JP2011008239A - 液晶表示装置およびその作製方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】ブルー相を呈する液晶を用い、新規な構成を有する液晶表示装置及びその作製方法を提供する。
【解決手段】同一基板上に、複数の構造体(リブ、突起、凸部とも呼ぶ)を形成し、その上に画素電極とその画素電極に対応する電極(固定電位の共通電極)を形成する。画素電極に傾斜をつけ、その画素電極に対応する電極にも傾斜をつけることにより、ブルー相を呈する液晶層に電界をかける構造とする。隣り合う構造体の間隔を狭くすることにより、液晶層に強い電界を印加することができ、液晶を駆動させるための消費電力を少なくすることができる。
【選択図】図1

Description

薄膜トランジスタ(以下、TFTという)で構成された回路を有する半導体装置およびその作製方法に関する。例えば、液晶表示パネルに代表される電気光学装置を部品として搭載した電子機器に関する。
なお、本明細書中において半導体装置とは、半導体特性を利用することで機能しうる装置全般を指し、電気光学装置、半導体回路および電子機器は全て半導体装置である。
近年、絶縁表面を有する基板上に形成された半導体薄膜(厚さ数〜数百nm程度)を用いて薄膜トランジスタ(TFT)を構成する技術が注目されている。薄膜トランジスタはICや電気光学装置のような電子デバイスに広く応用され、特に画像表示装置のスイッチング素子として開発が急がれている。
画像表示装置として代表的なものとして液晶表示装置が挙げられる。液晶表示装置は、代表的なTN表示モードの他に、IPS(In Plane Switching)モードや、FFS(Fringe Field Switching)モードなどの方式が提案されている。
また、液晶表示装置においてブルー相を呈する液晶が注目されている。菊池らによって高分子安定化処理を行うことによってブルー相の温度範囲を広げることが可能となり、実用化への道が開かれつつある(特許文献1参照)。
WO2005/090520
ブルー相を示す液晶材料は、電圧無印加状態から電圧印加状態においては、応答速度が1msec以下と短く、高速応答が可能である。
ブルー相を呈する液晶を用いる場合、基板と平行な電界により駆動を行う。一方の基板に形成された一対の電極により基板と平行な電界を形成し液晶の光学変調をうる方式となるが、一般にブルー相を示す液晶は粘性が高いため、一対の電極間に電圧(印加電圧)を印加した時に加わる実効電圧がかかりにくい領域が生じる恐れがある。
本発明の一態様は、ブルー相を呈する液晶を用い、新規な構成を有する液晶表示装置及びその作製方法を提供する。
液晶表示装置は、一対の基板と、それらの基板の間に封入されたブルー相を呈する液晶層と、液晶層に電圧を印加する一対の電極を有する。一対の電極の一方は画素電極とも呼ばれる。一対の基板の少なくとも一方は、可視光を透過する基板、代表的にはガラス基板を用いる。また、表示領域には、互いに平行に配置された複数のゲート配線が複数のソース信号線と交差して設ける。複数のゲート配線及び複数のソース信号線で区画された領域に画素電極を含む一対の電極を設ける。画素電極に傾斜をつけ、その画素電極に対応する電極(固定電位の共通電極)にも傾斜をつけることにより、ブルー相を呈する液晶層に電界をかける構造とする。
アクティブマトリクス型の液晶表示装置の場合、画素電極と電気的に接続するスイッチング素子、代表的には薄膜トランジスタ(TFTとも呼ぶ)を表示領域に配置する。マトリクス状に配置された画素電極を駆動することによって、画面上に表示パターンが形成される。詳しくは選択された画素電極と該画素電極に対応するもう一方の電極との間に電圧が印加されることによって、画素電極ともう一方の電極との間に配置された液晶層の光学変調が行われ、この光学変調が表示パターンとして観察者に認識される。
本明細書で開示する本発明の一態様は、ブルー相を示す液晶材料を含む液晶層を挟持する第1の基板及び第2の基板と、第1の基板上に複数の構造体と、前記複数の構造体上に第1の電極層と、第1の電極層上に絶縁層と、絶縁層上に絶縁層を介して前記第1の電極層と重なる第2の電極層とを有し、複数の構造体はそれぞれ等間隔で配置され、複数の構造体のそれぞれの側面が、第1の基板の平面となす角は90°未満であり、第2の電極層は、第1の電極層及び絶縁層を介して構造体の側面と重なり、第2の電極層は複数の開口を有する液晶表示装置である。
上記構成において、複数の構造体(リブ、突起、凸部とも呼ぶ)の断面形状は、台形、半楕円形、半円形、三角形状、または、断面形状が上端部または下端部に曲率半径を有する曲面を備えた形状とする。また、複数の構造体のそれぞれの側面は、傾斜面(90°未満)を有しており、構造体の高さをセルギャップ未満とする場合において、構造体の上方に形成する絶縁層及び第2の電極層の被覆不良を低減できる。なお、セルギャップとは、一対の基板に挟まれた液晶層の厚みの最大値を指す。構造体の側面と第1の基板平面がなす傾斜角度(テーパー角とも呼ぶ)が90°以上と大きい場合には絶縁層が構造体の側面に成膜されず、第1の電極と第2の電極とが短絡する恐れがある。なお、構造体の傾斜角度が10°未満と小さい場合には、隣り合う構造体の間隔を狭くすることが困難となり、結果として相対する斜面上に形成された電極間距離が離れ十分な効果を得る事が困難となる。また隣り合う構造体の中心位置の間隔は20μm以下、より好ましくは10μm以下である。隣り合う構造体の間隔を狭くすることにより、液晶層に強い電界を印加することができ、液晶を駆動させるための消費電力を少なくすることができる。構造体の傾斜角度が小さく、隣り合う構造体の間隔が広すぎると、液晶層に強い電界を印加することが困難となる。
また、構造体の上面形状は、特に限定されず、矩形状、楕円状、円状、波状、ジグザグ形状などとすることができる。構造体の高さは、使用する液晶の電圧−透過率特性により決める事が望ましいが一般にブルー相により得られる電気光学効果が(位相差)は小さいため、十分な電気光学効果を得るため100nm以上セルギャップ以下の範囲となり、ブルー相の電気光学効果を考慮すると構造体の高さは10μm以下の範囲で形成されるため、構造体の材料は、塗布法などで得られる有機樹脂材料を用いることが好ましい。
また、上記構成において、保持容量は絶縁層を誘電体として、その絶縁層を挟む一対の電極で形成することができる。絶縁層を挟む一対の電極(第1の電極層及び第2の電極層)は電気的に接続されていない。保持容量は、保持時間と画素部に配置される薄膜トランジスタのリーク電流などから定められる適用な大きさを要する。また、信号線容量に比べ適当に小さいことが必要である。
上記構成において、一対の電極の一方は画素電極でありアクティブマトリクス型の液晶表示装置であれば薄膜トランジスタと電気的に接続され、もう一方は固定電位(例えばグラウンド電位)の共通電極である。共通電極または画素電極の一方は、複数の開口(スリットとも呼ぶ)を有する上面形状とする。
また、上記構成によれば、画素電極と共通電極との間で形成される保持容量が大きくなるため、より安定した駆動特性が得られるようになる。なお、保持容量は絶縁層を誘電体として画素電極と、共通電極とで形成され、それらの重なり部分で形成される。保持容量を大きくする場合には、絶縁層の厚さは薄いほうが好ましく、絶縁層は、PCVD法やスパッタ法で得られる無機絶縁材料を用いることが好ましい。絶縁層の厚さは、10nm以上600nm以下、より好ましくは50nm以上300nm以下とする。
また、少なくとも3つ並べた構造体の配置と、第1の電極層及び第2の電極層との位置関係も特徴を有しており、その構成は、ブルー相を示す液晶材料を含む液晶層を挟持する第1の基板及び第2の基板と、第1の基板上に第1の構造体、第2の構造体、及び第3の構造体と、第1の構造体、第2の構造体、及び第3の構造体上に第1の電極層と、第1の電極層上に絶縁層と、絶縁層を介して第1の構造体の側面及び第3の構造体の側面と重なる第2の電極層と、第2の電極層は開口を有し、第1の構造体、第2の構造体、及び第3の構造体はそれぞれ等間隔で配置され、第1の構造体と第3の構造体の間に第2の構造体が配置され、第2の電極層の開口は第2の構造体と重なる液晶表示装置である。
少なくとも一つの構造体の側面に第1の電極層、絶縁層、及び第2の電極層の積層を設けることによって、一つの構造体の側面に設けられた第2の電極層と、その構造体と隣合う構造体の側面に設けた第1の電極層との間に第1の基板面(第1の基板平面)と平行な方向を含む電界を生じさせ、第1の基板面と平行な面内で液晶分子を動かして、階調を制御する。
上記各構成は、第1の基板に概略平行(すなわち水平な方向)な方向を含む電界を生じさせて、広い視野角を実現することができる。
また、上記各構成において、第1の電極層を固定電位とする共通電極とする場合、第2の電極層は、薄膜トランジスタと電気的に接続する画素電極とする。また、その場合の作製工程も特徴を有しており、その構成は、第1の基板上にゲート電極と、複数の構造体を形成し、構造体上に第1の電極層を形成し、ゲート電極及び前記第1の電極層を覆う絶縁層を形成し、絶縁層上にゲート電極と重なる半導体層を形成し、半導体層上に導電層を形成し、導電層上に半導体層と電気的に接続する第2の電極層を形成し、第2の基板を第1の基板と液晶層を間に挟んで固定し、第2の電極層は、構造体、第1の電極層、及び絶縁層と一部重なる液晶表示装置の作製方法である。この作製方法により得られる構造は、絶縁層の一部が薄膜トランジスタのゲート絶縁膜として機能し、絶縁層の他の一部が、第1の電極層と第2の電極層を絶縁し、重なる部分で保持容量を形成する。
さらに、第2の基板に第3の電極層を設ける構成とし、第3の電極層は第1の電極層と同じ電位(固定電位)であり、第3の電極層は液晶層を介して第1の電極層と重なる。第3の電極層を設けることによって、液晶層に印加する電界の領域を広げることができる。また、第3の電極層を設けることによって、液晶層に強い電界を印加することができ、液晶を駆動させるための消費電力を少なくすることができる。また、第3の電極層は液晶層を介して第2の電極層とは重ならない位置に配置する。
或いは、上記各構成において、第1の電極層を薄膜トランジスタと電気的に接続する画素電極とする場合、第2の電極層は、固定電位とする共通電極とする。第2の電極層を固定電位とする場合、さらに第2の基板に第3の電極層を設ける構成においては、第3の電極層は第2の電極層と同じ電位(固定電位)とする。また、第3の電極層を設けることによって、液晶層に強い電界を印加することができ、液晶を駆動させるための消費電力を少なくすることができる。また、第3の電極層は液晶層を介して第2の電極層と重なる位置に配置する。
上記各構成において、ブルー相を示す液晶材料を液晶層に用いるため、1フィールド当たり1色の表示を行うための色の切り替えを1/180秒以下、即ち約5.6ms以下で行うことができる。ブルー相を示す液晶材料は、応答速度が1msec以下と短く高速応答が可能であるため、液晶表示装置の高性能化が可能になる。ブルー相を示す液晶材料として液晶及びカイラル剤を含む。カイラル剤は、液晶を螺旋構造に配向させ、ブルー相を発現させるために用いる。例えば、5重量%以上のカイラル剤を混合させた液晶材料を液晶層に用いればよい。液晶は、サーモトロピック液晶、低分子液晶、高分子液晶、強誘電性液晶、反強誘電性液晶等を用いる。これらの液晶材料は、条件により、コレステリック相、コレステリックブルー相、スメクチック相、スメクチックブルー相、キュービック相、カイラルネマチック相、等方相等を示す。カイラル剤は、液晶に対する相溶性が良く、かつ捩れ力の強い材料を用いる。また、R体、S体のどちらか片方の材料が良く、R体とS体の割合が50:50のラセミ体は使用しない。
ブルー相であるコレステリックブルー相及びスメクチックブルー相は、螺旋ピッチが500nm以下とピッチの比較的短いコレステリック相またはスメクチック相を有する液晶材料にみられる。液晶材料の配向は二重ねじれ構造を有する。可視光の波長以下の秩序を有しているため、透明であり、電圧印加によって配向秩序が変化して光学的変調作用が生じる。ブルー相は光学的に等方であるため視野角依存性がなく、配向膜を形成しなくとも良いため、表示画像の質の向上及びコスト削減が可能である。
また、ブルー相は狭い温度範囲でしか発現が難しく、温度範囲を広く改善するために液晶材料に、光硬化樹脂及び光重合開始剤を添加し、高分子安定化処理を行うことが好ましい。高分子安定化処理は、液晶、カイラル剤、光硬化樹脂、及び光重合開始剤を含む液晶材料に、光硬化樹脂、及び光重合開始剤が反応する波長の光を照射して行う。この高分子安定化処理は、温度制御を行って等方相を示した状態で光照射して行っても良いし、ブルー相を発現した状態で光照射して行ってもよい。例えば、液晶層の温度を制御し、ブルー相を発現した状態で液晶層に光を照射することにより高分子安定化処理を行う。但し、これに限定されず、ブルー相と等方相間の相転移温度から+10℃以内、好ましくは+5℃以内の等方相を発現した状態で液晶層に光を照射することにより高分子安定化処理を行ってもよい。ブルー相と等方相間の相転移温度とは、昇温時にブルー相から等方相に転移する温度又は降温時に等方相からブルー相に相転移する温度をいう。高分子安定化処理の一例としては、液晶層を等方相まで加熱した後、徐々に降温させてブルー相にまで相転移させ、ブルー相が発現する温度を保持した状態で光を照射することができる。他にも、液晶層を徐々に加熱して等方相に相転移させた後、ブルー相と等方相間の相転移温度から+10℃以内、好ましくは+5℃以内状態(等方相を発現した状態)で光を照射することができる。また、液晶材料に含まれる光硬化樹脂として、紫外線硬化樹脂(UV硬化樹脂)を用いる場合、液晶層に紫外線を照射すればよい。なお、ブルー相を発現させなくとも、ブルー相と等方相間の相転移温度から+10℃以内、好ましくは+5℃以内状態(等方相を発現した状態)で光を照射して高分子安定化処理を行えば、応答速度が1msec以下と短く高速応答が可能である。
また、本明細書において、ゲート電極層とは、半導体層とゲート絶縁膜を介して重なり、薄膜トランジスタのチャネルを形成する部分と重なる部分を指し、ゲート配線層とは、それ以外の部分を指す。なお、同じ導電材料からなる一つのパターンの一部がゲート電極層であり、その他の部分がゲート配線層となる。
また、本明細書において、薄膜トランジスタの半導体層は、珪素を主成分とする半導体膜、或いは金属酸化物を主成分とする半導体膜を用いることができる。珪素を主成分とする半導体膜としては、非晶質半導体膜、結晶構造を含む半導体膜、非晶質構造を含む化合物半導体膜などを用いることができ、具体的にはアモルファスシリコン、微結晶シリコン、多結晶シリコン、単結晶シリコンなどを用いることができる。また、金属酸化物を主成分とする半導体膜としては、酸化亜鉛(ZnO)や亜鉛とガリウムとインジウムの酸化物(In−Ga−Zn−O)等を用いることができる。
また、本明細書において、薄膜トランジスタは、様々なTFT構造を用いることができ、例えば、トップゲート型TFTや、ボトムゲート型TFTや、ボトムコンタクト型TFTや、順スタガ型TFTを用いることが可能である。また、シングルゲート構造のトランジスタに限定されず、複数のチャネル形成領域を有するマルチゲート型トランジスタ、例えばダブルゲート型トランジスタとしてもよい。また、半導体層の上下にゲート電極を設けるデュアルゲート型トランジスタとしてもよい。
本明細書において、上、下、側、水平、垂直等の方向を表す文言は、第1の基板表面の上にデバイスを配置した場合を基準とする方向を指す。
画素電極に傾斜をつけ、その画素電極に対応する電極(固定電位の共通電極)にも傾斜をつけることにより、高い応答速度、高い透過率、または、広い視野角を有する液晶表示装置を実現することができる。
本発明の一態様を示す断面図である。 本発明の一態様を示す上面図及び断面図である。 本発明の一態様を示す上面図である。 本発明の一態様を示す断面図である。 本発明の一態様を示す断面図である。 液晶表示装置を電界モードの計算結果を説明する図。 液晶表示装置を電界モードの計算結果を説明する図。 液晶表示装置を電界モードの計算結果を説明する図。 液晶表示装置を電界モードの計算結果を説明する図。 液晶表示装置を電界モードの計算結果を説明する図。 液晶表示装置を電界モードの計算結果を説明する図。 表示装置のブロック図の構成を示す図。 タイミングチャートを示す図。 薄膜トランジスタの断面図。 半導体層を示す断面図。 液晶モジュールを示す上面図及び断面図。 液晶表示装置の断面図。 電子機器を示す斜視図。 電子機器を示す斜視図。 液晶表示装置を電界モードの計算結果を説明する図。
以下では、本発明の実施の形態について図面を用いて詳細に説明する。ただし、本発明は以下の説明に限定されず、その形態および詳細を様々に変更し得ることは、当業者であれば容易に理解される。したがって、本発明は以下に示す実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。
(実施の形態1)
本実施の形態の一では、液晶表示装置における第1の電極層と第2の電極層の位置関係の一例を図1(A)に示す。
図1(A)は、液晶セルの断面模式図の一例である。
図1(A)は、第1の基板200と第2の基板201とが、ブルー相を示す液晶材料を用いた液晶層208を間に挟持して対向するように配置された液晶表示装置である。第1の基板200と液晶層208との間には構造体233a、233b、233c、共通電極である第1の電極層232、絶縁層234、及び画素電極である第2の電極層230a、230b、230cが設けられている。なお、画素電極である第2の電極層230a、230b、230cは互いに電気的に接続されており、構造体233a、233cと重なる開口(スリット)が設けられた上面形状を有する。構造体233a、233b、233cは第1の基板200の液晶層208側の面から液晶層208中に突出して設けられている。
共通電極である第1の電極層232は、第1の基板200上に設けられた構造体233a、233b、233c上に形成される。また、絶縁層234は、共通電極である第1の電極層232を覆って形成される。また、画素電極である第2の電極層230bは、構造体233bと重なり、絶縁層234上に形成される。
図1(A)の液晶表示装置において、開口パターンを有し、かつ液晶を挟持するように設けられた画素電極である第2の電極層230a、230b、230cと、共通電極である第1の電極層232との間に電界を加えることで、液晶層208には水平方向(第1の基板に対して水平方向)の電界が加わるため、その電界を用いて液晶分子を制御できる。
例えば、画素電極と共通電極に電位差が生じるように電圧を印加すると、図1(A)においては画素電極である第2の電極層230aと共通電極である第1の電極層232との間に矢印202aに示す水平方向の電界が加わる。また、第2の電極層230bと第1の電極層232との間に矢印202bに示す水平方向の電界が加わる。なお、構造体233bと重なって設けられた第1の電極層232の領域は、第2の電極層230bと絶縁層234を介して重なり保持容量を形成する。矢印202bに示す水平方向の電界は、構造体233aの一方の斜面に設けられた第1の電極層232の一部と、構造体233aと隣り合う構造体233bの一方の斜面に設けられた第2の電極層230bの一部との間で生じる。
構造体233a、233b、233cは絶縁性材料(有機絶縁材料及び無機絶縁材料)を用いた絶縁体、及び導電性材料(有機材料及び無機材料)を用いた導電体で形成することができる。代表的には可視光硬化性、紫外線硬化性または熱硬化性の樹脂を用いるのが好ましい。例えば、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、アミン樹脂などを用いることができる。また、導電性樹脂や金属材料で形成してもよい。なお、構造体は複数の薄膜の積層構造であってもよい。構造体の形状は、錐形の先端が平面である断面が台形の形状、錐形の先端が丸いドーム状などを用いることができる。また、構造体233a、233b、233cは断面形状の側面に斜面を有すればよい。また、構造体233a、233b、233cは断面形状を一方の側面に段差を2つ以上有する階段状とすることもできる。
図1(A)においては構造体233a、233b、233cの断面形状を台形としている。断面形状を長方形ではなく、台形とすることで構造体233bの側面に傾斜を有する第2の電極層230bを形成することができる。画素電極に傾斜をつけ、その画素電極に対応する第1の電極層232(共通電極)にも傾斜をつけることにより、高い応答速度、高い透過率、または、広い視野角を有する液晶表示装置を実現することができる。
また、図1(B)は、図1(A)と画素電極である第2の電極層の配置が異なる一例を示している。画素電極である第2の電極層230d、230e、230f、230gは、少なくとも構造体233bの上平面と重なる絶縁層234上には設けない構造である。図1(B)においては画素電極である第2の電極層230dと共通電極である第1の電極層232との間に矢印202cに示す水平方向の電界が、第2の電極層230eと第1の電極層232との間に矢印202dに示す水平方向の電界がそれぞれ加わる。このように、図1(B)の構造においても図1(A)と同様の効果を得ることができる。ただし、図1(A)に比べ図1(B)のほうが、第1の電極層232が絶縁層234を介して画素電極と重なる面積が小さくなるため、保持容量を大きくする場合には、図1(A)の構造とすることが好ましい。
また、図1(C)は、図1(B)よりもさらに画素電極の面積が小さい一例を示している。画素電極である第2の電極層230h、230i、230j、230kは、構造体233bの斜面のみに設ける構造である。図1(C)においては画素電極である第2の電極層230hと共通電極である第1の電極層232との間に矢印202eに示す水平方向の電界が、第2の電極層230iと第1の電極層232との間に矢印202fに示す水平方向の電界がそれぞれ加わる。このように、図1(C)の構造においても図1(B)と同様の効果を得ることができる。ただし、図1(B)に比べ図1(C)のほうが、第1の電極層232が絶縁層234を介して画素電極と重なる面積が小さくなるため、保持容量を大きくする場合には、図1(B)の構造とすることが好ましい。
少なくとも構造体の側面に画素電極及び共通電極を設け、それぞれ傾斜を持たせることにより、液晶層に強い電界を印加することができ、液晶を駆動させるための消費電力を少なくすることができる。
また、画素電極のパターニングにおいて、位置ずれが生じた場合においても少なくとも構造体の側面に重なるように画素電極が設けられれば、ほぼ同様の電界を液晶層に印加することができ、位置がずれても画素電極と共通電極とが重なる面積はほぼ同じため、保持容量もほぼ同じ容量とすることができる。従って画素電極のパターニングにおいてマージンが広く、高い歩留まりを実現できる。
液晶表示装置における電界の印加状態を計算した結果を、図6(B)、図7(B)、図8(B)、及び図20(B)に示す。図6(A)、図7(A)、図8(A)、及び図20(A)は計算した液晶表示装置の構成を示す図である。
計算は、シンテック社製、LCD Master、2s Benchを用いて行い、構造体233a、233b、233cとしては誘電率4の絶縁体を用いた。なお、構造体233a、233b、233cの厚さ(高さ)は5μmである。また、断面において画素電極である第2の電極層230a、802、共通電極である第1の電極層232、803a、803b、及び絶縁層234の厚さは0.25μm、また802、803a、803bの幅は4μmである。また図6における第2の電極層は高さ5μm、幅が8μmのお椀型状、図7における第2の電極層は高さ4.75μm、幅が3.4μmの一対のVの字型形状、図8における第2の電極層は高さ4.75μm幅が2μmの一対のスロープ形状となっている。図20における基板と水平方向の第2の電極層802と第1の電極層803a、803bとの間の距離は6μm、液晶層の厚さは10μmである。なお、共通電極である第1の電極層は0V、画素電極である第2の電極層は10Vの設定とする。
図6は図1(A)に、図7は図1(B)に、図8は、図1(C)にそれぞれ対応した計算結果である。
また図20は比較例であり、第1の基板800と液晶層808との間に互い違いに共通電極である第1の電極層803a、803bと画素電極である第2の電極層802が設けられ、第2の基板801によって封止される例である。
図6(B)、図7(B)、図8(B)、及び図20(B)において、実線は0.5V間隔の等電位線を示しており、画素電極又は共通電極の配置はそれぞれの図(A)の位置と一致している。
電界は等電位線と垂直に発現するので、図6(B)、図7(B)、及び図8(B)に示すように、画素電極と共通電極との間にそれぞれ水平方向の電界が加わっていることが確認できる。また、図8(A)のように、画素電極を斜面のみに設ける構成であっても、等電位線が図8(B)中ほぼ垂直に発現しており液晶層の広範囲にわたって水平方向の電界が形成されている。
一方、比較例である図20(B)においては、互い違いに画素電極である第2の電極層802、共通電極である第1の電極層803a、803bが形成された第1の基板800近くの液晶層には等電位線が見られ電界が形成されているが、第2の基板801に近づくにつれ電位線は分布せず電位差も生じていない。よって第2の基板801近くの液晶層808には電界が形成されず、図20の構成では、液晶層の全ての液晶分子を応答させることが難しいことが確認できる。
(実施の形態2)
本明細書に開示する発明の一形態は、パッシブマトリクス型の液晶表示装置でもアクティブマトリクス型の液晶表示装置にも適用することができる。アクティブマトリクス型の液晶表示装置の例を、図2(A)及び図2(B)を用いて説明する。
図2(A)は液晶表示装置の平面図であり1画素分の画素を示している。図2(B)は図2(A)の線X1−X2における断面図である。
図2(A)において、複数のソース配線層(配線層405aを含む)が互いに平行(図中上下方向に延伸)かつ互いに離間した状態で配置されている。複数のゲート配線層(ゲート電極層401を含む)は、ソース配線層に略直交する方向(図中左右方向)に延伸し、かつ互いに離間するように配置されている。共通配線層は、複数のゲート配線層それぞれに隣接する位置に配置されており、ゲート配線層に概略平行な方向、つまり、ソース配線層に概略直交する方向(図中左右方向)に延伸している。ソース配線層と、共通配線層及びゲート配線層とによって、略長方形の空間が囲まれているが、この空間に液晶表示装置の画素電極層及び共通電極層が配置されている。画素電極層を駆動する薄膜トランジスタ420は、図中左上の角に配置されている。画素電極層及び薄膜トランジスタは、マトリクス状に複数配置されている。
図2(A)及び図2(B)の液晶表示装置において、薄膜トランジスタ420に電気的に接続する第2の電極層446が画素電極層として機能し、共通配線層と電気的に接続する第1の電極層447が共通電極層として機能する。なお、画素電極層と共通電極層によって保持容量が形成されている。共通電極層はフローティング状態(電気的に孤立した状態)として動作させることも可能だが、固定電位、好ましくはコモン電位(データとして送られる画像信号の中間電位)近傍でフリッカーの生じないレベルに設定する。
第1の電極層447及び第2の電極層446は、酸化タングステンを含むインジウム酸化物、酸化タングステンを含むインジウム亜鉛酸化物、酸化チタンを含むインジウム酸化物、酸化チタンを含むインジウム錫酸化物、インジウム錫酸化物(以下、ITOと示す。)、インジウム亜鉛酸化物、酸化ケイ素を添加したインジウム錫酸化物などの透光性を有する導電性材料を用いることができる。
また、第1の電極層447及び第2の電極層446として、導電性高分子(導電性ポリマーともいう)を含む導電性組成物を用いて形成することができる。導電性組成物を用いて形成した画素電極は、シート抵抗が10000Ω/□以下、波長550nmにおける透光率が70%以上であることが好ましい。また、導電性組成物に含まれる導電性高分子の抵抗率が0.1Ω・cm以下であることが好ましい。
導電性高分子としては、いわゆるπ電子共役系導電性高分子が用いることができる。例えば、ポリアニリンまたはその誘導体、ポリピロールまたはその誘導体、ポリチオフェンまたはその誘導体、若しくはこれらの2種以上の共重合体などがあげられる。
図2(B)に示すように液晶層444の下方には、平板状の第1の電極層447と、開口パターンを有する第2の電極層446が設けられる。また、絶縁層402を介して平板状の第1の電極層447と、複数の開口パターンを有する第2の電極層446は少なくとも一部重なっている。また、第1の電極層447の下方には複数の構造体をほぼ等間隔で設ける。図2(A)では、構造体の上面形状は両端が弧を描く棒状とし、構造体の上面形状の長軸方向が、ゲート配線層に対して斜めに配置する。また、第2の電極層446に設けられている開口(スリットとも呼ぶ)も構造体と同じ方向、即ち開口の上面形状の長軸方向が、ゲート配線層に対して斜めに配置する。
複数の構造体のそれぞれの断面形状について述べると、構造体の下端部は、構造体の側面の外側に中心を有する楕円若しくは円状の側面を有し、構造体の上端部は、構造体の側面の内側に中心を有する楕円若しくは円状の側面を有する。また、構造体の下端部は、下端部の接線の上方の曲率中心及び第1の曲率半径により決まる曲面状の側面を有し、構造体の上端部は、上端部の接線の下方の曲率中心及び第2の曲率半径により決まる曲面状の側面を有するとも言える。上述した複数の構造体のそれぞれの断面形状は、感光性の樹脂を用いることで得ることができ、その上に設ける第1の電極層447や絶縁層402や第2の電極層446のカバレッジ不良を低減できる形状となっている。
図2(A)及び図2(B)において、第1の基板441上に第1の構造体433a、第2の構造体433b、第3の構造体433c、第4の構造体433d、第5の構造体433eがほぼ等間隔で並べて配置され、その上に第1の電極層447(例えば全画素に共通の電圧が供給される共通電極)を配置する。なお、第1の電極層447は、それぞれの構造体の間にも設けられる。
第1の構造体433aの側面及び上面には、第1の電極層447と絶縁層402と第2の電極層446とが積層される。第1の構造体433aは第4の構造体433dと隣合って配置されており、第4の構造体433dの上面形状は第1の構造体433aの上面形状よりも小さい。また、第4の構造体433dは第5の構造体433eと隣合って配置されており、第4の構造体433dの上面形状は第5の構造体433eの上面形状よりも大きい。
また、第1の構造体433aと隣合う第2の構造体433bの側面及び上面には、第1の電極層447と絶縁層402とが積層される。また、第2の構造体433bの上面形状は第1の構造体433aの上面形状とほぼ同じである。また、図2(A)に示すように第2の構造体433bは、第2の電極層446の開口と重なる。なお、図2(A)においてそれぞれの構造体の輪郭は点線で示している。第2の電極層446の開口面積は、第2の構造体433bの上面の面積よりも広く、第2の構造体433bは第2の電極層446とは重ならない。
また、第2の構造体433bと隣り合う第3の構造体433cの側面及び上面には、第1の電極層447と絶縁層402と第2の電極層446とが積層される。なお、第3の構造体433cの上面形状は第1の構造体433aの上面形状とほぼ同じである。
第1の電極層447と第2の電極層446は、電気的に接続されておらず、第1の電極層447と第2の電極層446の間に電圧を印加することで、第1の構造体の一方の斜面に設けられた第2の電極層446の一部と、第1の構造体の一方の斜面と向かい合う第2の構造体433bの一方の斜面に設けられた第1の電極層447の一部との間で第1の基板441の平面に平行な方向の電界を少なくとも含む電界を形成することができる。また、同時に第2の構造体433bのもう一方の斜面に設けられた第1の電極層447の一部と、第2の構造体のもう一方の斜面と向かい合う第3の構造体433cの一方の斜面に設けられた第2の電極層446の一部との間で第1の基板441の平面に平行な方向の電界を少なくとも含む電界を形成することができる。
また、第2の電極層446は、薄膜トランジスタと電気的に接続されている。薄膜トランジスタ420はボトムゲート型の薄膜トランジスタであり、絶縁表面を有する基板である第1の基板441上に、ゲート電極層401、ゲート絶縁層として機能する絶縁層402、半導体層403、ソース領域又はドレイン領域として機能するn層404a、404b、ソース電極層又はドレイン電極層として機能する配線層405a、405bを含む。第1の電極層447は第1の基板441上にゲート電極層401と同レイヤーに形成され、画素において平板状の電極層である。
本実施の形態においては、絶縁層402の一部がゲート絶縁層として機能させ、絶縁層402の他の一部が、第1の電極層と第2の電極層との短絡を防ぐ絶縁層として機能させており、工程数の削減を図っている。
絶縁層402は、プラズマCVD法又はスパッタリング法等を用いて、酸化シリコン層、窒化シリコン層、酸化窒化シリコン層又は窒化酸化シリコン層を単層で又は積層して形成することができる。また、ゲート絶縁層として機能する絶縁層402として、有機シランガスを用いたCVD法により酸化シリコン層を形成することも可能である。有機シランガスとしては、珪酸エチル(TEOS:化学式Si(OC)、テトラメチルシラン(TMS:化学式Si(CH)、テトラメチルシクロテトラシロキサン(TMCTS)、オクタメチルシクロテトラシロキサン(OMCTS)、ヘキサメチルジシラザン(HMDS)、トリエトキシシラン(SiH(OC)、トリスジメチルアミノシラン(SiH(N(CH)等のシリコン含有化合物を用いることができる。
また、薄膜トランジスタ420を覆い、半導体層403に接する絶縁膜407が保護膜として設けられている。薄膜トランジスタ420を覆う絶縁膜407は、乾式法や湿式法で形成される無機絶縁膜、有機絶縁膜を用いることができる。例えば、CVD法やスパッタ法などを用いて得られる窒化シリコン膜、酸化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜などの無機絶縁材料を用いることができる。
