JP4885068B2 - 渦電流探傷装置および渦電流探傷方法 - Google Patents
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Description
本発明は、渦電流探傷プローブと、磁石を備えて透磁率変化によるノイズを低減する磁気飽和型渦電流探傷プローブと、前記渦電流探傷プローブおよび前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が測定対象の被検体の傷に起因するものか、或いは、ノイズに起因するものかを判別する分析手段とを備え、前記分析手段は、前記渦電流探傷プローブによる信号波形が内在欠陥の特徴を示し、且つ、前記渦電流探傷プローブによる信号振幅が前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる信号振幅の所定数倍を超える大きさであるときに、透磁率変化によるノイズを要因とするものであると判定する渦電流探傷装置を提供する。
本発明は、渦電流探傷プローブと、磁石を備えて透磁率変化によるノイズを低減する磁気飽和型渦電流探傷プローブとを具備した渦電流探傷装置の渦電流探傷方法であって、前記渦電流探傷プローブおよび前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が測定対象の被検体の傷に起因するものか、或いは、ノイズに起因するものかを判別する分析工程を含み、前記分析工程は、前記渦電流探傷プローブによる信号波形が開口欠陥の特徴を示し、且つ、前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる信号振幅が前記渦電流探傷プローブによる信号振幅の所定数倍を超える大きさであるときに、前記渦電流探傷プローブおよび前記磁気飽和型渦電流探傷プローブのリフトオフ変化または傾き変化による形状ノイズを要因とするものであると判定する渦電流探傷方法を提供する。
図1は本発明の第1の実施形態に係る渦電流探傷装置の構成図である。同図において、本実施形態の渦電流探傷装置は、通常型プローブ11、磁気飽和型プローブ13、駆動装置15、探傷器17、記憶装置19および分析装置21を備えて構成されている。
通常型プローブ11は、特許請求の範囲にいう渦電流探傷プローブであり、渦電流探傷法による配管等の保守検査で一般的に使用されているもので、例えば自己比較方式のものを用いる。また、磁気飽和型プローブ13は、特許請求の範囲にいう磁気飽和型渦電流探傷プローブであり、ECTコイル周辺に永久磁石または電磁石を配置して、透磁率変化の影響を低減するようにしたものである。
そこで、本実施形態の渦電流探傷装置では、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13による同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が透磁率変化によるノイズを要因とするものであるか否かを判定するようにしている。
ここでは、標準信号として開口欠陥信号を使用する場合、すなわち、所定の開口欠陥信号の振幅および位相角が全ての探傷周波数波形について一定値になるように校正した場合の例を説明する。
また、ステップS113で「低周波の信号振幅>高周波の信号振幅」でないときは、内在欠陥または透磁率変化によるノイズ以外の要因による信号と判断される(ステップS115)。
一般に、渦電流探傷法による検査では、検出信号(電圧)を図4に示すような実軸(横軸)および虚軸(縦軸)による複素平面上のリサージュ図形で描いて評価する。このリサージュ図形は、大きさ(振幅)と実軸に対する傾き(位相角θ)で特徴づけられる。
次に、本発明の第2の実施形態に係る渦電流探傷装置および渦電流探傷方法について説明する。本実施形態の渦電流探傷装置の構成は第1の実施形態(図1)と同等であり、各構成要素の詳しい説明を省略する。
ただし、分析装置21については、第1の実施形態と同様に、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13で得られた信号波形に基づき欠陥抽出およびサイジングを行って評価するが、特に、通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13による同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13のリフトオフ変化または傾き変化による形状ノイズを要因とするものであるか否かを判定する点が異なる。
まず、通常型プローブ11により通常センサ信号(…Sj…Sk…)を取得する(ステップS121)。ここで、Sjは励磁周波数Fjのときの検出信号で、Skは励磁周波数Fkのときの検出信号である。また、同様に、磁気飽和型プローブ13により磁気飽和型センサ信号(…S’j…S’k…)を取得する(ステップS122)。ここで、S’jは励磁周波数Fjのときの検出信号で、S’kは励磁周波数Fkのときの検出信号である。
また、ステップS123で開口欠陥の信号波形の特徴を示していないときは、開口欠陥または形状ノイズ以外の要因による信号と判断される(ステップS125)。
図7には、開口欠陥(軸方向欠陥、周方向欠陥)および形状ノイズに起因する通常センサ信号および磁気飽和型センサ信号のリサージュ図形を例示する。
次に、本発明の第3の実施形態に係る渦電流探傷装置について説明する。本実施形態の渦電流探傷装置の構成は第1の実施形態(図1)と同等であり、各構成要素の詳しい説明を省略する。
ただし、分析装置21については、傷の深さが既知の標準試料を通常型プローブ及び磁気飽和型プローブにより実測して得る見本探傷信号を入力し、波形特徴を数値化した特徴量を生成する特徴量生成手段と、標準試料の傷の深さを表す量として既知の正解データを供給する正解データ供給手段と、前記特徴量および正解データを入力し、特徴量を利用して正解データとの誤差が十分小さい値を出力するためのパラメータである評価パラメータを、学習により生成する学習手段と、測定対象の被検体を前記通常型プローブ及び前記磁気飽和型プローブにより探傷して得る実測探傷信号により、見本探傷信号と同様の特徴量を生成する特徴量生成手段と、実測探傷信号に基づく特徴量と該特徴量に対応する前記評価パラメータとに基づき、傷の深さ推定値を生成する評価結果生成手段とを具備する構成である点が異なる。
図8および図9は、本実施形態の渦電流探傷装置の分析装置21における渦電流探傷信号の分析評価方法を説明するフローチャートである。
すなわち、傷の深さが既知の被測定部材である標準試料を実測して得る見本探傷信号を入力し(ステップS1)、所定のフィルタリング処理(ステップS2)をした後、波形特徴を数値化した特徴量を生成する(ステップS3)。通常型プローブ11および磁気飽和型プローブ13のそれぞれにより探傷した信号から得られた特徴量を結合して学習用の特徴量を生成する。ここで、特徴量は数値列であるから、特徴量を結合するとは数値列をつなげることをいう。その後、標準試料の傷の深さを表す量として既知の正解データ(ステップS1)を参照して、該正解データとの誤差が十分小さい値を出力するためのパラメータである評価パラメータを、結合した特徴量を利用して学習により生成する(ステップS4)。この結果、評価パラメータAを生成する。また、ステップS1からステップS4までの処理を繰り返して他の波形特徴を用いた評価パラメータBも生成する。なお、評価パラメータA、Bは傷の種類毎に生成する。
すなわち、実測探傷信号を入力し(ステップS5)、所定のフィルタリング処理(ステップS6)をした後、傷の種類を分類する(ステップS7)と共に、この分類毎に見本探傷信号と同様の特徴量を生成する(ステップS8)。さらに実測探傷信号に基づく特徴量とこの特徴量にそれぞれ対応する評価パラメータAとに基づき、傷の深さを表すデータを生成する(ステップS9、S10)。上述の如き処理を評価パラメータBについても行う。上述の処理により得る傷の深さを表す各データを比較して検証し(ステップS11)、各データが表す傷の深さが所定の範囲に納まっているとき、この傷の深さを推定値として採用する(ステップS12)。
次に、本発明の第4の実施形態に係る渦電流探傷装置について説明する。本実施形態の渦電流探傷装置は、第1の実施形態の構成(図1参照)に位置検出センサを付加した構成であり、位置検出センサ以外の各構成要素の詳しい説明を省略する。
すなわち、通常型プローブ11により通常センサ信号(…Sj…Sk…)を取得し(ステップS141)、また同様に、磁気飽和型プローブ13により磁気飽和型センサ信号(…S’j…S’k…)を取得し(ステップS142)、位置検出センサにより溶接境界検出用センサ信号(…S”A…)を取得する(ステップS143)。
次に、本発明の第5の実施形態に係る渦電流探傷装置について説明する。本実施形態の渦電流探傷装置の構成は第1の実施形態(図1)と同等であり、各構成要素の詳しい説明を省略する。
ただし、分析装置21については、被検体の磁気飽和型プローブ13の信号値(ゼロ点ずれ)分布に基づき、測定対象の被検体において異なる材質の境界である異材境界の位置を判別し、該異材境界位置に基づき、通常型プローブ11または磁気飽和型プローブ13による信号波形に基づく欠陥抽出およびサイジングを行う点が異なる。つまり、第4の実施形態のように位置検出センサを新たに付加することなく、分析装置21により、磁気飽和型プローブ13の磁気飽和型センサ信号に基づき異材境界位置を判別するようにしたものである。
すなわち、通常型プローブ11により通常センサ信号(…Sj…Sk…)を取得し(ステップS151)、また同様に、磁気飽和型プローブ13により磁気飽和型センサ信号(…S’j…S’k…)を取得する(ステップS152)。
磁気飽和型プローブ13の磁気飽和型センサの探傷信号のうちの1つの周波数の信号S’Bにより、評価対象信号がどの部位にあるかを正確に判定し(ステップS154)、判定した結果に基づき各部位に応じた欠陥(傷)の評価基準を用いて、欠陥抽出(ステップS155)およびサイジング(ステップS156)の処理を行う。
次に、本発明の第6の実施形態に係る渦電流探傷装置について説明する。本実施形態の渦電流探傷装置の構成は第1の実施形態(図1)と同等であり、各構成要素の詳しい説明を省略する。
ただし、分析装置21については、磁気飽和型プローブ13の磁気飽和型センサ信号に前処理フィルタをかけた信号を用いて、被検体の電気抵抗率または透磁率の変動による磁気飽和型プローブ13のゼロ点ずれ分布に基づき、測定対象の被検体において異なる材質の境界である異材境界の位置を判別し、該異材境界位置に基づき、通常型プローブ11または磁気飽和型プローブ13による信号波形に基づく欠陥抽出およびサイジングを行う点が異なる。
すなわち、通常型プローブ11により通常センサ信号(…Sj…Sk…)を取得し(ステップS161)、また同様に、磁気飽和型プローブ13により磁気飽和型センサ信号(…S’j…S’k…)を取得する(ステップS162)。
次に、本発明の第7の実施形態に係る渦電流探傷装置について説明する。図13は、本実施形態の渦電流探傷装置における磁気飽和型プローブ13の外観図である。同図において、磁気飽和型プローブ13は、1対の磁石60と、1対の磁石60で挟まれ、且つ、該1対の磁石60で挟まれた領域の中央の磁力に対する減衰率が所定許容範囲の位置に並設された複数のセンサ61〜63とを備えた構成である。
13 磁気飽和型プローブ
15 駆動装置
17 探傷器
19 記憶装置
21 分析装置
40 容器
41 炭素鋼
42 SUSオーバレイ
50 配管
51 SUS母材
52 アロイバタリング
53 アロイ溶金
60 磁石
61〜63 センサ
Claims (9)
- 渦電流探傷プローブと、
磁石を備えて透磁率変化によるノイズを低減する磁気飽和型渦電流探傷プローブと、
前記渦電流探傷プローブおよび前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が測定対象の被検体の傷に起因するものか、或いは、ノイズに起因するものかを判別する分析手段と
を備え、
前記分析手段は、前記渦電流探傷プローブによる信号波形が内在欠陥の特徴を示し、且つ、前記渦電流探傷プローブによる信号振幅が前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる信号振幅の所定数倍を超える大きさであるときに、透磁率変化によるノイズを要因とするものであると判定する渦電流探傷装置。 - 渦電流探傷プローブと、
磁石を備えて透磁率変化によるノイズを低減する磁気飽和型渦電流探傷プローブと、
前記渦電流探傷プローブおよび前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が測定対象の被検体の傷に起因するものか、或いは、ノイズに起因するものかを判別する分析手段と
を備え、
前記分析手段は、前記渦電流探傷プローブによる信号波形が開口欠陥の特徴を示し、且つ、前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる信号振幅が前記渦電流探傷プローブによる信号振幅の所定数倍を超える大きさであるときに、前記渦電流探傷プローブおよび前記磁気飽和型渦電流探傷プローブのリフトオフ変化または傾き変化による形状ノイズを要因とするものであると判定する渦電流探傷装置。 - 前記磁気飽和型渦電流探傷プローブの磁石は、前記渦電流探傷プローブおよび前記磁気飽和型渦電流探傷プローブを備える可動体が走査可能な範囲の磁力を持つか、或いは、走査可能な範囲のリフトオフで設置される請求項1または請求項2に記載の渦電流探傷装置。
- 前記分析手段は、
傷の深さが既知の標準試料を前記渦電流探傷プローブ及び前記磁気飽和型渦電流探傷プローブにより実測して得る見本探傷信号を入力し、波形特徴を数値化した特徴量を生成する特徴量生成手段と、
前記標準試料の傷の深さを表す量として既知の正解データを供給する正解データ供給手段と、
前記特徴量および正解データを入力し、前記特徴量を利用して前記正解データとの誤差が十分小さい値を出力するためのパラメータである評価パラメータを、学習により生成する学習手段と、
測定対象の被検体を前記渦電流探傷プローブ及び前記磁気飽和型渦電流探傷プローブにより探傷して得る実測探傷信号により、見本探傷信号と同様の特徴量を生成する特徴量生成手段と、
前記実測探傷信号に基づく特徴量と該特徴量に対応する前記評価パラメータとに基づき、傷の深さ推定値を生成する評価結果生成手段と
を具備する請求項1から請求項3のいずれかに記載の渦電流探傷装置。 - 被検体が2種類以上の材質の領域を含む渦電流探傷において、前記渦電流探傷プローブおよび前記磁気飽和型渦電流探傷プローブに加えて、被検体において異なる材質の境界である異材境界位置を検出するための位置検出センサを更に備え、
前記分析手段は、前記位置検出センサの位置情報に基づき、前記渦電流探傷プローブまたは前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる信号波形に基づく欠陥抽出およびサイジングを行う請求項1から請求項4のいずれかに記載の渦電流探傷装置。 - 前記分析手段は、被検体の前記磁気飽和型渦電流探傷プローブの信号値分布に基づき、測定対象の被検体において異なる材質の境界である異材境界の位置を判別し、該異材境界位置に基づき、前記渦電流探傷プローブまたは前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる信号波形に基づく欠陥抽出およびサイジングを行う請求項1から請求項4のいずれかに記載の渦電流探傷装置。
- 前記磁気飽和型渦電流探傷プローブは、1対の磁石と、前記1対の磁石で挟まれ、且つ、該1対の磁石で挟まれた領域の中央の磁力に対する減衰率が所定許容範囲の位置に並設された複数のセンサとを具備する請求項1から請求項6のいずれかに記載の渦電流探傷装置。
- 渦電流探傷プローブと、磁石を備えて透磁率変化によるノイズを低減する磁気飽和型渦電流探傷プローブとを具備した渦電流探傷装置の渦電流探傷方法であって、
前記渦電流探傷プローブおよび前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が測定対象の被検体の傷に起因するものか、或いは、ノイズに起因するものかを判別する分析工程を含み、
前記分析工程は、前記渦電流探傷プローブによる信号波形が内在欠陥の特徴を示し、且つ、前記渦電流探傷プローブによる信号振幅が前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる信号振幅の所定数倍を超える大きさであるときに、透磁率変化によるノイズを要因とするものであると判定する渦電流探傷方法。 - 渦電流探傷プローブと、磁石を備えて透磁率変化によるノイズを低減する磁気飽和型渦電流探傷プローブとを具備した渦電流探傷装置の渦電流探傷方法であって、
前記渦電流探傷プローブおよび前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる同一箇所の走査で得られる信号波形を比較分析して、該信号波形が測定対象の被検体の傷に起因するものか、或いは、ノイズに起因するものかを判別する分析工程を含み、
前記分析工程は、前記渦電流探傷プローブによる信号波形が開口欠陥の特徴を示し、且つ、前記磁気飽和型渦電流探傷プローブによる信号振幅が前記渦電流探傷プローブによる信号振幅の所定数倍を超える大きさであるときに、前記渦電流探傷プローブおよび前記磁気飽和型渦電流探傷プローブのリフトオフ変化または傾き変化による形状ノイズを要因とするものであると判定する渦電流探傷方法。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2772334A2 (en) | 2013-02-27 | 2014-09-03 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Weld portion repairing method and weld portion repairing apparatus |
WO2019064686A1 (ja) * | 2017-09-27 | 2019-04-04 | 日立造船株式会社 | 渦電流探傷装置および渦電流探傷方法 |
US11143621B2 (en) | 2017-09-27 | 2021-10-12 | Hitachi Zosen Corporation | Eddy current flaw detection device |
US11415549B2 (en) | 2017-09-27 | 2022-08-16 | Hitachi Zosen Corporation | Eddy current flaw detection device |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AR077219A1 (es) * | 2009-06-25 | 2011-08-10 | Ca Atomic Energy Ltd | Aparato y metodo para medir depositos dentro de un tubo |
JP5562629B2 (ja) | 2009-12-22 | 2014-07-30 | 三菱重工業株式会社 | 探傷装置及び探傷方法 |
JP5851783B2 (ja) | 2011-09-27 | 2016-02-03 | 三菱重工業株式会社 | 渦電流探傷用プローブ |
CN105866240A (zh) * | 2016-06-01 | 2016-08-17 | 爱德森(厦门)电子有限公司 | 一种区分在用钢管内外壁漏磁检测信号的装置及方法 |
JP7428893B2 (ja) | 2020-04-17 | 2024-02-07 | 日本製鉄株式会社 | 学習装置、異常渦電流損推定装置、学習方法、異常渦電流損推定方法、およびプログラム |
CN114088807A (zh) * | 2020-08-05 | 2022-02-25 | 常州常宝精特钢管有限公司 | 冷轧钢管涡流检验不相关信号的分析方法 |
WO2024154325A1 (ja) * | 2023-01-20 | 2024-07-25 | 三菱電機株式会社 | 欠陥検出装置 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2760166B2 (ja) * | 1991-03-15 | 1998-05-28 | 住友金属工業株式会社 | 線材の熱間渦流探傷方法 |
JPH0694682A (ja) * | 1992-09-09 | 1994-04-08 | Toshiba Corp | 電磁誘導探傷プローブ |
JPH06347447A (ja) * | 1993-06-10 | 1994-12-22 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 渦流探傷方法及びその装置 |
JPH0894586A (ja) * | 1994-09-21 | 1996-04-12 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 渦流探傷装置 |
JPH08136509A (ja) * | 1994-11-09 | 1996-05-31 | Nikko Kensa Service Kk | 管内面表層部の渦流探傷試験方法および渦流探傷試験装置 |
JPH11295275A (ja) * | 1998-04-10 | 1999-10-29 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 渦電流探傷方法及び装置 |
JP2000227422A (ja) * | 1999-02-08 | 2000-08-15 | Nkk Corp | 渦流探傷法 |
JP4344072B2 (ja) * | 2000-07-03 | 2009-10-14 | 株式会社神戸製鋼所 | 線材渦流探傷用コイル装置 |
JP2002022708A (ja) * | 2000-07-06 | 2002-01-23 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 渦流探傷信号の評価方法及びその装置 |
JP2005043154A (ja) * | 2003-07-25 | 2005-02-17 | Hitachi Ltd | 渦電流探傷プローブ |
-
2007
- 2007-06-13 JP JP2007156435A patent/JP4885068B2/ja active Active
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2772334A2 (en) | 2013-02-27 | 2014-09-03 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Weld portion repairing method and weld portion repairing apparatus |
WO2019064686A1 (ja) * | 2017-09-27 | 2019-04-04 | 日立造船株式会社 | 渦電流探傷装置および渦電流探傷方法 |
JP2019060723A (ja) * | 2017-09-27 | 2019-04-18 | 日立造船株式会社 | 渦電流探傷装置および渦電流探傷方法 |
KR20200061373A (ko) | 2017-09-27 | 2020-06-02 | 히다치 조센 가부시키가이샤 | 와전류 탐상장치 및 와전류 탐상방법 |
US11143621B2 (en) | 2017-09-27 | 2021-10-12 | Hitachi Zosen Corporation | Eddy current flaw detection device |
JP7048028B2 (ja) | 2017-09-27 | 2022-04-05 | 日立造船株式会社 | 渦電流探傷システムおよび渦電流探傷方法 |
US11320401B2 (en) | 2017-09-27 | 2022-05-03 | Hitachi Zosen Corporation | Eddy current flaw detection device and eddy current flaw detection method |
US11415549B2 (en) | 2017-09-27 | 2022-08-16 | Hitachi Zosen Corporation | Eddy current flaw detection device |
KR102444051B1 (ko) | 2017-09-27 | 2022-09-15 | 히다치 조센 가부시키가이샤 | 와전류 탐상장치 및 와전류 탐상방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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