JP2006177952A - 渦電流プローブ、検査システム及び検査方法 - Google Patents

渦電流プローブ、検査システム及び検査方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2006177952A
JP2006177952A JP2005362697A JP2005362697A JP2006177952A JP 2006177952 A JP2006177952 A JP 2006177952A JP 2005362697 A JP2005362697 A JP 2005362697A JP 2005362697 A JP2005362697 A JP 2005362697A JP 2006177952 A JP2006177952 A JP 2006177952A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
eddy current
sense
component
edge
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005362697A
Other languages
English (en)
Inventor
Mottito Togo
モティート・トゴ
Changting Wang
チャンティン・ワン
Yuri A Plotnikov
ユーリ・アレクセイヴィッチ・プロトニコフ
Shyamsunder Tondanur Mandayam
シャムスンダー・トンダヌール・マンダヤム
William S Mcknight
ウィリアム・スチュワート・マックナイト
Walter J Bantz
ウォルター・ジョセフ・バンツ
Ui Won Suh
ウイ・ウォン・スー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
General Electric Co
Original Assignee
General Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by General Electric Co filed Critical General Electric Co
Publication of JP2006177952A publication Critical patent/JP2006177952A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/904Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents with two or more sensors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/9013Arrangements for scanning
    • G01N27/902Arrangements for scanning by moving the sensors

Abstract

【課題】 部品の縁部の傷検出において 信号対雑音比を向上し 縁部の欠陥検出を改善する。
【解決手段】 部品(16)を検査するための渦電流(EC)プローブ(12)が提供される。ECプローブは、部品中に渦電流(18)を誘起するための探測磁界を発生するように構成された駆動コイル(30)を含み、渦電流の一部は、部品の1つの縁部(38)と平行に整列される。ECプローブは、1対のセンスコイル(34、35)を更に含み、センスコイルの軸(50)は、部品の面(14)に対して垂直に整列される。センスコイルは、部品の縁部と平行に整列された渦電流の部分を感知するように構成される。
【選択図】 図2

Description

本発明は、一般に、検査システムに関し、特に、渦電流(EC)プローブを使用して検査する方法及びシステムに関する。
渦電流は、一般に、部品の表面及び表面下にあるきずを示す測定可能パラメータを提供するのに有用である。通常、渦電流は、導電率、透磁率、断裂部分の存在などの材料特性の変化により影響を受ける。微細なヘアクラック又は穴などの部品のきずは、材料の局所抵抗に影響を及ぼす。通常、部品のきずは、材料中の渦電流の局所的変化を引き起こす。従って、部品中に渦電流を誘起し、渦電流の変化を測定することにより、部品のきずの有無を検査できる。
渦電流プローブは、渦電流の摂動を感知することにより、部品のきずを検出する。通常、渦電流プローブは、検査されるべき部品の内部に交番磁界を発生する高周波交流によって動作されるコイルを有する。磁界は、部品中に渦電流を誘起する。渦電流の強さは、部品の局所抵抗率によって決まる。局所抵抗率は、部品中のきずの有無により影響を受ける。渦電流は、部品上における渦電流の分布に伴って強さを変化させる磁界を発生する。
渦電流により発生された磁界は、センスコイル中に電圧を誘起する。その電圧は、部品の材料特性を表す信号として表示される。
工業用部品及び構造の検査には、小型差動渦電流プローブを伴う長いプローブホルダが頻繁に利用される。差動プローブを使用することの利点の1つは、縁部に対して対称に方向付けられたときの縁部に対する感度が低下することである。しかし、実際には、縁部は、常に直線状であるとは限らない。更に、プローブ固定具の状態によっては、わずかなプローブ整列のミスが生じる場合もある。そのような条件の下においては、著しく大きな縁部信号が発生し、それにより、検査の信頼性が低下する結果を招く。現在、連続する検査面を得るために補足的な材料と当接させる技術、電磁界を集束するために補助プローブ及びフェライトシールドを使用する技術、縁部信号を除去するために画像処理技術によって後処理を実行する技術などの多様な技術を使用して、縁部信号を抑制している。しかし、そのような技術は、縁部信号の除去に関しては、幾分かの改善を提供するにすぎない。
米国特許第3,609,528号公報 米国特許第5,239,230号公報 米国特許第6,288,537号公報 米国特許第6,788,053号公報 日本公開特許公報平成05年232045号 日本公開特許公報平成7年311179号
従って、縁部信号を抑制し、様々な部品におけるきずの検出を改善した方法及びシステムが必要とされる。
簡単に言うと、本発明の1つの面によれば、部品を検査するための渦電流(EC)プローブが提供される。ECプローブは、部品中に渦電流を誘起するための探測磁界を発生するように構成された接線駆動コイルを含む。この駆動コイルの軸は、部品の面と平行に整列される。発生される渦電流の一部は、部品の1つの縁部と平行に整列される。ECプローブは、1対のセンスコイルを更に含み、センスコイルの軸は、部品の面に対して垂直に整列される。センスコイルは、部品の縁部と平行に整列された渦電流を感知するように構成される。
別の実施形態においては、部品を検査する方法が提供される。方法は、磁界を発生するために駆動コイルを励起することを含む。駆動コイルの軸は、部品の1つの面と平行に整列され、磁界は、部品中に渦電流を誘起する。発生された渦電流の一部は、部品の1つの縁部と平行に方向付けられる。方法は、1対のセンスコイルを使用して、渦電流のその部分を感知することを更に含む。センスコイルの軸は、部品の面に対して垂直に整列される。
更に別の実施形態においては、部品を検査するシステムが提供される。システムは、渦電流(EC)プローブと、制御装置とを含む。ECプローブは、部品中に渦電流を誘起するための探測磁界を発生するように構成された接線駆動コイルを含む。渦電流の一部は、部品の1つの縁部と平行に整列され、接線駆動コイルの軸は、部品の面と平行に整列される。ECプローブは、1対のセンスコイルを更に含み、センスコイルの軸は、部品の面に対して垂直に整列される。センスコイルは、部品の縁部と平行に整列された渦電流の部分を感知するように構成される。制御装置は、ECプローブに結合され、プローブの運動を制御するように構成される。
本発明の上記の特徴、面及び利点、並びにその他の特徴、面及び利点は、添付の図面を参照して以下の詳細な説明を読むことにより、更によく理解されるであろう。図面全体を通して、同一の図中符号は、同一の部分を示す。
図1は、検査システム10の一実施形態のブロック図である。検査システムは、渦電流プローブ12を含む。渦電流プローブ12は、部品16の面14上に渦電流18を誘起し、それらの渦電流を感知する。図1に示される構成の場合、部品16は、支持構造20に装着される。本発明は、特定の部品に限定されず、部品の例には、タービンブレード、タービンディスク、ボルト穴などがある。更に、用途によっては、部品16は、支持構造上に装着されない場合もある。
渦電流プローブは、電源28からAC電流を搬送するように構成された駆動コイル(図1には図示せず)を含む。電源からのAC電流は、駆動コイルを通って流れ、コイルを取り囲む磁界を発生する。駆動コイルからの磁束は、面14上及びプローブの付近に渦電流18を発生する。
渦電流プローブ12は、複数のセンスコイル(図1には図示せず)を更に含む。渦電流プローブ12は、検査されるべき部品の表面の渦電流18を感知する。渦電流は、センスコイルの両側に電位差を誘起し、それにより、材料特性を解析するために使用される信号を発生する。渦電流により発生される磁束は、センスコイル内に電圧を誘起する。駆動コイル及びセンスコイルに関しては、図2を参照して更に詳細に説明する。
図1に関して説明を続ける。渦電流プローブ12は、検査されるべき部品の表面においてプローブを精密に位置決めする自動スキャナ(図示せず)に装着されてもよい。渦電流プローブが面上の1つの場所から別の場所へ移動すると、各々の場所で、渦電流測定が実行され、測定値は、処理装置24により解析される。
