JPS60146149A - 渦流探傷法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は雑音信号に影響されずに探傷できる渦流探傷法
及びその実施に使用する装置に関する。

〔従来方法〕

厚鋼扱２熱延鋼板等の素材となるスラブ鋳片の多くは連
続鋳造プロセスにより鋳造される。近年省エネルギー施
策の一環として、これらスラブ鋳片を鋳造後、熱・温片
のまま次工程の加熱炉に装入して加熱炉での燃料の節約
をＢする、いわゆるポットチャージプロセスが鋼板製造
工程の１つとして採用されている。

しかしこのホットチャージプロセスの適用には限度があ
る。即ちボットチャージプロセスを実施した場合には、
鋳造されたスラブ鋳片に疵が存在するときでも疵を除去
せずそれをそのまま加熱炉に装入した後圧延するため、
圧延後の鋼板にその疵を原因とする表面疵が残存するこ
とがあり、疵の発生が多いと予想される鋳片には適用し
難い。

これを可能とするには、表面疵を形成する疵を有するス
ラブ鋳片を加熱炉にそのまま装入するのを防止すべくス
ラブ鋳片を熱・温間の段階で正確に疵の有無を判定する
必要があり、このために熱間探傷法が意欲的に開発され
ている。そして例えばタテワレのように疵が大きいもの
は光学的に探傷する方法が実用化されているが、一方ヒ
ビヮレ。

コーナーワレ等の疵についてはその疵長さが短いため光
学探傷法では検出が困難である。このため微少な疵を検
出するに適した渦流探傷法による検出が種々考えられて
いる。

ところが連続鋳造鋳片にはオンシレージョンマークが多
く、またヒビワレ、コーナーワレ等はオンシレージョン
マークの谷部に沿って発生することが多いので、オンシ
レージョンマークの存在による雑音が検出信号に混入し
て疵を検出することが困難である。この雑音の信号を排
して疵信号を得る方法としては自己比較方式９位相弁別
力式等がある。

自己比較方式は２ＩＩＭのプローブコイルを並設し、両
者の出力差を利用して探傷する方式であり、例えば第１
図に示す如くスラブ鋳片１ａ表面上のオンシレージョン
マーク聞のピッチに関連づ番ノで２個のプローブコイル
１０１．１０２を配して探傷する場合には、オンシレー
ジョンマークに因る雑音信号が差動増幅にて相殺されて
疵信号のみが残る筈であるが、オンシレージョンマーク
の深ざは一定でなく、０．２＋＋ｍ程度の浅いものから
２１１１程度の深いものまで不規則であるためオンシレ
ージョンマークに因る信号（以下オンシレージョンマー
ク信号という）が両コイル１０１，１０２にて相異し、
所期の効果が得られない。

位相弁別方式は第２図（ａ）に示す信号軌跡（Ｘ軸を実
数部としＹ軸を虚数部とするインピーダンス複素平面−
ベクトル平面にてあられし）こもの）の検出したい信号
（疵信号）Ａと不要な信号（オンシレージョンマーク信
号）Ｂとの位相角度差θを利用し、第２図（ｂｌに示す
如（不要な信号ＢがＹ′輪軸上表されるように位相回転
せしめ、Ｘ′成分出力を抽出する。つまり不要信号Ｂの
Ｘ′酸成分小さくするのに対し、逆に検出したい信号Ａ
のＸ′酸成分太き（してＸ′成分出力の両信号出力差を
大きくして信号Ｂによる影響を除去して信号Ａを検出す
る方式である。

この位相弁別方式の渦流探傷法は位相角度差が小さい場
合には有効ではない。この位相角度差についてはプロー
ブコイルに通流させる周波数により第３図に示すように
影響を受ける。

第３図は磁気変態点以上の高温の鋼と類似した電磁気特
性を冷間で示ずオーステナイト系ステンレス（ＳｔｌＳ
　３０４　）のスラブ鋳片に加工した人工疵とオンシレ
ージョンマークに因る信号の位相角度差θの試験周波数
依存性を示している。この図より理解される如く周波数
を変化させ、位相角度差θを大ならしめようとしてもθ
は高々２０’程度であり、位相弁別方式の場合であって
も人工疵の信号とオンシレージョンマーク信号との弁別
が困難である。

また一般に、第４図に示す如くオンシレージョンマーク
が深くなるとその信号Ｂの振幅が増大し、信号ＢをＹ′
軸に一致させんとしてもＸ′成分出力で両信号を弁別で
きない。

