JP2008289119A - Pllとその駆動方法 - Google Patents

Pllとその駆動方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2008289119A
JP2008289119A JP2008006329A JP2008006329A JP2008289119A JP 2008289119 A JP2008289119 A JP 2008289119A JP 2008006329 A JP2008006329 A JP 2008006329A JP 2008006329 A JP2008006329 A JP 2008006329A JP 2008289119 A JP2008289119 A JP 2008289119A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
signal
pll
level
response
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008006329A
Other languages
English (en)
Inventor
Kwan-Dong Kim
寛東 金
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SK Hynix Inc
Original Assignee
Hynix Semiconductor Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from KR1020070047498A external-priority patent/KR100929652B1/ko
Priority claimed from KR1020070048574A external-priority patent/KR100912963B1/ko
Application filed by Hynix Semiconductor Inc filed Critical Hynix Semiconductor Inc
Publication of JP2008289119A publication Critical patent/JP2008289119A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • H03L7/085Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
    • H03L7/089Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses
    • H03L7/0891Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses the up-down pulses controlling source and sink current generators, e.g. a charge pump
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • H03L7/10Details of the phase-locked loop for assuring initial synchronisation or for broadening the capture range
    • H03L7/101Details of the phase-locked loop for assuring initial synchronisation or for broadening the capture range using an additional control signal to the controlled loop oscillator derived from a signal generated in the loop
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/16Indirect frequency synthesis, i.e. generating a desired one of a number of predetermined frequencies using a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/18Indirect frequency synthesis, i.e. generating a desired one of a number of predetermined frequencies using a frequency- or phase-locked loop using a frequency divider or counter in the loop

Landscapes

  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)

Abstract

【課題】ロックタイムを短縮することができ、ロック動作において電力を効率的に消費することができるPLL(Phase Locked Loop)を提供すること。
【解決手段】基準クロックとフィードバッククロックとの位相差を検出し、それに対応する検出信号を生成する位相検出手段と、前記検出信号に対応する電圧レベルを有する制御電圧を生成する制御電圧生成手段と、該制御電圧のレベルに対応する周波数を有する内部クロックを生成する電圧制御発振手段と、前記基準クロックの周波数に対応するスタートアップレベル多重化信号に応答して、前記電圧制御発振手段の起動前に制御電圧端を所定のスタートアップレベルに駆動するスタートアップ駆動手段とを備えるPLLを提供する。
【選択図】図4

Description

本発明は、半導体設計技術に関し、特に、高速のロックタイムを保障するPLL(Phase Locked Loop)に関する。
一般的に、DDR SDRAM(Double Data Rate Synchronous DRAM)をはじめとする半導体素子において、外部クロックは、種々の動作タイミングを合わせるためのレファレンスとして用いられている。しかし、外部クロックは、内部回路のクロック/データ経路の遅延によるクロックスキューが生じ得、これを補償するため、半導体素子の内部にはクロック同期回路が備えられている。このようなクロック同期回路には、PLLと、DLL(Delay Locked Loop)とがあり、半導体素子は、クロック同期回路から出力される内部クロックを用いて、外部装置との間で各種信号の送受信を行う。
ここで、外部クロックの周波数と内部クロックの周波数とが互いに異なる場合は、周波数逓倍機能を有するPLLを主に使用し、外部クロックと内部クロックとの周波数が等しい場合は、DLLを主に使用する。基本的に、PLL及びDLLの構成は互いに類似しており、PLLの場合、内部クロックを生成するうえで電圧制御発振器(Voltage Controlled Oscillator)を使用し、DLLの場合、電圧制御遅延ライン(Voltage Controlled Delay Line)を使用する点で区別することができる。
PLLは、DLLに比べてチップ面積に占める割合が多く、設計が容易でないとの短所があるが、周波数合成による各種クロックの生成が可能で、かつ、クロック/データ復旧が容易という長所があるため、通信、無線システム、及びデジタル回路などの応用分野で広範囲に使用されている。そして、PLLは、チップの動作周波数の高速化に伴い、高速の半導体素子を設計するうえで欠かせない回路であって、半導体素子設計技術の発展と共に、その応用分野もより広くなることが考えられる。
図1は、従来技術に係るPLLを説明するためのブロック図である。
同図に示すように、PLLは、基準クロックCLK_REFとフィードバッククロックCLK_FEDとの位相差を検出し、これに対応するアップ検出信号DET_UP及びダウン検出信号DET_DNを生成する位相検出部110と、アップ検出信号DET_UP及びダウン検出信号DET_DNを受信し、それに対応する電圧レベルを有する制御電圧V_CTRを生成する制御電圧生成部130と、制御電圧V_CTRを受信し、それに対応する周波数を有する内部クロックCLK_INNを生成する電圧制御発振部150とを備えており、内部クロックCLK_INNの周波数を分周してフィードバッククロックCLK_FEDを生成する周波数分周部170を更に備えることができる。
位相検出部110は、基準クロックCLK_REFとフィードバッククロックCLK_FEDとの位相差に基づき、アップ検出信号DET_UP及びダウン検出信号DET_DNを生成する。アップ検出信号DET_UPは、フィードバッククロックCLK_FEDの位相が基準クロックCLK_REFの位相より遅れると活性化されるパルス信号であって、その差だけのパルス幅を有する。ダウン検出信号DET_DNは、フィードバッククロックCLK_FEDの位相が基準クロックCLK_REFの位相より早ければ活性化される信号であって、同じくその差だけのパルス幅を有する。
制御電圧生成部130は、通常、チャージポンプ部132と、ループフィルタ134とを備える。チャージポンプ部132は、アップ検出信号DET_UP及びダウン検出信号DET_DNのパルス幅に対応するだけの電流を制御電圧V_CTR端に供給又は放出し、ループフィルタ134は、これを充電又は放電して該当する制御電圧V_CTRを生成する。
電圧制御発振部150は、制御電圧V_CTRの電圧レベルに対応する周波数を有する内部クロックCLK_INNを生成する。例えば、制御電圧V_CTRの電圧レベルが高くなると、内部クロックCLK_INNの周波数は次第に高くなり、制御電圧V_CTRの電圧レベルが低くなると、内部クロックCLK_INNの周波数は次第に低くなる。
周波数分周部170は、周辺環境の変化にかかわらず、正確な周波数の基準クロックCLK_REFを維持できるクリスタル発振器を基準周波数源として用いるため、内部クロックCLK_INNの周波数より低い周波数のフィードバッククロックCLK_FEDを実現するためのものである。これにより、位相検出部110は、低周波数のフィードバッククロックCLK_FEDと低周波数の基準クロックCLK_REFとを比較する。
結局、PLLは、基準クロックCLK_REFとフィードバッククロックCLK_FEDとの周波数が等しくなるようにロック動作を繰り返し行い、所望の周波数を有する内部クロックCLK_INNを生成する。ここで、内部クロックCLK_INNが所望の目標周波数を有するようになることを「ロック(locking)」という。
図2は、図1の位相検出部110を説明するための図である。
同図に示すように、位相検出部110は、基準クロックCLK_REFに応答して、アップ検出信号DET_UPを生成する第1Dフリップフロップ112と、フィードバッククロックCLK_FEDに応答して、ダウン検出信号DET_DNを生成する第2Dフリップフロップ114と、アップ検出信号DET_UP及びダウン検出信号DET_DNを受信し、第1Dフリップフロップ112及び第2Dフリップフロップ114をリセットするリセット信号CTR_RSTを生成するリセット部AND1とを備える。
位相検出部110は、基準クロックCLK_REFが論理ハイレベルの区間でアップ検出信号DET_UPを論理ハイレベルにし、フィードバッククロックCLK_FEDが論理ハイレベルの区間でダウン検出信号DET_DNを論理ハイレベルにする。そして、基準クロックCLK_REF及びフィードバッククロックCLK_FEDがいずれも論理ハイレベルの区間では、リセット信号CTR_RSTを活性化させ、第1Dフリップフロップ112及び第2Dフリップフロップ114をリセットさせる。
結局、位相検出部110は、基準クロックCLK_REFの位相がフィードバッククロックCLK_FEDの位相より早ければ、その差だけのパルス幅を有するアップ検出信号DET_UPを生成し、フィードバッククロックCLK_FEDの位相が基準クロックCLK_REFの位相より早ければ、その差だけのパルス幅を有するダウン検出信号DET_DNを生成する。
ここで、第1Dフリップフロップ112及び第2Dフリップフロップ114の具体的な回路構成は、既に公知であるため、ここでは具体的な説明は省略する。
図3は、図1の電圧制御発振部150を説明するための図である。
同図に示すように、電圧制御発振部150は、複数のPMOSトランジスタ152と、複数のNMOSトランジスタ154と、複数のインバータ156とを備える。複数のインバータ156の各インバータは、制御電圧V_CTRの電圧レベルに応じて単位遅延時間を有する。したがって、電圧制御発振部150は、制御電圧V_CTRの電圧レベルが高くなると、各インバータに多くの電流が供給され、各インバータの遅延時間が短くなり、電圧制御発振部150は、高周波数の内部クロックCLK_INNを生成する。逆に、制御電圧V_CTRの電圧レベルが低くなると、各インバータに少ない電流が供給され、各インバータの遅延時間が長くなり、電圧制御発振部150は、低周波数の内部クロックCLK_INNを生成する。
ここで、電圧制御発振部150の制御電圧V_CTR端を詳細に説明する。
電圧制御発振部150の場合、ロック動作を行う前に、制御電圧V_CTRの電圧レベルを論理ローレベルにする。これは、PLLが動作する前に、電圧制御発振部150の不要な動作による不要な電流消費を防ぐためのものである。
つまり、同図において、制御電圧V_CTRが複数のNMOSトランジスタ154のゲートに入力されるため、PLLの動作前には、制御電圧V_CTRを論理ローレベルにする。制御電圧V_CTRが複数のPMOSトランジスタ152のゲートに入力される場合、PLLの動作前には、制御電圧V_CTRを論理ハイレベルにする。
同図のような構成において、PLLは、ロック動作により、論理ローレベルの制御電圧V_CTRを所望の目標周波数の内部クロックCLK_INNを生成するための電圧レベルまで引き上げる。本明細書では、所望の目標周波数の内部クロックCLK_INNを生成するための制御電圧V_CTRが生成されるまでにかかる時間を「ロックタイム(locking time)」と定義する。
一方、半導体素子は、高速化への要求に応じて発展しつつある。したがって、ロックタイムを短縮して所望の周波数の内部クロックCLK_INNを高速で生成することは、高速化への要求を満たす方向になるであろう。そこで、本明細書では、ロックタイムを短縮するための改善策を提示する。
特開2006−261725
本発明は、上記のような従来技術の問題に鑑みてなされたものであって、その目的は、ロックタイムを短縮することができるPLL(Phase Locked Loop)を提供することにある。
また、本発明の他の目的は、ロック動作において電力を効率的に消費することができるPLLを提供することにある。
本発明は、PLLの動作前に制御電圧端をスタートアップレベルに駆動することにより、PLLのロックタイムを短縮することができる。ここで、スタートアップレベルは、PLLのロック時点の制御電圧の電圧レベルを有することが好ましい。
上記の目的を達成するための本発明に係るPLLは、基準クロックとフィードバッククロックとの位相差を検出し、それに対応する検出信号を生成する位相検出手段と、前記検出信号に対応する電圧レベルを有する制御電圧を生成する制御電圧生成手段と、該制御電圧のレベルに対応する周波数を有する内部クロックを生成する電圧制御発振手段と、前記基準クロックの周波数に対応するスタートアップレベル多重化信号に応答して、前記電圧制御発振手段の起動前に制御電圧端を所定のスタートアップレベルに駆動するスタートアップ駆動手段とを備える。
さらに、本発明に係るPLLにおいては、前記スタートアップレベルが、前記スタートアップレベル多重化信号に対応して互いに異なる電圧レベルが選択されることを特徴とする。
さらに、本発明に係るPLLにおいては、前記スタートアップ駆動手段が、外部電圧を分配して複数の分配電圧を生成する電圧生成手段と、前記スタートアップレベル多重化信号に応答して、前記複数の分配電圧のいずれか1つを選択的に出力する電圧選択手段と、前記制御電圧端の電圧レベルと前記選択された分配電圧の電圧レベルとを比較し、比較結果信号を生成する電圧比較手段と、前記電圧制御発振手段の起動前に活性化されるスタートアップ信号及び前記比較結果信号に応答して、前記制御電圧端を駆動する駆動手段とを備えることを特徴とする。
さらに、本発明に係るPLLにおいては、前記電圧生成手段が、前記スタートアップ信号及び前記比較結果信号を受信し、イネーブル信号を生成するイネーブル信号生成部と、該イネーブル信号に応答して活性化される活性化部と、外部電圧端と前記活性化部との間に接続され、前記外部電圧を分配する電圧分配部とを備え、前記イネーブル信号が、前記スタートアップ信号に応答して活性化され、前記比較結果信号に応答して非活性化されることを特徴とする。
さらに、本発明に係るPLLにおいては、前記電圧分配部が、前記外部電圧端と前記活性化部との間に直列接続された複数の抵抗を備えることを特徴とする。
さらに、本発明に係るPLLにおいては、前記電圧生成手段が、前記電圧分配部の複数の出力電圧を受け、制御信号に応じてそれぞれの出力電圧又はその中間レベル電圧を選択的に出力する多重化手段を更に備えることを特徴とする。
さらに、本発明に係るPLLにおいては、前記多重化手段が、第1制御信号(第1の制御信号)に応答して、前記電圧分配部の第1出力電圧端と前記多重化手段の第1出力電圧端とを接続させる第1スイッチング部と、第2制御信号(第2の制御信号)に応答して、前記電圧分配部の第2出力電圧端と前記多重化手段の第1出力電圧端とを接続させる第2スイッチング部とからなるレベル多変化手段を備えることを特徴とする。
さらに、本発明に係るPLLにおいては、前記駆動手段が、前記スタートアップ信号及び前記比較結果信号を受信し、駆動制御信号を生成する駆動制御信号生成部と、該駆動制御信号に応答して、前記制御電圧端をプルアップ駆動するプルアップ駆動部とを備え、前記駆動制御信号が、前記スタートアップ信号に応答して活性化され、前記比較結果信号に応答して非活性化されることを特徴とする。
さらに、本発明に係るPLLにおいては、前記比較結果信号が、前記制御電圧端の電圧レベルが前記選択された分配電圧の電圧レベルより高ければ活性化され、前記制御電圧端の電圧レベルが前記選択された分配電圧の電圧レベルより低ければ非活性化されることを特徴とする。
さらに、本発明に係るPLLにおいては、前記スタートアップ信号及び前記比較結果信号に応答して、前記PLLを活性化させるPLLイネーブル信号を生成するPLLイネーブル信号生成手段を更に備え、当該PLLイネーブル信号が、前記制御電圧端が前記所定のスタートアップレベルになった後に活性化されることを特徴とする。
さらに、本発明に係るPLLにおいては、前記位相検出手段が、前記PLLイネーブル信号に応答して、第1検出信号(第1の検出信号)及び第2検出信号(第2の検出信号)を生成することを特徴とする。
さらに、本発明に係るPLLにおいては、前記第1検出信号(第1の検出信号)が、前記フィードバッククロックの位相が前記基準クロックの位相より遅れると活性化されることを特徴とする。
さらに、本発明に係るPLLにおいては、前記第2検出信号(第2の検出信号)が、前記フィードバッククロックの位相が前記基準クロックの位相より早ければ活性化されることを特徴とする。
さらに、本発明に係るPLLにおいては、前記位相検出手段が、前記PLLイネーブル信号に応答して受信した前記基準クロックを出力する第1出力部と、前記PLLイネーブル信号に応答して受信した前記フィードバッククロックを出力する第2出力部と、前記第1出力部の出力クロックに応答して、前記第1検出信号(第1の検出信号)を生成する第1検出信号生成部と、前記第2出力部の出力クロックに応答して、前記第2検出信号(第2の検出信号)を生成する第2検出信号生成部と、前記第1検出信号(第1の検出信号)及び第2検出信号(第2の検出信号)に応答して、前記第1検出信号生成部及び第2検出信号生成部をリセットするリセット部とを備えることを特徴とする。
また、本発明に係るPLLの駆動方法は、制御電圧の電圧レベルに対応する周波数を有する内部クロックを生成する電圧制御発振部を備えるPLLの駆動方法において、前記電圧制御発振部の起動前に、スタートアップ信号に応答して、前記制御電圧を所定のスタートアップレベルに駆動するスタートアップステップと、該スタートアップステップの後、前記PLLのロック動作を行うロックステップとを含む。
さらに、本発明に係るPLLの駆動方法においては、前記スタートアップステップが、外部電圧を分配して複数の分配電圧を生成するステップと、スタートアップレベル多重化信号に応答して、前記複数の分配電圧のいずれか1つを選択的に出力するステップと、前記制御電圧の電圧レベルと前記選択された分配電圧の電圧レベルとを比較し、比較結果信号を生成するステップと、前記スタートアップ信号及び前記比較結果信号に応答して、前記制御電圧を駆動するステップとを含むことを特徴とする。
さらに、本発明に係るPLLの駆動方法においては、前記スタートアップレベルが、前記スタートアップレベル多重化信号に対応して選択されることを特徴とする。
さらに、本発明に係るPLLの駆動方法においては、前記複数の分配電圧を生成するステップが、前記スタートアップ信号及び前記比較結果信号を受信し、イネーブル信号を生成するステップと、該イネーブル信号に応答して、前記外部電圧を分配するステップと
を含むことを特徴とする。
さらに、本発明に係るPLLの駆動方法においては、前記複数の分配電圧を生成するステップが、前記外部電圧を分配するステップの後、制御信号に応じて分配した電圧及びその中間レベルの電圧を選択的に出力するステップを更に含むことを特徴とする。
さらに、本発明に係るPLLの駆動方法においては、前記制御電圧を駆動するステップが、前記スタートアップ信号及び前記比較結果信号を受信し、駆動制御信号を生成するステップと、該駆動制御信号に応答して、前記制御電圧をプルアップ駆動するステップと
を含むことを特徴とする。
さらに、本発明に係るPLLの駆動方法においては、前記比較結果信号が、前記制御電圧の電圧レベルが前記選択された分配電圧の電圧レベルより高ければ活性化され、前記制御電圧の電圧レベルが前記選択された分配電圧の電圧レベルより低ければ非活性化されることを特徴とする。
さらに、本発明に係るPLLの駆動方法においては、前記スタートアップ信号及び前記比較結果信号に応答して、前記PLLを活性化させるPLLイネーブル信号を生成するステップを更に含み、前記PLLイネーブル信号が、前記制御電圧が前記所定のスタートアップレベルになった後に活性化されることを特徴とする。
さらに、本発明に係るPLLの駆動方法においては、前記ロックステップが、前記PLLイネーブル信号に応答して、基準クロックと、前記内部クロックに対応するフィードバッククロックとの位相差を検出し、それに対応する検出信号を生成するステップと、前記検出信号に対応する電圧レベルを有する前記制御電圧を生成するステップと、前記制御電圧に対応する周波数を有する前記内部クロックを生成するステップとを含むことを特徴とする。
更に、本発明に係る集積回路は、電圧制御発振部を備えるPLLと、前記電圧制御発振部の起動前に、制御電圧端を目標周波数に対応する電圧レベルに駆動するスタートアップ駆動手段とを備える。
さらに、本発明に係る集積回路においては、電圧制御発振部を備えるPLLと、前記電圧制御発振部の起動前に、制御電圧端を目標周波数に対応する電圧レベルに駆動するスタートアップ駆動手段とを備えることを特徴とする。
さらに、本発明に係る集積回路においては、前記目標周波数が、前記PLLのロック後に出力される出力信号の周波数に対応することを特徴とする。
以下、添付された図面を参照して本発明の好ましい実施形態をより詳細に説明する。
図4は、本発明に係るPLLを説明するためのブロック図である。
同図に示すように、本発明に係るPLLは、PLLイネーブル信号EN_PLLに応答して活性化され、基準クロックCLK_REFとフィードバッククロックCLK_FEDとの位相差を検出し、これに対応するアップ検出信号DET_UP及びダウン検出信号DET_DNを生成する位相検出部510と、アップ検出信号DET_UP及びダウン検出信号DET_DNを受信し、それに対応する電圧レベルを有する制御電圧V_CTRを生成する制御電圧生成部530と、制御電圧V_CTRを受信し、それに対応する周波数を有する内部クロックCLK_INNを生成する電圧制御発振部550と、基準クロックCLK_REFの周波数に対応するスタートアップレベル多重化信号SELに応答して、電圧制御発振部550の起動前に、制御電圧V_CTR端を所定のスタートアップレベルに駆動するスタートアップ駆動部590とを備えることができ、内部クロックCLK_INNの周波数を分周してフィードバッククロックCLK_FEDを生成する周波数分周部570を更に備えることができる。
位相検出部510は、PLLイネーブル信号EN_PLLに応答して、基準クロックCLK_REFとフィードバッククロックCLK_FEDとの位相差に基づき、アップ検出信号DET_UP及びダウン検出信号DET_DNを生成する。アップ検出信号DET_UPは、フィードバッククロックCLK_FEDの位相が基準クロックCLK_REFの位相より遅れると活性化される信号であって、その差だけのパルス幅を有する。ダウン検出信号DET_DNは、フィードバッククロックCLK_FEDの位相が基準クロックCLK_REFの位相より早ければ活性化される信号であって、同じくその差だけのパルス幅を有する。
制御電圧生成部530は、通常、チャージポンプ部532と、ループフィルタ534とを備える。チャージポンプ部532は、アップ検出信号DET_UP及びダウン検出信号DET_DNのパルス幅に対応するだけの電流を生成し、ループフィルタ534は、これを充電又は放電して該当する制御電圧V_CTRを生成する。
電圧制御発振部550は、制御電圧V_CTRの電圧レベルに対応する周波数を有する内部クロックCLK_INNを生成する。例えば、制御電圧V_CTRの電圧レベルが高くなると、内部クロックCLK_INNの周波数は次第に高くなり、制御電圧V_CTRの電圧レベルが低くなると、内部クロックCLK_INNの周波数は次第に低くなる。
周波数分周部570は、周辺環境の変化にかかわらず、正確な周波数の基準クロックCLK_REFを維持できるクリスタル発振器を基準周波数源として用いるため、内部クロックCLK_INNの周波数より低い周波数のフィードバッククロックCLK_FEDを実現するためのものである。これにより、位相検出部510は、低周波数のフィードバッククロックCLK_FEDと低周波数の基準クロックCLK_REFとを比較する。
本発明は、スタートアップ駆動部590を追加し、これにより、ロックタイムを短縮することができる。
スタートアップ駆動部590は、PLLの動作前に、より詳細には、電圧制御発振部550の起動前に、スタートアップ信号STR_UPに応答して、制御電圧V_CTR端を目標周波数に対応する所定のスタートアップレベルに駆動させる。
ここで、スタートアップレベルは、ロック時点の制御電圧V_CTRの電圧レベルを有することが好ましく、基準クロックCLK_REFに対応して変化することが好ましい。スタートアップレベルは、スタートアップレベル多重化信号SELによって選択され、スタートアップレベル多重化信号SELは、MRS(Mode Register Set)又はフューズオプション回路を介して出力され得る。したがって、スタートアップレベル多重化信号SELは、基準クロックCLK_REFに関する情報を有する信号、すなわち、所望のスタートアップレベルに関する情報を有する信号であることが好ましい。
つまり、スタートアップ駆動部590は、PLLの動作前に、スタートアップレベル多重化信号SELに対応するスタートアップレベルを制御電圧V_CTR端に提供することにより、高速のロック動作を実現することができる。
図5は、図4のスタートアップ駆動部590を説明するための図である。
同図に示すように、スタートアップ駆動部590は、外部電圧VDDを分配して複数の分配電圧を生成する電圧生成部592と、スタートアップレベル多重化信号SEL1、SEL2に応答して、電圧生成部592で生成された複数の分配電圧のいずれか1つを選択的に出力する電圧選択部594と、制御電圧V_CTR端の電圧レベルと電圧選択部594で選択された分配電圧の電圧レベルとを比較し、比較結果信号COMPを生成する電圧比較部596と、スタートアップ信号STR_UP及び比較結果信号COMPに応答して、制御電圧V_CTR端を駆動する駆動部598とを備えることができる。
電圧生成部592は、スタートアップ信号STR_UP及び比較結果信号COMPを受信し、イネーブル信号EN_DIVを生成するイネーブル信号生成部610と、イネーブル信号EN_DIVに応答して電圧分配部630を活性化させる活性化部620と、外部電圧VDD端と活性化部620との間に接続され、外部電圧VDDを分配する電圧分配部630とを備えることができる。
ここで、活性化部620は、電圧分配部630と接地電圧VSS端との間にソース・ドレイン接続され、イネーブル信号EN_DIVをゲート入力とする第1NMOSトランジスタNM1を備えることができ、イネーブル信号EN_DIVは、スタートアップ信号STR_UPに応答して活性化され、比較結果信号COMPに応答して非活性化される信号である。
電圧分配部630は、外部電圧VDD端と活性化部620との間に直列接続された複数の抵抗R1、R2、R3、R4、R5を備えることができ、本実施形態では、5つの抵抗を備え、4つの分配電圧を生成することを例示している。前記電圧分配部630は、チップ面積の負担を低減し、かつ、種々の分配電圧を生成できるように、比較的大きな面積を占める抵抗の代わりに、他の素子を用いて多様に実現され得る。これに関しては、後述する図面を参照して具体的に説明する。
一方、駆動部598は、スタートアップ信号STR_UP及び比較結果信号COMPを受信し、駆動制御信号CTR_DRVを生成する駆動制御信号生成部598Aと、駆動制御信号CTR_DRVに応答して、制御電圧V_CTR端をプルアップ駆動するプルアップ駆動部598Bとを備えることができる。
ここで、プルアップ駆動部598Bは、外部電圧VDD端と制御電圧V_CTR端との間にソース・ドレイン接続され、駆動制御信号CTR_DRVをゲート入力とする第1PMOSトランジスタPM1を備えることができ、駆動制御信号CTR_DRVは、スタートアップ信号STR_UPに応答して活性化され、比較結果信号COMPに応答して非活性化される信号である。
更に、比較結果信号COMPは、制御電圧V_CTR端の電圧レベルが選択された分配電圧の電圧レベルより高ければ論理ハイレベルになり、電圧生成部592及び駆動部598を非活性化させ、選択された分配電圧の電圧レベルが制御電圧V_CTR端の電圧レベルより高ければ論理ローレベルになり、電圧生成部592及び駆動部598を活性化させるための信号である。
また、スタートアップレベル多重化信号SEL1、SEL2は、複数の分配電圧に対応する信号であって、本実施形態では、4つの分配電圧を選択する2つのスタートアップレベル多重化信号SEL1、SEL2を用いた。
以下、動作の説明により、各信号及び各ノードをより詳細に説明する。
比較結果信号COMPが論理ローレベルで非活性化された状態で、かつ、電圧制御発振部550の起動前に、スタートアップ信号STR_UPが論理ハイレベルになると、イネーブル信号EN_DIVは論理ハイレベルになり、活性化部620の第1NMOSトランジスタNM1をターンオンさせる。これにより、電圧分配部630は、複数の分配電圧を生成し、電圧選択部594は、スタートアップレベル多重化信号SEL1、SEL2に応答して、複数の分配電圧のいずれか1つの分配電圧を出力する。
ここで、選択された分配電圧は、所定のスタートアップレベルに対応することが好ましく、この選択された分配電圧に対応して駆動された制御電圧V_CTR端により、PLLは高速のロックタイムを保障することができる。
一方、電圧比較部596は、選択された分配電圧により、論理ローレベルの比較結果信号COMPを出力し、スタートアップ信号STR_UP及び比較結果信号COMPに応答して、駆動制御信号CTR_DRVは論理ローレベルになる。これにより、プルアップ駆動部598Bの第1PMOSトランジスタPM1がターンオンされ、制御電圧V_CTR端が高速でプルアップ駆動される。制御電圧V_CTR端の電圧レベルが選択された分配電圧の電圧レベルより高ければ、電圧比較部596は論理ハイレベルの比較結果信号COMPを出力する。論理ハイレベルの比較結果信号COMPは、電圧生成部592及び駆動部598を非活性化させ、これにより、スタートアップ駆動部590のスタートアップ動作が中止する。
図6は、図5の電圧分配器及び電圧選択部の他の実施形態を説明するための図である。
同図に示すように、電圧分配器は、外部電圧VDDを分配して複数の分配電圧V_DIV1、V_DIV2、V_DIV3、V_DIV4を生成する電圧分配部630_1と、第1制御信号(第1の制御信号)CTR_LEV1及び第2制御信号(第2の制御信号)CTR_LEV2に応答して、第1分配電圧V_DIV1、第2分配電圧V_DIV2、又は第1分配電圧V_DIV1と第2分配電圧V_DIV2との中間レベル電圧を出力する第1レベル多変化部640と、第1制御信号(第1の制御信号)CTR_LEV1及び第2制御信号(第2の制御信号)CTR_LEV2に応答して、第3分配電圧V_DIV3、第4分配電圧V_DIV4、又は第3分配電圧V_DIV3と第4分配電圧V_DIV4との中間レベル電圧を出力する第2レベル多変化部650と、スタートアップレベル多重化信号SELに応答して、第1レベル多変化部640及び第2レベル多変化部650の出力信号のいずれか1つを選択的に出力する電圧選択部594_1とを備えることができる。
電圧分配部630_1は、外部電圧VDD端と接地電圧VSS端との間に直列接続された5つの抵抗R6、R7、R8、R9、R10を備え、第1分配電圧〜第4分配電圧V_DIV1、V_DIV2、V_DIV3、V_DIV4を生成する。
第1レベル多変化部640は、第1制御信号(第1の制御信号)CTR_LEV1に応答して、第1分配電圧V_DIV1端と第1出力端OUT1とを接続させる第1スイッチング部641と、第2制御信号(第2の制御信号)CTR_LEV2に応答して、第2分配電圧V_DIV2端と第1出力端OUT1とを接続させる第2スイッチング部642とを備えることができる。
ここで、第1スイッチング部641は、第1分配電圧V_DIV1端と第1出力端OUT1との間にソース・ドレイン接続され、第1制御信号(第1の制御信号)CTR_LEV1をゲート入力とする第1NMOSトランジスタNM2を備えることができ、第2スイッチング部642は、第2分配電圧V_DIV2端と第1出力端OUT1との間にソース・ドレイン接続され、第2制御信号(第2の制御信号)CTR_LEV2をゲート入力とする第2NMOSトランジスタNM3を備えることができる。
第2レベル多変化部650は、第1制御信号(第1の制御信号)CTR_LEV1に応答して、第3分配電圧V_DIV3端と第2出力端OUT2とを接続させる第3スイッチング部651と、第2制御信号(第2の制御信号)CTR_LEV2に応答して、第4分配電圧V_DIV4端と第2出力端OUT2とを接続させる第4スイッチング部652とを備えることができる。
ここで、第3スイッチング部651は、第3分配電圧V_DIV3端と第2出力端OUT2との間にソース・ドレイン接続され、第1制御信号(第1の制御信号)CTR_LEV1をゲート入力とする第3NMOSトランジスタNM4を備えることができ、第4スイッチング部652は、第4分配電圧V_DIV4端と第2出力端OUT2との間にソース・ドレイン接続され、第2制御信号(第2の制御信号)CTR_LEV2をゲート入力とする第4NMOSトランジスタNM5を備えることができる。
第1制御信号(第1の制御信号)CTR_LEV1、第2制御信号(第2の制御信号)CTR_LEV2、及びスタートアップレベル多重化信号SELは、それぞれ、分配電圧、第1出力端OUT1、及び第2出力端OUT2に対応する個数を有することが好ましく、第1制御信号(第1の制御信号)CTR_LEV1及び第2制御信号(第2の制御信号)CTR_LEV2も、MRS(図示せず)で生成され得、外部又は内部から入力される信号であり得る。
動作を簡単に説明すると、電圧分配部630_1は、第1分配電圧〜第4分配電圧V_DIV1、V_DIV2、V_DIV3、V_DIV4を生成する。
第1のケースとして、第1制御信号(第1の制御信号)CTR_LEV1が論理ハイレベル、第2制御信号(第2の制御信号)CTR_LEV2が論理ローレベルの場合、第1NMOSトランジスタNM2及び第3NMOSトランジスタNM4がターンオンされ、第2NMOSトランジスタNM3及び第4NMOSトランジスタNM5がターンオフされる。これにより、第1出力端OUT1を介して第1分配電圧V_DIV1が出力され、第2出力端OUT2を介して第3分配電圧V_DIV3が出力される。したがって、スタートアップレベル多重化信号SELに応じて、最終出力端DIV_OUTに、第1分配電圧V_DIV1又は第3分配電圧V_DIV3が出力され得る。
第2のケースとして、第1制御信号(第1の制御信号)CTR_LEV1が論理ローレベル、第2制御信号(第2の制御信号)CTR_LEV2が論理ハイレベルの場合、第1NMOSトランジスタNM2及び第3NMOSトランジスタNM4がターンオフされ、第2NMOSトランジスタNM3及び第4NMOSトランジスタNM5がターンオンされる。これにより、第1出力端OUT1を介して第2分配電圧V_DIV2が出力され、第2出力端OUT2を介して第4分配電圧V_DIV4が出力される。したがって、スタートアップレベル多重化信号SELに応じて、最終出力端DIV_OUTに、第2分配電圧V_DIV2又は第4分配電圧V_DIV4が出力され得る。
第3のケースとして、第1制御信号(第1の制御信号)CTR_LEV1及び第2制御信号(第2の制御信号)CTR_LEV2がいずれも論理ハイレベルの場合、第1NMOSトランジスタNM2及び第2NMOSトランジスタNM3がターンオンされ、第1出力端OUT1を介して第1分配電圧V_DIV1と第2分配電圧V_DIV2との中間レベル電圧が出力される。また、第3NMOSトランジスタNM4及び第4NMOSトランジスタNM5がターンオンされ、第2出力端OUT2を介して第3分配電圧V_DIV3と第4分配電圧V_DIV4との中間レベル電圧が出力される。同じく、スタートアップレベル多重化信号SELに応じて、最終出力端DIV_OUTに、第1出力端OUT1又は第2出力端OUT2の電圧レベルが出力され得る。
例えば、電圧分配部630_1において、5Vの外部電圧VDDにより、4Vの第1分配電圧V_DIV1、3Vの第2分配電圧V_DIV2、2Vの第3分配電圧V_DIV3、及び1Vの第4分配電圧V_DIV4が生成可能と仮定する。
第1制御信号(第1の制御信号)CTR_LEV1が論理ハイレベル、第2制御信号(第2の制御信号)CTR_LEV2が論理ローレベルの場合、最終出力端DIV_OUTに、第1分配電圧V_DIV1が4V、又は第3分配電圧V_DIV3が2V出力され得る。また、第1制御信号(第1の制御信号)CTR_LEV1が論理ローレベル、第2制御信号(第2の制御信号)CTR_LEV2が論理ハイレベルの場合、最終出力端DIV_OUTに、第2分配電圧V_DIV2が3V、又は第4分配電圧V_DIV4が1V出力され得る。更に、第1制御信号(第1の制御信号)CTR_LEV1及び第2制御信号(第2の制御信号)CTR_LEV2がいずれも論理ハイレベルの場合、最終出力端DIV_OUTに、第1分配電圧V_DIV1と第2分配電圧V_DIV2との中間レベル電圧が3.5V、又は第3分配電圧V_DIV3と第4分配電圧V_DIV4との中間レベル電圧が1.5V出力され得る。
したがって、5つの抵抗R1、R2、R3、R4、R5を備え、4つの分配電圧を生成する電圧分配部630及び電圧選択部594に比べて(ただし、制御信号の個数を調節しなければならない)、同数の抵抗によって複数の分配電圧を生成することができ、同じくより少ない数の抵抗を用いて同数の分配電圧を生成することが可能である。これにより、種々の分配電圧を生成するのに対し、チップ面積への負担を低減することにより、効率的なレイアウトが可能になる。
本発明によると、スタートアップ動作により、制御電圧V_CTR端の電圧レベルを、電圧制御発振部550の動作前に、スタートアップレベルまで高速で引き上げることができるため、PLLは高速のロックタイムを保障することができる。
一方、本発明に係るPLLは、スタートアップ動作後、PLLを動作させるためのPLLイネーブル信号生成部710を更に備えることができる。
図7は、PLLイネーブル信号生成部710を説明するための図である。
同図に示すように、PLLイネーブル信号生成部710は、スタートアップ信号STR_UP及び比較結果信号COMPを入力とし、PLLイネーブル信号EN_PLLを生成する第1ANDゲートAND11を備えることができる。
ここで、PLLイネーブル信号EN_PLLは、制御電圧V_CTR端が、スタートアップ動作によりスタートアップレベルになった後に活性化される信号であって、スタートアップ動作時に論理ハイレベルになるスタートアップ信号STR_UP、及び制御電圧V_CTR端が、スタートアップレベル以上に上がった場合に論理ハイレベルになる比較結果信号COMPに応答して、論理ハイレベルで活性化される。
図8は、図4の位相検出部510を説明するための図である。
同図に示すように、位相検出部510は、PLLイネーブル信号EN_PLLに応答して受信した基準クロックCLK_REFを出力する第1出力部810と、PLLイネーブル信号EN_PLLに応答して受信したフィードバッククロックCLK_FEDを出力する第2出力部830と、第1出力部810の出力クロックに応答してアップ検出信号DET_UPを生成する第1Dフリップフロップ850と、第2出力部830の出力クロックに応答してダウン検出信号DET_DNを生成する第2Dフリップフロップ870と、アップ検出信号DET_UP及びダウン検出信号DET_DNに応答して、第1Dフリップフロップ850及び第2Dフリップフロップ870をリセットさせるリセット信号CTR_RSTを生成するリセット部890とを備えることができる。
ここで、第1出力部810は、PLLイネーブル信号EN_PLL及び基準クロックCLK_REFを入力とする第2ANDゲートAND12を備えることができ、第2出力部830は、PLLイネーブル信号EN_PLL及びフィードバッククロックCLK_FEDを入力とする第3ANDゲートAND13を備えることができ、リセット部890は、アップ検出信号DET_UP及びダウン検出信号DET_DNを入力とする第4ANDゲートAND14を備えることができる。第1Dフリップフロップ850及び第2Dフリップフロップ870の具体的な回路構成は、既に公知であるため、ここでは具体的な説明は省略する。
これにより、位相検出部510の第1Dフリップフロップ850は、PLLイネーブル信号EN_PLLに応答して基準クロックCLK_REFを受信し、第2Dフリップフロップ870は、PLLイネーブル信号EN_PLLに応答してフィードバッククロックCLK_FEDを受信する。結局、位相検出部510は、制御電圧V_CTRがスタートアップレベルまで上がった後に動作する。
前述のように、所望の目標周波数を有する内部クロックCLK_INNを生成できる電圧レベルのスタートアップレベルを、電圧制御発振部550の起動前に制御電圧V_CTR端に提供することにより、PLLのロックタイムを画期的に短縮させることができる。
また、ロックタイムを短縮することにより、ロック動作における消費電力を減少させることができる。更に、従来では、電圧制御発振部の発振動作だけで制御電圧V_CTRを所望のレベルまで引き上げていたのに対し、プルアップ動作により、制御電圧V_CTRを所望のレベルまで引き上げることにより、これに伴う電力消費も減少させることができる。
本発明によると、所望の周波数の内部クロックを生成するのに必要なロックタイムを短縮することにより、高速の回路動作特性が得られ、ロック動作に消費される電力を効率的に使用できる効果が得られる。
以上、本発明は、上記した実施形態に限定されるものではなく、本発明に係る技術的思想の範囲から逸脱しない範囲内で様々な変更が可能であり、それらも本発明の技術的範囲に属する。
例えば、上記した実施形態では、プルアップ駆動部598BとしてPMOSトランジスタPM1を使用する場合を一例として説明しているが、本発明は、これを他のトランジスタに代替する場合にも適用される。そればかりでなく、上記した実施形態で示している論理ゲート及びトランジスタは、入力される信号の極性に応じてその位置及び種類が異なるように実現されなければならない。
また、上記した実施形態では、PLLでのスタートアップ動作を一例として説明しているが、本発明は、DLLはもちろん、他の回路のスタートアップ動作においても適用可能である。
従来技術に係るPLLを説明するためのブロック図である。 図1の位相検出部を説明するための図である。 図1の電圧制御発振部を説明するための図である。 本発明に係るPLLを説明するためのブロック図である。 図4のスタートアップ駆動部を説明するための図である。 図5の電圧分配器及び電圧選択部の他の実施形態を説明するための図である。 PLLイネーブル信号生成部を説明するための図である。 図4の位相検出部を説明するための図である。
符号の説明
510 位相検出部
530 制御電圧生成部
532 チャージポンプ部
534 ループフィルタ
550 電圧制御発振部
570 周波数分周部
590 スタートアップ駆動部

Claims (25)

  1. 基準クロックとフィードバッククロックとの位相差を検出し、それに対応する検出信号を生成する位相検出手段と、
    前記検出信号に対応する電圧レベルを有する制御電圧を生成する制御電圧生成手段と、
    該制御電圧のレベルに対応する周波数を有する内部クロックを生成する電圧制御発振手段と、
    前記基準クロックの周波数に対応するスタートアップレベル多重化信号に応答して、前記電圧制御発振手段の起動前に制御電圧端を所定のスタートアップレベルに駆動するスタートアップ駆動手段と
    を備えることを特徴とするPLL。
  2. 前記スタートアップレベルが、前記スタートアップレベル多重化信号に対応して互いに異なる電圧レベルが選択されることを特徴とする請求項1に記載のPLL。
  3. 前記スタートアップ駆動手段が、
    外部電圧を分配して複数の分配電圧を生成する電圧生成手段と、
    前記スタートアップレベル多重化信号に応答して、前記複数の分配電圧のいずれか1つを選択的に出力する電圧選択手段と、
    前記制御電圧端の電圧レベルと前記選択された分配電圧の電圧レベルとを比較し、比較結果信号を生成する電圧比較手段と、
    前記電圧制御発振手段の起動前に活性化されるスタートアップ信号及び前記比較結果信号に応答して、前記制御電圧端を駆動する駆動手段と
    を備えることを特徴とする請求項1に記載のPLL。
  4. 前記電圧生成手段が、
    前記スタートアップ信号及び前記比較結果信号を受信し、イネーブル信号を生成するイネーブル信号生成部と、
    該イネーブル信号に応答して活性化される活性化部と、
    外部電圧端と前記活性化部との間に接続され、前記外部電圧を分配する電圧分配部とを備え、
    前記イネーブル信号が、前記スタートアップ信号に応答して活性化され、前記比較結果信号に応答して非活性化されることを特徴とする請求項3に記載のPLL。
  5. 前記電圧分配部が、
    前記外部電圧端と前記活性化部との間に直列接続された複数の抵抗を備えることを特徴とする請求項4に記載のPLL。
  6. 前記電圧生成手段が、
    前記電圧分配部の複数の出力電圧を受け、制御信号に応じてそれぞれの出力電圧又はその中間レベル電圧を選択的に出力する多重化手段を更に備えることを特徴とする請求項4に記載のPLL。
  7. 前記多重化手段が、
    第1制御信号に応答して、前記電圧分配部の第1出力電圧端と前記多重化手段の第1出力電圧端とを接続させる第1スイッチング部と、
    第2制御信号に応答して、前記電圧分配部の第2出力電圧端と前記多重化手段の第1出力電圧端とを接続させる第2スイッチング部とからなるレベル多変化手段を備えることを特徴とする請求項6に記載のPLL。
  8. 前記駆動手段が、
    前記スタートアップ信号及び前記比較結果信号を受信し、駆動制御信号を生成する駆動制御信号生成部と、
    該駆動制御信号に応答して、前記制御電圧端をプルアップ駆動するプルアップ駆動部とを備え、
    前記駆動制御信号が、前記スタートアップ信号に応答して活性化され、前記比較結果信号に応答して非活性化されることを特徴とする請求項3に記載のPLL。
  9. 前記比較結果信号が、前記制御電圧端の電圧レベルが前記選択された分配電圧の電圧レベルより高ければ活性化され、前記制御電圧端の電圧レベルが前記選択された分配電圧の電圧レベルより低ければ非活性化されることを特徴とする請求項3に記載のPLL。
  10. 前記スタートアップ信号及び前記比較結果信号に応答して、前記PLLを活性化させるPLLイネーブル信号を生成するPLLイネーブル信号生成手段を更に備え、当該PLLイネーブル信号が、前記制御電圧端が前記所定のスタートアップレベルになった後に活性化されることを特徴とする請求項2に記載のPLL。
  11. 前記位相検出手段が、前記PLLイネーブル信号に応答して、第1検出信号及び第2検出信号を生成することを特徴とする請求項10に記載のPLL。
  12. 前記第1検出信号が、前記フィードバッククロックの位相が前記基準クロックの位相より遅れると活性化されることを特徴とする請求項11に記載のPLL。
  13. 前記第2検出信号が、前記フィードバッククロックの位相が前記基準クロックの位相より早ければ活性化されることを特徴とする請求項11に記載のPLL。
  14. 前記位相検出手段が、
    前記PLLイネーブル信号に応答して受信した前記基準クロックを出力する第1出力部と、
    前記PLLイネーブル信号に応答して受信した前記フィードバッククロックを出力する第2出力部と、
    前記第1出力部の出力クロックに応答して、前記第1検出信号を生成する第1検出信号生成部と、
    前記第2出力部の出力クロックに応答して、前記第2検出信号を生成する第2検出信号生成部と、
    前記第1検出信号及び第2検出信号に応答して、前記第1検出信号生成部及び第2検出信号生成部をリセットするリセット部と
    を備えることを特徴とする請求項11に記載のPLL。
  15. 制御電圧の電圧レベルに対応する周波数を有する内部クロックを生成する電圧制御発振部を備えるPLLの駆動方法において、
    前記電圧制御発振部の起動前に、スタートアップ信号に応答して、前記制御電圧を所定のスタートアップレベルに駆動するスタートアップステップと、
    該スタートアップステップの後、前記PLLのロック動作を行うロックステップと
    を含むことを特徴とするPLLの駆動方法。
  16. 前記スタートアップステップが、
    外部電圧を分配して複数の分配電圧を生成するステップと、
    スタートアップレベル多重化信号に応答して、前記複数の分配電圧のいずれか1つを選択的に出力するステップと、
    前記制御電圧の電圧レベルと前記選択された分配電圧の電圧レベルとを比較し、比較結果信号を生成するステップと、
    前記スタートアップ信号及び前記比較結果信号に応答して、前記制御電圧を駆動するステップと
    を含むことを特徴とする請求項15に記載のPLLの駆動方法。
  17. 前記スタートアップレベルが、前記スタートアップレベル多重化信号に対応して選択されることを特徴とする請求項16に記載のPLLの駆動方法。
  18. 前記複数の分配電圧を生成するステップが、
    前記スタートアップ信号及び前記比較結果信号を受信し、イネーブル信号を生成するステップと、
    該イネーブル信号に応答して、前記外部電圧を分配するステップと
    を含むことを特徴とする請求項16に記載のPLLの駆動方法。
  19. 前記複数の分配電圧を生成するステップが、
    前記外部電圧を分配するステップの後、制御信号に応じて分配した電圧及びその中間レベルの電圧を選択的に出力するステップを更に含むことを特徴とする請求項18に記載のPLLの駆動方法。
  20. 前記制御電圧を駆動するステップが、
    前記スタートアップ信号及び前記比較結果信号を受信し、駆動制御信号を生成するステップと、
    該駆動制御信号に応答して、前記制御電圧をプルアップ駆動するステップと
    を含むことを特徴とする請求項16に記載のPLLの駆動方法。
  21. 前記比較結果信号が、前記制御電圧の電圧レベルが前記選択された分配電圧の電圧レベルより高ければ活性化され、前記制御電圧の電圧レベルが前記選択された分配電圧の電圧レベルより低ければ非活性化されることを特徴とする請求項16に記載のPLLの駆動方法。
  22. 前記スタートアップ信号及び前記比較結果信号に応答して、前記PLLを活性化させるPLLイネーブル信号を生成するステップを更に含み、
    前記PLLイネーブル信号が、前記制御電圧が前記所定のスタートアップレベルになった後に活性化されることを特徴とする請求項16に記載のPLLの駆動方法。
  23. 前記ロックステップが、
    前記PLLイネーブル信号に応答して、基準クロックと、前記内部クロックに対応するフィードバッククロックとの位相差を検出し、それに対応する検出信号を生成するステップと、
    前記検出信号に対応する電圧レベルを有する前記制御電圧を生成するステップと、
    前記制御電圧に対応する周波数を有する前記内部クロックを生成するステップと
    を含むことを特徴とする請求項22に記載のPLLの駆動方法。
  24. 電圧制御発振部を備えるPLLと、
    前記電圧制御発振部の起動前に、制御電圧端を目標周波数に対応する電圧レベルに駆動するスタートアップ駆動手段と
    を備えることを特徴とする集積回路。
  25. 前記目標周波数が、前記PLLのロック後に出力される出力信号の周波数に対応することを特徴とする請求項24に記載の集積回路。
JP2008006329A 2007-05-16 2008-01-15 Pllとその駆動方法 Pending JP2008289119A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070047498A KR100929652B1 (ko) 2007-05-16 2007-05-16 전압 분배기
KR1020070048574A KR100912963B1 (ko) 2007-05-18 2007-05-18 위상 고정 루프와 그의 구동 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008289119A true JP2008289119A (ja) 2008-11-27

Family

ID=40026922

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008006329A Pending JP2008289119A (ja) 2007-05-16 2008-01-15 Pllとその駆動方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8063708B2 (ja)
JP (1) JP2008289119A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012005124A (ja) * 2010-06-21 2012-01-05 Hynix Semiconductor Inc 位相固定ループ及びその動作方法

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102076326B1 (ko) * 2013-05-09 2020-02-12 삼성전자주식회사 위상 로테이팅 위상동기회로 및 그것의 동작 제어방법
US10263627B1 (en) * 2017-12-12 2019-04-16 Nxp Usa, Inc. Delay-locked loop having initialization circuit
US12087384B2 (en) * 2022-02-10 2024-09-10 Globalfoundries U.S. Inc. Bias voltage generation circuit for memory devices

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61269421A (ja) * 1985-04-24 1986-11-28 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 初期位相整合形位相同期ル−プ回路
JPH05136693A (ja) * 1991-11-15 1993-06-01 Sanyo Electric Co Ltd 位相ロツクループ
JPH05199108A (ja) * 1992-01-22 1993-08-06 Nec Ic Microcomput Syst Ltd Pll回路
JPH06334517A (ja) * 1993-05-26 1994-12-02 Mitsubishi Electric Corp Pll回路
JPH0730413A (ja) * 1993-07-12 1995-01-31 Nec Corp Pll周波数シンセサイザ
JPH08288845A (ja) * 1995-04-10 1996-11-01 Fujitsu General Ltd Pll回路
JPH08316866A (ja) * 1995-05-22 1996-11-29 Sanyo Electric Co Ltd Pll回路
JPH09130241A (ja) * 1995-10-27 1997-05-16 Saitama Nippon Denki Kk Pllシンセサイザ
JP2003298415A (ja) * 2002-04-01 2003-10-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd Pll回路およびpll制御方法
JP2005184771A (ja) * 2003-12-19 2005-07-07 Renesas Technology Corp Pll回路を内蔵する半導体集積回路
JP2005204044A (ja) * 2004-01-15 2005-07-28 Seiko Epson Corp Pll回路の初期動作制御回路
JP2006025131A (ja) * 2004-07-07 2006-01-26 Renesas Technology Corp Pll回路およびdll回路
WO2007037991A2 (en) * 2005-09-26 2007-04-05 Cypress Semiconductor Corporation Tri-stating a phase locked loop to conserve power

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04107011A (ja) 1990-08-28 1992-04-08 Fujitsu Denso Ltd Pll回路
JPH05304467A (ja) * 1992-04-24 1993-11-16 Ricoh Co Ltd 発振回路
JP2953992B2 (ja) * 1995-06-02 1999-09-27 埼玉日本電気株式会社 Pll回路
KR100431337B1 (ko) 1997-01-14 2004-08-18 페어차일드코리아반도체 주식회사 소프트스타트업발진회로
US6912680B1 (en) * 1997-02-11 2005-06-28 Micron Technology, Inc. Memory system with dynamic timing correction
US5874863A (en) * 1997-11-19 1999-02-23 Microchip Technology Incorporated Phase locked loop with fast start-up circuitry
KR19990079320A (ko) 1998-04-03 1999-11-05 김영환 디지탈-아날로그 변환기
US6029250A (en) * 1998-09-09 2000-02-22 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for adaptively adjusting the timing offset between a clock signal and digital signals transmitted coincident with that clock signal, and memory device and system using same
US6407600B1 (en) 2000-06-27 2002-06-18 Intel Corporation Method and apparatus for providing a start-up control voltage
NL1021440C2 (nl) 2001-09-28 2004-07-15 Samsung Electronics Co Ltd Vertragingsvergrendelde lus met meervoudige fasen.
KR20040037915A (ko) 2002-10-31 2004-05-08 주식회사 하이닉스반도체 가변 비트라인 프리차지 전압(Vblp) 발생장치
US6914490B2 (en) * 2003-05-29 2005-07-05 Ibtel Corporation Method for clock generator lock-time reduction during speedstep transition
KR100579051B1 (ko) * 2004-07-30 2006-05-12 삼성전자주식회사 데드-존 제거를 위한 주파수/위상 검출기의 리셋신호발생장치 및 리셋신호 발생방법
JP2006101164A (ja) * 2004-09-29 2006-04-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 自動周波数調整システム

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61269421A (ja) * 1985-04-24 1986-11-28 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 初期位相整合形位相同期ル−プ回路
JPH05136693A (ja) * 1991-11-15 1993-06-01 Sanyo Electric Co Ltd 位相ロツクループ
JPH05199108A (ja) * 1992-01-22 1993-08-06 Nec Ic Microcomput Syst Ltd Pll回路
JPH06334517A (ja) * 1993-05-26 1994-12-02 Mitsubishi Electric Corp Pll回路
JPH0730413A (ja) * 1993-07-12 1995-01-31 Nec Corp Pll周波数シンセサイザ
JPH08288845A (ja) * 1995-04-10 1996-11-01 Fujitsu General Ltd Pll回路
JPH08316866A (ja) * 1995-05-22 1996-11-29 Sanyo Electric Co Ltd Pll回路
JPH09130241A (ja) * 1995-10-27 1997-05-16 Saitama Nippon Denki Kk Pllシンセサイザ
JP2003298415A (ja) * 2002-04-01 2003-10-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd Pll回路およびpll制御方法
JP2005184771A (ja) * 2003-12-19 2005-07-07 Renesas Technology Corp Pll回路を内蔵する半導体集積回路
JP2005204044A (ja) * 2004-01-15 2005-07-28 Seiko Epson Corp Pll回路の初期動作制御回路
JP2006025131A (ja) * 2004-07-07 2006-01-26 Renesas Technology Corp Pll回路およびdll回路
WO2007037991A2 (en) * 2005-09-26 2007-04-05 Cypress Semiconductor Corporation Tri-stating a phase locked loop to conserve power

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012005124A (ja) * 2010-06-21 2012-01-05 Hynix Semiconductor Inc 位相固定ループ及びその動作方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20080284527A1 (en) 2008-11-20
US8063708B2 (en) 2011-11-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4310636B2 (ja) デジタル遅延固定ループ
US8384448B2 (en) DLL circuit and method of controlling the same
KR100429127B1 (ko) 클럭 동기 장치
KR100334362B1 (ko) 반도체집적회로시스템,반도체집적회로및,반도체집적회로시스템을구동하기위한방법
JP2009065633A (ja) 半導体装置及びその駆動方法
JP2005244617A (ja) パワーオンリセット回路および半導体集積回路
JP2009284484A (ja) デューティ比補正回路
KR100910862B1 (ko) 반도체 소자와 그의 구동 방법
US6239635B1 (en) Self-timing control circuit
JP2009295263A (ja) 半導体メモリ装置
US8222934B2 (en) DLL circuit and method of controlling the same
US20010015664A1 (en) Delay time adjusting method of delaying a phase of an output signal until a phase difference between an input signal and the output signal becomes an integral number of periods other than zero
JP2008289119A (ja) Pllとその駆動方法
US8072254B2 (en) Delay cell and phase locked loop using the same
KR100912963B1 (ko) 위상 고정 루프와 그의 구동 방법
JP5031233B2 (ja) 周波数によって負荷キャパシタが可変される位相固定ループ装置
JP2011166232A (ja) 位相検出回路およびpll回路
US8283962B2 (en) Semiconductor device and operation method thereof for generating phase clock signals
US20020021586A1 (en) Semiconductor memory device for providing margin of data setup time and data hold time of data terminal
KR20090000512A (ko) 위상 믹서 회로 및 이를 포함하는 듀티 싸이클 보정 회로
US8331190B2 (en) Semiconductor memory device and operation method thereof
JP4829844B2 (ja) パルス合成回路
KR100875664B1 (ko) 반도체 소자의 내부전압 발생기
JP2007184845A (ja) 半導体装置
KR20090045582A (ko) 듀티 사이클 보정 회로와 그의 구동 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110114

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20120323

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20120402

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120611

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120619

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120919

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130319

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20131008