JP2011085404A - 検出器、及び測定機 - Google Patents

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Abstract

【課題】検出器をスタイラスの軸方向に沿って移動させることで被測定物等にスタイラスを接触させた場合であっても検出器の破損を防止することができる検出器の提供。
【解決手段】検出器4は、スタイラス41と、スタイラス41の基端部を保持する保持部42と、保持部42を回転軸Pまわりに回動自在に支持する本体部43と、保持部42の回転変位を検出するセンサ44とを備える。保持部42は、スタイラス41の基端部が当接される当接部材421と、スタイラス41の基端部を当接部材421に向かって付勢する板バネ422とを備える。当接部材421は、スタイラス41の基端部が当接される溝部424Aと、溝部424Aの底と比較して板バネ422側に向かって突出する半球部425Aとを備える。スタイラス41の基端部には、回転軸P側に向かうにしたがって、板バネ422側に傾斜する基端傾斜部412が形成されている。
【選択図】図2

Description

本発明は、検出器、及び検出器を備える測定機に関する。
従来、被測定物に接触する接触子を先端部に有する棒状のスタイラスと、スタイラスの基端部を保持する保持部と、保持部を所定の回転軸まわりに回動自在に支持する本体部と、保持部の回転変位を検出するセンサとを備え、保持部の回転変位に基づいて、スタイラスの先端部の変位(以下、単にスタイラスの変位とする)を検出する測定機用の検出器が知られている(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1に記載のプローブ(検出器)は、スタイラスと、スタイラスホルダ(保持部)と、プローブ本体(本体部)とを備え、スタイラスホルダの回転変位に基づいて、スタイラスの変位を検出している。そして、このプローブを備える真円度測定機は、プローブを所定の方向(以下、測定方向)に移動させてスタイラスの測定子(接触子)を被測定物に接触させることでスタイラスを変位させ、プローブにて検出されるスタイラスの変位に基づいて被測定物を測定している。
また、特許文献1に記載のプローブは、測定方向とは逆方向へのスタイラスホルダの回転を検出するための接触式のスイッチを備えている。そして、スイッチにて測定方向とは逆方向へのスタイラスの変位を検出した場合には、真円度測定機は、プローブの移動を停止する等の処理を行うことで被測定物等との衝突によるプローブの破損を防止している。
しかしながら、特許文献1に記載のプローブでは、プローブに新たにスイッチを取り付けなければならないので、部品点数が増加し、製造コストが増加するという問題がある。また、プローブにスイッチを取り付けるためのスペースを設けなければならないので、プローブが大型化するという問題がある。
これに対して、センサにて検出されるスタイラスの変位に基づいて、被測定物等との衝突による検出器の破損を防止することが考えられる。これによれば、検出器に新たな部品を取り付ける必要がないので、製造コストを低減させることができるとともに、検出器を小型化することができる。
図6は、従来の検出器100の構成を示す模式図である。
検出器100は、図6に示すように、被測定物に接触する接触子111を先端部に有する棒状のスタイラス110と、スタイラス110の基端部を保持する保持部120と、保持部120を所定の回転軸Pまわりに回動自在に支持する本体部130と、保持部120の回転変位を検出するセンサ140とを備える。なお、図6では、説明のために本体部130を透視している。
保持部120は、スタイラス110の基端部が当接される溝部121Aを有する当接部材121と、スタイラス110の軸、及び回転軸Pと直交する方向(図6中左右方向)に沿って当接部材121と対向して配設され、スタイラス110の基端部を溝部121Aに向かって付勢する付勢部材としての板バネ122と、当接部材121、及び板バネ122を支持するとともに、本体部130に回動自在に支持される支持部材123とを備える。
センサ140は、支持部材123に取り付けられるコア141と、本体部130に取り付けられる2つのコイル142とを備え、差動トランス方式によってコア141の変位を検出することで保持部120の回転変位を検出する。
図7は、被測定物Wにスタイラス110を接触させた状態を示す図である。なお、図7(A)は、検出器100をスタイラス110の軸、及び回転軸Pと直交する方向(以下、接触方向とする)に沿って移動させることで被測定物Wにスタイラス110を接触させた状態を示す図であり、図7(B)は、検出器100をスタイラス110の軸方向に沿って移動させることで被測定物Wにスタイラス110を接触させた状態を示す図である。
