JP2000316031A - 直交変調信号評価方法及びこの評価方法を用いた直交変調信号評価装置 - Google Patents
直交変調信号評価方法及びこの評価方法を用いた直交変調信号評価装置Info
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- JP2000316031A JP2000316031A JP12392399A JP12392399A JP2000316031A JP 2000316031 A JP2000316031 A JP 2000316031A JP 12392399 A JP12392399 A JP 12392399A JP 12392399 A JP12392399 A JP 12392399A JP 2000316031 A JP2000316031 A JP 2000316031A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 被測定信号から直接、シンボルレート誤差、
ＩＱゲイン誤差、直交度誤差を算出する直交変調信号評
価方法と、装置を提供する。 【解決手段】 直交変調信号から成る被測定信号から送
信データ系列を得る復調手段と、送信データ系列から理
想信号を生成する理想信号生成手段と、被測定信号と理
想信号とから連立一次方程式の係数行列を求める係数行
列計算手段と、この係数行列計算手段で得られた係数行
列を求める係数行列計算手段と、この係数行列計算手段
で得られた係数行列から連立一次方程式を解き、直交変
調信号のシンボルレート誤差、ＩＱゲイン誤差、直交度
誤差を求める連立一次方程式演算手段とによって直交変
調信号評価装置を構成した。
ＩＱゲイン誤差、直交度誤差を算出する直交変調信号評
価方法と、装置を提供する。 【解決手段】 直交変調信号から成る被測定信号から送
信データ系列を得る復調手段と、送信データ系列から理
想信号を生成する理想信号生成手段と、被測定信号と理
想信号とから連立一次方程式の係数行列を求める係数行
列計算手段と、この係数行列計算手段で得られた係数行
列を求める係数行列計算手段と、この係数行列計算手段
で得られた係数行列から連立一次方程式を解き、直交変
調信号のシンボルレート誤差、ＩＱゲイン誤差、直交度
誤差を求める連立一次方程式演算手段とによって直交変
調信号評価装置を構成した。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、移動通信などに
用いられている例えばＣＤＭＡ（コード分割多元接続）
方式の直交変調信号の波形品質を評価する直交変調信号
評価方法及びこの評価方法を用いた直交変調信号評価装
置に関する。
用いられている例えばＣＤＭＡ（コード分割多元接続）
方式の直交変調信号の波形品質を評価する直交変調信号
評価方法及びこの評価方法を用いた直交変調信号評価装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＣＤＭＡ移動通信の基地局より放射され
る電波の評価パラメータ、つまり出力タイミングΔ
τi 、位相オフセットΔθi 等を測定する従来の方法は
例えばＨｅｗｌｅｔｔ−Ｐａｃｋｏｒｄ Ｊｏｕｒｎａ
ｌ Ｆｅｂ、１９９６、ｐｐ．７３〜９３“Ｏｖｅｒｖ
ｉｅｗ ｏｆ Ｃｏｄｅ−Ｄｏｍａｉｎ Ｐｏｗｅｒ，
Ｔｉｍｉｎｇ ａｎｄ Ｐｈａｓｅ Ｍｅａｓｕｒｅｍ
ｅｎｔｓ”に示されている。
る電波の評価パラメータ、つまり出力タイミングΔ
τi 、位相オフセットΔθi 等を測定する従来の方法は
例えばＨｅｗｌｅｔｔ−Ｐａｃｋｏｒｄ Ｊｏｕｒｎａ
ｌ Ｆｅｂ、１９９６、ｐｐ．７３〜９３“Ｏｖｅｒｖ
ｉｅｗ ｏｆ Ｃｏｄｅ−Ｄｏｍａｉｎ Ｐｏｗｅｒ，
Ｔｉｍｉｎｇ ａｎｄ Ｐｈａｓｅ Ｍｅａｓｕｒｅｍ
ｅｎｔｓ”に示されている。
【０００３】一方本出願人は「特開平６−１７７９２９
号公報」において、図５に示す直交変調器のＩ信号入力
端子ＴＩとＱ信号入力端子ＴＱにベースバント信号とし
て位相が９０°異なる二つの正弦波ＩとＱを信号発生器
から入力し、その変調出力信号ＲＦをスペクトラム・ア
ナライザを用いてスプリアス（不要輻射信号）を観測
し、スプリアスが小さくなるように直交変調器の直交度
及びＩＱゲインを調節して合せ込みその合せ込む調整量
により直交変調器の調整度誤差及びＩＱゲイン誤差を測
定する測定方法を提案した。
号公報」において、図５に示す直交変調器のＩ信号入力
端子ＴＩとＱ信号入力端子ＴＱにベースバント信号とし
て位相が９０°異なる二つの正弦波ＩとＱを信号発生器
から入力し、その変調出力信号ＲＦをスペクトラム・ア
ナライザを用いてスプリアス（不要輻射信号）を観測
し、スプリアスが小さくなるように直交変調器の直交度
及びＩＱゲインを調節して合せ込みその合せ込む調整量
により直交変調器の調整度誤差及びＩＱゲイン誤差を測
定する測定方法を提案した。
【０００４】直交度とは９０°の位相シフタＳＦが持つ
９０°±αの誤差を指し、この誤差を直交度誤差と呼ん
でいる。ＩＱゲインとは、ベースバント信号としてＩと
Ｑのゲイン比が１でない場合、或は直交変調器内部での
減衰、ミキサＭＸでの減衰、ローカル信号ＬＯの電力比
（位相シフタＳＦでの減衰）等によって誤差を持ち、こ
の誤差をＩＱゲイン誤差と呼んでいる。
９０°±αの誤差を指し、この誤差を直交度誤差と呼ん
でいる。ＩＱゲインとは、ベースバント信号としてＩと
Ｑのゲイン比が１でない場合、或は直交変調器内部での
減衰、ミキサＭＸでの減衰、ローカル信号ＬＯの電力比
（位相シフタＳＦでの減衰）等によって誤差を持ち、こ
の誤差をＩＱゲイン誤差と呼んでいる。
【０００５】一方、直交変調器が出力する直交変調信号
のシンボルレート誤差はデジタル変調ベースバンド部の
デジタル回路がクロック周波数で動作していることに着
目し、このクロック周波数をカウンタ等で測定し、この
クロック周波数誤差を測定し、このクロック周波数から
シンボルレート誤差を求めている。
のシンボルレート誤差はデジタル変調ベースバンド部の
デジタル回路がクロック周波数で動作していることに着
目し、このクロック周波数をカウンタ等で測定し、この
クロック周波数誤差を測定し、このクロック周波数から
シンボルレート誤差を求めている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】直交度誤差及びＩＱゲ
イン誤差の測定にはＳＧ等の信号発生器から特殊な信号
ＩとＱを発生させて直交変調器の入力端子ＴＩとＴＱに
入力する必要があり、実用状態における実際に出力され
るデジタル変調信号から直接これらの誤差を測定するこ
とができない欠点がある。
イン誤差の測定にはＳＧ等の信号発生器から特殊な信号
ＩとＱを発生させて直交変調器の入力端子ＴＩとＴＱに
入力する必要があり、実用状態における実際に出力され
るデジタル変調信号から直接これらの誤差を測定するこ
とができない欠点がある。
【０００７】また、後者のシンボルレート誤差の測定で
も、直交変調器の外部にクロック信号を出力させ、この
クロック信号の周波数を測定するものであり、直交変調
信号から直接シンボルレート誤差を測定することができ
ない不都合がある。一方、本出願人は例えば「特開平１
０−１７３６２８号公報」に開示するように直交変調信
号から直接直交変調器を評価するための各種変調パラメ
ータを求める変調パラメータ測定装置を提案している。
も、直交変調器の外部にクロック信号を出力させ、この
クロック信号の周波数を測定するものであり、直交変調
信号から直接シンボルレート誤差を測定することができ
ない不都合がある。一方、本出願人は例えば「特開平１
０−１７３６２８号公報」に開示するように直交変調信
号から直接直交変調器を評価するための各種変調パラメ
ータを求める変調パラメータ測定装置を提案している。
【０００８】この先に提案した変調パラメータ測定装置
で求められる変調パラメータは波形品質ρ、振幅誤差ｂ
0 、位相誤差θ0 、ＩＱ原点オフセットθ0 、キャリア
周波数誤差Δω、タイムアライメント誤差τであり、先
に説明した直交度誤差、ＩＱゲイン誤差、シンボルレー
ト誤差を測定するには至らなかった。この発明の目的は
直交変調信号から直接、振幅誤差ｂ0 、キャリア周波数
誤差Δω、位相誤差θ0 等に加えて直交度誤差、ＩＱゲ
イン誤差、シンボルレート誤差を求めることができる直
交変調信号評価方法と、この評価方法を用いた直交変調
信号評価装置を提供しようとするものである。
で求められる変調パラメータは波形品質ρ、振幅誤差ｂ
0 、位相誤差θ0 、ＩＱ原点オフセットθ0 、キャリア
周波数誤差Δω、タイムアライメント誤差τであり、先
に説明した直交度誤差、ＩＱゲイン誤差、シンボルレー
ト誤差を測定するには至らなかった。この発明の目的は
直交変調信号から直接、振幅誤差ｂ0 、キャリア周波数
誤差Δω、位相誤差θ0 等に加えて直交度誤差、ＩＱゲ
イン誤差、シンボルレート誤差を求めることができる直
交変調信号評価方法と、この評価方法を用いた直交変調
信号評価装置を提供しようとするものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この発明では直交変調信
号から成る被測定信号から送信データ系列を得るステッ
