JP2010161358A5 - 薄膜トランジスタ - Google Patents
薄膜トランジスタ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010161358A5 JP2010161358A5 JP2009280147A JP2009280147A JP2010161358A5 JP 2010161358 A5 JP2010161358 A5 JP 2010161358A5 JP 2009280147 A JP2009280147 A JP 2009280147A JP 2009280147 A JP2009280147 A JP 2009280147A JP 2010161358 A5 JP2010161358 A5 JP 2010161358A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor layer
- layer
- region
- contact
- conductive layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 28
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims 8
Claims (3)
- 第1の導電層と、
第1の半導体層と、
前記第1の半導体層上に接する領域を有する第2の半導体層と、
前記第1の導電層と前記第1の半導体層との間に接する領域を有する絶縁層と、
前記第2の半導体層上に接する領域を有する不純物半導体層と、
前記不純物半導体層と接する領域を有する第2の導電層と、
前記不純物半導体層と接する領域を有する第3の導電層と、を有し、
前記第1の半導体層のキャリア移動度は、前記第2の半導体層のキャリア移動度よりも高い、
前記第1の半導体層の前記第1の導電層側は、全面が前記第1の導電層と重畳していることを特徴とする薄膜トランジスタ。 - 第1の導電層と、
第1の半導体層と、
前記第1の半導体層上に接する領域を有する第2の半導体層と、
前記第1の導電層と前記第1の半導体層との間に接する領域を有する絶縁層と、
前記第2の半導体層上に接する領域を有する第1の不純物半導体層と、
前記第1の不純物半導体層上に接する領域を有する第2の不純物半導体層と、
前記第2の不純物半導体層と接する領域を有する第2の導電層と、
前記第2の不純物半導体層と接する領域を有する第3の導電層と、を有し、
前記第1の半導体層のキャリア移動度は、前記第2の半導体層のキャリア移動度よりも高い、
前記第1の半導体層の前記第1の導電層側は全面が前記第1の導電層によって遮光されていることを特徴とする薄膜トランジスタ。 - 請求項1または請求項2において、
前記第1の半導体層は結晶性半導体を有し、
前記第2の半導体層は非晶質半導体を有することを特徴とする薄膜トランジスタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009280147A JP2010161358A (ja) | 2008-12-11 | 2009-12-10 | 薄膜トランジスタ及び表示装置 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008316194 | 2008-12-11 | ||
JP2009280147A JP2010161358A (ja) | 2008-12-11 | 2009-12-10 | 薄膜トランジスタ及び表示装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010161358A JP2010161358A (ja) | 2010-07-22 |
JP2010161358A5 true JP2010161358A5 (ja) | 2013-01-17 |
Family
ID=42239435
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009280147A Withdrawn JP2010161358A (ja) | 2008-12-11 | 2009-12-10 | 薄膜トランジスタ及び表示装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8344380B2 (ja) |
JP (1) | JP2010161358A (ja) |
KR (1) | KR20100067612A (ja) |
CN (1) | CN101752427B (ja) |
TW (1) | TWI506796B (ja) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010067698A1 (en) * | 2008-12-11 | 2010-06-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Thin film transistor and display device |
KR101842413B1 (ko) | 2009-12-28 | 2018-03-26 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 |
CN105702631B (zh) * | 2009-12-28 | 2019-05-28 | 株式会社半导体能源研究所 | 半导体器件 |
US8704230B2 (en) * | 2010-08-26 | 2014-04-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
TW201212237A (en) | 2010-09-03 | 2012-03-16 | Au Optronics Corp | Thin film transistor and fabricating method thereof |
JP5848918B2 (ja) * | 2010-09-03 | 2016-01-27 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
US8916866B2 (en) | 2010-11-03 | 2014-12-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
US9568794B2 (en) | 2010-12-20 | 2017-02-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US8629445B2 (en) | 2011-02-21 | 2014-01-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, manufacturing method thereof, and electronic appliance |
JP2012222261A (ja) * | 2011-04-13 | 2012-11-12 | Mitsubishi Electric Corp | トランジスタ、その製造方法および表示装置 |
CN102629555B (zh) * | 2011-10-11 | 2014-11-26 | 北京京东方光电科技有限公司 | 栅极绝缘层、tft、阵列基板、显示装置以及制备方法 |
WO2013094184A1 (ja) * | 2011-12-22 | 2013-06-27 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板及びその製造方法 |
US9224755B2 (en) | 2013-09-06 | 2015-12-29 | Globalfoundries Inc. | Flexible active matrix display |
CN103500764B (zh) * | 2013-10-21 | 2016-03-30 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板、显示器 |
CN104362179B (zh) * | 2014-10-13 | 2017-04-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种薄膜晶体管、其制作方法、阵列基板及显示装置 |
CN114326211A (zh) | 2015-02-12 | 2022-04-12 | 株式会社半导体能源研究所 | 显示装置 |
Family Cites Families (43)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56122123A (en) | 1980-03-03 | 1981-09-25 | Shunpei Yamazaki | Semiamorphous semiconductor |
JPS6017962A (ja) * | 1983-07-11 | 1985-01-29 | Canon Inc | 薄膜トランジスタ |
JPS6098680A (ja) | 1983-11-04 | 1985-06-01 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 電界効果型薄膜トランジスタ |
JPS6187371A (ja) | 1984-10-05 | 1986-05-02 | Hitachi Ltd | 薄膜半導体装置 |
EP0473988A1 (en) | 1990-08-29 | 1992-03-11 | International Business Machines Corporation | Method of fabricating a thin film transistor having amorphous/polycrystalline semiconductor channel region |
US7115902B1 (en) | 1990-11-20 | 2006-10-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method for manufacturing the same |
JP2791422B2 (ja) | 1990-12-25 | 1998-08-27 | 株式会社 半導体エネルギー研究所 | 電気光学装置およびその作製方法 |
US5849601A (en) | 1990-12-25 | 1998-12-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method for manufacturing the same |
US7576360B2 (en) | 1990-12-25 | 2009-08-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device which comprises thin film transistors and method for manufacturing the same |
US7098479B1 (en) | 1990-12-25 | 2006-08-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device and method for manufacturing the same |
JP3255942B2 (ja) | 1991-06-19 | 2002-02-12 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 逆スタガ薄膜トランジスタの作製方法 |
JPH0563196A (ja) * | 1991-09-04 | 1993-03-12 | Hitachi Ltd | 薄膜半導体装置及びその製造方法並び液晶表示装置 |
JPH06326314A (ja) * | 1993-05-12 | 1994-11-25 | Hitachi Ltd | 薄膜トランジスタおよびその製造方法 |
JP3373620B2 (ja) | 1993-10-21 | 2003-02-04 | 株式会社東芝 | 液晶表示装置 |
JP2938351B2 (ja) | 1994-10-18 | 1999-08-23 | 株式会社フロンテック | 電界効果トランジスタ |
JPH08195492A (ja) | 1995-01-13 | 1996-07-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 多結晶薄膜の形成方法および薄膜トランジスタの製造方法 |
TW303526B (ja) | 1994-12-27 | 1997-04-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | |
JPH1020298A (ja) | 1996-07-03 | 1998-01-23 | Sharp Corp | 液晶表示装置 |
KR100257158B1 (ko) | 1997-06-30 | 2000-05-15 | 김영환 | 박막 트랜지스터 및 그의 제조 방법 |
JPH1140814A (ja) * | 1997-07-18 | 1999-02-12 | Furontetsuku:Kk | 薄膜トランジスタ基板と液晶表示装置および薄膜トランジスタ基板の製造方法 |
JP3809733B2 (ja) | 1998-02-25 | 2006-08-16 | セイコーエプソン株式会社 | 薄膜トランジスタの剥離方法 |
JP2001217424A (ja) * | 2000-02-03 | 2001-08-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜トランジスタおよびそれを用いた液晶表示装置 |
JP2002246605A (ja) | 2001-02-20 | 2002-08-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶表示用薄膜トランジスタの製造方法 |
TW577176B (en) | 2003-03-31 | 2004-02-21 | Ind Tech Res Inst | Structure of thin-film transistor, and the manufacturing method thereof |
JP4748954B2 (ja) | 2003-07-14 | 2011-08-17 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶表示装置 |
JP2005167051A (ja) | 2003-12-04 | 2005-06-23 | Sony Corp | 薄膜トランジスタおよび薄膜トランジスタの製造方法 |
TWI234288B (en) * | 2004-07-27 | 2005-06-11 | Au Optronics Corp | Method for fabricating a thin film transistor and related circuits |
CN100533746C (zh) * | 2004-08-03 | 2009-08-26 | 株式会社半导体能源研究所 | 显示器件、其制造方法以及电视机 |
EP1624333B1 (en) * | 2004-08-03 | 2017-05-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, manufacturing method thereof, and television set |
KR100721555B1 (ko) * | 2004-08-13 | 2007-05-23 | 삼성에스디아이 주식회사 | 박막트랜지스터 및 그 제조 방법 |
JP4577114B2 (ja) | 2005-06-23 | 2010-11-10 | ソニー株式会社 | 薄膜トランジスタの製造方法および表示装置の製造方法 |
JP2007035964A (ja) | 2005-07-27 | 2007-02-08 | Sony Corp | 薄膜トランジスタとその製造方法、及び表示装置 |
KR101363555B1 (ko) * | 2006-12-14 | 2014-02-19 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 기판 및 그 제조 방법 |
JP2008218796A (ja) * | 2007-03-06 | 2008-09-18 | Kobe Steel Ltd | 薄膜トランジスタの製造装置及びその製造方法 |
JP2008258345A (ja) * | 2007-04-04 | 2008-10-23 | Sony Corp | 薄膜トランジスタおよびその製造方法ならびに表示装置 |
US9176353B2 (en) | 2007-06-29 | 2015-11-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Liquid crystal display device |
US8921858B2 (en) | 2007-06-29 | 2014-12-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device |
JP2009049384A (ja) | 2007-07-20 | 2009-03-05 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置 |
TWI521292B (zh) | 2007-07-20 | 2016-02-11 | 半導體能源研究所股份有限公司 | 液晶顯示裝置 |
US7611930B2 (en) | 2007-08-17 | 2009-11-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of manufacturing display device |
US8030655B2 (en) | 2007-12-03 | 2011-10-04 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Thin film transistor, display device having thin film transistor |
US8591650B2 (en) | 2007-12-03 | 2013-11-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for forming crystalline semiconductor film, method for manufacturing thin film transistor, and method for manufacturing display device |
WO2010067698A1 (en) | 2008-12-11 | 2010-06-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Thin film transistor and display device |
-
2009
- 2009-12-02 KR KR1020090118400A patent/KR20100067612A/ko not_active Application Discontinuation
- 2009-12-08 US US12/633,021 patent/US8344380B2/en active Active
- 2009-12-09 TW TW098142074A patent/TWI506796B/zh active
- 2009-12-10 JP JP2009280147A patent/JP2010161358A/ja not_active Withdrawn
- 2009-12-10 CN CN2009102541523A patent/CN101752427B/zh not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2010161358A5 (ja) | 薄膜トランジスタ | |
JP2011091382A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2010206187A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2010183022A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2011119714A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2010212671A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2011100997A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2011009724A5 (ja) | 半導体装置の作製方法 | |
JP2010170110A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2011129899A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2010153828A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2010135780A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2010226101A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2011233880A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2011135063A5 (ja) | ||
JP2011139054A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2011129898A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2010062546A5 (ja) | ||
JP2011181906A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2010251732A5 (ja) | トランジスタ及び表示装置 | |
JP2014082388A5 (ja) | ||
JP2010062536A5 (ja) | 薄膜トランジスタ、及び当該薄膜トランジスタを有する表示装置 | |
JP2011181917A5 (ja) | ||
JP2011151380A5 (ja) | トランジスタ | |
JP2012084853A5 (ja) | 半導体装置の作製方法、及び、半導体装置 |