JP2008182767A - 水晶発振器 - Google Patents

水晶発振器 Download PDF

Info

Publication number
JP2008182767A
JP2008182767A JP2008097161A JP2008097161A JP2008182767A JP 2008182767 A JP2008182767 A JP 2008182767A JP 2008097161 A JP2008097161 A JP 2008097161A JP 2008097161 A JP2008097161 A JP 2008097161A JP 2008182767 A JP2008182767 A JP 2008182767A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
crystal oscillator
container body
mounting
electrode
electrode pad
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008097161A
Other languages
English (en)
Inventor
Hidefumi Hatanaka
英文 畠中
Riyouma Sasagawa
亮磨 笹川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP2008097161A priority Critical patent/JP2008182767A/ja
Publication of JP2008182767A publication Critical patent/JP2008182767A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION, OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L1/00Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply
    • H03L1/02Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply against variations of temperature only
    • H03L1/04Constructional details for maintaining temperature constant

Abstract

【課題】IC素子の接合信頼性に優れ、全体構造の小型化にも対応することができる水晶発振器を提供する。
【解決手段】水晶振動素子を収容した容器体と、前記容器体の下面に一対の脚部を介して配置された実装用基体と、前記容器体及び前記実装用基体の間に設けられ、前記脚部の存在しない方向に開口する素子収納領域と、前記素子収納領域に、一対の側面を前記脚部に対向させた状態で収納されるIC素子と、を備えた水晶発振器。
【選択図】図1

Description

本発明は、携帯用通信機器等の電子機器に用いられる水晶発振器に関するものである。
従来、携帯用通信機器等の電子機器に温度補償水晶発振器が用いられている。
かかる従来の温度補償水晶発振器としては、例えば特開2000―278047号公報(下記、特許文献1)に記載されているように、下面に複数個の外部端子が被着されている平板状基板の上面に、内部に水晶振動素子が収容されており、下面側に取付けられた枠状基体が取付けられている容器体を接合させるとともに、前記枠状基体の内壁面と容器体の下面とで囲まれるキャビティ部に前記水晶振動素子の振動に基づいて発振出力を制御するIC素子を配設し、これらのIC素子を前記容器体の下面に搭載した構造のものが知られている。
尚、前記容器体は、その内部に収容されている水晶振動素子を大気と遮断して気密封止するためのものであり、電気絶縁性材料から成る基板の上面にシールリングを、該シールリングの内側に水晶振動素子をそれぞれ取着させ、前記シールリングの上面に金属製の蓋体をシーム溶接(抵抗溶接)等で接合することによって水晶振動素子が収容されている空間を気密封止している。