プと、送信データ系列から理想信号を生成するステップ
と、被測定信号と理想信号とから変調パラメータを求め
るための最適化式を構成する連立一次方程式の係数行列
を求めるステップと、この係数行列から被測定信号と理
想信号の差である誤差ベクトルεの振幅の２乗を、指定
区間に渡って加えた値を小さくするようにシンボルレー
ト誤差、直交度誤差、ＩＱゲイン誤差を推定する連立一
次方程式を解き、直交変調信号のシンボルレート誤差、
直交度誤差及びＩＱゲイン誤差を求めるステップと、を
含む直交変調信号評価方法を提案するものである。
号から成る被測定信号から送信データ系列を得るステッ
プと、送信データ系列から理想信号を生成するステップ
と、被測定信号と理想信号とから変調パラメータを求め
るための最適化式を構成する連立一次方程式の係数行列
を求めるステップと、この係数行列から被測定信号と理
想信号の差である誤差ベクトルεの振幅の２乗を、指定
区間に渡って加えた値を小さくするようにシンボルレー
ト誤差、直交度誤差、ＩＱゲイン誤差を推定する連立一
次方程式を解き、直交変調信号のシンボルレート誤差、
直交度誤差及びＩＱゲイン誤差を求めるステップと、を
含む直交変調信号評価方法を提案するものである。
【００１０】この発明では更に、被測定信号から送信デ
ータ系列を得る復調手段と、この復調手段で復調した送
信データ系列から理想信号を生成する理想信号生成手段
と、被測定信号と理想信号とから連立一次方程式の係数
行列を求める係数行列計算手段と、この係数行列計算手
段で得られた係数行列から被測定信号と理想信号の差で
ある誤差ベクトルの振幅の２乗を指定区間に渡って加え
た値を小さくするように各変調誤差を推定する連立一次
方程式を解き、直交変調信号のシンボルレート誤差、直
交度誤差、ＩＱゲイン誤差を求める連立一次方程式演算
手段と、によって構成した直交変調信号評価装置を提案
するものである。
ータ系列を得る復調手段と、この復調手段で復調した送
信データ系列から理想信号を生成する理想信号生成手段
と、被測定信号と理想信号とから連立一次方程式の係数
行列を求める係数行列計算手段と、この係数行列計算手
段で得られた係数行列から被測定信号と理想信号の差で
ある誤差ベクトルの振幅の２乗を指定区間に渡って加え
た値を小さくするように各変調誤差を推定する連立一次
方程式を解き、直交変調信号のシンボルレート誤差、直
交度誤差、ＩＱゲイン誤差を求める連立一次方程式演算
手段と、によって構成した直交変調信号評価装置を提案
するものである。
【００１１】この発明による直交変調信号評価方法及び
直交変調信号評価装置によれば、直交変調信号を復調し
て送信データ系列を取得し、この送信データ系列から理
想信号を生成し、被測定信号と理想信号とから連立一次
方程式の係数行列を求めるから、直交変調信号から直
接、シンボルレート誤差、直接度誤差、ＩＱゲイン誤差
を測定することができる。
直交変調信号評価装置によれば、直交変調信号を復調し
て送信データ系列を取得し、この送信データ系列から理
想信号を生成し、被測定信号と理想信号とから連立一次
方程式の係数行列を求めるから、直交変調信号から直
接、シンボルレート誤差、直接度誤差、ＩＱゲイン誤差
を測定することができる。
【００１２】よってＳＧのような信号発振器等の他の機
器を用いることなくシンボルレート誤差、直交度誤差、
ＩＱゲイン誤差を被測定信号から直接求めることがで
き、直交変調器の評価を短時間行なうことができる。
器を用いることなくシンボルレート誤差、直交度誤差、
ＩＱゲイン誤差を被測定信号から直接求めることがで
き、直交変調器の評価を短時間行なうことができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】図１にこの発明による直交変調信
号の評価方法を用いた直交変調信号評価装置の実施例を
示す。図中１０はこの発明による直交変調信号評価装置
を示す。直交変調信号評価装置１０の前段側には直交変
換器２０と、ＡＤ変換器３０と、メモリＭとが継続接続
される。
号の評価方法を用いた直交変調信号評価装置の実施例を
示す。図中１０はこの発明による直交変調信号評価装置
を示す。直交変調信号評価装置１０の前段側には直交変
換器２０と、ＡＤ変換器３０と、メモリＭとが継続接続
される。
【００１４】直交変換器２０は入力端子２１に入力され
る中間周波信号に変換された直交変調信号に互いに９０
°の位相差を持つローカル信号ＬＯ及びＬＯ′を乗算
し、互いに直交する複素ベースバンド信号ＩとＱを生成
する。複素ベースバンド信号ＩとＱはそれぞれこの例で
はバントパスフィルタＬＰＦ１とＬＰＦ２で帯域制限
し、その帯域制限した複素ベースバンド信号ＩとＱをＡ
