JP2760166B2 - 線材の熱間渦流探傷方法 - Google Patents
線材の熱間渦流探傷方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は線材（棒鋼を含む）の
熱間での渦流探傷において、被検材である線材の温度が
磁気変態点以上にあっても安定して探傷が可能となる方
法に係り、特に１０００℃以上の高温線材の表面欠陥を
貫通コイル方式による探傷方法により精度よく探傷する
方法に関する。
熱間での渦流探傷において、被検材である線材の温度が
磁気変態点以上にあっても安定して探傷が可能となる方
法に係り、特に１０００℃以上の高温線材の表面欠陥を
貫通コイル方式による探傷方法により精度よく探傷する
方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から線材の表面欠陥を自動的に検出
する手段として、貫通コイル方式による熱間渦流探傷が
実用されている。この貫通コイル方式では一般的に同軸
上に２個のソレノイド状の検査用コイルが配置され、そ
の外周にソレノイド状の励磁コイルが検査用コイルと同
芯的に配置され、被検材はこれらのコイルの内部を通過
することによって検査される。
する手段として、貫通コイル方式による熱間渦流探傷が
実用されている。この貫通コイル方式では一般的に同軸
上に２個のソレノイド状の検査用コイルが配置され、そ
の外周にソレノイド状の励磁コイルが検査用コイルと同
芯的に配置され、被検材はこれらのコイルの内部を通過
することによって検査される。
【０００３】冷間渦流探傷では被検材が磁性材の場合、
透磁率の変化を受けるため磁気飽和を行い、見掛け上比
透磁率を１にすることにより安定した探傷が実現でき
る。しかし、熱間渦流探傷の場合は、被検材の温度が磁
気変態点以上になっており、常磁性の状態となっている
ので、磁気飽和の必要性がなく、磁気飽和コイルは設置
されていない。ただし、最近、制御圧延を実施する中
で、低温圧延を行う場合、磁気変態点以下で圧延するケ
ースがあり、これを冷間探傷と見直して磁気飽和を行う
場合がある。
透磁率の変化を受けるため磁気飽和を行い、見掛け上比
透磁率を１にすることにより安定した探傷が実現でき
る。しかし、熱間渦流探傷の場合は、被検材の温度が磁
気変態点以上になっており、常磁性の状態となっている
ので、磁気飽和の必要性がなく、磁気飽和コイルは設置
されていない。ただし、最近、制御圧延を実施する中
で、低温圧延を行う場合、磁気変態点以下で圧延するケ
ースがあり、これを冷間探傷と見直して磁気飽和を行う
場合がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかるに、磁気変態点
以上の高温での熱間渦流探傷では、被検材が常磁性とな
っているにもかかわらず欠陥の大小にかかわらず欠陥の
体積と出力に相関がない。そのため、通常の１０００℃
以上の熱間渦流探傷では、例えば被検材に“へげ疵”が
生じていた場合、この疵の特性から疵の表面が浮いた状
態においては当該部分が冷却され易く、他の部分より磁
気変態点以下（７６８℃以下）となっている場合には磁
気を帯びている。したがって、通常の熱間渦流探傷で
は、結果としてへげ疵の部分で透磁率が変化し、本来の
欠陥部における電気抵抗の変化を検知するのではなく、
透磁率の変化を検出することとなり、実際の欠陥とは異
なる欠陥信号となり過大評価することとなる。つまり、
欠陥の大きさ（体積）と出力との間にはほとんど相関が
なく、大欠陥を見逃したり、反対に小さな欠陥を検出し
て過検出となる場合がある。
以上の高温での熱間渦流探傷では、被検材が常磁性とな
っているにもかかわらず欠陥の大小にかかわらず欠陥の
体積と出力に相関がない。そのため、通常の１０００℃
以上の熱間渦流探傷では、例えば被検材に“へげ疵”が
生じていた場合、この疵の特性から疵の表面が浮いた状
態においては当該部分が冷却され易く、他の部分より磁
気変態点以下（７６８℃以下）となっている場合には磁
気を帯びている。したがって、通常の熱間渦流探傷で
は、結果としてへげ疵の部分で透磁率が変化し、本来の
欠陥部における電気抵抗の変化を検知するのではなく、
透磁率の変化を検出することとなり、実際の欠陥とは異
なる欠陥信号となり過大評価することとなる。つまり、
欠陥の大きさ（体積）と出力との間にはほとんど相関が
なく、大欠陥を見逃したり、反対に小さな欠陥を検出し
て過検出となる場合がある。
【０００５】この発明は磁気変態点以上の熱間渦流探傷
における前記問題点、すなわち欠陥部の温度低下により
生じる透磁率の変化に起因する大欠陥の見逃しや過検出
を防止し、精度よく渦流探傷が可能な線材の熱間渦流探
傷方法を提案しようとするものである。
における前記問題点、すなわち欠陥部の温度低下により
生じる透磁率の変化に起因する大欠陥の見逃しや過検出
を防止し、精度よく渦流探傷が可能な線材の熱間渦流探
傷方法を提案しようとするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明は磁気変態点以
上の温度での熱間渦流探傷において被検材の透磁率の変
化の影響を避けるため、へげ疵等欠陥部が生じた部分を
磁気飽和状態にして探傷する方法であり、その要旨は貫
通コイル方式による渦流探傷において、第１検査用コイ
ルと第２検査用コイルを軸線方向に間隔をあけて配置
し、下流側の第２検査用コイルの両側に磁気飽和コイル
を設け、第１検査用コイルの欠陥検出信号に基づいて前
記磁気飽和コイルを制御し、第２検査用コイルにて当該
欠陥部を探傷する方法にある。
上の温度での熱間渦流探傷において被検材の透磁率の変
化の影響を避けるため、へげ疵等欠陥部が生じた部分を
磁気飽和状態にして探傷する方法であり、その要旨は貫
通コイル方式による渦流探傷において、第１検査用コイ
ルと第２検査用コイルを軸線方向に間隔をあけて配置
し、下流側の第２検査用コイルの両側に磁気飽和コイル
を設け、第１検査用コイルの欠陥検出信号に基づいて前
記磁気飽和コイルを制御し、第２検査用コイルにて当該
欠陥部を探傷する方法にある。
【０００７】
【作用】この発明では線材のパスラインに第１検査用コ
イルを配置し、この検査用コイルにて被検材を探傷す
る。この第１検査用コイルにて表面欠陥が検出される
と、この表面欠陥が次の第２検査用コイルに位置した時
点で当該コイルに付設した磁気飽和コイルを制御し、そ
の表面欠陥の部分を磁気飽和する。したがって、仮にそ
の表面欠陥がへげ疵であって磁気変態点以下に局部的に
温度低下し磁気を帯びていた場合にはその磁気が消去さ
れるので、第２検査用コイルでは透磁率の変化は検出さ
れず、本来の欠陥部における電気抵抗の変化を検出する
ことができる。つまり、実際のへげ疵の欠陥信号が検出
されるのである。
イルを配置し、この検査用コイルにて被検材を探傷す
る。この第１検査用コイルにて表面欠陥が検出される
と、この表面欠陥が次の第２検査用コイルに位置した時
点で当該コイルに付設した磁気飽和コイルを制御し、そ
の表面欠陥の部分を磁気飽和する。したがって、仮にそ
の表面欠陥がへげ疵であって磁気変態点以下に局部的に
温度低下し磁気を帯びていた場合にはその磁気が消去さ
れるので、第２検査用コイルでは透磁率の変化は検出さ
れず、本来の欠陥部における電気抵抗の変化を検出する
ことができる。つまり、実際のへげ疵の欠陥信号が検出
されるのである。
【０００８】表面欠陥部に対して磁気飽和をかけて渦流
探傷する制御系としては、第１検査用コイルで検出した
時点で被検材の圧延スピードと、第１検査用コイルと第
２検査用コイル間の距離とから当該表面疵が第２検査用
コイルに到達する時間を測定し、その時間後に磁気飽和
コイルにて通電する方法を採用することができる。
探傷する制御系としては、第１検査用コイルで検出した
時点で被検材の圧延スピードと、第１検査用コイルと第
２検査用コイル間の距離とから当該表面疵が第２検査用
コイルに到達する時間を測定し、その時間後に磁気飽和
コイルにて通電する方法を採用することができる。
【０００９】この発明方法では、被検材の温度が磁気変
態点以上となっている常磁性の状態であるにもかかわら
ず、疵の部分のみ温度が低下して磁気を帯びている場合
でも実際の欠陥信号のみを検出することができ、高精度
探傷が可能となる。
態点以上となっている常磁性の状態であるにもかかわら
ず、疵の部分のみ温度が低下して磁気を帯びている場合
でも実際の欠陥信号のみを検出することができ、高精度
