JP3516128B2 - 試験装置 - Google Patents
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- JP3516128B2 JP3516128B2 JP01535898A JP1535898A JP3516128B2 JP 3516128 B2 JP3516128 B2 JP 3516128B2 JP 01535898 A JP01535898 A JP 01535898A JP 1535898 A JP1535898 A JP 1535898A JP 3516128 B2 JP3516128 B2 JP 3516128B2
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- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、高周波で
動作する直交変調器である被試験対象を試験（測定）す
る試験装置に関し、精度よく試験が行なえる試験装置に
関するものである。
動作する直交変調器である被試験対象を試験（測定）す
る試験装置に関し、精度よく試験が行なえる試験装置に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】携帯電話等のデジタル通信に用いられる
直交変調器は、始めから高周波の搬送波を直交変調する
と高精度の出力を得られない。そこで、出力の精度を上
げるために、ベースバンド信号で中間周波数を直交変調
した後に、アップコンバートにより、高周波信号にし、
高周波の直交変調波を得ている。
直交変調器は、始めから高周波の搬送波を直交変調する
と高精度の出力を得られない。そこで、出力の精度を上
げるために、ベースバンド信号で中間周波数を直交変調
した後に、アップコンバートにより、高周波信号にし、
高周波の直交変調波を得ている。
【０００３】このような直交変調器の試験を行なう試験
装置の従来の構成を図４に示す。図において、１は被試
験対象である直交変調器で、直交変調部１１とミキサ１
２とアンプ１３とからなる。直交変調部１１は、ベース
バンド信号（Ｉ，Ｑ）で中間周波数信号を直交変調す
る。直交変調部１１は、一般的に２つの乗算器と加算器
と９０°移相器とで構成されている。ミキサ１２は、直
交変調部１１からの信号を高周波信号によりアップコン
バートする。アンプ１３は、ミキサ１２からの信号を増
幅して出力する。
装置の従来の構成を図４に示す。図において、１は被試
験対象である直交変調器で、直交変調部１１とミキサ１
２とアンプ１３とからなる。直交変調部１１は、ベース
バンド信号（Ｉ，Ｑ）で中間周波数信号を直交変調す
る。直交変調部１１は、一般的に２つの乗算器と加算器
と９０°移相器とで構成されている。ミキサ１２は、直
交変調部１１からの信号を高周波信号によりアップコン
バートする。アンプ１３は、ミキサ１２からの信号を増
幅して出力する。
【０００４】２は信号発生器で、ベースバンド信号（Ｄ
Ｃ〜１ＭＨｚ）を発生し、直交変調器１に入力する。３
はシンセサイザで、２００ＭＨｚの中間周波数信号を発
生し、直交変調部１１に入力する。４はシンセサイザ
で、１．７ＧＨｚの高周波信号を発生し、ミキサ１２に
入力する。５は信号解析装置、例えば、スペクトラムア
ナライザで、アンプ１３からの信号を入力し、測定す
る。
Ｃ〜１ＭＨｚ）を発生し、直交変調器１に入力する。３
はシンセサイザで、２００ＭＨｚの中間周波数信号を発
生し、直交変調部１１に入力する。４はシンセサイザ
で、１．７ＧＨｚの高周波信号を発生し、ミキサ１２に
入力する。５は信号解析装置、例えば、スペクトラムア
ナライザで、アンプ１３からの信号を入力し、測定す
る。
【０００５】このような装置の動作を以下で説明する。
信号発生器２は、所望のベースバンド信号（Ｉ，Ｑ）を
出力する。そして、直交変調部１１は、ベースバント信
号（Ｉ，Ｑ）でシンセサイザ３からの２００ＭＨｚの中
間周波数信号を直交変調する。この直交変調が行われた
信号をミキサ１２は、シンセサイザ４の１．７ＧＨｚの
高周波信号によりアップコンバートし、アンプ１３を介
して１．９ＧＨｚの信号を出力する。そして、この信号
をスペクトラムアナライザ５により測定する。
信号発生器２は、所望のベースバンド信号（Ｉ，Ｑ）を
出力する。そして、直交変調部１１は、ベースバント信
号（Ｉ，Ｑ）でシンセサイザ３からの２００ＭＨｚの中
間周波数信号を直交変調する。この直交変調が行われた
信号をミキサ１２は、シンセサイザ４の１．７ＧＨｚの
高周波信号によりアップコンバートし、アンプ１３を介
して１．９ＧＨｚの信号を出力する。そして、この信号
をスペクトラムアナライザ５により測定する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】一般に測定する信号の
周波数が高くなるほど、スペクトラムアナライザ５の測
定性能が悪化するため、高精度の測定を行なうことがで
きなかった。
周波数が高くなるほど、スペクトラムアナライザ５の測
定性能が悪化するため、高精度の測定を行なうことがで
きなかった。
【０００７】また、シンセサイザ４も高周波信号になる
ほど、精度が悪くなり、直交変調器１の性能と異なる理
由、つまり、シンセサイザ４の性能の理由による精度が
測定結果に現れてしまうという問題点があった。
ほど、精度が悪くなり、直交変調器１の性能と異なる理
由、つまり、シンセサイザ４の性能の理由による精度が
測定結果に現れてしまうという問題点があった。
【０００８】そこで、本発明の目的は、測定器や、被試
験対象に入力する高周波信号を発生するシンセサイザの
性能の影響を受けずに、中間周波数で、被試験対象の測
定を高精度に行なうことができる試験装置を実現するこ
とにある。
験対象に入力する高周波信号を発生するシンセサイザの
性能の影響を受けずに、中間周波数で、被試験対象の測
定を高精度に行なうことができる試験装置を実現するこ
とにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】第１の本発明は、高周波
で動作する被試験対象を測定する試験装置において、前
記被試験対象に変調信号を出力する信号発生器と、前記
被試験対象に中間周波数信号を出力する第１のシンセサ
イザと、前記被試験対象のアップコンバートに用いる高
周波信号を出力する第２のシンセサイザと、この第２の
シンセサイザの出力を２分し、一方を前記被試験対象に
出力するパワーデバイダと、このパワーデバイダの他方
の出力により、前記被試験対象が出力する信号をダウン
コンバートするミキサと、このミキサからの信号を入力
し、測定を行なう測定器とを具備し、前記被試験対象
は、前記信号発生器からの変調信号で、前記第１のシン
セサイザからの中間周波数信号を直交変調し、前記パワ
ーデバイダからの高周波信号によりアップコンバートし
て前記ミキサに出力することを特徴とするものである。
第２の本発明は、高周波で動作する被試験対象を測定す
る試験装置において、低周波信号を出力する信号発生器
と、前記被試験対象に中間周波数信号を出力する第１の
シンセサイザと、前記被試験対象のダウンコンバートに
用いる高周波信号を出力する第２のシンセサイザと、こ
の第２のシンセサイザの出力を２分し、一方を前記被試
験対象に出力するパワーデバイダと、このパワーデバイ
ダの他方の出力により、前記信号発生器が出力する信号
をアップコンバートし、前記被試験対象に出力するミキ
サと、前記被試験対象からの信号を入力し、測定を行な
う測定器とを具備し、前記被試験対象は、前記ミキサか
らの被変調信号を入力し、前記パワーデバイ ダからの高
周波信号によりダウンコンバートし、前記第１のシンセ
サイザからの中間周波数信号で復調して、前記測定器に
出力することを特徴とするものである。
で動作する被試験対象を測定する試験装置において、前
記被試験対象に変調信号を出力する信号発生器と、前記
被試験対象に中間周波数信号を出力する第１のシンセサ
イザと、前記被試験対象のアップコンバートに用いる高
周波信号を出力する第２のシンセサイザと、この第２の
シンセサイザの出力を２分し、一方を前記被試験対象に
出力するパワーデバイダと、このパワーデバイダの他方
の出力により、前記被試験対象が出力する信号をダウン
コンバートするミキサと、このミキサからの信号を入力
し、測定を行なう測定器とを具備し、前記被試験対象
は、前記信号発生器からの変調信号で、前記第１のシン
セサイザからの中間周波数信号を直交変調し、前記パワ
ーデバイダからの高周波信号によりアップコンバートし
て前記ミキサに出力することを特徴とするものである。
第２の本発明は、高周波で動作する被試験対象を測定す
る試験装置において、低周波信号を出力する信号発生器
と、前記被試験対象に中間周波数信号を出力する第１の
シンセサイザと、前記被試験対象のダウンコンバートに
用いる高周波信号を出力する第２のシンセサイザと、こ
の第２のシンセサイザの出力を２分し、一方を前記被試
験対象に出力するパワーデバイダと、このパワーデバイ
ダの他方の出力により、前記信号発生器が出力する信号
をアップコンバートし、前記被試験対象に出力するミキ
サと、前記被試験対象からの信号を入力し、測定を行な
う測定器とを具備し、前記被試験対象は、前記ミキサか
らの被変調信号を入力し、前記パワーデバイ ダからの高
周波信号によりダウンコンバートし、前記第１のシンセ
サイザからの中間周波数信号で復調して、前記測定器に
出力することを特徴とするものである。
【００１０】このような本発明では、シンセサイザが出
力する高周波信号をパワーデバイダが２分し、この信号
でアップコンバートとダウンコンバートを行い、高周波
動作の被試験対象の測定を低周波で行なうことができ
る。
力する高周波信号をパワーデバイダが２分し、この信号
でアップコンバートとダウンコンバートを行い、高周波
動作の被試験対象の測定を低周波で行なうことができ
る。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下図面を用いて本発明を説明す
る。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。１
０は被試験対象である直交変調器で、変調信号であるベ
ースバンド信号（Ｉ，Ｑ）で中間周波数信号を直交変調
し、高周波信号によりアップコンバートする。直交変調
器１０は、図２の装置と同様に、直交変調部１１とミキ
サ１２とアンプ１３とからなる。
る。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。１
０は被試験対象である直交変調器で、変調信号であるベ
ースバンド信号（Ｉ，Ｑ）で中間周波数信号を直交変調
し、高周波信号によりアップコンバートする。直交変調
器１０は、図２の装置と同様に、直交変調部１１とミキ
サ１２とアンプ１３とからなる。
【００１２】２０は信号発生器で、直交変調器１０の直
交変調部１１に変調信号であるベースバンド信号（Ｉ，
Ｑ）を与える。３０は第１のシンセサイザで、直交変調
器１０の直交変調部１１に２００ＭＨｚの中間周波数信
号を出力する。４０は第２のシンセサイザで、直交変調
器１０のアップコンバートに用いる１．７ＧＨｚの高周
波信号を出力する。５０はパワーデバイダで、シンセサ
イザ４０の出力を２分し、一方を直交変調器１０のミキ
サ１２に同じ周波数信号（１．７ＧＨｚ）を出力する。
交変調部１１に変調信号であるベースバンド信号（Ｉ，
Ｑ）を与える。３０は第１のシンセサイザで、直交変調
器１０の直交変調部１１に２００ＭＨｚの中間周波数信
号を出力する。４０は第２のシンセサイザで、直交変調
器１０のアップコンバートに用いる１．７ＧＨｚの高周
波信号を出力する。５０はパワーデバイダで、シンセサ
イザ４０の出力を２分し、一方を直交変調器１０のミキ
サ１２に同じ周波数信号（１．７ＧＨｚ）を出力する。
【００１３】６０はミキサで、パワーデバイダ５０が出
力する他方の高周波信号（１．７ＧＨｚ）により、直交
変調器１０のアンプ１３が出力する信号をダウンコンバ
ートする。７０は測定器であるスペクトラムアナライザ
で、ミキサ６０からの信号を入力し、測定を行なう。
力する他方の高周波信号（１．７ＧＨｚ）により、直交
変調器１０のアンプ１３が出力する信号をダウンコンバ
ートする。７０は測定器であるスペクトラムアナライザ
で、ミキサ６０からの信号を入力し、測定を行なう。
【００１４】このような装置の動作を以下で説明する。
信号発生器２０は、所望のベースバンド信号（Ｉ，Ｑ）
を出力する。そして、直交変調器１０の直交変調部１１
は、ベースバント信号（Ｉ，Ｑ）でシンセサイザ３０か
らの２００ＭＨｚの中間周波数信号を直交変調する。こ
の直交変調が行われた信号をミキサ１２は、パワーデバ
イダ５０を介したシンセサイザ４０の１．７ＧＨｚの高
周波信号によりアップコンバートし、アンプ１３を介し
て１．９ＧＨｚの信号を出力する。
信号発生器２０は、所望のベースバンド信号（Ｉ，Ｑ）
を出力する。そして、直交変調器１０の直交変調部１１
は、ベースバント信号（Ｉ，Ｑ）でシンセサイザ３０か
らの２００ＭＨｚの中間周波数信号を直交変調する。こ
の直交変調が行われた信号をミキサ１２は、パワーデバ
イダ５０を介したシンセサイザ４０の１．７ＧＨｚの高
周波信号によりアップコンバートし、アンプ１３を介し
て１．９ＧＨｚの信号を出力する。
【００１５】この信号をミキサ６０はパワーデバイダ５
０を介したシンセサイザ４０からの１．７ＧＨｚ高周波
信号によりダウンコンバートし、２００ＭＨｚの信号に
する。そして、この信号をスペクトラムアナライザ７０
により測定する。
０を介したシンセサイザ４０からの１．７ＧＨｚ高周波
信号によりダウンコンバートし、２００ＭＨｚの信号に
する。そして、この信号をスペクトラムアナライザ７０
により測定する。
【００１６】このように、直交変調器１０に用いる高周
波信号により、直交変調器１０からの信号をミキサ６０
がダウンコンバートする。これにより、中間周波数の信
号を測定すればよいので、スペクトラムアナライザ７０
は測定を高精度に行なうことができる。そして、高周波
信号の測定を行なわないので、低コストなスペクトラム
アナライザで試験が行なうことができる。
波信号により、直交変調器１０からの信号をミキサ６０
がダウンコンバートする。これにより、中間周波数の信
号を測定すればよいので、スペクトラムアナライザ７０
は測定を高精度に行なうことができる。そして、高周波
信号の測定を行なわないので、低コストなスペクトラム
アナライザで試験が行なうことができる。
【００１７】また、直交変調器１０のアップコンバート
を行なう高周波信号を用いて、ミキサ６０でダウンコン
バートしているので、シンセサイザ４０が出力する高周
波信号の精度誤差をキャンセルすることができる。従っ
て、高周波信号を発生するシンセサイザ４０は精度が悪
くても、直交変調器１０の高精度の測定を行なうことが
できる。そして、高周波数信号の精度が悪くてもよいの
で、低コストなシンセサイザで試験を行なうことができ
る。
を行なう高周波信号を用いて、ミキサ６０でダウンコン
バートしているので、シンセサイザ４０が出力する高周
波信号の精度誤差をキャンセルすることができる。従っ
て、高周波信号を発生するシンセサイザ４０は精度が悪
くても、直交変調器１０の高精度の測定を行なうことが
できる。そして、高周波数信号の精度が悪くてもよいの
で、低コストなシンセサイザで試験を行なうことができ
る。
【００１８】なお、本発明はこれに限定されるものでは
なく、直交変調器１０は、少なくとも直交変調部１１と
ミキサ１２とで構成されればよい。
なく、直交変調器１０は、少なくとも直交変調部１１と
ミキサ１２とで構成されればよい。
【００１９】また、測定器は図２のような構成でもよ
い。図１と同一符号のものは同一符号を付して説明を省
略する。図において、８０は測定器で、Ａ／Ｄ変換器８
１と演算部８２とからなる。Ａ／Ｄ変換器８１はミキサ
６０からのアナログ信号をデジタル信号に変換する。演
算部８２は、Ａ／Ｄ変換器８１からのデジタル信号を入
力し、変調精度などの演算を行なう。
い。図１と同一符号のものは同一符号を付して説明を省
略する。図において、８０は測定器で、Ａ／Ｄ変換器８
１と演算部８２とからなる。Ａ／Ｄ変換器８１はミキサ
６０からのアナログ信号をデジタル信号に変換する。演
算部８２は、Ａ／Ｄ変換器８１からのデジタル信号を入
力し、変調精度などの演算を行なう。
【００２０】このような装置の動作を以下で説明する。
ミキサ６０までの動作は図１の装置と同様で、ミキサ６
０からのアナログ信号をＡ／Ｄ変換器８１はデジタル信
号に変換する。このデジタル信号を演算部８２は入力
し、変調精度等を演算する。
ミキサ６０までの動作は図１の装置と同様で、ミキサ６
０からのアナログ信号をＡ／Ｄ変換器８１はデジタル信
号に変換する。このデジタル信号を演算部８２は入力
し、変調精度等を演算する。
【００２１】このように、測定器はどのような構成でも
よいが、一般的に、測定する信号が高周波になると、測
定器の測定性能が悪化するが、ミキサ６０によりダウン
コンバートするので、中間周波数の信号により測定する
ことができる。また、図１の装置と同様にシンセサイザ
４０の精度の影響を受けずに測定器は高精度の測定がで
きる。
よいが、一般的に、測定する信号が高周波になると、測
定器の測定性能が悪化するが、ミキサ６０によりダウン
コンバートするので、中間周波数の信号により測定する
ことができる。また、図１の装置と同様にシンセサイザ
４０の精度の影響を受けずに測定器は高精度の測定がで
きる。
【００２２】その他、他の被試験対象に用いた実施例を
以下に説明する。まず、ベクトル復調器（直交復調器）
の試験装置について説明する。図３は第３の実施例を示
した構成図である。図において、１４はベクトル復調器
で、被変調信号を入力し、高周波信号によりダウンコン
バートし、中間周波数信号で直交復調する。ベクトル復
調器１４は、アンプ１５とミキサ１６と直交復調部１７
とからなる。アンプ１５は、入力した信号を増幅する。
ミキサ１６は、アンプ１５からの信号を高周波信号によ
りダウンコンバートする。直交復調部１７は、ミキサ１
６からの信号を中間周波数で直交復調し、ベースバンド
信号を出力する。直交復調部１７は、一般的に２つの乗
算器と加算器と９０°移相器とで構成されている。
以下に説明する。まず、ベクトル復調器（直交復調器）
の試験装置について説明する。図３は第３の実施例を示
した構成図である。図において、１４はベクトル復調器
で、被変調信号を入力し、高周波信号によりダウンコン
バートし、中間周波数信号で直交復調する。ベクトル復
調器１４は、アンプ１５とミキサ１６と直交復調部１７
とからなる。アンプ１５は、入力した信号を増幅する。
ミキサ１６は、アンプ１５からの信号を高周波信号によ
りダウンコンバートする。直交復調部１７は、ミキサ１
６からの信号を中間周波数で直交復調し、ベースバンド
信号を出力する。直交復調部１７は、一般的に２つの乗
算器と加算器と９０°移相器とで構成されている。
【００２３】２１は信号発生器であるシンセサイザで、
２００ＭＨｚの低周波信号の試験信号を出力する。第１
のシンセサイザ３０は、ベクトル復調器１４に２００Ｍ
Ｈｚの中間周波数信号を出力する。第２のシンセサイザ
４０は、ベクトル復調器１４のダウンコンバートに用い
る１．７ＧＨｚの高周波信号を出力する。パワーデバイ
ダ５０は、シンセサイザ４０の出力を２分し、一方をベ
クトル復調器１４に出力する。９０はミキサで、パワー
デバイダ５０の他方の出力により、シンセサイザ２１が
出力する信号をアップコンバートし、ベクトル復調器１
４に出力する。８３は測定器で、ベクトル復調器１４か
らの信号を入力し、測定を行なう。
２００ＭＨｚの低周波信号の試験信号を出力する。第１
のシンセサイザ３０は、ベクトル復調器１４に２００Ｍ
Ｈｚの中間周波数信号を出力する。第２のシンセサイザ
４０は、ベクトル復調器１４のダウンコンバートに用い
る１．７ＧＨｚの高周波信号を出力する。パワーデバイ
ダ５０は、シンセサイザ４０の出力を２分し、一方をベ
クトル復調器１４に出力する。９０はミキサで、パワー
デバイダ５０の他方の出力により、シンセサイザ２１が
出力する信号をアップコンバートし、ベクトル復調器１
４に出力する。８３は測定器で、ベクトル復調器１４か
らの信号を入力し、測定を行なう。
【００２４】このような装置の動作を以下で説明する。
シンセサイザ２１は、２００ＭＨｚの試験信号を出力す
る。この信号を、ミキサ９０は、パワーデバイダ５０を
介したシンセサイザ４０が出力する１．７ＧＨｚの高周
波信号によりアップコンバートし、ベクトル復調器１４
に１．９ＧＨｚの信号を出力する。
シンセサイザ２１は、２００ＭＨｚの試験信号を出力す
る。この信号を、ミキサ９０は、パワーデバイダ５０を
介したシンセサイザ４０が出力する１．７ＧＨｚの高周
波信号によりアップコンバートし、ベクトル復調器１４
に１．９ＧＨｚの信号を出力する。
【００２５】そして、ミキサ１６は、アンプ１５を介し
た１．９ＧＨｚの信号を、パワーデバイダ５０を介した
シンセサイザ４０が出力する１．７ＧＨｚの高周波信号
によりダウンコンバートする。このダウンコンバートし
た信号を、直交復調部１７は入力し、シンセサイザ３０
が出力する２００ＭＨｚの中間周波数信号で直交復調す
る。この直交復調部１７から出力される信号を測定器８
３は測定する。
た１．９ＧＨｚの信号を、パワーデバイダ５０を介した
シンセサイザ４０が出力する１．７ＧＨｚの高周波信号
によりダウンコンバートする。このダウンコンバートし
た信号を、直交復調部１７は入力し、シンセサイザ３０
が出力する２００ＭＨｚの中間周波数信号で直交復調す
る。この直交復調部１７から出力される信号を測定器８
３は測定する。
【００２６】このように、ベクトル復調器１４への入力
周波数は、１．９ＧＨｚであるが、２００ＭＨｚのシン
セサイザ２１と１．７ＧＨｚのシンセサイザ４０とによ
りミキシングして１．９ＧＨｚを得ている。そして、ベ
クトル復調器１４のミキサ１６で１．７ＧＨｚのシンセ
サイザ４０の信号をダウンコンバートすることで、測定
性能は２００ＭＨｚのシンセサイザ２１とシンセサイザ
