KR100847801B1 - Ｉｑ 불일치 측정 장치 및 방법 - Google Patents

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이승욱
이정우
박준배
이경호
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Abstract

본 발명의 IQ 불일치 측정 장치 및 방법에 관한 발명이다.
본 발명은 IQ 상향 변환 믹서에서 발생하는 송신 IQ 불일치 및 IQ 하향 변환 믹서에서 발생하는 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정 방법에 있어서, (a) 상기 수신 IQ 불일치 및 상기 송신 IQ 불일치의 합에 해당하는 제1 IQ 불일치를 측정하는 단계; (b) 상기 수신 IQ 불일치 및 상기 송신 IQ 불일치의 차에 해당하는 제2 IQ 불일치를 측정하는 단계; 및 (c) 상기 제1 IQ 불일치 및 상기 제2 IQ 불일치로부터 상기 송신 IQ 불일치 및 상기 수신 IQ 불일치를 구하는 단계를 구비하는 IQ 불일치 측정 방법을 제공한다.

Description

ＩＱ 불일치 측정 장치 및 방법{apparatus and method for measuring IQ mismatch}
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 의한 송수신 회로를 나타내는 도면이다.
도 2는 도 1의 회전부(220)의 일례를 나타내는 도면이다.
도 3은 도 1의 송신 IQ 불일치 보상부(230)의 일례를 나타내는 도면이다.
도 4는 도 1의 역회전부(250)의 일례를 나타내는 도면이다.
도 5는 DC 측정부(260)로서 누산기가 사용된 일례를 나타내는 도면이다.
도 6은 도 1의 LO 신호 제어부(160)의 예들을 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 제1 실시예에 의한 IQ 불일치 측정 방법을 나타내는 도면이다.
도 8은 도 7의 S11 단계(제1 테스트 기간)에서, 제1 IQ 불일치를 측정하는 원리를 설명하기 위한 도면이다.
도 9는 도 7의 S12 단계(제2 테스트 기간)에서, 제2 IQ 불일치를 측정하는 원리를 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 본 발명의 제2 실시예에 의한 송수신 회로를 나타내는 도면이다.
도 11은 본 발명의 제2 실시예에 의한 IQ 불일치 측정 방법을 나타내는 도면이다.
도 12는 본 발명의 제3 실시예에 의한 송수신 회로를 나타내는 도면이다.
도 13은 도 12의 LO 신호 발생부(160A)의 예들을 나타내는 도면이다.
도 14는 본 발명의 제4 실시예에 의한 송수신 회로를 나타내는 도면이다.
도 15은 도 14의 LO 신호 발생부(160B)의 예들을 나타내는 도면이다.
도 16는 본 발명의 제5 실시예에 의한 송수신 회로를 나타내는 도면이다.
도 17은 도 16의 LO 신호 발생부(160C)의 예들을 나타내는 도면이다.
도 18은 본 발명의 제6 실시예에 의한 송수신 회로를 나타내는 도면이다.
본 발명의 IQ 불일치 측정 장치 및 방법에 관한 발명이다.
IQ 믹서(mixer)를 사용하여 기저 대역 신호(base band signal, 이하 간략히 BB 신호라 함) 또는 중간 주파수 신호(intermediate frequency signal, 이하 간략히 IF 신호라 함)를 무선 주파수 신호(radio frequency signal, 이하 간략히 RF 신호라 함)로 변환하거나, RF 신호를 BB 신호 또는 IF 신호로 변환하는 기술은 무선 통신 분야에서 널리 사용되고 있다.
그러나, 실제의 IQ 믹서에는 IQ 불일치(IQ imbalance)가 발생한다. IQ 불일치는 국부 발진기에서 IQ 믹서에 전달되는 동위상 신호(in-phase signal) 및 직각 신호(quadrature signal)의 크기가 동일하지 아니하므로 발생하는 이득 불일치(gain imbalance) 및 동위상 신호 및 직각 신호가 상호 90°의 위상차를 가지지 못하므로 발생하는 위상 불일치(phase imbalance)를 포함하는 개념이다. 이러한 IQ 불일치가 발생하는 경우, IQ 믹서의 출력에는 원하지 않는 잡음 성분이 존재하여 신호대 잡음 비(signal-to-noise ratio)를 저하시킨다는 문제점이 있다.
IQ 불일치를 보상하기 위한 종래 기술로서, "shahriar Emami"가 출원한 미국 특허 제5,949,821호(발명의 명칭 : Method and apparatus for correcting phase and gain imbalances between in-phase(I) and quadrature(Q) components of a received signal based on a determination of peak amplitudes) 및 "Johua L. Koslov"가 출원한 미국 특허 제6,044,112호(발명의 명칭 : Method and apparatus for correcting amplitude and phase imbalances in demodulators)에 개시된 기술이 있다. 이들 특허에는 무선을 통하여 전달된 수신 신호를 이용하여 IQ 불일치를 측정하는 방법이 개시되어 있다. 그러나, 이 특허에 개시된 기술은 수신 신호를 이용하여 IQ 불일치를 측정하므로, IQ 불일치가 보상되기 이전에 수신되는 신호의 IQ 불일치는 보상될 수 없으며, 수신 신호에 포함된 무선 채널의 잡음에 의하여 측정된 IQ 불일치의 정확도가 떨어진다는 문제점이 있다.
IQ 불일치를 보상하기 위한 다른 종래 기술로서, "Tod Paulus"가 출원한 미국 특허 제7,151,917호(발명의 명칭 : Apparatus and method for deriving a digital image correction factor in a receiver)에 개시된 기술이 있다. 이 특허 에는 테스트 신호를 하향 IQ 믹서에 입력하여 수신 IQ 불일치를 측정하는 방법이 개시되어 있다. 그러나, 이 특허에 개시된 기술은 별도의 테스트 신호를 필요로 할 뿐만 아니라, 송신 IQ 불일치를 측정하는 방법이 개시되지 아니한다는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 상기한 문제점들을 해결하기 위한 것으로서, 수신 IQ 불일치뿐만 아니라 송신 IQ 불일치도 측정할 수 있는 IQ 불일치 측정 장치 및 방법을 제공하는 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는 무선을 통하여 전달된 신호를 이용하여 IQ 불일치를 측정하지 아니하고, IQ 상향 변환 믹서의 출력 신호를 IQ 하향 믹서에 입력하여, IQ 불일치를 측정함으로써, 측정 과정을 단순화할 수 있으며, 무선에서 발생하는 잡음의 영향을 받지 아니하는 IQ 불일치 측정 장치 및 방법을 제공하는 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 또 다른 기술적 과제는 LO 신호 제어부를 추가함으로써, 송신 IQ 불일치 및 수신 IQ 불일치의 측정을 가능하게 한 IQ 불일치 측정 장치 및 방법을 제공하는 것이다.
상술한 목적을 달성하기 위한 기술적 수단으로서, 본 발명의 제 1 측면은 IQ 상향 변환 믹서에서 발생하는 송신 IQ 불일치 및 IQ 하향 변환 믹서에서 발생하는 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정 방법에 있어서, (a) [상기 수신 IQ 불일치 + 상기 송신 IQ 불일치]에 해당하는 제1 IQ 불일치를 측정하는 단계; (b) [상기 수신 IQ 불일치 - 상기 송신 IQ 불일치]에 해당하는 제2 IQ 불일치를 측정하는 단계; 및 (c) 상기 제1 IQ 불일치 및 상기 제2 IQ 불일치로부터 상기 송신 IQ 불일치 및 상기 수신 IQ 불일치를 구하는 단계를 구비하는 IQ 불일치 측정 방법을 제공한다.
본 발명의 제2 측면은 IQ 상향 변환 믹서에서 발생하는 송신 IQ 불일치 및 IQ 하향 변환 믹서에서 발생하는 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정 방법에 있어서, (a) [상기 송신 IQ 불일치 + 상기 수신 IQ 불일치]에 해당하는 제1 IQ 불일치를 측정하는 단계; (b) [상기 송신 IQ 불일치 - 상기 수신 IQ 불일치]에 해당하는 제2 IQ 불일치를 측정하는 단계; 및 (c) 상기 제1 IQ 불일치 및 상기 제2 IQ 불일치로부터 상기 송신 IQ 불일치 및 상기 수신 IQ 불일치를 구하는 단계를 구비하는 IQ 불일치 측정 방법을 제공한다.
본 발명의 제3 측면은 제1 IQ 신호와 제1 LO 신호를 곱한 제2 IQ 신호를 출력하는 IQ 상향 변환 믹서; 상기 제2 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호의 합과 제2 LO 신호-상기 제1 LO 신호와 상기 제2 LO 신호는 동일한 각주파수를 가짐-를 곱한 제3 IQ 신호를 출력하는 IQ 하향 변환 믹서; 제어 신호에 따라, 상기 제1 LO 신호의 동위상 신호 및 직각 신호 중 어느 한 신호의 부호를 변경하고, 상기 제1 LO 신호의 상기 동위상 신호 및 상기 직각 신호를 서로 교체하는 LO 신호 제어 부; 및 각주파수를 가지는 상기 제1 IQ 신호를 상기 IQ 상향 변환 믹서에 제공하며, 상기 LO 신호 제어부에 상기 제어 신호를 인가하고, 상기 제3 IQ 신호로부터 송신 IQ 불일치 및 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정부를 구비하는 IQ 불일치 측정 장치를 제공한다.
본 발명의 제4 측면은 제1 IQ 신호와 제1 LO 신호를 곱한 제2 IQ 신호를 출력하는 IQ 상향 변환 믹서; 상기 제2 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호의 합과 제2 LO 신호-상기 제1 LO 신호와 상기 제2 LO 신호는 동일한 각주파수를 가짐-를 곱한 제3 IQ 신호를 출력하는 IQ 하향 변환 믹서; 제어 신호에 따라, 상기 제1 LO 신호의 동위상 신호 및 직각 신호 중 어느 한 신호의 부호를 변경하고, 상기 제2 LO 신호의 동위상 신호 및 직각 신호를 서로 교체하는 LO 신호 제어부; 및 각주파수를 가지는 상기 제1 IQ 신호를 상기 IQ 상향 변환 믹서에 제공하며, 상기 LO 신호 제어부에 상기 제어 신호를 인가하고, 상기 제3 IQ 신호로부터 송신 IQ 불일치 및 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정부를 구비하는 IQ 불일치 측정 장치를 제공한다.
본 발명의 제5 측면은 제1 IQ 신호와 제1 LO 신호를 곱한 제2 IQ 신호를 출력하는 IQ 상향 변환 믹서; 상기 제2 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호의 합과 제2 LO 신호-상기 제1 LO 신호와 상기 제2 LO 신호는 동일한 각주파수를 가짐-를 곱한 제3 IQ 신호를 출력하는 IQ 하향 변환 믹서; 제어 신호에 따라, 상기 제1 LO 신호의 동위상 신호 및 직각 신호 중 어느 한 신호의 부호를 변경하는 LO 신호 제어부; 및 각주파수를 가지는 상기 제1 IQ 신호를 상기 IQ 상향 변환 믹서에 제공 하며, 상기 LO 신호 제어부에 상기 제어 신호를 인가하고, 상기 제3 IQ 신호로부터 송신 IQ 불일치 및 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정부를 구비하는 IQ 불일치 측정 장치를 제공한다.
본 발명의 제6 측면은 제1 IQ 신호와 제1 LO 신호를 곱한 제2 IQ 신호를 출력하는 IQ 상향 변환 믹서; 상기 제2 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호의 합과 제2 LO 신호-상기 제1 LO 신호와 상기 제2 LO 신호는 동일한 각주파수를 가짐-를 곱한 제3 IQ 신호를 출력하는 IQ 하향 변환 믹서; 제어 신호에 따라, 상기 제2 LO 신호의 동위상 신호 및 직각 신호 중 어느 한 신호의 부호를 변경하고, 상기 제2 LO 신호의 상기 동위상 신호 및 상기 직각 신호를 서로 교체하는 LO 신호 제어부; 및 각주파수를 가지는 상기 제1 IQ 신호를 상기 IQ 상향 변환 믹서에 제공하며, 상기 LO 신호 제어부에 상기 제어 신호를 인가하고, 상기 제3 IQ 신호로부터 송신 IQ 불일치 및 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정부를 구비하는 IQ 불일치 측정 장치를 제공한다.
본 발명의 제7 측면은 제1 IQ 신호와 제1 LO 신호를 곱한 제2 IQ 신호를 출력하는 IQ 상향 변환 믹서; 상기 제2 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호의 합과 제2 LO 신호-상기 제1 LO 신호와 상기 제2 LO 신호는 동일한 각주파수를 가짐-를 곱한 제3 IQ 신호를 출력하는 IQ 하향 변환 믹서; 제어 신호에 따라, 상기 제2 LO 신호의 동위상 신호 및 직각 신호 중 어느 한 신호의 부호를 변경하고, 상기 제1 LO 신호의 동위상 신호 및 직각 신호를 서로 교체하는 LO 신호 제어부; 및 각주파수를 가지는 상기 제1 IQ 신호를 상기 IQ 상향 변환 믹서에 제공하며, 상기 LO 신호 제어부에 상기 제어 신호를 인가하고, 상기 제3 IQ 신호로부터 송신 IQ 불일치 및 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정부를 구비하는 IQ 불일치 측정 장치를 제공한다.
본 발명의 제8 측면은 제1 IQ 신호와 제1 LO 신호를 곱한 제2 IQ 신호를 출력하는 IQ 상향 변환 믹서; 상기 제2 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호의 합과 제2 LO 신호-상기 제1 LO 신호와 상기 제2 LO 신호는 동일한 각주파수를 가짐-를 곱한 제3 IQ 신호를 출력하는 IQ 하향 변환 믹서; 제어 신호에 따라, 상기 제2 LO 신호의 동위상 신호 및 직각 신호 중 어느 한 신호의 부호를 변경하는 LO 신호 제어부; 및 각주파수를 가지는 상기 제1 IQ 신호를 상기 IQ 상향 변환 믹서에 제공하며, 상기 LO 신호 제어부에 상기 제어 신호를 인가하고, 상기 제3 IQ 신호로부터 송신 IQ 불일치 및 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정부를 구비하는 IQ 불일치 측정 장치를 제공한다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 그러나, 본 발명의 실시예들은 여러가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 상술하는 실시예들로 인하여 한정되는 식으로 해석되어서는 안된다. 본 발명의 실시예들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해 제공되는 것이다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 의한 송수신 회로를 나타내는 도면이다. 도 1을 참조하면 송수신 회로는 RF 송수신부(RF transceiver, 100) 및 교정부(calibration unit, 200)를 구비한다.
RF 송수신부(100)는 IQ DAC(IQ digital-to-analog converter, 105), IQ 상향 변환 믹서(IQ up-conversion mixer, 110), 전력 증폭기(power amplifier, 115), 저잡음 증폭기(low noise amplifier, 120), 피드백 스위치(125), IQ 하향 변환 믹서(IQ down-conversion mixer, 130), IQ 필터(140), IQ ADC(IQ analog-to-digital converter, 145), 국부 발진기(local oscillator, 150) 및 LO 신호 제어부(local oscillator signal controller, 160)를 구비한다.