そこで不要な信号を消去して検出したい信号のみを抽出
して得る方法として多周波を用いる渦流探傷法の採用が
考えられる。この方法は複数の周波数の電流をプローブ
コイルに重畳して印加し、各周波数別に信号を検出し、
各周波数の信号の処理により必要な信号と不要な信号と
を分離する方法である。この多周波法のうら信号演算方
法は次のような原理に基づくものである。周波数ｆ１で
得られた不要信号Ｂ１　（第５図（ａ）〕と、周波数［
２で得られた不要信号Ｂ２　（第５図（ｂ）〕とを〕同
一振幅、同−位となるように周波数ｆ２成分の位相。

振幅を制御して信号Ｂ２　′　〔第５図（Ｃ）〕を冑、
信号Ｂ　１　＋　８２　′を減算処理して不要信号Ｂ　
ｌ　＋　Ｂ　２を消去してその成分を零とし又は微少な
信号Ｂ〔第５図（ｄ）〕とするものである。このため信
号Ａ１とＡ２　′が略等しい場合には減算処理により必
要な信号Ａ１．Ａ２　’も微少な信号Ａ〔第５図（ｄ）
〕となる。従ってこの演算法は信号Ａ１とＡ２’の振幅
或いは位相が異なっていることが前提条件である。

しかしながらこの信号演算方法を用いてスラブ鋳片の表
面疵を探傷することは、以下の理由によりその通用が困
難である。まず第１の理由として次のことが挙げられる
。即ち信号／’ｚ　、Ａ２　’の位相を相異せしめるた
めにはＢｓ　、　Ｂｚ　’とＡＨ。

Ａ２　′夫々との位相角度の差を大きくするのが望まし
く、このためには第３図より理解される如く周波数ｆ、
、ｆ２を大きく異ならしめるのが良い。

しかしながら疵検出を可能とするには周波数の下限が規
定され、また使用２周波数の差を大きくすべく高周波数
値を定めたとしてもＡ１とＢｌ又はＡ２　′とＢ２　′
との位相角度差が高々２０°程度しか相異せず、実際的
ではない。

第２の理由としては、周波数ｆ１とｆ２で得られる疵信
号とオンシレージョンマーク信号との各振幅比が周波数
に拘わらす略一定であり、その差が１０％以内と小さい
ためである。

これらの理由により２周波法を用いた信旬・演算方法で
は疵信号のみを満足に抽出できなＧ１゜多周波渦流探傷
方法に関し、Ｔ、Ｊ、Ｄａｖｉｓ　＆よ”　ＭｕｌＬｉ
ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ　Ｅｄｄｙ　Ｃｕｒｒｅｎｔ　Ｉｎ
５ｐｅｃｔｉｏｎ　ｗｉｔｂＣｏｎｔｉｎｕｏｕｓ　Ｗ
ａｖｅ　Ｍｅｔｈｏｄｓ＋””Ｍａｔｅｒｉａｌｓ　Ｅ
ｖａｌｕａｔｉ−ｏｎ　Ｊａｎ、（１９８０）　Ｐ６２
〜Ｐ６８にて加圧水型原子炉伝熱管の供用ル］間中での
検査におし１て２周波渦ｉ％Ｅ探傷法を既に実用化して
いることを報告してむする。

この方法は２周波数ｆｌ、ｆ２？こで汚た信−υ（１つ
の必要な信号成分と２つの不要な信号成分）を第６図に
示すように、周波数１１の信号成分の直交成分（Ｘ＋、
）’＋）を位相回転器１１１６コ、Ｊ７，１波数１２の
信号成分の直交成分（Ｘ２．ｙ２）を位相回転器１ｉ３
に夫々与え、位相回転器１１１の出力信号の一方を位相
回転器１１４に、他方を位相回転器１１２に夫々与え、
また位相回転器１１３の出力信号の一方を位相回転器１
１５に、他方を位相回転器１１２に夫々与え、位相回転
器１１２の出力信号の直交成分の一方を位相回転器１１
４及び１１５に出力し、更に位相回転器１１４．１１５
夫々の信号を位相回転器１１６へ出力してここで直交成
分（Ｘ、Ｙ）を得る方法であり、各位相回転器の回転位
相を調節することにより必要成分信号を抽出し得るとし
てし）る。

本願の第１の発明はこの２周波渦流探傷法の原理を利用
してオンシレージョンマーク信号と疵信号とを分離し得
るようにしたものである。

ざてスラブ鋳片においては、ヒビワレ、コーナーワレ等
の疵は第７図に示す如くオ・ノシレーションマークの谷
部に存在することが多く、その場合には第１発明では十
分であるとは言えない。つまり第１発明によるも、オン
シレージョンマーク信号と疵信号が重畳されて第８図に
示す如き両信号の合成した複合信号りとなって明確な分
離が困難である。また検出信号の大きさは疵、オ・ノシ
レーションマーク等四部の断面積に依存する性質があり
、一般にオンシレージョンマークの断面積は疵の断面積
より大きく、このためオ・ノシレーションマーク信号Ｂ
〔第９図（ａ）〕に対して疵信号Ａ〔第９図（ｂ）〕が
著しく小さくなる。

従ってこのような理由により疵がオンシレージョンマー
クの谷部に存在する場合の複合信号りの振幅と疵が無い
オンシレージョンマークのみの信号Ｂの振幅とが似通っ
て両者に顕著な差が認められないということになる。

本願の第２の発明はこの問題を動態な信号処理によって
解決せんとしたものである。

〔目　的〕

本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、その
第１の目的とするところはオンシレージョンマークの存
在又はリフトオフ量の変動等プローブコイルと被検査材
表面との距離の変動による雑音信号を、疵信号と分離識
別できる渦流探傷法を提供するにある。

本願発明の第２の目的は連続鋳造鋳片のオンシレージョ
ンマークの谷部中にある疵についてもその疵を確実に検
出し得る渦流探傷法及びその実施に使用する装置を提供
するにある。

〔構　成〕

本発明に係る渦流探傷法は、プローブコイルと被検査材
表面との距離の変動に因る雑音信号及び疵信号が検出さ
れる渦流探傷法において、２つの相異なる周波数の電流
を前記プローブコイルに通電せしめ、検出信号の一方の
周波数成分の雑音信号成分と、他方の周波数成分の疵信
号成分とを各周波数成分のベクトル平面にて一方の直交
軸に一致させるべく検出信号の各周波数成分の一方又は
両方を位相回転し、前記一方の周波数成分の雑音信号成
分に直交する成分及び前記他方の周波数成分の疵信号成
分に直交する成分を抽出し、抽出した両成分を新たなベ
クトル平面にて直交せしめ、その信号軌跡に基づき疵信
号と雑音信号とを弁別することを特徴とし、更に新たな
ベクトル平面にて直交せしめられた各直交成分の最大値
と最小値との差の比により疵信号と雑音信号とを弁別す
ることを特徴とする。

〔実施例〕

以下本発明を図面に基づき具体的に説明する。

第１０図は本発明方法を実施するための装置を示すブロ
ック図であり、図中１は連続鋳造された後〜図示しない
ピンチロールにより矯正され、連続鋳造ラインを白抜矢
符方向へ水平移送されている高温の連続鋳造鋳片である
。鋳片１の上側には自己誘導タイプのプローブコイル５
ａ、５ｂが取イ］げられており、このプローブコイル５
ａ、５１＋は水冷されている。プローブコイル５ａ　＋
　５　ｂはブリッジ５を構成する４辺のうちの２辺であ
り、発振器２，３夫々の周波数ｆ、ｆ２の出力はこれら
を混合する周波数混合器４を介してブリッジ５へ与えら
れている。

プローブコイル５ａ、５ｂのインピーダンスは鋳片１の
表面状態によって変化し、これによるブリッジ５の不平
衡電流はフィルター６．７へ送られ、ここで周波数ｆ、
に基づく成分の信号ｆ１　′と周波数ｆ２に基づく成分
の信号ｆ２　′とに分離される。

分離された信号ｆＩ　’＋　１２　′は夫々増幅器８゜
９へ送られて増幅され、増幅信月は検波器１０．１１へ
送られる。検波器１０．１１には発振器２，３夫々から
同期信号が与えられており、検波器１０．１１は増幅器
８，９からの信号を同期検波し、夫々の検波信号を位相
回転器１２．１３へ入力する。周波数ｆ１の信号は第１
１図ｔａ＋に示すように直交座標系（Ｘ、。

ｙ＋）のベクトル平面に必要信号Ａ１．不要信号Ｂ１が
現れるものであり、周波数ｆ２の信号は第１１図（ｂ）
に示すように直交座標系（Ｘ２１）’２）のベクトル平
面に必要信号Ａ２＋不要信号Ｂ２が現れるものである。

