JPS5841463B2 - 渦電流探傷方式 - Google Patents
渦電流探傷方式Info
- Publication number
- JPS5841463B2 JPS5841463B2 JP2072276A JP2072276A JPS5841463B2 JP S5841463 B2 JPS5841463 B2 JP S5841463B2 JP 2072276 A JP2072276 A JP 2072276A JP 2072276 A JP2072276 A JP 2072276A JP S5841463 B2 JPS5841463 B2 JP S5841463B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspected
- signal
- probe coil
- eddy current
- probe
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、例えば熱交換器等に於ける細管を非破壊検
査する際に用いられる渦電流探傷方式に関する。
査する際に用いられる渦電流探傷方式に関する。
従来、熱交換器に於ける高圧ヒータ、オイルクーラ、コ
ンデンサ等の細管、或いは原子カプラント蒸気発生器細
管等の欠陥を非破壊検査する手段として渦電流探傷方式
が広く用いられる。
ンデンサ等の細管、或いは原子カプラント蒸気発生器細
管等の欠陥を非破壊検査する手段として渦電流探傷方式
が広く用いられる。
この際通常では被検査管を支持するための支持板、支持
台等所謂外部構造物が必要となるので、プローブコイル
より得られる探傷信号は上記外部構造物の影響を受けで
変化する（以下この外部構造物の影響による信号成分を
不要信号と呼ぶ）。
台等所謂外部構造物が必要となるので、プローブコイル
より得られる探傷信号は上記外部構造物の影響を受けで
変化する（以下この外部構造物の影響による信号成分を
不要信号と呼ぶ）。
従って従来では検出された信号を評価する際に複雑な解
析を実施しなければならない。
析を実施しなければならない。
その一手段としで、特願昭５０−１２３１９９号「渦電
流探傷法」に示されるような解析手段がある。
流探傷法」に示されるような解析手段がある。
この際の解析方法を簡単に説明すると、プローブコイル
より得られる探傷信号は、被検査管の欠陥部分およびこ
の管を支持するための外部構造物にそれぞれ影響され、
次式の如くとなる。
より得られる探傷信号は、被検査管の欠陥部分およびこ
の管を支持するための外部構造物にそれぞれ影響され、
次式の如くとなる。
Ｅ ０（ｘ）−Ｂ（ｘ十τ） 十Ｄ（ｘ） ・・・・
・・・・・・・・・・・・・■但し、Ｅｏ（ｘ）は探傷
信号（ベクトル）、Ｂ（ｘ十τ）は不要信号（ベクトル
）、心（ｘ）は欠陥信号（ベクトル）である。
・・・・・・・・・・・・・■但し、Ｅｏ（ｘ）は探傷
信号（ベクトル）、Ｂ（ｘ十τ）は不要信号（ベクトル
）、心（ｘ）は欠陥信号（ベクトル）である。
従って欠陥信号Ｄ（ｘ）は次のベクトル演算を行なって
求める必要がある。
求める必要がある。
Ｄ（ｘ）＝ＥＯ（ｘ） Ｂ（ｘ十τ）・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・■この際実際には欠陥部
と外部構造物の関係位置τを求めるため、τを順次変化
させてベクトル演算を順次実施し、その結果を経験的に
判断して最適のτを求めなければならない。
・・・・・・・・・・・・・・■この際実際には欠陥部
と外部構造物の関係位置τを求めるため、τを順次変化
させてベクトル演算を順次実施し、その結果を経験的に
判断して最適のτを求めなければならない。
このように、従来では支持板等外部構造物と複合した探
傷データの評価は、ベクトル演算を複数回に亘って実施
しなければならず、更にその結果を経験的に判断しなけ
ればならないため、多大の労力および時間を要しでいた
。
傷データの評価は、ベクトル演算を複数回に亘って実施
しなければならず、更にその結果を経験的に判断しなけ
ればならないため、多大の労力および時間を要しでいた
