JPS5817354A - 多重周波数渦流探傷による管材検査法 - Google Patents
多重周波数渦流探傷による管材検査法Info
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- JPS5817354A JPS5817354A JP9115781A JP9115781A JPS5817354A JP S5817354 A JPS5817354 A JP S5817354A JP 9115781 A JP9115781 A JP 9115781A JP 9115781 A JP9115781 A JP 9115781A JP S5817354 A JPS5817354 A JP S5817354A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、多重周波数渦流探傷による管材検査法に関す
為４のである。
為４のである。
原子カプラント等で用いられる管材は、伝熱管を始めと
して、海水中蒸気等のため、管内面に様々の腐食が進行
していることが多い、一方、こういった内面腐食進行下
で、もし管外面に欠陥が発生すると、その欠陥を起点と
して疲労破壊醇でリークを起こし、大き亀事故につ逐が
ることになる。
して、海水中蒸気等のため、管内面に様々の腐食が進行
していることが多い、一方、こういった内面腐食進行下
で、もし管外面に欠陥が発生すると、その欠陥を起点と
して疲労破壊醇でリークを起こし、大き亀事故につ逐が
ることになる。
ところが、供用期間中、内面腐食進行下で外面欠陥を検
出することは。
出することは。
■ 構造上の理由で内面から腐食部分を経て内挿形によ
ゐ探傷法を採らざるを得ないこと。
ゐ探傷法を採らざるを得ないこと。
■ 内面腐食の形態が様々であゐため、その影響で外面
の情報がかくれてしまうこと。
の情報がかくれてしまうこと。
岬の理由によって、従来は困難とされていた。
近年、原子カプラントの供用期間中検査で注目されてい
為探傷技術の一つとして多重周波数渦流探傷法は、各種
のノイズ要因の低減中重畳した要因の分離、欠陥位置の
推定等で効果が大きいが。
為探傷技術の一つとして多重周波数渦流探傷法は、各種
のノイズ要因の低減中重畳した要因の分離、欠陥位置の
推定等で効果が大きいが。
上記のように管内面に腐食の存在すゐ状態で外面欠陥を
検出する問題に直接適用した例はね＜、また要因の分離
等に適用されていた多重周波渦流探傷の従来技術１例え
ば２周波各出力の比を取る方法中、各周波出力の線形演
算をそのオま用いても、内面腐食の寄与が多様で大きい
ため、外面疵の高精度の検出は望めない。
検出する問題に直接適用した例はね＜、また要因の分離
等に適用されていた多重周波渦流探傷の従来技術１例え
ば２周波各出力の比を取る方法中、各周波出力の線形演
算をそのオま用いても、内面腐食の寄与が多様で大きい
ため、外面疵の高精度の検出は望めない。
本発明は、このような従来の問題点に艦み、周波数の相
違和よって渦電流の浸透深さが異々石ことを利用して、
供用期間中に、管内面に様々の腐食が進行していｂ状態
において、管材の外表面及びその近傍の欠陥を検出する
方法を提供するものであって、その特徴とするところは
、内挿型コイルを用いて管内面にノイズ要因を持つ管材
の外面近傍の欠陥を検査するに際し、渦電流の浸透深さ
が管材の肉厚以上となる試験周波数／Ｌとノイズ要因存
在領域若しくはその近傍以下となゐ試験周波数りとの励
磁電流をフィＪ＆／＃ｃ与え、各試験周波数の位相検波
出力ＲＬ、 ＲＨＫ対して、管内面側からのインピーダ
ンス変化が消去でき石ように予め定めた室数ンを用いて
Ｒｘ、−畑麗を演算し、このＲＬ−ｙＲＩＩ−Ｘ＋Ｙｉ
（但しｉ −Ｊ””Ｔ ”）な、ｉｘ及びＹによッテ形
成される２次元パターンの振幅と位相から欠陥を検出す