位相回転器１２は信’ｆｆＡｓ　ｒ　Ｂ　ｓをＢ、がｙ
、′軸上に位置するように位相回転し、位相回転後の信
号、つまり（Ｘ＋　’ｒ　１１　’）平面上の信号Ａ＋
　’、Ｂｌ　’　（第１２図（ａ）〕のｘ１　′成分を
位相回転器１４へ入力する。一方の位相回転器１３は信
号Ａ２　、Ｂ２をＡ２がｙ２　′軸上に位置するように
位相回転し、位相回転後の信号、っまり（Ｘ２　’＋　
ｙ２　’）平面上の信号Ａ２　’＋　８２　’〔第１２
図（ｂ）〕の×２　′成分の信号を位相回転器１４へ入
力する。

位相回転器１４ば入力信号、っまりｘｔ′成分及びｘ２
　′成分の信号を更に位相回転せしめて各信号を新たな
ベクトル平面（Ｘ、Ｙ）のＸ、Ｙ軸方向にて直交するよ
うにする。

このようにして得られた第１２図（Ｃ１に示す信号は、
必要信号Ａ％と不要信号Ｂ２　′とをそれらのなす位相
角度差を直角に拡大してなる信号Ａ、Ｂとなる。このよ
うに直角にすると両信号の分離識別が容易となり疵信号
に相当Ｊ゛る必要信号への大きさを読むことによって疵
の存否、大きさを知ることが可能となる。

第１の発明は位相回転器１４出力を利用するにあるが、
第２の発明ではまた位相回転器１４出力をＸ成分コンパ
レータ１５．　Ｙ成分コンパレークＩ６に与える。コン
パレータ１５．１６には予め基準値が設定されており、
この基準値以上の信号が入力された場合にその入力信号
、ここではｘ、ｙ成分人々の信号をＸ成分最小値検出回
路１７及び最大値検出回路１８．Ｙ成分最小値検出回路
１９及び最大値検出回路２０へ与える。Ｘ成分最小値検
出回路１７．Ｙ成分最小値検出回路１９及びＸ成分最大
値検出回路１８゜Ｙ成分最大値検出回路２０ば入力信号
の最小値、最大値を検出して保持するものである。

リセット回路２５は発振器２，３から出力される周波数
又はプローブコイル５ａ、５ｂと鋳片１との相対移動速
度に基づいて定めた時間ごとに各検出回路１７．１８．
１９．２０にリセット信号を発して、先のリセット信号
以来のＸ成分の最大値、最小値を差動増幅器２１へ、Ｙ
成分の最大値、最小値を差動増幅器２２へ出力せしめ、
差動増幅器２１．２２はＸ成分。

Ｙ成分夫々の最大値−最小値（ΔＸ及びΔＹ）を算出し
、その差信号ΔＸ、ΔＹを夫々除算器２３へ送る。除算
器２３はΔＸ／ΔＹの演算を行い、商信号ΔＸ／ΔＹを
判定回路２４へ入力する。

判定回路２４はこれに設定されている比較比率と入力値
とを比較して入力値が設定値を超える場合には有害疵が
存在すると判定して所定の出力を発する。

次に本発明の雑音信号と疵信号との弁別原理と位相回転
器１２．１３．１４の位相調整につき説明する。

検出器１０で得られた信号ｆ１１が位相回転器１２によ
り位相回転されて得られたくＸ□　’＋ｙ１　′）平面
での位相角度差がθ１の疵信号ＡＨ’とオンシレージョ
ンマーク信号Ｂ１　′　〔第１３図（ａ）〕　とをベク
トルで；Ｒ，′３−と、人々のへクトルＡ１　’　、１
３Ｈ’ニソトベクトル となる。検波器１１で得られた信号ｆ２　′にお＆ｊる
（ｘ２　＋　ｙ２　）平面での位相角度差がθ２の疵信
号Ａ２とオンシレージョンマーク信号１３２〔第１３図
（ｂ）〕　とをベベクトルで表すと、△ Ａ２　＝Ａ２　ｓｉｎ　（α十θ２）ｘ２△ 十、Ａ２ｃｏｓ（α＋θ２　）　ｙ　２　−（３）Ｂ２
−Ｂ２　ｓｉｎα会＋　Ｂ　２　ｃｏｓ　ａ会・（４）
但し、Ｇ　ｌ　ｎはＸｉ！＋７２軸のユニットベクトル
、αはｙ２軸とＢ２とのなず角 となる。（Ｘ２　＋　３’２　）平面を位相回転器１３
により角度φだけ座標回転すると、回転後の（Ｘ２　’
＋＾ Ａ２　’　＝Ａ２　ｓｉｎ　（α＋φ＋θ２）Ｘｒへ ＋Ａ２Ｃ０５（α＋φ十θ２）ｙ２ となる。

位相回転器１４へ入力される信号ＸＩ’＋Ｘ２　′であ
る。位相回転器１４にてｒとＷを直交させるにはＡ−Ｂ
＝０となるようにすれば良いが、その条件はφ−−α若
しくはφ＝−（α十θ２）である。

第１３図（ｂｌから理解されるように位相回転器１４を
調整してＢ２がｙ２軸上となるように設定すればφ＝−
αを満足し、またＡ２をｙ２軸上に設定すればφ＝−（
α＋０２）を満足する。゛しかしながら信号Ａ、Ｂは実
際には直線ベクトルではなく８字形軌跡である。このよ
うな実際の波形を考慮してφ＝−α、φ−一（α十０２
）の回転操作後の波形をシミュレートしてめた信号を夫
々第１４図、第１２図に示す。φ−−αの場合には信号
Ａ１　′。

８１　′　〔第１４図（ａ）〕の位相角度が信号Ａ２’
、Ｂ２〔第１４図（ｂ）〕のそれに近接するに伴って演
算結果の信号Ａ、　Ｂ　［第１４図（Ｃ）〕の位相角度
差は小さくなって弁別が困難となるが、チー−（α−１
−０２）の場合には信号Ａ１　’、Ｂ１　’及び信号Ａ
２′。

８２　′の各位相角度差が小さいときであっても第１２
図ｆｃ）に示した如（信号Ａ、Ｂが直交して疵信号とオ
ンシレージョンマーク信号とを良好に弁別できる。

このため本発明においては、位相回転器１４の回転操作
には後者の条件を用いており、従って本発明は庇部がオ
ンシレージョンマークの谷部に存在しない場合には位相
回転器１４出力を利用して庇部を良好に検出できる。即
ら疵が存在する場合には信号ＡのＸ方向の値で存否、大
きさにより検出できるからである。

さてオンシレージョンマークの谷部に疵が存在する場合
には第９図（Ｃ）に示した如くその検出軌跡は重なった
ものとなっており、オンシレージョンマークのみを検出
した軌跡〔第９図（ａ）〕　と殆ど変化ないが、疵の大
きさ、つまり疵信号の大きさに応じて位相角度が異なる
と共にＸ成分が増大し、Ｙ成分が減少したものとなる。

そこで本願の第２の発明は８字形軌跡のＸ成分の最大値
−最小値ΔＸ〔第９図（Ｃ）〕をＹ成分の最大値−最小
値ΔＹ〔第９図（Ｃ）〕で除したΔＸ／ΔＹ値により疵
の存否を判定することとする。

なおオ・ノシレーションマーク信号が表面の凹凸に起因
したプローブコイル・鋳片間の距離変動に基づく信号で
あり、またこの距離変動はプローブコイルの揺動或いは
鋳片１の搬送時の上下動等に起因するりフトオフ変動と
本質的に同じものであるので、本発明はリフトオフ変動
に関する信号と表面疵信号とを弁別する場合にも適用で
きることは勿論である。

また上記説明ではΔＸ、ΔＹに関する信号処理をアナロ
グ的に行っているが本発明はディジタル的に処理して良
い。

〔効　果〕

次に実施例に基づき本発明の効果につき説明する。第１
表は２１深さのオンシレージョンマークのみの部分と、
同深さのオンシレージョンマークの谷部に深さが２鶴の
疵が存在する部分とを本発明により探傷し、探傷したと
きの１ｉｆｔ跡のＸ成分振幅に関し後者を前者で除した
Ｘ成分振幅比及びΔＸ／ΔＹ値に関し後者を前者で除し
たΔＸ／ΔＹ値の比を示している。なお比較のために従
来法（単周波法）の場合も併せて示している。

第１表 この表より理解される如く、Ｘ成分振幅比について従来
法の場合にはその値が１．３であったのが本発明により
その値が２．２となり、この処理によって疵を判定でき
本願の第１発明の効果が明白であり、更にΔＸ／ΔＹ値
の比により判定した場合には従来法によるときのその値
が１．１であったものが本発明によりその値が４．０と
なり、オンシレージョンマークの谷部に疵が存在すると
きにあってもＸ成分振幅比によるよりも正確に疵を判定
できる。

以上詳述した如く本発明は３個の位相回転器を用いて雑
音信号と疵信号とを１交させ、更には検出軌跡のＸ成分
幅とＹ成分幅との比により探傷するので、疵がオンシレ
ージョンマークの谷部等の雑音が生しる箇所に存在する
場合であっても正確に疵を検出でき、またこの疵検出が
連続鋳造時に可能であるためホットチャージプロセスに
よる場合であっても、不良鋳片を手入れ工程に別送りす
ることにより圧延後の製品歩留の向上が計れる等価れた
効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図、第２図は従来法の説明図、第３図は周波数と位
相角度差との関係を示すグラフ、第４図はオンシレージ
ョンマーク深さと疵信号との関係説明図、第５図は多周
波を用いる信号演詐方法の原理説明図、第６図は２周波
渦流探傷法の原理説明図、第７図は庇部がオンシレージ
ョンマークの谷部に存在する場合を示す模式図、第８図
はそのときの検出軌跡、第９図は２周波渦流探傷法を用
いた場合の問題説明図、第１０図は本発明方法を実施す
るための装置を示すブロック図、第１１図、第１２図、
第１３図及び第１４図は本発明の原理説明に使用する図
である。 １・・・連続鋳造鋳片　２，３・・・発振器　５ａ、５
ｂ・・・プローブコイル　１２．１３．１４・・・位相
回転器　１７・・・Ｘ成分最小値検出回路　１８・・・
Ｘ成分最大値検出回路１９・・・Ｙ成分最小値検出回路
　２０・・・Ｙ成分最大値検出回路　２１　、２２・・
・差動増幅器　２３・・・除算器特　許　出願人　住友
金属工業株式会社代理人　弁理士　河　野　登　大 事　１　図 、　、１　）　（ｂ） 第　２　図 問シ罠報 第　３　図 Ｙ′ 第４図 （ａ）　（ｂ） （Ｃ）　（ｄ） Ｑ ７Ｋ　ら　しろ Ｙ′ 第　１′２　図 第　１３　図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、　プローブコイルと被検査祠表面との距離の変動に
   因る雑音信号及び疵信しが検出される渦流探傷法におい
   て、２つの相異なる周波数の電流を前記プローブコイル
   に通電−Ｕしめ、検出信号の一方の周波数成分のに１１
   音信号成分と、他方の周波数成分の疵信υ−成分とを各
   周波数成分のベクトル平面にて一方の直交軸に一致させ
   るべく検出信号の各周波数成分の一方又は両方を位相回
   転し、前記一方の周波数成分の雑音信号成分に直交する
   成分及び前記他方の周波数成分の疵信号成分に直交する
   成分を抽出し、抽出した両成分を新たなベクトル平面に
   て直交セしめ、その信男軌跡に基づき疵信号と雑音信号
   とを弁別することを寸、１徴とする渦流探傷法。 ２、　プローブコイルと被検査祠表面とのｆ（ｌ情１ｔ
   の変動に因る雑音信号及び７ｉｉＥ信号が検出される渦
   流探傷法において、２つの相異なる周波数の電流を前記
   プローブコイルに通電せしめ、検出信号の一方の周波数
   成分の雑音信号成分と、他方の周波数成分の疵信号成分
   とを各周波数成分のベクトル平面にて一方の直交軸に一
   致させるべく検出信号の各周波数成分の一方又は両方を
   位相回転し、前記一方の周波数成分の雑音信号成分に直
   交する成分及び前記他方の周波数成分の疵信号成分に直
   交する成分を抽出し、抽出した両成分を新たなベクトル
   平面にて直交せしめ、その信号軌跡の各直交成分の最大
   値と最小値との差Ｑ比により疵信号と雑音信号とを弁別
   することを特徴とする渦流探傷法。 ３．２周波による渦流探傷装置において、各周波数成分
   を分離する検波器と、検波された各周波数成分の位相回
   転器と、これらの位相回転器の出力の船足位相成分を入
   力とする位相回転器と、該位相回転器出力の直交する２
   成分夫々の最大値及び最小値を検出する回路と、両成分
   の最大値と最小値との羞及びこれらの差の比を演算する
   演算回路とを具備することを特徴とする渦流探傷装置。