。
この発明は上記実情に鑑みなされたもので、被検査体に
沿ってプローブコイルを移動させ被検査体の状態に応じ
で変化するプローブコイルのインピーダンス変化から被
検査体の欠陥を検出する渦電流探傷方式に於いて上記被
検査体に付随しで設けられる外部構造物の影響による不
要信号データを予め記憶部に格納しでおき、この記憶部
に格納された不要信号データを上記プローブコイルの移
動位置に伴い順次読出しで、この読出しデータと上記プ
ローブコイルより得られる信号との回路演算により、不
要信号を除去した探傷信号を自動的に得る構成としで、
被検査体の欠陥部が外部構造物と同位置上に存在しでい
る場合に於いても欠陥のデータ評価が経験を要せず簡単
かつ迅速に行なえ得る渦電流探傷方式を提供することを
目的とする。
沿ってプローブコイルを移動させ被検査体の状態に応じ
で変化するプローブコイルのインピーダンス変化から被
検査体の欠陥を検出する渦電流探傷方式に於いて上記被
検査体に付随しで設けられる外部構造物の影響による不
要信号データを予め記憶部に格納しでおき、この記憶部
に格納された不要信号データを上記プローブコイルの移
動位置に伴い順次読出しで、この読出しデータと上記プ
ローブコイルより得られる信号との回路演算により、不
要信号を除去した探傷信号を自動的に得る構成としで、
被検査体の欠陥部が外部構造物と同位置上に存在しでい
る場合に於いても欠陥のデータ評価が経験を要せず簡単
かつ迅速に行なえ得る渦電流探傷方式を提供することを
目的とする。
以下図面を参照してこの発明の一実施例を説明する。
図に於いで、１１は被検査管中を移動する一対のプロー
ブコイルを備えたプローブ、１２はこのプローブ１１よ
り得られる信号を電圧レベル信号として検出し、更にこ
の信号を実数成分Ｅｒ（ｘ）と虚数成分Ｅｉ（ｘ）に分
割し出力する信号処理回路、１３はプローブ１１の移動
位置を検出するプローブ挿入位置検出器、１４は外部構
造物の影響で検出される例えば支持板信号Ｂ （ｘ）、
管板信号Ｐ（ｘ）等の実数および虚数の不要信号が予め
検査時に於けるプローブ１１の移動方向順（ｘ）に従っ
て順次格納された記憶部、１５は上記プローブ挿入位置
検出器１３の出力に応じたタイミングをもって記憶部１
４を順次アクセス制御し、プローブ位置に対応した不要
信号を順次読出し制御するための記憶制御部、１６ａは
信号処理回路１２より得られる実数成分の信号と記憶部
１４より読出される実数データとを比較演算する第１の
演算回路、１６ｂは信号処理回路１２より得られる虚数
成分の信号と記憶部１４より読出される虚数データとを
比較演算する第２の演算回路、１７はこれら第１、第２
の演算結果値を複素表示する表示装置である。
ブコイルを備えたプローブ、１２はこのプローブ１１よ
り得られる信号を電圧レベル信号として検出し、更にこ
の信号を実数成分Ｅｒ（ｘ）と虚数成分Ｅｉ（ｘ）に分
割し出力する信号処理回路、１３はプローブ１１の移動
位置を検出するプローブ挿入位置検出器、１４は外部構
造物の影響で検出される例えば支持板信号Ｂ （ｘ）、
管板信号Ｐ（ｘ）等の実数および虚数の不要信号が予め
検査時に於けるプローブ１１の移動方向順（ｘ）に従っ
て順次格納された記憶部、１５は上記プローブ挿入位置
検出器１３の出力に応じたタイミングをもって記憶部１
４を順次アクセス制御し、プローブ位置に対応した不要
信号を順次読出し制御するための記憶制御部、１６ａは
信号処理回路１２より得られる実数成分の信号と記憶部
１４より読出される実数データとを比較演算する第１の
演算回路、１６ｂは信号処理回路１２より得られる虚数
成分の信号と記憶部１４より読出される虚数データとを
比較演算する第２の演算回路、１７はこれら第１、第２
の演算結果値を複素表示する表示装置である。
ここで作用を説明すると、プローブ１１の動作で得られ
た信号は信号処理回路１２に供給されて電圧レベルの信
号Ｅｓ（ｘ）となり、更に実数成分Ｅｒ（ｘ）と虚数成
分Ｅｉ（ｘ）とに分割されて出力される。
た信号は信号処理回路１２に供給されて電圧レベルの信
号Ｅｓ（ｘ）となり、更に実数成分Ｅｒ（ｘ）と虚数成
分Ｅｉ（ｘ）とに分割されて出力される。
一方、プローブ１１の移動位置が逐次プローブ挿入位置
検出器１３で検出され、この検出信号に基づいて対応位
置の不要信号データが記憶部１４より順次読出される。
検出器１３で検出され、この検出信号に基づいて対応位
置の不要信号データが記憶部１４より順次読出される。
而して信号処理回路１２より得られた実数成分Ｅｒ（ｘ
）の信号は記憶部１４の読出し時に於いてこの記憶部１
４より読出された実数データと共に第１の演算回路１６
ａに供給されてその都度比較演算され、また信号処理回
路１２より得られた虚数成分Ｅｉ（ｘ）の信号も同様に
記憶部１４より読出された虚数データと共に第２の演算
回路１６ｂに供給されてその都度比較演算される。
）の信号は記憶部１４の読出し時に於いてこの記憶部１
４より読出された実数データと共に第１の演算回路１６
ａに供給されてその都度比較演算され、また信号処理回
路１２より得られた虚数成分Ｅｉ（ｘ）の信号も同様に
記憶部１４より読出された虚数データと共に第２の演算
回路１６ｂに供給されてその都度比較演算される。
従って上記演算回路１６ａ、１６ｂからは、探傷信号か
ら支持板信号Ｂ（ｘ）、管板信号Ｐ（ｘ）等の不要信号
成分を除去した信号成分、すなわち欠陥信号のみを含む
演算出力信号５ｒ（ｘ）。
ら支持板信号Ｂ（ｘ）、管板信号Ｐ（ｘ）等の不要信号
成分を除去した信号成分、すなわち欠陥信号のみを含む
演算出力信号５ｒ（ｘ）。
５ｉ（ｘ）が出力される。
而してこの第１１第２の演算回路１６ａ、１６ｂより出
力された信号５ｒ（ｘ）。
力された信号５ｒ（ｘ）。
５ｉ（ｘ）は表示装置１７に供給さへ複素表示される。
これにより、支持板、管板等の外部構造物の影響で現わ
れる不要信号を除去した被検出管のみに対する欠陥の認
識表示がなされ、従って検出されたデータの評価に経験
を要せず、しかも簡単かつ迅速に被検査管の渦電流探傷
データ評価を行なうことができる。
れる不要信号を除去した被検出管のみに対する欠陥の認
識表示がなされ、従って検出されたデータの評価に経験
を要せず、しかも簡単かつ迅速に被検査管の渦電流探傷
データ評価を行なうことができる。
また上記プローブ１１並ひにプローブ挿入位置検出器１
３の信号をアナログ式磁気テープ等に記録しておき、任
意時にこの記録信号を再生してこの再生信号を信号処理
回路１２および記憶制御部１５に供給することにより、
所望時に於いて上記同様のデータ評価ができる。
３の信号をアナログ式磁気テープ等に記録しておき、任
意時にこの記録信号を再生してこの再生信号を信号処理
回路１２および記憶制御部１５に供給することにより、
所望時に於いて上記同様のデータ評価ができる。
以上詳記したようにこの発明によれば、被検査体に沿っ
てプローブコイルを移動させ被検査体の状態に応じで変
化するプローブコイルのインピーダンス変化から被検査
体の欠陥を検出する渦電流探傷方式に於いて、上記被検
査体に付随しで設けられる外部構造物の影響による不要
信号データを予め記憶部に格納しておき、この記憶部に
格納された不要信号データを上記プローブコイルの移動
位置に伴い順次読出して、この読出しデータと上記プロ
ーブコイルより得られる信号との回路演算により、不要
信号を除去した探傷信号を自動的に得る構成としたこと
により、被検査体の欠陥部が外部構造物と同一位置上に
存在しでいる場合に於いても欠陥のデータ評価が経験を
要せず簡単かつ迅速に行なえる渦電流探傷方式が提供で
きる。
てプローブコイルを移動させ被検査体の状態に応じで変
化するプローブコイルのインピーダンス変化から被検査
体の欠陥を検出する渦電流探傷方式に於いて、上記被検
査体に付随しで設けられる外部構造物の影響による不要
信号データを予め記憶部に格納しておき、この記憶部に
格納された不要信号データを上記プローブコイルの移動
位置に伴い順次読出して、この読出しデータと上記プロ
ーブコイルより得られる信号との回路演算により、不要
信号を除去した探傷信号を自動的に得る構成としたこと
により、被検査体の欠陥部が外部構造物と同一位置上に
存在しでいる場合に於いても欠陥のデータ評価が経験を
要せず簡単かつ迅速に行なえる渦電流探傷方式が提供で
きる。
図はこの発明の一実施例を示すブロック構成図である。
１１・・・・・・プローブ、１２・・・・・・信号処理
回路、１３・・・・・・プローブ挿入位置検出器、１４
・・・・・・記憶部、１５・・・・・・記憶制御部、１
６ａ、１６ｂ・・・・・演算回路、１７・・・・・・表
示装置。
回路、１３・・・・・・プローブ挿入位置検出器、１４
・・・・・・記憶部、１５・・・・・・記憶制御部、１
６ａ、１６ｂ・・・・・演算回路、１７・・・・・・表
示装置。
Claims (1)
- １ 被検査体に沿ってプローブコイルを移動させ被検査
体の状態に応じで変化するプローブコイルのインピーダ
ンス変化から被検査体の欠陥を検出する渦電流探傷方式
に於いで、上記被検査体に付随して設けられる外部構造
物の影響による不要信号データを予め記憶部に格納して
おき、この記憶部に格納された不要信号データを上記プ
ローブコイルの移動位置に伴い順次読出しで、この読出
しデータと上記プローブコイルより得られる信号との回
路演算により、不要信号を除去した探傷信号を得る構成
としたことを特徴とした渦電流探傷方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2072276A JPS5841463B2 (ja) | 1976-02-27 | 1976-02-27 | 渦電流探傷方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2072276A JPS5841463B2 (ja) | 1976-02-27 | 1976-02-27 | 渦電流探傷方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS52104286A JPS52104286A (en) | 1977-09-01 |
| JPS5841463B2 true JPS5841463B2 (ja) | 1983-09-12 |
Family
ID=12035050
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2072276A Expired JPS5841463B2 (ja) | 1976-02-27 | 1976-02-27 | 渦電流探傷方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5841463B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4194149A (en) * | 1977-12-15 | 1980-03-18 | The Babcock & Wilcox Company | Method for generating the eddy current signature of a flaw in a tube proximate a contiguous member which obscures the flaw signal |
| JPS57207858A (en) * | 1981-06-17 | 1982-12-20 | Nippon Steel Corp | Hot flaw detecting method of metallic material |
| JPS6082851A (ja) * | 1983-10-12 | 1985-05-11 | Kobe Steel Ltd | 管材診断装置 |
| JPS61265268A (ja) * | 1985-05-21 | 1986-11-25 | Mazda Motor Corp | 研削異常検出装置 |
-
1976
- 1976-02-27 JP JP2072276A patent/JPS5841463B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS52104286A (en) | 1977-09-01 |
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