探傷が可能となる。
【００１０】
【実施例】図１はこの発明方法を実施するための装置構
成例を示す概略図で、１は線材のパスライン、２は第１
検査用コイル、３は第１渦流探傷器、４は第２検査用コ
イル、５は第２渦流探傷器、６は磁気飽和コイル、７は
直流電源装置、８は制御装置、９は仕上げスタンド、１
０は圧延速度検出器である。
成例を示す概略図で、１は線材のパスライン、２は第１
検査用コイル、３は第１渦流探傷器、４は第２検査用コ
イル、５は第２渦流探傷器、６は磁気飽和コイル、７は
直流電源装置、８は制御装置、９は仕上げスタンド、１
０は圧延速度検出器である。
【００１１】ここで、第１検査用コイル２とその渦流探
傷器３は変態点以上の高温状態にある線材の表面欠陥の
有無を確認するためのもので、欠陥の大きさや形態まで
検出するものではない。欠陥の大きさや形態は第２検査
用コイル４とその渦流探傷器５により検出する。磁気飽
和コイル６は第２検査用コイル４の両側に近接配置し、
直流電源装置７により直流電流が通電されるように構成
されている。制御装置８は第１渦流探傷器３の検出指令
を受けて、圧延速度検出器１０から入力される圧延速度
Ｖと、予め入力されている第１検査用コイル２と第２検
査用コイル４間の距離Ｌとから、磁気飽和コイル６に通
電するタイミング△Ｔを算出し、直流電源装置７に通電
指令を与える働きをする。
傷器３は変態点以上の高温状態にある線材の表面欠陥の
有無を確認するためのもので、欠陥の大きさや形態まで
検出するものではない。欠陥の大きさや形態は第２検査
用コイル４とその渦流探傷器５により検出する。磁気飽
和コイル６は第２検査用コイル４の両側に近接配置し、
直流電源装置７により直流電流が通電されるように構成
されている。制御装置８は第１渦流探傷器３の検出指令
を受けて、圧延速度検出器１０から入力される圧延速度
Ｖと、予め入力されている第１検査用コイル２と第２検
査用コイル４間の距離Ｌとから、磁気飽和コイル６に通
電するタイミング△Ｔを算出し、直流電源装置７に通電
指令を与える働きをする。
【００１２】すなわち、第１検査用コイル２で線材の表
面の欠陥が検出されると、第１渦流探傷器３よりその検
出指令が制御装置８に入力され、ここで当該表面欠陥が
第２検査用コイル４に到達するまでの所要時間△Ｔが算
出される。そして、△Ｔ時間後に制御装置８より直流電
源装置７に通電指令が送られ、磁気飽和コイル６に通電
する。この時、欠陥部は第２検査用コイル４の所に位置
しているので磁気飽和された状態で第２検査用コイル４
にて渦流探傷される。
面の欠陥が検出されると、第１渦流探傷器３よりその検
出指令が制御装置８に入力され、ここで当該表面欠陥が
第２検査用コイル４に到達するまでの所要時間△Ｔが算
出される。そして、△Ｔ時間後に制御装置８より直流電
源装置７に通電指令が送られ、磁気飽和コイル６に通電
する。この時、欠陥部は第２検査用コイル４の所に位置
しているので磁気飽和された状態で第２検査用コイル４
にて渦流探傷される。
【００１３】
【実施例１】図１に示す貫通コイル方式の渦流探傷装置
により、５．５ｍｍφＨｉ−Ｃ材（表面温度１１００
℃）を探傷したときのへげ疵（長さ約２ｍｍ）の欠陥出
力を、磁気飽和なしの場合と比較して図２、図３に示
す。図２は磁気飽和あり（本発明）の場合の欠陥出力、
図３は磁気飽和なし（従来）の場合の欠陥出力をそれぞ
れ示す。図２、図３の結果より明らかなごとく、磁気飽
和なしの場合は透磁率の発生により磁気ノイズが大きく
発生しているのに対し、磁気飽和した場合は磁気ノイズ
が非常に少なく、へげ疵を適正に検出できることがわか
る。
により、５．５ｍｍφＨｉ−Ｃ材（表面温度１１００
℃）を探傷したときのへげ疵（長さ約２ｍｍ）の欠陥出
力を、磁気飽和なしの場合と比較して図２、図３に示
す。図２は磁気飽和あり（本発明）の場合の欠陥出力、
図３は磁気飽和なし（従来）の場合の欠陥出力をそれぞ
れ示す。図２、図３の結果より明らかなごとく、磁気飽
和なしの場合は透磁率の発生により磁気ノイズが大きく
発生しているのに対し、磁気飽和した場合は磁気ノイズ
が非常に少なく、へげ疵を適正に検出できることがわか
る。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したごとく、この発明方法によ
れば、磁気変態点以上の高温の状態にある被検材の欠陥
部に対して磁気飽和を加えるので、へげ疵のように疵の
部分が温度低下して磁気を帯びていても欠陥の大きさ
（体積）に比例した検出信号を得ることができるので、
異物噛込み疵等の大欠陥の見逃しやへげ疵等の小欠陥に
よる過検出がなくなり、正確な品質保証が可能となると
いう大なる効果を奏するものである。
れば、磁気変態点以上の高温の状態にある被検材の欠陥
部に対して磁気飽和を加えるので、へげ疵のように疵の
部分が温度低下して磁気を帯びていても欠陥の大きさ
（体積）に比例した検出信号を得ることができるので、
異物噛込み疵等の大欠陥の見逃しやへげ疵等の小欠陥に
よる過検出がなくなり、正確な品質保証が可能となると
いう大なる効果を奏するものである。
【図１】この発明方法を実施するための装置構成例を示
す概略図である。
す概略図である。
【図２】この発明の実施例における磁気飽和ありの場合
の欠陥出力を示す図である。
の欠陥出力を示す図である。
【図３】同上実施例における磁気飽和なしの場合の欠陥
出力を示す図である。
出力を示す図である。
１ 線材のパスライン ２ 第１検査用コイル ３ 第１渦流探傷器 ４ 第２検査用コイル ５ 第２渦流探傷器 ６ 磁気飽和コイル ７ 直流電源装置 ８ 制御装置 ９ 仕上スタンド １０ 圧延速度検出器
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 27/72 - 27/90
Claims (1)
- 【請求項１】 磁気変態点以上の温度の線材を貫通コイ
ル方式により渦流探傷する方法において、第１検査用コ
イルと第２検査用コイルを軸線方向に間隔をあけて配置
し、下流側の第２検査用コイルの両側に磁気飽和コイル
を設け、第１検査用コイルの欠陥検出信号に基づいて前
記磁気飽和コイルを制御し、第２検査用コイルにて当該
欠陥部を探傷することを特徴とする線材の熱間渦流探傷
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7676791A JP2760166B2 (ja) | 1991-03-15 | 1991-03-15 | 線材の熱間渦流探傷方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7676791A JP2760166B2 (ja) | 1991-03-15 | 1991-03-15 | 線材の熱間渦流探傷方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04286951A JPH04286951A (ja) | 1992-10-12 |
| JP2760166B2 true JP2760166B2 (ja) | 1998-05-28 |
Family
ID=13614749
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7676791A Expired - Fee Related JP2760166B2 (ja) | 1991-03-15 | 1991-03-15 | 線材の熱間渦流探傷方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2760166B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0651864U (ja) * | 1992-12-17 | 1994-07-15 | 住友金属工業株式会社 | 線材の熱間渦流探傷装置 |
| JP4885068B2 (ja) * | 2007-06-13 | 2012-02-29 | 三菱重工業株式会社 | 渦電流探傷装置および渦電流探傷方法 |
-
1991
- 1991-03-15 JP JP7676791A patent/JP2760166B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04286951A (ja) | 1992-10-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |