JP2009019909A - 欠陥識別方法及び欠陥識別装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】検出コイルと励磁コイルを並べて配置した渦電流探傷検出用のマルチプローブにより得られる検出信号を用いて傷信号と雑音信号を識別する欠陥識別方法において、前記マルチプローブの一方向に励磁コイルと検出コイルを配置したXスキャン信号と、その他方向に励磁コイルと検出コイルを配置したYスキャン信号とを、位相角度に演算し、その演算した位相角度を、横軸をXスキャン位相角度に、縦軸をYスキャン位相角度に設定したグラフ上にプロットして、グラフ上における各検出信号分布の特性の違いから、傷信号と雑音信号を識別する。
【選択図】図14
Description
また、励磁コイルと検出コイルを水平配置した渦電流プローブの公知例として、エアギャップの変化に対して特に感応せず、低いノイズレベルを実現可能なプローブがある(例えば、特許文献2参照。)。
この図3において、図1及び図2と同符号のものは同一部分であるので、その詳細な説明は省略するが、図3には、本発明の検査対象箇所の一例となる原子炉内の炉底部におけるCRDスタブチューブ8の溶接部14など、溶接部14の曲率が連続的に変化する複雑形状部を示してある。
まず、図4に示すように、EDMスリット15を使い、傷信号特性について調べた結果を下記に示す。
マルチプローブ1をEDMスリット15に対して様々な角度から入射させ、図4に示すように、EDMスリット15の長さ方向とマルチプローブ1の幅方向がなす角度をθとして、マルチプローブ1に対して十分長いEDMスリット15上を、Xスキャンはθ=0〜90deg(θ=90〜180degは対称なため省略)、Y1及びY2スキャンはθ=0〜180degまでそれぞれ15degピッチで探傷した。試験周波数20kHzで実施した。
まず、リフトオフ信号について説明すると、実験では、マルチプローブ1が試験体表面から、1.0mm、0.5mm、0,3mm、0.1mm、0.075m浮いた時に発生したリフトオフ信号を取得した。これらのリフトオフ信号を欠陥識別分類マップ上に表記した結果を、図6に示す。
この図6に示されるように、リフトオフ信号は、X、Yスキャン2つの検出方法で検出した信号の位相角度がともに180deg付近に集中し、さらに、それらの位相角度差が小さいという特徴を持っている。また、リフトオフが大きいほど、X、Yスキャンそれぞれの位相角度は大きくなり、欠陥識別分類マップ上では右上に移動する傾向を示した。リフトオフ信号は、グラフ上できず信号とは異なる領域にプロットされ、45deg方向に引いた2線のライン(Yスキャンの位相角度=Xスキャンの位相角度±20deg程度)の内側に入るため、先程検討した傷信号と分離可能であることが分かった。
マルチプローブ1を、CRDスタブの溶接部14を1周連続探傷する際、例えば、試験体における溶接部14の曲率が一番大きいR=100mmの位置で検出信号の出力が0(V)になるように設定する。この状態で、マルチプローブ1を、溶接部14の曲率R=100mmから徐々に曲率の小さい箇所に移動させていくと、マルチプローブ1の両端は試験体に押されて、その長さ方向に曲げられる。その結果、励磁コイル10と検出コイル11aの相対位置が変化し、Xスキャンの信号が発生する。しかし、マルチプローブ1は、幅方向に湾曲しないため、Yスキャン信号に変化はなく、マルチプローブ1の曲がりの影響を受けるのは、Xスキャン信号のみである。しかも、Xスキャンの信号の位相角度は、マルチプローブ1を曲げると、45deg方向に伸び、逆に、マルチプローブ1を広げると、225degに伸びるという特徴を持つことが分かった。これらプローブの曲がり信号の検出結果を、傷信号とリフトオフ信号と合わせた欠陥識別分類マップ上に表示したものを図8に示す。
図11は、本発明の欠陥識別方法に用いる渦流探傷装置の一例をCRDスタブチューブ8の実機模擬試験体の溶接部14を探傷検査に適用した例を示す正面図、図12は図11に示す本発明の欠陥識別方法に用いる渦流探傷装置の一例を示す正面図、図13はCRDスタブチューブの模擬試験体における検出信号の一例を示す図、図14はCRDスタブチューブの模擬試験体における欠陥信号分類マップ図である。
CRDスタブチューブ8の模擬試験体Xの溶接部14を探傷検査する渦流探傷装置は、図11及び図12に示すように、CRDスタブチューブ8の模擬試験体Xの溶接部14に正対するように、周方向の3次元レール軌道9に沿って周回動可能に配置されている。この3次元レール軌道9には、車輪19によって走行車22が設けられている。この走行車22には、図12に示すように、マルチプローブ1を模擬試験体Xに押付けるためのエアーシリンダ23が設けられている。このエアーシリンダ23の先端側には、溶接部14の曲率変化に追従するための板ばね20と、マルチプローブ1における励磁コイル10または検出コイル11を外力から守るためのスポンジ21と、このスポンジ21の前面側に設けたマルチプローブ1とが順次配置されている。
図13は、CRDスタブチューブ8の模擬試験体Xにおける溶接部14とその表面検査結果とそのリサージュ波形との関係を示すもので、この図13における上段は、CRDスタブチューブ8の模擬試験体Xにおける溶接部14の斜視図を、中段は、マルチプローブ1を、その励磁コイル10と検出コイル11cの組み合わせによる長さ方向の検出方法(Xスキャン)によって得られる溶接部14の表面検査結果とそのリサージュ波形との関係を示し、また、下段は、マルチプローブ1を、その励磁コイル10と検出コイル11cの組み合わせによる幅方向の検出方法(Yスキャン)によって得られる溶接部14の表面検査結果とそのリサージュ波形との関係を示し、各段の左側は、溶接部14の表面検査結果の一例であり、これらの表面検査結果の一例における符合(1)は、プローブ曲がり信号、符号(2)は検出すべき軸方向の傷信号、符号(3)は表面うねり信号である。
1A コイル
1B 薄肉基板
2 渦電流探傷装置
3 計算機
4 メモリ
5 演算部
6 入力部
7 表示部
8 CRDスタブチューブ
10 励磁コイル
11a 検出コイル
11b 検出コイル
11c 検出コイル
12 軸方向傷
13 周方向傷
14 CRDスタブチューブの溶接部
15 EDMスリット
Claims (6)
- 検出コイルと励磁コイルを並べて配置した渦電流探傷検出用のマルチプローブにより得られる検出信号を用いて傷信号と雑音信号を識別する欠陥識別方法において、前記マルチプローブの一方向に励磁コイルと検出コイルを配置して検出したXスキャン信号と、その他方向に配置した検出したYスキャン信号とを、位相角度に演算し、その演算した位相角度を、横軸をXスキャン位相角度に、縦軸をYスキャン位相角度に設定したグラフ上にプロットして、グラフ上における各検出信号分布の特性の違いから、傷信号と雑音信号を識別することを特徴とする欠陥識別方法。
- 請求項1に記載の欠陥識別方法において、前記マルチプローブの一方向に励磁するXスキャンは、マルチプローブの長さ方向に励磁コイルと検出コイルを配置したスキャンであり、他方向に励磁コイルと検出コイルを配置したYスキャンは、マルチプローブの幅方向に関するスキャンであることを特徴とする欠陥識別方法。
- 請求項1または2記載の欠陥識別方法において、前記マルチプローブとして、1つの励磁コイルから生じる渦電流変化を2つ以上の検出コイルで捉えることができる複数のコイルを2列配置したものを利用して、いずれか2つの検出コイルから得られる位相角度を用いることを特徴とする欠陥識別方法。
- 請求項1乃至3のいずれかに記載の欠陥識別方法において、前記マルチプローブは、複数のコイルを千鳥配置または正方配置し、異なる位置に置かれた検出コイルから得られる位相角度情報を用いることを特徴とする欠陥識別方法。
- 請求項1乃至3のいずれかに記載の欠陥識別方法において、前記マルチプローブとして、1つの励磁コイルに対して配置角度の異なる2つ以上の検出コイルを2列配置したものを利用して、ある1組の励磁コイルと検出コイルから得られる位相角度と、その並び方向対して、75度または105度異なる位置に置かれた検出コイルの信号を演算して得られる位相角度情報を用いることを特徴とする欠陥識別方法。
- 検出コイルと励磁コイルを並べて配置した渦電流探傷検出用のマルチプローブにより得られる検出信号を用いて傷信号と雑音信号を識別する欠陥識別装置において、前記マルチプローブと、前記マルチプローブにおける1つの前記励磁コイルに対して異なる位置に置かれた2つ以上の前記検出コイルから得られる検出信号を取り込み、この検出信号の位相角度を演算する手段と、前記演算手段で演算した2つの位相角度を、縦軸と横軸とに位相角度を有するグラフ上にプロット表示する表示手段とを備えたことを特徴とする欠陥識別装置。
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