JP2007318505A - 試験装置および試験方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスまたは複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを、簡単な構成により試験する。
【解決手段】同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、複数の変調信号に対応した、互いに異なる周波数の複数のローカル信号を生成するローカル信号生成部と、複数の変調信号のそれぞれに対して、対応したローカル信号を乗算することにより、複数の変調信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する周波数変換部と、複数の中間信号を混合した混合信号を出力する混合部と、混合信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換部と、ＡＤ変換部により出力されたデジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数の変調信号を良否判定する判定部とを備える試験装置。
【選択図】図１

Description

本発明は、試験装置および試験方法に関する。特に本発明は、同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスまたは複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置および試験方法に関する。

無線通信の空間多重伝送技術として、ＭＩＭＯ（Ｍｕｌｔｉｐｌｅ Ｉｎｐｕｔ Ｍｕｌｔｉｐｌｅ Ｏｕｔｐｕｔ）が知られている。ＭＩＭＯを利用した通信装置は、同一のキャリア周波数の複数の変調信号を同時に無線送信する。ＭＩＭＯは、例えば、ＩＥＥＥ８０２．１１ｎ等への採用が予定されている。

また、特許文献１には、空間内の電波到来方向探索を計測することを目的として、複数のアンテナで受信した同一周波数の信号のうち、ある一つの信号を基準信号として、他の信号の振幅および位相を測定する測定方法が記載されている。
特許第３６９６３７９号公報

ＭＩＭＯを利用した通信装置を試験する試験装置は、当該通信装置から複数の変調信号を同時に出力させ、これら複数の変調信号を同時に復調およびアナログデジタル変換して良否判定する。従って、当該試験装置は、複数の変調信号のそれぞれに対応した複数の復調器および複数のアナログデジタル変換器を備えなければならなかった。これにより、ＭＩＭＯを利用した通信装置を試験する従来の試験装置は、構成が大きくなり、高価となっていた。

そこで本発明は、上記の課題を解決することのできる試験装置および試験方法を提供することを目的とする。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。

上記課題を解決するために、本発明の第１形態においては、同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、複数の変調信号に対応した、互いに異なる周波数の複数のローカル信号を生成するローカル信号生成部と、複数の変調信号のそれぞれに対して、対応したローカル信号を乗算することにより、複数の変調信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する周波数変換部と、複数の中間信号を混合した混合信号を出力する混合部と、混合信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換部と、ＡＤ変換部により出力されたデジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数の変調信号を良否判定する判定部とを備える試験装置を提供する。

ＡＤ変換部は、混合信号をサンプリングしてデジタル化することにより、デジタル混合信号を出力するＡＤ変換器と、デジタル混合信号における複数の中間信号に対応した各周波数帯域の信号成分を抽出することにより、複数の中間信号に対応した複数のデジタル中間信号を出力するデジタルフィルタ部と、複数のデジタル中間信号のそれぞれを周波数変換した複数のデジタル出力信号を、混合信号に応じたデジタル信号として出力する周波数変換部と、を有してよい。

ＡＤ変換部は、デジタル出力信号のデータ値を間引きすることにより、デジタル出力信号のサンプリング周波数を低下させるデシメーションフィルタ部を更に有してよい。試験装置は、良否判定の対象外の変調信号に対応したローカル信号の周波数変換部に対する供給を、停止させる供給停止部を更に備え、判定部は、良否判定の対象外の変調信号を除く変調信号を良否判定してよい。

試験装置は、複数のローカル信号のそれぞれと複数の変調信号のそれぞれとの間の対応を切り替える切替部と、被試験デバイスを再試験する場合において、異常と判定された変調信号に対して前試験時より低い周波数のローカル信号を対応させるように、切替部による切り替えを制御する切替制御部とを更に備えてよい。

試験装置は、複数のローカル信号のそれぞれと複数の変調信号のそれぞれとの間の対応を切り替える切替部と、複数のローカル信号のそれぞれと複数の変調信号のそれぞれとの間の対応を切り替えた場合における、対応する変調信号が同一の切替前後のデジタル信号の差に基づいて、デジタル信号の振幅および位相の少なくとも一方の補正値を算出する補正値算出部とを更に備え、判定部は、補正値に応じて補正したデジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数の変調信号を良否判定してよい。

本発明の第２形態においては、複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、複数のベースバンド信号に対応した、互いに異なる周波数の複数のローカル信号を生成するローカル信号生成部と、複数のベースバンド信号を、対応したローカル信号に対して直交変調することにより、複数のベースバンド信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する周波数変換部と、複数の中間信号を混合した混合信号を出力する混合部と、混合信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換部と、ＡＤ変換部により出力されたデジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数のベースバンド信号を良否判定する判定部とを備える試験装置を提供する。

本発明の第３形態においては、同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験方法であって、複数の変調信号に対応した、互いに異なる周波数の複数のローカル信号を生成するローカル信号生成段階と、複数の変調信号のそれぞれに対して、対応したローカル信号を乗算することにより、複数の変調信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する周波数変換段階と、複数の中間信号を混合した混合信号を出力する混合段階と、混合信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換段階と、ＡＤ変換段階により出力されたデジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数の変調信号を良否判定する判定段階とを備える試験方法を提供する。

本発明の第４形態においては、複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを試験する試験方法であって、複数のベースバンド信号に対応した、互いに異なる周波数の複数のローカル信号を生成するローカル信号生成段階と、複数のベースバンド信号を、対応したローカル信号に対して直交変調することにより、複数のベースバンド信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する周波数変換段階と、複数の中間信号を混合した混合信号を出力する混合段階と、混合信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換段階と、ＡＤ変換段階により出力されたデジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数のベースバンド信号を良否判定する判定段階とを備える試験方法を提供する。

なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。

本発明によれば、同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスまたは複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを、簡単な構成により試験することができる。

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。

図１は、本実施形態に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。試験装置１０は、被試験デバイス１００を試験する。被試験デバイス１００は、同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する。本実施形態において、被試験デバイス１００は、複数の出力データを同一周波数のキャリア信号に対してそれぞれ直交変調して複数の変調信号を生成し、生成したこれら複数の変調信号を受信側の機器に対して出力する。被試験デバイス１００は、一例として、ＩＥＥＥ８０２．１１ｎにおいて採用されるＭＩＭＯ方式に対応した複数の変調信号（例えば、キャリア周波数ｆｃが５．２ＧＨｚ、帯域幅が２０ＭＨｚまたは４０ＭＨｚの信号）を、それぞれ異なるアンテナから出力してよい。

試験装置１０は、試験信号発生部１２と、ローカル信号生成部１４と、混合部１８と、ＡＤ変換部２０と、判定部２２とを備える。試験信号発生部１２は、試験信号を被試験デバイス１００に対して供給して、当該被試験デバイス１００に複数の変調信号を同時出力させる。ローカル信号生成部１４は、被試験デバイス１００から出力される複数の変調信号に対応した、互いに異なる周波数の正弦波の複数のローカル信号を生成する。

周波数変換部１６は、試験信号に応じて被試験デバイス１００により出力された複数の変調信号を入力する。そして、周波数変換部１６は、複数の変調信号のそれぞれに対して、ローカル信号生成部１４により生成された対応したローカル信号を乗算することにより、複数の変調信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する。周波数変換部１６は、一例として、被試験デバイス１００から出力される複数の変調信号に対応した、複数の乗算器３０を有してよい。複数の乗算器３０のそれぞれは、対応する変調信号に対して、対応する周波数のローカル信号を乗算して出力する。

混合部１８は、周波数変換部１６により生成された複数の中間信号を入力する。そして、混合部１８は、入力した複数の中間信号を１つの信号に混合し、混合した混合信号を出力する。本実施形態において、混合部１８は、複数の変調信号を加算する加算器３２を有してよい。加算器３２は、複数の変調信号を加算することにより混合信号を生成する。このような混合部１８によれば、複数の変調信号に対応する各信号成分が異なる周波数帯域に含まれた混合信号を生成することができる。なお、混合部１８は、周波数変換部１６により生成された複数の中間信号に含まれるエイリアスを除去するアンチエイリアシングフィルタを更に有してよい。当該アンチエイリアシングフィルタは、一例として、加算器３２の後段に有してよい。

ＡＤ変換部２０は、混合信号をサンプリングして混合信号に応じたデジタル信号を出力する。ＡＤ変換部２０は、一例として、混合信号をデジタル化し、デジタル化した混合信号から複数の変調信号を抽出する。そして、ＡＤ変換部２０は、抽出した複数の変調信号のそれぞれを復調した複数のベースバンド信号を、混合信号に応じたデジタル信号として出力してよい。これに代えて、ＡＤ変換部２０は、抽出した複数の変調信号のそれぞれを所定の周波数に周波数変換した中間周波数信号を、混合信号に応じたデジタル信号として出力してよい。

判定部２２は、ＡＤ変換部２０により出力されたデジタル信号に基づいて、被試験デバイス１００が出力した複数の変調信号を良否判定する。そして、判定部２２は、良否判定結果を外部に出力する。判定部２２は、一例として、デジタル信号記憶部３４と、期待値記憶部３６と、演算部３８とを有してよい。デジタル信号記憶部３４は、ＡＤ変換部２０から出力されたデジタル信号を記憶する。期待値記憶部３６は、デジタル信号として取得されるべき期待値信号を記憶する。期待値記憶部３６は、一例として、ＡＤ変換部２０が複数の変調信号を復調してベースバンド信号を出力する場合には、出力されるべきベースバンド信号を期待値信号として記憶してよい。また他の一例として、期待値記憶部３６は、ＡＤ変換部２０が複数の変調信号を所定の周波数に周波数変換して中間周波数信号を出力する場合には、出力されるべき中間周波数信号を期待値信号として記憶してよい。演算部３８は、デジタル信号記憶部３４に記憶されたデジタル信号と、期待値記憶部３６に記憶された期待値信号とを比較して、被試験デバイス１００から出力された複数の変調信号を良否判定する。

このような試験装置１０によれば、混合した複数の変調信号に対して良否判定するので、アナログデジタル変換処理および復調または周波数変換に必要となる回路の規模を小さくして、コストを下げることができる。さらに、このような試験装置１０によれば、複数のアナログデジタル変換処理回路等の間の特性を合せる作業を不要とするので、精度良く良否判定をすることができる。

図２（Ａ）は変調信号の周波数特性を示し、図２（Ｂ）は混合信号の周波数特性を示す。ローカル信号生成部１４は、同一のキャリア信号（例えばｆｃ＝５．２ＧＨｚ）の所定の信号帯域（例えば２０ＭＨｚ）を有する複数の変調信号を周波数変換部１６が周波数変換して複数の中間信号を生成する場合に、これら複数の中間信号の信号帯域が互いに重複しないような複数のローカル信号を生成する。すなわち、ローカル信号生成部１４は、周波数変換部１６により生成された中間信号の信号帯域が重複しないような周波数間隔に設定された複数のローカル信号を生成する。一例として、ローカル信号生成部１４は、各変調信号の信号帯域が２０ＭＨｚであれば、隣接する中間信号の中心周波数の距離が、少なくとも信号帯域（２０ＭＨｚ）より大きくなるように設定された複数のローカル信号を生成する。

さらに、ローカル信号生成部１４は、複数の中間信号のうちの最も低い周波数の中間信号における、信号帯域の最低周波数（ｆ_Ｌ）が０よりも大きくなるように周波数が設定された、複数のローカル信号を生成する。ローカル信号生成部１４がこのような複数のローカル信号を生成することにより、試験装置１０によれば、混合信号から複数の変調信号に対応した信号成分を抽出することができる。この結果、試験装置１０によれば、複数の変調信号のそれぞれを良否判定することができる。

図３は、ＡＤ変換部２０の構成の一例を示す。乗算器３０は、一例として、ＡＤ変換器４２と、デジタルフィルタ部４４と、周波数変換器４６と、デシメーションフィルタ部４８とを有してよい。ＡＤ変換器４２は、混合部１８により生成された混合信号をサンプリングしてデジタル化することにより、デジタル混合信号を出力する。

デジタルフィルタ部４４は、ＡＤ変換器４２により出力されたデジタル混合信号における複数の中間信号に対応した各周波数帯域の信号成分を抽出することにより、複数の中間信号に対応した複数のデジタル中間信号を出力する。デジタルフィルタ部４４は、一例として、複数の中間信号に対応して設けられた、複数のバンドパスフィルタ５０を含んでよい。複数のバンドパスフィルタ５０のそれぞれは、対応する中間信号を通過し、対応する中間信号以外の中間信号を除去する。これにより、複数のバンドパスフィルタ５０のそれぞれは、デジタル混合信号から対応する中間信号の信号成分を抽出したデジタル中間信号を出力することができる。

周波数変換器４６は、複数のデジタル中間信号のそれぞれを周波数変換した複数のデジタル出力信号を、混合信号に応じたデジタル信号として出力する。周波数変換器４６は、一例として、複数のデジタル中間信号のそれぞれに対応して設けられた、複数の直交復調器５２と、複数の第１フィルタ５４と、複数の第２フィルタ５６とを含んでよい。複数の直交復調器５２のそれぞれは、対応するデジタル中間信号をデジタル直交復調してベースバンドのデジタル出力信号（Ｉ，Ｑ）を出力する。複数の第１フィルタ５４のそれぞれは、対応するベースバンドのデジタル出力信号の同相成分（Ｉ）に含まれるエイリアスを除去する。複数の第２フィルタ５６のそれぞれは、対応するベースバンドのデジタル出力信号の直交成分（Ｑ）に含まれるエイリアスを除去する。このような構成の周波数変換器４６によれば、複数の変調信号のそれぞれに対応した複数のベースバンド信号を出力することができる。

デシメーションフィルタ部４８は、周波数変換器４６から出力されたデジタル出力信号のデータ値を間引きすることにより、デジタル出力信号のサンプリング周波数を低下させる。以上の構成のＡＤ変換部２０によれば、混合信号に応じたデジタル信号（例えば、複数の変調信号に変調されたベースバンド信号）を出力することができる。

図４は、周波数変換器４６の構成の一例を示す。周波数変換器４６は、一例として、複数のデジタル中間信号のそれぞれに対応して設けられた、複数のダウンコンバータ５８と、複数の第３フィルタ６０とを含んでよい。複数のダウンコンバータ５８のそれぞれは、対応するデジタル中間信号をそれぞれ所定の中心周波数に周波数をダウンコンバートした中間周波数のデジタル出力信号として出力する。複数の第３フィルタ６０のそれぞれは、対応する中間周波数のデジタル出力信号に含まれるエイリアスを除去する。このような構成の周波数変換器４６によれば、複数の変調信号のそれぞれに対応した複数の中間周波数信号を出力することができる。

図５は、本実施形態の第１変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。なお、第１変形例に係る試験装置１０は、図１に示した試験装置１０と略同一の機能および構成を採るので、以下、図１に示す試験装置１０との相違点を除き説明を省略する。

本変形例に係る試験装置１０は、供給停止部７２と、供給制御部７４とを更に備える。供給停止部７２は、ローカル信号生成部１４により生成される複数の変調信号のうち、良否判定の対象外の変調信号に対応したローカル信号の周波数変換部１６に対する供給を、停止させる。供給停止部７２は、一例として、対応するローカル信号の周波数を０（直流）にすることにより、周波数変換部１６に対するローカル信号の供給を停止してよい。

供給制御部７４は、判定部２２による良否判定の結果に基づき供給を停止させるローカル信号を決定し、決定したローカル信号の供給を停止させるように供給停止部７２を制御する。供給制御部７４は、一例として、被試験デバイス１００に対して再試験を行う場合、前試験において正常と判定された変調信号に対応するローカル信号を停止させてよい。そして、本変形例において判定部２２は、良否判定の対象外の変調信号を除く変調信号を良否判定する。

このような本変形例に係る試験装置１０によれば、被試験デバイス１００から出力される複数の変調信号のうち、良否判定の対象外の変調信号を混合信号に含めずに試験することができる。例えば、本変形例に係る試験装置１０によれば、既に試験をした被試験デバイス１００に対して再試験を行う場合、前の試験において異常と判定された変調信号のみを混合信号に含めることができる。これにより、本変形例に係る試験装置１０によれば、被試験デバイス１００から出力された複数の変調信号のうち、良否判定の対象となる変調信号をより精密に良否判定することができる。

図６は、本実施形態の第２変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。なお、第２変形例に係る試験装置１０は、図１に示した試験装置１０と略同一の機能および構成を採るので、以下、図１に示す試験装置１０との相違点を除き説明を省略する。

本変形例に係る試験装置１０は、切替部７６と、切替制御部７８とを更に備える。切替部７６は、ローカル信号生成部１４に生成された複数の変調信号のそれぞれと、被試験デバイス１００から出力された複数のローカル信号のそれぞれとの間の対応を切り替える。切替制御部７８は、被試験デバイス１００を再試験する場合において、異常と判定された変調信号に対して前試験時より低い周波数のローカル信号を対応させるように、切替部７６による切り替えを制御する。

このような第２変形例に係る試験装置１０によれば、異常と判定された変調信号を混合信号における低周波数側の帯域に周波数変換することができる。高周波数側よりも低周波数側の信号成分の方がより精度良くデジタル化することができ、デジタルフィルタ部４４の特性がより良好な部分を用いることができるので、試験装置１０によれば、異常と判定された変調信号を精度良く再試験することができる。

図７は、本実施形態の第３変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。なお、第３変形例に係る試験装置１０は、図１に示した試験装置１０と略同一の機能および構成を採るので、以下、図１に示す試験装置１０との相違点を除き説明を省略する。

本変形例に係る試験装置１０は、切替部７６と、補正値算出部８０とを更に備える。切替部７６は、ローカル信号生成部１４に生成された複数の変調信号のそれぞれと、被試験デバイス１００から出力された複数のローカル信号のそれぞれとの間の対応を切り替える。一例として、試験信号発生部１２が被試験デバイス１００から所定の変調信号を出力させている場合において、切替部７６は、複数のローカル信号のそれぞれと複数の変調信号のそれぞれとの間の対応を、第１切替状態から、当該第１切替状態と異なる第２切替状態へ切り替えてよい。

補正値算出部８０は、複数のローカル信号のそれぞれと複数の変調信号のそれぞれとの間の対応を切り替えた場合における、対応する変調信号が同一の切替前後の前記デジタル信号の差に基づいて、デジタル信号の振幅および位相の少なくとも一方の補正値を算出する。補正値算出部８０は、一例として、第１切替状態におけるデジタル信号と第２切替状態におけるデジタル信号との間の、対応する変調信号が同一の信号成分の差を、検出してよい。さらに、補正値算出部８０は、一例として、デジタル信号を補正した場合に、第１切替状態におけるデジタル信号および第２切替状態におけるデジタル信号の間の対応する変調信号が同一の信号成分の差が０となるような補正値を算出してよい。

判定部２２は、被試験デバイス１００の試験において、補正値算出部８０により算出された補正値に応じてＡＤ変換部２０から出力されたデジタル信号を補正する。そして、判定部２２は、補正したデジタル信号に基づいて被試験デバイス１００が出力した複数の変調信号を良否判定する。このような本変形例に係る試験装置１０によれば、変調信号を入力して当該変調信号を判定するまでの通過経路の特性のばらつきを、補正することができる。この結果、本変形例に係る試験装置１０によれば、精度良く被試験デバイス１００を良否判定することができる。

図８は、本実施形態の第４変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。なお、第４変形例に係る試験装置１０は、図１に示した試験装置１０と略同一の機能および構成を採るので、以下、図１に示す試験装置１０との相違点を除き説明を省略する。

本変形例において、被試験デバイス１００は、複数の変調信号に代えて、同相成分（Ｉ）および直交成分（Ｑ）を含む複数のベースバンド信号を出力する。本変形例に係る試験装置１０は、複数の変調信号に代えて複数のベースバンド信号を入力して、被試験デバイス１００を試験する。試験信号発生部１２は、試験信号を被試験デバイス１００に対して供給して、当該被試験デバイス１００に複数のベースバンド信号を同時出力させる。

周波数変換部１６は、試験信号に応じて被試験デバイス１００により出力された複数のベースバンド信号を入力する。そして、周波数変換部１６は、複数のベースバンド信号を、対応したローカル信号に対して直交変調することにより、複数のベースバンド信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する。周波数変換部１６は、一例として、被試験デバイス１００から出力される複数のベースバンド信号に対応した、複数の直交変調器８２を有してよい。複数の直交変調器８２のそれぞれは、対応するベースバンド信号に対して、対応する周波数のローカル信号を直交変調して出力する。

このような本変形例に係る試験装置１０によれば、複数のベースバンド信号を中心周波数が異なる中間信号に周波数変換したのち、これら中間信号を混合した複数の変調信号に対して良否判定するので、アナログデジタル変換処理に必要となる回路の規模を小さくして、コストを下げることができる。さらに、このような試験装置１０によれば、アナログデジタル変換処理回路の間の特性を合せる作業を不要とするので、精度良く良否判定をすることができる。

図９は、本実施形態に係るコンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。本実施形態に係るコンピュータ１９００は、ホスト・コントローラ２０８２により相互に接続されるＣＰＵ２０００、ＲＡＭ２０２０、グラフィック・コントローラ２０７５、及び表示装置２０８０を有するＣＰＵ周辺部と、入出力コントローラ２０８４によりホスト・コントローラ２０８２に接続される通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、及びＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０を有する入出力部と、入出力コントローラ２０８４に接続されるＲＯＭ２０１０、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、及び入出力チップ２０７０を有するレガシー入出力部とを備える。

ホスト・コントローラ２０８２は、ＲＡＭ２０２０と、高い転送レートでＲＡＭ２０２０をアクセスするＣＰＵ２０００及びグラフィック・コントローラ２０７５とを接続する。ＣＰＵ２０００は、ＲＯＭ２０１０及びＲＡＭ２０２０に格納されたプログラムに基づいて動作し、各部の制御を行う。グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等がＲＡＭ２０２０内に設けたフレーム・バッファ上に生成する画像データを取得し、表示装置２０８０上に表示させる。これに代えて、グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等が生成する画像データを格納するフレーム・バッファを、内部に含んでもよい。

入出力コントローラ２０８４は、ホスト・コントローラ２０８２と、比較的高速な入出力装置である通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、ＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０を接続する。通信インターフェイス２０３０は、ネットワークを介して他の装置と通信する。ハードディスクドライブ２０４０は、コンピュータ１９００内のＣＰＵ２０００が使用するプログラム及びデータを格納する。ＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０は、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５からプログラム又はデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。

また、入出力コントローラ２０８４には、ＲＯＭ２０１０と、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、及び入出力チップ２０７０の比較的低速な入出力装置とが接続される。ＲＯＭ２０１０は、コンピュータ１９００が起動時に実行するブート・プログラムや、コンピュータ１９００のハードウェアに依存するプログラム等を格納する。フレキシブルディスク・ドライブ２０５０は、フレキシブルディスク２０９０からプログラム又はデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。入出力チップ２０７０は、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０や、例えばパラレル・ポート、シリアル・ポート、キーボード・ポート、マウス・ポート等を介して各種の入出力装置を接続する。

ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供されるプログラムは、フレキシブルディスク２０９０、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５、又はＩＣカード等の記録媒体に格納されて利用者によって提供される。プログラムは、記録媒体から読み出され、ＲＡＭ２０２０を介してコンピュータ１９００内のハードディスクドライブ２０４０にインストールされ、ＣＰＵ２０００において実行される。

コンピュータ１９００にインストールされ、コンピュータ１９００を試験装置１０として機能させるプログラムは、試験信号発生部モジュールと、ローカル信号生成部モジュールと、周波数変換部モジュールと、混合部モジュールと、ＡＤ変換部モジュールと、判定部モジュールとを備える。これらのプログラム又はモジュールは、ＣＰＵ２０００等に働きかけて、コンピュータ１９００を、試験信号発生部１２、ローカル信号生成部１４、周波数変換部１６、混合部１８、ＡＤ変換部２０および判定部２２としてそれぞれ機能させる。

以上に示したプログラム又はモジュールは、外部の記憶媒体に格納されてもよい。記憶媒体としては、フレキシブルディスク２０９０、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５の他に、ＤＶＤやＣＤ等の光学記録媒体、ＭＯ等の光磁気記録媒体、テープ媒体、ＩＣカード等の半導体メモリ等を用いることができる。また、専用通信ネットワークやインターネットに接続されたサーバシステムに設けたハードディスク又はＲＡＭ等の記憶装置を記録媒体として使用し、ネットワークを介してプログラムをコンピュータ１９００に提供してもよい。

以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。

本発明の実施形態に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。 （Ａ）は変調信号の周波数特性を示し、（Ｂ）は混合信号の周波数特性を示す。 ＡＤ変換部２０の構成の一例を示す。 周波数変換器４６の構成の一例を示す。 本実施形態の第１変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。 本実施形態の第２変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。 本実施形態の第３変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。 本実施形態の第４変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。 本発明の実施形態に係るコンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。

符号の説明

１０ 試験装置
１２ 試験信号発生部
１４ ローカル信号生成部
１６ 周波数変換部
１８ 混合部
２０ ＡＤ変換部
２２ 判定部
３０ 乗算器
３２ 加算器
３４ デジタル信号記憶部
３６ 期待値記憶部
３８ 演算部
４２ ＡＤ変換器
４４ デジタルフィルタ部
４６ 周波数変換器
４８ デシメーションフィルタ部
５０ バンドパスフィルタ
５２ 直交復調器
５４ 第１フィルタ
５６ 第２フィルタ
５８ ダウンコンバータ
６０ 第３フィルタ
７２ 供給停止部
７４ 供給制御部
７６ 切替部
７８ 切替制御部
８０ 補正値算出部
８２ 直交変調器
１００ 被試験デバイス
１９００ コンピュータ
２０００ ＣＰＵ
２０１０ ＲＯＭ
２０２０ ＲＡＭ
２０３０ 通信インターフェイス
２０４０ ハードディスクドライブ
２０５０ フレキシブルディスク・ドライブ
２０６０ ＣＤ−ＲＯＭドライブ
２０７０ 入出力チップ
２０７５ グラフィック・コントローラ
２０８０ 表示装置
２０８２ ホスト・コントローラ
２０８４ 入出力コントローラ
２０９０ フレキシブルディスク
２０９５ ＣＤ−ＲＯＭ

Claims (9)

1. 同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、
   前記複数の変調信号に対応した、互いに異なる周波数の複数のローカル信号を生成するローカル信号生成部と、
   前記複数の変調信号のそれぞれに対して、対応した前記ローカル信号を乗算することにより、前記複数の変調信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する周波数変換部と、
   前記複数の中間信号を混合した混合信号を出力する混合部と、
   前記混合信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換部と、
   前記ＡＤ変換部により出力されたデジタル信号に基づいて、前記被試験デバイスが出力した前記複数の変調信号を良否判定する判定部と
   を備える試験装置。
2. 前記ＡＤ変換部は、
   前記混合信号をサンプリングしてデジタル化することにより、デジタル混合信号を出力するＡＤ変換器と、
   前記デジタル混合信号における前記複数の中間信号に対応した各周波数帯域の信号成分を抽出することにより、前記複数の中間信号に対応した複数のデジタル中間信号を出力するデジタルフィルタ部と、
   前記複数のデジタル中間信号のそれぞれを周波数変換した複数のデジタル出力信号を、前記混合信号に応じた前記デジタル信号として出力する周波数変換部と、
   を有する請求項１に記載の試験装置。
3. 前記ＡＤ変換部は、前記デジタル出力信号のデータ値を間引きすることにより、前記デジタル出力信号のサンプリング周波数を低下させるデシメーションフィルタ部を更に有する請求項２に記載の試験装置。
4. 良否判定の対象外の変調信号に対応したローカル信号の前記周波数変換部に対する供給を、停止させる供給停止部を更に備え、
   前記判定部は、良否判定の対象外の変調信号を除く変調信号を良否判定する
   請求項１に記載の試験装置。
5. 前記複数のローカル信号のそれぞれと前記複数の変調信号のそれぞれとの間の対応を切り替える切替部と、
   前記被試験デバイスを再試験する場合において、異常と判定された前記変調信号に対して前試験時より低い周波数の前記ローカル信号を対応させるように、前記切替部による切り替えを制御する切替制御部と
   を更に備える請求項１に記載の試験装置。
6. 前記複数のローカル信号のそれぞれと前記複数の変調信号のそれぞれとの間の対応を切り替える切替部と、
   前記複数のローカル信号のそれぞれと前記複数の変調信号のそれぞれとの間の対応を切り替えた場合における、対応する変調信号が同一の切替前後の前記デジタル信号の差に基づいて、前記デジタル信号の振幅および位相の少なくとも一方の補正値を算出する補正値算出部とを更に備え、
   前記判定部は、前記補正値に応じて補正したデジタル信号に基づいて、前記被試験デバイスが出力した前記複数の変調信号を良否判定する
   を更に備える請求項１に記載の試験装置。
7. 複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、
   前記複数のベースバンド信号に対応した、互いに異なる周波数の複数のローカル信号を生成するローカル信号生成部と、
   前記複数のベースバンド信号を、対応した前記ローカル信号に対して直交変調することにより、前記複数のベースバンド信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する周波数変換部と、
   前記複数の中間信号を混合した混合信号を出力する混合部と、
   前記混合信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換部と、
   前記ＡＤ変換部により出力されたデジタル信号に基づいて、前記被試験デバイスが出力した前記複数のベースバンド信号を良否判定する判定部と
   を備える試験装置。
8. 同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験方法であって、
   前記複数の変調信号に対応した、互いに異なる周波数の複数のローカル信号を生成するローカル信号生成段階と、
   前記複数の変調信号のそれぞれに対して、対応した前記ローカル信号を乗算することにより、前記複数の変調信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する周波数変換段階と、
   前記複数の中間信号を混合した混合信号を出力する混合段階と、
   前記混合信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換段階と、
   前記ＡＤ変換段階により出力されたデジタル信号に基づいて、前記被試験デバイスが出力した前記複数の変調信号を良否判定する判定段階と
   を備える試験方法。
9. 複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを試験する試験方法であって、
   前記複数のベースバンド信号に対応した、互いに異なる周波数の複数のローカル信号を生成するローカル信号生成段階と、
   前記複数のベースバンド信号を、対応した前記ローカル信号に対して直交変調することにより、前記複数のベースバンド信号を互いに周波数帯域が異なる複数の中間信号に変換する周波数変換段階と、
   前記複数の中間信号を混合した混合信号を出力する混合段階と、
   前記混合信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換段階と、
   前記ＡＤ変換段階により出力されたデジタル信号に基づいて、前記被試験デバイスが出力した前記複数のベースバンド信号を良否判定する判定段階と
   を備える試験方法。

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