また、液晶層444は、ブルー相を示す液晶材料を用いる。また、液晶層444は、対向基板である第2の基板442で封止されている。また、偏光板、位相差板、反射防止膜、カラーフィルタ、遮光膜(ブラックマトリクスとも呼ぶ)などの光学フィルムなどは適宜設ける。例えば、偏光板及び位相差板による円偏光を用いてもよい。図2(B)においては、光源の光を透過することによって表示を行う透過型の液晶表示装置であるため、第1の基板441及び第2の基板442は透光性基板であり、それぞれ外側(液晶層444と反対側)に偏光板443a、443bを設ける例を示している。また、光源としてバックライト、サイドライトなどを用いてもよい。バックライトやサイドライトとしては、冷陰極管の他に複数の発光ダイオード(以下、LEDと呼ぶ)を用いてもよい。LEDとしては白色のLEDを用いる方式と、赤色のLEDや、緑色のLEDや、青色のLEDなどを用いてカラーフィルタを用いないフィールドシーケンシャル方式と呼ばれる方式もある。フィールドシーケンシャル方式の場合、少なくとも3倍速以上での高速駆動が要求されるが、本実施の形態では、フィールドシーケンシャル方式を用い、ブルー相を示す液晶材料を用いるため、1フィールド当たり1色の表示を行うための色の切り替えを1/180秒以下、即ち約5.6ms以下で行うことができる。
また、下地膜となる絶縁膜を第1の基板441と、ゲート電極層401及び第1の電極層447との間に設けてもよい。下地膜は、基板441からの不純物元素の拡散を防止する機能があり、窒化珪素膜、酸化珪素膜、窒化酸化珪素膜、又は酸化窒化珪素膜から選ばれた一又は複数の膜による積層構造により形成することができる。ゲート電極層401の材料は、モリブデン、チタン、クロム、タンタル、タングステン、アルミニウム、銅、ネオジム、スカンジウム等の金属材料又はこれらを主成分とする合金材料を用いて、単層で又は積層して形成することができる。ゲート電極層401に遮光性を有する導電膜を用いることで、バックライトからの光(第1の基板441から入射する光)が、半導体層403へ入射することを防止することができる。
例えば、ゲート電極層401の2層の積層構造としては、アルミニウム層上にモリブデン層が積層された2層の積層構造、または銅層上にモリブデン層を積層した二層構造、または銅層上に窒化チタン層若しくは窒化タンタルを積層した二層構造、窒化チタン層とモリブデン層とを積層した二層構造とすることが好ましい。3層の積層構造としては、タングステン層または窒化タングステン層と、アルミニウムとシリコンの合金またはアルミニウムとチタンの合金と、窒化チタン層またはチタン層とを積層した積層とすることが好ましい。
また、本実施の形態では、半導体層403として酸化物半導体膜を用いる。
本明細書では酸化物半導体としてInMO(ZnO)(m>0)で表記される薄膜を好適に用いる。薄膜トランジスタ420は、InMO(ZnO)(m>0)で表記される薄膜を形成し、その薄膜を半導体層403として用いる。なお、Mは、ガリウム(Ga)、鉄(Fe)、ニッケル(Ni)、マンガン(Mn)及びコバルト(Co)から選ばれた一の金属元素又は複数の金属元素を示す。例えばMとして、Gaの場合があることの他、GaとNi又はGaとFeなど、Ga以外の上記金属元素が含まれる場合がある。また、上記酸化物半導体において、Mとして含まれる金属元素の他に、不純物元素としてFe、Niその他の遷移金属元素、又は該遷移金属の酸化物が含まれているものがある。例えば、酸化物半導体層としてIn−Ga−Zn−O系非単結晶膜を用いることができる。
InMO(ZnO)(m>0)膜(層)において、Mがガリウム(Ga)である場合、本明細書においてはこの薄膜をIn−Ga−Zn−O系非単結晶膜とも呼ぶ。In−Ga−Zn−O系非単結晶膜の結晶構造は、スパッタ法で成膜した後、200℃〜500℃、代表的には300〜400℃で10分〜100分熱処理を行っても、アモルファス構造がXRD(X線回折)の分析では観察される。また、薄膜トランジスタの電気特性もゲート電圧−20Vから+20Vにおいて、オンオフ比が10以上、移動度が10以上のものを作製することができる。また、In:Ga:ZnO=1:1:1としたターゲットを用い、スパッタ法で成膜したIn−Ga−Zn−O系非単結晶膜は波長450nm以下に光感度を有する。
半導体層403及びソース領域又はドレイン領域として機能するn層404a、404bには、In−Ga−Zn−O系非単結晶膜を用いることができる。n層404a、404bは、半導体層403より低抵抗な酸化物半導体層である。例えばn層404a、404bは、n型の導電型を有し、活性化エネルギー(ΔE)が0.01eV以上0.1eV以下である。n層404a、404bは、In−Ga−Zn−O系非単結晶膜であり、少なくともアモルファス成分を含んでいるものとする。n層404a、404bは非晶質構造の中に結晶粒(ナノクリスタル)を含む場合がある。このn層404a、404b中の結晶粒(ナノクリスタル)は直径1nm〜10nm、代表的には2nm〜4nm程度である。
層404a、404bを設けることにより、金属層である配線層405a、405bと、酸化物半導体層である半導体層403との間を良好な接合としてショットキー接合に比べて熱的にも安定動作を有せしめる。また、チャネルのキャリアを供給する(ソース側)、またはチャネルのキャリアを安定して吸収する(ドレイン側)、または抵抗成分を配線層との界面に作らない、ためにも積極的にn層を設けると効果的である。また低抵抗化により、高いドレイン電圧でも良好な移動度を保持することができる。
半導体層403として用いる第1のIn−Ga−Zn−O系非単結晶膜は、n層404a、404bとして用いる第2のIn−Ga−Zn−O系非単結晶膜の成膜条件と異ならせる。例えば、第2のIn−Ga−Zn−O系非単結晶膜の成膜条件における酸素ガス流量とアルゴンガス流量の比よりも第1のIn−Ga−Zn−O系非単結晶膜の成膜条件における酸素ガス流量の占める比率が多い条件とする。具体的には、第2のIn−Ga−Zn−O系非単結晶膜の成膜条件は、希ガス(アルゴン、又はヘリウムなど)雰囲気下(または酸素ガス10%以下、アルゴンガス90%以上)とし、第1のIn−Ga−Zn−O系非単結晶膜の成膜条件は、酸素混合雰囲気下(アルゴンガス流量より酸素ガス流量が多い)とする。
例えば、半導体層403として用いる第1のIn−Ga−Zn−O系非単結晶膜は、直径8インチのIn、Ga、及びZnを含む酸化物半導体ターゲット(In:Ga:ZnO=1:1:1)を用いて、基板とターゲットの間の距離を170mm、圧力0.4Pa、直流(DC)電源0.5kW、アルゴン又は酸素雰囲気下で成膜する。なお、パルス直流(DC)電源を用いると、ごみが軽減でき、膜厚分布も均一となるために好ましい。第1のIn−Ga−Zn−O系非単結晶膜の膜厚は、5nm〜200nmとする。
一方、n層404a、404bとして用いる第2の酸化物半導体膜は、In:Ga:ZnO=1:1:1としたターゲットを用い、成膜条件は、圧力を0.4Paとし、電力を500Wとし、成膜温度を室温とし、アルゴンガス流量40sccmを導入してスパッタ法により成膜する。成膜直後で大きさ1nm〜10nmの結晶粒を含むIn−Ga−Zn−O系非単結晶膜が形成されることがある。なお、ターゲットの成分比、成膜圧力(0.1Pa〜2.0Pa)、電力(250W〜3000W:8インチφ)、温度(室温〜100℃)、反応性スパッタの成膜条件などを適宜調節することで結晶粒の有無や、結晶粒の密度や、直径サイズは、1nm〜10nmの範囲で調節されうると言える。第2のIn−Ga−Zn−O系非単結晶膜の膜厚は、5nm〜20nmとする。勿論、膜中に結晶粒が含まれる場合、含まれる結晶粒のサイズが膜厚を超える大きさとならない。第2のIn−Ga−Zn−O系非単結晶膜の膜厚は、5nmとする。
スパッタ法にはスパッタ用電源に高周波電源を用いるRFスパッタ法と、DCスパッタ法があり、さらにパルス的にバイアスを与えるパルスDCスパッタ法もある。RFスパッタ法は主に絶縁膜を成膜する場合に用いられ、DCスパッタ法は主に金属膜を成膜する場合に用いられる。
また、材料の異なるターゲットを複数設置できる多元スパッタ装置もある。多元スパッタ装置は、同一チャンバーで異なる材料膜を積層成膜することも、同一チャンバーで複数種類の材料を同時に放電させて成膜することもできる。
また、チャンバー内部に磁石機構を備えたマグネトロンスパッタ法を用いるスパッタ装置や、グロー放電を使わずマイクロ波を用いて発生させたプラズマを用いるECRスパッタ法を用いるスパッタ装置がある。
また、スパッタ法を用いる成膜方法として、成膜中にターゲット物質とスパッタガス成分とを化学反応させてそれらの化合物薄膜を形成するリアクティブスパッタ法や、成膜中に基板にも電圧をかけるバイアススパッタ法もある。
半導体層、n層、配線層の作製工程において、薄膜を所望の形状に加工するためにエッチング工程を用いる。エッチング工程は、ドライエッチングやウエットエッチングを用いることができる。
ドライエッチングに用いるエッチングガスとしては、塩素を含むガス(塩素系ガス、例えば塩素(Cl)、塩化硼素(BCl)、塩化珪素(SiCl)、四塩化炭素(CCl)など)が好ましい。
また、フッ素を含むガス(フッ素系ガス、例えば四弗化炭素(CF)、弗化硫黄(SF)、弗化窒素(NF)、トリフルオロメタン(CHF)など)、臭化水素(HBr)、酸素(O)、これらのガスにヘリウム(He)やアルゴン(Ar)などの希ガスを添加したガス、などを用いることができる。
ドライエッチングに用いるエッチング装置としては、反応性イオンエッチング法(RIE法)を用いたエッチング装置や、ECR(Electron Cyclotron Resonance)やICP(Inductively Coupled Plasma)などの高密度プラズマ源を用いたドライエッチング装置を用いることができる。また、ICPエッチング装置と比べて広い面積に渡って一様な放電が得られやすいドライエッチング装置としては、上部電極を接地させ、下部電極に13.56MHzの高周波電源を接続し、さらに下部電極に3.2MHzの低周波電源を接続したECCP(Enhanced Capacitively Coupled Plasma)モードのエッチング装置がある。このECCPモードのエッチング装置であれば、例えば基板として、第10世代の3mを超えるサイズの基板を用いる場合にも対応することができる。
所望の加工形状にエッチングできるように、エッチング条件(コイル型の電極に印加される電力量、基板側の電極に印加される電力量、基板側の電極温度等)を適宜調節する。
ウエットエッチングに用いるエッチング液としては、燐酸と酢酸と硝酸を混ぜた溶液、アンモニア過水(過酸化水素:アンモニア:水=5:2:2)などを用いることができる。また、ITO07N(関東化学社製)を用いてもよい。
また、ウエットエッチング後のエッチング液はエッチングされた材料とともに洗浄によって除去される。その除去された材料を含むエッチング液の廃液を精製し、含まれる材料を再利用してもよい。当該エッチング後の廃液から酸化物半導体層に含まれるインジウム等の材料を回収して再利用することにより、資源を有効活用し低コスト化することができる。
所望の加工形状にエッチングできるように、材料に合わせてエッチング条件(エッチング液、エッチング時間、温度等)を適宜調節する。
配線層405a、405bの材料としては、Al、Cr、Ta、Ti、Mo、Wから選ばれた元素、または上述した元素を成分とする合金か、上述した元素を組み合わせた合金膜等が挙げられる。また、200℃〜600℃の熱処理を行う場合には、この熱処理に耐える耐熱性を導電膜に持たせることが好ましい。Al単体では耐熱性が劣り、また腐蝕しやすい等の問題点があるので耐熱性導電性材料と組み合わせて形成する。Alと組み合わせる耐熱性導電性材料としては、チタン(Ti)、タンタル(Ta)、タングステン(W)、モリブデン(Mo)、クロム(Cr)、Nd(ネオジム)、Sc(スカンジウム)から選ばれた元素、または上述した元素を成分とする合金か、上述した元素を組み合わせた合金膜、または上述した元素を成分とする窒化物で形成する。