また、このような容器体の基板や上述した枠状基体は、通常、ガラス−セラミック等のセラミック材料によって一体的に形成されており、その内部及び表面には配線導体が形成され、従来周知のセラミックグリーンシート積層法等を採用することによって製作されていた。
また、IC素子の実装領域には、例えば特開2001−291742号公報(下記、特許文献2)に記載されているように、例えばIC素子の各電極と接続する複数の電極パッドは、例えば2列で、一方の列に5つの電極パッド、もう一.方の列に6つの電極パッドが配置されていた。
特開2000―278047号公報 特開2001―291742号公報(図1、図3、図4)
IC素子は、複数個の接続パッドを有したフリップチップ型のIC素子が用いられており、かかるフリップチップ型のIC素子を実装用基体の下面に搭載する場合は、IC素子の実装領域の電極パッドに半田などの導電性接合部材を介して、接続パッドに対応する電極パッドに当接させた上、半田等の導電性接合部材を高温で加熱・溶融させることによってIC素子を実装用基体に電気的・機械的に接続させていた。
しかし、上述した温度補償水晶発振器において、その平面形状が7mm×5mm、5mm×3mm、さらに、3mm×2mmと小型化され、それに伴いIC素子の小型化が強く求められる。その結果、IC素子の実装領域が小さくなり、各電極パッドの間隔も狭くしなくてはならず、接合信頼性が低下して、さらに、電極パッドに接続する引き回し配線導体の自由度が制約を受けてしまうという問題があった。
また、温度補償水晶発振器では、水晶振動素子の固有温度特性に応じて、IC素子の発振制御により発振出力を平坦化させるために、IC素子を実装する前に、予め水晶振動素子の固有の温度特性を測定しておく必要がある。この電極パッドの小型化によってこの測定を行うことも困難となり、生産性が大きく低下してしまう。
本発明は上述した課題に鑑み案出されたもので、その目的は、IC素子の接合信頼性を維持・向上させ、かつ発振器全体を小型化にすることができる温度補償水晶発振器を提供することにある。
本発明の水晶発振器は、水晶振動素子を収容した容器体と、前記容器体の下面に一対の脚部を介して配置された実装用基体と、前記容器体及び前記実装用基体の間に設けられ、前記脚部の存在しない方向に開口する素子収納領域と、前記素子収納領域に、一対の側面を前記脚部に対向させた状態で収納されるIC素子と、を備えている。
また、本発明の水晶発振器は、前記一対の脚部が、前記IC素子の両側に該IC素子と離間して配置されていることを特徴とする。
また、本発明の水晶発振器は、前記容器体内に前記水晶振動子の一端を保持する保持部が形成されており、該保持部が形成された側の前記容器体の端部に、前記脚部の一方が設けられていることを特徴とする。
また、本発明の水晶発振器は、前記容器体の下面に、表面実装用外部端子が形成されており、前記実装用基体のIC素子実装領域には、前記水晶振動素子に接続する複数の水晶電極パッド、前記表面実装用外部端子に接続する発振出力電極パッド、グランド電極パッド、電源電圧電極パッド及び前記端子に接続する複数の書き込み制御用電極パッドを含む複数の電極パッドがm行×n列(m、nは2以上の自然数)の行列状に配置されており、前記IC素子の一主面に設けられる複数の接続パッドを対応する前記電極パッドに電気的に接続したことを特徴とする。
また、本発明の水晶発振器は、前記電極パッドのうち少なくとも1個が、前記接続パッドに接合されるダミー電極パッドであることを特徴とする。
また、本発明の水晶発振器は、前記複数個の電極パッドは、行方向及び列方向に一定間隔で一直線状に配列し、且つ全ての行と全ての列とが直交するように配置されていることを特徴とする。
また、本発明の水晶発振器は、前記実装用基体は少なくとも2つの絶縁層を積層してなり、該2つの絶縁層間には、前記電極パッドの直下もしくは直上に配置されたビアホール導体と接続する配線導体が介在されていることを特徴とする水晶発振器。
また、本発明の水晶発振器は、前記IC素子が、半導体素子の一主面上に前記IC素子の各接続パッドを各電極パッド形成位置に対応させるための再配線層を配設してなることを特徴とする。
また、本発明の水晶発振器は、前記実装用基体は、平板状をなしており、前記容器体の下面には少なくとも前記IC素子の高さ以上の厚みを有したスペーサ部が設けられていることを特徴とする。
本発明の水晶発振器によれば、水晶発振器の小型化に対応して、IC素子の小型化をおこなっても、IC素子の接合信頼性を維持向上させながら、発振器全体の小型化に大きく寄与できる。
以下、本発明の請求項1に対応する温度補償水晶発振器を添付図面に基づいて詳細に説明する。
図1は本発明の一実施形態に係る温度補償水晶発振器の斜視図、図2は図1の温度補償水晶発振器の断面図である。
これらの図に示す温度補償水晶発振器は、内部に水晶振動素子5を収容した容器体1の下面に、IC素子7を取着させた平板状の実装用基体6が接合された構造を有している。
前記容器体1は、例えば、ガラス−セラミック、アルミナセラミックス等のセラミック材料から成る積層基板2と、42アロイやコバール,リン青銅等の金属から成るシールリング3と、シールリング3と同様の金属から成る蓋体4とから成り、前記積層基板2の上面にシールリング3を取着させ、その上面に蓋体4を載置・固定させることによって容器体1が構成され、シールリング3の内側に位置する積層基板2の上面に水晶振動素子5が実装される。
前記容器体1は、積層基板2の上面、シールリング3の内面及び蓋体4の下面とで囲まれる空間を有し、この空間内に水晶振動素子5を収容して気密封止している。積層基板2の上面には水晶振動素子5の振動電極に接続される一対の搭載パッド8a、8b(尚、8bは図には現れない)が形成されている。
また、前記積層基板2は、図2に示すように、その下面側に脚部2c、2dを有するものである。この脚部2c、2dは、積層基板2と同質の材料によって形成され、脚部2c、2dの下面には、複数の容器体側接合電極13が形成されている。
また、脚部2c、2dを含む積層基板2の内部には、第1のビアホール導体9a、第5のビアホール導体9f及び配線導体9bを有している。
尚、前記容器体1の積層基板2は、ガラス−セラミック等のセラミック材料から成る場合、例えば、セラミック材料粉末に適当な有機溶剤等を添加・混合して得たセラミックグリーンシートの表面等に搭載パッド8a、8bや配線導体9bとなる導体ペーストを所定パターンに印刷・塗布するとともに、第1のビアホール導体9a、第5のビアホール導体9fとなる導体が形成され、これを複数枚積層してプレス成形した後、高温で焼成することによって製作される。
また前記容器体1のシールリング3及び蓋体4は従来周知の金属加工法を採用し、42アロイ等の金属を所定形状に成形することによって製作され、得られたシールリング3を積層基板2の上面に予め被着させておいた導体層にロウ付けし、続いて水晶振動素子5を導電性接合部材16を用いて積層基板2の上面に実装・固定した後、水晶振動素子5の初期周波数調整を行なった後、所定雰囲気にして上述の蓋体4を従来周知の抵抗溶接等によってシールリング3の上面に接合することによって容器体1が組み立てられるこのようにシールリング3と蓋体4とを抵抗溶接によって接合する場合、シールリング3や蓋体4の表面には予めNiメッキ層やAuメッキ層等を被着させておく。
また、容器体1の内部に収容される水晶振動素子5は、所定の結晶軸でカットした水晶片の両主面に一対の振動電極を被着・形成してなり、所定の周波数で振動を起こす。水晶振動素子5は、一対の振動電極を導電性接合部材16を介して積層基板2上面の搭載パッド8a、8b(図面では、8を付している)に電気的に接続させることによって積層基板2の上面に搭載され、これによって水晶振動素子5と容器体1との電気的接続及び機械的接続が同時になされる。
ここで容器体1の金属製蓋体4を容器体1の積層基板2や実装用基体6の各電極、配線導体を介して後述するグランド端子用の外部端子14に接続させておけば、その使用時、蓋体4がアースされることによりシールド機能が付与され、水晶振動素子5や後述するIC素子7を外部からの不要な電磁ノイズから保護することができる。
次に、実装用基体6は、例えば、ガラス−セラミック、アルミナセラミックス等のセラミック材料から成る基板6a、6bを積層してなり、実装用基体6の内部には、第1のビアホール導体9a、第5のビアホール導体9f及び配線導体9bを有しており、第4のビアホール導体9e、第2のビアホール導体9c、第3のビアホール導体9d及び配線導体9bを有する。
この実装用基体6をガラス−セラミック等のセラミック材料から形成する場合には、例えば、セラミック材料粉末に適当な有機溶剤等を添加・混合して得たセラミックグリーンシートの表面等配線導体9bとなる導体ペーストを所定パターンに印刷・塗布するとともに、第4のビアホール導体9e、第2のビアホール導体9c、第3のビアホール導体9dとなる導体が形成され、これを複数枚積層してプレス成形した後、高温で焼成することによって製作される。
また、実装用基体6上面中央には、前記容器体1の脚部2c、2dの間に配されるIC素子7の接続パッド11に接続される複数個の電極パッド10が形成されている。すなわち、前記脚部2c、2dは、それによって出来た容器体1の凹部底面と実装用基体6の上面との間にIC素子7を実装させるための空間を確保するスペーサとして機能するものである。
実装用基体6の上面のIC素子7が実装される領域には、図3(a)に示すように、IC素子7の接続パッド11に半田などの導電性接合部材17を介して接続する2つ水晶電極パッド10d、10f、発振出力電極パッド10a、グランド電極パッド10h、電源電圧電極パッド10c、発振制御電極パッド10i及び少なくもと2以上の書き込み制御用電極パッド10b、10e、10g(全体で符号10を付す)が、例えば3行3例となる行列状に配置されている。そして、IC素子7の接続パッド11と該各電極パッド10とが半田バンプで接続される場合には、接続パッド11の電極形状が、それに対応する電極パッド10を包含する形状、即ち、若干大きく形成しておくことが望ましい。このようにすると、接続パッド11に半田ボールを形成しても、ボール落ちなどがなく、また、IC素子が若干位置ずれしても、隣接しあう導電性接合部材17との短絡を回避できる。
ここで、縦横に、すなわちm行×n列(m、nは2以上の自然数)の行列状に配置された複数の電極パッド10において、それぞれの行または列に配置される電極パッド10は、図3(a)に示すような正規な行列状の配置ではなく、図3(b)及び図3(c)に示すような配置にしても良い。すなわち、2以上の電極パッド10が直線状に配置されている場合には、1行または1列であるものとみなす。たとえばIC素子7の実装領域に複数個の電極パッド10が図3(b)に示すように配置されている場合、各電極パッド10の配列は3×2の行列状の配置となり、また、図3(c)に示すような場合には、各電極パッド10の配列は3×4の行列状の配置となる。
なお、上述のように、温度補償水晶発振の動作のために8つの電極パッドが必要とする場合、電極パッド全体を3×3の行列状に配列させるために、1つダミー電極パッドを設ける。また、書き込み制御用電極パッド10の増加によって、電極パッド数の全体が増える場合、ダミー電極パッドを含めて,3×4の行列状に配列させたり、4×4の行列状に配列させたり、4×5の行列状に配列させる。
また、実装用基体6の内部には、図4に示すように、配線導体9bと、配線導体9bに接続し、実装用基体6の下方に延びる第4のビアホール導体9eと、この配線導体9bから上方に延びる第2のビアホール導体9c及び第3のビアホール導体9dが形成されている。これらの配線導体9bや第1乃至第3のビアホール導体9a、9c、9dは、通常の実装用基体6の製造方法によって形成される。
他方、積層基板2の内部には、配線導体9bと、配線導体9bに接続し、積層基板2の上方に延びる第1のビアホール導体9aと、この配線導体9bから下方に延びる第5のビアホール導体9fとが形成されている。これらの配線導体9bや第4乃至第5のビアホール導体9e、9fは、通常の積層基板2の製造方法によって形成される。
第4のビアホール導体9eは、外部端子14と所定配線導体9bとを接続するものである。
第5のビアホール導体9fは、積層基板2の下面の容器体側接合電極13と所定配線導体9bとを接続するものである。
ここで、第1のビアホール導体9aは、積層基板2の上面に位置する水晶振動素子5が接続される搭載パッド8と所定配線導体9bとを接続するものである。また、同様に、グランド電位となる配線導体9とシールリング3とを接続するものである。
第2のビアホール導体9cは、実装用基体6の上面の各電極パッド10と所定配線導体9bと接続するものである。
また、第3のビアホール導体9dは、実装用基体6の上面の実装用基体側接合電極12と所定配線導体9bと接続するものである。
従って、水晶電極パッド10d、10fは、図7の分解図のように、第2のビアホール導体9c、配線導体9b、第3のビアホール導体9d、実装用基体側接合電極12、容器体側接合電極13、第5のビアホール導体9f、配線導体9b、第1のビアホール導体9aを介して水晶振動素子5の搭載パッド8に接続している。また、第2のビアホール導体9c、配線導体9b、第3のビアホール導体9dを介して実装用基体側接合電極12に接続している。
また、発振出力電極パッド10aは、図8の分解図の右側のように、第2のビアホール導体9c、配線導体9b、第3のビアホール導体9dを介して実装用基体側接合電極12に接続している。
グランド電極パッド10hは、図8の分解図の左側のように第2のビアホール導体9c、配線導体9b、第3のビアホール導体9dを介して実装用基体側接合電極12に接続している。同時に、この実装用基体側接合電極12は、容器体側接合電極13、第5のビアホール導体9f、第1のビアホール導体9aを介してシールリング3に接続している。
また、電源電圧電極パッド10c、発振制御電極パッド10iは、発振出力電極パッド10aと同様に、第2のビアホール導体9c、配線導体9b、第3のビアホール導体9dを介して実装用基体側接合電極12に接続している。
さらに、書き込み制御用電極パッド10b、10e、10gは、第2のビアホール導体9c、配線導体9b、第3のビアホール導体9dを介して実装用基体側接合電極12に接続している。
また、実装用基体6は、図5の下面図に示すように、その上面には容器体1下面の対応する容器体側接合電極13に電気的及びまたは機械的に接続される複数個の実装用基体側接合電極12(図面では、点線で示す)が形成されている。また実装用基体6の下面には4つの外部端子14a〜14d(発振出力端子14a、グランド端子14b、電源電圧端子14c、発振制御端子14d)が実装用基体6下面の四隅にそれぞれ設けられており、これらの接合電極12と外部端子14とは実装用基体6の角部に形成した導体膜等を介して電気的に接続されている。また、外部端子14と接合電極12とが厚み方向に重なる場合には、ビアホール導体9によって接続してもよい。
ここで、容器体1の下面の容器体側接合電極13と実装用基体6の上面の実装用基体側接合電極12は、一対一に対応して、その間に導電性接合部材18を介して強固に接合される。本実施形態では、実装用基体6上面には一方側につき5つの実装用基体側接合電極12が形成されている。これらの合計10つの実装用基体側接合電極12のうち、容器体1の対応する10つの容器体側接合電極13を通じて延出するものは、水晶電極パッド10d、10f及び書き込み電極パッド10b、10e、10gに接続する実装用基体側接合電極12のみであり、グランド電極パッド10h、電源電圧電極パッド10c、発振制御電極パッド10i、発振出力電極パッド10aは実装用基体側接合電極12に接続されていない。なお、これらグランド電極パッド10h、電源電圧電極パッド10c、発振制御電極パッド10i、発振出力電極パッド10aは、実装用基体側接合電極12を介さず、第2のビアホール導体9c、配線導体9bおよび第4のビアホール導体9eを介して外部端子14に電気的に接続している。
水晶電極パッド(水晶振動素子5)に接続する容器体側接合電極13は、水晶振動素子5の気密封止状態の振動特性を測定する測定用パッドとして用いる。また、測定用パッドとしては、IC素子7を実装する前の水晶電極パッド10d、10fを大きく形成して、これを用いて測定することもできる。
また、書き込み制御電極パッドに接続する容器体側接合電極13は、発振器の側面に設けた温度補償回路に温度補償データを書き込むための書込端子に接続している。例えば、図9に示すように、容器体1の脚部2c、2dと実装用基体6との接合部分の凹みを利用して、この凹部1a内に容器体側接合電極13の一部を露出させておき、これらの書込端子にデータ書込装置のプローブ針を当て、IC素子7の温度補償回路内に設けられているメモリに水晶振動素子5の温度特性に応じた温度補償データを書き込むことができる。この経路は、容器体側接合電極13または実装用基体側接合電極12から第3のビアホール導体9d、配線導体9b、第2のビアホール導体9cを介して接続されることになる。また、このような書込端子は、容器体1の脚部2c、2d等と一体的に設けられる外部の捨代部に配置させておき、温度補償データの書き込みが終了した後でこの捨代部を容器体1の脚部2c、2d等から切り離すようにしても良い。
上述の4個の外部端子14は、温度補償水晶発振器をマザーボードの所定回路配線と電気的に接続させる。外部端子14のうち、グランド外部端子14bおよび発振出力外部端子14aを、電源電圧外部端子14cおよび発振制御外部端子14dから離れて配するようにすれば、発振出力にノイズの干渉するのを有効に防止することができる。
前記実装用基体6の各電極パッド10に接続されるIC素子7は、図6(a)及び(b)に示すように、半導体素子7aの一主面上にIC素子7の各接続パッドを各電極パッド形成位置に対応させるための再配線層7bを配設してなる矩形状のフリップチップ型ICが用いられている。半導体素子7aには、周囲の温度状態を検知する感温度素子、水晶振動素子5の温度特性を補償する温度補償データが書き込まれる記憶素子、周囲の温度に対応する所定温度補償データに基づいて前記水晶振動素子5の振動特性を補正する温度補償回路、該温度補償回路に接続されて所定の発振出力を生成する発振回路等が設けられている。
また、半導体素子7aの実装面側に内部接続電極7cが形成されている。この内部接続電極7cの配列は、半導体素子7aに集積された各素子、各回路形成領域に避けて形成されることから全く規則性がない。
そこで、半導体素子7aの実装面には、複数の絶縁層7d、所定配線層(絶縁層の厚み方向のビアホール導体を含む)7e及び接続パッド11を有する再配線層7bが形成される。これにより、再配線層7bの実装面には、規則がなく形成された内部接続電極7cを電極パッド10の形成位置に対応するように行列状に変換した接続パッド11が形成されている。しかも、これらの接続パッド11は、実装面に均一に分散して形成されることになり、電極パッド10に接合されたときに、接合部分を均等に分散でき、接合強度の向上を図ることができる。
なお、IC素子7と電極パッド10との接合強度を向上させるために、この接続パッド11として、内部接続電極7cに接続しないダミー接続パッドを形成してもよい。
このようなIC素子7は、その下面に設けた複数の接続パッド11を、実装用基体6上面の対応する電極パッド10に半田や金バンプ等の導電性接合部材17を介して電気的に接続させることによって実装用基体6の上面に取着される。これによってIC素子7内の所定素子、回路が、第2のビアホール導体9c、配線導体9b等を介して水晶振動素子5や実装用基体6下面の外部端子14等と電気的に接続される。
以上のように、本発明の温度補償水晶発振器によれば、水晶電極パッド10d、10f、外部端子14a、14b、14c、14dに接続する発振出力電極パッド10a、グランド電極パッド10h、電源電圧電極パッド10c、発振制御電極パッド10i及び少なくとも2つの書き込み制御用電極パッド10b、10e、10gが、それぞれ縦横に行列状に形成されている。そして、IC素子7の接続パッド11は、該各電極パッド10に対応して形成されて、電気的に接続されている。従って、電極パッド10をIC素子7の実装領域の全域に、行列状に均等に分散されるように配置されている。
これにより、IC素子7が小型化しても、IC素子7の実装領域内に電極パッド10を効率よく形成でき、占有率を高めることができる。即ち、実装用基体6の無駄なスペースであるIC素子7実装領域内におけるデッドスペースを削減でき、温度補償水晶発振器の小型化に大きく寄与できる。
また、IC素子7が導電性接合部材17を介して電極パッド10に極接合するにあたり、この接合部分をIC素子7の実装領域内に均一に分散させることができるため、IC素子7の安定した接合が可能となる。
IC素子7は、半導体素子7aの一主面上にIC素子7の各接続パッドを各電極パッド形成位置に対応させるための再配線層7bを配設してなる構造であり、接続パッド11を簡単、確実に電極パッド10に電気的に接続することができる。
また、電極パッド10には、IC素子7に接続するダミー電極パッドを形成しても構わない。たとえば、最低数である8つの電極パッドが必要など、ダミー電極パッドを1つ設けることにより、電極パッドを3×3の正規な行列状に配列することができる。これにより、このダミー電極は、IC素子7の全く機能しない接続パッド11に対応させることにより、IC素子7の接合強度が向上し、従来、広く用いられていたIC素子の接合強度を向上させるアンダーフィル樹脂が不要とすることも可能となる。
また、図3(a)の点線に示すように、複数個の電極パッド10は、行方向及び列方向に一定間隔で一直線状に配列し、且つ全ての行と全ての列とが直交するように配置されている。これにより、IC素子7の接合点に偏りがなくなり、IC素子7の接合信頼性が向上するとともに、IC素子7の再配線層7bの設計が非常に簡単となる。
また、実装用基体6の内部の第2のビアホール導体9cが、電極パッド10にそのまま接続しているため、電極パッド10から実装用基体6の上面に引き回す配線導体を減少させることができ、配線導体に異物の付着によるショートの発生を低減できるとともに、引き回し配線導体の設計自由度が向上する。なお、すべての電極パッドを第2のビアホール導体9cで接続する必要はない。これは、実装用基体6の強度を考慮してのことであり例えば、縦横に配列された電極パッド10のうち、最外周に配置した電極パッド、例えば、水晶電極パッド10d、10fについては、実装用基体6の上面を引き回しても構わない。このようにすれば、実質的に水晶電極パッド10d、10fの形状を大きくできるため、水晶振動素子5の初期特性を測定するためのパッドとして好都合である。
また、配線導体9bに第2のビアホール導体9cを介して接続する電極パッド10は、行列状に配置された電極パッド10のうち周囲に他の電極パッド10が取り囲むように配置された電極パッド10eである。これにより、内部領域に位置する電極パッド10から、実装用基体6の上面に引き回し配線導体を形成する必要がないため、電極パッド間のショートを防止することができる。
また、実装用基体6の上面には、前記外部端子14に導通しない実装用基体側接合電極12が形成され、前記積層基板2下面には、前記実装用基体側接合電極12に対応して容器体側接合電極13が形成され、前記容器体側接合電極13と前記実装用基体側接合電極13とが導電性接合部材18を介して接合されている。これらの構造により、容器体側接合電極13に電気的な機能があっても、なくとも、その間で機械的な接合が達成できるため、容器体1と実装用基体6との機械的な接合強度を向上させることができる。
また、前記発振出力電極パッド10a、グランド電極パッド10h、発振制御パッド10i及び電源電圧電極パッド10cは、前記配線導体9bを介して前記外部端子14に接続されている。これにより、実装用基体6下面における各外部端子14の配置の最適化を図ることができ、温度補償水晶発振器の小型化に大きく寄与できる。
これらにより、本発明では、温度補償水晶発振器の小型化に対応して、IC素子7の小型化をしても、IC素子7の接合信頼性を維持、向上させながら、発振器全体の小型化に充分に対応できる。
尚、本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更、改良等が可能である。
例えば上述した実施形態においては、容器体1の蓋体4をシールリング3を介して積層基板2に接合させるようにしたが、これに代えて、積層基板2の上面に接合用のメタライズパターンを形成しておき、このメタライズパターンに対して蓋体4をダイレクトに溶接するようにしても構わない。
また上述した実施形態においては、容器体1の積層基板2上面に直接シールリング3を取着させるようにしたが、これに代えて、積層基板2の上面に基板2と同材質のセラミック材料等から成る枠体を一体的に取着させた上、該枠体の上面にシールリング3を取着させるようにしても構わない。