る点ＫＴｏ為。
違和よって渦電流の浸透深さが異々石ことを利用して、
供用期間中に、管内面に様々の腐食が進行していｂ状態
において、管材の外表面及びその近傍の欠陥を検出する
方法を提供するものであって、その特徴とするところは
、内挿型コイルを用いて管内面にノイズ要因を持つ管材
の外面近傍の欠陥を検査するに際し、渦電流の浸透深さ
が管材の肉厚以上となる試験周波数／Ｌとノイズ要因存
在領域若しくはその近傍以下となゐ試験周波数りとの励
磁電流をフィＪ＆／＃ｃ与え、各試験周波数の位相検波
出力ＲＬ、 ＲＨＫ対して、管内面側からのインピーダ
ンス変化が消去でき石ように予め定めた室数ンを用いて
Ｒｘ、−畑麗を演算し、このＲＬ−ｙＲＩＩ−Ｘ＋Ｙｉ
（但しｉ −Ｊ””Ｔ ”）な、ｉｘ及びＹによッテ形
成される２次元パターンの振幅と位相から欠陥を検出す
る点ＫＴｏ為。
以下、図示の実施例について本発明を詳述する。
第１図（Ａ） （１） Ｋ示す如く表面に欠陥（１）が
存在し、裏面に欠陥検出Ｏ妨害要因となる腐＊（りが板
厚のｈ以下の領域で存在する被検材〔厚さＴ ） （８
）を対象とし、裏面側に：Ｉイ＊ （４）を配電して表
面の欠陥（１）のみを検出することｋついて考える。被
検材（３）中に発生する渦電流（Ｓ）の浸透深さａは次
式できまる。
存在し、裏面に欠陥検出Ｏ妨害要因となる腐＊（りが板
厚のｈ以下の領域で存在する被検材〔厚さＴ ） （８
）を対象とし、裏面側に：Ｉイ＊ （４）を配電して表
面の欠陥（１）のみを検出することｋついて考える。被
検材（３）中に発生する渦電流（Ｓ）の浸透深さａは次
式できまる。
Ｊ 富 □
４πＩμｍ
但しｌ：試験周波数
μ：被検材の透磁率
Ｃ：被検材の導電率
そこで、Ｊ）Ｔとなるような試験局波数／Ｌと、ａ〈１
４となるような試験周波数りとを選！する。
４となるような試験周波数りとを選！する。
すると第１図（４）に示すように試験周波数九個では。
渦電流（Ｓ）は被検材（３）内に十分浸透し、コイル（
４）側の腐食（りのみならず、表面の欠陥（１）の存在
によっても影響を受け、インピーダンスの変化としてコ
イ＆ （４） Ｋ検知される。一方、同図−）に示すよ
うに試験周波数り側では、渦電流（６）は多くと４被検
材（３）の厚さの半分程度までしか浸透せず、裏面の腐
食（幻によるインピーダンス変化の影響ばかりを受け、
肉厚の半分以下の深さの表面の欠陥（１）の影響は受け
ない。
４）側の腐食（りのみならず、表面の欠陥（１）の存在
によっても影響を受け、インピーダンスの変化としてコ
イ＆ （４） Ｋ検知される。一方、同図−）に示すよ
うに試験周波数り側では、渦電流（６）は多くと４被検
材（３）の厚さの半分程度までしか浸透せず、裏面の腐
食（幻によるインピーダンス変化の影響ばかりを受け、
肉厚の半分以下の深さの表面の欠陥（１）の影響は受け
ない。
以上の特性に基いて２つの試験周波数で同時に渦流探傷
を行なった場合、各周波数の位相検波出力は１次のよう
になる。
を行なった場合、各周波数の位相検波出力は１次のよう
になる。
ＲＬ軍ＤＬ ＋ ＣＬ
Ｒ１１−ＣＭ
但し・印は複素数を意味する。
ｉ）Ｌは／Ｌ Ｋて把えた欠陥（１）の寄与己り、ご翼
は各々／Ｌ 、 ｆｍで把えた腐食（２）の寄４ これらのインピーダンス平面上の各要因をベクトル表示
すれば、第２図■−）に示すようＫなる。
は各々／Ｌ 、 ｆｍで把えた腐食（２）の寄４ これらのインピーダンス平面上の各要因をベクトル表示
すれば、第２図■−）に示すようＫなる。
上記各式において、妨害要因となるＣを消去するために
、２つの周波数の腐食（りの寄与の比ｉ ＝ＣＥ７ａの
代表値を予め求めておき、 ｆ−ｋｔＭ ” ｉＬ；ｍ −ｕＬとして ＲＬ −ｒＲｍ ＝ ＤＬ を得る。従って、第５図に示すように演算結果からは、
腐食（りの要因は少なくと４原理的には除去され、欠陥
成分のみ得られる。実際には、上記のことは１次近似の
成）立つ微小インピーダンス変化に対してのみ’Ｅ Ｌ
＜ 、腐食成分が大きい場合には誤差が生じ、腐食分
を完全に零にはできないし、コイ＆ （４） ０ガダ（
コイルと材料面との間の距離の変化）等の要因も重畳す
る。しかし、演算によって欠陥成分の振幅及び位相は変
化し１にい、このたＪ６． ＲＬ −ｒＲｘ ＝ Ｘ＋
Ｙｉ （但Ｌｉ−ｆｌ）ｅＡＸ−Ｙパターンにして観
察すれば、たとえ、腐食成分が完全に除去されなくと４
．腐食すゐ以前の状態とはソ同様の探傷パターンを得ゐ
ことができる。
、２つの周波数の腐食（りの寄与の比ｉ ＝ＣＥ７ａの
代表値を予め求めておき、 ｆ−ｋｔＭ ” ｉＬ；ｍ −ｕＬとして ＲＬ −ｒＲｍ ＝ ＤＬ を得る。従って、第５図に示すように演算結果からは、
腐食（りの要因は少なくと４原理的には除去され、欠陥
成分のみ得られる。実際には、上記のことは１次近似の
成）立つ微小インピーダンス変化に対してのみ’Ｅ Ｌ
＜ 、腐食成分が大きい場合には誤差が生じ、腐食分
を完全に零にはできないし、コイ＆ （４） ０ガダ（
コイルと材料面との間の距離の変化）等の要因も重畳す
る。しかし、演算によって欠陥成分の振幅及び位相は変
化し１にい、このたＪ６． ＲＬ −ｒＲｘ ＝ Ｘ＋
Ｙｉ （但Ｌｉ−ｆｌ）ｅＡＸ−Ｙパターンにして観
察すれば、たとえ、腐食成分が完全に除去されなくと４
．腐食すゐ以前の状態とはソ同様の探傷パターンを得ゐ
ことができる。
一方、従来の多重周波数渦流探傷では、試験周波数の選
定＃Ｃおいてｈ ／Ｌも／Ｈも共に程度の差はあれ、欠
陥（１）からの寄与を受けるように選定するために・ ＲＬ麿ＤＬ ＋ ｃＬ ＲＨ＝ ＤＭ ＋ ＣＭ 但しんは／Ｈにて把えた欠陥成分の寄与とな如１本発明
と同様にｒ＝ｃｙ、”、としてを得た後、これからｉＬ
−７’Ｒａを求めても、ＤＬ−ｒＤＭが得られるのみで
、結果のパターンが２つの周波数の組合されたものにな
ってしまい、本との単一周波数で想定される欠陥のみの
振幅と位相を求めることができない、を九周波数が比較
的近いと、Ｉ）ｔとＩ）Ｍとは振幅や位相が近い値とな
Ｊ）、Ｄｔ−ｒＤＩＩは小さくなり、残存する他の要因
との間の区別屯し離くなる。
定＃Ｃおいてｈ ／Ｌも／Ｈも共に程度の差はあれ、欠
陥（１）からの寄与を受けるように選定するために・ ＲＬ麿ＤＬ ＋ ｃＬ ＲＨ＝ ＤＭ ＋ ＣＭ 但しんは／Ｈにて把えた欠陥成分の寄与とな如１本発明
と同様にｒ＝ｃｙ、”、としてを得た後、これからｉＬ
−７’Ｒａを求めても、ＤＬ−ｒＤＭが得られるのみで
、結果のパターンが２つの周波数の組合されたものにな
ってしまい、本との単一周波数で想定される欠陥のみの
振幅と位相を求めることができない、を九周波数が比較
的近いと、Ｉ）ｔとＩ）Ｍとは振幅や位相が近い値とな
Ｊ）、Ｄｔ−ｒＤＩＩは小さくなり、残存する他の要因
との間の区別屯し離くなる。
なお試験周波数／Ｈは、その周波数の下限（浸透深さの
上限）が渦電流の浸透深さが腐食（２）存在領域を完全
にカバーする他、その領域の近傍で腐食（２）部分が若
干出る程度であり、その周波数の上限（浸透深さの下限
）は十分高周波でも可能であり、前記周波数の下限より
４高い周波数であればよい。
上限）が渦電流の浸透深さが腐食（２）存在領域を完全
にカバーする他、その領域の近傍で腐食（２）部分が若
干出る程度であり、その周波数の上限（浸透深さの下限
）は十分高周波でも可能であり、前記周波数の下限より
４高い周波数であればよい。
次に上記原理を適用した本発明の管材検査法の実験例を
示す、対象被検材は熱交換器の伝熱管（６）であり、こ
の伝熱管（６）は第４図に示すように、供用期間中に検
査を行なうため、内面には海水によって様々に腐食（γ
）が進行しているが、外側にバッフｙ板がある関係上、