Ｄ変換器３０Ａと３０Ｂに入力し、ＡＤ変換すると共
に、そのＡＤ変換したベースバンド信号をメモリＭに格
納する。
る中間周波信号に変換された直交変調信号に互いに９０
°の位相差を持つローカル信号ＬＯ及びＬＯ′を乗算
し、互いに直交する複素ベースバンド信号ＩとＱを生成
する。複素ベースバンド信号ＩとＱはそれぞれこの例で
はバントパスフィルタＬＰＦ１とＬＰＦ２で帯域制限
し、その帯域制限した複素ベースバンド信号ＩとＱをＡ
Ｄ変換器３０Ａと３０Ｂに入力し、ＡＤ変換すると共
に、そのＡＤ変換したベースバンド信号をメモリＭに格
納する。
【００１５】メモリＭから読出されたデジタルの複素ベ
ースバンド信号がこの発明による直交変調信号評価装置
１０に入力される。この発明による直交変調信号評価装
置１０は例えばコンピュータシステムによって構成する
ことができる。直交変調信号評価装置１０の出力側には
評価結果等を表示する表示器４０が接続される。図２は
図１に示した直交変調信号評価装置１０の内部の概略の
構成を示す。メモリＭから読み出された複素ベースバン
ド信号ＩとＱは復調手段１１で復調される。その復調信
号は送信データ系列再生手段１２に入力され、この送信
データ系列再生手段１２で送信データ系列（ＰＮ符号と
も呼ばれるパイロット信号）を再生する。
ースバンド信号がこの発明による直交変調信号評価装置
１０に入力される。この発明による直交変調信号評価装
置１０は例えばコンピュータシステムによって構成する
ことができる。直交変調信号評価装置１０の出力側には
評価結果等を表示する表示器４０が接続される。図２は
図１に示した直交変調信号評価装置１０の内部の概略の
構成を示す。メモリＭから読み出された複素ベースバン
ド信号ＩとＱは復調手段１１で復調される。その復調信
号は送信データ系列再生手段１２に入力され、この送信
データ系列再生手段１２で送信データ系列（ＰＮ符号と
も呼ばれるパイロット信号）を再生する。
【００１６】送信データ系列再生手段にて再生された送
信データ系列を理想信号生成手段１３に入力し、この理
想信号生成手段１３で理想信号Ｒ（ｋ）（ｋはシンボル
点番号）を生成する。理想信号生成手段１３で生成した
理想信号Ｒ（ｋ）を係数行列計算手段１４に入力する。
係数行列計算手段１４は入力される被測定信号Ｚ（ｋ）
をも取り込み、係数行列計算手段１４で被測定信号Ｚ
（ｋ）と理想信号Ｒ（ｋ）との差である誤差ベクトルε
の振幅の２乗を指定区間に渡って加えた値を小さくする
様に、シンボルレート誤差Δλと、直交度誤差Δφと、
ＩＱゲイン誤差Δψを推定するための連立一次方程式の
係数行列を求める。
信データ系列を理想信号生成手段１３に入力し、この理
想信号生成手段１３で理想信号Ｒ（ｋ）（ｋはシンボル
点番号）を生成する。理想信号生成手段１３で生成した
理想信号Ｒ（ｋ）を係数行列計算手段１４に入力する。
係数行列計算手段１４は入力される被測定信号Ｚ（ｋ）
をも取り込み、係数行列計算手段１４で被測定信号Ｚ
（ｋ）と理想信号Ｒ（ｋ）との差である誤差ベクトルε
の振幅の２乗を指定区間に渡って加えた値を小さくする
様に、シンボルレート誤差Δλと、直交度誤差Δφと、
ＩＱゲイン誤差Δψを推定するための連立一次方程式の
係数行列を求める。
【００１７】係数行列計算手段１４で係数行列が求めら
れると、その係数行列を連立一次方程式演算手段１５に
送り込み、係数行列により連立一次方程式を演算し、連
立一次方程式を解くことにより、シンボルレート誤差Δ
λ、直交度誤差Δφ、ＩＱゲイン誤差Δψ等の変調誤差
を求めることができる。ここで係数行列計算手段１４で
求める係数行列の求め方の概要を説明する。係数行列計
算手段１４では上述したように被測定信号Ｚ（ｋ）と、
理想信号Ｒ（ｋ）との差である誤差ベクトルεの振幅の
２乗を指定区間に渡って加えた値が最小となる様に変調
パラメータｂ0 、Δω、θ0 …の値を決める。
れると、その係数行列を連立一次方程式演算手段１５に
送り込み、係数行列により連立一次方程式を演算し、連
立一次方程式を解くことにより、シンボルレート誤差Δ
λ、直交度誤差Δφ、ＩＱゲイン誤差Δψ等の変調誤差
を求めることができる。ここで係数行列計算手段１４で
求める係数行列の求め方の概要を説明する。係数行列計
算手段１４では上述したように被測定信号Ｚ（ｋ）と、
理想信号Ｒ（ｋ）との差である誤差ベクトルεの振幅の
２乗を指定区間に渡って加えた値が最小となる様に変調
パラメータｂ0 、Δω、θ0 …の値を決める。
【００１８】これは次式によって求められる。
【００１９】
【数１】 ｂ0 ：振幅誤差パラメータ Δω：キャリア周波数誤差パラメータ θ0 ：位相誤差パラメータ Δτ：遅延誤差パラメータ Οre：ＩＱ原点オフセットの実部 Οim：ＩＱ原点オフセットの虚部 （１）式が最小となる条件を最小二乗法によって求め
る。最小二乗法によって求めた式について各変調パラメ
ータ毎に偏微分を求める。尚、最小二乗法及び偏微分の
詳細は添付の〔付録１〕〜〔付録４〕を参照されたい。
る。最小二乗法によって求めた式について各変調パラメ
ータ毎に偏微分を求める。尚、最小二乗法及び偏微分の
詳細は添付の〔付録１〕〜〔付録４〕を参照されたい。
【００２０】シンボルレート誤差Δλを求める場合は次
の７式の偏微分を求める。詳細は〔付録１〕参照。 ∂ε2 ／∂ｂ0 ＝０ ∂ε2 ／∂Δω＝０ ∂ε2 ／∂θ0 ＝０ ∂ε2 ／∂Δλ＝０ ∂ε2 ／∂Δτ＝０ ∂ε2 ／∂Οre＝０ ∂ε2 ／∂Οim＝０ 直交度誤差Δφを求める場合は次の７式の偏微分を求め
る。詳細は〔付録２〕と〔付録３〕参照。
の７式の偏微分を求める。詳細は〔付録１〕参照。 ∂ε2 ／∂ｂ0 ＝０ ∂ε2 ／∂Δω＝０ ∂ε2 ／∂θ0 ＝０ ∂ε2 ／∂Δλ＝０ ∂ε2 ／∂Δτ＝０ ∂ε2 ／∂Οre＝０ ∂ε2 ／∂Οim＝０ 直交度誤差Δφを求める場合は次の７式の偏微分を求め
る。詳細は〔付録２〕と〔付録３〕参照。
【００２１】 ∂ε2 ／∂ｂ0 ＝０ ∂ε2 ／∂Δω＝０ ∂ε2 ／∂θ0 ＝０ ∂ε2 ／∂Δτ＝０ ∂ε2 ／∂Οre＝０ ∂ε2 ／∂Οim＝０ ∂ε2 ／∂Δφ＝０ ＩＱゲイン誤差Δψを求める場合は次の７式の偏微分を
求める。詳細は〔付録４〕参照。
求める。詳細は〔付録４〕参照。
【００２２】 ∂ε2 ／∂ｂ0 ＝０ ∂ε2 ／∂Δω＝０ ∂ε2 ／∂θ0 ＝０ ∂ε2 ／∂Δτ＝０ ∂ε2 ／∂Οre＝０ ∂ε2 ／∂Οim＝０ ∂ε2 ／∂Δψ＝０ これらの各偏微分により、以下に示す連立一次方程式群
が得られる。シンボルレート誤差Δλを求める連立一次
方程式群（〔付録１〕参照）。
が得られる。シンボルレート誤差Δλを求める連立一次
方程式群（〔付録１〕参照）。
【００２３】 ａ11×ｂ0 ＋ａ12×Δω＋ａ13×θ0 ＋ａ14×Δλ＋ａ15×Δλ＋ａ16×Οre ＋ａ17・Οim＝ｄ1 ａ21×ｂ0 ＋ａ22×Δω＋ａ23×θ0 ＋ａ24・Δλ＋ａ25×Δλ＋ａ26×Οre ＋ａ27×Οim＝ｄ2 ・ ・ ・ ・ ・ ・ ａ71ｂ0 ＋ａ72Δω＋ａ73θ0 ＋ａ74Δλ＋ａ75Δλ＋ａ76Οre＋ａ77Οim＝ ｄ7 直交誤差Δφを求める場合の連立一次方程式群（〔付録
２〕・〔付録３〕参照）。
２〕・〔付録３〕参照）。
【００２４】 ａ11ｂ0 ＋ａ12Δω＋ａ13θ0 ＋ａ14Δτ＋ａ15Οre＋ａ16Οim＋ａ17Δφ＝ ｄ1 ａ21ｂ0 ＋ａ22Δω＋ａ23θ0 ＋ａ24Δτ＋ａ25Οre＋ａ16Οim＋ａ17Δφ＝ ｄ2 ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ａ71ｂ0 ＋ａ72Δω＋ａ73θ0 ＋ａ74Δτ＋ａ75Οre＋ａ76Οim＋ａ77Δφ＝ ｄ7 ＩＱゲイン誤差Δψを求める場合の連立一次方程式群
（〔付録４〕参照）。
（〔付録４〕参照）。
【００２５】 ａ11ｂ0 ＋ａ12Δω＋ａ13θ0 ＋ａ14Δτ＋ａ15Οre＋ａ16Οim＋ａ17Δψ＝ ｄ1 ａ12ｂ0 ＋ａ22Δω＋ａ23θ0 ＋ａ24Δτ＋ａ25Οre＋ａ26Οim＋ａ27Δψ＝ ｄ2 ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ａ71ｂ0 ＋ａ72Δω＋ａ73θ0 ＋ａ74Δτ＋ａ75Οre＋ａ76Οim＋ａ77Δψ＝ ｄ2 これらの連立一次方程式を解くには以下に示す行列式が
用いられ、各変調パラメータｂ0 ，Δω，θ0 ，Δλ，
Δτ，Οre，Οim，Δφ，Δψを求めることができる。 以上の行列式を解くことにより、各変調パラメータ
ｂ0 ，Δω，θ0 ，Δτ，Οre，Οim，Δλ，Δφ，Δ
ψを求めることができる。この行列演算が図２に示した
連立一次方程式演算手段１５で実行され、その演算結果
に得られる変調パラメータｂ0 ，Δω，θ0 ，Δτ，Ο
re，Οim，Δφ，Δψを表示器４０に表示し、直交変調
信号を出力した直交変調器の評価を行なうことができ
る。
用いられ、各変調パラメータｂ0 ，Δω，θ0 ，Δλ，
Δτ，Οre，Οim，Δφ，Δψを求めることができる。 以上の行列式を解くことにより、各変調パラメータ
ｂ0 ，Δω，θ0 ，Δτ，Οre，Οim，Δλ，Δφ，Δ
ψを求めることができる。この行列演算が図２に示した
連立一次方程式演算手段１５で実行され、その演算結果
に得られる変調パラメータｂ0 ，Δω，θ0 ，Δτ，Ο
re，Οim，Δφ，Δψを表示器４０に表示し、直交変調
信号を出力した直交変調器の評価を行なうことができ
る。
【００２６】図３に測定結果を表示した表示の一例を示
す。表示器４０は画像表示器が用いられる。図３に示す
表示は画像表示器に映出された表示の一例を示す。４１
は測定した変調パラメータを表示するパラメータ表示
欄、４２は信号の解析結果を表示する数値表示欄、４３
は単位表示欄、４４はモード切替釦表示欄を示す。図示
する状態はＱＰＳＫ測定モードを実行した結果を表示し
ている状態を示す。
す。表示器４０は画像表示器が用いられる。図３に示す
表示は画像表示器に映出された表示の一例を示す。４１
は測定した変調パラメータを表示するパラメータ表示
欄、４２は信号の解析結果を表示する数値表示欄、４３
は単位表示欄、４４はモード切替釦表示欄を示す。図示
する状態はＱＰＳＫ測定モードを実行した結果を表示し
ている状態を示す。
【００２７】この発明の特徴とするシンボルレート誤
差、ＩＱゲイン誤差、直交度誤差はパラメータ表示欄４
１の下から４行目〜末行に表示される。図４は図２に示
した直交変調信号評価装置１０の変形実施例を示す。図
２に示した実施例では被測定信号のレベルが大きく、Ｓ
Ｎ比が良好であるものとして１度メモリＭに取り込んだ
データから理想信号Ｒ（ｋ）を生成し、係数行列計算手
段１４で係数行列を算出したが、図４に示した実施例で
は連立一次方程式演算手段１４で求めた例えば振幅誤差
ｂ0 、キャリア周波数誤差Δω、位相誤差θ0 、遅延誤
差Δτ等を入力側に設けたフィルタ装置１６に帰還させ
最適化処理してベースバンド信号Ｉ及びＱを補正し、補
正したベースバンド信号Ｉ及びＱにより再び理想信号を
生成して再度係数行列を計算し、この係数行列により連
立一次方程式を演算することを繰り返し、この処理を繰
り返す毎に演算結果の値がそれぞれの誤差値に関して一
定値に収束することにより、信頼性の高い誤差値を得る
ように構成した場合を示す。
差、ＩＱゲイン誤差、直交度誤差はパラメータ表示欄４
１の下から４行目〜末行に表示される。図４は図２に示
した直交変調信号評価装置１０の変形実施例を示す。図
２に示した実施例では被測定信号のレベルが大きく、Ｓ
Ｎ比が良好であるものとして１度メモリＭに取り込んだ
データから理想信号Ｒ（ｋ）を生成し、係数行列計算手
段１４で係数行列を算出したが、図４に示した実施例で
は連立一次方程式演算手段１４で求めた例えば振幅誤差
ｂ0 、キャリア周波数誤差Δω、位相誤差θ0 、遅延誤
差Δτ等を入力側に設けたフィルタ装置１６に帰還させ
最適化処理してベースバンド信号Ｉ及びＱを補正し、補
正したベースバンド信号Ｉ及びＱにより再び理想信号を
生成して再度係数行列を計算し、この係数行列により連
立一次方程式を演算することを繰り返し、この処理を繰
り返す毎に演算結果の値がそれぞれの誤差値に関して一
定値に収束することにより、信頼性の高い誤差値を得る
ように構成した場合を示す。
【００２８】図４に示した構成によればＳＮ比の悪い信
号からでも信頼性の高い各種の変調パラメータを得るこ
とができる利点が得られる。また、他の変形実施例とし
ては、直交変調信号評価装置１０において、送信データ
系列再生手段１２は予め送信時に決定された既知の送信
データ系列を再生し、理想信号生成手段１３はこの既知
の送信データ系列に同期化して理想信号を生成する構成
も考えられる。
号からでも信頼性の高い各種の変調パラメータを得るこ
とができる利点が得られる。また、他の変形実施例とし
ては、直交変調信号評価装置１０において、送信データ
系列再生手段１２は予め送信時に決定された既知の送信
データ系列を再生し、理想信号生成手段１３はこの既知
の送信データ系列に同期化して理想信号を生成する構成
も考えられる。
【００２９】また、更に他の実施例としては、直交変調
信号評価装置において、理想信号Ｒ（ｋ）を送信側から
デジタルデータとして与える構成とすることも考えられ
る。
信号評価装置において、理想信号Ｒ（ｋ）を送信側から
デジタルデータとして与える構成とすることも考えられ
る。
【００３０】〔付録１〕
【００３１】〔付録２〕
【００３２】〔付録３〕
【００３３】〔付録４〕
【００３４】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれば
各変調誤差を精度よく求めることができる。また特に従
来は被変調信号から直接得ることができなかったシンボ
ルレート誤差Δλ、ＩＱゲイン誤差Δψ、直交度誤差Δ
φを求めることができるから、直交変調器の評価を短時
間に行なうことができる利点が得られる。
各変調誤差を精度よく求めることができる。また特に従
来は被変調信号から直接得ることができなかったシンボ
ルレート誤差Δλ、ＩＱゲイン誤差Δψ、直交度誤差Δ
φを求めることができるから、直交変調器の評価を短時
間に行なうことができる利点が得られる。
【図１】この発明の概要を説明するためのブロック図。
【図２】この発明の要部を説明するためのブロック図。
【図３】この発明によって算出した各誤差パラメータの
表示例を示す正面図。
表示例を示す正面図。
【図４】図２に示した実施例の変形例を示すブロック
図。
図。
【図５】従来の技術を説明するための接続図。
１０ 直交変調信号評価装置 １１ 復調手段 １２ 送信データ系列再生手段 １３ 理想信号生成手段 １４ 係数行列計算手段 １５ 連立一次方程式演算手段 ４０ 表示器
Claims (9)
- 【請求項１】 Ａ．直交変調信号から成る被測定信号か
ら送信データ系列を得るステップと、 Ｂ．この送信データ系列から理想信号を生成するステッ
プと、 Ｃ．上記被測定信号と理想信号とから変調パラメータを
求めるための最適化式を構成する連立一次方程式の係数
行列を求めるステップと、 Ｄ．上記係数行列から被測定信号と理想信号の差である
誤差ベクトルの振幅の２乗を指定区間に渡って加えた値
を小さくするように各変調誤差を推定する連立一次方程
式を解くステップと、から成る直交変調信号評価方法。 - 【請求項２】 請求項１記載の直交変調信号評価方法に
おいて、上記連立一次方程式の解に直交変調信号のシン
ボルレート誤差を得ることを特徴とする直交変調信号評
価方法。 - 【請求項３】 請求項１記載の直交変調信号評価方法に
おいて、上記連立一次方程式の解に直交変調信号の直交
度誤差を得ることを特徴とする直交変調信号評価方法。 - 【請求項４】 請求項１記載の直交変調信号評価方法に
おいて、上記連立一次方程式の解に直交変調信号のＩＱ
ゲイン誤差を得ることを特徴とする直交変調信号評価方
法。 - 【請求項５】 請求項１記載の直交変調信号評価方法に
おいて、上記連立一次方程式の解に直交変調信号の直交
度誤差、ＩＱゲイン誤差及びシンボルレート誤差を得る
ことを特徴とする直交変調信号評価方法。 - 【請求項６】 Ａ．被測定信号から送信データ系列を得
る復調手段と、 Ｂ．送信データ系列から理想信号を生成する理想信号生
成手段と、 Ｃ．上記被測定信号と理想信号とから連立一次方程式の
係数行列を求める係数行列計算手段と、 Ｄ．この係数行列計算手段で得られた係数行列から被測
定信号と理想信号の差である誤差ベクトルの振幅の２乗
を指定区間に渡って加えた値を小さくするように各変調
誤差を推定する連立一次方程式を解き、直交変調信号の
各変調誤差を求める連立一次方程式演算手段と、を具備
して構成したことを特徴とする直交変調信号評価装置。 - 【請求項７】 請求項６記載の直交変調信号評価装置に
おいて、上記連立一次方程式演算手段は直交度誤差、Ｉ
Ｑゲイン誤差、シンボルレート誤差を求める構成とした
ことを特徴とする直交変調信号評価装置。 - 【請求項８】 請求項６記載の直交変調信号評価装置に
おいて、上記送信データ系列再生手段は予め送信時に決
定された既知の送信データ系列を再生し、理想信号生成
手段はこの既知の送信データ系列に同期化して理想信号
を生成することを特徴とする直交変調信号評価装置。 - 【請求項９】 請求項６記載の直交変調信号評価装置に
おいて、上記理想信号を送信側からデジタルデータとし
て得ることを特徴とする直交変調信号評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12392399A JP4173247B2 (ja) | 1999-04-30 | 1999-04-30 | 直交変調信号評価方法及びこの評価方法を用いた直交変調信号評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12392399A JP4173247B2 (ja) | 1999-04-30 | 1999-04-30 | 直交変調信号評価方法及びこの評価方法を用いた直交変調信号評価装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000316031A true JP2000316031A (ja) | 2000-11-14 |
| JP4173247B2 JP4173247B2 (ja) | 2008-10-29 |
Family
ID=14872697
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12392399A Expired - Fee Related JP4173247B2 (ja) | 1999-04-30 | 1999-04-30 | 直交変調信号評価方法及びこの評価方法を用いた直交変調信号評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4173247B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003101061A1 (fr) | 2002-05-24 | 2003-12-04 | Anritsu Corporation | Procede de detection d'erreur de quadrature de porteuse de modulateur en quadrature et dispositif de modulation en quadrature |
| WO2009041671A1 (ja) * | 2007-09-27 | 2009-04-02 | Osaka Prefecture University Public Corporation | Ｃｆｏおよびｉ／ｑインバランスの補正係数の算出方法とそれを用いた補正方法とパイロット信号の送信方法 |
| DE112008001573T5 (de) | 2007-06-11 | 2010-05-06 | Advantest Corporation | Messgerät und Programm |
-
1999
- 1999-04-30 JP JP12392399A patent/JP4173247B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003101061A1 (fr) | 2002-05-24 | 2003-12-04 | Anritsu Corporation | Procede de detection d'erreur de quadrature de porteuse de modulateur en quadrature et dispositif de modulation en quadrature |
| US7242728B2 (en) | 2002-05-24 | 2007-07-10 | Anritsu Corporation | Quadrature modulator carrier quadrature error detection method and quadrature modulation device |
| EP1509015A4 (en) * | 2002-05-24 | 2010-04-28 | Anritsu Corp | QUADRATURE MODULATOR SUPPORT QUADRATURE ERROR DETECTION PROCEDURE AND QUADRATURE MODULATION DEVICE |
| DE112008001573T5 (de) | 2007-06-11 | 2010-05-06 | Advantest Corporation | Messgerät und Programm |
| US8165836B2 (en) | 2007-06-11 | 2012-04-24 | Advantest Corporation | Measurement apparatus and computer readable medium storing program for measuring error of a quadrature demodulator or quadrature modulator |
| WO2009041671A1 (ja) * | 2007-09-27 | 2009-04-02 | Osaka Prefecture University Public Corporation | Ｃｆｏおよびｉ／ｑインバランスの補正係数の算出方法とそれを用いた補正方法とパイロット信号の送信方法 |
| JP5344701B2 (ja) * | 2007-09-27 | 2013-11-20 | 公立大学法人大阪府立大学 | Ｃｆｏおよびｉ／ｑインバランスの補正係数の算出方法とそれを用いた補正方法とパイロット信号の送信方法 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4173247B2 (ja) | 2008-10-29 |
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