絶縁層402、半導体層403、n層404a、404b、配線層405a、405bを大気に触れさせることなく連続的に形成してもよい。大気に触れさせることなく連続成膜することで、大気成分や大気中に浮遊する汚染不純物元素に汚染されることなく各積層界面を形成することができるので、薄膜トランジスタ特性のばらつきを低減することができる。
なお、半導体層403は一部のみがエッチングされ、溝部(凹部)を有する半導体層である。
半導体層403、n層404a、404bに200℃〜600℃、代表的には300℃〜500℃の熱処理を行うと良い。例えば、窒素雰囲気下で350℃、1時間の熱処理を行う。この熱処理により半導体層403、n層404a、404bを構成するIn−Ga−Zn−O系酸化物半導体の原子レベルの再配列が行われる。この熱処理(光アニール等も含む)は、半導体層403、n層404a、404b中におけるキャリアの移動を阻害する歪みを解放できる点で重要である。なお、上記の熱処理を行うタイミングは、半導体層403、n層404a、404bの形成後であれば特に限定されない。
また、露出している半導体層403の凹部に対して酸素ラジカル処理を行ってもよい。ラジカル処理は、O、NO、酸素を含むN、He、Arなどの雰囲気下で行うことが好ましい。また、上記雰囲気にCl、CFを加えた雰囲気下で行ってもよい。なお、ラジカル処理は、第1の基板441側にバイアス電圧を印加せずに行うことが好ましい。
なお、液晶表示装置に形成される薄膜トランジスタの構造は、特に限定されない。薄膜トランジスタはチャネル形成領域が一つ形成されるシングルゲート構造でも、二つ形成されるダブルゲート構造もしくは三つ形成されるトリプルゲート構造であっても良い。また、周辺駆動回路領域のトランジスタも、シングルゲート構造、ダブルゲート構造もしくはトリプルゲート構造であっても良い。
薄膜トランジスタは、トップゲート型(例えば順スタガ型、コプラナ型)、ボトムゲート型(例えば、逆スタガ型、逆コプラナ型)、あるいはチャネル領域の上下にゲート絶縁膜を介して配置された2つのゲート電極層を有する、デュアルゲート型やその他の構造においても適用できる。
本実施の形態では、応答速度が十分速いブルー相を示す液晶層を用い、さらにスイッチング素子としてIn−Ga−Zn−O系酸化物半導体を用いた薄膜トランジスタを用いることによって、動画表示において高画質を有するフィールドシーケンシャル方式の液晶表示装置を実現できる。
なお、構造体上に形成される画素電極層及び共通電極層の形状は、該構造体の形状が反映され、またエッチング加工方法にも影響をうける。構造体及び該構造体上に形成される画素電極の上面形状は、図2(A)の形状に限定されず、様々な形状を適用することができる。
液晶表示装置の平面図の他の一例を図3に示す。なお、図2(A)と共通する部分には同じ符号を用いて説明する。
図3においては、第1の構造体433a、第2の構造体433b、第4の構造体433d、第5の構造体433eの形状及び配置は、図2(A)と同じである。第2の構造体433bと隣り合う第6の構造体433fの上面形状は、V字状に折れ曲がった形状となっている。また、第6の構造体433fと隣り合う第7の構造体433gは、第1の構造体433aと上面形状は同じであるが、上面形状の長軸方向がゲート配線層に対する向きが異なっている。また、第8の構造体433hは、第7の構造体433gの上面形状の長軸方向と同じであるが、長軸方向の長さが短い。また、これらの構造体に合わせて、第2の電極層456の開口形状を図2(A)の第2の電極層446の開口形状と異ならせている。
このように、図3においては、第6の構造体433f、第7の構造体433g、第8の構造体433h、及び第2の電極層456により、図2(A)よりも視野角向上を図っている。
また、図3においては、第1の電極層457も図2(A)の第1の電極層447と上面形状が異なっている。第1の電極層457は、配線層405aと重ならない上面形状となっており、隣り合う画素の第1の電極層とは容量配線410を介して電気的に接続させている。大面積の表示領域を有する液晶表示装置においては、第1の電極層よりも低抵抗な金属配線を容量配線410に用いるほうが配線抵抗を低減できるため、このましい。
また、図3において、薄膜トランジスタ420と第2の電極層456は、コンタクトホール455を介して電気的に接続させている。ここでは図示しないが、コンタクトホールは絶縁膜407に設けられており、絶縁膜407は構造体及び第1の電極層457上に設けられている例である。この場合、第1の電極層457と第2の電極層456は、絶縁層402と絶縁膜407の積層により絶縁される構造である。
図3に示すように、構造体や第1の電極層や第2の電極層などの形状は様々な形状を適用することができる。
(実施の形態3)
実施の形態1では、図6(A)において第1の電極層に0V、第2の電極層に10Vの設定として計算を行ったが、本実施の形態では、図9(A)において、第1の電極層に10V、第2の電極層に0Vの設定として計算を行い、液晶表示装置における電界の印加状態を計算した結果を図9(B)に示す。
図9(B)において、実線は0.5V間隔の等電位線を示しており、画素電極又は共通電極の配置は図9(A)の位置と一致している。
電界は等電位線と垂直に発現するので、図9(B)に示すように、第1の電極層と第2の電極層との間にそれぞれ水平方向の電界が加わっていることが確認できる。
なお、図9(A)は図6(A)と同一であるため、ここでは説明を省略する。
また、アクティブマトリクス型の液晶表示装置において、図9(B)に示す電界の印加状態とする場合には、第2の電極層を薄膜トランジスタと電気的に接続することとなる。
その場合の断面構造の一例を図4に示す。なお、図4において図2(B)と同一の箇所には同じ符号を用いて説明する。
薄膜トランジスタ420は、図2(B)と同一の構造を用いる。薄膜トランジスタ420の半導体層403と接する第2の絶縁層465上に第1の構造体433a、第2の構造体433b、及び第3の構造体433cを形成する。また、これらの構造体と同一工程で、薄膜トランジスタ420と重なる層間絶縁膜413を形成する。
第1の構造体433a、第2の構造体433b、及び第3の構造体433cを覆う第2の電極層466を形成する。第2の電極層466は、第2の絶縁層465に設けられたコンタクトホールを介して薄膜トランジスタ420の配線層405bと電気的に接続する。
第2の電極層466を覆う第3の絶縁層468を形成する。この第3の絶縁層468が図2(B)の絶縁膜407に相当する。
また、第1の電極層467が第3の絶縁層468上に第1の構造体433a及び第3の構造体433cと重なるように配置する。なお、第1の電極層467は固定電位であり、複数の開口(スリット)を有している。
本実施の形態においては、層間絶縁膜413の斜面に設けた画素電極の一部も第1の基板441の平面に水平な方向の電界を液晶層444に形成することができる。層間絶縁膜413の斜面に設けた画素電極の一部と、第1の構造体433aの斜面に設けられた第1の電極層467の一部との間に電界が形成される。
本実施の形態においては、工程数を削減するため、層間絶縁膜413と複数の構造体とを同一工程で形成する例を示したが特に限定されず、層間絶縁膜を形成した後、複数の構造体を形成する工程としてもよい。
本実施の形態は、実施の形態1または実施の形態2と自由に組み合わせることができる。
(実施の形態4)
本実施の形態は、実施の形態1の構成に加え、さらに第2の基板に第3の電極層を設け、液晶層に強い電界を印加する構造を説明する。
図5(A)は、液晶表示装置における第1の電極層と第2の電極層と第3の電極層の位置関係の一例を示す図である。なお、図1(A)と同一の箇所には同じ符号を用いて説明する。
図5(A)において、第1の基板200上に形成する構造体や、第1の電極層や、第2の電極層の位置は図1(A)と同一である。
第2の基板201に設ける第3の電極235aは、構造体233aと重なる位置に設ける。また、第3の電極235bは、構造体233cと重なる位置に設ける。
例えば、画素電極と共通電極に電位差が生じるように電圧を印加すると、図5(A)においては画素電極である第2の電極層230aと共通電極である第1の電極層232との間に矢印202gに示す水平方向の電界が加わる。さらに、第2の電極層230aと共通電極である第3の電極層235aとの間に矢印202iに示す斜め方向の電界が加わる。なお、矢印202iに示す斜め方向の電界によって、膜厚方向も含め液晶層全体における液晶分子を応答させることができる。
また、第2の電極層230bと第1の電極層232との間に矢印202hに示す水平方向の電界が加わる。さらに、第2の電極層230bと共通電極である第3の電極層235aとの間に矢印202jに示す斜め方向の電界が加わる。なお、矢印202jに示す斜め方向の電界によって、膜厚方向も含め液晶層全体における液晶分子を応答させることができる。
第3の電極層235aを設けた液晶表示装置における電界の印加状態を計算した結果を図10(B)に示す。図10(A)は計算した液晶表示装置の構成を示す図である。
また、断面における共通電極である第3の電極層235aの幅は1.60μm、厚さは0.25μmである。なお、共通電極である第1の電極層232、及び第3の電極層235aは0V、画素電極である第2の電極層は10Vの設定とする。
また、図5(A)では、画素電極である第2の電極層230aと、共通電極である第1の電極層232の例を示したが、図5(B)では、共通電極である第2の電極層230aと、画素電極である第1の電極層232の例を示す。
図5(B)の場合、第2の基板201に設けられる第3の電極層235cは、共通電極である第2の電極層230aと重なる位置に設ける。また、第3の電極層235dは、共通電極である第2の電極層230bと重なる位置に設ける。また、第3の電極層235eは、共通電極である第2の電極層230cと重なる位置に設ける。
例えば、画素電極と共通電極に電位差が生じるように電圧を印加すると、図5(B)においては共通電極である第2の電極層230aと画素電極である第1の電極層232との間に矢印202wに示す水平方向の電界が加わる。さらに、第1の電極層232と共通電極である第3の電極層235cとの間に矢印202yに示す斜め方向の電界が加わる。なお、矢印202yに示す斜め方向の電界によって、膜厚方向も含め液晶層全体における液晶分子を応答させることができる。
また、第2の電極層230bと第1の電極層232との間に矢印202xに示す水平方向の電界が加わる。さらに、第1の電極層232と共通電極である第3の電極層235dとの間に矢印202zに示す斜め方向の電界が加わる。なお、矢印202zに示す斜め方向の電界によって、膜厚方向も含め液晶層全体における液晶分子を応答させることができる。
第3の電極層235c、235dを設けた液晶表示装置における電界の印加状態を計算した結果を図11(B)に示す。図11(A)は計算した液晶表示装置の構成を示す図である。なお、共通電極である第2の電極層230a、230b、及び第3の電極層235c、235dは0V、画素電極である第1の電極層232は10Vの設定とする。
また、断面における画素電極である第3の電極層235c、235dの幅は2.40μm、厚さは0.25μmである。
本実施の形態は、実施の形態1、実施の形態2、または実施の形態3と自由に組み合わせることができる。
(実施の形態5)
ここでは、液晶表示装置のブロック図の構成について、図12に示す。図12(A)には、表示部1301、及び駆動部1302の構成について示している。駆動部1302は、信号線駆動回路1303、走査線駆動回路1304などから構成されている。表示部1301には、複数の画素1305がマトリクス状に配置されている。
図12(A)において、走査線駆動回路1304は、走査線1306に走査信号を供給する。また信号線駆動回路1303は、信号線1308にデータを供給する。この走査線1306からの走査信号によって、画素1305が走査線1306の一行目から順に選択状態となるように走査信号を供給する。
なお図12(A)において、走査線駆動回路1304には、G乃至Gのn本の走査線1306が接続される。また信号線駆動回路1303には、画像の最小単位をRGB(R:赤、G:緑、B:青)の3つの画素で構成する場合を考えたとき、Rに対応する信号線SR1乃至SRmのm本と、Gに対応する信号線SG1乃至信号線SGmのm本と、Bに対応するSB1乃至SBmのm本の、計3m本の信号線が接続される。すなわち、図12(B)に示すように画素1305は、色要素毎に信号線を配設し、各色要素を対応した画素に信号線よりデータを供給することで所望の色を再現することが可能になる。
また、図13に示すタイミングチャートは、1フレーム期間、行選択期間(表示装置の画素1行のスキャン時間)に応じた期間に走査線1306(代表して、G、G)を選択するための走査信号、及び信号線1308(代表して、SR1)のデータ信号、について示している。
なお、図12に示す回路図において、各画素が具備するトランジスタとして、nチャネル型トランジスタである場合について想定している。そして、図13における説明においてもnチャネル型トランジスタのオンまたはオフを制御する場合の画素の駆動について説明するものである。なお、図12における回路図においてpチャネル型トランジスタを用いて作製した場合には、トランジスタのオンまたはオフが同じ動作となるように走査信号の電位を適宜変更すればよい。
図13のタイミングチャートにおいて、1画面分の画像を表示する期間に相当する1フレーム期間を、画像を見る人が動画表示時の残像感を感じないように少なくとも1/120秒(≒8.3ms)とし(より好ましくは1/240秒)、走査線の本数をn本として考えると、1/(120×n)秒が行選択期間に相当するものとなる。ここで、走査線の本数を2000本(4096×2160画素、3840×2160画素等のいわゆる4k2k映像を想定)を有する表示装置を考えると、配線に起因する信号の遅延等を考慮しない場合には、1/240000秒(≒4.2μs)が行選択期間に相当する。
ブルー相の液晶素子の電圧印加に対する応答時間(液晶分子の配向を変えるのにかかる時間)は、1ms以下である。これに対し、VA方式の液晶素子の電圧印加に対する応答時間は、オーバードライブ駆動を用いても数ms程度である。そのため、VA方式の液晶素子の動作では、良好な表示の維持を図る上で、応答時間より1フレーム期間の長さが短くならないようにする制約がある。一方、ブルー相の液晶素子を用い、且つCu配線等の低抵抗材料で配線を形成して配線に起因する信号の遅延等を軽減できる本実施の形態の表示装置では、液晶素子の応答時間に十分なマージンが得られると共に、行選択期間で液晶素子に印加した電圧に応じた所望の液晶素子の配向を効率的に得ることができる。
本実施の形態は、実施の形態1、実施の形態2、実施の形態3、実施の形態4と自由に組み合わせることができる。
(実施の形態6)
実施の形態1乃至4において、液晶表示装置に適用できる薄膜トランジスタの他の例を示す。特に薄膜トランジスタの構造及び半導体層に用いる半導体材料の例であり、他の実施の形態1乃至4と同様なものに関しては同様の材料及び作製方法を適用することができ、同一部分又は同様な機能を有する部分の詳細な説明は省略する。
図14に、本実施の形態に示す薄膜トランジスタの一形態の断面図を示す。図14に示す薄膜トランジスタは、基板501上に、ゲート電極層503と、ゲート絶縁層505上に半導体層515と、半導体層515上に接するソース領域及びドレイン領域として機能する不純物半導体層527と、不純物半導体層527に接する配線525とを有する。また、半導体層515は、微結晶半導体層515aと、混合領域515bと、非晶質半導体を含む層529cとが、ゲート絶縁層505側から順に積層されている。
次に、半導体層515の構造について説明する。ここでは、図14のゲート絶縁層505と、ソース領域及びドレイン領域として機能する不純物半導体層527の間の拡大図を図15に示す。
半導体層515の一形態を図15に示す。半導体層515は、図15(A)に示すように、微結晶半導体層515a、混合領域515b、非晶質半導体を含む層529cが積層されている。
微結晶半導体層515aを構成する微結晶半導体とは、結晶構造(単結晶、多結晶を含む)を有する半導体である。微結晶半導体は、自由エネルギー的に安定な第3の状態を有する半導体であって、短距離秩序を持ち格子歪みを有する結晶質な半導体であり、結晶粒径が2nm以上200nm以下、好ましくは10nm以上80nm以下、より好ましくは、20nm以上50nm以下の柱状結晶または針状結晶が基板表面に対して法線方向に成長している。このため、柱状結晶または針状結晶の界面には、結晶粒界が形成される場合もある。
微結晶半導体の代表例である微結晶シリコンは、そのラマンスペクトルのピークが単結晶シリコンを示す520cm−1よりも低波数側に、シフトしている。即ち、単結晶シリコンを示す520cm−1とアモルファスシリコンを示す480cm−1の間に微結晶シリコンのラマンスペクトルのピークを示す。また、未結合手(ダングリングボンド)を終端するため水素またはハロゲンを少なくとも1原子%またはそれ以上含ませてもよい。さらに、ヘリウム、アルゴン、クリプトン、またはネオンなどの希ガス元素を含ませてもよく、これにより格子歪みをさらに助長させることで、微結晶の構造の安定性が増し良好な微結晶半導体が得られる。このような微結晶半導体に関する記述は、例えば、米国特許4,409,134号で開示されている。
また、微結晶半導体層515aに含まれる酸素及び窒素の二次イオン質量分析法によって計測される濃度を、1×1018atoms/cm未満とすることで、微結晶半導体層515aの結晶性を高めることができるため好ましい。
微結晶半導体層515aの厚さは、3〜100nm、または5〜50nmであることが好ましい。
なお、図14及び図15においては、微結晶半導体層515aを層状に示しているが、これの代わりに、微結晶半導体粒子がゲート絶縁層505上で分散していてもよい。この場合、混合領域515bは、微結晶半導体粒子及びゲート絶縁層505に接する。
微結晶半導体粒子の大きさを、1〜30nmとし、密度を1×1013/cm未満、好ましくは1×1010/cm未満とすると、分離された微結晶半導体粒子を形成することが可能である。
混合領域515b及び非晶質半導体を含む層529cには、窒素が含まれる。混合領域515bに含まれる窒素の濃度は、1×1020atoms/cm以上1×1021atoms/cm以下、好ましくは2×1020atoms/cm以上1×1021atoms/cm以下である。
図15(A)に示すように、混合領域515bは、微結晶半導体領域508a、及び当該微結晶半導体領域508aの間に充填される非晶質半導体領域508bを有する。具体的には、微結晶半導体層515aの表面から凸状に伸びた微結晶半導体領域508aと、非晶質半導体を含む層529cと同様の半導体で形成される非晶質半導体領域508bとで形成される。
微結晶半導体領域508aは、ゲート絶縁層505から非晶質半導体を含む層529cへ向けて、先端が狭まる凸状、針状、または錐形状の微結晶半導体である。なお、ゲート絶縁層505から非晶質半導体を含む層529cへ向けて幅が広がる凸状、または錐形状の微結晶半導体であってもよい。
また、混合領域515bに含まれる非晶質半導体領域508bに、微結晶半導体領域として、粒径が1nm以上10nm以下、好ましくは1nm以上5nm以下の半導体結晶粒を含む場合もある。
また、図15(B)に示すように、混合領域515bは、微結晶半導体層515a上に一定の厚さで堆積した微結晶半導体領域508cと、ゲート絶縁層505から非晶質半導体を含む層529cへ向けて、先端が狭まる凸状、針状、または錐形状の微結晶半導体領域508aとが連続的に形成される場合がある。
また、図15(A)及び図15(B)に示す混合領域515bに含まれる非晶質半導体領域508bは非晶質半導体を含む層529cと概略同質の半導体である。
これらのことから、微結晶半導体で形成される領域と、非晶質半導体で形成される領域の界面が混合領域における微結晶半導体領域508a及び非晶質半導体領域508bの界面ともいえるため、微結晶半導体領域と、非晶質半導体領域との断面における境界が凹凸状またジグザグ状であるともいえる。
混合領域515bにおいて、微結晶半導体領域508aが、ゲート絶縁層505から非晶質半導体を含む層529cへ向けて、先端が狭まる凸状の半導体結晶粒の場合は、微結晶半導体層515a側のほうが、非晶質半導体を含む層529c側と比較して、微結晶半導体領域の割合が高い。これは、微結晶半導体層515aの表面から、微結晶半導体領域508aが膜厚方向に成長するが、原料ガスに窒素を含むガスを含ませる、または原料ガスに窒素を含むガスを含ませつつ、微結晶半導体層515aの堆積条件よりシランに対する水素の流量を低減すると、微結晶半導体領域508aの半導体結晶粒の成長が抑制され、錐形状の微結晶半導体領域となるとともに、やがて非晶質半導体が堆積するためである。これは、微結晶半導体領域における窒素の固溶度が、非晶質半導体領域に比べて低いためである。
微結晶半導体層515a及び混合領域515bの厚さの合計、即ち、ゲート絶縁層505の界面から、混合領域515bの突起(凸部)の先端の距離は、3nm以上410nm以下、好ましくは20nm以上100nm以下とすることで、薄膜トランジスタのオフ電流を低減できる。
非晶質半導体を含む層529cは、混合領域515bに含まれる非晶質半導体領域508bと概略同質の半導体であり窒素を含む。さらには、粒径が1nm以上10nm以下、好ましくは1nm以上5nm以下の半導体結晶粒を含む場合もある。ここでは、従来の非晶質半導体と比較して、CPM(Constant photocurrent method)やフォトルミネッセンス分光測定で測定されるUrbach端のエネルギーが小さく、欠陥吸収スペクトル量が少ない半導体層を、非晶質半導体を含む層529cという。即ち、従来の非晶質半導体と比較して、欠陥が少なく、価電子帯のバンド端における準位のテール(裾)の傾きが急峻である秩序性の高い半導体を、非晶質半導体を含む層529cという。非晶質半導体を含む層529cは、価電子帯のバンド端における準位のテール(裾)の傾きが急峻であるため、バンドギャップが広くなり、トンネル電流が流れにくくなる。このため、非晶質半導体を含む層529cをバックチャネル側に設けることで、薄膜トランジスタのオフ電流を低減することができる。また、非晶質半導体を含む層529cを設けることで、オン電流及び電界効果移動度を高めることが可能である。
さらに、非晶質半導体を含む層529cは、低温フォトルミネッセンス分光によるスペクトルのピーク領域は、1.31eV以上1.39eV以下である。なお、微結晶半導体層、代表的には微結晶シリコン層を低温フォトルミネッセンス分光により測定したスペクトルのピーク領域は、0.98eV以上1.02eV以下であり、非晶質半導体を含む層529cは、微結晶半導体層とは異なる。
なお、非晶質半導体を含む層529cの非晶質半導体とは、代表的にはアモルファスシリコンである。
また、混合領域515b及び非晶質半導体を含む層529cの厚さは、50〜350nm、または120〜250nmであることが好ましい。
混合領域515bにおいて、錐形状の微結晶半導体領域508aを有するため、ソース電極またはドレイン電極に電圧が印加されたときの縦方向(膜厚方向)における抵抗、即ち、微結晶半導体層515a、混合領域515b、及び非晶質半導体を含む層529cの抵抗を下げることが可能である。
また、混合領域515bは、NH基またはNH基を有する場合がある。NH基またはNH基は、微結晶半導体領域508aに含まれる異なる微結晶半導体領域の界面、または微結晶半導体領域508aと非晶質半導体領域508bとの界面、微結晶半導体層515a御及び混合領域515bの界面において、シリコン原子のダングリングボンドと結合することで、欠陥が低減するため好ましい。
また、混合領域515bの酸素濃度を窒素濃度より低減することにより、微結晶半導体領域508aと非晶質半導体領域508bとの界面や、半導体結晶粒同士の界面における欠陥における、キャリアの移動を阻害する結合を低減することができる。
このため、チャネル形成領域を微結晶半導体層515aで形成し、チャネル形成領域とソース領域及びドレイン領域として機能する不純物半導体層527の間に、欠陥が少なく、価電子帯のバンド端における準位のテール(裾)の傾きが急峻である秩序性の高い半導体層で形成される非晶質半導体を含む層529cとを設けることで、薄膜トランジスタのオフ電流を低減することができる。また、チャネル形成領域とソース領域及びドレイン領域として機能する不純物半導体層527の間に、錐形状の微結晶半導体領域508aを有する混合領域515bと、欠陥が少なく、価電子帯のバンド端における準位のテール(裾)の傾きが急峻である秩序性の高い半導体層で形成される非晶質半導体を含む層529cとを設けることで、オン電流及び電界効果移動度を高めつつ、オフ電流を低減することが可能である。
図14に示す不純物半導体層527は、リンが添加されたアモルファスシリコン、リンが添加された微結晶シリコン等で形成する。なお、薄膜トランジスタとして、pチャネル型薄膜トランジスタを形成する場合は、不純物半導体層527は、ボロンが添加された微結晶シリコン、ボロンが添加されたアモルファスシリコン等で形成する。なお、混合領域515b、または非晶質半導体を含む層529cと、配線525とがオーミックコンタクトをする場合は、不純物半導体層527を形成しなくともよい。
図14及び図15に示す薄膜トランジスタは、微結晶半導体層をチャネル形成領域とし、バックチャネル側を非晶質半導体を含む層とすることで、オフ電流を低減すると共に、オン電流及び電界効果移動度を高めることが可能である。また、チャネル形成領域を微結晶半導体層で形成するため、劣化が少なく、電気特性の信頼性が高い。
本実施の形態は、他の実施の形態に記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可能である。
(実施の形態7)
実施の形態1乃至6のいずれか一に示した液晶表示装置は、薄膜トランジスタを有し、該薄膜トランジスタを駆動回路、さらには画素部に用いて表示機能を有する。また、薄膜トランジスタを駆動回路の一部または全体を、画素部と同じ基板上に一体形成し、システムオンパネルを形成することができる。
液晶表示装置は表示素子として液晶素子(液晶表示素子ともいう)を含む。
また、液晶表示装置は、表示素子が封止された状態にあるパネルと、該パネルにコントローラを含むIC等を実装した状態にあるモジュールとを含む。さらに、該液晶表示装置を作製する過程における、表示素子が完成する前の一形態に相当する素子基板に関し、該素子基板は、電流を表示素子に供給するための手段を複数の各画素に備える。素子基板は、具体的には、表示素子の画素電極のみが形成された状態であっても良いし、画素電極となる導電膜を成膜した後であって、エッチングして画素電極を形成する前の状態であっても良いし、あらゆる形態があてはまる。
なお、本明細書中における液晶表示装置とは、画像表示デバイス、表示デバイス、もしくは光源(照明装置含む)を指す。また、コネクター、例えばFPC(Flexible printed circuit)もしくはTAB(Tape Automated Bonding)テープもしくはTCP(Tape Carrier Package)が取り付けられたモジュール、TABテープやTCPの先にプリント配線板が設けられたモジュール、または表示素子にCOG(Chip On Glass)方式によりIC(集積回路)が直接実装されたモジュールも全て液晶表示装置に含むものとする。
液晶表示装置の一形態に相当する液晶表示パネルの外観及び断面について、図16を用いて説明する。図16は、第1の基板4001上に形成された薄膜トランジスタ4010、4011、及び液晶素子4013を、第2の基板4006との間にシール材4005によって封止した、パネルの上面図であり、図16(B)は、図16(A1)(A2)のM−Nにおける断面図に相当する。
第1の基板4001上に設けられた画素部4002と、走査線駆動回路4004とを囲むようにして、シール材4005が設けられている。また画素部4002と、走査線駆動回路4004の上に第2の基板4006が設けられている。よって画素部4002と、走査線駆動回路4004とは、第1の基板4001とシール材4005と第2の基板4006とによって、液晶層4008と共に封止されている。
また、図16(A1)は第1の基板4001上のシール材4005によって囲まれている領域とは異なる領域に、別途用意された基板上に単結晶半導体膜又は多結晶半導体膜で形成された信号線駆動回路4003が実装されている。なお、図16(A2)は信号線駆動回路の一部を第1の基板4001上に薄膜トランジスタで形成する例であり、第1の基板4001上に信号線駆動回路4003bが形成され、かつ別途用意された基板上に単結晶半導体膜又は多結晶半導体膜で形成された信号線駆動回路4003aが実装されている。
なお、別途形成した駆動回路の接続方法は、特に限定されるものではなく、COG方法、ワイヤボンディング方法、或いはTAB方法などを用いることができる。図16(A1)は、COG方法により信号線駆動回路4003を実装する例であり、図16(A2)は、TAB方法により信号線駆動回路4003を実装する例である。
図16では、接続端子電極4015が、画素電極層4030と同じ導電膜から形成され、端子電極4016は、薄膜トランジスタ4010、4011のソース電極層及びドレイン電極層と同じ導電膜で形成されている。接続端子電極4015は、FPC4018が有する端子と、異方性導電膜4019を介して電気的に接続されている。
また第1の基板4001上に設けられた画素部4002と、走査線駆動回路4004は、薄膜トランジスタを複数有しており、図16(B)では、画素部4002に含まれる薄膜トランジスタ4010と、走査線駆動回路4004に含まれる薄膜トランジスタ4011とを例示している。薄膜トランジスタ4010、4011上には絶縁層4020、4021が設けられている。
薄膜トランジスタ4010、4011は、実施の形態3に示す薄膜トランジスタを適用する。また、実施の形態6に示す微結晶半導体層を半導体層として含む薄膜トランジスタを適用することができる。薄膜トランジスタ4010、4011はnチャネル型薄膜トランジスタである。
また、第1の基板4001上に画素電極層4030及び共通電極層4031が設けられる。
また、実施の形態3と同様に、絶縁層4021と同じ工程で、複数の構造体を形成する。第1の構造体4022の斜面には画素電極層4030が形成され、さらに絶縁層4023と共通電極層4031が積層される。また、第1の構造体4022と隣り合う第2の構造体4024には画素電極層4030と絶縁層4023が積層される。
画素電極層4030は、絶縁層4020に設けられたコンタクトホールを介して薄膜トランジスタ4010と電気的に接続されている。液晶素子4013は、第1の構造体4022の斜面に設けられた共通電極層4031、第2の構造体4024の斜面に設けられた画素電極層4030、及びそれらの間に挟まれる液晶層4008を含む。
なお、第1の基板4001、第2の基板4006の外側にはそれぞれ偏光板4032、4033が設けられている。
なお、第1の基板4001、第2の基板4006としては、透光性を有するガラス、プラスチックなどを用いることができる。プラスチックとしては、FRP(Fiberglass−Reinforced Plastics)板、PVF(ポリビニルフルオライド)フィルム、ポリエステルフィルム、またはアクリル樹脂フィルムを用いることができる。また、アルミニウムホイルをPVFフィルムやポリエステルフィルムで挟んだ構造のシートを用いることもできる。
また4035は絶縁膜を選択的にエッチングすることで得られる柱状のスペーサであり、液晶層4008の膜厚(セルギャップ)を制御するために設けられている。なお球状のスペーサを用いていても良い。なお、液晶層4008を用いる液晶表示装置は、液晶層4008の膜厚(セルギャップ)を5μm以上20μm程度とすることが好ましい。
なお図16は透過型液晶表示装置の例であるが、半透過型液晶表示装置でも適用できる。
また、図16の液晶表示装置では、基板の外側(視認側)に偏光板を設けける例を示すが、偏光板は基板の内側に設けてもよい。偏光板の材料や作製工程条件によって適宜設定すればよい。また、ブラックマトリクスとして機能する遮光層を設けてもよい。
絶縁層4021は、樹脂層である。図16においては、薄膜トランジスタ4010、4011上方を覆うように遮光層4034が第2の基板4006側に設けられている。遮光層4034を設けることにより、さらにコントラスト向上や薄膜トランジスタの安定化の効果を高めることができる。
図17は液晶表示装置の断面構造の一例であり、素子基板2600と対向基板2601がシール材2602により固着され、その間にTFT等を含む素子層2603、液晶層2604が設けられる。
カラー表示を行う場合、バックライト部に複数種の発光色を射出する発光ダイオードを配置する。RGB方式の場合は、赤の発光ダイオード2910R、緑の発光ダイオード2910G、青の発光ダイオード2910Bを液晶表示装置の表示エリアを複数に分割した分割領域にそれぞれ配置する。
対向基板2601の外側には偏光板2606が設けられ、素子基板2600の外側には偏光板2607、及び光学シート2613が配設されている。光源は赤の発光ダイオード2910R、緑の発光ダイオード2910G、青の発光ダイオード2910Bと反射板2611により構成され、回路基板2612に設けられたLED制御回路2912は、フレキシブル配線基板2609により素子基板2600の配線回路部2608と接続され、さらにコントロール回路や電源回路などの外部回路が組みこまれている。
本実施の形態は、このLED制御回路2912によって個別にLEDを発光させることによって、フィールドシーケンシャル方式の液晶表示装置とする例を示したが特に限定されず、バックライトの光源として冷陰極管または白色LEDを用い、カラーフィルタを設けてもよい。
本実施の形態は、他の実施の形態に記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可能である。
(実施の形態8)
実施の形態1乃至6のいずれか一に示す工程により作製される液晶表示装置は、さまざまな電子機器(遊技機も含む)に適用することができる。電子機器としては、例えば、テレビジョン装置(テレビ、またはテレビジョン受信機ともいう)、コンピュータ用などのモニタ、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラ、デジタルフォトフレーム、携帯電話機(携帯電話、携帯電話装置ともいう)、携帯型ゲーム機、携帯情報端末、音響再生装置、パチンコ機などの大型ゲーム機などが挙げられる。
