JP2010534406A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2010534406A5
JP2010534406A5 JP2010517027A JP2010517027A JP2010534406A5 JP 2010534406 A5 JP2010534406 A5 JP 2010534406A5 JP 2010517027 A JP2010517027 A JP 2010517027A JP 2010517027 A JP2010517027 A JP 2010517027A JP 2010534406 A5 JP2010534406 A5 JP 2010534406A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
template mold
diffraction grating
sensor system
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010517027A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4791597B2 (ja
JP2010534406A (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from US12/175,258 external-priority patent/US7837907B2/en
Application filed filed Critical
Publication of JP2010534406A publication Critical patent/JP2010534406A/ja
Publication of JP2010534406A5 publication Critical patent/JP2010534406A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4791597B2 publication Critical patent/JP4791597B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (13)

  1. 基板の端部のみを用いて前記基板を検知し、テンプレート・モールドを前記基板に対して位置合わせする方法であって、前記方法は、
    前記テンプレート・モールド及び前記基板の上にセンサ・システムを配置するステップであって、前記センサ・システムは光エネルギー・ビームを生成し、検出面から角度ウィンドウ内に反射された前記光エネルギーの部分のみを受光するように構成され、前記センサ・システムは前記テンプレート・モールド及び前記基板の前記検出面から反射され受光した光エネルギーの変動に応じてセンサ信号を生成する、ステップと、
    前記テンプレート・モールドをツール座標内で位置特定するための制御信号に応答して前記テンプレート・モールドを位置決めするステップであって、前記テンプレート・モールドは所定の寸法増分に対応するピッチの検出面を有する回折格子で囲まれたインプリント可能な特徴部を含む、ステップと、
    前記基板をツール座標内で前記基板を位置特定するための制御信号に応答して前記基板を位置決めするステップであって、前記基板の端部のみが検出面として構成される、ステップと、
    前記テンプレート・モールドを前記基板に対してツール座標内で位置特定するための前記センサ信号をコントローラ内で処理するステップと、
    前記制御信号を生成し、それによって前記基板を前記テンプレート・モールドに対して正確に位置決めするステップと、
    から構成され、
    チャックの第1の面により光ビームを実質的に前記センサ・システムに照射し、前記基板の端部の第2の面により光ビームを、受光エネルギーが変動させる前記センサ・システムから実質的に離間させて照射するように、前記チャック上に前記基板が位置決めされることを特徴とする方法。
  2. 前記ツール座標内で前記テンプレート・モールドに対して前記基板が正確に位置決めされると、前記回折格子のパターン及び前記アクティブ・エリアを前記基板上にインプリントするステップと、
    前記基板上にインプリントされた前記回折格子のパターン及び前記アクティブ・エリアを前記センサ・システムで走査することにより、前記基板端部に対応する検出面及び前記インプリントされた回折格子上の検出面からセンサ信号を生成するステップと、
    前記インプリントされたパターンをツール座標内で前記基板の前記端部に対して位置特定するための前記センサ信号を前記コントローラ内で処理して、前記アクティブ・エリアの前記基板に対する同心度を判定し、プロセス制御を容易にするステップと、
    をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  3. 前記テンプレート・モールドの前記アクティブ・エリアのインプリント特徴部が形成されるのと同時に、前記回折格子は前記テンプレート・モールド上にインプリント特徴部として形成されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  4. 前記センサ・システムは前記光エネルギー・ビームを生成するレーザー光エミッタと、前記レーザー光の周波数に反応して検出面から角度ウィンドウ内に反射された前記光エネルギー部分を受光する光検出器とを備える、ことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  5. 前記レーザー光エミッタと前記光検出器は、所定の角度ウィンドウ内に検出面から反射されたレーザー光のみが前記光検出器上に入射するように相対的に位置決めされることを特徴とする請求項4に記載の方法。
  6. 前記回折格子は、所定の距離パラメータに対応するピッチを有する一連の平行な等間隔を空けた長方形の峰及び谷として構成されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  7. 前記アクティブ・エリアの特徴部がインプリントされるとの同時に、前記回折格子は前記基板上にインプリントされることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  8. インプリント・パターン及びインプリント格子を含む前記基板の直交軸に沿って前記センサ・システムを走査し、前記回折格子の端部から内縁までの距離を測定するステップと、
    個々の直交経路に沿った前記距離を減算して、前記基板にインプリントしたパターンの同心度の測定値を生成するステップと、
    をさらに含むことを特徴とする請求項7に記載の方法。
  9. 前記チャックの前記第1の面は、少なくとも1つの傾斜を有することを特徴とする請求項1に記載の方法。
  10. 前記センサ・システムは光源と検出器を有し、前記チャックの前記第1の面の傾斜は実質的に前記光源と前記検出器との間の角度の半分に等しいことを特徴とする請求項9に記載の方法。
  11. 前記基板は、前記基板の内縁が前記第1の面の前記傾斜の少なくとも一部に重なり合うように位置決めされることを特徴とする請求項9に記載の方法。
  12. 前記ツール座標内に前記基板を位置特定することは、前記基板の中心位置を決定するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  13. 前記ツール座標内に前記基板を位置特定することは、前記基板の半径を決定するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
JP2010517027A 2007-07-20 2008-07-18 ナノ・インプリント・プロセスにおける基板のアラインメント・システム及び方法 Active JP4791597B2 (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US95100207P 2007-07-20 2007-07-20
US60/951,002 2007-07-20
US12/175,258 2008-07-17
US12/175,258 US7837907B2 (en) 2007-07-20 2008-07-17 Alignment system and method for a substrate in a nano-imprint process
PCT/US2008/008817 WO2009014655A1 (en) 2007-07-20 2008-07-18 Alignment system and method for a substrate in a nano-imprint process

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2010534406A JP2010534406A (ja) 2010-11-04
JP2010534406A5 true JP2010534406A5 (ja) 2011-07-14
JP4791597B2 JP4791597B2 (ja) 2011-10-12

Family

ID=40281655

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010517027A Active JP4791597B2 (ja) 2007-07-20 2008-07-18 ナノ・インプリント・プロセスにおける基板のアラインメント・システム及び方法

Country Status (8)

Country Link
US (2) US7837907B2 (ja)
EP (1) EP2171537B1 (ja)
JP (1) JP4791597B2 (ja)
KR (1) KR101487301B1 (ja)
CN (1) CN101772733B (ja)
AT (1) ATE556357T1 (ja)
MY (1) MY150368A (ja)
WO (1) WO2009014655A1 (ja)

Families Citing this family (50)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070231421A1 (en) * 2006-04-03 2007-10-04 Molecular Imprints, Inc. Enhanced Multi Channel Alignment
US7630067B2 (en) * 2004-11-30 2009-12-08 Molecular Imprints, Inc. Interferometric analysis method for the manufacture of nano-scale devices
US7943080B2 (en) * 2005-12-23 2011-05-17 Asml Netherlands B.V. Alignment for imprint lithography
US8012395B2 (en) * 2006-04-18 2011-09-06 Molecular Imprints, Inc. Template having alignment marks formed of contrast material
US9573319B2 (en) 2007-02-06 2017-02-21 Canon Kabushiki Kaisha Imprinting method and process for producing a member in which a mold contacts a pattern forming layer
US8945444B2 (en) * 2007-12-04 2015-02-03 Canon Nanotechnologies, Inc. High throughput imprint based on contact line motion tracking control
US20090147237A1 (en) * 2007-12-05 2009-06-11 Molecular Imprints, Inc. Spatial Phase Feature Location
US8610726B2 (en) * 2008-09-26 2013-12-17 Apple Inc. Computer systems and methods with projected display
US7881603B2 (en) 2008-09-26 2011-02-01 Apple Inc. Dichroic aperture for electronic imaging device
US20100079653A1 (en) * 2008-09-26 2010-04-01 Apple Inc. Portable computing system with a secondary image output
US20100092599A1 (en) * 2008-10-10 2010-04-15 Molecular Imprints, Inc. Complementary Alignment Marks for Imprint Lithography
US8345242B2 (en) 2008-10-28 2013-01-01 Molecular Imprints, Inc. Optical system for use in stage control
US8432548B2 (en) * 2008-11-04 2013-04-30 Molecular Imprints, Inc. Alignment for edge field nano-imprinting
US8231821B2 (en) * 2008-11-04 2012-07-31 Molecular Imprints, Inc. Substrate alignment
WO2010111307A1 (en) * 2009-03-23 2010-09-30 Intevac, Inc. A process for optimization of island to trench ratio in patterned media
JP2010267357A (ja) * 2009-05-18 2010-11-25 Hitachi High-Technologies Corp パターンドメディアの製造方法及び製造装置
US9164375B2 (en) * 2009-06-19 2015-10-20 Canon Nanotechnologies, Inc. Dual zone template chuck
TWI431668B (zh) * 2009-06-24 2014-03-21 Ulvac Inc 真空成膜裝置及真空成膜裝置之擋板位置檢測方法
US8380878B2 (en) 2009-08-13 2013-02-19 Cox Communications, Inc. Side loading
KR101116321B1 (ko) * 2009-08-21 2012-03-09 에이피시스템 주식회사 기판 정렬 방법
NL2005259A (en) * 2009-09-29 2011-03-30 Asml Netherlands Bv Imprint lithography.
JP5563319B2 (ja) * 2010-01-19 2014-07-30 キヤノン株式会社 インプリント装置、および物品の製造方法
WO2011097514A2 (en) 2010-02-05 2011-08-11 Molecular Imprints, Inc. Templates having high contrast alignment marks
US8620064B2 (en) * 2010-02-17 2013-12-31 Applied Materials, Inc. Method for imaging workpiece surfaces at high robot transfer speeds with reduction or prevention of motion-induced distortion
US8452077B2 (en) * 2010-02-17 2013-05-28 Applied Materials, Inc. Method for imaging workpiece surfaces at high robot transfer speeds with correction of motion-induced distortion
US8698889B2 (en) * 2010-02-17 2014-04-15 Applied Materials, Inc. Metrology system for imaging workpiece surfaces at high robot transfer speeds
NL2005975A (en) * 2010-03-03 2011-09-06 Asml Netherlands Bv Imprint lithography.
JP5539011B2 (ja) * 2010-05-14 2014-07-02 キヤノン株式会社 インプリント装置、検出装置、位置合わせ装置、及び物品の製造方法
US8538132B2 (en) * 2010-09-24 2013-09-17 Apple Inc. Component concentricity
WO2012040699A2 (en) 2010-09-24 2012-03-29 Molecular Imprints, Inc. High contrast alignment marks through multiple stage imprinting
JP5635870B2 (ja) 2010-10-22 2014-12-03 新日本無線株式会社 反射型フォトセンサを用いた位置検出装置
US8967992B2 (en) 2011-04-25 2015-03-03 Canon Nanotechnologies, Inc. Optically absorptive material for alignment marks
US8834146B2 (en) 2012-10-24 2014-09-16 Massachusetts Institute Of Technology System for passive alignment of surfaces
US9377683B2 (en) 2013-03-22 2016-06-28 HGST Netherlands B.V. Imprint template with optically-detectable alignment marks and method for making using block copolymers
JP5909210B2 (ja) 2013-07-11 2016-04-26 キヤノン株式会社 インプリント装置及び物品の製造方法
JP6395352B2 (ja) * 2013-07-12 2018-09-26 キヤノン株式会社 インプリント装置およびインプリント方法、それを用いた物品の製造方法
US9356061B2 (en) 2013-08-05 2016-05-31 Apple Inc. Image sensor with buried light shield and vertical gate
JP6499898B2 (ja) 2014-05-14 2019-04-10 株式会社ニューフレアテクノロジー 検査方法、テンプレート基板およびフォーカスオフセット方法
US9797846B2 (en) 2015-04-17 2017-10-24 Nuflare Technology, Inc. Inspection method and template
SG10201603103UA (en) 2015-04-30 2016-11-29 Canon Kk Imprint device, substrate conveying device, imprinting method, and method for manufacturing article
JP6583747B2 (ja) * 2015-09-29 2019-10-02 大日本印刷株式会社 インプリント用のモールドおよびその製造方法
WO2017167637A1 (en) 2016-03-30 2017-10-05 Asml Netherlands B.V. Substrate edge detection
JP7051816B2 (ja) 2016-08-26 2022-04-11 モレキュラー インプリンツ, インコーポレイテッド 光学デバイスのための縁シーラント閉じ込めおよびハロー低減
WO2019241398A1 (en) 2018-06-12 2019-12-19 Wendong Xing Edge sealant application for optical devices
JP2020035924A (ja) * 2018-08-30 2020-03-05 キオクシア株式会社 原版
JP7195419B2 (ja) 2018-10-16 2022-12-23 マジック リープ, インコーポレイテッド ポリマー製品を鋳造するための方法および装置
KR102165655B1 (ko) 2019-07-25 2020-10-14 서원대학교산학협력단 패턴필름의 제조방법 및 상기 제조방법으로 제조된 패턴필름
JP7337682B2 (ja) * 2019-12-18 2023-09-04 キヤノン株式会社 インプリント装置、インプリント方法、及び物品の製造方法
CN113119642B (zh) * 2021-04-13 2022-07-01 北京黎马敦太平洋包装有限公司 一种压印工作站
CN114326340B (zh) * 2022-01-14 2024-04-02 苏州新维度微纳科技有限公司 纳米压印对准方法及系统

Family Cites Families (68)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4024944A (en) * 1975-12-24 1977-05-24 Texas Instruments Incorporated Semiconductor slice prealignment system
NL7606548A (nl) * 1976-06-17 1977-12-20 Philips Nv Werkwijze en inrichting voor het uitrichten van een i.c.-patroon ten opzichte van een halfgelei- dend substraat.
NL8600639A (nl) * 1986-03-12 1987-10-01 Asm Lithography Bv Werkwijze voor het ten opzichte van elkaar uitrichten van een masker en een substraat en inrichting voor het uitvoeren van de werkwijze.
JPH08167559A (ja) * 1994-12-15 1996-06-25 Nikon Corp アライメント方法及び装置
US6034378A (en) * 1995-02-01 2000-03-07 Nikon Corporation Method of detecting position of mark on substrate, position detection apparatus using this method, and exposure apparatus using this position detection apparatus
JPH09297408A (ja) * 1996-05-08 1997-11-18 Nikon Corp プリアライメント装置
JPH1186346A (ja) * 1997-09-09 1999-03-30 Sony Corp 光ディスク、光ディスクの製造方法及び光ディスク原盤の製造方法
US6417922B1 (en) * 1997-12-29 2002-07-09 Asml Netherlands B.V. Alignment device and lithographic apparatus comprising such a device
JP2000323461A (ja) * 1999-05-11 2000-11-24 Nec Corp 微細パターン形成装置、その製造方法、および形成方法
US7432634B2 (en) * 2000-10-27 2008-10-07 Board Of Regents, University Of Texas System Remote center compliant flexure device
US6873087B1 (en) * 1999-10-29 2005-03-29 Board Of Regents, The University Of Texas System High precision orientation alignment and gap control stages for imprint lithography processes
TWI231405B (en) * 1999-12-22 2005-04-21 Asml Netherlands Bv Lithographic projection apparatus, position detection device, and method of manufacturing a device using a lithographic projection apparatus
TWI282909B (en) * 1999-12-23 2007-06-21 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus and a method for manufacturing a device
US6462818B1 (en) * 2000-06-22 2002-10-08 Kla-Tencor Corporation Overlay alignment mark design
US6696220B2 (en) * 2000-10-12 2004-02-24 Board Of Regents, The University Of Texas System Template for room temperature, low pressure micro-and nano-imprint lithography
AU2001273491A1 (en) * 2000-07-16 2002-02-05 Board Of Regents, The University Of Texas System High-resolution overlay alignment methods and systems for imprint lithography
EP1309897A2 (en) * 2000-08-01 2003-05-14 Board Of Regents, The University Of Texas System Methods for high-precision gap and orientation sensing between a transparent template and substrate for imprint lithography
EP1390975A2 (en) * 2000-08-21 2004-02-25 The Board Of Regents, The University Of Texas System Flexure based translation stage
US6486954B1 (en) * 2000-09-01 2002-11-26 Kla-Tencor Technologies Corporation Overlay alignment measurement mark
US20050274219A1 (en) * 2004-06-01 2005-12-15 Molecular Imprints, Inc. Method and system to control movement of a body for nano-scale manufacturing
US7387508B2 (en) * 2004-06-01 2008-06-17 Molecular Imprints Inc. Compliant device for nano-scale manufacturing
US20060005657A1 (en) * 2004-06-01 2006-01-12 Molecular Imprints, Inc. Method and system to control movement of a body for nano-scale manufacturing
TW556296B (en) * 2000-12-27 2003-10-01 Koninkl Philips Electronics Nv Method of measuring alignment of a substrate with respect to a reference alignment mark
US20050064344A1 (en) * 2003-09-18 2005-03-24 University Of Texas System Board Of Regents Imprint lithography templates having alignment marks
US7077992B2 (en) * 2002-07-11 2006-07-18 Molecular Imprints, Inc. Step and repeat imprint lithography processes
US6932934B2 (en) * 2002-07-11 2005-08-23 Molecular Imprints, Inc. Formation of discontinuous films during an imprint lithography process
US7070405B2 (en) * 2002-08-01 2006-07-04 Molecular Imprints, Inc. Alignment systems for imprint lithography
US6916584B2 (en) * 2002-08-01 2005-07-12 Molecular Imprints, Inc. Alignment methods for imprint lithography
US7027156B2 (en) * 2002-08-01 2006-04-11 Molecular Imprints, Inc. Scatterometry alignment for imprint lithography
EP1573395A4 (en) * 2002-08-01 2010-09-29 Molecular Imprints Inc SPREADING MEASUREMENT DEVICE FOR THE PRINTING LITHOGRAPHY
US6936194B2 (en) * 2002-09-05 2005-08-30 Molecular Imprints, Inc. Functional patterning material for imprint lithography processes
US8349241B2 (en) * 2002-10-04 2013-01-08 Molecular Imprints, Inc. Method to arrange features on a substrate to replicate features having minimal dimensional variability
US20040065252A1 (en) * 2002-10-04 2004-04-08 Sreenivasan Sidlgata V. Method of forming a layer on a substrate to facilitate fabrication of metrology standards
US6929762B2 (en) * 2002-11-13 2005-08-16 Molecular Imprints, Inc. Method of reducing pattern distortions during imprint lithography processes
AU2003300865A1 (en) * 2002-12-13 2004-07-09 Molecular Imprints, Inc. Magnification corrections employing out-of-plane distortions on a substrate
US7179396B2 (en) * 2003-03-25 2007-02-20 Molecular Imprints, Inc. Positive tone bi-layer imprint lithography method
US7396475B2 (en) * 2003-04-25 2008-07-08 Molecular Imprints, Inc. Method of forming stepped structures employing imprint lithography
US6951173B1 (en) * 2003-05-14 2005-10-04 Molecular Imprints, Inc. Assembly and method for transferring imprint lithography templates
US7150622B2 (en) * 2003-07-09 2006-12-19 Molecular Imprints, Inc. Systems for magnification and distortion correction for imprint lithography processes
US7136150B2 (en) * 2003-09-25 2006-11-14 Molecular Imprints, Inc. Imprint lithography template having opaque alignment marks
JP2005116978A (ja) * 2003-10-10 2005-04-28 Sumitomo Heavy Ind Ltd ナノインプリント装置及び方法
JP2005153091A (ja) * 2003-11-27 2005-06-16 Hitachi Ltd 転写方法及び転写装置
US20050275311A1 (en) * 2004-06-01 2005-12-15 Molecular Imprints, Inc. Compliant device for nano-scale manufacturing
US7768624B2 (en) * 2004-06-03 2010-08-03 Board Of Regents, The University Of Texas System Method for obtaining force combinations for template deformation using nullspace and methods optimization techniques
US20050270516A1 (en) * 2004-06-03 2005-12-08 Molecular Imprints, Inc. System for magnification and distortion correction during nano-scale manufacturing
WO2005121903A2 (en) * 2004-06-03 2005-12-22 Board Of Regents, The University Of Texas System System and method for improvement of alignment and overlay for microlithography
JP2006013400A (ja) * 2004-06-29 2006-01-12 Canon Inc 2つの対象物間の相対的位置ずれ検出方法及び装置
JP4550504B2 (ja) * 2004-07-22 2010-09-22 株式会社日立製作所 記録媒体の製造方法
US7650481B2 (en) * 2004-11-24 2010-01-19 Qualcomm Incorporated Dynamic control of memory access speed
US20070231421A1 (en) * 2006-04-03 2007-10-04 Molecular Imprints, Inc. Enhanced Multi Channel Alignment
US7292326B2 (en) * 2004-11-30 2007-11-06 Molecular Imprints, Inc. Interferometric analysis for the manufacture of nano-scale devices
US7630067B2 (en) 2004-11-30 2009-12-08 Molecular Imprints, Inc. Interferometric analysis method for the manufacture of nano-scale devices
WO2006060758A2 (en) * 2004-12-01 2006-06-08 Molecular Imprints, Inc. Methods of exposure for the purpose of thermal management for imprint lithography processes
KR100647314B1 (ko) * 2005-01-31 2006-11-23 삼성전자주식회사 나노 임프린트 리소그래피용 정렬시스템 및 이를 채용한임프린트 리소그래피 방법
JP4290177B2 (ja) * 2005-06-08 2009-07-01 キヤノン株式会社 モールド、アライメント方法、パターン形成装置、パターン転写装置、及びチップの製造方法
US7342642B2 (en) * 2005-06-20 2008-03-11 Asml Netherlands B.V. Pre-aligning a substrate in a lithographic apparatus, device manufacturing method, and device manufactured by the manufacturing method
US7408618B2 (en) * 2005-06-30 2008-08-05 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus substrate alignment
KR101324549B1 (ko) * 2005-12-08 2013-11-01 몰레큘러 임프린츠 인코퍼레이티드 기판의 양면 패턴화를 위한 방법 및 시스템
US7670530B2 (en) * 2006-01-20 2010-03-02 Molecular Imprints, Inc. Patterning substrates employing multiple chucks
JP4735280B2 (ja) * 2006-01-18 2011-07-27 株式会社日立製作所 パターン形成方法
JP4736821B2 (ja) * 2006-01-24 2011-07-27 株式会社日立製作所 パターン形成方法およびパターン形成装置
US7802978B2 (en) * 2006-04-03 2010-09-28 Molecular Imprints, Inc. Imprinting of partial fields at the edge of the wafer
TW200801794A (en) * 2006-04-03 2008-01-01 Molecular Imprints Inc Method of concurrently patterning a substrate having a plurality of fields and a plurality of alignment marks
JP4185941B2 (ja) * 2006-04-04 2008-11-26 キヤノン株式会社 ナノインプリント方法及びナノインプリント装置
JP4795300B2 (ja) * 2006-04-18 2011-10-19 キヤノン株式会社 位置合わせ方法、インプリント方法、位置合わせ装置、インプリント装置、及び位置計測方法
US7547398B2 (en) * 2006-04-18 2009-06-16 Molecular Imprints, Inc. Self-aligned process for fabricating imprint templates containing variously etched features
JP4848832B2 (ja) * 2006-05-09 2011-12-28 凸版印刷株式会社 ナノインプリント装置及びナノインプリント方法
JP2008276919A (ja) * 2007-03-30 2008-11-13 Pioneer Electronic Corp インプリント装置およびインプリント方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2010534406A5 (ja)
JP4791597B2 (ja) ナノ・インプリント・プロセスにおける基板のアラインメント・システム及び方法
CN101244523B (zh) 激光加工检测方法及其专用仪器
JP2010536624A5 (ja)
WO2010115588A3 (de) Verfahren und vorrichtung zum kalibrieren einer bestrahlungsvorrichtung
CN106197262A (zh) 一种矩形工件位置和角度测量方法
US20200191670A1 (en) Residual stress detection device and detection method thereof
JP2008536135A (ja) 所望の深さにスケールマークを作成するために、レーザ、センサおよびフィードバック手段を用いるスケール製造方法
JP2008543572A5 (ja)
CN104597125A (zh) 一种用于3d打印件的超声检测控制方法及装置
JP4412180B2 (ja) レーザー超音波探傷法、及びレーザー超音波探傷装置
CN104117772A (zh) 激光加工方法及加工装置
JP6163342B2 (ja) 開先形状計測方法及び装置
CN101672633A (zh) 磁辊圆柱度自动检测装置
JP2013171043A (ja) 加工品に対して加工工具を位置決めするための構造および方法
CN201322610Y (zh) 表面粗糙度检测装置
JP6457574B2 (ja) 計測装置
Ito et al. Measurement of cutting edge width of a rotary cutting tool by using a laser displacement sensor
JP2005322748A5 (ja)
JP2014163801A (ja) 偏芯検出装置、および偏芯検出方法
TW201416166A (zh) 加工機之工件檢測方法及其裝置
TWI400479B (zh) 供奈米壓印方法中之基材所用之配向系統及方法
JP2005221288A (ja) 投影法による加工面性状の測定方法及びその装置
WO2013050007A1 (en) Method and apparatus for measuring shape deviations of mechanical parts
US11867630B1 (en) Fixture and method for optical alignment in a system for measuring a surface in contoured glass sheets