処理装置24は、渦電流プローブ12に結合され、センスコイル中の電流に対する表面渦電流の影響を検出する。処理回路からの渦電流データは、渦電流表示装置26又は他の表示装置に提供される。表示装置において、渦電流データは、そのデータが収集された表面の場所に対して相関され、評価される。
渦電流プローブ12におけるセンスコイルの誘起電圧は、検査されるべき部品の様々に異なる場所の渦電流分布の急激な変化などの部品の表面に関する情報を提供する。そのような変化が、きずの存在を示す場合もある。センスコイルからの信号は、部品の材料特性の変化に関する情報を更に提供する。
処理装置は、部品の表面における場所を示すレポート、表示画像及び/又はグラフの形態で、情報を生成する。部品のきずを検出し、その場所を特定するために、情報は、更に解析されてもよい。
図2は、部品の表面にある渦電流プローブの概略図である。渦電流(EC)プローブ12は、接線駆動コイル30と、駆動ヨーク32と、センスコイル34及び35と、センスコア36及び37とを含む。図3は、センスコイル34及び35の平面図を示す。図3に示されるように、センスコイル34及び35は、それぞれ、センスコア36及び37に巻き付けられている。
図2を参照して説明すると、渦電流プローブは、図中符号42により表される方向に移動される。図示される実施形態では、部品16は、縁部38に亀裂40を有する。渦電流プローブの各部品に関して、以下に更に詳細に説明する。
先に説明したように、接線駆動コイルは、部品中に渦電流を誘起するための探測磁界を発生するように構成される。接線駆動コイルにより発生された渦電流の一部は、部品の縁部38と平行に整列される。図5に示されるように、接線駆動コイルの軸48は、部品16の面14と平行に整列される。
図2に関して説明を続ける。接線駆動コイル30は、駆動ヨーク32に巻き付けられている。一実施形態においては、接線駆動コイルは、巻数が40の銅巻線から形成される。一実施形態として、使用される銅線は、American Wire Gauge(AWG)42ゲージであり、直径は3milである。一実施形態においては、駆動ヨークは、フェライト材料から形成される。
センスコイル34及び35は、部品の縁部と平行に整列された渦電流を感知するように構成される。図5に示されるように、センスコイルの軸50は、部品16の面14に対して垂直に整列される。各センスコイルは、1対のセンスコア36及び37のうちの対応するコアの周囲に巻き付けられている。
一実施形態においては、各センスコアは、フェライトコアである。一実施形態では、各センスコイルは、スプリットコア差動センスコイルである。一実施形態においては、センスコアは、D字形である。更に特定された実施形態では、各センスコイルは、D字形センスコアに巻き付けられた銅巻線を含み、その巻数は、15である。
図4は、誘起された渦電流の概略図である。接線駆動コイルにより発生された渦電流は、図中符号44により表される。センスコイル34及び35は、差動配列され、面14の縁部38に対して対称に方向を定められる。それらのセンスコイルは、縁部と平行に整列された渦電流の一部分を感知する。縁部38と平行に整列された渦電流の部分は、まとめて、図中符号46により表される。
図5は、渦電流プローブの一実施形態の側面図である。図示されるように、接線駆動コイルの軸48は、部品16の面14と平行に整列される。センスコイルの軸50は、面14に対して垂直に整列される。
図6は、面の縁部38に関する駆動ヨークの整列を示すブロック図である。駆動ヨーク32は、図中符号55により示されるように、面の縁部に対して垂直に整列された1対の脚部52及び54を具備する。一実施形態においては、駆動ヨークの比誘電率は、1,000〜2,000である。図5に示される実施形態の場合、駆動ヨークは、U字形である。別の実施形態では、駆動ヨークは、C字形である。
渦電流の平行な方向付けは、脚部の横断面の縦横比及び形状に基づく。図6に示される実施形態の場合、脚部の幅58は、脚部の長さ56より大きい。更に特定された実施形態においては、脚部の幅は、脚部の長さの2倍を超える。
渦電流流れの方向が平行であるため、部品の縁部からの応答は減少されるが、部品の縁部のきず検出能力は、高いレベルに保持される。更に、渦電流プローブは、プローブのわずかな整列ミスがある状態の下でも、部品の縁部に対して、より高度な堅牢度を示す。以上説明したような渦電流プローブは、縁部応答を減少することにより、部品縁部におけるきず検出の信頼性を向上する。
以上説明した渦電流プローブは、渦電流を部品の縁部と平行に方向付けるために、接線駆動コイルを使用し、それにより、きず検出能力を保持しつつ、縁部感度を低下する。渦電流の方向は、縁部感度が低下すること(縁部付近の渦電流が、部品の縁部によってひずまないので)及びプローブの整列ミスに対して堅牢であることを含む2つの重大な利点を提供する。
渦電流プローブは、部品の縁部付近の検査に際して、信号対雑音比を向上する。駆動ヨーク及びコイルは、高度に集中され、整列された渦電流を発生し、その結果、小さな亀裂を高感度で検出できる。
本発明のいくつかの特徴のみを図示し、説明したが、数多くの変形及び変更が当業者には明らかであろう。従って、添付の特許請求の範囲は、本発明の真の趣旨の範囲内に入るそのような全ての変形及び変更を含むことが意図されていると理解すべきである。
本発明の実施形態を適用可能な渦電流プローブ検査システムのブロック図である。 部品の面上の渦電流プローブの概略図である。 1対のスプリット差動センスコイルの一実施形態の平面図である。 渦電流の平行整列の概略図である。 渦電流プローブの一実施形態の側面図である。 部品の縁部に関する駆動ヨークの整列を示したブロック図である。
符号の説明
10…検査システム、12…渦電流プローブ、14…部品の面、16…部品、18…渦電流、24…処理装置、26…渦電流表示装置、28…電源、30…接線駆動コイル、32…駆動ヨーク、34、35…センスコイル、36、37…センスコア、38…部品の縁部、46…渦電流の一部、48…駆動コイルの軸、50…センスコイルの軸、52、54…駆動ヨークの脚部

Claims (10)

  1. 部品(16)を検査するための渦電流(EC)プローブ(12)において、
    前記部品中に複数の渦電流(18)を誘起するための探測磁界を発生するように構成され、前記渦電流のうちの一部(46)は、前記部品の1つの縁部(38)と平行に整列されるような駆動コイル(30)と;
    前記部品の面(14)に対して垂直に整列された軸(50)を有し、前記部品の前記縁部と平行に整列された前記渦電流の一部を感知するように構成された1対のセンスコイル(34、35)とを具備するECプローブ。
  2. 前記駆動コイルが巻き付けられ、1対の脚部(52、54)を具備し、前記脚部は、前記面の前記縁部に対して垂直に整列される駆動ヨーク(32)と;
    1対のセンスコア(36、37)とを更に具備し、前記センスコイルの各々は、前記センスコアのうちの対応する1つのコアの周囲に巻き付けられ、前記駆動コイルの軸(48)は、前記部品の1つの面と平行に整列される請求項1記載のECプローブ。
  3. 前記脚部は、横断面を有し、渦電流の平行整列は、前記脚部の横断面の縦横比及び前記脚部の形状に基づき、前記脚部の形状は、前記縁部の形状に基づき、前記脚部の幅(58)は、前記脚部の長さ(56)より大きい請求項2記載のECプローブ。
  4. 前記駆動ヨーク及び前記センスコイルの各々は、フェライトコアを具備する請求項2記載のECプローブ。
  5. 部品(16)を検査する方法において、
    前記部品中に複数の渦電流(18)を誘起する磁界であって、前記渦電流のうちの一部(46)は、前記部品の1つの縁部(38)と平行に方向を定められるような磁界を発生するために、駆動コイル(30)を励起することと;
    前記部品の1つの面(14)に対して垂直に整列された軸(50)を有する1対のセンスコイル(34、35)を使用して、前記渦電流の前記一部を感知することとを具備する検査方法。
  6. 前記部品は、タービンブレード又はタービンディスクである請求項5記載の方法。
  7. 前記部品は、少なくとも1つのボルト穴を規定し、前記方法は、前記駆動コイル及び前記センスコイルを前記ボルト穴の付近に位置決めすることを更に含む請求項5記載の方法。
  8. 前記部品上の欠陥を検出し、その場所を特定することを更に含む請求項5記載の方法。
  9. 部品(16)を検査するシステム(10)において、
    渦電流(EC)プローブ(12)であって、
    前記部品中に複数の渦電流(18)を誘起するための探測磁界を発生するように構成され、前記渦電流のうちの一部(46)は、前記部品の1つの縁部と平行に整列されるような駆動コイル(30)と;
    前記部品の面に対して垂直に整列された軸(50)を有し、前記部品の前記縁部と平行に整列された前記渦電流の一部を感知するように構成された1対のセンスコイル(34、35)とを具備するECプローブと;
    前記ECプローブに結合され、前記ECプローブの運動を制御するように構成された制御装置(22)とを具備する検査システム。
  10. 前記渦電流プローブは、
    前記駆動コイルが巻き付けられ、1対の脚部(52、54)を具備し、前記脚部は、前記面の縁部に対して垂直に整列され、前記脚部の幅(58)は、前記脚部の長さ(56)より大きい駆動ヨーク(32)と;
    1対のセンスコア(36、37)とを更に具備し、前記センスコイルの各々は、前記センスコアのうちの対応する1つのコアの周囲に巻き付けられ、前記駆動コイルの軸は、前記部品の1つの面と平行に整列される請求項9記載のシステム。
JP2005362697A 2004-12-21 2005-12-16 渦電流プローブ、検査システム及び検査方法 Pending JP2006177952A (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/019,343 US7154265B2 (en) 2004-12-21 2004-12-21 Eddy current probe and inspection method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006177952A true JP2006177952A (ja) 2006-07-06

Family

ID=36051521

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005362697A Pending JP2006177952A (ja) 2004-12-21 2005-12-16 渦電流プローブ、検査システム及び検査方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7154265B2 (ja)
EP (1) EP1674861A1 (ja)
JP (1) JP2006177952A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015190414A1 (ja) * 2014-06-12 2015-12-17 コニカミノルタ株式会社 非破壊検査装置

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4234761B2 (ja) * 2006-11-21 2009-03-04 慶一 野々垣 渦電流探傷方法とその装置
US7817845B2 (en) * 2006-12-29 2010-10-19 General Electric Company Multi-frequency image processing for inspecting parts having complex geometric shapes
US7876093B2 (en) * 2007-12-06 2011-01-25 General Electric Company Eddy current inspection device, proximity probe and method for assembling an eddy current inspection device
US20120043962A1 (en) * 2010-08-20 2012-02-23 Changting Wang Method and apparatus for eddy current inspection of case-hardended metal components
US10073058B2 (en) * 2015-02-11 2018-09-11 Structural Integrity Associates Dynamic pulsed eddy current probe
US10895555B2 (en) 2015-03-30 2021-01-19 Structural Integrity Associates, Inc. System for in-line inspection using a dynamic pulsed eddy current probe and method thereof
CN106198723B (zh) * 2016-07-07 2023-07-28 江苏方天电力技术有限公司 一种螺栓加热孔内壁裂纹的检测装置及方法
US10260854B2 (en) 2016-12-07 2019-04-16 Probe Technology Services, Inc. Pulsed eddy current casing inspection tool
CN109946372A (zh) * 2019-04-09 2019-06-28 鞍钢股份有限公司 一种钢材表面探伤用涡流探头
CN110794030A (zh) * 2019-10-18 2020-02-14 中车青岛四方机车车辆股份有限公司 一种无方向性焊缝涡流检测探头及检测装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62115357A (ja) * 1985-11-14 1987-05-27 Toshiba Corp 欠陥検査装置
JPH07311179A (ja) * 1994-05-19 1995-11-28 Hitachi Cable Ltd 渦流探傷コイル
JPH1073570A (ja) * 1996-07-16 1998-03-17 Lucent Technol Inc 渦電流センサー及びその使用方法
JP2000131287A (ja) * 1998-10-23 2000-05-12 Japan Science & Technology Corp 磁気計測による探傷方法及び装置
JP2001116727A (ja) * 1999-09-22 2001-04-27 General Electric Co <Ge> 渦電流較正基準器

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB631987A (en) 1947-07-25 1949-11-14 Superheater Co Ltd Improvements in and relating to apparatus for testing materials by magnetic or electrical analysis
US3609528A (en) 1969-04-21 1971-09-28 Computer Test Corp Noise pulse cancellation system formed by a pair of transformers
US4495466A (en) 1982-04-08 1985-01-22 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Eddy current test probe with circumferential Segments and method of testing material surrounding fastener holes
DE69324242T2 (de) 1992-01-31 1999-08-19 Northrop Grumman Corp Wirbelstromsondensystem in einem array
JP2976672B2 (ja) 1992-02-19 1999-11-10 日本鋼管株式会社 帯状帯のエッジ割れ、穴明き検出装置
US5239230A (en) 1992-03-27 1993-08-24 General Electric Company High brightness discharge light source
US5446382A (en) 1993-06-23 1995-08-29 The Babcock & Wilcox Company Eddy current probe having one yoke within another yoke for increased inspection depth, sensitivity and discrimination
US6288537B1 (en) 1999-12-22 2001-09-11 General Electric Company Eddy current probe with foil sensor mounted on flexible probe tip and method of use
JP4582564B2 (ja) 2001-06-25 2010-11-17 ソニーマニュファクチュアリングシステムズ株式会社 磁束測定装置
GB0124910D0 (en) 2001-10-17 2001-12-05 Accentus Plc Measurement of material properties

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62115357A (ja) * 1985-11-14 1987-05-27 Toshiba Corp 欠陥検査装置
JPH07311179A (ja) * 1994-05-19 1995-11-28 Hitachi Cable Ltd 渦流探傷コイル
JPH1073570A (ja) * 1996-07-16 1998-03-17 Lucent Technol Inc 渦電流センサー及びその使用方法
JP2000131287A (ja) * 1998-10-23 2000-05-12 Japan Science & Technology Corp 磁気計測による探傷方法及び装置
JP2001116727A (ja) * 1999-09-22 2001-04-27 General Electric Co <Ge> 渦電流較正基準器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015190414A1 (ja) * 2014-06-12 2015-12-17 コニカミノルタ株式会社 非破壊検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20060132124A1 (en) 2006-06-22
EP1674861A1 (en) 2006-06-28
US7154265B2 (en) 2006-12-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006177952A (ja) 渦電流プローブ、検査システム及び検査方法
EP2480858B1 (en) Eddy current inspection of case hardening depth
US8717012B2 (en) Eddy current probe for surface and sub-surface inspection
JPWO2013024858A1 (ja) 磁気探傷方法及び磁気探傷装置
JP2008032575A (ja) 渦電流測定用プローブ及びそれを用いた探傷装置
CA3089556A1 (en) Probe for eddy current non-destructive testing
JP2011047736A (ja) オーステナイト系ステンレス鋼溶接部の検査方法
JP2013072667A (ja) 渦電流探傷用プローブ
JP2013160739A (ja) 磁性体の探傷方法及び探傷装置
JP6209119B2 (ja) 探傷方法及び探傷システム
JP6378554B2 (ja) 非破壊検査装置および非破壊検査方法
KR101988887B1 (ko) 자기 센서 배열을 이용한 리사주선도 도시 장치
JP2007263930A (ja) 渦電流探傷装置
JP2004205212A (ja) 磁性材料の渦電流探傷プローブと渦電流探傷装置
JP3942165B2 (ja) 渦電流探傷プローブ
JP2013160579A (ja) 渦電流探傷プローブ
Yamada et al. Application of ECT technique for inspection of bare PCB
JP4484723B2 (ja) 渦電流探傷用プローブ
JP2008145137A (ja) 渦電流探傷プローブ,探傷装置及び探傷方法
JP2005106602A (ja) 磁気探傷用センサ
RU103926U1 (ru) Электромагнитный преобразователь к дефектоскопу
JP2006010665A (ja) 深い渦電流の浸透を実現する渦電流探傷法および渦電流探傷プローブ
JP2006053053A (ja) 渦流探傷用プローブ装置
JP5011056B2 (ja) 渦流検査プローブ及び渦流検査装置
JP2008096290A (ja) 強磁性伝熱管の欠陥検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20081212

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20101221

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20101221

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110517

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20111213