JP2013160739A - 磁性体の探傷方法及び探傷装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、磁性体を磁化すると共に渦電流を発生させ、磁性体表面の磁場信号を磁気センサで検出する第1工程と、前記検出した磁場信号から漏洩磁束信号と渦電流信号を取り出す第2工程と、前記漏洩磁束信号により表面欠陥、表層欠陥、内部欠陥のいずれかを検出する第3工程と、前記渦電流信号により表面欠陥と表層欠陥の識別を行う第4工程を備えたことを特徴とする。
【効果】本発明によれば、磁性体の表面欠陥と表層欠陥、及び内部欠陥を識別可能な磁性体検査方法及び装置を提供することが可能である。
【選択図】 図1
Description
電源6によりコイル2を直流及び交流励磁した状態で、ホルダに設置された磁化器10を走査し、磁気センサ3により磁性体4表面の磁場を計測する。計測された磁場信号は、プリアンプで増幅後に漏洩磁束信号収録部7と渦電流信号収録部8で、それぞれ漏洩磁束信号と渦電流信号に変換され、欠陥判定部9に収録される。このとき、ホルダの車輪に取り付けられた図示しないエンコーダにより、走査距離の信号も漏洩磁束信号と渦電流信号と同時に欠陥判定部9に収録される。
図3に欠陥判定部9に収録された漏洩磁束信号の一例を示す。磁気センサ3は、磁性体4の表面に対して直行する方向の磁場を検出しており、磁気センサ3が欠陥5を横切ると、欠陥5の前後で正負のピークを持つ信号が得られる。よって、設定したしきい値を超えたピークを持つ信号を欠陥5と判定し、欠陥検出を行う。ここでは、表面欠陥、表層欠陥、及び内部欠陥が検出される。次に、欠陥と判定された漏洩磁束信号と同じ位置の渦電流信号により、(S30)第一欠陥判定が実行される。もし、(S20)欠陥検出において、しきい値を超える信号が検出されない場合は健全部と判定され、以降の処理は行われない。
図4(a)、図4(b)において、欠陥判定部9に収録された渦電流信号X、Yの一例を示す。本工程において、X、Y信号のどちらかで設定したしきい値を超える信号が検出された場合、表面欠陥または表層欠陥と判定され、次の(S40)第二欠陥判定が実行される。しきい値を超える信号が検出されなかった場合は、設定した表層部より深い内部欠陥と判定される。
図5(a)に表面欠陥の渦電流信号のXを横軸、Yを縦軸とするリサージュ波形の一例を示す。Xが正の半面で原点からの距離が最大となる点とXが負の半面で原点からの距離が最大となる点を結んだ直線とX軸のなす角を位相角とする。位相角は、X軸正方向から反時計回りを正の角度、時計回りを負の角度とする。図5(b)に表面欠陥と表層欠陥のリサージュ波形の一例を示す。このリサージュ波形のグラフには、予め位相角の境界線が設定されている。判定対象である欠陥のリサージュ波形において、位相角が境界線を越えて大きい場合は表面欠陥と判定し、境界線を越えずに小さい場合は表層欠陥と判定される。
2 コイル
3 磁気センサ
4 磁性体
5 欠陥
6 電源
7 漏洩磁束信号収録部
8 渦電流信号収録部
9 欠陥判定部
10 磁化器
Claims (6)
- 磁性体を磁化すると共に渦電流を発生させ、磁性体表面の磁場信号を磁気センサで検出する第1工程と、
前記検出した磁場信号から漏洩磁束信号と渦電流信号を取り出す第2工程と、
前記漏洩磁束信号により表面欠陥、表層欠陥、内部欠陥のいずれかを検出する第3工程と、
前記渦電流信号により表面欠陥と表層欠陥の識別を行う第4工程を備えたことを特徴とする磁性体の探傷方法。 - 請求項1において、同一のヨークとコイルにより前記磁性体に漏洩磁束と渦電流を発生させることを特徴とする磁性体の探傷方法。
- 請求項2において、前記コイルの直流電圧に交流電圧を重畳して励磁可能な電源を備えたことを特徴とする磁性体の探傷方法。
- 磁性体を磁化すると共に渦電流を発生させる磁化器と、前記磁性体表面の磁場信号を検出する磁気センサと、前記検出した磁場信号から漏洩磁束信号と渦電流信号をそれぞれ取り出す漏洩磁束信号収録部及び渦電流信号収録部と、
前記漏洩磁束信号により表面欠陥、表層欠陥、内部欠陥のいずれかを検出し、前記渦電流信号により表面欠陥と表層欠陥の識別を行う欠陥判定部を備えたことを特徴とする磁性体の探傷装置。 - 請求項4において、同一のヨークとコイルにより前記磁性体に漏洩磁束と渦電流を発生させることを特徴とする磁性体の探傷装置。
- 請求項5において、前記コイルの直流電圧に交流電圧を重畳して励磁可能な電源を備えたことを特徴とする磁性体の探傷装置。
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2012
- 2012-02-09 JP JP2012025674A patent/JP2013160739A/ja active Pending
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