内挿型のコイル（８） （９）を使用し、管内面側よ）
管外表面の縦疵αＱを検出する方法を採る。コイ１ｖ（
８） （９）は自己比較型であって、試験周波数２０Ｋ
Ｈｚと１００ ＫＨ，との励磁電流Ｉで駆動する。コイ
ル（８） （９）はガタ等の配置パラメータが共通にな
るように、第５図の如く同一ボビン（ロ）に同心状に巻
付けると共に、材面上での渦電流の管軸方向の発生範囲
が各周波数と４夫々略等しくなるように１００ＫＨｚ側
のコイル（９）を２０ＫＨｓ側のコイル（８）より４若
干長さを大にしておく、これは、高周波になるほど管軸
方向の応答範囲も狭（なるためである、各コイＡ’ （
８） （９）には、第６図に示すよう忙単−周波数渦流
探傷器（１２１Ｘ１２ｂ）が夫々接続されている。各探
傷器（１２ｍＸ１ｆｆｉｂ）は発振器（ＩＳａＸ１３ｂ
） 、ブリッジ回ＩＩ（１４ａＸ１４ｂ） 、 ／（ン
Ｙ ／（ｘ ７４７％’ Ｊ（１５ａＸ１５ｂ）。
示す、対象被検材は熱交換器の伝熱管（６）であり、こ
の伝熱管（６）は第４図に示すように、供用期間中に検
査を行なうため、内面には海水によって様々に腐食（γ
）が進行しているが、外側にバッフｙ板がある関係上、
内挿型のコイル（８） （９）を使用し、管内面側よ）
管外表面の縦疵αＱを検出する方法を採る。コイ１ｖ（
８） （９）は自己比較型であって、試験周波数２０Ｋ
Ｈｚと１００ ＫＨ，との励磁電流Ｉで駆動する。コイ
ル（８） （９）はガタ等の配置パラメータが共通にな
るように、第５図の如く同一ボビン（ロ）に同心状に巻
付けると共に、材面上での渦電流の管軸方向の発生範囲
が各周波数と４夫々略等しくなるように１００ＫＨｚ側
のコイル（９）を２０ＫＨｓ側のコイル（８）より４若
干長さを大にしておく、これは、高周波になるほど管軸
方向の応答範囲も狭（なるためである、各コイＡ’ （
８） （９）には、第６図に示すよう忙単−周波数渦流
探傷器（１２１Ｘ１２ｂ）が夫々接続されている。各探
傷器（１２ｍＸ１ｆｆｉｂ）は発振器（ＩＳａＸ１３ｂ
） 、ブリッジ回ＩＩ（１４ａＸ１４ｂ） 、 ／（ン
Ｙ ／（ｘ ７４７％’ Ｊ（１５ａＸ１５ｂ）。
増幅器（１６ａＸ１６ｂ）、バンドパスフィルタ（１７
麿Ｘ１７ｂ）、移相器（１８ａＸ１８ｂ）、位相検波器
（１９ａＸ１９ｂ）を備え、その各位相検波器（１９１
Ｘ１９ｂ）の位相検波出力）（ｕ 、 Ｙ＊・及びＸｕ
ｎ ｓ Ｙｘｅｅは次段のＸ％Ｙ演算器（２０ａＸ２０
ｂ） Ｋ送り、表示器（２）ｋよｅｘ−ｙパターンとし
て表示するようになっている。Ｘ演算器（２０ａ）は第
７図に示すように構成されてシＩＹ演算器（２０ｂ）
４１これと略同様の回路構成である。
麿Ｘ１７ｂ）、移相器（１８ａＸ１８ｂ）、位相検波器
（１９ａＸ１９ｂ）を備え、その各位相検波器（１９１
Ｘ１９ｂ）の位相検波出力）（ｕ 、 Ｙ＊・及びＸｕ
ｎ ｓ Ｙｘｅｅは次段のＸ％Ｙ演算器（２０ａＸ２０
ｂ） Ｋ送り、表示器（２）ｋよｅｘ−ｙパターンとし
て表示するようになっている。Ｘ演算器（２０ａ）は第
７図に示すように構成されてシＩＹ演算器（２０ｂ）
４１これと略同様の回路構成である。
検査に際して、各コイｗ （８） （１）を２０ＫＨ，
及び１００に七の試験周波数の励磁電流で駆動すると、
管（６）内部に渦電流（６）が発生する。この時の浸透
範囲は、２０ＫＨｚ側では第４図のＸ印のように肉厚の
全域にわた夛、 １００ＫＨ，側では同図斜線部分で示
すように肉厚の半分以下となる。またコイｐｖ （８）
（９）が同層型であるため、２０ＫＨｚ側のコイＡ／
（８）はコイル（９）から相互インダクタンスによっ
て誘導される１００ＫＨ！成分があるため、プ曽ツＶ出
力信号を２０ＫＨｚバンドパスフイルタ（１５ａ）を通
して１００ＫＨＩ 成分を除去し、２０ＫＨｚ成分の変
化した振幅１位相を各々増幅器Ｃ１６ｍ＞及び移相器（
１８ｍ）で調整し１位相検波器（１９ｍ）に入力する。
及び１００に七の試験周波数の励磁電流で駆動すると、
管（６）内部に渦電流（６）が発生する。この時の浸透
範囲は、２０ＫＨｚ側では第４図のＸ印のように肉厚の
全域にわた夛、 １００ＫＨ，側では同図斜線部分で示
すように肉厚の半分以下となる。またコイｐｖ （８）
（９）が同層型であるため、２０ＫＨｚ側のコイＡ／
（８）はコイル（９）から相互インダクタンスによっ
て誘導される１００ＫＨ！成分があるため、プ曽ツＶ出
力信号を２０ＫＨｚバンドパスフイルタ（１５ａ）を通
して１００ＫＨＩ 成分を除去し、２０ＫＨｚ成分の変
化した振幅１位相を各々増幅器Ｃ１６ｍ＞及び移相器（
１８ｍ）で調整し１位相検波器（１９ｍ）に入力する。
１００ＫＨｚｌ１４１ｉ１様である。各位相検波出力
ＸＩ＠ ％ Ｙ黛＊及びＸｕｎ、Ｙ１＠Ｏは演算器（２
０８Ｘ２０ｂ）に夫々送シ、この各演算器（２０ｓｉＸ
２０ｂ）で前述のような演算を行なってＸ信号及びＹ信
号を求め、表示器＠によりＸ−Ｙパターンとして表示す
る。
ＸＩ＠ ％ Ｙ黛＊及びＸｕｎ、Ｙ１＠Ｏは演算器（２
０８Ｘ２０ｂ）に夫々送シ、この各演算器（２０ｓｉＸ
２０ｂ）で前述のような演算を行なってＸ信号及びＹ信
号を求め、表示器＠によりＸ−Ｙパターンとして表示す
る。
第８図は腐食管の外面に人工欠陥を設けた４のの演算結
果を示す、欠陥は管軸に平行に放電加工したスリット（
０，１’ｘＱ、５ｄｘ１００Ｊ）テアル、 同ＩＮ（ａ
）ハ２０ＫＨｚ Ｉｃ ｋ ケＺ 位相検波出力ＲＬ
４Ｄ Ｘ −Ｙ ハＪｒ −ン、０）は１００ＫＨｚ
Ｋおける位相検波出力ＭＴ１のＸ−Ｙパターン言ｄ）は
演算結果虹−″ｒ１２Ｍ（但しシー１．５）のＸ−Ｙパ
ターンを示す。
果を示す、欠陥は管軸に平行に放電加工したスリット（
０，１’ｘＱ、５ｄｘ１００Ｊ）テアル、 同ＩＮ（ａ
）ハ２０ＫＨｚ Ｉｃ ｋ ケＺ 位相検波出力ＲＬ
４Ｄ Ｘ −Ｙ ハＪｒ −ン、０）は１００ＫＨｚ
Ｋおける位相検波出力ＭＴ１のＸ−Ｙパターン言ｄ）は
演算結果虹−″ｒ１２Ｍ（但しシー１．５）のＸ−Ｙパ
ターンを示す。
第９図は内面腐食のない新しい管材に前記同様の放電加
ニスリットを付した亀の０２０ＫＨｚＫおける位相検波
出力のパターンである。
ニスリットを付した亀の０２０ＫＨｚＫおける位相検波
出力のパターンである。
第８１！！＠と第９図とのパターンの比較からも明らか
なように１本発明によれば、内面腐食のある管材でも、
略新しい管材と同じ状態で位相情報も失なわれずＫＸ−
Ｙ／（ターンを得ることができる。
なように１本発明によれば、内面腐食のある管材でも、
略新しい管材と同じ状態で位相情報も失なわれずＫＸ−
Ｙ／（ターンを得ることができる。
なシ第８図中、（Ｏ）は熱交換器のバッフＡ／板により
信号である。
信号である。
以上実施例に詳述したように本発明によれば。
供用期間中に内面腐食が様々に進行した管材を略新管と
同じ状、態で探傷することが可能である。また腐食成分
尋の雑音要因除去後の結果をＸ−Ｙパターンとして表示
し、しかも外面欠陥の振幅１位相は演算によって影響を
受けないため、位相解析による要因の判定（例えば外面
欠陥と疵手入れ跡との区別）が可能である。ｔた、１０
０ＫＨ！のｘ−Ｙパターンを用いるととによって、内面
の腐食の進行状況を知ることができ外面欠陥の有無とあ
わせて、供用中の管材の総合的な品質判定を行うこと４
可能である。
同じ状、態で探傷することが可能である。また腐食成分
尋の雑音要因除去後の結果をＸ−Ｙパターンとして表示
し、しかも外面欠陥の振幅１位相は演算によって影響を
受けないため、位相解析による要因の判定（例えば外面
欠陥と疵手入れ跡との区別）が可能である。ｔた、１０
０ＫＨ！のｘ−Ｙパターンを用いるととによって、内面
の腐食の進行状況を知ることができ外面欠陥の有無とあ