IQ DAC(105)는 교정부(200)에서 출력되는 디지털 IQ 신호(BI, BQ)를 아날로그 IQ 신호로 변환한다. IQ DAC(105)는 2개의 DAC를 구비하며, 그 중 하나는 I 채널용 DAC이며, 나머지 하나는 Q 채널용 DAC이다. 본 명세서에서는 이와 같이 I 채널용 DAC와 Q 채널용 DAC를 구비한 회로를 IQ DAC(105)라 한다. 같은 방식으로, 본 명세서에서는 I 채널용 상향 변환 믹서와 Q 채널용 상향 변환 믹서를 구비한 회로를 IQ 상향 변환 믹서(110)라 하며, I 채널용 하향 변환 믹서와 Q 채널용 하향 변환 믹서를 구비한 회로를 IQ 하향 변환 믹서(130)라 하며, I 채널용 필터와 Q 채널용 필터를 구비한 회로를 IQ 필터(140)라 하며, I 채널용 ADC와 Q 채널용 ADC를 구비한 회로를 IQ ADC(145)라 한다.
IQ 상향 변환 믹서(110)는 IQ DAC(105)에서 전달되는 IQ 신호(CI, CQ)를 RF 대역의 IQ 신호(DI, DQ)로 상향 변환하는 기능을 수행한다. 이를 위하여 IQ 상향 변환 믹서(110)는 IQ DAC(105)에서 출력되는 I 채널 신호(CI) 및 Q 채널 신호(CQ) 를 각각 LO 신호 제어부(160)에서 출력되는 동위상 신호(I`) 및 직각 신호(Q`)와 곱한다.
전력 증폭기(115)는 IQ 상향 변환 믹서(110)의 IQ 출력의 합(DI+DQ)에 해당하는 송신 RF 신호를 전력 증폭한다. 증폭된 송신 RF는 신호는 일례로 듀플렉서(미도시)를 경유하여 안테나(미도시)로 전달된다.
저잡음 증폭기(120)는 수신 RF 신호를 저잡음 증폭한다. 수신 RF 신호는 일례로 상기 안테나 및 상기 듀플렉서를 경유하여 저잡음 증폭기(120)로 전달된다.
피드백 스위치(125)는 IQ 불일치를 측정하기 위하여, 송신 패쓰(path)와 수신 패쓰 사이의 피드백 루프(feedback loop)를 형성하는 기능을 수행한다. 보다 구체적으로, IQ 불일치를 측정하는 기간에는 송신 RF 신호가 하향 변환 믹서(130)로 피드백되도록 하고, 정상 동작 기간에는 수신 RF 신호만이 하향 변환 믹서(130)로 입력되도록 하는 기능을 수행한다. 도면에는 피드백 패쓰가 전력 증폭기(115)의 입력단과 저잡음 증폭기(120)의 출력단 사이에 형성되어 있으나, 송신 RF 신호가 IQ 하향 변환 믹서(130)로 전달될 수만 있으면 다양한 변형이 가능하다. 일례로, 피드백 패쓰가 전력 증폭기(115)의 출력단과 저잡음 증폭기(120)의 입력단 사이에 형성될 수도 있다. 피드백 스위치(125)는 제어부(210)에서 출력되는 제어신호(test_en)에 의하여 제어된다.
IQ 하향 변환 믹서(130)는 피드백 스위치(125)에서 전달되는 RF 신호를 BB의 신호 또는 IF 신호로 변환하는 기능을 수행한다. 이를 위하여 IQ 하향 변환 믹서(130)는 피드백 스위치(125)에서 전달되는 RF 신호를 동위상 신호(I)와 곱하고, 피드백 스위치(125)에서 전달되는 RF 신호를 직각 신호(Q)와 곱한다.
IQ 필터(140)는 IQ 하향 변환 믹서(130)와 IQ ADC(145) 사이에 위치하며, 저대역 통과 필터(low pass filter) 또는 대역 통과 필터(band pass filter)일 수 있다.
IQ ADC(145)는 IQ 필터(140)에서 출력되는 아날로그 신호(FI, FQ)를 디지털 신호(GI, GQ)로 변환하는 기능을 수행한다.
국부 발진기(150)는 동위상 신호(I) 및 직교 신호(Q)(이하 동위상 신호(I) 및 직교 신호(Q)를 간략히 LO 신호라 함)를 생성한다.
LO 신호 제어부(160)는 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)에 대응하는 LO 신호(I`, Q`)를 IQ 상향 변환 믹서(110)에 전달하되, 제어부(210)에서 전달되는 제어 신호(LO_ctrl)에 따라 IQ 상향 변환 믹서로 전달되는 LO 신호(I`, Q`)의 위상 오차 및 이득 오차의 부호를 변경하는 기능을 수행한다. 일례로, 정상 동작 기간 및 제1 테스트 기간에는 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)를 그대로 IQ 상향 변환 믹서(110)로 전달하고(즉, I`=I, Q`=Q 임), 제2 테스트 기간에는 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q) 중 어느 한 신호의 부호를 바꾸고, 직각 신호와 동위상 신호를 서로 바꾸어 IQ 상향 변환 믹서(110)로 전달할 수 있다(즉, I`=Q, Q`=-I 이거나, I`=-Q, Q`=I 임).
교정부(200)는 IQ 상향 변환 믹서에 공급될 신호를 발생하는 신호 발생부(220, 230) 및 IQ 하향 변환 믹서의 출력으로부터 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정부(210, 240, 250, 260)를 구비할 수 있다. 보다 구체적으로, 교정부(200)는 제어부(controller, 210), 회전부(rotator, 220), 송신 IQ 불일치 보상부(Tx IQ imbalance compensator, 230), 수신 IQ 불일치 보상부(Rx IQ imbalance compensator, 240), 역회전부(derotator, 250) 및 DC 측정부(260)을 구비한다. 교정부(200)로 입력되는 클록 신호와 제1 및 제2 국부 발진기(LO1, LO2)로 입력되는 클록 신호는 동일한 클록 소스로부터 전달되는 클록 신호인 것이 바람직하다. 그렇게 함으로써, 역회전부(250)에서 수행되는 역회전 주파수가 정확히 제어될 수 있다. 교정부(200)는 다양한 방식으로 구현 가능하다. 일례로, 제어부(210), 회전부(220), 송신 IQ 불일치 보상부(230), 수신 IQ 불일치 보상부(240), 역회전부(250) 및 DC 측정부(260)는 각각 별도의 디지털 회로에 의하여 구현될 수도 있다. 다른 예로, 교정부(200)는 DSP(digital signal processor)나 MCU(microcontroller unit)를 사용하여 구현될 수도 있다. 이 경우, 제어부(210), 회전부(220), 송신 IQ 불일치 보상부(230), 수신 IQ 불일치 보상부(240), 역회전부(250) 및 DC 측정부(260) 각각은 DSP 또는 MCU에 의하여 수행되는 연산을 의미할 수도 있다.
제어부(210)는 IQ 불일치가 측정되도록 피드백 스위치(125), LO 신호 제어부(160), 회전부(220), 송신 IQ 불일치 보상부(230), 수신 IQ 불일치 보상부(240), 역회전부(250) 및 DC 측정부(260)를 제어하는 기능을 수행한다. 제어부(210)는 온도 센서(300)로부터 온도에 대응하는 신호(temp)를 입력받아, 온도의 변화가 큰 경우에 IQ 불일치 측정 과정을 다시 수행할 수도 있다.
회전부(220)는 직류 성분인 IQ 신호(test_I, test_Q)를 소정의 주파수만큼 회전시킴으로써, 톤(tone)을 발생시키는 기능을 수행한다. 상기 소정의 주파수는 제어부(210)에서 전달되는 제어 신호(rot_f)에 의하여 결정된다. 정상 동작 기간에는 회전부(220)는 동작하지 아니한다. 즉, 이 기간에는 회전부(220)는 입력 신호(test_I, test_Q)를 회전시키지 아니하여 출력한다. IQ 불일치 측정 기간에는 회전부(220)는 톤을 발생시킨다.
송신 IQ 불일치 보상부(230)는 송신 IQ 불일치를 보상하는 기능을 수행한다. 일례로, 송신 IQ 불일치 보상부(230)는 IQ 불일치를 측정하는 기간에는 동작하지 아니하며(일례로, 회전부(220)에서 전달된 신호를 그대로 출력하며), 정상 동작 기간에만 동작한다. 정상 동작 기간에 안테나를 통하여 송신될 신호는 송신 IQ 불일치 보상부(230), IQ DAC(105) 및 IQ 상향 변환 믹서(110)를 경유하여 전력 증폭기(115)로 전달됨이 바람직하다.
수신 IQ 불일치 보상부(240)는 수신 IQ 불일치를 보상하는 기능을 수행한다. 일례로, 수신 IQ 불일치 보상부(240)는 IQ 불일치를 측정하는 기간에는 동작하지 아니하며(일례로, IQ ADC(145)에서 전달된 신호를 그대로 출력하며), 정상 동작 기간에는 동작한다. 정상 동작 기간에 안테나를 통하여 수신된 신호는 수신 IQ 불일치 보상부(240)을 경유함으로써 수신 IQ 불일치가 보상됨이 바람직하다.
역회전부(250)는 수신 IQ 불일치 보상부(240)에서 출력되는 신호(HI, HQ)를 소정의 주파수만큼 역회전시키는 기능을 수행한다. 정상 동작 기간에는 역회전부(250)는 동작하지 아니한다(즉, 수신 IQ 불일치 보상부(240)로부터 전달된 신호를 회전시키지 아니하여 출력한다.) 회전부(220)에서 생성한 신호의 주파수를 △F 이라고 하면, IQ 불일치 측정 기간에는, 역회전부(250)는 입력되는 IQ 신호(HI, HQ)를 △F만큼 역회전시킨 IQ 신호(IIP, IQP) 및 -△F만큼 역회전시킨 IQ 신호(IIN, IQN)를 출력한다.
DC 측정부(260)는 역회전부(250)에서 출력되는 IQ 신호(IIP, IQP, IIN, IQN)의 DC 성분을 추출하는 기능을 수행한다. DC 측정부(260)는 저대역 통과 필터(low pass filter)를 사용하여 구현될 수도 있으며, 누적기(accumulator)를 사용하여 구현될 수도 있다. 저대역 통과 필터가 사용된 경우에, 각 입력 신호는 저대역 통과 필터를 경유한 후 출력된다. 누적기가 사용된 경우에, 각 입력 신호는 누적기를 경유한 후 출력된다.
도 2는 도 1의 회전부(220)의 일례를 나타내는 도면이다. 도 2를 참조하면, 회전부(220)는 4개의 곱셈기와 1개의 덧셈기 및 1개의 뺄셈기를 구비한다. 회전부(220)는 도면과 같은 구성요소를 구비함으로써, 수학식 1과 같은 연산을 수행한다.
AI = (test_I × cos(△ω×t)) + (test_Q × sin(△ω×t))
AQ = (test_Q × cos(△ω×t)) - (test_I × sin(△ω×t))
상기 수학식에서, △ω은 회전부(220)가 출력하고자 하는 톤의 각주파수를 의미한다. 제어부(210)은 IQ 불일치를 측정하는 기간에는 △ω가 0이 아닌 소정 값(양의 값뿐만 아니라 음의 값일 수도 있음)을 가지도록 제어 신호(rot_f)를 출력한다.
회전부(220)의 기능은 소정 각주파수를 가지는 톤을 발생시키는 것이므로, 회전부(220)의 구성은 도 2에 한정되지 아니한다. 일례로, 회전부(220)는 단순히 cos(△ω×t) 및 -sin(△ω×t)을 출력하도록 구현될 수도 있다.
도 3은 도 1의 송신 IQ 불일치 보상부(230)의 일례를 나타내는 도면이다. 도 3을 참조하면, 송신 IQ 불일치 보상부(230)는 4개의 곱셈기와 2개의 덧셈기를 구비한다. 송신 IQ 불일치 보상부(230)는 도면과 같은 구성요소를 구비함으로써, 수학식 2와 같은 연산을 수행한다.
BI = (AI × (1-dg)) - (AQ × dp)
BQ = (AQ × (1+dg)) - (AI × dp)
상기 수학식에서, dg는 제어부(210)에서 전달되는 제어신호 dg_tx에 대응하는 값으로서 송신 IQ 불일치에 의한 이득 오차(gain error)에 해당하며, dp는 제어부(210)에서 전달되는 제어신호 dp_tx에 대응하는 값으로서 송신 IQ 불일치에 의한 위상 오차(phase error)에 해당한다. 도 3에 표현된 송신 IQ 불일치 보상부(230)의 구성은, IQ 상향 변환 믹서(110)의 IQ 출력 신호(DI, DQ)가 수학식 3과 같다고 가정한 경우에, 도출된 보상부의 구성의 일례를 나타내는 것이다.
DI = CI×(1+dg)×cos(ω×t-dp)
DQ = CQ×(1-dg)×sin(ω×t+dp)
상기 수학식에서 ω은 IQ 상향 변환 믹서(110)로 입력되는 동위상 신호(I`) 및 직교 신호(Q`)의 각주파수를 의미한다.
송신 IQ 불일치 보상부(230)의 구성은 도 3에 한정되지 아니하며, 다양하게 변형될 수 있으며, 그 예들이 수학식 4 및 5에 표현되어 있다.
BI = AI - (AQ × dp)
BQ = (AQ - (AI × dp)) × (1 + 2×dg)
BI = (AI - (AQ × dp)) × (1 - 2×dg)
BQ = AQ - (AI × dp)
수신 IQ 불일치 보상부(240)도 송신 IQ 불일치 보상부(230)와 동일하게 구성될 수 있다. 다만, 수신 IQ 불일치 보상부(240)에서는, dg는 제어부(210)에서 전달되는 제어신호 dg_rx에 대응하는 값으로서 수신 IQ 불일치에 의한 이득 오차에 해당하며, dp는 제어부(210)에서 전달되는 제어신호 dp_rx에 대응하는 값으로서 수신 IQ 불일치에 의한 위상 오차에 해당한다는 차이점이 있다.
도 4는 도 1의 역회전부(250)의 일례를 나타내는 도면이다. 도 4를 참조하면, 역회전부(250)는 8개의 곱셈기와 2개의 덧셈기 및 2개의 뺄셈기를 구비한다. 역회전부(250)는 도면과 같은 구성요소를 구비함으로써, 수학식 6과 같은 연산을 수행한다.
IIP = (HI × cos(-△ω×t)) + (HQ × sin(-△ω×t))
IQP = (HQ × cos(-△ω×t)) - (HI × sin(-△ω×t))
IIN = (HI × cos(△ω×t)) + (HQ × sin(△ω×t))
IQN = (HQ × cos(△ω×t)) - (HI × sin(△ω×t))
제어부(210)는 IQ 불일치를 측정하는 기간에 △ω가 회전부(220)에서 생성된 톤의 각주파수가 되도록 제어 신호(drt_f)를 출력한다.
따라서, 입력 신호(HI, HQ)를 △ω만큼 역회전시킴으로써 얻은 IIP 및 IQP는 IQ 불일치가 없다면 얻어지는 신호(이하 간략히 원하는 신호(wanted signal)이라 함)에 해당하며, 입력 신호(HI, HQ)를 -△ω만큼 역회전시킴으로써 얻은 IIN 및 IQN는 IQ 불일치에 의하여 발생된 이미지 신호(이하 간략히 이미지 신호(image signal)이라 함)에 해당한다.
