変調周波数群により波形生成部３０がＦＳＫ変調した場合における、基本波形データに応じた波形のＤＦＴ演算結果を示す。図１１は、ＰＮ９の擬似ランダム符号が与えられ且つ第２変調周波数群により波形生成部３０がＦＳＫ変調した場合における、基本波形データに応じた波形のＤＦＴ演算結果を示す。なお、図１０及び図１１は、第２周波数割当部５２の変調指数が０．３２であり、フィルタ５６がＢＴ＝０．５のガウスフィルタであり、オーバーサンプル数が４である場合における、２０４４ポイントＤＦＴ演算結果を示す。

図１０の場合、周波数が−０．２５以下の成分および周波数が０．２５以上の成分は、レベルが−６０ｄＢ以上となる。これに対して、図１１の場合、周波数が−０．２５以下の成分および周波数が０．２５以上の成分の範囲は、レベルが−６０ｄＢより小さい。このように、波形生成部３０によれば、第２変調周波数群により入力データ列をＦＳＫ変調することにより、ＦＳＫ変調の周波数範囲（−１．６〜＋１．６）より外のスプリアスを、小さくすることができる。

図１２は、本実施形態の第１変形例に係る波形生成部３０の構成の一例を示す。図１２に示す変形例に係る波形生成部３０は、図５に示す波形生成部３０と略同一の機能および構成を取るので、以下相違点を除き説明を省略する。

本変形例に係る波形生成部３０は、一例として、第２周波数割当部５２と、オーバーサンプル部５４と、フィルタ５６と、第２位相変化量変換部５８と、第２累積積分部６０と、ＩＱ変換部６２と、周波数シフト部６４とを含んでよい。第２周波数割当部５２は、入力した入力データ列の各データ値を、第１変調周波数群によりＦＳＫ変調した場合に割り当てられる周波数値に変換し、変換した周波数値を順次に出力する。例えば、２値の入力データ列を入力した場合、第２周波数割当部５２は、データ値０を周波数ｆを表す周波数値に変換し、データ値１を周波数−ｆを表す周波数値に変換し、変換した各周波数値を順次に出力してよい。

本変形例に係る第２累積積分部６０により生成された位相値の系列は、第１変調周波数群により入力データ列をＦＳＫ変調した信号を元にした系列である。従って、第２累積積分部６０により生成された位相値の系列は、初期値（初期位相）と最終値（最終位相）とが一致しない場合がある。

周波数シフト部６４は、ＩＱ変換部６２により出力されたＩ成分およびＱ成分の系列の各値を、補正周波数ｆａに対応する位相分、マイナス方向に位相シフトする。すなわち、周波数シフト部６４は、ＩＱ変換部６２により出力されたＩ成分およびＱ成分の系列により表される信号の中心周波数を、補正周波数ｆａ分マイナス方向にシフトする。そして、周波数シフト部６４は、周波数シフトしたＩ成分およびＱ成分の系列を、基本波形データとして波形メモリ３２に書き込む。このような本変形例に係る波形生成部３０は、図５に示す波形生成部３０から出力される信号と同じ信号を出力することができる。

図１３は、本実施形態の第２変形例に係る試験装置１０の構成をＤＵＴ２００と共に示す。本変形例に係る試験装置１０は、図１に示した同一符号の部材と略同一の構成および機能を採るので、以下相違点を除き説明を省略する。

本変形例に係る周波数算出部２８は、補正周波数ｆａを波形生成部３０に出力するとともに、補正周波数ｆａを出力部３４に出力する。出力部３４は、波形メモリ３２に記憶された基本波形データにより表された波形を繰り返す信号を、予め定められたキャリア周波数に補正周波数ｆａを加算した周波数により変調して出力する。

このような第２変形例に係る波形発生装置２０によれば、中心周波数が補正周波数ｆａ分だけマイナス方向にずれた基本波形データにより表された波形を、補正周波数ｆａ分だけプラス側に戻してキャリア信号に変調することができる。これにより、第２変形例に係る波形発生装置２０によれば、例えば２値ＦＳＫ変調であれば、キャリア周波数ｆｃに対して、（ｆｃ＋ｆ）および（ｆｃ−ｆ）の周波数位置にデータが変調された変調信号を出力することができる。

図１４は、本実施形態の第２変形例に係る出力部３４の構成の一例を波形メモリ３２とともに示す。図１４に示す変形例に係る出力部３４は、図７に示す出力部３４と略同一の機能および構成を取るので、以下相違点を除き説明を省略する。

本変形例に係る出力部３４は、補正周波数信号発生器１３２と、補正周波数乗算器１３４とを更に備える。補正周波数信号発生器１３２は、周波数算出部２８から与えられた補正周波数ｆａの周波数の補正信号を発生する。補正周波数乗算器１３４は、加算器８４から出力された信号に、補正周波数信号発生器１３２から出力された補正信号を乗じる。この結果、補正周波数乗算器１３４は、予め定められたキャリア周波数ｆｃから補正周波数ｆａ分プラス側にシフトした中心周波数とされた変調信号を出力することができる。このようにして、出力部３４は、基本波形データにより表された波形を繰り返す信号を、予め定められたキャリア周波数ｆｃに補正周波数ｆａを加算した周波数により変調して出力することができる。

なお、本変形例に係る出力部３４は、補正周波数信号発生器１３２および補正周波数乗算器１３４に代えて、キャリア発生器７６から出力される周波数を調整する調整部を備えてもよい。この場合、調整部は、キャリア発生器７６から、予め定められたキャリア周波数ｆｃに補正周波数ｆａを加算した周波数を発生させる。このような構成であっても、出力部３４は、基本波形データにより表された波形を繰り返す信号を、予め定められたキャリア周波数ｆｃに補正周波数ｆａを加算した周波数により変調して出力することができる。

図１５は、本実施形態に係るコンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。本実施形態に係るコンピュータ１９００は、ホスト・コントローラ２０８２により相互に接続されるＣＰＵ２０００、ＲＡＭ２０２０、グラフィック・コントローラ２０７５、及び表示装置２０８０を有するＣＰＵ周辺部と、入出力コントローラ２０８４によりホスト・コントローラ２０８２に接続される通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、及びＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０を有する入出力部と、入出力コントローラ２０８４に接続されるＲＯＭ２０１０、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、及び入出力チップ２０７０を有するレガシー入出力部とを備える。

ホスト・コントローラ２０８２は、ＲＡＭ２０２０と、高い転送レートでＲＡＭ２０２０をアクセスするＣＰＵ２０００及びグラフィック・コントローラ２０７５とを接続する。ＣＰＵ２０００は、ＲＯＭ２０１０及びＲＡＭ２０２０に格納されたプログラムに基づいて動作し、各部の制御を行う。グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等がＲＡＭ２０２０内に設けたフレーム・バッファ上に生成する画像データを取得し、表示装置２０８０上に表示させる。これに代えて、グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等が生成する画像データを格納するフレーム・バッファを、内部に含んでもよい。

入出力コントローラ２０８４は、ホスト・コントローラ２０８２と、比較的高速な入出力装置である通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、ＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０を接続する。通信インターフェイス２０３０は、ネットワークを介して他の装置と通信する。ハードディスクドライブ２０４０は、コンピュータ１９００内のＣＰＵ２０００が使用するプログラム及びデータを格納する。ＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０は、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５からプログラム又はデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。

また、入出力コントローラ２０８４には、ＲＯＭ２０１０と、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、及び入出力チップ２０７０の比較的低速な入出力装置とが接続される。ＲＯＭ２０１０は、コンピュータ１９００が起動時に実行するブート・プログラムや、コンピュータ１９００のハードウェアに依存するプログラム等を格納する。フレキシブルディスク・ドライブ２０５０は、フレキシブルディスク２０９０からプログラム又はデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。入出力チップ２０７０は、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０や、例えばパラレル・ポート、シリアル・ポート、キーボード・ポート、マウス・ポート等を介して各種の入出力装置を接続する。

ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供されるプログラムは、フレキシブルディスク２０９０、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５、又はＩＣカード等の記録媒体に格納されて利用者によって提供される。プログラムは、記録媒体から読み出され、ＲＡＭ２０２０を介してコンピュータ１９００内のハードディスクドライブ２０４０にインストールされ、ＣＰＵ２０００において実行される。

コンピュータ１９００にインストールされ、コンピュータ１９００を波形生成部３０として機能させるプログラムは、位相差算出モジュールと、周波数算出モジュールと、波形生成モジュールとを備える。これらのプログラム又はモジュールは、ＣＰＵ２０００等に働きかけて、コンピュータ１９００を、位相差算出部２６、周波数算出部２８および波形生成部３０としてそれぞれ機能させる。

以上に示したプログラム又はモジュールは、外部の記憶媒体に格納されてもよい。記憶媒体としては、フレキシブルディスク２０９０、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５の他に、ＤＶＤやＣＤ等の光学記録媒体、ＭＯ等の光磁気記録媒体、テープ媒体、ＩＣカード等の半導体メモリ等を用いることができる。また、専用通信ネットワークやインターネットに接続されたサーバシステムに設けたハードディスク又はＲＡＭ等の記憶装置を記録媒体として使用し、ネットワークを介してプログラムをコンピュータ１９００に提供してもよい。

以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。

図１は、本実施形態に係る試験装置１０の構成をＤＵＴ２００と共に示す。 図２は、本実施形態に係る波形発生装置２０の構成を示す。 図３は、位相差算出部２６および周波数算出部２８の構成の一例を示す。 図４は、２周波ＦＳＫ変調した信号に応じた波形を表す基本波形データを生成する場合における、位相差算出部２６内の各信号の一例を示す。 図５は、本実施形態に係る波形生成部３０の構成の一例を示す。 図６は、２周波ＦＳＫ変調した信号に応じた波形を表す基本波形データを生成する場合における、波形生成部３０内の各信号の一例を示す。 図７は、出力部３４の構成の一例を波形メモリ３２とともに示す。 図８は、測定部２２の構成の一例を示す。 図９は、本実施形態に係る測定部２２による測定範囲を示す。 図１０は、ＰＮ９の擬似ランダム符号が与えられ且つ第１変調周波数群により波形生成部３０がＦＳＫ変調した場合における、基本波形データに応じた波形のＤＦＴ演算結果を示す。 図１１は、ＰＮ９の擬似ランダム符号が与えられ且つ第２変調周波数群により波形生成部３０がＦＳＫ変調した場合における、基本波形データに応じた波形のＤＦＴ演算結果を示す。 図１２は、本実施形態の第１変形例に係る波形生成部３０の構成を示す。 図１３は、本実施形態の第２変形例に係る試験装置１０の構成の一例をＤＵＴ２００と共に示す。 図１４は、本実施形態の第２変形例に係る出力部３４の構成の一例を波形メモリ３２とともに示す。 図１５は、本実施形態に係るコンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。

符号の説明

１０ 試験装置
２０ 波形発生装置
２２ 測定部
２４ 比較部
２６ 位相差算出部
２８ 周波数算出部
３０ 波形生成部
３２ 波形メモリ
３４ 出力部
３６ 第１周波数割当部
３８ 第１位相変化量変換部
４０ 第１累積積分部
４２ 剰余算出部
４４ サンプル数除算部
４６ 周波数変換部
５０ 周波数補正部
５２ 第２周波数割当部
５４ オーバーサンプル部
５６ フィルタ
５８ 第２位相変化量変換部
６０ 第２累積積分部
６２ ＩＱ変換部
６４ 周波数シフト部
７２ Ｉ側ＤＡ変換器
７４ Ｑ側ＤＡ変換器
７６ キャリア発生器
７８ ＋９０度移相器
８０ Ｉ側乗算器
８２ Ｑ側乗算器
８４ 加算器
１０２ 基準信号発生器
１０４ ＋９０度移相器
１０６ Ｉ側乗算器
１０８ Ｉ側ＬＰＦ
１１０ Ｑ側乗算器
１１２ Ｑ側ＬＰＦ
１１４ Ｉ側ＡＤ変換器
１１６ Ｑ側ＡＤ変換器
１１８ 取込メモリ
１２０ 演算部
１３２ 補正周波数信号発生器
１３４ 補正周波数乗算器
２００ ＤＵＴ
１９００ コンピュータ
２０００ ＣＰＵ
２０１０ ＲＯＭ
２０２０ ＲＡＭ
２０３０ 通信インターフェイス
２０４０ ハードディスクドライブ
２０５０ フレキシブルディスク・ドライブ
２０６０ ＣＤ−ＲＯＭドライブ
２０７０ 入出力チップ
２０７５ グラフィック・コントローラ
２０８０ 表示装置
２０８２ ホスト・コントローラ
２０８４ 入出力コントローラ
２０９０ フレキシブルディスク
２０９５ ＣＤ−ＲＯＭ

Claims (6)

1. 所定サンプル数の基本波形データを元にアナログ信号を発生する波形発生装置であって、
   当該波形発生装置が発生する信号に変調されるべき入力データ列を、予め定められた第１変調周波数群によりＦＳＫ変調した信号の初期位相と最終位相との位相差を算出する位相差算出部と、
   前記位相差の２πの剰余を前記所定サンプル数で除算した値に応じた補正周波数を算出する周波数算出部と、
   前記第１変調周波数群から前記補正周波数を減算した第２変調周波数群により前記入力データ列をＦＳＫ変調した信号に応じた波形を表す前記基本波形データを生成する波形生成部と、
   前記基本波形データにより表された波形を繰り返す信号を出力する出力部と
   を備え、
   前記位相差算出部は、前記入力データ列に含まれる複数のデータ値のそれぞれをＦＳＫ変調した信号の周波数を累積した値に応じて、前記位相差を算出する
   波形発生装置。
2. 前記出力部は、前記基本波形データにより表された波形を繰り返す信号を、予め定められたキャリア周波数に前記補正周波数を加算した周波数により変調して出力する
   請求項１に記載の波形発生装置。
3. 波形発生装置により発生されるアナログ信号の元となる所定サンプル数の基本波形データを生成する波形生成装置であって、
   前記波形発生装置が発生する信号に変調されるべき入力データ列を、予め定められた第１変調周波数群によりＦＳＫ変調した信号の初期位相と最終位相との位相差を算出する位相差算出部と、
   前記位相差の２πの剰余を前記所定サンプル数で除算した値に応じた補正周波数を算出する周波数算出部と、
   前記第１変調周波数群から前記補正周波数を減算した第２変調周波数群により前記入力データ列をＦＳＫ変調した信号に応じた波形を表す前記基本波形データを生成する波形生成部と
   を備え、
   前記位相差算出部は、前記入力データ列に含まれる複数のデータ値のそれぞれをＦＳＫ変調した信号の周波数を累積した値に応じて、前記位相差を算出する
   波形生成装置。
4. 所定サンプル数の基本波形データを元に発生した試験信号を供給して被試験デバイスを試験する試験装置であって、
   前記被試験デバイスに供給する信号に変調されるべき入力データ列を、予め定められた第１変調周波数群によりＦＳＫ変調した信号の初期位相と最終位相との位相差を算出する位相差算出部と、
   前記位相差の２πの剰余を前記所定サンプル数で除算した値に応じた補正周波数を算出する周波数算出部と、
   前記第１変調周波数群から前記補正周波数を減算した第２変調周波数群により前記入力データ列をＦＳＫ変調した信号に応じた波形を表す前記基本波形データを生成する波形生成部と、
   前記基本波形データにより表された波形を繰り返す前記試験信号を出力する出力部と、
   前記試験信号に応じて前記被試験デバイスが出力した出力信号に基づき前記被試験デバイスの特性を測定する測定部と
   を備え、
   前記位相差算出部は、前記入力データ列に含まれる複数のデータ値のそれぞれをＦＳＫ変調した信号の周波数を累積した値に応じて、前記位相差を算出する
   試験装置。
5. 前記測定部は、前記基本波形データに応じた波形の周期の整数倍に対応する時間長の前記出力信号を、前記試験信号の繰返し波形とは非同期に取得し、取得した前記出力信号に基づき前記被試験デバイスの特性を測定する
   請求項４に記載の試験装置。
6. 請求項１または２に記載の波形発生装置として、情報処理装置を機能させるためのプログラム。

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