わせて、供用中の管材の総合的な品質判定を行うこと４
可能である。
第１図は本発明の原理説明図、第２図及び第３図はペタ
トル図、第４図は管材の検査説明図、第５図はフィルの
断面図、第６図は探傷装置のプ四ツタ図、第７図は演算
器の構成図、第８図及び第９図は表示器のパターンを示
す図である。 （８） （１） ＝ ：！ イｖ、（１２ａＸ１２ｂ）
−・単一周波数渦流探傷器、 （１９ａＸ１９ｂ） ｍ
位相検波器、 （２０ｍＸ２０ｂ） ・・・演算器。 緋許出■人 株式会社神戸製銅所
トル図、第４図は管材の検査説明図、第５図はフィルの
断面図、第６図は探傷装置のプ四ツタ図、第７図は演算
器の構成図、第８図及び第９図は表示器のパターンを示
す図である。 （８） （１） ＝ ：！ イｖ、（１２ａＸ１２ｂ）
−・単一周波数渦流探傷器、 （１９ａＸ１９ｂ） ｍ
位相検波器、 （２０ｍＸ２０ｂ） ・・・演算器。 緋許出■人 株式会社神戸製銅所
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、内挿型コイルを用いて管内面にノイズ要因を持つ管
材の外面近傍の欠陥を検査するに際し。 渦電流の浸透深さが管材の肉厚以上となる試験周波数／
Ｌと、渦電流の浸透深さがノイズ要因存在領域若しくは
その近傍以下となる試験周波数りとの励磁電流をスイｆ
ｉ／に与え、各試験周波数の位相検波出力ＲＬ 、 Ｒ
ｗに対して、管内面側からのインピーダンス変化が消去
できるように予め窒めた定数ンを用いてＲＬ −”ｒＲ
ｉを演算し、このｉＬ−ンｆｉｘ ＝ Ｘ＋Ｙｉ （但
Ｌｉ−Ｅ］）すＸｓ Ｘ＆ヒＹによって形成されゐ２次
元パターンの振幅と位相から欠陥を検出することを特徴
とする多重周波数渦流探傷による管材検査法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9115781A JPS5817354A (ja) | 1981-06-12 | 1981-06-12 | 多重周波数渦流探傷による管材検査法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9115781A JPS5817354A (ja) | 1981-06-12 | 1981-06-12 | 多重周波数渦流探傷による管材検査法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5817354A true JPS5817354A (ja) | 1983-02-01 |
Family
ID=14018666
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9115781A Pending JPS5817354A (ja) | 1981-06-12 | 1981-06-12 | 多重周波数渦流探傷による管材検査法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5817354A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPS5233791A (en) * | 1975-09-09 | 1977-03-15 | Commissariat Energie Atomique | Method and device for nonndestructive test by eddy current |
-
1981
- 1981-06-12 JP JP9115781A patent/JPS5817354A/ja active Pending
Patent Citations (1)
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