물론, IIP 및 IQP는 원하는 신호 이외의 신호(2×△ω의 각주파수를 가짐)도 포함하고 있고, IIN 및 IQN는 이미지 신호 이외의 신호(2×△ω의 각주파수를 가짐)도 포함하고 있으므로, 이러한 고주파수의 신호는 역회전부(250)의 출력을 입력받는 DC 측정부(260)에 의하여 제거되어야 한다.
역회전부(250)는 다양하게 변형되어 구현될 수 있다. 일례로, 다중화를 통하여 곱셈기의 개수와 덧셈기의 개수를 줄일 수 있다. 보다 구체적으로 도면에 표현된 바와 같이 2개의 회전부를 사용하여 역회전부(260)를 구현하지 아니하고, 1개의 회전부만을 사용하여 역회전부(260)를 구현할 수도 있다. 이 경우, 제1 기간에는 입력 신호(HI, HQ)를 △ω만큼 역회전하여 얻은 IIP, IQP를 출력하고, 제2 기간에는 입력 신호(HI, HQ)를 -△ω만큼 역회전하여 얻은 IIN, IQN를 출력한다.
도 5는 도 1의 DC 측정부(260)로서 누산기가 사용된 일례를 나타내는 도면이다. 도 5를 참조하면, DC 측정부(260)는 4개의 누산기(ACC1, ACC2, ACC3, ACC4)를 구비한다. 각 누산기(ACC1, ACC2, ACC3 또는 ACC4)는 입력 신호(IIP, IQP, IIN 또는 IQN)를 소정 기간 누산한 결과를 출력한다. 이를 위하여 각 누산기(ACC1, ACC2, ACC3 또는 ACC4)는 덧셈기(ADD), 스위치(SW) 및 래치(LT)를 구비할 수 있다.
DC 측정부(260)는 역회전부(260)와 유사하게 다중화를 통하여 사용되는 누산기의 개수를 반으로 줄일 수 있다.
도 6은 도 1의 LO 신호 제어부(160)의 예들을 나타내는 도면이다.
도 6의 (a)는 정상 동작 기간 및 제1 테스트 기간에는 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)를 그대로 IQ 상향 변환 믹서(110)로 전달하고(즉, I`=I, Q`=Q 임. LO 신호 제어부(160)가 실선과 같이 연결됨.), 제2 테스트 기간에는 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q) 중 동위상 신호(I)의 부호를 바꾸고, 직각 신호와 동위상 신호를 서로 바꾸어 IQ 상향 변환 믹서(110)로 전달하는(즉, I`=Q, Q`=-I 임. LO 신호 제어부(160)가 점선과 같이 연결됨.) 경우의 예이다. 도면에서, I+ 및 I-는 차동 신호(differential signal)인 동위상 신호(I)를 구성하는 2개의 신호를 의미하고, Q+ 및 Q-는 차동 신호인 직각 신호(Q)를 구성하는 2개의 신호를 의미하고, I`+ 및 I`-는 차동 신호인 동위상 신호(I`)를 구성하는 2개의 신호를 의미하고, Q`+ 및 Q`-는 차동 신호인 직각 신호(Q`)를 구성하는 2개의 신호를 의미한다.
제1 테스트 기간에 IQ 상향 변환 믹서(110)에 입력되는 IQ 신호(I`, Q`)는 수학식 7과 같이 표현될 수 있으며, 제2 테스트 기간에 IQ 상향 변환 믹서(110)에 입력되는 IQ 신호(I`, Q`)는 수학식 8과 같이 표현될 수 있다.
I` = I = (1 + dg)×cos(ω×t - dp)
Q` = Q = (1 - dg)×sin(ω×t + dp)
I` = Q = (1 - dg)×sin(ω×t + dp) = (1 - dg)×cos(ω×t - 2/π + dp)
Q` = -I = -(1 + dg)×cos(ω×t - dp) = (1 + dg)×sin(ω×t - 2/π - dp)
상기 수학식 7 및 8에서, 제1 테스트 기간의 송신 IQ 불일치의 위상 오차 및 이득 오차는 각각 제2 테스트 기간의 송신 IQ 불일치의 위상 오차 및 이득 오차와 서로 부호를 달리함을 알 수 있다.
도 6의 (b)는 정상 동작 기간 및 제1 테스트 기간에는 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)를 그대로 IQ 상향 변환 믹서(110)로 전달하고(즉, I`=I, Q`=Q 임. LO 신호 제어부(160)가 실선과 같이 연결됨.), 제2 테스트 기간에는 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q) 중 직각 신호(Q)의 부호를 바꾸고, 직각 신호와 동위상 신호를 서로 바꾸어 IQ 상향 변환 믹서(110)로 전달하는(즉, I`=-Q, Q`=I 임. LO 신호 제어부(160)가 점선과 같이 연결됨.) 경우의 예이다.
제2 테스트 기간에 IQ 상향 변환 믹서(110)에 입력되는 IQ 신호(I`, Q`)는 수학식 9와 같이 표현될 수 있으며, 제2 테스트 기간에 IQ 상향 변환 믹서(110)에 입력되는 IQ 신호(I`, Q`)는 수학식 10과 같이 표현될 수 있다.
I` = I = (1 + dg)×cos(ω×t - dp)
Q` = Q = (1 - dg)×sin(ω×t + dp)
I` = -Q = -(1 - dg)×sin(ω×t + dp) = (1 - dg)×cos(ω×t + 2/π + dp)
Q` = I = (1 + dg)×cos(ω×t - dp) = (1 + dg)×sin(ω×t + 2/π - dp)
상기 수학식 9 및 10에서, 제1 테스트 기간의 송신 IQ 불일치의 위상 오차 및 이득 오차는 각각 제2 테스트 기간의 송신 IQ 불일치의 위상 오차 및 이득 오차와 서로 부호를 달리함을 알 수 있다.
도 7은 본 발명의 제1 실시예에 의한 IQ 불일치 측정 방법을 나타내는 도면이다. 도 7을 참조하면, IQ 불일치 측정 방법은 [수신 IQ 불일치 + 송신 IQ 불일치]에 해당하는 제1 IQ 불일치를 측정하는 단계(S11), [수신 IQ 불일치 - 송신 IQ 불일치]에 해당하는 제2 IQ 불일치를 측정하는 단계(S12) 및 제1 IQ 불일치 및 제2 IQ 불일치로부터 송신 IQ 불일치 및 수신 IQ 불일치를 구하는 단계(S13)를 구비한다. S11 단계 및 S12 단계는 서로 순서가 바뀌어도 무방하다.
S11 단계는 제1 테스트 기간에 해당하며, 이 기간에 측정된 제1 IQ 불일치 아래의 수학식 11과 같이 표현될 수 있다.
dg_tr+ = dg_r + dg_t
dp_tr+ = dp_r + dp_t
상기 수학식에서 dg_tr+ 및 dp_tr+는 각각 제1 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 의미하고, dg_t 및 dp_t는 각각 송신 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 의미하고, dg_r 및 dp_r는 각각 수신 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 의미한다.
S12 단계는 제2 테스트 기간에 해당하며, 이 기간에 측정된 제2 IQ 불일치 아래의 수학식 12와 같이 표현될 수 있다.
dg_tr- = dg_r - dg_t
dp_tr- = dp_r - dp_t
S13 단계에서는, S11 단계에서 구한 제1 IQ 불일치(dg_tr+, dp_tr+) 및 S12 단계에서 구한 제2 IQ 불일치(dg_tr-, dp_tr-)로부터 송신 IQ 불일치(dg_t, dp_t) 및 수신 IQ 불일치(dg_r, dp_r)를 수학식 13과 같이 구한다.
dg_t = (dg_tr+ - dg_tr-)/2
dp_t = (dp_tr+ - dp_tr-)/2
dg_r = (dg_tr+ + dg_tr-)/2
dp_r = (dp_tr+ + dp_tr-)/2
도 8은 도 7의 S11 단계(제1 테스트 기간)에서, 제1 IQ 불일치를 측정하는 원리를 설명하기 위한 도면이다. 이하에서는 도 1 내지 6 및 8을 참조하여 IQ 불일치가 어떻게 측정되는지 설명하도록 한다.
제1 IQ 불일치를 측정하기 위해서는, 우선 회전부(220)에서 소정 톤(△F, 본 실시예의 경우 1MHz의 톤)을 발생시키고, 송신 IQ 불일치 보상부(230)가 동작하지 아니하는 상태에서 즉 회전부(220)에서 소정 주파수(△F)만큼 회전이 수행되고, 송신 IQ 불일치 보상부(230)에서 송신 IQ 불일치가 보상되지 아니하도록 제어 신호(rot_f, dp_tx, dg_tx)가 인가되는 상태에서, 직류 성분의 test_I 및 test_Q가 제어부(210)에서 출력된다. 따라서, IQ DAC(105)에는 소정 톤의 IQ 신호(BI, BQ)가 입력된다. 또한, 피드백 패쓰가 형성되도록 피드백 스위치(125)에 제어 신호(test_en)가 인가되고, 국부 발진기(LO)의 출력이 그대로 IQ 상향 변환 믹서(110)에 입력되도록 LO 신호 제어부(160)에 제어 신호(LO_ctrl)가 인가된다. 또한, 수신 IQ 불일치 보상부(240)가 동작하지 아니하도록 수신 IQ 불일치 보상부(240)에 제어 신호(dp_rx, dg_rx)가 인가된다. 역회전부(250)가 입력 IQ 신호(HI, HQ)를 △F만큼 역회전시킨 IQ 신호(IIP, IQP) 및 -△F만큼 역회전시킨 IQ 신호(IIN, IQN)를 출력시키도록 역회전부에 제어 신호(drt_f)가 인가된다.
도 8의 (a)는 IQ 상향 변환 믹서(110)의 출력 신호를 나타내는 도면이다. 도면에서, Fc.tx는 IQ 상향 변환 믹서(110)에 전달되는 LO 신호(I`, Q`)의 주파수를 의미하고, Fc.rx는 IQ 하향 변환 믹서(130)에 전달되는 LO 신호(I, Q)의 주파수를 의미한다. IQ 상향 변환 믹서(110)에 소정 톤의 IQ 신호(CI, CQ)가 입력되므로, IQ 상향 변환 믹서(110)의 IQ 출력 신호(DI, DQ)에는 원하는 신호(WS) 및 IQ 불일치에 의한 이미지 신호(IS)가 존재한다.
도 8의 (b)는 IQ 하향 변환 믹서(130)의 출력 신호를 나타내는 도면이다. 도면에서 알 수 있듯이, △F 즉 1MHz에 원하는 신호(WS)가 위치하며, -△F 즉 -1MHz에 이미지 신호(IS)가 위치한다. 상기 이미지 신호(IS)는 송신 IQ 불일치에 의한 이미지 신호(IStx, IQ 상향 변환 믹서(110)에서 발생된 이미지 신호) 및 수신 IQ 불일치에 의한 이미지 신호(ISrx, IQ 하향 변환 믹서(130)에서 발생된 이미지 신호)의 합 즉 송수신 IQ 불일치에 의한 이미지 신호에 해당한다. 따라서, IQ 하향 변환 믹서(130)의 출력 신호를 △F 즉 1MHz만큼 역회전하고 DC 신호만을 추출하면 원하는 신호(WS)를 구할 수 있고, IQ 하향 변환 믹서(130)의 출력 신호를 -△F 즉 -1MHz만큼 역회전하고 DC 신호만을 추출하면 이미지 신호(IS)를 구할 수 있다. 역회전 및 DC 신호의 추출은 역회전부(250) 및 DC 측정부(260)에 의하여 각각 수행된다.
도 8의 (c)는 역회전부(250) 및 DC 측정부(260)의 필터 특성을 나타내는 도면이다. 도면에서 실선으로 표현된 △F 즉 +1MHz만큼 역회전하는 경우의 필터 특성 은 검토하면, 원하는 신호(WS)는 통과시키나, 이미지 신호(IS)는 통과시키지 아니한다. 또한, 도면에서 점선으로 표현된 -△F 즉 -1MHz만큼 역회전하는 경우의 필터 특성은 검토하면, 이미지 신호(IS)는 통과시키나, 원하는 신호(WS)는 통과시키지 아니한다. 즉, 역회전부(250) 및 DC 측정부(260)을 사용하는 경우에, 별도의 매우 샤프한(sharp) 아날로그 필터 없이도 원하는 신호(WS) 및 이미지 신호(IS)를 선별할 수 있다.
도 8의 (d)는 DC 측정부(260)에서 출력되는 벡터들 즉 원하는 신호(WS)의 벡터 [IIP, IQP] 및 이미지 신호(IS)의 벡터 [IIN, IQN]를 도시한 도면이다. 이미지 신호(IS)의 벡터 [IIN, IQN]를 IIP 및 IQP로 표현하면 수학식 14와 같다.
[IIN, IQN] = (dg_r + dg_t)[IIP, -IQP] + (dp_r + dp_t)[IQP, IIP]
상기 수학식에서 알 수 있듯이, 이미지 신호(IS)의 벡터는 상호 직교하는 2개의 벡터 즉 (dg_r + dg_t)[IIP, -IQP] 및 (dp_r + dp_t)[IQP, IIP]의 합에 해당한다. 따라서, 아래의 수학식 15와 같은 벡터 연산을 통하여 제1 IQ 불일치의 이득 오차(dg_tr+) 및 위상 오차(dp_tr+)를 간단히 구할 수 있다.
dg_tr+ = (dg_r + dg_t) = ([IIN, IQN]·[IIP, -IQP])/(IIP2 + IQP2)
dp_tr+ = (dp_r + dp_t) = ([IIN, IQN]·[IQP, IIP])/(IIP2 + IQP2)
상기 수학식에서 "·"은 내적을 의미한다. 상기 수학식 15에 표현된 연산은 제어부(210)에 의하여 수행될 수 있다.
도 9는 도 7의 S12 단계(제2 테스트 기간)에서, 제2 IQ 불일치를 측정하는 원리를 설명하기 위한 도면이다. 이하에서는 도 1 내지 6 및 9를 참조하여 IQ 불일치가 어떻게 측정되는지 설명하도록 한다.
제2 IQ 불일치의 측정을 위한 조건은 제1 IQ 불일치의 측정을 위한 조건과 동일하다. 다만, 제1 테스트 기간에는 LO 신호 제어부(160)가 입력되는 LO 신호(I, Q)를 그대로 출력하도록 제어 신호(LO_ctrl)가 인가되는 반면에, 제2 테스트 기간에는 LO 신호 제어부(160)에 입력되는 LO 신호(I, Q)의 이득 오차 및 위상 오차와 LO 신호 제어부(160)에서 출력되는 LO 신호(I`, Q`)의 이득 오차 및 위상 오차가 각각 서로 부호를 달리하도록 제어 신호(LO_ctrl)가 인가된다.
도 9의 (a) 내지 (d) 및 이에 대한 설명은 도 8의 (a) 내지 (d) 및 이에 대한 설명과 크게 다르지 아니하다. 다만 제2 테스트 기간에서는 수학식 14 및 15가 수학식 16 및 17과 같이 수정되어야 한다.
[IIN, IQN] = (dg_r - dg_t)[IIP, -IQP] + (dp_r - dp_t)[IQP, IIP]
dg_tr- = (dg_r - dg_t) = ([IIN, IQN]·[IIP, -IQP])/(IIP2 + IQP2)
dp_tr- = (dp_r - dp_t) = ([IIN, IQN]·[IQP, IIP])/(IIP2 + IQP2)
S11 단계 및 S12 단계에서 구한 dg_tr+, dp_tr+, dg_tr-, dp_tr-로부터 송신 IQ 불일치(dg_t, dp_t) 및 수신 IQ 불일치(dg_r, dp_r)를 상술한 수학식 13과 같이 구할 수 있다.
도 10은 본 발명의 제2 실시예에 의한 송수신 회로를 나타내는 도면이다. 본 발명의 제2 실시예에 의한 송수신 회로는 LO 신호 보상부(160)가 국부 발진기(150) 및 IQ 하향 변환 믹서(130) 사이에 연결된 점 및 송신 IQ 불일치와 수신 IQ 불일치가 이후에 설명될 수학식 20과 같은 연산을 통하여 구해진다는 점을 제외하고는 본 발명의 제1 실시예에 의한 송수신 회로와 동일하다.
도 11은 본 발명의 제2 실시예에 의한 IQ 불일치 측정 방법을 나타내는 도면이다. 도 10 및 11을 참조하면, IQ 불일치 측정 방법은 [송신 IQ 불일치 + 수신 IQ 불일치]에 해당하는 제1 IQ 불일치를 측정하는 단계(S21), [송신 IQ 불일치 - 수신 IQ 불일치]에 해당하는 제2 IQ 불일치를 측정하는 단계(S22) 및 제1 IQ 불일치 및 제2 IQ 불일치로부터 송신 IQ 불일치 및 수신 IQ 불일치를 구하는 단계(S23)를 구비한다. S21 단계 및 S22 단계는 서로 순서가 바뀌어도 무방하다.
S21 단계는 제1 테스트 기간에 해당하며, 이 기간에 측정된 제1 IQ 불일치 아래의 수학식 18과 같이 표현될 수 있다.
dg_tr+ = dg_t + dg_r
dp_tr+ = dp_t + dp_r
S22 단계는 제2 테스트 기간에 해당하며, 이 기간에 측정된 제2 IQ 불일치 아래의 수학식 19와 같이 표현될 수 있다.
dg_tr- = dg_t - dg_r
dp_tr- = dp_t - dp_r
S23 단계에서는, S21 단계에서 구한 제1 IQ 불일치(dg_tr+, dp_tr+) 및 S22 단계에서 구한 제2 IQ 불일치(dg_tr-, dp_tr-)로부터 송신 IQ 불일치(dg_t, dp_t) 및 수신 IQ 불일치(dg_r, dp_r)를 수학식 20과 같이 구한다.
dg_t = (dg_tr+ + dg_tr-)/2
dp_t = (dp_tr+ + dp_tr-)/2
dg_r = (dg_tr+ - dg_tr-)/2
dp_r = (dp_tr+ - dp_tr-)/2
도 12는 본 발명의 제3 실시예에 의한 송수신 회로를 나타내는 도면이고, 도 13은 도 12의 LO 신호 발생부(160A)의 예들을 나타내는 도면이다.
본 발명의 제3 실시예에 의한 송수신 회로는 LO 신호 제어부(160A)를 제외하고는 본 발명의 제1 실시예에 의한 송수신 회로와 동일하다.
도 12에서, LO 신호 제어부(160A)는 제어부(210)에서 전달되는 제어 신호(LO_ctrl)에 따라, IQ 상향 변환 믹서(110)로 전달되는 제1 LO 신호(I1, Q1)의 동위상 신호(I1) 및 직각 신호(Q1) 중 어느 한 신호의 부호를 변경하고, IQ 하향 변환 믹서(130)로 전달되는 제2 LO 신호(I2, Q2)의 동위상 신호(I2) 및 직각 신호(Q2)를 서로 교체한다.
도 13의 (a)에는 도 12의 LO 신호 제어부(160A)의 일례가 표현되어 있다. 도 13의 (a)를 참조하면, 정상 동작 기간 및 [수신 IQ 불일치 + 송신 IQ 불일치]를 측정하는 제1 테스트 기간(S11)에는 LO 신호 제어부(160A)가 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)를 그대로 IQ 상향 변환 믹서(110) 및 IQ 하향 변환 믹서(130)로 전달한다(즉, I1=I, Q1=Q, I2=I, Q2=Q 임. LO 신호 제어부(160A)가 실선과 같이 연결됨.). [수신 IQ 불일치 - 송신 IQ 불일치]를 측정하는 제2 테스트 기간(S12)에는 LO 신호 제어부(160A)가 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)의 동위상 신호(I)의 부호가 바뀐 신호를 IQ 상향 변환 믹서(110)로 전달하고, 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)의 동위상 신호(I) 및 직각 신호(Q)가 서로 교체된 신호를 IQ 하향 변환 믹서(130)로 전달한다(즉, I1=-I, Q1=Q, I2=Q, Q2=I 임. LO 신호 제어부(160A)가 점선과 같이 연결됨.).
도 13의 (b)에는 도 12의 LO 신호 제어부(160A)의 다른 예가 표현되어 있다. 도 13의 (b)를 참조하면, 정상 동작 기간 및 [수신 IQ 불일치 + 송신 IQ 불일치]를 측정하는 제1 테스트 기간(S11)에는 LO 신호 제어부(160A)가 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)를 그대로 IQ 상향 변환 믹서(110) 및 IQ 하향 변환 믹서(130)로 전달한다(즉, I1=I, Q1=Q, I2=I, Q2=Q 임. LO 신호 제어부(160A)가 실선과 같이 연결됨.). [수신 IQ 불일치 - 송신 IQ 불일치]를 측정하는 제2 테스트 기간(S12)에는 LO 신호 제어부(160A)가 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)의 직각 신호(Q)의 부호가 바뀐 신호를 IQ 상향 변환 믹서(110)로 전달하고, 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)의 동위상 신호(I) 및 직각 신호(Q)가 서로 교체된 신호를 IQ 하향 변환 믹서(130)로 전달한다(즉, I1=I, Q1=-Q, I2=Q, Q2=I 임. LO 신호 제어부(160A)가 점선과 같이 연결됨.).
IQ 불일치 측정에 있어서, 제1 LO 신호(I1, Q1)의 동위상 신호(I1) 및 직각 신호(Q1)를 서로 교체하는 것은 제2 LO 신호(I2, Q2)의 동위상 신호(I2) 및 직각 신호(Q2)를 서로 교체하는 것과 그 효과가 동일하다. 따라서, 본 발명의 제3 실시예에 의한 송수신 회로를 사용한 IQ 불일치 측정 방법은 제1 LO 신호(I1, Q1)의 동위상 신호(I1) 및 직각 신호(Q1)를 서로 교체하는 것을 대신하여 제2 LO 신호(I2, Q2)의 동위상 신호(I2) 및 직각 신호(Q2)를 서로 교체한다는 점을 제외하고는 본 발명의 제1 실시예에 의한 IQ 불일치 측정 방법과 동일하다.
도 14는 본 발명의 제4 실시예에 의한 송수신 회로를 나타내는 도면이고, 도 15은 도 14의 LO 신호 발생부(160B)의 예들을 나타내는 도면이다.
본 발명의 제4 실시예에 의한 송수신 회로는 LO 신호 제어부(160B)를 제외하고는 본 발명의 제2 실시예에 의한 송수신 회로와 동일하다.
도 14에서, LO 신호 제어부(160B)는 제어부(210)에서 전달되는 제어 신호(LO_ctrl)에 따라, IQ 하향 변환 믹서(130)로 전달되는 제2 LO 신호(I2, Q2)의 동위상 신호(I2) 및 직각 신호(Q2) 중 어느 한 신호의 부호를 변경하고, IQ 상향 변환 믹서(110)로 전달되는 제1 LO 신호(I1, Q1)의 동위상 신호(I1) 및 직각 신호(Q1)를 서로 교체한다.
도 15의 (a)에는 도 14의 LO 신호 제어부(160B)의 일례가 표현되어 있다. 도 15의 (a)를 참조하면, 정상 동작 기간 및 [송신 IQ 불일치 + 수신 IQ 불일치]를 측정하는 제1 테스트 기간(S21)에는 LO 신호 제어부(160B)가 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)를 그대로 IQ 상향 변환 믹서(110) 및 IQ 하향 변환 믹 서(130)로 전달한다(즉, I1=I, Q1=Q, I2=I, Q2=Q 임. LO 신호 제어부(160B)가 실선과 같이 연결됨.). [송신 IQ 불일치 - 수신 IQ 불일치]를 측정하는 제2 테스트 기간(S22)에는 LO 신호 제어부(160B)가 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)의 동위상 신호(I)의 부호가 바뀐 신호를 IQ 하향 변환 믹서(130)로 전달하고, 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)의 동위상 신호(I) 및 직각 신호(Q)가 서로 교체된 신호를 IQ 상향 변환 믹서(110)로 전달한다(즉, I1=Q, Q1=I, I2=-I, Q2=Q임. LO 신호 제어부(160B)가 점선과 같이 연결됨.).
도 15의 (b)에는 도 14의 LO 신호 제어부(160B)의 다른 예가 표현되어 있다. 도 15의 (b)를 참조하면, 정상 동작 기간 및 [송신 IQ 불일치 + 수신 IQ 불일치]를 측정하는 제1 테스트 기간(S21)에는 LO 신호 제어부(160B)가 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)를 그대로 IQ 상향 변환 믹서(110) 및 IQ 하향 변환 믹서(130)로 전달한다(즉, I1=I, Q1=Q, I2=I, Q2=Q 임. LO 신호 제어부(160B)가 실선과 같이 연결됨.). [송신 IQ 불일치 - 수신 IQ 불일치]를 측정하는 제2 테스트 기간(S22)에는 LO 신호 제어부(160B)가 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)의 직각 신호(Q)의 부호가 바뀐 신호를 IQ 하향 변환 믹서(130)로 전달하고, 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)의 동위상 신호(I) 및 직각 신호(Q)가 서로 교체된 신호를 IQ 상향 변환 믹서(110)로 전달한다(즉, I1=Q, Q1=I, I2=I, Q2=-Q임. LO 신호 제어부(160B)가 점선과 같이 연결됨.).
IQ 불일치 측정에 있어서, 제1 LO 신호(I1, Q1)의 동위상 신호(I1) 및 직각 신호(Q1)를 서로 교체하는 것은 제2 LO 신호(I2, Q2)의 동위상 신호(I2) 및 직각 신호(Q2)를 서로 교체하는 것과 그 효과가 동일하다. 따라서, 본 발명의 제4 실시예에 의한 송수신 회로를 사용한 IQ 불일치 측정 방법은 제2 LO 신호(I2, Q2)의 동위상 신호(I2) 및 직각 신호(Q2)를 서로 교체하는 것을 대신하여 제1 LO 신호(I1, Q1)의 동위상 신호(I1) 및 직각 신호(Q1)를 서로 교체한다는 점을 제외하고는 본 발명의 제2 실시예에 의한 IQ 불일치 측정 방법과 동일하다.
도 16는 본 발명의 제5 실시예에 의한 송수신 회로를 나타내는 도면이고, 도 17은 도 16의 LO 신호 발생부(160C)의 예들을 나타내는 도면이다.
본 발명의 제5 실시예에 의한 송수신 회로는 LO 신호 제어부(160C) 및 [수신 IQ 불일치 - 송신 IQ 불일치]를 측정하는 제2 테스트 기간(S12)의 회전부(220)의 동작을 제외하고는 본 발명의 제1 실시예에 의한 송수신 회로와 동일하다.
도 16에서, LO 신호 제어부(160C)는 제어부(210)에서 전달되는 제어 신호(LO_ctrl)에 따라, IQ 상향 변환 믹서(110)로 전달되는 LO 신호(I`, Q`)의 동위상 신호(I`) 및 직각 신호(Q`) 중 어느 한 신호의 부호를 변경한다.
도 17의 (a)에는 도 16의 LO 신호 제어부(160C)의 일례가 표현되어 있다. 도 17의 (a)를 참조하면, 정상 동작 기간 및 [수신 IQ 불일치 + 송신 IQ 불일치]를 측정하는 제1 테스트 기간(S11)에는 LO 신호 제어부(160C)가 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)를 그대로 IQ 상향 변환 믹서(110)로 전달한다(즉, I`=I, Q`=Q임. LO 신호 제어부(160C)가 실선과 같이 연결됨.). [수신 IQ 불일치 - 송신 IQ 불일치]를 측정하는 제2 테스트 기간(S12)에는 LO 신호 제어부(160C)가 국부 발 진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)의 동위상 신호(I)의 부호가 바뀐 신호를 IQ 상향 변환 믹서(110)로 전달한다(즉, I`=-I, Q`=Q임. LO 신호 제어부(160C)가 점선과 같이 연결됨.).
도 17의 (b)에는 도 16의 LO 신호 제어부(160C)의 다른 예가 표현되어 있다. 도 17의 (b)를 참조하면, 정상 동작 기간 및 [수신 IQ 불일치 + 송신 IQ 불일치]를 측정하는 제1 테스트 기간(S11)에는 LO 신호 제어부(160C)가 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)를 그대로 IQ 상향 변환 믹서(110)로 전달한다(즉, I`=I, Q`=Q임. LO 신호 제어부(160C)가 실선과 같이 연결됨.). [수신 IQ 불일치 - 송신 IQ 불일치]를 측정하는 제2 테스트 기간(S12)에는 LO 신호 제어부(160C)가 국부 발진기(150)에서 출력되는 LO 신호(I, Q)의 직각 신호(Q)의 부호가 바뀐 신호를 IQ 상향 변환 믹서(110)로 전달한다(즉, I`=I, Q`=-Q임. LO 신호 제어부(160C)가 점선과 같이 연결됨.).
IQ 불일치 측정에 있어서, 회전부(220)에서 출력되는 IQ 신호(AI AQ)의 각주파수의 부호를 변경하는 것은 IQ 상향 변환 믹서(110)에 입력되는 LO 신호(I`, Q`)의 동위상 신호(I`) 및 직각 신호(Q`)를 서로 교체하는 것과 그 효과가 동일하다. 따라서, 본 발명의 제5 실시예에 의한 송수신 회로를 사용한 IQ 불일치 측정 방법은 IQ 상향 변환 믹서(110)에 입력되는 LO 신호(I`, Q`)의 동위상 신호(I`) 및 직각 신호(Q`)를 서로 교체하는 것을 대신하여 회전부(220)에서 출력되는 IQ 신호(AI AQ)의 각주파수의 부호를 변경한다는 점을 제외하고는 본 발명의 제1 실시예에 의한 IQ 불일치 측정 방법과 동일하다.
도 18은 본 발명의 제6 실시예에 의한 송수신 회로를 나타내는 도면이다.
본 발명의 제6 실시예에 의한 송수신 회로는 LO 신호 제어부(160C) 및 [송신 IQ 불일치 - 수신 IQ 불일치]를 측정하는 제2 테스트 기간(S22)의 회전부(220)의 동작을 제외하고는 본 발명의 제2 실시예에 의한 송수신 회로와 동일하다.
도 18에서, LO 신호 제어부(160C)는 제어부(210)에서 전달되는 제어 신호(LO_ctrl)에 따라, IQ 하향 변환 믹서(130)로 전달되는 LO 신호(I`, Q`)의 동위상 신호(I`) 및 직각 신호(Q`) 중 어느 한 신호의 부호를 변경한다. LO 신호 제어부(160C)의 예들은 도 17에 표현되어 있다. 도 17에서, 정상 동작 기간 및 [송신 IQ 불일치 + 수신 IQ 불일치]를 측정하는 제1 테스트 기간(S21)에는 LO 신호 제어부(160C)가 실선과 같이 연결되며, [송신 IQ 불일치 - 수신 IQ 불일치]를 측정하는 제2 테스트 기간(S22)에는 LO 신호 제어부(160C)가 점선과 같이 연결된다.
IQ 불일치 측정에 있어서, 회전부(220)에서 출력되는 IQ 신호(AI AQ)의 각주파수의 부호를 변경하는 것은 IQ 하향 변환 믹서(130)에 입력되는 LO 신호(I`, Q`)의 동위상 신호(I`) 및 직각 신호(Q`)를 서로 교체하는 것과 그 효과가 동일하다. 따라서, 본 발명의 제6 실시예에 의한 송수신 회로를 사용한 IQ 불일치 측정 방법은 IQ 하향 변환 믹서(130)에 입력되는 LO 신호(I`, Q`)의 동위상 신호(I`) 및 직각 신호(Q`)를 서로 교체하는 것을 대신하여 회전부(220)에서 출력되는 IQ 신호(AI AQ)의 각주파수의 부호를 변경한다는 점을 제외하고는 본 발명의 제2 실시예에 의한 IQ 불일치 측정 방법과 동일하다.
본 발명에 의한 IQ 불일치 측정 장치 및 방법은 수신 IQ 불일치뿐만 아니라 송신 IQ 불일치도 측정할 수 있다는 장점이 있다.
또한, 본 발명에 의한 IQ 불일치 측정 장치 및 방법은 무선을 통하여 전달된 신호를 이용하여 IQ 불일치를 측정하지 아니하고, IQ 상향 변환 믹서의 출력 신호를 IQ 하향 믹서에 입력하여, IQ 불일치를 측정함으로써, 무선에서 발생하는 잡음의 영향을 받지 아니한다는 장점이 있다.
또한, 본 발명에 의한 IQ 불일치 측정 장치 및 방법은 무선을 통하여 전달된 신호를 이용하여 IQ 불일치를 측정하지 아니하고, IQ 상향 변환 믹서의 출력 신호를 IQ 하향 믹서에 입력하여 IQ 불일치를 측정함으로써, IQ 불일치 측정을 위한 별도의 테스트 신호를 생성하여 IQ 하향 변환 믹서에 입력하지 아니하고도 수신 IQ 불일치를 측정할 수 있다는 장점이 있다.
또한, 본 발명에 의한 IQ 불일치 측정 장치 및 방법은 추가적인 LO 신호 제어부를 사용함으로써, 송신 및 수신 IQ 불일치의 측정을 가능하게 하였다는 장점이 있다.
또한, 본 발명에 의한 IQ 불일치 측정 장치 및 방법은 역회전부 및 DC 측정부를 이용하여 원하는 신호 및 IQ 불일치에 의한 이미지 신호를 구하고, 이를 이용하여 IQ 불일치를 측정함으로써, 간단히 IQ 불일치를 구할 수 있다는 장점이 있다.
또한, 본 발명에 의한 IQ 불일치 측정 장치 및 방법은 역회전부 및 DC 측정부를 이용함으로써, 정확한 IQ 불일치 값을 측정할 수 있으며, 따라서, IQ 불일치 측정에 소요되는 시간 및 IQ 불일치 보상까지 소요되는 시간을 줄일 수 있다는 장점이 있다.
또한, 본 발명에 의한 IQ 불일치 측정 장치 및 방법은 송신 IQ 불일치 및 수신 IQ 불일치를 빨리 측정할 수 있다는 장점이 있다.

Claims (48)

  1. IQ 상향 변환 믹서에서 발생하는 송신 IQ 불일치 및 IQ 하향 변환 믹서에서 발생하는 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정 방법에 있어서,
    (a) [상기 수신 IQ 불일치 + 상기 송신 IQ 불일치]에 해당하는 제1 IQ 불일치를 측정하는 단계;
    (b) [상기 수신 IQ 불일치 - 상기 송신 IQ 불일치]에 해당하는 제2 IQ 불일치를 측정하는 단계; 및
    (c) 상기 제1 IQ 불일치 및 상기 제2 IQ 불일치로부터 상기 송신 IQ 불일치 및 상기 수신 IQ 불일치를 구하는 단계를 구비하는 IQ 불일치 측정 방법.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_tr+ 및 dp_tr+라 하고, 상기 제2 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_tr- 및 dp_tr-라 하고, 상기 송신 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_t 및 dp_t라 하고, 상기 수신 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_r 및 dp_r라 하면, 상기 (c) 단계에서 구한 상기 송신 IQ 불일치 및 상기 수신 IQ 불일치는 수학식
    dg_t = (dg_tr+ - dg_tr-)/2
    dp_t = (dp_tr+ - dp_tr-)/2
    dg_r = (dg_tr+ + dg_tr-)/2
    dp_r = (dp_tr+ + dp_tr-)/2
    에 대응하는 IQ 불일치 측정 방법.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 IQ 상향 변환 믹서에 제공되는 국부 발진기 신호를 제1 국부 발진기 신호라 하고, 상기 IQ 하향 변환 믹서에 제공되는 국부 발진기 신호를 제2 국부 발진기 신호라 하며, 상기 제1 국부 발진기 신호의 동위상 신호 및 직각 신호가 각각 상기 (a) 단계에는 I1 및 Q1이고, 상기 (b) 단계에는 I1` 및 Q1`이라면,
    I1 및 Q1과 I1` 및 Q1`의 관계는 수학식 I1`=Q1, Q1`=-I1와 같이 표현되거나, 수학식 I1`=-Q1, Q1`=I1와 같이 표현되는 IQ 불일치 측정 방법.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 IQ 상향 변환 믹서의 입력 IQ 신호가 제1 IQ 신호이고, 상기 IQ 상향 변환 믹서의 출력 IQ 신호가 제2 IQ 신호이고, 상기 IQ 하향 변환 믹서의 출력 IQ 신호가 제3 IQ 신호이라면,
    상기 (a) 및 상기 (b) 단계에는 상기 제1 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호의 합이 상기 IQ 하향 변환 믹서에 입력되고, 상기 제2 국부 발진기 신호가 상기 제1 국부 발진기 신호와 동일한 각주파수를 가지며,
    상기 제1 IQ 신호가 상기 (a) 단계에는 제1 각주파수를 가지고, 상기 (b) 단계에는 제2 각주파수-상기 제2 각주파수는 상기 제1 각주파수와 동일하거나 다름-를 가지며,
    상기 (a) 단계는
    (a1) 상기 제3 IQ 신호를 상기 제1 각주파수만큼 역회전시킨 제4 IQ 신호를 구하고, 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제1 각주파수)]만큼 역회전시킨 제5 IQ 신호를 구하는 단계; 및
    (a2) 상기 제4 IQ 신호 및 상기 제5 IQ 신호로부터 상기 제1 IQ 불일치를 구하는 단계를 구비하며,
    상기 (b) 단계는
    (b1) 상기 제3 IQ 신호를 상기 제2 각주파수만큼 역회전시킨 제6 IQ 신호를 구하고, 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제2 각주파수)]만큼 역회전시킨 제7 IQ 신호를 구하는 단계; 및
    (b2) 상기 제6 IQ 신호 및 상기 제7 IQ 신호로부터 상기 제2 IQ 불일치를 구하는 단계를 구비하는 IQ 불일치 측정 방법.
  5. 제1 항에 있어서,
    상기 IQ 상향 변환 믹서에 제공되는 국부 발진기 신호를 제1 국부 발진기 신호라 하고, 상기 IQ 하향 변환 믹서에 제공되는 국부 발진기 신호를 제2 국부 발진기 신호라 하고, 상기 제1 국부 발진기 신호의 동위상 신호 및 직각 신호가 각각 상기 (a) 단계에는 I1 및 Q1이고, 상기 (b) 단계에는 I1` 및 Q1`이라면,
    I1 및 Q1와 I1` 및 Q1`의 관계는 수학식 I1`=I1, Q1`=-Q1와 같이 표현되거나, 수학식 I1`=-I1, Q1`=Q1와 같이 표현되는 IQ 불일치 측정 방법.
  6. 제5 항에 있어서,
    상기 IQ 상향 변환 믹서의 입력 IQ 신호가 제1 IQ 신호이고, 상기 IQ 상향 변환 믹서의 출력 IQ 신호가 제2 IQ 신호이고, 상기 IQ 하향 변환 믹서의 출력 IQ 신호가 제3 IQ 신호이라면,
    상기 (a) 및 상기 (b) 단계에는 상기 제1 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호의 합이 상기 IQ 하향 변환 믹서에 입력되고, 상기 제2 국부 발진기 신호가 상기 제1 국부 발진기 신호와 동일한 각주파수를 가지며,
    상기 제1 IQ 신호가 상기 (a) 단계에는 제1 각주파수를 가지고, 상기 (b) 단계에는 [-(제2 각주파수)]-상기 제2 각주파수는 상기 제1 각주파수와 동일하거나 다름-를 가지며,
    상기 (a) 단계는
    (a1) 상기 제3 IQ 신호를 상기 제1 각주파수만큼 역회전시킨 제4 IQ 신호를 구하고, 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제1 각주파수)]만큼 역회전시킨 제5 IQ 신호를 구하는 단계; 및
    (a2) 상기 제4 IQ 신호 및 상기 제5 IQ 신호로부터 상기 제1 IQ 불일치를 구하는 단계를 구비하며,
    상기 (b) 단계는
    (b1) 상기 제3 IQ 신호를 상기 제2 각주파수만큼 역회전시킨 제6 IQ 신호를 구하고, 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제2 각주파수)]만큼 역회전시킨 제7 IQ 신호를 구하는 단계; 및
    (b2) 상기 제6 IQ 신호 및 상기 제7 IQ 신호로부터 상기 제2 IQ 불일치를 구하는 단계를 구비하는 IQ 불일치 측정 방법.
  7. 제1 항에 있어서,
    상기 IQ 상향 변환 믹서에 제공되는 국부 발진기 신호를 제1 국부 발진기 신호라 하고, 상기 IQ 하향 변환 믹서에 제공되는 국부 발진기 신호를 제2 국부 발진기 신호라 하며, 상기 제1 국부 발진기 신호의 동위상 신호 및 직각 신호가 각각 상기 (a) 단계에는 I1 및 Q1이고, 상기 (b) 단계에는 I1` 및 Q1`이며, 상기 제2 국부 발진기 신호의 동위상 신호 및 직각 신호가 각각 상기 (a) 단계에는 I2 및 Q2이고, 상기 (b) 단계에는 I2` 및 Q2`이라면,
    I1 및 Q1과 I1` 및 Q1`의 관계는 수학식 I1`=I1, Q1`=-Q1와 같이 표현되거나, 수학식 I1`=-I1, Q1`=Q1와 같이 표현되며,
    I2 및 Q2와 I2` 및 Q2`의 관계는 수학식 I2`=Q2, Q2`=I2와 같이 표현되는 IQ 불일치 측정 방법.
  8. 제7 항에 있어서,
    상기 IQ 상향 변환 믹서의 입력 IQ 신호가 제1 IQ 신호이고, 상기 IQ 상향 변환 믹서의 출력 IQ 신호가 제2 IQ 신호이고, 상기 IQ 하향 변환 믹서의 출력 IQ 신호가 제3 IQ 신호이라면,
    상기 (a) 및 상기 (b) 단계에는 상기 제1 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호의 합이 상기 IQ 하향 변환 믹서에 입력되고, 상기 제2 국부 발진기 신호가 상기 제1 국부 발진기 신호와 동일한 각주파수를 가지며,
    상기 제1 IQ 신호가 상기 (a) 단계에는 제1 각주파수를 가지고, 상기 (b) 단계에는 제2 각주파수-상기 제2 각주파수는 상기 제1 각주파수와 동일하거나 다름-를 가지며,
    상기 (a) 단계는
    (a1) 상기 제3 IQ 신호를 상기 제1 각주파수만큼 역회전시킨 제4 IQ 신호를 구하고, 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제1 각주파수)]만큼 역회전시킨 제5 IQ 신호를 구하는 단계; 및
    (a2) 상기 제4 IQ 신호 및 상기 제5 IQ 신호로부터 상기 제1 IQ 불일치를 구하는 단계를 구비하며,
    상기 (b) 단계는
    (b1) 상기 제3 IQ 신호를 상기 제2 각주파수만큼 역회전시킨 제6 IQ 신호를 구하고, 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제2 각주파수)]만큼 역회전시킨 제7 IQ 신호를 구하는 단계; 및
    (b2) 상기 제6 IQ 신호 및 상기 제7 IQ 신호로부터 상기 제2 IQ 불일치를 구하는 단계를 구비하는 IQ 불일치 측정 방법.
  9. 제4, 제6 및 제8 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제3 IQ 신호의 I 성분 신호가 I3이고, 상기 제3 IQ 신호의 Q 성분 신호가 Q3이고, 상기 제4 IQ 신호의 I 성분 신호가 I4이고, 상기 제4 IQ 신호의 Q 성분 신호가 Q4이고, 상기 제5 IQ 신호의 I 성분 신호가 I5이고, 상기 제5 IQ 신호의 Q 성분 신호가 Q5이고, 상기 제6 IQ 신호의 I 성분 신호가 I6이고, 상기 제6 IQ 신호의 Q 성분 신호가 Q6이고, 상기 제7 IQ 신호의 I 성분 신호가 I7이고, 상기 제7 IQ 신호의 Q 성분 신호가 Q7이고, 상기 제1 각주파수가 △ω1이고, 상기 제2 각주파수가 △ω2이라면,
    상기 I4는 [I3×cos(△ω1×t) - Q3×sin(△ω1×t)]에 대응하고, 상기 Q4는 [I3×sin(△ω1×t) + Q3×cos(△ω1×t)]에 대응하고, 상기 I5는 [I3×cos(△ω1×t) + Q3×sin(△ω1×t)]에 대응하고, 상기 Q5는 [-I3×sin(△ω1×t) + Q3×cos(△ω1×t)]에 대응하고, 상기 I6는 [I3×cos(△ω2×t) - Q3×sin(△ω2×t)]에 대응하고, 상기 Q6는 [I3×sin(△ω2×t) + Q3×cos(△ω2×t)]에 대응하고, 상기 I7는 [I3×cos(△ω2×t) + Q3×sin(△ω2×t)]에 대응하고, 상기 Q7는 [-I3×sin(△ω2×t) + Q3×cos(△ω2×t)]에 대응하는 IQ 불일치 측정 방법.
  10. 제4, 제6 및 제8 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제4 IQ 신호의 I 성분 신호가 I4이고, 상기 제4 IQ 신호의 Q 성분 신호가 Q4이고, 상기 제5 IQ 신호의 I 성분 신호가 I5이고, 상기 제5 IQ 신호의 Q 성분 신호가 Q5이고, 상기 제6 IQ 신호의 I 성분 신호가 I6이고, 상기 제6 IQ 신호의 Q 성분 신호가 Q6이고, 상기 제7 IQ 신호의 I 성분 신호가 I7이고, 상기 제7 IQ 신호 의 Q 성분 신호가 Q7이라면,
    상기 제1 IQ 불일치의 이득 오차는 [(I4×I5 - Q4×Q5) ÷ (I42 + Q42)]에 대응하고, 상기 제1 IQ 불일치의 위상 오차는 [(I4×Q5 + Q4×I5) ÷ (I42 + Q42)]에 대응하고, 상기 제2 IQ 불일치의 이득 오차는 [(I6×I7 - Q6×Q7) ÷ (I62 + Q62)]에 대응하고, 상기 제2 IQ 불일치의 위상 오차는 [(I6×Q7 + Q6×I7) ÷ (I62 + Q62)]에 대응하는 IQ 불일치 측정 방법.
  11. IQ 상향 변환 믹서에서 발생하는 송신 IQ 불일치 및 IQ 하향 변환 믹서에서 발생하는 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정 방법에 있어서,
    (a) [상기 송신 IQ 불일치 + 상기 수신 IQ 불일치]에 해당하는 제1 IQ 불일치를 측정하는 단계;
    (b) [상기 송신 IQ 불일치 - 상기 수신 IQ 불일치]에 해당하는 제2 IQ 불일치를 측정하는 단계; 및
    (c) 상기 제1 IQ 불일치 및 상기 제2 IQ 불일치로부터 상기 송신 IQ 불일치 및 상기 수신 IQ 불일치를 구하는 단계를 구비하는 IQ 불일치 측정 방법.
  12. 제11 항에 있어서,
    상기 제1 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_tr+ 및 dp_tr+라 하고, 상기 제2 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_tr- 및 dp_tr-라 하고, 상기 송신 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_t 및 dp_t라 하고, 상기 수신 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_r 및 dp_r라 하면, 상기 (c) 단계에서 구한 상기 송신 IQ 불일치 및 상기 수신 IQ 불일치는 수학식
    dg_t = (dg_tr+ + dg_tr-)/2
    dp_t = (dp_tr+ + dp_tr-)/2
    dg_r = (dg_tr+ - dg_tr-)/2
    dp_r = (dp_tr+ - dp_tr-)/2
    에 대응하는 IQ 불일치 측정 방법.
  13. 제11 항에 있어서,
    상기 IQ 상향 변환 믹서에 제공되는 국부 발진기 신호를 제1 국부 발진기 신호라 하고, 상기 IQ 하향 변환 믹서에 제공되는 국부 발진기 신호를 제2 국부 발진기 신호라 하며, 상기 제2 국부 발진기 신호의 동위상 신호 및 직각 신호가 각각 상기 (a) 단계에는 I2 및 Q2이고, 상기 (b) 단계에는 I2` 및 Q2`이라면,
    I2 및 Q2과 I2` 및 Q2`의 관계는 수학식 I2`=Q2, Q2`=-I2와 같이 표현되거나, 수학식 I2`=-Q2, Q2`=I2와 같이 표현되는 IQ 불일치 측정 방법.
  14. 제13 항에 있어서,
    상기 IQ 상향 변환 믹서의 입력 IQ 신호가 제1 IQ 신호이고, 상기 IQ 상향 변환 믹서의 출력 IQ 신호가 제2 IQ 신호이고, 상기 IQ 하향 변환 믹서의 출력 IQ 신호가 제3 IQ 신호이라면,
    상기 (a) 및 상기 (b) 단계에는 상기 제1 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호의 합이 상기 IQ 하향 변환 믹서에 입력되고, 상기 제2 국부 발진기 신호가 상기 제1 국부 발진기 신호와 동일한 각주파수를 가지며,
    상기 제1 IQ 신호가 상기 (a) 단계에는 제1 각주파수를 가지고, 상기 (b) 단계에는 제2 각주파수-상기 제2 각주파수는 상기 제1 각주파수와 동일하거나 다름-를 가지며,
    상기 (a) 단계는
    (a1) 상기 제3 IQ 신호를 상기 제1 각주파수만큼 역회전시킨 제4 IQ 신호를 구하고, 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제1 각주파수)]만큼 역회전시킨 제5 IQ 신호를 구하는 단계; 및
    (a2) 상기 제4 IQ 신호 및 상기 제5 IQ 신호로부터 상기 제1 IQ 불일치를 구하는 단계를 구비하며,
    상기 (b) 단계는
    (b1) 상기 제3 IQ 신호를 상기 제2 각주파수만큼 역회전시킨 제6 IQ 신호를 구하고, 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제2 각주파수)]만큼 역회전시킨 제7 IQ 신호를 구하는 단계; 및
    (b2) 상기 제6 IQ 신호 및 상기 제7 IQ 신호로부터 상기 제2 IQ 불일치를 구하는 단계를 구비하는 IQ 불일치 측정 방법.
  15. 제11 항에 있어서,
    상기 IQ 상향 변환 믹서에 제공되는 국부 발진기 신호를 제1 국부 발진기 신호라 하고, 상기 IQ 하향 변환 믹서에 제공되는 국부 발진기 신호를 제2 국부 발진기 신호라 하고, 상기 제2 국부 발진기 신호의 동위상 신호 및 직각 신호가 각각 상기 (a) 단계에는 I2 및 Q2이고, 상기 (b) 단계에는 I2` 및 Q2`이라면,
    I2 및 Q2와 I2` 및 Q2`의 관계는 수학식 I2`=I2, Q2`=-Q2와 같이 표현되거나, 수학식 I2`=-I2, Q2`=Q2와 같이 표현되는 IQ 불일치 측정 방법.
  16. 제15 항에 있어서,
    상기 IQ 상향 변환 믹서의 입력 IQ 신호가 제1 IQ 신호이고, 상기 IQ 상향 변환 믹서의 출력 IQ 신호가 제2 IQ 신호이고, 상기 IQ 하향 변환 믹서의 출력 IQ 신호가 제3 IQ 신호이라면,
    상기 (a) 및 상기 (b) 단계에는 상기 제1 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호의 합이 상기 IQ 하향 변환 믹서에 입력되고, 상기 제2 국부 발진기 신호가 상기 제1 국부 발진기 신호와 동일한 각주파수를 가지며,
    상기 제1 IQ 신호가 상기 (a) 단계에는 제1 각주파수를 가지고, 상기 (b) 단계에는 [-(제2 각주파수)]-상기 제2 각주파수는 상기 제1 각주파수와 동일하거나 다름-를 가지며,
    상기 (a) 단계는
    (a1) 상기 제3 IQ 신호를 상기 제1 각주파수만큼 역회전시킨 제4 IQ 신호를 구하고, 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제1 각주파수)]만큼 역회전시킨 제5 IQ 신호를 구하는 단계; 및
    (a2) 상기 제4 IQ 신호 및 상기 제5 IQ 신호로부터 상기 제1 IQ 불일치를 구하는 단계를 구비하며,
    상기 (b) 단계는
    (b1) 상기 제3 IQ 신호를 상기 제2 각주파수만큼 역회전시킨 제6 IQ 신호를 구하고, 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제2 각주파수)]만큼 역회전시킨 제7 IQ 신호를 구하는 단계; 및
    (b2) 상기 제6 IQ 신호 및 상기 제7 IQ 신호로부터 상기 제2 IQ 불일치를 구하는 단계를 구비하는 IQ 불일치 측정 방법.
  17. 제11 항에 있어서,
    상기 IQ 상향 변환 믹서에 제공되는 국부 발진기 신호를 제1 국부 발진기 신호라 하고, 상기 IQ 하향 변환 믹서에 제공되는 국부 발진기 신호를 제2 국부 발진기 신호라 하며, 상기 제1 국부 발진기 신호의 동위상 신호 및 직각 신호가 각각 상기 (a) 단계에는 I1 및 Q1이고, 상기 (b) 단계에는 I1` 및 Q1`이며, 상기 제2 국부 발진기 신호의 동위상 신호 및 직각 신호가 각각 상기 (a) 단계에는 I2 및 Q2이고, 상기 (b) 단계에는 I2` 및 Q2`이라면,
    I2 및 Q2과 I2` 및 Q2`의 관계는 수학식 I2`=I2, Q2`=-Q2와 같이 표현되거나, 수학식 I2`=-I2, Q2`=Q2와 같이 표현되며,
    I1 및 Q1와 I1` 및 Q1`의 관계는 수학식 I1`=Q1, Q1`=I1와 같이 표현되는 IQ 불일치 측정 방법.
  18. 제17 항에 있어서,
    상기 IQ 상향 변환 믹서의 입력 IQ 신호가 제1 IQ 신호이고, 상기 IQ 상향 변환 믹서의 출력 IQ 신호가 제2 IQ 신호이고, 상기 IQ 하향 변환 믹서의 출력 IQ 신호가 제3 IQ 신호이라면,
    상기 (a) 및 상기 (b) 단계에는 상기 제1 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호의 합이 상기 IQ 하향 변환 믹서에 입력되고, 상기 제2 국부 발진기 신호가 상기 제1 국부 발진기 신호와 동일한 각주파수를 가지며,
    상기 제1 IQ 신호가 상기 (a) 단계에는 제1 각주파수를 가지고, 상기 (b) 단계에는 제2 각주파수-상기 제2 각주파수는 상기 제1 각주파수와 동일하거나 다름-를 가지며,
    상기 (a) 단계는
    (a1) 상기 제3 IQ 신호를 상기 제1 각주파수만큼 역회전시킨 제4 IQ 신호를 구하고, 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제1 각주파수)]만큼 역회전시킨 제5 IQ 신호를 구하는 단계; 및
    (a2) 상기 제4 IQ 신호 및 상기 제5 IQ 신호로부터 상기 제1 IQ 불일치를 구하는 단계를 구비하며,
    상기 (b) 단계는
    (b1) 상기 제3 IQ 신호를 상기 제2 각주파수만큼 역회전시킨 제6 IQ 신호를 구하고, 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제2 각주파수)]만큼 역회전시킨 제7 IQ 신호를 구하는 단계; 및
    (b2) 상기 제6 IQ 신호 및 상기 제7 IQ 신호로부터 상기 제2 IQ 불일치를 구하는 단계를 구비하는 IQ 불일치 측정 방법.
  19. 제14, 제16 및 제18 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제3 IQ 신호의 I 성분 신호가 I3이고, 상기 제3 IQ 신호의 Q 성분 신호가 Q3이고, 상기 제4 IQ 신호의 I 성분 신호가 I4이고, 상기 제4 IQ 신호의 Q 성분 신호가 Q4이고, 상기 제5 IQ 신호의 I 성분 신호가 I5이고, 상기 제5 IQ 신호의 Q 성분 신호가 Q5이고, 상기 제6 IQ 신호의 I 성분 신호가 I6이고, 상기 제6 IQ 신호의 Q 성분 신호가 Q6이고, 상기 제7 IQ 신호의 I 성분 신호가 I7이고, 상기 제7 IQ 신호의 Q 성분 신호가 Q7이고, 상기 제1 각주파수가 △ω1이고, 상기 제2 각주파수가 △ω2이라면,
    상기 I4는 [I3×cos(△ω1×t) - Q3×sin(△ω1×t)]에 대응하고, 상기 Q4는 [I3×sin(△ω1×t) + Q3×cos(△ω1×t)]에 대응하고, 상기 I5는 [I3×cos(△ω1×t) + Q3×sin(△ω1×t)]에 대응하고, 상기 Q5는 [-I3×sin(△ω1×t) + Q3×cos(△ω1×t)]에 대응하고, 상기 I6는 [I3×cos(△ω2×t) - Q3×sin(△ω2×t)]에 대응하고, 상기 Q6는 [I3×sin(△ω2×t) + Q3×cos(△ω2×t)]에 대응하고, 상기 I7는 [I3×cos(△ω2×t) + Q3×sin(△ω2×t)]에 대응하고, 상기 Q7는 [-I3× sin(△ω2×t) + Q3×cos(△ω2×t)]에 대응하는 IQ 불일치 측정 방법.
  20. 제14, 제16 및 제18 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제4 IQ 신호의 I 성분 신호가 I4이고, 상기 제4 IQ 신호의 Q 성분 신호가 Q4이고, 상기 제5 IQ 신호의 I 성분 신호가 I5이고, 상기 제5 IQ 신호의 Q 성분 신호가 Q5이고, 상기 제6 IQ 신호의 I 성분 신호가 I6이고, 상기 제6 IQ 신호의 Q 성분 신호가 Q6이고, 상기 제7 IQ 신호의 I 성분 신호가 I7이고, 상기 제7 IQ 신호의 Q 성분 신호가 Q7이라면,
    상기 제1 IQ 불일치의 이득 오차는 [(I4×I5 - Q4×Q5) ÷ (I42 + Q42)]에 대응하고, 상기 제1 IQ 불일치의 위상 오차는 [(I4×Q5 + Q4×I5) ÷ (I42 + Q42)]에 대응하고, 상기 제2 IQ 불일치의 이득 오차는 [(I6×I7 - Q6×Q7) ÷ (I62 + Q62)]에 대응하고, 상기 제2 IQ 불일치의 위상 오차는 [(I6×Q7 + Q6×I7) ÷ (I62 + Q62)]에 대응하는 IQ 불일치 측정 방법.
  21. 제1 IQ 신호와 제1 국부 발진기 신호를 곱한 제2 IQ 신호를 출력하는 IQ 상향 변환 믹서;
    상기 제2 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호의 합과 제2 국부 발진기 신호-상기 제1 국부 발진기 신호와 상기 제2 국부 발진기 신호는 동일한 각주파수를 가짐-를 곱한 제3 IQ 신호를 출력하는 IQ 하향 변환 믹서;
    제어 신호에 따라, 상기 제1 국부 발진기 신호의 동위상 신호 및 직각 신호 중 어느 한 신호의 부호를 변경하고, 상기 제1 국부 발진기 신호의 상기 동위상 신호 및 상기 직각 신호를 서로 교체하는 국부 발진기 신호 제어부; 및
    각주파수를 가지는 상기 제1 IQ 신호를 상기 IQ 상향 변환 믹서에 제공하며, 상기 국부 발진기 신호 제어부에 상기 제어 신호를 인가하고, 상기 제3 IQ 신호로부터 송신 IQ 불일치 및 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정부를 구비하는 IQ 불일치 측정 장치.
  22. 제21 항에 있어서,
    상기 제1 국부 발진기 신호의 상기 동위상 신호 및 상기 직각 신호가 각각 제1 측정기간에는 I1 및 Q1이고, 제2 측정기간에는 I1` 및 Q1`이라면,
    I1 및 Q1과 I1` 및 Q1`의 관계는 수학식 I1`=Q1, Q1`=-I1와 같이 표현되거나, 수학식 I1`=-Q1, Q1`=I1와 같이 표현되는 IQ 불일치 측정 장치.
  23. 제1 IQ 신호와 제1 국부 발진기 신호를 곱한 제2 IQ 신호를 출력하는 IQ 상향 변환 믹서;
    상기 제2 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호의 합과 제2 국부 발진기 신호-상기 제1 국부 발진기 신호와 상기 제2 국부 발진기 신호는 동일한 각주파수를 가짐-를 곱한 제3 IQ 신호를 출력하는 IQ 하향 변환 믹서;
    제어 신호에 따라, 상기 제1 국부 발진기 신호의 동위상 신호 및 직각 신호 중 어느 한 신호의 부호를 변경하고, 상기 제2 국부 발진기 신호의 동위상 신호 및 직각 신호를 서로 교체하는 국부 발진기 신호 제어부; 및
    각주파수를 가지는 상기 제1 IQ 신호를 상기 IQ 상향 변환 믹서에 제공하며, 상기 국부 발진기 신호 제어부에 상기 제어 신호를 인가하고, 상기 제3 IQ 신호로부터 송신 IQ 불일치 및 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정부를 구비하는 IQ 불일치 측정 장치.
  24. 제23 항에 있어서,
    상기 제1 국부 발진기 신호의 상기 동위상 신호 및 상기 직각 신호가 각각 제1 측정기간에는 I1 및 Q1이고, 제2 측정기간에는 I1` 및 Q1`이며, 상기 제2 국부 발진기 신호의 상기 동위상 신호 및 상기 직각 신호가 각각 제1 측정기간에는 I2 및 Q2이고, 제2 측정기간에는 I2` 및 Q2`이며,
    I1 및 Q1과 I1` 및 Q1`의 관계는 수학식 I1`=I1, Q1`=-Q1와 같이 표현되거나, 수학식 I1`=-I1, Q1`=Q1와 같이 표현되며,
    I2 및 Q2와 I2` 및 Q2`의 관계는 수학식 I2`=Q2, Q2`=I2와 같이 표현되는 IQ 불일치 측정 장치.
  25. 제22 또는 제24 항에 있어서,
    상기 IQ 불일치 측정부가 상기 제1 측정기간에 상기 제3 IQ 신호로부터 구한 IQ 불일치를 제1 IQ 불일치라 하고, 상기 제2 측정기간에 상기 제3 IQ 신호로부터 구한 IQ 불일치를 제2 IQ 불일치라 하며, 상기 제1 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_tr+ 및 dp_tr+라 하고, 상기 제2 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_tr- 및 dp_tr-라 하고, 상기 송신 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_t 및 dp_t라 하고, 상기 수신 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_r 및 dp_r라 하면,
    상기 IQ 불일치 측정부는 수학식
    dg_t = (dg_tr+ - dg_tr-)/2
    dp_t = (dp_tr+ - dp_tr-)/2
    dg_r = (dg_tr+ + dg_tr-)/2
    dp_r = (dp_tr+ + dp_tr-)/2
    에 대응하는 상기 송신 IQ 불일치 및 상기 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정 장치.
  26. 제25 항에 있어서,
    상기 IQ 불일치 측정부는
    상기 제1 IQ 신호-상기 제1 IQ 신호가 상기 제1 측정기간에는 제1 각주파수를 가지고, 상기 제2 측정기간에는 제2 각주파수를 가지며, 상기 제2 각주파수는 상기 제1 각주파수와 동일하거나 다름-를 출력하는 회전부;
    상기 제3 IQ 신호로부터 제4 IQ 신호 및 제5 IQ 신호-상기 제4 IQ 신호는 상 기 제1 측정기간에는 상기 제3 IQ 신호를 상기 제1 각주파수만큼 역회전시킴으로써 얻어진 신호이고, 상기 제2 측정기간에는 상기 제3 IQ 신호를 상기 제2 각주파수만큼 역회전시킴으로써 얻어진 신호이며, 상기 제5 IQ 신호는 상기 제1 측정기간에는 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제1 각주파수)]만큼 역회전시킴으로써 얻어진 신호이고, 상기 제2 측정기간에는 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제2 각주파수)]만큼 역회전시킴으로써 얻어진 신호임-를 구하는 역회전부;
    상기 제4 IQ 신호의 DC 성분에 해당하는 제6 IQ 신호 및 상기 제5 IQ 신호의 DC 성분에 해당하는 제7 IQ 신호를 구하는 DC 측정부; 및
    상기 제1 측정기간에는 상기 제6 IQ 신호 및 상기 제7 IQ 신호로부터 상기 제1 IQ 불일치를 구하고, 상기 제2 측정기간에는 상기 제6 IQ 신호 및 상기 제7 IQ 신호로부터 상기 제2 IQ 불일치를 구하는 제어부를 구비하는 IQ 불일치 측정 장치.
  27. 제26 항에 있어서,
    상기 역회전부는 [I3×cos(△ω×t) - Q3×sin(△ω×t)]에 대응하는 I4; [I3×sin(△ω×t) + Q3×cos(△ω×t)]에 대응하는 Q4; [I3×cos(△ω×t) + Q3×sin(△ω×t)]에 대응하는 I5; 및 [-I3×sin(△ω×t) + Q3×cos(△ω×t)]에 대응하는 Q5를 출력하되,
    상기 I3 및 Q3는 각각 상기 제3 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 I4 및 Q4는 각각 상기 제4 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 I5 및 Q5는 각각 상기 제5 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 △ω 는 상기 제1 측정기간에는 상기 제1 각주파수에 해당하고, 상기 제2 측정기간에는 상기 제2 각수파수에 해당하는 IQ 불일치 측정 장치.
  28. 제26 항에 있어서,
    상기 제어부는 [(I6×Q7 + Q6×I7) ÷ (I62 + Q62)]에 대응하는 위상 오차 및 [(I6×I7 - Q6×Q7) ÷ (I62 + Q62)]에 대응하는 이득 오차를 구하되,
    상기 I6 및 Q6는 각각 상기 제6 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 I7 및 Q7는 각각 상기 제7 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 제1 측정기간에 구해진 상기 위상 오차 및 상기 이득 오차는 각각 상기 제1 IQ 불일치의 위상 오차 및 이득 오차에 해당하며, 상기 제2 측정기간에 구해진 상기 위상 오차 및 상기 이득 오차는 각각 상기 제2 IQ 불일치의 위상 오차 및 이득 오차에 해당하는 IQ 불일치 측정 장치.
  29. 제1 IQ 신호와 제1 국부 발진기 신호를 곱한 제2 IQ 신호를 출력하는 IQ 상향 변환 믹서;
    상기 제2 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호의 합과 제2 국부 발진기 신호-상기 제1 국부 발진기 신호와 상기 제2 국부 발진기 신호는 동일한 각주파수를 가짐-를 곱한 제3 IQ 신호를 출력하는 IQ 하향 변환 믹서;
    제어 신호에 따라, 상기 제1 국부 발진기 신호의 동위상 신호 및 직각 신호 중 어느 한 신호의 부호를 변경하는 국부 발진기 신호 제어부; 및
    각주파수를 가지는 상기 제1 IQ 신호를 상기 IQ 상향 변환 믹서에 제공하며, 상기 국부 발진기 신호 제어부에 상기 제어 신호를 인가하고, 상기 제3 IQ 신호로부터 송신 IQ 불일치 및 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정부를 구비하는 IQ 불일치 측정 장치.
  30. 제29 항에 있어서,
    상기 제1 국부 발진기 신호의 상기 동위상 신호 및 상기 직각 신호가 각각 제1 측정기간에는 I1 및 Q1이고, 제2 측정기간에는 I1` 및 Q1`이라면,
    I1 및 Q1과 I1` 및 Q1`의 관계는 수학식 I1`=I1, Q1`=-Q1와 같이 표현되거나, 수학식 I1`=-I1, Q1`=Q1와 같이 표현되는 IQ 불일치 측정 장치.
  31. 제30 항에 있어서,
    상기 IQ 불일치 측정부가 상기 제1 측정기간에 상기 제3 IQ 신호로부터 구한 IQ 불일치를 제1 IQ 불일치라 하고, 상기 제2 측정기간에 상기 제3 IQ 신호로부터 구한 IQ 불일치를 제2 IQ 불일치라 하며, 상기 제1 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_tr+ 및 dp_tr+라 하고, 상기 제2 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_tr- 및 dp_tr-라 하고, 상기 송신 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_t 및 dp_t라 하고, 상기 수신 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_r 및 dp_r라 하면,
    상기 IQ 불일치 측정부는 수학식
    dg_t = (dg_tr+ - dg_tr-)/2
    dp_t = (dp_tr+ - dp_tr-)/2
    dg_r = (dg_tr+ + dg_tr-)/2
    dp_r = (dp_tr+ + dp_tr-)/2
    에 대응하는 상기 송신 IQ 불일치 및 상기 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정 장치.
  32. 제31 항에 있어서,
    상기 IQ 불일치 측정부는
    상기 제1 IQ 신호-상기 제1 IQ 신호가 상기 제1 측정기간에는 제1 각주파수를 가지고, 상기 제2 측정기간에는 [-(제2 각주파수)]를 가지며, 상기 제2 각주파수는 상기 제1 각주파수와 동일하거나 다름-를 출력하는 회전부;
    상기 제3 IQ 신호로부터 제4 IQ 신호 및 제5 IQ 신호-상기 제4 IQ 신호는 상기 제1 측정기간에는 상기 제3 IQ 신호를 상기 제1 각주파수만큼 역회전시킴으로써 얻어진 신호이고, 상기 제2 측정기간에는 상기 제3 IQ 신호를 상기 제2 각주파수만큼 역회전시킴으로써 얻어진 신호이며, 상기 제5 IQ 신호는 상기 제1 측정기간에는 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제1 각주파수)]만큼 역회전시킴으로써 얻어진 신호이고, 상기 제2 측정기간에는 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제2 각주파수)]만큼 역회전시킴으로써 얻어진 신호임-를 구하는 역회전부;
    상기 제4 IQ 신호의 DC 성분에 해당하는 제6 IQ 신호 및 상기 제5 IQ 신호의 DC 성분에 해당하는 제7 IQ 신호를 구하는 DC 측정부; 및
    상기 제1 측정기간에는 상기 제6 IQ 신호 및 상기 제7 IQ 신호로부터 상기 제1 IQ 불일치를 구하고, 상기 제2 측정기간에는 상기 제6 IQ 신호 및 상기 제7 IQ 신호로부터 상기 제2 IQ 불일치를 구하는 제어부를 구비하는 IQ 불일치 측정 장치.
  33. 제32 항에 있어서,
    상기 역회전부는 [I3×cos(△ω×t) - Q3×sin(△ω×t)]에 대응하는 I4; [I3×sin(△ω×t) + Q3×cos(△ω×t)]에 대응하는 Q4; [I3×cos(△ω×t) + Q3×sin(△ω×t)]에 대응하는 I5; 및 [-I3×sin(△ω×t) + Q3×cos(△ω×t)]에 대응하는 Q5를 출력하되,
    상기 I3 및 Q3는 각각 상기 제3 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 I4 및 Q4는 각각 상기 제4 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 I5 및 Q5는 각각 상기 제5 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 △ω는 상기 제1 측정기간에는 상기 제1 각주파수에 해당하고, 상기 제2 측정기간에는 상기 제2 각수파수에 해당하는 IQ 불일치 측정 장치.
  34. 제32 항에 있어서,
    상기 제어부는 [(I6×Q7 + Q6×I7) ÷ (I62 + Q62)]에 대응하는 위상 오차 및 [(I6×I7 - Q6×Q7) ÷ (I62 + Q62)]에 대응하는 이득 오차를 구하되,
    상기 I6 및 Q6는 각각 상기 제6 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 I7 및 Q7는 각각 상기 제7 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 제1 측정기간에 구해진 상기 위상 오차 및 상기 이득 오차는 각각 상기 제1 IQ 불일치의 위상 오차 및 이득 오차에 해당하며, 상기 제2 측정기간에 구해진 상기 위상 오차 및 상기 이득 오차는 각각 상기 제2 IQ 불일치의 위상 오차 및 이득 오차에 해당하는 IQ 불일치 측정 장치.
  35. 제1 IQ 신호와 제1 국부 발진기 신호를 곱한 제2 IQ 신호를 출력하는 IQ 상향 변환 믹서;
    상기 제2 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호의 합과 제2 국부 발진기 신호-상기 제1 국부 발진기 신호와 상기 제2 국부 발진기 신호는 동일한 각주파수를 가짐-를 곱한 제3 IQ 신호를 출력하는 IQ 하향 변환 믹서;
    제어 신호에 따라, 상기 제2 국부 발진기 신호의 동위상 신호 및 직각 신호 중 어느 한 신호의 부호를 변경하고, 상기 제2 국부 발진기 신호의 상기 동위상 신호 및 상기 직각 신호를 서로 교체하는 국부 발진기 신호 제어부; 및
    각주파수를 가지는 상기 제1 IQ 신호를 상기 IQ 상향 변환 믹서에 제공하며, 상기 국부 발진기 신호 제어부에 상기 제어 신호를 인가하고, 상기 제3 IQ 신호로부터 송신 IQ 불일치 및 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정부를 구비하는 IQ 불일치 측정 장치.
  36. 제35 항에 있어서,
    상기 제2 국부 발진기 신호의 상기 동위상 신호 및 상기 직각 신호가 각각 제1 측정기간에는 I2 및 Q2이고, 제2 측정기간에는 I2` 및 Q2`이라면,
    I2 및 Q2과 I2` 및 Q2`의 관계는 수학식 I2`=Q2, Q2`=-I2와 같이 표현되거나, 수학식 I2`=-Q2, Q2`=I2와 같이 표현되는 IQ 불일치 측정 장치.
  37. 제1 IQ 신호와 제1 국부 발진기 신호를 곱한 제2 IQ 신호를 출력하는 IQ 상향 변환 믹서;
    상기 제2 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호의 합과 제2 국부 발진기 신호-상기 제1 국부 발진기 신호와 상기 제2 국부 발진기 신호는 동일한 각주파수를 가짐-를 곱한 제3 IQ 신호를 출력하는 IQ 하향 변환 믹서;
    제어 신호에 따라, 상기 제2 국부 발진기 신호의 동위상 신호 및 직각 신호 중 어느 한 신호의 부호를 변경하고, 상기 제1 국부 발진기 신호의 동위상 신호 및 직각 신호를 서로 교체하는 국부 발진기 신호 제어부; 및
    각주파수를 가지는 상기 제1 IQ 신호를 상기 IQ 상향 변환 믹서에 제공하며, 상기 국부 발진기 신호 제어부에 상기 제어 신호를 인가하고, 상기 제3 IQ 신호로부터 송신 IQ 불일치 및 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정부를 구비하는 IQ 불일치 측정 장치.
  38. 제37 항에 있어서,
    상기 제1 국부 발진기 신호의 상기 동위상 신호 및 상기 직각 신호가 각각 제1 측정기간에는 I1 및 Q1이고, 제2 측정기간에는 I1` 및 Q1`이며, 상기 제2 국부 발진기 신호의 상기 동위상 신호 및 상기 직각 신호가 각각 제1 측정기간에는 I2 및 Q2이고, 제2 측정기간에는 I2` 및 Q2`이며,
    I2 및 Q2과 I2` 및 Q2`의 관계는 수학식 I2`=I2, Q2`=-Q2와 같이 표현되거나, 수학식 I2`=-I2, Q2`=Q2와 같이 표현되며,
    I1 및 Q1와 I1` 및 Q1`의 관계는 수학식 I1`=Q1, Q1`=I1와 같이 표현되는 IQ 불일치 측정 장치.
  39. 제36 또는 제38 항에 있어서,
    상기 IQ 불일치 측정부가 상기 제1 측정기간에 상기 제3 IQ 신호로부터 구한 IQ 불일치를 제1 IQ 불일치라 하고, 상기 제2 측정기간에 상기 제3 IQ 신호로부터 구한 IQ 불일치를 제2 IQ 불일치라 하며, 상기 제1 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_tr+ 및 dp_tr+라 하고, 상기 제2 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_tr- 및 dp_tr-라 하고, 상기 송신 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_t 및 dp_t라 하고, 상기 수신 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_r 및 dp_r라 하면,
    상기 IQ 불일치 측정부는 수학식
    dg_t = (dg_tr+ + dg_tr-)/2
    dp_t = (dp_tr+ + dp_tr-)/2
    dg_r = (dg_tr+ - dg_tr-)/2
    dp_r = (dp_tr+ - dp_tr-)/2
    에 대응하는 상기 송신 IQ 불일치 및 상기 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정 장치.
  40. 제39 항에 있어서,
    상기 IQ 불일치 측정부는
    상기 제1 IQ 신호-상기 제1 IQ 신호가 상기 제1 측정기간에는 제1 각주파수를 가지고, 상기 제2 측정기간에는 제2 각주파수를 가지며, 상기 제2 각주파수는 상기 제1 각주파수와 동일하거나 다름-를 출력하는 회전부;
    상기 제3 IQ 신호로부터 제4 IQ 신호 및 제5 IQ 신호-상기 제4 IQ 신호는 상기 제1 측정기간에는 상기 제3 IQ 신호를 상기 제1 각주파수만큼 역회전시킴으로써 얻어진 신호이고, 상기 제2 측정기간에는 상기 제3 IQ 신호를 상기 제2 각주파수만큼 역회전시킴으로써 얻어진 신호이며, 상기 제5 IQ 신호는 상기 제1 측정기간에는 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제1 각주파수)]만큼 역회전시킴으로써 얻어진 신호이고, 상기 제2 측정기간에는 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제2 각주파수)]만큼 역회전시킴으로써 얻어진 신호임-를 구하는 역회전부;
    상기 제4 IQ 신호의 DC 성분에 해당하는 제6 IQ 신호 및 상기 제5 IQ 신호의 DC 성분에 해당하는 제7 IQ 신호를 구하는 DC 측정부; 및
    상기 제1 측정기간에는 상기 제6 IQ 신호 및 상기 제7 IQ 신호로부터 상기 제1 IQ 불일치를 구하고, 상기 제2 측정기간에는 상기 제6 IQ 신호 및 상기 제7 IQ 신호로부터 상기 제2 IQ 불일치를 구하는 제어부를 구비하는 IQ 불일치 측정 장치.
  41. 제40 항에 있어서,
    상기 역회전부는 [I3×cos(△ω×t) - Q3×sin(△ω×t)]에 대응하는 I4; [I3×sin(△ω×t) + Q3×cos(△ω×t)]에 대응하는 Q4; [I3×cos(△ω×t) + Q3×sin(△ω×t)]에 대응하는 I5; 및 [-I3×sin(△ω×t) + Q3×cos(△ω×t)]에 대응하는 Q5를 출력하되,
    상기 I3 및 Q3는 각각 상기 제3 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 I4 및 Q4는 각각 상기 제4 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 I5 및 Q5는 각각 상기 제5 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 △ω는 상기 제1 측정기간에는 상기 제1 각주파수에 해당하고, 상기 제2 측정기간에는 상기 제2 각수파수에 해당하는 IQ 불일치 측정 장치.
  42. 제40 항에 있어서,
    상기 제어부는 [(I6×Q7 + Q6×I7) ÷ (I62 + Q62)]에 대응하는 위상 오차 및 [(I6×I7 - Q6×Q7) ÷ (I62 + Q62)]에 대응하는 이득 오차를 구하되,
    상기 I6 및 Q6는 각각 상기 제6 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 I7 및 Q7는 각각 상기 제7 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 제1 측정기간에 구해진 상기 위상 오차 및 상기 이득 오차는 각각 상기 제1 IQ 불일치의 위상 오차 및 이득 오차에 해당하며, 상기 제2 측정기간에 구해진 상기 위상 오차 및 상기 이득 오차는 각각 상기 제2 IQ 불일치의 위상 오차 및 이득 오차에 해당하는 IQ 불일치 측정 장치.
  43. 제1 IQ 신호와 제1 국부 발진기 신호를 곱한 제2 IQ 신호를 출력하는 IQ 상향 변환 믹서;
    상기 제2 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호의 합과 제2 국부 발진기 신호-상기 제1 국부 발진기 신호와 상기 제2 국부 발진기 신호는 동일한 각주파수를 가짐-를 곱한 제3 IQ 신호를 출력하는 IQ 하향 변환 믹서;
    제어 신호에 따라, 상기 제2 국부 발진기 신호의 동위상 신호 및 직각 신호 중 어느 한 신호의 부호를 변경하는 국부 발진기 신호 제어부; 및
    각주파수를 가지는 상기 제1 IQ 신호를 상기 IQ 상향 변환 믹서에 제공하며, 상기 국부 발진기 신호 제어부에 상기 제어 신호를 인가하고, 상기 제3 IQ 신호로부터 송신 IQ 불일치 및 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정부를 구비하는 IQ 불일치 측정 장치.
  44. 제43 항에 있어서,
    상기 제2 국부 발진기 신호의 상기 동위상 신호 및 상기 직각 신호가 각각 제1 측정기간에는 I2 및 Q2이고, 제2 측정기간에는 I2` 및 Q2`이라면,
    I2 및 Q2과 I2` 및 Q2`의 관계는 수학식 I2`=I2, Q2`=-Q2와 같이 표현되거나, 수학식 I2`=-I2, Q2`=Q2와 같이 표현되는 IQ 불일치 측정 장치.
  45. 제44 항에 있어서,
    상기 IQ 불일치 측정부가 상기 제1 측정기간에 상기 제3 IQ 신호로부터 구한 IQ 불일치를 제1 IQ 불일치라 하고, 상기 제2 측정기간에 상기 제3 IQ 신호로부터 구한 IQ 불일치를 제2 IQ 불일치라 하며, 상기 제1 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_tr+ 및 dp_tr+라 하고, 상기 제2 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_tr- 및 dp_tr-라 하고, 상기 송신 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_t 및 dp_t라 하고, 상기 수신 IQ 불일치의 이득 오차 및 위상 오차를 각각 dg_r 및 dp_r라 하면,
    상기 IQ 불일치 측정부는 수학식
    dg_t = (dg_tr+ + dg_tr-)/2
    dp_t = (dp_tr+ + dp_tr-)/2
    dg_r = (dg_tr+ - dg_tr-)/2
    dp_r = (dp_tr+ - dp_tr-)/2
    에 대응하는 상기 송신 IQ 불일치 및 상기 수신 IQ 불일치를 구하는 IQ 불일치 측정 장치.
  46. 제45 항에 있어서,
    상기 IQ 불일치 측정부는
    상기 제1 IQ 신호-상기 제1 IQ 신호가 상기 제1 측정기간에는 제1 각주파수를 가지고, 상기 제2 측정기간에는 [-(제2 각주파수)]를 가지며, 상기 제2 각주파수는 상기 제1 각주파수와 동일하거나 다름-를 출력하는 회전부;
    상기 제3 IQ 신호로부터 제4 IQ 신호 및 제5 IQ 신호-상기 제4 IQ 신호는 상기 제1 측정기간에는 상기 제3 IQ 신호를 상기 제1 각주파수만큼 역회전시킴으로써 얻어진 신호이고, 상기 제2 측정기간에는 상기 제3 IQ 신호를 상기 제2 각주파수만큼 역회전시킴으로써 얻어진 신호이며, 상기 제5 IQ 신호는 상기 제1 측정기간에는 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제1 각주파수)]만큼 역회전시킴으로써 얻어진 신호이고, 상기 제2 측정기간에는 상기 제3 IQ 신호를 [-(상기 제2 각주파수)]만큼 역회전시킴으로써 얻어진 신호임-를 구하는 역회전부;
    상기 제4 IQ 신호의 DC 성분에 해당하는 제6 IQ 신호 및 상기 제5 IQ 신호의 DC 성분에 해당하는 제7 IQ 신호를 구하는 DC 측정부; 및
    상기 제1 측정기간에는 상기 제6 IQ 신호 및 상기 제7 IQ 신호로부터 상기 제1 IQ 불일치를 구하고, 상기 제2 측정기간에는 상기 제6 IQ 신호 및 상기 제7 IQ 신호로부터 상기 제2 IQ 불일치를 구하는 제어부를 구비하는 IQ 불일치 측정 장치.
  47. 제46 항에 있어서,
    상기 역회전부는 [I3×cos(△ω×t) - Q3×sin(△ω×t)]에 대응하는 I4; [I3×sin(△ω×t) + Q3×cos(△ω×t)]에 대응하는 Q4; [I3×cos(△ω×t) + Q3×sin(△ω×t)]에 대응하는 I5; 및 [-I3×sin(△ω×t) + Q3×cos(△ω×t)]에 대응하는 Q5를 출력하되,
    상기 I3 및 Q3는 각각 상기 제3 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 I4 및 Q4는 각각 상기 제4 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 I5 및 Q5는 각각 상기 제5 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 △ω는 상기 제1 측정기간에는 상기 제1 각주파수에 해당하고, 상기 제2 측정기간에는 상기 제2 각수파수에 해당하는 IQ 불일치 측정 장치.
  48. 제46 항에 있어서,
    상기 제어부는 [(I6×Q7 + Q6×I7) ÷ (I62 + Q62)]에 대응하는 위상 오차 및 [(I6×I7 - Q6×Q7) ÷ (I62 + Q62)]에 대응하는 이득 오차를 구하되,
    상기 I6 및 Q6는 각각 상기 제6 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 I7 및 Q7는 각각 상기 제7 IQ 신호의 I 성분 신호 및 Q 성분 신호이며, 상기 제1 측정기간에 구해진 상기 위상 오차 및 상기 이득 오차는 각각 상기 제1 IQ 불일치의 위상 오차 및 이득 오차에 해당하며, 상기 제2 측정기간에 구해진 상기 위상 오차 및 상기 이득 오차는 각각 상기 제2 IQ 불일치의 위상 오차 및 이득 오차에 해당하는 IQ 불일치 측정 장치.
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2413553A4 (en) * 2009-11-09 2012-12-26 Huawei Tech Co Ltd METHOD, DEVICE AND SYSTEM FOR CORRECTING MICROWAVE SIGNAL
JP2011188436A (ja) * 2010-03-11 2011-09-22 Advantest Corp 測定装置、測定方法およびプログラム
WO2011121979A1 (ja) * 2010-03-29 2011-10-06 旭化成エレクトロニクス株式会社 位相調整回路、位相調整方法
EP2712140B1 (en) 2012-09-21 2015-12-30 ST-Ericsson SA Loopback technique for IQ imbalance estimation for calibration in OFDM systems
US11012201B2 (en) * 2013-05-20 2021-05-18 Analog Devices, Inc. Wideband quadrature error detection and correction
GB2537800B (en) * 2014-12-22 2018-05-30 Imagination Tech Ltd IQ imbalance estimator
US10608853B1 (en) * 2018-09-13 2020-03-31 Texas Instruments Incorporated Phase error reduction in a receiver
US11374803B2 (en) 2020-10-16 2022-06-28 Analog Devices, Inc. Quadrature error correction for radio transceivers
US11847021B2 (en) 2022-02-25 2023-12-19 Macronix International Co., Ltd. Memory block, memory device for error correction operation and method thereof

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040058420A (ko) * 2002-12-26 2004-07-05 한국전자통신연구원 Ｉ/ｑ 채널간 이득 및 위상 불일치 보상 기능을 갖는 직교복조 장치 및 그 방법
KR20050055540A (ko) * 2003-12-08 2005-06-13 한국전자통신연구원 직접변환 낮은 중간주파수 방식 상향변환에 의한 동위상채널과 직교채널간 부정합 추출 장치와 그를 이용한 직접변환 디지털 직교 송신 시스템 및 그 방법
KR20050074917A (ko) * 2004-01-14 2005-07-19 히다찌 커뮤니케이션 테크놀로지 무선 통신 장치의 타이밍 조정 방법
US7020220B2 (en) 2002-06-18 2006-03-28 Broadcom Corporation Digital estimation and correction of I/Q mismatch in direct conversion receivers
KR20060081191A (ko) * 2005-01-07 2006-07-12 삼성전자주식회사 직교 위상 편이 키잉 복조기에서 위상 부정합 보상 장치

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6421398B1 (en) * 2000-01-28 2002-07-16 Alcatel Canada Inc. Modulation system having on-line IQ calibration
US6819910B2 (en) * 2002-03-08 2004-11-16 Broadcom Corp. Radio employing a self calibrating transmitter with reuse of receiver circuitry
US7248625B2 (en) * 2002-09-05 2007-07-24 Silicon Storage Technology, Inc. Compensation of I-Q imbalance in digital transceivers
US7274750B1 (en) * 2002-09-27 2007-09-25 3Com Corporation Gain and phase imbalance compensation for OFDM systems
JP2006526348A (ja) * 2003-05-30 2006-11-16 コーニンクレッカ　フィリップス　エレクトロニクス　エヌ　ヴィ Ｉｑ不均衡を推定するための方法および装置
US7310387B2 (en) * 2003-12-26 2007-12-18 Electronics And Telecommunications Research Institute Apparatus for compensating DC offsets, gain and phase imbalances between I-channel and Q-channel in quadrature transceiving system
KR100710088B1 (ko) * 2006-02-23 2007-04-20 지씨티 세미컨덕터 인코포레이티드 Ｉｑ 불일치를 보상하는 수신 회로 및 방법
US8654885B2 (en) * 2006-06-06 2014-02-18 Qualcomm Incorporated Fast in-phase and quadrature imbalance calibration
KR100819391B1 (ko) * 2007-02-08 2008-04-07 지씨티 세미컨덕터 인코포레이티드 Ｉｑ 불일치 측정 장치
KR100865538B1 (ko) * 2007-02-08 2008-10-27 지씨티 세미컨덕터 인코포레이티드 Ｉｑ 불일치 측정 장치

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7020220B2 (en) 2002-06-18 2006-03-28 Broadcom Corporation Digital estimation and correction of I/Q mismatch in direct conversion receivers
KR20040058420A (ko) * 2002-12-26 2004-07-05 한국전자통신연구원 Ｉ/ｑ 채널간 이득 및 위상 불일치 보상 기능을 갖는 직교복조 장치 및 그 방법
KR20050055540A (ko) * 2003-12-08 2005-06-13 한국전자통신연구원 직접변환 낮은 중간주파수 방식 상향변환에 의한 동위상채널과 직교채널간 부정합 추출 장치와 그를 이용한 직접변환 디지털 직교 송신 시스템 및 그 방법
KR20050074917A (ko) * 2004-01-14 2005-07-19 히다찌 커뮤니케이션 테크놀로지 무선 통신 장치의 타이밍 조정 방법
KR20060081191A (ko) * 2005-01-07 2006-07-12 삼성전자주식회사 직교 위상 편이 키잉 복조기에서 위상 부정합 보상 장치

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