JPH0381677A - 磁気遮蔽室構成材料の磁気遮蔽性能測定方法及びその測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は、磁気遮蔽室を構成する材料の性能評価、磁
気遮蔽室構築後の性能保証および保守等を行うための磁
気遮蔽性能測定方法及びそれに用いられる測定装置に関
する。

「従来の技術」 従来、コンピュータ機器などが収容された室等において
、室内への外部磁気の侵入を防止するために、室の壁、
天井および床等をパーマロイなどの金属材料で形成し、
磁気遮蔽性能を持たせた磁気遮蔽室が提供されてきてい
る。

ところで、このような磁気遮蔽室構成材料（パーマロイ
など）は、一般に変形や加工に弱く、曲げや穴明けを行
っただけで磁気的性能が大幅に劣化してしまう。

従って、この磁気遮蔽室構成材料の磁気的性能を測定す
るには、材料のひずみを取り去るために行う磁性焼鈍時
に、同一材料で作製したリングコアを同時に燐鈍し、こ
のリングコアの磁気的性能を測定して材料性能としてい
る（ＪＩＳＣ２５３１）。

「発明が解決しようとする課題」 しかしながら、このような従来の測定方法では、磁気遮
蔽室構成材料の磁気的性能を直接測定するわけではない
ので、実際の磁気遮蔽室構成材料が、上記リングコアと
同一の磁気的性能を有するという保証はない。

またパーマロイなどの材料は、−度曲げた後、元に戻し
ても、目視では判らないが、曲げを加えて戻した部分の
磁気的性姥は確実に劣化しており、従来の測定方法では
、このような磁気的性能の劣化を測定することは出来な
かった。

本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、磁気遮蔽
室の構成材料の磁気的性能を直接的に測定することので
きる測定方法の提供を目的としている。

「課題を解決するための手段」 本発明は、環状をなしその一部に切欠部が形成されると
ともに一部コイルおよび二次コイルが各々巻回された磁
性材料からなるリングコアの切欠部を、磁気遮蔽性能を
測定すべき試験体に接触させ、次いで上記一次コイルに
交流電流を流し、二次コイルから見たインピーダンスあ
るいはコイルのインダクタンスを測定し、これらの値に
基づいて上記リングコアとその切欠部に接触された試験
体とから構成された磁気回路のインピーダンス比透磁率
またはインダクタンス比透磁率を算出し、試験体の磁気
遮蔽性能を評価することを、上記課題を解決するための
手段とした。

また、上記磁気遮蔽性能測定方法においては、磁性材料
からなり環状をなすとともに一部に切欠部が形成された
リングコアと、該リングコアに各々巻回された一部コイ
ルおよび二次コイルと、該一次コイルに接続された発振
器および電流計と、上記二次コイルに接続された二次開
放電圧測定用の電圧計あるいはインダクタンス測定器と
を備えた磁気遮蔽性能測定装置が好適に使用される。

以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。

第１図は１２本発明に係わる磁気遮蔽性能測定装置の一
例を示す図であって、この図中符号ｌはリングコア、２
は一部コイル、３は二次コイルである。

このリングコアｌは、環状をなし、周面の一部に平面状
の切欠部４が形成されている。またこのリングコアｌは
、パーマロイなどの高透磁率磁性材料から構成されてい
る。

このリングコアｌには、一次コイル２と二次コイル３と
が各々巻回されている。

この一次コイル２には、正弦波の交流電流を一部コイル
に流し、リングコア目こ交番磁場を励起するための発振
器５（Ｏ２０）と、一次コイル２内を流れる一次電流を
測定するための電流計６が接続されている。

また二次コイル３には、二次コイル３で発生した二次開
放電圧を測定するための電圧計７が接続されている。

またリングコア！の周辺部分には、消磁装置８が配置さ
れており、リングコア１から試験体９を通って外部に漏
れ出す磁力線を消磁するようになっている。

このように構成された磁気遮蔽性能測定装置は、発振器
５から所だの周波数および電圧の交流電流を一部コイル
２に流すと、リングコア１に交番磁場が励起される。こ
の磁場による磁力線１０は、リングコアが完全な環状で
あればリングコア内を通り、外に漏れ出すことはない。

しかし、この装置におけるリングコアｌは、一部に切欠
部４を形成したことにより、この切欠部４の磁気抵抗か
増加し、この切欠部４から磁力線１０が漏れ出すことに
なる。

モして切欠部４に、例えばパーマロイなどの磁性材料を
接触させておくと、切欠部４から漏れ出した磁力線ｌＯ
は、この磁性材料中を通って再びリングコアｌ内に入る
ことができるために、磁気抵抗は切欠部４に磁性材料を
接触させない場合と比べ減少する。この磁気抵抗の減少
度合は、切欠部４に接触させた磁性材料によって異なる
。

また磁性材料の一部に磁気的性能が他部よりも劣化した
欠陥部分が存在すると、その欠陥部分から磁力線が漏れ
出すために、その部分の磁気抵抗は他部に比べて増加す
ることになる。

一方、リングコアｌ内に交番磁場が励起されることによ
り、二次コイル３には二次開放電圧が生じる。この二次
開放電圧は、リングコアｌの磁気抵抗によって変化し、
磁気抵抗が増大すると二次開放電圧が低下することにな
る。

したがって、一次コイル２によってリングコアｌに交番
磁場を励起しつつ、リングコア１の切欠部４を磁性材料
に接触させることによって、二次コア２では磁性材料の
特性に応じた二次開放電圧の変化を生じ、この二次開放
電圧の変化を電圧計７で測定して磁性材料の磁気遮蔽性
能を凋べることができる。

次に、先の構成の磁気遮蔽性能測定装置を用いた磁気遮
蔽性能測定方法の一例を説明する。

この磁気遮蔽性能測定方法の測定対象となる試験体は、
パーマロイなどからなる平板状の磁性材料９やこの磁性
材料を用いて構築された磁気遮蔽室自体である。また、
この磁気遮蔽性能測定方法では、磁性材料９の平板部分
を測定することができるとともに、磁性材料９に曲げや
穴明は加工を施した加工材料、磁気遮蔽室の角部や接合
部分などの非平面形状部分の磁気遮蔽性能も測定するこ
とができる。このような非平面部分の磁気遮蔽性能を測
定する場合には、切欠部４が試験体の測定箇所に密着可
能なように、凹部状あるいは凸部状の切欠部４を形成し
たリングコアを用いることによって測定を行うことがで
きる。

第１図に示すように平板状の磁性材料９の磁気遮蔽性能
を測定する場合には、まずリングコアＩの切欠部４を磁
性材料９に密着させ、次に発振器５からの正弦波によっ
てリングコアｌに交番磁場を励起する。このときの一次
電流は、電流計６よって測定する。また、二次コイル３
に生じた二次開放電圧は、電圧計７によって測定する。

そして、これらの測定値から、次式（Ａ）によって磁性
材料９のインピーダンス比透磁率（μ２）を求める。

μｚ＝　ＣＶ　ｔ／　Ｉ　＋　　・・・・・・・・・（
Ａ）（たたし、■、は二次開放電圧、■１は一次電流、
Ｃはリングコアの特性および磁性材料の特性（材質およ
び板厚）によって定まる常数である）先のように算出さ
れたインピーダンス比透磁率を、予め欠陥のない同一の
磁性材料を用いて測定、算出されたインピーダンス比透
磁率の値（標準値）と比較する。測定した磁性材料９の
インピーダンス比透磁率が標準値と同じであれば、測定
した磁性材料９に欠陥（磁気遮蔽性能の欠陥）が無く、
測定した磁性材料９のインピーダンス比透磁率が標準値
よりも低ければ、磁性材料９中に何らかの欠陥が存在す
ることになる。

更に、磁性材料９における磁気遮蔽性能の欠陥部分を検
出する場合には、一次コイル２に一次電流を流し、かつ
リングコア１の切欠部４を磁性材料４表面に接触させた
状態でリングコアｌを移動させ、このときの二次開放電
圧を電圧計７で測定する。そして磁性材料９に欠陥部分
があり、この欠陥部分にリングコアの切欠部４が移動し
てくると、その欠陥部分から磁力線が漏れ、リングコア
ｌの磁気抵抗が増大し、二次開放電圧が低下する。

この二次開放電圧の局部的な低下によって、磁性材料９
の欠陥部分を検出することができる。

なお、先の例では、一次コイル２に交流電流を流してリ
ングコアｌに交番磁場を励起しつつ、二次コイル３で発
生する２次開放電圧を測定し、インピーダンス比透磁率
を算出して磁性材料９の磁気遮蔽性能を評価したが、コ
イルのインダクタンスを測定し、これらの値に基づいて
上記リングコアとその切欠部に接触された試験体とから
構成された磁気回路のインダクタンス比透磁率を算出し
、試験体の磁気遮蔽性能を評価しても良い。

「発明の効果」 以上説明したように、本発明では、環状をなしその一部
に切欠部が形成されるとともに一次コイルおよび二次コ
イルが各々巻回された磁性材料からなるリングコアの切
欠部を、磁気遮蔽性能を測定すべき試験体に接触させ、
次いで上記一次コイルに交流電流を流し、二次コイルか
ら見たインピーダンスあるいはコイルのインダクタンス
を測定し、これらの値に基づいて上記リングコアとその
切欠部に接触された試験体とから構成された磁気回路の
インピーダンス比透磁率またはインダクタンス比透磁率
を算出し、試験体の磁気遮蔽性能を評価するので、試験
体の磁気遮蔽性能を直接的に測定することができ、試験
体の磁気遮蔽性能を正確に測定することができろ。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明に係わる磁気遮蔽性能測定装置の一例
を示す概略構成図である。 １・・・リングコア ２・・・一次コイル ３・・・二次コイル ４・・・切欠部 ・・・発振器 ・・・電流計 ・・・電圧計 ・・・消磁装置 ・・・磁性材料（試験体）。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）環状をなしその一部に切欠部が形成されるととも
   に一次コイルおよび二次コイルが各々巻回された磁性材
   料からなるリングコアの切欠部を、磁気遮蔽性能を測定
   すべき試験体に接触させ、次いで上記一次コイルに交流
   電流を流し、二次コイルから見たインピーダンスあるい
   はコイルのインダクタンスを測定し、これらの値に基づ
   いて上記リングコアとその切欠部に接触された試験体と
   から構成された磁気回路のインピーダンス比透磁率また
   はインダクタンス比透磁率を算出し、試験体の磁気遮蔽
   性能を評価することを特徴とする磁気遮蔽室構成材料の
   磁気遮蔽性能測定方法。
2. （２）磁性材料からなり環状をなすとともに一部に切欠
   部が形成されたリングコアと、該リングコアに各々巻回
   された一次コイルおよび二次コイルと、該一次コイルに
   接続された発振器および電流計と、上記二次コイルに接
   続された二次開放電圧測定用の電圧計あるいはインダク
   タンス測定器とを備えた磁気遮蔽性能測定装置。