JP2010512549A - 露光装置 - Google Patents
露光装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010512549A JP2010512549A JP2009540633A JP2009540633A JP2010512549A JP 2010512549 A JP2010512549 A JP 2010512549A JP 2009540633 A JP2009540633 A JP 2009540633A JP 2009540633 A JP2009540633 A JP 2009540633A JP 2010512549 A JP2010512549 A JP 2010512549A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- exposure
- spot
- deflection
- exposure apparatus
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 63
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 13
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000002925 chemical effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70791—Large workpieces, e.g. glass substrates for flat panel displays or solar panels
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/10—Scanning systems
- G02B26/12—Scanning systems using multifaceted mirrors
- G02B26/123—Multibeam scanners, e.g. using multiple light sources or beam splitters
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70383—Direct write, i.e. pattern is written directly without the use of a mask by one or multiple beams
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70383—Direct write, i.e. pattern is written directly without the use of a mask by one or multiple beams
- G03F7/704—Scanned exposure beam, e.g. raster-, rotary- and vector scanning
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Sustainable Development (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Projection-Type Copiers In General (AREA)
Abstract
Description
すなわち、本発明に係る露光デバイスは、一連の放射線出口領域を有する少なくとも1つの露光ユニットを備え、これらの放射線出口領域は、列方向に連続して配置される。これらの放射線出口領域から複数の露光ビームが現れる。結像光学系を通して導き出される複数の露光ビームの各々によって、感光層上に露光スポットが形成されることが可能になる。さらに、複数の露光ビームの各々は、偏向ユニットによって、列方向を横切って進む偏向方向において偏向されることが可能になる。ここで、各々の複数の露光ビームは、偏向方向において、多数の連続する露光スポットの位置で少なくとも部分的に互いに重なり合うような複数の露光スポットを形成するために使用され得る。
Claims (33)
- 対象物(22)上に形成された感光層(24)において露光された構造(26)を作り出すための露光装置であって、露光デバイス(30)と、前記対象物(22)を収容する対象物キャリヤ(14)とを有しており、前記対象物キャリヤ(14)および前記露光デバイス(30)は、その進行方向(16)において相互に移動可能であり、かつ、前記露光デバイス(30)は、位置制御方式にて前記進行方向(16)を横切って進む方向において、前記感光層(24)上に複数の露光スポット(42)を形成することが可能であり、
さらに、前記露光デバイス(30)は、一連(52)の放射線出口領域(54)を有する少なくとも1つの露光ユニット(50)を備え、前記放射線出口領域(54)は、列方向(53)に連続して配置され、前記放射線出口領域(54)から複数の露光ビーム(56)が現れ、結像光学系(102)を通して導き出される前記複数の露光ビーム(56)の各々によって、前記感光層(24)上に露光スポット(42)が形成されることが可能になり、
さらに、前記複数の露光ビーム(56)の各々は、偏向ユニット(64)によって、前記列方向(53)を横切って進む偏向方向(68)において偏向されることが可能になり、ここで、各々の複数の露光ビーム(60)は、前記偏向方向(68)において、多数の連続する露光スポットの位置(90)で少なくとも部分的に互いに重なり合うような複数の露光スポット(42)を形成するために使用され得ることを特徴とする露光装置。 - 前記偏向方向(68)は、前記進行方向(16)に対して所定の角度で進むことを特徴とする請求項1記載の露光装置。
- 連続する複数の露光ビーム(60)の複数の前記露光スポット(42)が、互いに平行である前記偏向方向(68)に沿って移動可能であることを特徴とする請求項1または2記載の露光装置。
- 前記少なくとも1つの露光ユニット(50)の前記複数の露光ビーム(60)が、前記偏向ユニット(64)によって、同時にかつ同程度に偏向されることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の露光装置。
- 1つの露光ユニット(50)の前記複数の露光ビーム(60)が、前記感光層(24)に衝突するときに、互いにほぼ平行に整列されることを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の露光装置。
- 各々の前記偏向方向(64)において各々の露光ビーム(66)により形成される各々の前記露光スポット(42)の動きが、前記露光ユニット(50)の各々の露光ビーム(66)とほぼ同じ大きさである偏向経路(AS)上で生ずることを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載の露光装置。
- 1つの偏向経路(AS)の最後の露光スポットの位置(90)における前記露光スポット(42)、および次に続く偏向経路(AS)の最初の露光スポットの位置(90)における前記露光スポット(42)は、前記進行方向(16)に平行に進む一直線の参照ライン(120)との関係において、前記一直線の参照ライン(120)が、前記1つの偏向経路(AS)の最後の露光スポットの位置(90)と前記次に続く偏向経路(AS)の最初の露光スポットの位置(90)とにより形成される前記露光スポット(42)を横切るようにして配置されることを特徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載の露光装置。
- 1つの偏向経路(AS)の最後の露光スポットの位置(90)を通して前記進行方向(16)に平行に進む一直線の参照ライン(120)が、次に続く偏向経路(AS)の最初の露光スポットの位置(90)における前記露光スポット(42)を横切ることを特徴とする請求項1から7のいずれか一項に記載の露光装置。
- 前記次に続く偏向経路(AS)の最初の露光スポットの位置(90)が、最大限で、前記露光スポット(42)の直径の1/2に対応する距離だけ前記一直線の参照ライン(120)から離れていることを特徴とする請求項8記載の露光装置。
- 複数の露光ユニット(50)が設けられており、前記複数の露光ユニット(50)は、前記偏向方向において互いに所定の距離だけ離れて配置されることを特徴とする請求項1から9のいずれか一項に記載の露光装置。
- 前記複数の露光ユニット(50)の前記偏向方向(68)が、互いにほぼ平行に進むことを特徴とする請求項10記載の露光装置。
- 前記複数の露光ユニット(50)の前記列方向(53)が、互いにほぼ平行に進むことを特徴とする請求項10または11記載の露光装置。
- 前記複数の露光ユニット(50)は、前記進行方向(16)に平行に進む一直線の参照ライン(120)との関係において、前記一直線の参照ライン(120)が、1つの露光ユニット(50)の最後の偏向経路(AS)の中で最後の露光スポットの位置(90)における前記露光スポット(42)と次に続く露光ユニット(50)の最初の偏向経路(AS)の中で最初の露光スポットの位置(90)における前記露光スポット(42)とを横切るようにして配置されることを特徴とする請求項10から12のいずれか一項に記載の露光装置。
- 1つの露光ユニット(50)の最後の偏向経路(AS)の中で最後の露光スポットの位置(90)を通して進む一直線の参照ライン(120)が、次に続く露光ユニット(50)の最初の偏向経路(AS)の中で最初の露光スポットの位置(90)における前記露光スポット(42)を横切ることを特徴とする請求項1から13のいずれか一項に記載の露光装置。
- 前記次に続く露光ユニット(50)の最初の偏向経路(AS)の中で最初の露光スポットの位置(90)が、最大限で、前記最初の露光スポットの位置(90)における前記露光スポット(42)の直径の1/2に対応する距離だけ前記一直線の参照ライン(120)から離れていることを特徴とする請求項14記載の露光装置。
- 前記偏向ユニット(64)が、各々の前記複数の露光ビーム(60)に対して反射面領域(78)を有することを特徴とする請求項1から15のいずれか一項に記載の露光装置。
- 1つの露光ユニット(50)の前記反射面領域(78)が、一緒に移動可能であることを特徴とする請求項16記載の露光装置。
- 前記反射面領域(78)が、共通の反射面(74)の一部の領域であることを特徴とする請求項16または17記載の露光装置。
- 前記反射面領域(78)は、前記複数の露光ビーム(60)が前記反射面領域(78)に衝突する方向に対して傾斜していることが可能であることを特徴とする請求項16から18のいずれか一項に記載の露光装置。
- 前記反射面領域(78)が、平面状の反射面領域であることを特徴とする請求項16から19のいずれか一項に記載の露光装置。
- 前記反射面領域(78)の全ての領域が、共通の平面内にあることを特徴とする請求項20記載の露光装置。
- 前記露光ユニット(50)の前記複数の露光ビーム(60)が衝突する前記反射面領域(78)が、同一平面上にあることを特徴とする請求項20または21記載の露光装置。
- 前記露光ユニット(50)が、各々の前記複数の露光ビーム(60)に対して複数の反射面領域(78)を有することを特徴とする請求項16から22のいずれか一項に記載の露光装置。
- 前記偏向ユニット(64)が、各々の前記複数の露光ビーム(60)に対して順々に使用される複数の反射面領域(78)を有することを特徴とする請求項23記載の露光装置。
- 前記複数の反射面領域(78)が、回転可能に配置される反射体(70)の円周面に沿って形成されることを特徴とする請求項22から24のいずれか一項に記載の露光装置。
- 前記反射体(70)は、当該反射体(70)が軸(72)の周りを回転するようにして配置されることを特徴とする請求項25記載の露光装置。
- 前記複数の反射面領域(78)が、同一の半径方向距離で前記軸(72)の周囲に配置されることを特徴とする請求項26記載の露光装置。
- 前記反射体(70)が、一定の速さで前記軸(72)の周りを回転することを特徴とする請求項26または27記載の露光装置。
- 前記放射線出口領域(54)が、光ファイバ(114)の端部であることを特徴とする請求項1から28のいずれか一項に記載の露光装置。
- 放射線源(112)が、各々の前記光ファイバ(114)に関連していることを特徴とする請求項29記載の露光装置。
- 前記放射線源(112)が、レーザであることを特徴とする請求項30記載の露光装置。
- 前記放射線源(112)が、半導体レーザであることを特徴とする請求項31記載の露光装置。
- 前記露光デバイス(30)の放射線源(112)が、前記露光デバイス(30)から離れて位置する放射線生成ユニット(110)内に配設されることを特徴とする請求項1から32のいずれか一項に記載の露光装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102006059818.0 | 2006-12-11 | ||
DE102006059818.0A DE102006059818B4 (de) | 2006-12-11 | 2006-12-11 | Belichtungsanlage |
PCT/EP2007/010648 WO2008071347A2 (de) | 2006-12-11 | 2007-12-07 | Belichtungsanlage |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010512549A true JP2010512549A (ja) | 2010-04-22 |
JP5001379B2 JP5001379B2 (ja) | 2012-08-15 |
Family
ID=39399802
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009540633A Expired - Fee Related JP5001379B2 (ja) | 2006-12-11 | 2007-12-07 | 露光装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8314921B2 (ja) |
EP (1) | EP2054772B1 (ja) |
JP (1) | JP5001379B2 (ja) |
CN (1) | CN101558360B (ja) |
DE (1) | DE102006059818B4 (ja) |
HK (1) | HK1135477A1 (ja) |
WO (1) | WO2008071347A2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013511737A (ja) * | 2009-11-18 | 2013-04-04 | クレオ アクチェンゲゼルシャフト | 露光設備 |
JP2017535821A (ja) * | 2014-11-27 | 2017-11-30 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 複数の個々に制御可能な書込ヘッドを含むリソグラフィ装置 |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2329322B1 (en) | 2008-09-22 | 2016-09-07 | ASML Netherlands BV | Lithographic apparatus and lithographic method |
DE102009032210B4 (de) | 2009-07-03 | 2011-06-09 | Kleo Ag | Bearbeitungsanlage |
TWI448830B (zh) | 2010-02-09 | 2014-08-11 | Asml Netherlands Bv | 微影裝置及元件製造方法 |
NL2006256A (en) | 2010-02-23 | 2011-08-24 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus and device manufacturing method. |
EP2539771B1 (en) | 2010-02-25 | 2017-02-01 | ASML Netherlands BV | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
JP5738981B2 (ja) | 2010-04-12 | 2015-06-24 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | 基板ハンドリング装置、リソグラフィ装置、ツール、及びデバイス製造方法 |
JP5165731B2 (ja) * | 2010-06-30 | 2013-03-21 | 東京エレクトロン株式会社 | 局所露光装置及び局所露光方法 |
NL2007789A (en) | 2010-12-08 | 2012-06-11 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus and device manufacturing method. |
US9304401B2 (en) | 2011-03-29 | 2016-04-05 | Asml Netherlands B.V. | Measurement of the position of a radiation beam spot in lithography |
JP5731063B2 (ja) | 2011-04-08 | 2015-06-10 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | リソグラフィ装置、プログラマブル・パターニングデバイス、及びリソグラフィ方法 |
NL2008500A (en) | 2011-04-21 | 2012-10-23 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus, method for maintaining a lithographic apparatus and device manufacturing method. |
US9690210B2 (en) | 2011-08-18 | 2017-06-27 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
NL2009342A (en) | 2011-10-31 | 2013-05-07 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus and device manufacturing method. |
NL2009797A (en) | 2011-11-29 | 2013-05-30 | Asml Netherlands Bv | Apparatus and method for converting a vector-based representation of a desired device pattern for a lithography apparatus, apparatus and method for providing data to a programmable patterning device, a lithography apparatus and a device manufacturing method. |
NL2009761A (en) | 2011-11-29 | 2013-05-30 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus, device manufacturing method and computer program. |
NL2009806A (en) | 2011-12-05 | 2013-06-10 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus and device manufacturing method. |
NL2009817A (en) | 2011-12-06 | 2013-06-10 | Asml Netherlands Bv | A lithography apparatus, an apparatus for providing setpoint data, a device manufacturing method, a method of calculating setpoint data and a computer program. |
NL2009902A (en) | 2011-12-27 | 2013-07-01 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus and device manufacturing method. |
KR101633759B1 (ko) | 2012-01-12 | 2016-06-27 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | 리소그래피 장치, 세트포인트 데이터를 제공하는 장치, 디바이스 제조 방법, 세트포인트 데이터를 제공하는 방법, 및 컴퓨터 프로그램 |
NL2010020A (en) | 2012-01-17 | 2013-07-18 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus and device manufacturing method. |
CN104115068B (zh) | 2012-02-23 | 2017-04-05 | Asml荷兰有限公司 | 装置、光刻设备、用于引导辐射的方法以及装置制造方法 |
DE102012108211A1 (de) | 2012-09-04 | 2014-03-06 | Kleo Halbleitertechnik Gmbh | Belichtungsanlage |
NL2012052A (en) | 2013-01-29 | 2014-08-04 | Asml Netherlands Bv | A radiation modulator for a lithography apparatus, a lithography apparatus, a method of modulating radiation for use in lithography, and a device manufacturing method. |
DE102013222913A1 (de) | 2013-11-11 | 2015-05-13 | Carl Zeiss Ag | Belichtungsanlage |
JP6308523B2 (ja) * | 2014-03-11 | 2018-04-11 | 株式会社ブイ・テクノロジー | ビーム露光装置 |
CN106537224B (zh) | 2014-04-15 | 2019-11-26 | 荷兰应用科学研究会(Tno) | 曝光头、曝光装置及用于操作曝光头的方法 |
DE102016122353A1 (de) | 2016-11-21 | 2018-05-24 | Manz Ag | Bearbeitungsanlage |
TWI620038B (zh) | 2017-01-11 | 2018-04-01 | 財團法人工業技術研究院 | 曝光方法和系統以及雷射直接成像系統 |
DE102017102320A1 (de) | 2017-02-07 | 2018-08-09 | Manz Ag | Bearbeitungsanlage |
DE102017103624A1 (de) | 2017-02-22 | 2018-08-23 | Manz Ag | Belichtungsanlage |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002540608A (ja) * | 1999-03-19 | 2002-11-26 | エテック システムズ インコーポレイテッド | レーザー・パターン・ジェネレータ |
JP2004537060A (ja) * | 2001-01-04 | 2004-12-09 | レーザー・イメージング・システムズ・ゲーエムベーハー・ウント・カンパニー・カーゲー | 直接パターンライター |
JP2004354659A (ja) * | 2003-05-29 | 2004-12-16 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | パターン描画装置 |
JP2005316349A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-11-10 | Hitachi Via Mechanics Ltd | パターン露光方法およびパターン露光装置 |
Family Cites Families (70)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2296201A1 (fr) | 1974-12-26 | 1976-07-23 | Personal Communications Inc | Dispositif d'eclairement destine a former un reseau de sources lumineuses relativement petites |
JPS569763A (en) * | 1979-07-06 | 1981-01-31 | Canon Inc | Beam recording device |
US4393387A (en) * | 1979-09-14 | 1983-07-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Beam recording apparatus effecting the recording by a plurality of beams |
DE3118802A1 (de) * | 1980-05-14 | 1982-02-25 | Canon K.K., Tokyo | Druckuebertragungsgeraet |
US4402571A (en) * | 1981-02-17 | 1983-09-06 | Polaroid Corporation | Method for producing a surface relief pattern |
JPS5833753A (ja) | 1981-08-24 | 1983-02-28 | Fujitsu Ltd | 除算器 |
US4541712A (en) * | 1981-12-21 | 1985-09-17 | Tre Semiconductor Equipment Corporation | Laser pattern generating system |
US4577926A (en) * | 1983-09-30 | 1986-03-25 | International Business Machines Corporation | Fiber optic writing head |
US5091744A (en) * | 1984-02-13 | 1992-02-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Illumination optical system |
DE3624163C2 (de) | 1985-07-24 | 2001-05-17 | Ateq Corp | Gerät zur Erzeugung eines Musters auf einem eine strahlungsempfindliche Schicht aufweisenden Werkstück |
DE3529571A1 (de) | 1985-08-17 | 1987-02-19 | Telefunken Electronic Gmbh | Verfahren zur periodischen ansteuerung von mehreren strahlungsaussendenden elementen und schaltungsanordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
US4869999A (en) * | 1986-08-08 | 1989-09-26 | Hitachi, Ltd. | Method of forming pattern and projection aligner for carrying out the same |
US4947186A (en) * | 1988-09-22 | 1990-08-07 | The Aerospace Corporation | Apparatus and method for a UV laser image recorder |
JP2567479B2 (ja) * | 1988-10-17 | 1996-12-25 | 富士写真フイルム株式会社 | バーコードプリント装置 |
US5223693A (en) | 1990-04-28 | 1993-06-29 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Optical machining apparatus |
JPH0425290A (ja) | 1990-05-21 | 1992-01-29 | Victor Co Of Japan Ltd | 表示装置 |
DE4022732A1 (de) | 1990-07-17 | 1992-02-20 | Micronic Laser Systems Ab | Auf einem lichtempfindlich beschichteten substrat durch fokussierte laserstrahlung hergestellte struktur sowie verfahren und vorrichtung zu ihrer herstellung |
US5208796A (en) * | 1991-01-03 | 1993-05-04 | Xerox Corporation | Method and apparatus for transverse image registration on photoreceptive belts |
US5143577A (en) * | 1991-02-08 | 1992-09-01 | Hoechst Celanese Corporation | Smooth-wall polymeric channel and rib waveguides exhibiting low optical loss |
US5229691A (en) * | 1991-02-25 | 1993-07-20 | Panocorp Display Systems | Electronic fluorescent display |
US5121256A (en) * | 1991-03-14 | 1992-06-09 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Lithography system employing a solid immersion lens |
US5418546A (en) * | 1991-08-20 | 1995-05-23 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Visual display system and exposure control apparatus |
DK69492D0 (da) * | 1992-05-26 | 1992-05-26 | Purup Prepress As | Apparat til exponering af et medie, apparat til punktexponering af et medie, samt en indretning til fastholdelse af et medie |
US5475416A (en) | 1992-06-03 | 1995-12-12 | Eastman Kodak Company | Printing system for printing an image with lasers emitting diverging laser beams |
US5339737B1 (en) * | 1992-07-20 | 1997-06-10 | Presstek Inc | Lithographic printing plates for use with laser-discharge imaging apparatus |
JP3052587B2 (ja) * | 1992-07-28 | 2000-06-12 | 日本電気株式会社 | 露光装置 |
EP0587228B1 (en) | 1992-09-07 | 1998-11-04 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Optical component and opto-electronic device for raising the frequency of electromagnetic radiation |
US5596339A (en) * | 1992-10-22 | 1997-01-21 | University Of Washington | Virtual retinal display with fiber optic point source |
US5321718A (en) * | 1993-01-28 | 1994-06-14 | Sdl, Inc. | Frequency converted laser diode and lens system therefor |
EP0704138B1 (en) * | 1993-02-03 | 2001-08-01 | Nitor | Method and apparatus for image projection |
DE4313111C2 (de) | 1993-04-22 | 1999-05-06 | Roland Man Druckmasch | Verfahren zur Herstellung einer druckenden Vorlage, insbesondere einer Druckform einer Druckmaschine |
US5892611A (en) * | 1993-08-11 | 1999-04-06 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Laser drawing apparatus |
US5534950A (en) * | 1993-10-04 | 1996-07-09 | Laser Power Corporation | High resolution image projection system and method employing lasers |
EP0655707A1 (en) | 1993-11-25 | 1995-05-31 | Think Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor laser exposure device |
US6225012B1 (en) * | 1994-02-22 | 2001-05-01 | Nikon Corporation | Method for positioning substrate |
DE4413829A1 (de) | 1994-04-20 | 1995-10-26 | Deutsche Forsch Luft Raumfahrt | Vorrichtung zur Erzeugung eines Bildes |
JP3384880B2 (ja) * | 1994-08-05 | 2003-03-10 | 三菱電機株式会社 | 写真製版における焦点合わせ方法 |
US5674414A (en) * | 1994-11-11 | 1997-10-07 | Carl-Zeiss Stiftung | Method and apparatus of irradiating a surface of a workpiece with a plurality of beams |
US5513196A (en) * | 1995-02-14 | 1996-04-30 | Deacon Research | Optical source with mode reshaping |
DE69519221T2 (de) | 1995-02-22 | 2001-06-13 | Barco Graphics, Zwijnaarde | Abtastgerät |
US6274288B1 (en) * | 1995-06-12 | 2001-08-14 | California Institute Of Technology | Self-trapping and self-focusing of optical beams in photopolymers |
DE19522936C2 (de) * | 1995-06-23 | 1999-01-07 | Fraunhofer Ges Forschung | Vorrichtung zum Strukturieren einer photolithographischen Schicht |
DE19529656B4 (de) | 1995-08-11 | 2007-01-04 | Heidelberg Instruments Mikrotechnik Gmbh | Verfahren zur Herstellung von Mikrostrukturen |
JP3430756B2 (ja) | 1995-12-14 | 2003-07-28 | 富士ゼロックス株式会社 | 光走査素子及び画像形成装置 |
SE505000C2 (sv) * | 1996-05-14 | 1997-06-09 | Moelnlycke Ab | Sårförband samt tillverkningsförfarande därför |
DE19626176A1 (de) | 1996-06-29 | 1998-01-08 | Deutsche Forsch Luft Raumfahrt | Lithographie-Belichtungseinrichtung und Lithographie-Verfahren |
US5739913A (en) * | 1996-08-02 | 1998-04-14 | Mrs Technology, Inc. | Non-contact edge detector |
EP0945276B1 (en) * | 1997-03-26 | 2005-07-20 | Toray Industries, Inc. | Imaging device, imaging method, and printing device |
US6204875B1 (en) * | 1998-10-07 | 2001-03-20 | Barco Graphics, Nv | Method and apparatus for light modulation and exposure at high exposure levels with high resolution |
JP3332872B2 (ja) * | 1998-10-27 | 2002-10-07 | キヤノン株式会社 | 露光方法 |
DE60040845D1 (de) * | 1999-02-17 | 2009-01-02 | Kodak Graphic Comm Gmbh | Flachbettdruckplattenherstellungssystem |
DE59915132D1 (de) * | 1999-05-19 | 2010-03-25 | Deutsch Zentr Luft & Raumfahrt | Lithographieverfahren |
JP3743782B2 (ja) * | 1999-08-30 | 2006-02-08 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 微細パターン形成用材料及びそれを用いた微細パターン形成方法 |
US6368775B1 (en) * | 2000-01-27 | 2002-04-09 | Sandia Corporation | 3-D photo-patterning of refractive index structures in photosensitive thin film materials |
JP4942129B2 (ja) * | 2000-04-07 | 2012-05-30 | バリアン・セミコンダクター・エクイップメント・アソシエイツ・インコーポレイテッド | GaAsウエハ用のウエハ方向センサー |
AU2002245395A1 (en) * | 2001-02-07 | 2002-08-19 | University Of Rochester | A system and method for high resolution optical imaging, data storage, lithography, and inspection |
RU2267973C2 (ru) | 2001-08-07 | 2006-01-20 | Джапан Тобакко Инк. | Сигарета с двойной оберткой, машина и способ для ее изготовления |
JP4320694B2 (ja) * | 2001-08-08 | 2009-08-26 | 株式会社オーク製作所 | 多重露光描画装置および多重露光式描画方法 |
US8119041B2 (en) * | 2001-09-05 | 2012-02-21 | Fujifilm Corporation | Non-resonant two-photon absorption induction method and process for emitting light thereby |
CN1288502C (zh) * | 2001-10-25 | 2006-12-06 | 东丽工程株式会社 | 利用激光束的识别码的打印装置 |
DE10160917A1 (de) | 2001-12-07 | 2003-06-26 | Kleo Halbleitertechnik Gmbh | Lithografiebelichtungseinrichtung |
WO2003085457A1 (fr) * | 2002-04-10 | 2003-10-16 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Tete d'exposition, dispositif d'exposition et utilisation |
US7310463B2 (en) * | 2002-09-09 | 2007-12-18 | Kyocera Corporation | Optical structural body, its manufacturing method and optical element |
DE10346201A1 (de) * | 2003-09-29 | 2005-04-28 | Kleo Halbleitertechnik Gmbh | Lithografiebelichtungseinrichtung |
US7388663B2 (en) * | 2004-10-28 | 2008-06-17 | Asml Netherlands B.V. | Optical position assessment apparatus and method |
JP4609167B2 (ja) | 2005-04-13 | 2011-01-12 | 株式会社ニコン | 露光システム、露光方法及びマイクロデバイスの製造方法 |
DE102006008075A1 (de) * | 2005-04-19 | 2006-10-26 | Kleo Halbleitertechnik Gmbh & Co Kg | Belichtungsanlage |
US7126735B1 (en) * | 2005-05-20 | 2006-10-24 | Konica Minolta Business Technologies, Inc. | Optical scanning apparatus |
US7525671B2 (en) * | 2006-04-11 | 2009-04-28 | Micronic Laser Systems Ab | Registration method and apparatus therefor |
JP5132904B2 (ja) * | 2006-09-05 | 2013-01-30 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板位置決め方法,基板位置検出方法,基板回収方法及び基板位置ずれ補正装置 |
-
2006
- 2006-12-11 DE DE102006059818.0A patent/DE102006059818B4/de active Active
-
2007
- 2007-12-07 WO PCT/EP2007/010648 patent/WO2008071347A2/de active Application Filing
- 2007-12-07 CN CN2007800457231A patent/CN101558360B/zh active Active
- 2007-12-07 JP JP2009540633A patent/JP5001379B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-12-07 EP EP07856453.1A patent/EP2054772B1/de active Active
-
2009
- 2009-06-10 US US12/456,137 patent/US8314921B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2009-12-16 HK HK09111807.1A patent/HK1135477A1/xx not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002540608A (ja) * | 1999-03-19 | 2002-11-26 | エテック システムズ インコーポレイテッド | レーザー・パターン・ジェネレータ |
JP2004537060A (ja) * | 2001-01-04 | 2004-12-09 | レーザー・イメージング・システムズ・ゲーエムベーハー・ウント・カンパニー・カーゲー | 直接パターンライター |
JP2004354659A (ja) * | 2003-05-29 | 2004-12-16 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | パターン描画装置 |
JP2005316349A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-11-10 | Hitachi Via Mechanics Ltd | パターン露光方法およびパターン露光装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013511737A (ja) * | 2009-11-18 | 2013-04-04 | クレオ アクチェンゲゼルシャフト | 露光設備 |
JP2017535821A (ja) * | 2014-11-27 | 2017-11-30 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 複数の個々に制御可能な書込ヘッドを含むリソグラフィ装置 |
US11003090B2 (en) | 2014-11-27 | 2021-05-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Lithography apparatus comprising a plurality of individually controllable write heads |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102006059818A1 (de) | 2008-06-19 |
CN101558360B (zh) | 2012-03-28 |
HK1135477A1 (en) | 2010-06-04 |
WO2008071347A2 (de) | 2008-06-19 |
DE102006059818B4 (de) | 2017-09-14 |
US8314921B2 (en) | 2012-11-20 |
EP2054772B1 (de) | 2014-03-12 |
EP2054772A2 (de) | 2009-05-06 |
JP5001379B2 (ja) | 2012-08-15 |
WO2008071347A3 (de) | 2008-07-31 |
US20090296063A1 (en) | 2009-12-03 |
CN101558360A (zh) | 2009-10-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5001379B2 (ja) | 露光装置 | |
CN107849687B (zh) | 对激光诱导正向转移喷射角度的控制 | |
JP3280037B2 (ja) | リソグラフィ露光装置およびリソグラフィ処理 | |
KR20160146820A (ko) | 노광 헤드, 노광 장치 및 노광 헤드 작동 방법 | |
WO2014033430A1 (en) | Photothermal actuation of a probe for scanning probe microscopy | |
KR102415072B1 (ko) | 복수의 개별적으로 제어가능한 기록 헤드를 포함하는 리소그래피 장치 | |
JP2002162750A (ja) | 露光装置 | |
JP2013511737A (ja) | 露光設備 | |
JP5965986B2 (ja) | 表面の構造化された露光のための露光装置 | |
JP6052931B2 (ja) | リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 | |
JP5815869B2 (ja) | リソグラフィ装置、リソグラフィ装置のセットアップ方法、及びデバイス製造方法 | |
KR101607181B1 (ko) | 리소그래피 노광 장치 및 디바이스 제조 방법 | |
KR100707880B1 (ko) | 레이저 방사에 패널을 노출시키는 장치 | |
US9568831B2 (en) | Lithographic apparatus and device manufacturing method | |
JP2024502314A (ja) | リズレープリズムビームステアリングを利用する付加製造システムおよび関連する方法 | |
KR101392037B1 (ko) | 편광 액추에이터 | |
JP6043179B2 (ja) | 樹脂被覆除去システム | |
JP5856351B2 (ja) | リソグラフィ装置、及びデバイス製造方法 | |
JPH0792554B2 (ja) | 複数ビーム集光光学装置 | |
JP2013098565A (ja) | リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 | |
JP5922838B2 (ja) | リソグラフィ装置用の回転フレームおよび投影システム | |
JP2006267472A (ja) | 画像形成装置 | |
JPWO2023275979A5 (ja) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110816 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20111115 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20111122 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120215 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120417 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120517 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150525 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |