JPWO2013024858A1 - 磁気探傷方法及び磁気探傷装置 - Google Patents
磁気探傷方法及び磁気探傷装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2013024858A1 JPWO2013024858A1 JP2012537618A JP2012537618A JPWO2013024858A1 JP WO2013024858 A1 JPWO2013024858 A1 JP WO2013024858A1 JP 2012537618 A JP2012537618 A JP 2012537618A JP 2012537618 A JP2012537618 A JP 2012537618A JP WO2013024858 A1 JPWO2013024858 A1 JP WO2013024858A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic field
- flaw
- flaw detection
- alternating current
- magnetic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/83—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws by investigating stray magnetic fields
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9013—Arrangements for scanning
- G01N27/902—Arrangements for scanning by moving the sensors
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
【解決手段】本発明に係る磁気探傷装置100は、被探傷材Pに対して検出対象きずFの延びる方向に略平行に直流のバイアス磁界を作用させる第1磁化手段1と、被探傷材Pに対して検出対象きずFの延びる方向に略垂直に交流磁界を作用させる第2磁化手段2と、第1磁化手段1及び第2磁化手段2で被探傷材Pを磁化することによって生ずる漏洩磁束を検出する検出手段3と、を備える。
Description
特に、本発明は、直流磁界のみを作用させる場合に磁化手段が大型化する問題や、交流磁界のみを作用させる場合に被探傷材が発熱する問題を解決しつつ、磁気飽和状態になるまで被探傷材を磁化することにより、精度良くきずを検出可能な磁気探傷方法及び磁気探傷装置に関する。
上記の着眼において、直流磁界を作用させる目的は、きずからの漏洩磁束を生じさせることではなく、きずの近傍を含む被探傷材全体の磁束密度を略均一に且つある程度の磁束密度まで増加させることである。本発明者らは、この目的に鑑みれば、作用させる直流磁界の方向は、直流磁界によって被探傷材中に発生する磁束の進路がきずによって最も妨げられにくい方向(すなわち、きずの延びる方向に略平行な方向)とする必要があることを知見した。
一方、上記の着眼において、交流磁界を作用させる目的は、きずからの漏洩磁束を生じさせることである。本発明者らは、この目的に鑑みれば、作用させる交流磁界の方向は、交流磁界によって被探傷材中に発生する磁束の進路がきずによって最も妨げられやすい方向(すなわち、きずの延びる方向に略垂直な方向)とする必要があることを知見した。
すなわち、本願の第1発明は、被探傷材に対して、検出対象きずの延びる方向に略平行に直流のバイアス磁界を作用させると共に、検出対象きずの延びる方向に略垂直に交流磁界を作用させ、これによって生ずる漏洩磁束に基づいて検出対象きずを検出することを特徴とする磁気探傷方法である。
また、本発明によれば、直流のバイアス磁界と交流磁界とを組み合わせて作用させることにより被探傷材を磁化するため、直流磁界のみを作用させて磁化する場合に比べて、被探傷材を磁気飽和させるための磁化手段が大型化しないという利点が得られる。
さらに、本発明によれば、直流のバイアス磁界と交流磁界とを組み合わせて作用させることにより被探傷材を磁化するため、交流磁界のみを作用させて磁化する場合に比べて、被探傷材を磁気飽和させても被探傷材が過度に発熱しないという利点も得られる。
そして、本発明によれば、上記回転バイアス磁界に加えて該回転バイアス磁界と位相が90°ずれた回転交流磁界(すなわち、ある瞬間の回転バイアス磁界の方向と回転交流磁界の方向とが直交する)を作用させる。この回転交流磁界は、回転バイアス磁界の励磁電流である交流電流と同一周波数の第1交流電流(回転バイアス磁界の励磁電流である交流電流の周波数を低周波とすれば、第1交流電流の周波数も低周波となる)と該第1交流電流よりも高周波の第2交流電流(例えば、1kHz〜500kHz程度)とを重畳した重畳交流電流を励磁電流として用いることで励磁される。従って、高周波の第2交流電流によって生成される交流磁界が支配的に被探傷材に作用する一方、低周波の第1交流電流は、前記生成された交流磁界の方向を被探傷材において回転させるために機能する。これは、被探傷材に生じる誘導起電力が励磁電流の周波数に比例するからである。換言すれば、本願の第2発明における回転交流磁界は、前述した本願の第1発明における交流磁界がその方向だけを時々刻々変化させるのと同様の挙動を示すことになる。
本発明は、回転バイアス磁界に加えて該回転バイアス磁界と位相が90°ずれた回転交流磁界を作用させるため、被探傷材を比較的容易に磁気飽和状態にさせることができると共に、作用させる回転交流磁界の方向が上記のきず(回転バイアス磁界のある瞬間の方向と略平行に延びるきず)の延びる方向に略垂直となるため、上記のきずからの漏洩磁束を効率良く生じさせることができ、その結果、精度良く上記のきずを検出可能である。本発明は、バイアス磁界を回転させると共に、交流磁界もバイアス磁界と位相を90°ずらして回転させるため、被探傷材に存在する種々の方向に延びるきずを検出可能である。
また、本発明によれば、被探傷材を磁気飽和させるための磁化手段が大型化しないという利点や、被探傷材を磁気飽和させても被探傷材が過度に発熱しないという利点が得られることは、第1発明と同様である。
本発明の第1実施形態に係る磁気探傷装置は、被探傷材が管であり、管の軸方向に延びるきず(以下、軸方向きずという)を検出対象とする。
図1は、本発明の第1実施形態に係る磁気探傷装置の概略構成を示す図である。図1(a)は、全体構成図を示す。また、図1(b)は、図1(a)に示す探傷プローブの模式的な外観図を示す。
図1に示すように、本実施形態に係る磁気探傷装置100は、管Pに対して検出対象きずである軸方向きずFの延びる方向(管Pの軸方向(図1に示すX方向))に略平行に直流のバイアス磁界を作用させる第1磁化手段1と、管Pに対して軸方向きずFの延びる方向に略垂直に交流磁界を作用させる第2磁化手段2と、第1磁化手段1及び第2磁化手段2で管Pを磁化することによって生ずる漏洩磁束を検出する検出手段3とを備えている。また、本実施形態に係る磁気探傷装置100は、第2磁化手段2に交流電流を供給したり、検出手段3から出力された探傷信号を信号処理して軸方向きずFを検出するための演算制御手段4を備えている。
図3は、被探傷材に作用させる直流磁界の方向がきずの延びる方向に対して略平行である場合の被探傷材中の磁束の状態を模式的に示す図である。図3(a)は平面図を、図3(b)は図3(a)のDD矢視断面図を示す。
<実施例1>
本実施例において、被探傷材である管Pとしては、0.25質量%の炭素を含有する炭素鋼管を用いた。この管Pの表面に、深さ0.5mmで長さ25mmの人工の軸方向きずを設けた。また、第1磁化手段1である貫通コイル1a、1bとしては、それぞれターン数1000で、外径140mm、内径80mm、長さ(管Pの軸方向に沿った長さ)50mmのものを用い、各貫通コイル1a、1bを管Pの軸方向に40mm隔てて配置した。各貫通コイル1a、1bに供給する直流電流の電流値は1.5Aとし、これにより、適正なバイアス磁界(被探傷材中の磁束密度約1.5T)を作用させることが可能であった。なお、この第1磁化手段1のみで漏洩磁束探傷が可能な程度にまで磁化する(被探傷材中の磁束密度約1.8T)のに必要な直流電流の電流値は約9Aである。従って、本実施例によれば、第1磁化手段1のみで直流磁気飽和させる場合に比べて、約1/6の電流値で探傷可能であることが分かる。
以上の条件で探傷試験を行った。
第1磁化手段1によるバイアス磁界を作用させなかった点を除き、実施例と同様の条件で探傷試験を行った。
管軸方向に対して60°傾斜した方向に延びる人工きず(深さ及び長さは、実施例1と同様)を管Pの表面に設け、第2磁化手段(タンジェンシャルコイル)2によって生成される交流磁界の方向が上記人工きずの延びる方向と略垂直になるように第2磁化手段2の向きを調整した点を除き、実施例と同様の条件で探傷試験を行った。
図4は、実施例1及び比較例1、2の試験結果を示す図である。図4(a)は実施例1の試験結果を、図4(b)は比較例1の試験結果を、図4(c)は比較例2の試験結果を示す。図4に示す波形は、検出手段3から出力された探傷信号を、演算制御手段4が第2磁化手段(タンジェンシャルコイル)2に供給される交流電流を参照信号として同期検波したものである。
本発明の第2実施形態に係る磁気探傷装置は、被探傷材が管であり、種々の方向に延びるきずを検出対象とする。
図5は、本発明の第2実施形態に係る磁気探傷装置の概略構成を示す図である。図5(a)は、全体の構成を部分的に断面で示す正面図である。図5(b)は、平面図である。図5(c)は裏面図である。図5(d)は、図5(a)〜(c)に示す探傷プローブの模式的な外観図を示す。なお、図5(b)においては、励磁コイルの図示を省略している。
図5に示すように、本実施形態に係る磁気探傷装置100’は、被探傷材である管Pに対して回転バイアス磁界を作用させる第1回転磁化手段1’と、管Pに対して前記回転バイアス磁界と位相が90°ずれた回転交流磁界を作用させる第2回転磁化手段2’と、第1回転磁化手段1’及び第2回転磁化手段2’で管Pを磁化することによって生ずる漏洩磁束を検出する検出手段3とを備えている。また、本実施形態に係る磁気探傷装置100’は、第1回転磁化手段1’や第2回転磁化手段2’に励磁電流を供給したり、検出手段3から出力された探傷信号を信号処理してきずを検出するための演算制御手段4’を備えている。
第1電磁石11は、逆U字状のヨーク111と、ヨーク111の両端部にそれぞれ巻回された励磁コイル112とを具備する。演算制御手段4’から励磁コイル112に交流電流を供給することにより、ヨーク111の磁極111a、111b間に管Pの軸方向(図5に示すX方向)に対して略平行な方向の磁界が生成される。
第2電磁石12は、逆U字状のヨーク121と、ヨーク121の両端部にそれぞれ巻回された励磁コイル122とを具備する。演算制御手段4’から励磁コイル122に交流電流を供給することにより、ヨーク121の磁極121a、121b間に管Pの軸方向(X方向)に対して略垂直な方向(図5に示すY方向)の磁界が生成される。
そして、各励磁コイル112、122に供給する交流電流(励磁電流)の位相を90°ずらすことにより、各励磁コイル112、122で生成された磁界の合成磁界が、磁極111a、111b、121a、121bの中心位置を中心として360°回転することになる。
以上のようにして、第1回転磁化手段1’は、管Pに対して回転バイアス磁界を作用させる。
演算制御手段4’から導線22aに励磁電流(X方向励磁電流)を供給することにより、管Pの軸方向(X方向)に対して略平行な方向の交流磁界が生成される。
また、演算制御手段4’から導線22bに励磁電流(Y方向励磁電流)を供給することにより、管Pの軸方向(X方向)に対して略垂直な方向(Y方向)の交流磁界が生成される。
そして、各導線22a、22bに供給する励磁電流の位相を90°ずらすことにより、各導線22a、22bで生成された交流磁界の合成磁界が、第2回転磁化手段2’(タンジェンシャルコイル)の中心位置を中心として360°回転することになる。すなわち、回転交流磁界が生成される。
一方、第2回転磁化手段2’の導線22bには、第1交流電流と第2交流電流とが重畳すると共にX方向励磁電流に対して位相が90°ずれたY方向励磁電流が供給される。
そして、第2回転磁化手段2’によって生成される回転交流磁界の位相が、第1回転磁化手段1’によって生成される回転バイアス磁界の位相と90°ずれるように、X方向励磁電流及びY方向励磁電流の位相が調整されている。
以上のようにして、第2回転磁化手段2’は、管Pに対して前記回転バイアス磁界と位相が90°ずれた回転交流磁界を作用させる。
本実施形態に係る磁気探傷装置100’によれば、管Pに対して、交流電流を励磁電流として用いることで励磁される回転バイアス磁界が作用する。回転バイアス磁界を励磁する励磁電流としては交流電流を用いるものの、その周波数を低周波とすれば、あたかも前述した第1実施形態に係る磁気探傷装置100で生成される直流のバイアス磁界がその方向だけを時々刻々変化させるのと同様の挙動となる。このため、本実施形態に係る磁気探傷装置100’で生成される回転バイアス磁界によっても、管P中の磁束密度が比較的大きくなりやすい範囲までは、きず(回転バイアス磁界のある瞬間の方向と略平行に延びるきず)Fによって磁束の進路が大きく妨げられることなく、略均一に管Pを磁化することが可能である。
<実施例2>
本実施例においても、前述した実施例1と同様に、被探傷材である管Pとして、0.25質量%の炭素を含有する炭素鋼管を用いた。この管Pの表面に、人工の軸方向きず、15°方向人工きず(管軸方向に対して15°傾斜した方向に延びる人工きず)、45°方向人工きず(管軸方向に対して45°傾斜した方向に延びる人工きず)、75°方向人工きず(管軸方向に対して75°傾斜した方向に延びる人工きず)を設けた。各人工きずは、いずれも深さ0.5mmで長さ25mmとした。
以上の条件で探傷試験を行った。
1’・・・第1回転磁化手段
2・・・第2磁化手段
2’・・・第2回転磁化手段
3・・・検出手段
4,4’・・・演算制御手段
20,20’・・・探傷プローブ
100,100’・・・磁気探傷装置
F・・・きず
P・・・管(被探傷材)
本発明者らは、まず上記の知見に基づき、被探傷材に対して、検出対象きずの延びる方向に略平行に直流のバイアス磁界を作用させると共に、検出対象きずの延びる方向に略垂直に交流磁界を作用させ、これによって生ずる漏洩磁束に基づいて検出対象きずを検出することを特徴とする磁気探傷方法(以下、前提発明という)に想到した。
また、本前提発明によれば、直流のバイアス磁界と交流磁界とを組み合わせて作用させることにより被探傷材を磁化するため、直流磁界のみを作用させて磁化する場合に比べて、被探傷材を磁気飽和させるための磁化手段が大型化しないという利点が得られる。
さらに、本前提発明によれば、直流のバイアス磁界と交流磁界とを組み合わせて作用させることにより被探傷材を磁化するため、交流磁界のみを作用させて磁化する場合に比べて、被探傷材を磁気飽和させても被探傷材が過度に発熱しないという利点も得られる。
そして、本発明によれば、上記回転バイアス磁界に加えて該回転バイアス磁界と位相が90°ずれた回転交流磁界(すなわち、ある瞬間の回転バイアス磁界の方向と回転交流磁界の方向とが直交する)を作用させる。この回転交流磁界は、回転バイアス磁界の励磁電流である交流電流と同一周波数の第1交流電流(回転バイアス磁界の励磁電流である交流電流の周波数を低周波とすれば、第1交流電流の周波数も低周波となる)と該第1交流電流よりも高周波の第2交流電流(例えば、1kHz〜500kHz程度)とを重畳した重畳交流電流を励磁電流として用いることで励磁される。従って、高周波の第2交流電流によって生成される交流磁界が支配的に被探傷材に作用する一方、低周波の第1交流電流は、前記生成された交流磁界の方向を被探傷材において回転させるために機能する。これは、被探傷材に生じる誘導起電力が励磁電流の周波数に比例するからである。換言すれば、本発明における回転交流磁界は、前述した前提発明における交流磁界がその方向だけを時々刻々変化させるのと同様の挙動を示すことになる。
本発明は、回転バイアス磁界に加えて該回転バイアス磁界と位相が90°ずれた回転交流磁界を作用させるため、被探傷材を比較的容易に磁気飽和状態にさせることができると共に、作用させる回転交流磁界の方向が上記のきず(回転バイアス磁界のある瞬間の方向と略平行に延びるきず)の延びる方向に略垂直となるため、上記のきずからの漏洩磁束を効率良く生じさせることができ、その結果、精度良く上記のきずを検出可能である。本発明は、バイアス磁界を回転させると共に、交流磁界もバイアス磁界と位相を90°ずらして回転させるため、被探傷材に存在する種々の方向に延びるきずを検出可能である。
また、本発明によれば、被探傷材を磁気飽和させるための磁化手段が大型化しないという利点や、被探傷材を磁気飽和させても被探傷材が過度に発熱しないという利点が得られることは、前提発明と同様である。
Claims (4)
- 被探傷材に対して、検出対象きずの延びる方向に略平行に直流のバイアス磁界を作用させると共に、検出対象きずの延びる方向に略垂直に交流磁界を作用させ、これによって生ずる漏洩磁束に基づいて検出対象きずを検出することを特徴とする磁気探傷方法。
- 被探傷材に対して、交流電流を励磁電流として用いることで励磁される回転バイアス磁界を作用させると共に、前記交流電流と同一周波数の第1交流電流と該第1交流電流よりも高周波の第2交流電流とを重畳した重畳交流電流を励磁電流として用いることで励磁され、前記回転バイアス磁界と位相が90°ずれた回転交流磁界を作用させ、これによって生ずる漏洩磁束に基づいてきずを検出することを特徴とする磁気探傷方法。
- 被探傷材に対して検出対象きずの延びる方向に略平行に直流のバイアス磁界を作用させる第1磁化手段と、
被探傷材に対して検出対象きずの延びる方向に略垂直に交流磁界を作用させる第2磁化手段と、
前記第1磁化手段及び前記第2磁化手段で被探傷材を磁化することによって生ずる漏洩磁束を検出する検出手段と、
を備えることを特徴とする磁気探傷装置。 - 被探傷材に対して、交流電流を励磁電流として用いることで励磁される回転バイアス磁界を作用させる第1回転磁化手段と、
被探傷材に対して、前記交流電流と同一周波数の第1交流電流と該第1交流電流よりも高周波の第2交流電流とを重畳した重畳交流電流を励磁電流として用いることで励磁され、前記回転バイアス磁界と位相が90°ずれた回転交流磁界を作用させる第2回転磁化手段と、
前記第1回転磁化手段及び前記第2回転磁化手段で被探傷材を磁化することによって生ずる漏洩磁束を検出する検出手段と、
を備えることを特徴とする磁気探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012537618A JP5201495B2 (ja) | 2011-08-18 | 2012-08-15 | 磁気探傷方法及び磁気探傷装置 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011178915 | 2011-08-18 | ||
JP2011178915 | 2011-08-18 | ||
JP2012537618A JP5201495B2 (ja) | 2011-08-18 | 2012-08-15 | 磁気探傷方法及び磁気探傷装置 |
PCT/JP2012/070723 WO2013024858A1 (ja) | 2011-08-18 | 2012-08-15 | 磁気探傷方法及び磁気探傷装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP5201495B2 JP5201495B2 (ja) | 2013-06-05 |
JPWO2013024858A1 true JPWO2013024858A1 (ja) | 2015-03-05 |
Family
ID=47715175
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012537618A Active JP5201495B2 (ja) | 2011-08-18 | 2012-08-15 | 磁気探傷方法及び磁気探傷装置 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9291599B2 (ja) |
EP (1) | EP2746761B8 (ja) |
JP (1) | JP5201495B2 (ja) |
CN (1) | CN103733060B (ja) |
AR (1) | AR087581A1 (ja) |
BR (1) | BR112013031968B1 (ja) |
CA (1) | CA2837283C (ja) |
WO (1) | WO2013024858A1 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101552922B1 (ko) * | 2013-08-08 | 2015-09-15 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 자기 센서 테스트 장치 및 방법 |
CN107430090B (zh) * | 2015-03-11 | 2020-06-23 | 三菱电机株式会社 | 绳索损伤诊断检查装置和绳索损伤诊断检查方法 |
JP6506122B2 (ja) * | 2015-07-09 | 2019-04-24 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | レール検査装置、および、レール検査システム |
JP6601226B2 (ja) * | 2016-01-12 | 2019-11-06 | 日本製鉄株式会社 | 漏洩磁束探傷装置 |
JP6659444B2 (ja) * | 2016-04-28 | 2020-03-04 | 株式会社東芝 | 磁気特性測定用プローブ、磁気特性測定システム、磁気特性測定方法及び劣化評価方法 |
EP3575783A4 (en) * | 2017-01-26 | 2020-09-09 | Shimadzu Corporation | DEVICE FOR EXAMINING A MAGNETIC BODY AND METHOD FOR EXAMINING A MAGNETIC BODY |
CN107024534A (zh) * | 2017-04-11 | 2017-08-08 | 北京工业大学 | 碳纤维增强复合材料波纹缺陷的全向型涡流自适应扫查系统 |
JP7338132B2 (ja) * | 2018-06-01 | 2023-09-05 | 富士電機株式会社 | 磁性体の表面応力及び/または硬度評価装置 |
US11692970B2 (en) * | 2019-04-24 | 2023-07-04 | Jfe Steel Corporation | Leakage-flux flaw detection device |
FR3098915B1 (fr) * | 2019-07-19 | 2022-07-29 | Framatome Sa | Dispositif de contrôle par fuite de flux magnétique et procédé associé |
CN111157577A (zh) * | 2020-02-13 | 2020-05-15 | 四川大学 | 一种钢管磁化涡流热成像缺陷检测装置 |
JP2022134986A (ja) * | 2021-03-04 | 2022-09-15 | Tdk株式会社 | 検出装置 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4602212A (en) * | 1982-06-14 | 1986-07-22 | Sumitomo Metal Industries, Ltd. | Method and apparatus including a flux leakage and eddy current sensor for detecting surface flaws in metal products |
DE3683619D1 (de) * | 1985-07-03 | 1992-03-05 | Nippon Steel Corp | Vorrichtung zur zerstoerungsfreien feststellung von rissen in metallischen materialien mit hilfe eines magnetischen feldes. |