３０の性能のみで決定され、精度の高い測定が得られ
る。
周波数は、１．９ＧＨｚであるが、２００ＭＨｚのシン
セサイザ２１と１．７ＧＨｚのシンセサイザ４０とによ
りミキシングして１．９ＧＨｚを得ている。そして、ベ
クトル復調器１４のミキサ１６で１．７ＧＨｚのシンセ
サイザ４０の信号をダウンコンバートすることで、測定
性能は２００ＭＨｚのシンセサイザ２１とシンセサイザ
３０の性能のみで決定され、精度の高い測定が得られ
る。
【００２７】
【発明の効果】本発明によれば、シンセサイザが出力す
る高周波信号をパワーデバイダが２分し、この信号でア
ップコンバートとダウンコンバートを行い、高周波動作
の被試験対象の測定を低周波で行なうことができる。こ
れにより、試験装置は、低周波動作でよいので、安価に
できると共に、精度が高い試験を行うことができる。ま
た、高周波信号を出力するシンセサイザは、精度が悪く
てもよい。
る高周波信号をパワーデバイダが２分し、この信号でア
ップコンバートとダウンコンバートを行い、高周波動作
の被試験対象の測定を低周波で行なうことができる。こ
れにより、試験装置は、低周波動作でよいので、安価に
できると共に、精度が高い試験を行うことができる。ま
た、高周波信号を出力するシンセサイザは、精度が悪く
てもよい。
【００２８】請求項１によれば、被試験対象に用いる高
周波信号により、被試験対象からの信号をミキサがダウ
ンコンバートする。これにより、中間周波数の信号を測
定すればよいので、測定器は高精度に測定を行なうこと
ができる。そして、高周波信号の測定を行なわないの
で、低コストな測定器で試験を行なうことができる。
周波信号により、被試験対象からの信号をミキサがダウ
ンコンバートする。これにより、中間周波数の信号を測
定すればよいので、測定器は高精度に測定を行なうこと
ができる。そして、高周波信号の測定を行なわないの
で、低コストな測定器で試験を行なうことができる。
【００２９】また、請求項１によれば、被試験対象のア
ップコンバートを行なう高周波信号を用いて、ミキサで
ダウンコンバートしているので、第２のシンセサイザが
出力する高周波信号の精度誤差をキャンセルすることが
できる。従って、高周波信号を発生する第２のシンセサ
イザは精度が悪くても、被試験対象の高精度の測定を行
なうことができる。そして、高周波信号の精度が悪くて
もよいので、低コストなシンセサイザで試験することが
できる。
ップコンバートを行なう高周波信号を用いて、ミキサで
ダウンコンバートしているので、第２のシンセサイザが
出力する高周波信号の精度誤差をキャンセルすることが
できる。従って、高周波信号を発生する第２のシンセサ
イザは精度が悪くても、被試験対象の高精度の測定を行
なうことができる。そして、高周波信号の精度が悪くて
もよいので、低コストなシンセサイザで試験することが
できる。
【００３０】請求項２によれば、信号発生器と第２のシ
ンセサイザとによりミキサによりミキシングして高周波
信号を得ている。そして、被試験対象でシンセサイザの
信号をダウンコンバートすることで、測定性能は信号発
生器と第１のシンセサイザの性能のみで決定され、精度
の高い測定が得られる。また、試験装置は、低周波で高
精度のものを用意すればよいので、安価にできる。
ンセサイザとによりミキサによりミキシングして高周波
信号を得ている。そして、被試験対象でシンセサイザの
信号をダウンコンバートすることで、測定性能は信号発
生器と第１のシンセサイザの性能のみで決定され、精度
の高い測定が得られる。また、試験装置は、低周波で高
精度のものを用意すればよいので、安価にできる。
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】本発明のその他の実施例を示した構成図であ
る。
る。
【図３】本発明の第３の実施例を示した構成図である。
【図４】従来の直交変調器の試験装置の構成図である。
１０ 直交変調器
１４ ベクトル復調器
２０ 信号発生器
２１ シンセサイザ
３０ シンセサイザ
４０ シンセサイザ
６０ ミキサ
７０ スペクトラムアナライザ
８０ 測定器
８３ 測定器
９０ ミキサ
Claims (2)
- 【請求項１】 高周波で動作する被試験対象を測定する
試験装置において、前記被試験対象に変調信号を出力する信号発生器と、 前記被試験対象に中間周波数信号を出力する第１のシン
セサイザと、 前記被試験対象のアップコンバートに用いる高周波信号
を出力する第２のシンセサイザと、 この第２のシンセサイザの出力を２分し、一方を前記被
試験対象に出力するパワーデバイダと、 このパワーデバイダの他方の出力により、前記被試験対
象が出力する信号をダウンコンバートするミキサと、 このミキサからの信号を入力し、測定を行なう測定器と
を具備し、前記被試験対象は、前記信号発生器からの変
調信号で、前記第１のシンセサイザからの中間周波数信
号を直交変調し、前記パワーデバイダからの高周波信号
によりアップコンバートして前記ミキサに出力すること
を特徴とする試験装置。 - 【請求項２】 高周波で動作する被試験対象を測定する
試験装置において、低周波信号を出力する信号発生器と、 前記被試験対象に中間周波数信号を出力する第１のシン
セサイザと、 前記被試験対象のダウンコンバートに用いる高周波信号
を出力する第２のシンセサイザと、 この第２のシンセサイザの出力を２分し、一方を前記被
試験対象に出力するパワーデバイダと、 このパワーデバイダの他方の出力により、前記信号発生
器が出力する信号をアップコンバートし、前記被試験対
象に出力するミキサと、 前記被試験対象からの信号を入力し、測定を行なう測定
器とを具備し、前記被試験対象は、前記ミキサからの被
変調信号を入力し、前記パワーデバイダからの高周波信
号によりダウンコンバートし、前記第１のシンセサイザ
からの中間周波数信号で復調して、前記測定器に出力す
ることを特徴とする試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01535898A JP3516128B2 (ja) | 1997-05-30 | 1998-01-28 | 試験装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9-141216 | 1997-05-30 | ||
| JP14121697 | 1997-05-30 | ||
| JP01535898A JP3516128B2 (ja) | 1997-05-30 | 1998-01-28 | 試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1144723A JPH1144723A (ja) | 1999-02-16 |
| JP3516128B2 true JP3516128B2 (ja) | 2004-04-05 |
Family
ID=26351480
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP01535898A Expired - Fee Related JP3516128B2 (ja) | 1997-05-30 | 1998-01-28 | 試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3516128B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI745982B (zh) * | 2020-05-27 | 2021-11-11 | 矽品精密工業股份有限公司 | 測試系統及其測試方法 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3930037B1 (ja) | 2006-04-27 | 2007-06-13 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置および試験方法 |
| CN111337780A (zh) * | 2020-03-27 | 2020-06-26 | 南京宽超通信技术有限公司 | 便携式buc故障检测仪及故障检测方法 |
-
1998
- 1998-01-28 JP JP01535898A patent/JP3516128B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI745982B (zh) * | 2020-05-27 | 2021-11-11 | 矽品精密工業股份有限公司 | 測試系統及其測試方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH1144723A (ja) | 1999-02-16 |
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