検出器100を接触方向に沿って移動させることで被測定物Wにスタイラス110を接触させた場合には、図7(A)に示すように、スタイラス110は変位し、コア141は保持部120の回転に伴って変位するので、センサ140は、保持部120の回転変位に基づいて、スタイラス110の変位を検出することができる。したがって、測定機は、例えば、スタイラス110の変位が所定の閾値より大きい場合に検出器100の移動を停止する等の処理を行うことで被測定物Wとの衝突による検出器100の破損を防止することができる。
特開2004−233131号公報
しかしながら、検出器100をスタイラス110の軸方向に沿って移動させることで被測定物Wにスタイラス110を接触させた場合には、図7(B)に示すように、スタイラス110は変位しないので、センサ140は、スタイラス110の変位を検出することができない。したがって、測定機は、検出器100の移動を停止する等の処理を行うことができず、被測定物Wとの衝突による検出器100の破損を防止することができないという問題がある。
本発明の目的は、検出器に新たな部品を取り付けることなく、検出器をスタイラスの軸方向に沿って移動させることで被測定物等にスタイラスを接触させた場合であっても被測定物等との衝突による検出器の破損を防止することができる検出器、及び検出器を備える測定機を提供することにある。
本発明の検出器は、被測定物に接触する接触子を先端部に有する棒状のスタイラスと、前記スタイラスの基端部を保持する保持部と、前記保持部を所定の回転軸まわりに回動自在に支持する本体部と、前記保持部の回転変位を検出するセンサとを備え、前記保持部の回転変位に基づいて、前記スタイラスの先端部の変位を検出する測定機用の検出器であって、前記保持部は、前記スタイラスの基端部が当接される溝部を有する当接部材と、前記スタイラスの軸、及び前記回転軸と直交する方向に沿って前記当接部材と対向して配設され、前記スタイラスの基端部を前記溝部に向かって付勢する付勢部材とを備え、前記当接部材は、前記溝部の延出方向に沿って前記溝部と隣り合うとともに、前記溝部に対して前記回転軸側に設けられ、前記溝部の底と比較して前記付勢部材側に向かって突出する突出部を備え、前記スタイラスの基端部には、前記回転軸側に向かうにしたがって、前記付勢部材側に傾斜する基端傾斜部が形成されていることを特徴とする。
このような構成によれば、スタイラスの基端部は、当接部材の溝部と、付勢部材とで挟持されているので、検出器をスタイラスの軸方向に沿って移動させることで被測定物にスタイラスを接触させた場合にスタイラスの先端部側から基端部側に向かってスタイラスに対して力が加わると、スタイラスは溝部に沿って回転軸側に向かって摺動する。
スタイラスが溝部に沿って回転軸側に向かって摺動すると、当接部材の突出部にスタイラスの基端傾斜部が乗り上げていくこととなり、スタイラスの基端部は、付勢部材側に移動する。このとき、スタイラスの先端部は、被測定物に接触しているので、摩擦力によって移動が抑制される。すなわち、保持部は、回転軸まわりに回転することとなるので、スタイラスの先端部側から基端部側に向かってスタイラスに対して加わる力を、保持部の回転変位に変換することができる。
したがって、センサは、スタイラスの先端部側から基端部側に向かってスタイラスに対して加わる力を、スタイラスの変位として検出することができるので、検出器に新たな部品を取り付けることなく、検出器をスタイラスの軸方向に沿って移動させることで被測定物等にスタイラスを接触させた場合であっても被測定物等との衝突による検出器の破損を防止することができる。
本発明では、前記スタイラスの中間部には、前記回転軸とは反対側に向かうにしたがって、前記当接部材側に傾斜する中間傾斜部が形成され、前記スタイラスの基端から前記中間傾斜部までの長さは、前記溝部における前記回転軸とは反対側の一端から前記突出部までの長さより短いことが好ましい。
このような構成によれば、スタイラスが溝部に沿って回転軸側に向かって摺動すると、スタイラスの基端から中間傾斜部までの長さは、溝部における回転軸とは反対側の一端から突出部までの長さより短いので、まず、溝部に中間傾斜部が乗り上げていくこととなり、スタイラスの基端部は、当接部材側に移動する。次に、突出部に基端傾斜部が乗り上げていくこととなり、スタイラスの基端部は、付勢部材側に移動する。すなわち、保持部は、回転軸まわりの両側にそれぞれ回転することとなる。したがって、いずれか一方の接触方向へのスタイラスの変位のみを検出するようにセンサを構成した場合であっても、センサは、スタイラスの先端部側から基端部側に向かってスタイラスに対して加わる力を、スタイラスの変位として検出することができるので、検出器の利便性を向上させることができる。
本発明の測定機は、前述した検出器を備えることを特徴とする。
このような構成によれば、測定機は、前述した測定機を備えるので、前述した検出器と同様の作用効果を奏することができる。
本発明の第1実施形態に係る真円度測定機を示す模式図。 前記実施形態における検出器の詳細構成を示す模式図。 前記実施形態における被測定物にスタイラスを接触させるときのスタイラスの動きを示す図。 本発明の第2実施形態に係る検出器の詳細構成を示す模式図。 前記実施形態における被測定物にスタイラスを接触させるときのスタイラスの動きを示す図。 従来の検出器の構成を示す模式図。 被測定物にスタイラスを接触させた状態を示す図。
〔第1実施形態〕
以下、本発明の第1実施形態を図面に基づいて説明する。
図1は、本発明の第1実施形態に係る真円度測定機1を示す模式図である。
真円度測定機1は、図1に示すように、基台2と、基台2の上面に所定の回転軸L(図1中一点鎖線)を中心として回転自在に設けられる回転テーブル3と、回転テーブル3の上面に載置される被測定物Wの表面の位置を検出するための検出器4と、検出器4を移動させる移動機構5と、真円度測定機1全体を制御する制御装置6とを備え、制御装置6による制御の下、移動機構5にて検出器4を移動させて被測定物Wに接触させることで被測定物Wの真円度を測定する測定機である。
回転テーブル3は、制御装置6による制御の下、基台2の内部に設けられたモータなどで構成される駆動機構(図示略)にて駆動されることで回転軸Lを中心として回転する。
移動機構5は、基台2の上面に立設されるコラム51と、コラム51にて支持され、基台2の上面に対して昇降自在に設けられるスライダ52と、スライダ52にて支持され、回転テーブル3に対して進退自在に設けられるアーム53とを備える。そして、検出器4は、アーム53の回転テーブル3側の一端に取り付けられている。また、移動機構5は、制御装置6による制御の下、コラム51や、スライダ52の内部に設けられたモータなどで構成される駆動機構(図示略)にて駆動されることで検出器4を移動させる。
図2は、検出器4の詳細構成を示す模式図である。
検出器4は、図2に示すように、被測定物Wに接触する接触子411を先端部に有する棒状のスタイラス41と、スタイラス41の基端部を保持する保持部42と、保持部42を所定の回転軸Pまわりに回動自在に支持する本体部43と、保持部42の回転変位を検出するセンサ44とを備える。なお、図2では、説明のために本体部43を透視している。以下の図面においても同様である。
保持部42は、スタイラス41の基端部が当接される当接部材421と、スタイラス41の軸、及び回転軸Pと直交する方向、すなわち接触方向(図2中左右方向)に沿って当接部材421と対向して配設され、スタイラス41の基端部を当接部材421に向かって付勢する付勢部材としての板バネ422と、当接部材421、及び板バネ422を支持するとともに、本体部43に回動自在に支持される支持部材423とを備える。
当接部材421は、スタイラス41側の幅広部424と、回転軸P側の幅狭部425とを有する断面略L字状に形成されている。そして、幅広部424には、スタイラス41の基端部が当接される溝部424Aが形成され、幅狭部425には、溝部424Aの底と比較して板バネ422側に向かって突出する半球部425Aが形成されている。すなわち、本実施形態では、突出部は、半球部425Aで構成されている。
また、スタイラス41の基端部には、回転軸P側に向かうにしたがって、板バネ422側に傾斜する基端傾斜部412が形成されている。
センサ44は、支持部材423に取り付けられるコア441と、本体部43に取り付けられる2つのコイル442とを備え、差動トランス方式によってコア441の変位を検出することで保持部42の回転変位を検出する。
図3は、被測定物Wにスタイラス41を接触させるときのスタイラス41の動きを示す図である。なお、図3(A)は、検出器4を移動させる前の状態を示す図であり、図3(B)は、検出器4をスタイラス41の軸方向に沿って移動させることで被測定物Wにスタイラス41を接触させた状態を示す図である。
スタイラス41の基端部は、図3(A)に示すように、当接部材421の溝部424Aと、板バネ422とで挟持されている。したがって、検出器4をスタイラス41の軸方向に沿って移動させることで被測定物Wにスタイラス41を接触させた場合にスタイラス41の先端部側から基端部側に向かってスタイラス41に対して力が加わると、スタイラス41は溝部424Aに沿って回転軸P側に向かって摺動する。
スタイラス41が溝部424Aに沿って回転軸P側に向かって摺動すると、図3(B)に示すように、半球部425Aに基端傾斜部412が乗り上げていくこととなり、スタイラス41の基端部は、板バネ422側に移動する。このとき、スタイラス41の先端部は、被測定物Wに接触しているので、摩擦力によって移動が抑制される。すなわち、保持部42は、回転軸Pまわりに回転することとなるので、スタイラス41の先端部側から基端部側に向かってスタイラス41に対して加わる力を、保持部42の回転変位に変換することができる。したがって、センサ44は、スタイラス41の先端部側から基端部側に向かってスタイラス41に対して加わる力を、スタイラス41の変位として検出することができる。
そして、制御装置6は、例えば、スタイラス41の変位が所定の閾値より大きい場合に検出器4の移動を停止する等の処理を行う。
このような本実施形態によれば以下の効果がある。
(1)真円度測定機1は、センサ44を備え、センサ44は、スタイラス41の先端部側から基端部側に向かってスタイラス41に対して加わる力を、スタイラス41の変位として検出することができるので、検出器4に新たな部品を取り付けることなく、検出器4をスタイラス41の軸方向に沿って移動させることで被測定物W等にスタイラス41を接触させた場合であっても被測定物W等との衝突による検出器4の破損を防止することができる。
〔第2実施形態〕
以下、本発明の第2実施形態を図面に基づいて説明する。
図4は、本発明の第2実施形態に係る検出器4Aの詳細構成を示す模式図である。
本実施形態では、検出器4Aは、図4に示すように、スタイラス41Aを備え、スタイラス41Aの中間部には、テーパ部413が形成されている点で前記第1実施形態と異なる。なお、以下の説明では、既に説明した部分については、同一符号を付してその説明を省略する。
テーパ部413は、回転軸Pとは反対側に向かうにしたがって、径が大きくなるように形成されている。すなわち、本実施形態では、テーパ部413は、回転軸Pとは反対側に向かうにしたがって、当接部材421側に傾斜するように形成された中間傾斜部として機能する。
また、スタイラス41Aの基端からテーパ部413までの長さは、溝部424Aにおける回転軸Pとは反対側の一端から半球部425Aまでの長さより短い。
図5は、被測定物Wにスタイラス41Aを接触させるときのスタイラス41Aの動きを示す図である。なお、図5(A)は、検出器4Aを移動させる前の状態を示す図であり、図5(B)は、検出器4Aをスタイラス41Aの軸方向に沿って移動させることで被測定物Wにスタイラス41Aを接触させた状態を示す図であり、図5(C)は、図5(B)の状態から更に検出器4Aを移動させた状態を示す図である。
検出器4をスタイラス41Aの軸方向に沿って移動させることで被測定物Wにスタイラス41Aを接触させた場合にスタイラス41Aの先端部側から基端部側に向かってスタイラス41Aに対して力が加わると、図5(A),(B)に示すように、スタイラス41Aは溝部424Aに沿って回転軸P側に向かって摺動する。
スタイラス41Aが溝部424Aに沿って回転軸P側に向かって摺動すると、スタイラス41Aの基端からテーパ部413までの長さは、溝部424Aにおける回転軸Pとは反対側の一端から半球部425Aまでの長さより短いので、図5(B)に示すように、まず、溝部424Aにテーパ部413が乗り上げていくこととなり、スタイラス41Aの基端部は、当接部材421側に移動する。次に、図5(C)に示すように、半球部425Aに基端傾斜部412が乗り上げていくこととなり、スタイラス41Aの基端部は、板バネ422側に移動する。すなわち、保持部42は、回転軸Pまわりの両側にそれぞれ回転することとなる。
このような本実施形態においても、前記第1実施形態と同様の作用、効果を奏することができる他、以下の作用、効果を奏することができる。
(2)いずれか一方の接触方向へのスタイラス41Aの変位のみを検出するようにセンサ44を構成した場合であっても、センサ44は、スタイラス41Aの先端部側から基端部側に向かってスタイラス41Aに対して加わる力を、スタイラス41Aの変位として検出することができるので、検出器4Aの利便性を向上させることができる。
〔実施形態の変形〕
なお、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
例えば、前記実施形態では、突出部は、半球部425Aで構成されていたが、他の形状で形成されていてもよい。要するに、突出部は、溝部の延出方向に沿って溝部と隣り合うとともに、溝部に対して回転軸側に設けられ、溝部の底と比較して付勢部材側に向かって突出する部分であればよい。
前記実施形態では、中間傾斜部は、テーパ部413で構成されていたが、他の形状で形成されていてもよい。要するに、中間傾斜部は、スタイラスの中間部に形成され、回転軸とは反対側に向かうにしたがって、当接部材側に傾斜する部分であればよい。
前記実施形態では、測定機として真円度測定機1を例示したが、例えば、三次元測定機などの他の測定機であってもよい。
本発明は、検出器、及び検出器を備える測定機に好適に利用することができる。
1…真円度測定機(測定機)
4,4A…検出器
41,41A…スタイラス
42…保持部
43…本体部
44…センサ
411…接触子
412…基端傾斜部
413…テーパ部(中間傾斜部)
421…当接部材
422…板バネ(付勢部材)
424A…溝部
425A…半球部(突出部)
W…被測定物

Claims (3)

  1. 被測定物に接触する接触子を先端部に有する棒状のスタイラスと、前記スタイラスの基端部を保持する保持部と、前記保持部を所定の回転軸まわりに回動自在に支持する本体部と、前記保持部の回転変位を検出するセンサとを備え、前記保持部の回転変位に基づいて、前記スタイラスの先端部の変位を検出する測定機用の検出器であって、
    前記保持部は、
    前記スタイラスの基端部が当接される溝部を有する当接部材と、
    前記スタイラスの軸、及び前記回転軸と直交する方向に沿って前記当接部材と対向して配設され、前記スタイラスの基端部を前記溝部に向かって付勢する付勢部材とを備え、
    前記当接部材は、
    前記溝部の延出方向に沿って前記溝部と隣り合うとともに、前記溝部に対して前記回転軸側に設けられ、前記溝部の底と比較して前記付勢部材側に向かって突出する突出部を備え、
    前記スタイラスの基端部には、前記回転軸側に向かうにしたがって、前記付勢部材側に傾斜する基端傾斜部が形成されていることを特徴とする検出器。
  2. 請求項1に記載の検出器において、
    前記スタイラスの中間部には、前記回転軸とは反対側に向かうにしたがって、前記当接部材側に傾斜する中間傾斜部が形成され、
    前記スタイラスの基端から前記中間傾斜部までの長さは、前記溝部における前記回転軸とは反対側の一端から前記突出部までの長さより短いことを特徴とする検出器。
  3. 請求項1または請求項2に記載の検出器を備えることを特徴とする測定機。
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JP (1) JP5331645B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015040731A (ja) * 2013-08-21 2015-03-02 株式会社アイエムエス 磁界測定装置
JP2018072268A (ja) * 2016-11-02 2018-05-10 株式会社キーエンス 画像測定装置

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5426468B2 (ja) * 2010-05-10 2014-02-26 株式会社ミツトヨ テストインジケータ
JP5754971B2 (ja) * 2011-02-14 2015-07-29 キヤノン株式会社 形状測定装置及び形状測定方法
US9157721B1 (en) * 2012-06-08 2015-10-13 Beeline Company Measuring system
JP6144157B2 (ja) 2013-08-26 2017-06-07 株式会社ミツトヨ 形状測定装置及びv溝求心測定方法
JP6518421B2 (ja) * 2014-09-24 2019-05-22 株式会社ミツトヨ 真円度測定機およびその制御方法
JP5846462B1 (ja) * 2014-10-28 2016-01-20 株式会社東京精密 形状測定装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS48113457U (ja) * 1972-03-31 1973-12-25
JPS61105847U (ja) * 1984-12-19 1986-07-05
JPS63128405U (ja) * 1987-02-16 1988-08-23
JPH0577714U (ja) * 1992-03-25 1993-10-22 株式会社ミツトヨ 変位検出器
JP2001133248A (ja) * 1999-11-01 2001-05-18 Mitsutoyo Corp 表面性状測定機用検出器

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5728082Y2 (ja) * 1975-03-19 1982-06-18
DE2835615A1 (de) * 1978-08-14 1980-02-28 Hartmut Dr Ing Janocha Optoelektronischer koordinatenmesstaster
DE4026794A1 (de) * 1990-08-24 1992-02-27 Kugelfischer G Schaefer & Co Vorrichtung zum automatischen wechseln von tasterstiften
GB2256476B (en) * 1991-05-30 1995-09-27 Rank Taylor Hobson Ltd Positional measurement
JP3640201B2 (ja) * 1997-12-26 2005-04-20 株式会社ミツトヨ 表面性状測定機
JP3296547B2 (ja) * 1998-03-02 2002-07-02 株式会社ミツトヨ 表面性状測定機用検出器
JP3959319B2 (ja) * 2002-08-22 2007-08-15 株式会社ミツトヨ 表面性状測定機用検出器
JP4091851B2 (ja) 2003-01-29 2008-05-28 株式会社ミツトヨ 接触式測定機の衝突検知装置
JP3834817B2 (ja) * 2003-05-30 2006-10-18 株式会社東京精密 測定ヘッド
DE102004044348B3 (de) * 2004-09-14 2006-04-13 Kühne, Dieter Einstelleinrichtung und Verfahren zur Ausrichtung eines Tasters
JPWO2007023605A1 (ja) * 2005-08-23 2009-02-26 株式会社東京精密 表面粗さ/輪郭形状測定装置
JP5301183B2 (ja) 2008-03-25 2013-09-25 本田技研工業株式会社 パワーユニット

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS48113457U (ja) * 1972-03-31 1973-12-25
JPS61105847U (ja) * 1984-12-19 1986-07-05
JPS63128405U (ja) * 1987-02-16 1988-08-23
JPH0577714U (ja) * 1992-03-25 1993-10-22 株式会社ミツトヨ 変位検出器
JP2001133248A (ja) * 1999-11-01 2001-05-18 Mitsutoyo Corp 表面性状測定機用検出器

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015040731A (ja) * 2013-08-21 2015-03-02 株式会社アイエムエス 磁界測定装置
JP2018072268A (ja) * 2016-11-02 2018-05-10 株式会社キーエンス 画像測定装置

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