JPH0250676A (ja) | 1988-08-12 | 1990-02-20 | Toshiba Corp | A/d化クランプ回路 |
JPH0720593Y2 (ja) * | 1988-10-03 | 1995-05-15 | 日本鋼管株式会社 | 鋼管端部磁化装置 |
US5512821A (en) * | 1991-06-04 | 1996-04-30 | Nkk Corporation | Method and apparatus for magnetically detecting defects in an object with compensation for magnetic field shift by means of a compensating coil |
US5491409A (en) * | 1992-11-09 | 1996-02-13 | The Babcock & Wilcox Company | Multiple yoke eddy current technique for detection of surface defects on metal components covered with marine growth |
JP3053521B2 (ja) | 1994-03-14 | 2000-06-19 | 日本鋼管株式会社 | 磁粉探傷装置 |
JPH08152424A (ja) | 1994-11-29 | 1996-06-11 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 漏洩磁束探傷装置の磁化ヘッド |
JP3152101B2 (ja) | 1995-05-10 | 2001-04-03 | 住友金属工業株式会社 | 断面円形材料の漏洩磁束探傷用磁化器 |
US6249119B1 (en) * | 1998-10-07 | 2001-06-19 | Ico, Inc. | Rotating electromagnetic field defect detection system for tubular goods |
JP2001041932A (ja) | 1999-07-27 | 2001-02-16 | Daido Steel Co Ltd | 漏洩磁束探傷装置および疵判定方法 |
JP4835995B2 (ja) | 2006-11-17 | 2011-12-14 | 住友金属工業株式会社 | 漏洩磁束探傷法及び漏洩磁束探傷装置 |
US7821258B2 (en) * | 2008-01-07 | 2010-10-26 | Ihi Southwest Technologies, Inc. | Method and system for generating and receiving torsional guided waves in a structure |
DE102008020194A1 (de) * | 2008-04-16 | 2009-10-22 | Institut Dr. Foerster Gmbh & Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren von oberflächennahen Defekten mittels Streuflussmessung |
JP4863127B2 (ja) * | 2008-05-15 | 2012-01-25 | 住友金属工業株式会社 | 磁気探傷方法及び磁気探傷装置 |
JP2011002409A (ja) * | 2009-06-22 | 2011-01-06 | Hara Denshi Sokki Kk | 漏洩磁束探傷装置 |
-
2012
- 2012-08-15 WO PCT/JP2012/070723 patent/WO2013024858A1/ja active Application Filing
- 2012-08-15 BR BR112013031968-2A patent/BR112013031968B1/pt active IP Right Grant
- 2012-08-15 EP EP12823776.5A patent/EP2746761B8/en active Active
- 2012-08-15 CN CN201280040270.4A patent/CN103733060B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2012-08-15 US US14/238,958 patent/US9291599B2/en active Active
- 2012-08-15 CA CA2837283A patent/CA2837283C/en not_active Expired - Fee Related
- 2012-08-15 JP JP2012537618A patent/JP5201495B2/ja active Active
- 2012-08-16 AR ARP120103026A patent/AR087581A1/es active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2746761A4 (en) | 2015-03-25 |
US9291599B2 (en) | 2016-03-22 |
US20140191751A1 (en) | 2014-07-10 |
BR112013031968A2 (pt) | 2016-12-20 |
EP2746761B8 (en) | 2019-08-21 |
JP5201495B2 (ja) | 2013-06-05 |
WO2013024858A1 (ja) | 2013-02-21 |
AR087581A1 (es) | 2014-04-03 |
CN103733060B (zh) | 2016-08-31 |
EP2746761A1 (en) | 2014-06-25 |
EP2746761B1 (en) | 2019-05-15 |
CN103733060A (zh) | 2014-04-16 |
CA2837283A1 (en) | 2013-02-21 |
CA2837283C (en) | 2017-07-18 |
BR112013031968B1 (pt) | 2020-11-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5201495B2 (ja) | 磁気探傷方法及び磁気探傷装置 | |
JP4905560B2 (ja) | 渦流計測用センサ、及び、渦流計測用センサによる検査方法 | |
JP6060278B2 (ja) | 鋼板の内部欠陥検出装置及び方法 | |
JP4487082B1 (ja) | 漏洩磁束探傷方法及び装置 | |
JP6289732B2 (ja) | ロープ損傷診断検査装置およびロープ損傷診断検査方法 | |
EP1674861A1 (en) | Eddy current probe and inspection method comprising a pair of sense coils | |
JP2013205024A (ja) | 交番磁場を使用した非破壊検査用検出器 | |
JP2012002705A (ja) | 渦流計測用センサ及び渦流計測方法 | |
JP2009204342A (ja) | 渦電流式試料測定方法と渦電流センサ | |
JP2011047736A (ja) | オーステナイト系ステンレス鋼溶接部の検査方法 | |
JP2012093095A (ja) | 非破壊検査装置及び非破壊検査方法 | |
JP2009002681A (ja) | 周期運動する永久磁石と振動コイルを備えた磁気測定装置 | |
JP2008128733A (ja) | 磁気探傷方法及び磁気探傷装置 | |
JP2014066688A (ja) | 渦流探傷プローブ、渦流探傷装置 | |
JP6601226B2 (ja) | 漏洩磁束探傷装置 | |
JP2013185951A (ja) | 電磁気探傷用プローブ | |
JP2012184931A (ja) | 鋼板における組織分率の測定方法 | |
JP5721475B2 (ja) | 強磁性鋼管の渦流探傷用内挿プローブ | |
Horai et al. | Flux-focusing eddy current sensor with magnetic saturation for detection of water pipe defects | |
JP2016197085A (ja) | 磁気探傷方法 | |
JP4193181B2 (ja) | 鋼管の磁気探傷用磁化装置 | |
JP2009287981A (ja) | 渦電流探傷装置と渦電流探傷方法 | |
RU103926U1 (ru) | Электромагнитный преобразователь к дефектоскопу | |
JP2017090185A (ja) | 渦電流探傷プローブ及び渦電流探傷装置 | |
JP3223991U (ja) | 非破壊検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130118 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130131 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5201495 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160222 Year of fee payment: 3 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |