CN101672633A - 磁辊圆柱度自动检测装置 - Google Patents

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路秀秀
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Abstract

本发明提供一种磁辊同轴度自动检测装置,该检测装置主要包括:测量平台(3),夹紧装置(2),激光系统(4),采集系统(5),计算机(6),转动控制轮(1)。磁辊(7)固定在夹紧装置上,半导体激光器射出的光束由聚焦透镜聚焦成光点,照射到待检测的磁辊(7)上,其上的一部分反射光从聚焦透镜聚焦在位置检测元件上形成光点。由采集系统(5)接收进行数据处理,传输到计算机(6)显示屏上。转动控制轮(1)带动磁辊每转动10度,得到一光点,旋转一周得到三十六个光点。按此方法至少测量磁辊上三个位置。采用相对测量法,与标准件比较,确定磁辊是否合格。简便易行,自动化程度高。

Description

磁辊圆柱度自动检测装置
技术领域
本发明涉及一种同轴度自动检测装置,特别是一种关于磁辊的同轴度无损检测装置。
背景技术
磁辊的同轴度直接影响硒鼓产品是否合格,因此使用磁辊前均需要对此进行同轴度的测量,目前使用较多的三坐标测量法虽然直观方便,但是组成复杂,受温度影响大,保养要求高。
发明内容
一种磁辊同轴度自动检测装置,用来自动测量磁辊的同轴度,该测量装置包括测量平台,夹紧装置,激光系统,采集系统,计算机,转动控制轮。整个装置放置在测量平台上,激光系统由功率为10mw的半导体激光器,入射光聚焦透镜,反射光聚焦透镜组成,采集系统与计算机相连,转动控制轮带动工件旋转,夹紧装置与转动控制轮连接并由其带动工件旋转。
本装置采用相对测量方法,测量前先测量标准件,并记录下数据,然后测量被测磁辊,记录数据,将待测磁辊与标准件比较,得到尺寸偏差。
激光系统由功率为10mw的半导体激光器,入射光聚焦透镜,反射光聚焦透镜组成;采集系统主要部件为光位置检测元件。半导体激光器为光源,入射光聚焦透镜使入射光聚焦,反射光聚焦透镜使反射光聚焦,光位置检测元件用来接受反射光聚焦成的光点。整个装置固定在测量平台上,磁辊由夹紧装置控制,转动控制轮通过夹紧装置带动磁辊旋转,激光系统中半导体激光源发射出的光束由聚焦透镜聚焦准直后,垂直照射到被测磁辊上。激光束照射待测磁辊时,应垂直照射磁辊表面,并与磁辊保持一定的距离。一部分反射光被采集系统接收,得到光点的位置,根据光位置检测元件上的位置,可以计算出被测对象的位移量;将磁辊绕自身旋转,每旋转10度得到一个光点,采集该光点信息,如此共可得三十六个光点信息。下面是对所得到的三十六个光点信息计算原理:
根据最小二乘法原理,设待测面为A,标准面为B,可得到极坐标系列值:
(rAi,θi)(rBi,θi)i=1,2,…,36.
将极坐标转化为直角坐标
Xi=ricosθi  ,yi=risinθi  ,
可求得两个实际圆的圆心坐标OA(a,b),OB(a’,b’)
a = 2 n Σ i = 1 n x Ai , b = 2 n Σ i = 1 n y Ai
a ′ = 2 n Σ i = 1 n x Bi , b ′ = 2 n Σ i = 1 n y Bi
两圆柱面的同轴度为 Φ = 2 ( a - a ′ ) 2 + ( b - b ′ ) 2
相对现有技术,本发明具有精度高,测量时间短,具有较大的实用性,无损检测,安装调整简化,测量数据处理简单等优点。
附图说明
图1是本发明磁辊同轴度自动检测装置示意图;
图2是激光系统示意图;
1、转动控制轮2、夹紧装置3、测量平台4、激光系统5、采集系统6、计算机41、半导体激光光源42、入射光聚焦透镜43、反射光聚焦透镜
具体实施方式
请参阅图1,该检测装置主要包括:3,夹紧装置2,激光系统4,采集系统5,计算机6,转动控制轮1。
请参阅图2,使用步骤是将标准磁辊放在夹紧装置上,开启半导体激光光源41,激光束通过入射光聚焦透镜42聚焦准直后,与磁辊保持一定的距离,垂直照射磁辊7的表面,一部分反射光经反射光聚焦透镜43聚焦后,光信号被采集系统5接收。光点位置经过计算机6信息处理转换成磁辊同轴度的情况,并显示在计算机6显示界面上。由转动控制轮带动工件绕轴心线转动,每旋转10度得到这样一个光点,采集该光点信息,如此共可得三十六个光点信息。关掉电源,将标准件取下,把待测磁辊置于夹紧装置上,重复以上过程,得到待测磁辊同轴度情况,与保存的标准件的数据比较,得到待测磁辊是否符合要求。

Claims (2)

1、一种磁辊同轴度自动检测装置,用来自动测量磁辊的同轴度,其特征在于:该自动测量装置包括测量平台,夹紧装置,激光系统,采集系统,计算机,转动控制轮,
整个装置放置在测量平台上,激光系统由功率为10mw的半导体激光器,入射光聚焦透镜,反射光聚焦透镜组成,采集系统与计算机相连,转动控制轮带动工件旋转,夹紧装置与转动控制轮连接并由其带动工件旋转。
2、如权利要求1所述的磁辊同轴度自动检测装置其实施步骤如下:
A将标准磁辊放在夹紧装置上,
B开启半导体激光光源,使半导体激光束垂直照射到由夹紧装置控制的标准磁辊上
C采集系统的光位置检测元件接受磁辊反射光形成的光点
D控制轮带动夹紧装置上的磁辊绕轴心线旋转,每转10度取一个光点,共得到三十六个光点
E采用相对测量法,将标准件换为待测工件重复以上步骤
F根据最小二乘法原理,经计算机信息处理得出数据,比较两工件的同轴度。
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WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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