図18(A)は、テレビジョン装置9600の一例を示している。テレビジョン装置9600は、筐体9601に表示部9603が組み込まれている。表示部9703により、映像を表示することが可能である。また、ここでは、壁に固定して筐体の裏側を支持した構成を示している。
テレビジョン装置9600の操作は、筐体9601が備える操作スイッチや、別体のリモコン操作機9610により行うことができる。リモコン操作機9610が備える操作キー9609により、チャンネルや音量の操作を行うことができ、表示部9603に表示される映像を操作することができる。また、リモコン操作機9610に、当該リモコン操作機9610から出力する情報を表示する表示部9607を設ける構成としてもよい。
なお、テレビジョン装置9600は、受信機やモデムなどを備えた構成とする。受信機により一般のテレビ放送の受信を行うことができ、さらにモデムを介して有線または無線による通信ネットワークに接続することにより、一方向(送信者から受信者)または双方向(送信者と受信者間、あるいは受信者間同士など)の情報通信を行うことも可能である。
図18(B)は携帯型遊技機であり、筐体9881と筐体9891の2つの筐体で構成されており、連結部9893により、開閉可能に連結されている。筐体9881には表示部9882が組み込まれ、筐体9891には表示部9883が組み込まれている。また、図18(B)に示す携帯型遊技機は、その他、スピーカ部9884、記録媒体挿入部9886、LEDランプ9890、入力手段(操作キー9885、接続端子9887、センサ9888(力、変位、位置、速度、加速度、角速度、回転数、距離、光、液、磁気、温度、化学物質、音声、時間、硬度、電場、電流、電圧、電力、放射線、流量、湿度、傾度、振動、におい又は赤外線を測定する機能を含むもの)、マイクロフォン9889)等を備えている。もちろん、携帯型遊技機の構成は上述のものに限定されず、少なくとも半導体装置を備えた構成であればよく、その他付属設備が適宜設けられた構成とすることができる。図18(B)に示す携帯型遊技機は、記録媒体に記録されているプログラム又はデータを読み出して表示部に表示する機能や、他の携帯型遊技機と無線通信を行って情報を共有する機能を有する。なお、図18(B)に示す携帯型遊技機が有する機能はこれに限定されず、様々な機能を有することができる。
図19(A)は、携帯電話機1000の一例を示している。携帯電話機1000は、筐体1001に組み込まれた表示部1002の他、操作ボタン1003、外部接続ポート1004、スピーカ1005、マイク1006などを備えている。
図19(A)に示す携帯電話機1000は、表示部1002を指などで触れることで、情報を入力することができる。また、電話を掛ける、或いはメールを打つなどの操作は、表示部1002を指などで触れることにより行うことができる。
表示部1002の画面は主として3つのモードがある。第1は、画像の表示を主とする表示モードであり、第2は、文字等の情報の入力を主とする入力モードである。第3は表示モードと入力モードの2つのモードが混合した表示+入力モードである。
例えば、電話を掛ける、或いはメールを作成する場合は、表示部1002を文字の入力を主とする文字入力モードとし、画面に表示させた文字の入力操作を行えばよい。この場合、表示部1002の画面のほとんどにキーボードまたは番号ボタンを表示させることが好ましい。
また、携帯電話機1000内部に、ジャイロ、加速度センサ等の傾きを検出するセンサを有する検出装置を設けることで、携帯電話機1000の向き(縦か横か)を判断して、表示部1002の画面表示を自動的に切り替えるようにすることができる。
また、画面モードの切り替えは、表示部1002を触れること、又は筐体1001の操作ボタン1003の操作により行われる。また、表示部1002に表示される画像の種類によって切り替えるようにすることもできる。例えば、表示部に表示する画像信号が動画のデータであれば表示モード、テキストデータであれば入力モードに切り替える。
また、入力モードにおいて、表示部1002の光センサで検出される信号を検知し、表示部1002のタッチ操作による入力が一定期間ない場合には、画面のモードを入力モードから表示モードに切り替えるように制御してもよい。
表示部1002は、イメージセンサとして機能させることもできる。例えば、表示部1002に掌や指を触れることで、掌紋、指紋等を撮像することで、本人認証を行うことができる。また、表示部に近赤外光を発光するバックライトまたは近赤外光を発光するセンシング用光源を用いれば、指静脈、掌静脈などを撮像することもできる。
図19(B)は、電子書籍の一例を示す斜視図である。図19(B)に示す電子書籍は、複数の表示パネルを有する。第1の表示パネル4311と第2の表示パネル4312の間に、両面表示型の第3の表示パネルを搭載し、電子書籍を見開きにした状態である。
図19(B)に示す電子書籍は、第1の表示部4301を有する第1の表示パネル4311と、操作部4304及び第2の表示部4307を有する第2の表示パネル4312と、第3の表示部4302及び第4の表示部4310を有する第3の表示パネル4313と、第1の表示パネル4311と、第2の表示パネル4312と、第3の表示パネル4313との一端部に設けられた綴じ部4308と、を有している。第3の表示パネル4313は、第1の表示パネル4311と第2の表示パネル4312の間に挿入されている。図19(B)の電子書籍は第1の表示部4301、第2の表示部4307、第3の表示部4302、及び第4の表示部4310の4つの表示画面を有している。
第1の表示パネル4311、第2の表示パネル4312、及び第3の表示パネル4313は可撓性を有しており、曲がりやすい。また、第1の表示パネル4311、第2の表示パネル4312にプラスチック基板を用い、第3の表示パネル4313に薄いフィルムを用いると、薄型な電子書籍とすることができる。
第3の表示パネル4313は第3の表示部4302及び第4の表示部4310を有する両面表示型パネルである。第3の表示パネル4313は、間にバックライト(好適には薄型のEL発光パネル)を挟んだ2つの液晶表示パネルを用いる。なお、第1の表示パネル4311、第2の表示パネル4312、及び第3の表示パネル4313は全て液晶表示パネルとすることに限定されず、EL発光表示パネルや電子ペーパなどを用いてもよく、3つの表示パネルのうち、少なくとも一つの表示パネルを実施の形態1乃至7の液晶表示装置を用いればよい。一つの電子書籍に複数種類の表示パネルを用いることにより、明るい屋外では電子ペーパの表示パネルを使用して他のパネルをOFF状態とすることで消費電力を抑え、暗い場所では、液晶の表示パネルを使用して表示を行うことができる。電子ペーパは一度表示を行うとOFF状態としても表示を維持できる長所を有する反面、反射型表示装置であるため、光のない場所では表示することが困難である。従って、一つの電子書籍に複数種類の表示パネルを用いることにより、場所を選ぶことなく電子書籍の使用が可能となる。また、3つの表示パネルのうち、少なくとも一つの表示パネルをフルカラー表示させ、ほかの表示パネルをモノクロ表示の表示パネルとしてもよい。
また図19(B)に示す電子書籍において、第2の表示パネル4312は、操作部4304を有し、電源入力スイッチや、表示切り替えスイッチなど、各機能を対応づけることができる。
また図19(B)に示す電子書籍の入力操作は、第1の表示部4301や第2の表示部4307に指や入力ペンなどで触れること、又は操作部4304の操作により行われる。なお、図19(B)では、第2の表示部4307に表示された表示ボタン4309を図示しており、指などで触れることにより入力を行うことができる。
401:ゲート電極層
402:絶縁層
403:半導体層
407:絶縁膜
410:容量配線
413:層間絶縁膜
420:薄膜トランジスタ
433a〜h:構造体
441:第1の基板
442:第2の基板
444:液晶層
446:電極層
447:電極層455:コンタクトホール
456:第2の電極層
457:第1の電極層
465:第2の絶縁層
466:第2の電極層
467:第1の電極層
468:第3の絶縁層

Claims (13)

  1. ブルー相を示す液晶材料を含む液晶層を挟持する第1の基板及び第2の基板と、
    前記第1の基板上に複数の構造体と、
    前記複数の構造体上に第1の電極層と、
    前記第1の電極層上に絶縁層と、
    前記絶縁層上に前記絶縁層を介して前記第1の電極層と重なる第2の電極層とを有し、
    前記複数の構造体はそれぞれ等間隔で配置され、
    前記複数の構造体のそれぞれの側面が、前記第1の基板の平面となす角は90°未満であり、
    前記第2の電極層は、前記第1の電極層及び前記絶縁層を介して前記構造体の側面と重なり、
    前記第2の電極層は複数の開口を有する液晶表示装置。
  2. 請求項1において、前記構造体は、有機樹脂材料である液晶表示装置。
  3. ブルー相を示す液晶材料を含む液晶層を挟持する第1の基板及び第2の基板と、
    前記第1の基板上に第1の構造体、第2の構造体、及び第3の構造体と、
    前記第1の構造体、前記第2の構造体、及び前記第3の構造体上に第1の電極層と、
    前記第1の電極層上に絶縁層と、
    前記絶縁層を介して前記第1の構造体の側面及び前記第3の構造体の側面と重なる第2の電極層と、
    前記第2の電極層は開口を有し、
    前記第1の構造体、前記第2の構造体、及び前記第3の構造体はそれぞれ等間隔で配置され、前記第1の構造体と前記第3の構造体の間に前記第2の構造体が配置され、
    前記第2の電極層の開口は第2の構造体と重なる液晶表示装置。
  4. 請求項3において、前記第1の構造体、前記第2の構造体、及び前記第3の構造体は有機樹脂材料である液晶表示装置。
  5. 請求項1乃至4のいずれか一において、前記第1の電極層は、固定電位であり、前記第2の電極層は、薄膜トランジスタと電気的に接続する液晶表示装置。
  6. 請求項1乃至5のいずれか一において、さらに、前記第2の基板に第3の電極層を有し、前記第3の電極層は固定電位であり、前記第3の電極層は前記液晶層を介して前記第1の電極層と重なる液晶表示装置。
  7. 請求項1乃至4のいずれか一において、前記第1の電極層は、薄膜トランジスタと電気的に接続し、前記第2の電極層は、固定電位である液晶表示装置。
  8. 請求項1乃至4、または請求項7のいずれか一において、さらに、前記第2の基板に第3の電極層を有し、前記第3の電極層は固定電位であり、前記第3の電極層は前記液晶層を介して前記第2の電極層と重なる液晶表示装置。
  9. 請求項1乃至8のいずれか一において、前記絶縁層は、無機絶縁材料である液晶表示装置。
  10. ゲート電極と、複数の構造体を形成し、
    前記構造体上に第1の電極層を形成し、
    前記ゲート電極及び前記第1の電極層を覆う絶縁層を形成し、
    前記絶縁層上に前記ゲート電極と重なる半導体層を形成し、
    前記半導体層上に導電層を形成し、
    前記導電層上に前記半導体層と電気的に接続する第2の電極層を形成し、
    第2の基板を前記第1の基板と液晶層を間に挟んで固定し、
    前記第2の電極層は、前記構造体、前記第1の電極層、及び絶縁層と一部重なる液晶表示装置の作製方法。
  11. 請求項10において、前記液晶層は、ブルー相を示す液晶材料を含む液晶表示装置の作製方法。
  12. 請求項10または請求項11において、前記液晶層は、カイラル剤を含む液晶表示装置の作製方法。
  13. 請求項10乃至12のいずれか一において、前記液晶層は、光硬化樹脂及び光重合開始剤を含む液晶表示装置の作製方法。
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