更に上述した実施形態においては、蓋体4を容器体1の本体に対し溶接することによって蓋体4を接合するようにしたが、これに代えて、蓋体4をAu−Sn等のロウ材を介して容器体1の本体に接合するようにしても構わない。
また更に上述した実施形態においては、容器体1の下面に一対の脚部2c、2dを取着させるように形成したが、これに代えて、各脚部2c、2dをそれぞれ2個に分断して得た4個の脚部を容器体1の下面に取着させるようにしたり、或いは、脚部2c、2dのうち一方のみを2つに分断して得た3個の脚部を容器体1の下面に取着させるようにしても良い。
更にまた上述した実施形態においては、実装用基体6上面と容器体1の下面との接合により出来た空間には、IC素子7のみを配置しているが、電源電圧の配線導体とグランド電位との間や、発振出力の配線導体とグランド電位との間に接続されるコンデンサなどの電子部品素子を配置させるようにしても構わない。
次に、本発明の他の実施の形態について説明する。この実施の形態では、図10に示すように、実装用基体6の上面にはIC素子を収容するキャビティが形成されているとともに、該実装用基体6のキャビティ開口周囲の上面と容器体1の下面とが接合されている。この実装用基体6は、積層された基板6a、6bに、略矩形状の脚部6c、6dが形成されたものである。
そして脚部6c、6dによって前記実装用基体6の上面と前記容器体1の下面の間にできる空間にIC素子7を配置するように、図3(a)に示すように実装用基体6の上面に各電極パッド10を形成することにより、本実施の形態の温度補償水晶発振器が形成される。
このような温度補償水晶発振器を構成する場合においても、先に述べた図1の実施の形態と同様の効果を有する。
また、本発明のさらに他の実施の形態について説明する。この実施の形態では、図11に示すように、前記実装用基体6が、容器体1の下面に接合されているとともに、実装用基体6の下面にIC素子を収容したキャビティが形成されている。この実装用基体6は、積層された基板6a、6bに、略矩形状の脚部6c、6dが形成されたものであり、容器体1とは、該容器体1下面と実装用基体6の基板6a、6b側との接合により取付けられている。
このような温度補償水晶発振器を構成する場合においても、先に述べた図1の実施の形態と同様の効果を有する。
次に、本発明の請求項10に対応する温度補償水晶発振器を図12、図13に基づいて詳細に説明する。なお、上述の請求項1に対応する温度補償水晶発振器と同様の構成については説明を省略し、相違する点についてのみ説明することとする。
温度補償水晶発振器は、図12及び図13のように構成される。
これらの図に示す温度補償水晶発振器1は、キャビティ部にIC素子7を取着させた実装用基体6の上面に、水晶振動素子5が接合された構造を有している。
温度補償水晶発振器1は、例えば、ガラス−セラミック、アルミナセラミックス等のセラミック材料から成る平板状基板6a,6b及び枠状基体6cが積層された実装用基体6と、42アロイやコバール,リン青銅等の金属から成るシールリング3と、シールリング3と同様の金属から成る蓋体4とから成り、前記実装用基体6の上面にシールリング3を取着させ、その上面に蓋体4を載置・固定させることによって構成され、前記実装用基体6のキャビティ内にIC素子7を取着させ、且つ実装用基体6の上面にシールリング3の内側に位置するように水晶振動素子5が実装されている。枠状基体6cの上面には水晶振動素子5の振動電極に接続される一対の搭載パッド8a、8b(尚、8bは図には現れない)が形成されている。
また、平板状基板6bの上面中央のIC素子7が実装される領域には、図14に示すように、IC素子7の接続パッド11に半田などの導電性接合部材17を介して接続する一対の水晶電極パッド10d、10f、発振出力電極パッド10a、グランド電極パッド10h、電源電圧電極パッド10c、発振制御電極パッド10i及び少なくとも2以上の温度補償データ書込用の書込電極パッド10b、10e、10g(全体で符号10を付す)が、例えば3行3列となる行列状に配置されている。
このような温度補償水晶発振器を構成する場合においても、先に述べた本発明の請求項1に係る温度補償水晶発振器と同様の効果を有する。
本発明の一実施形態に係る温度補償水晶発振器の斜視図である。 図1の温度補償水晶発振器の断面図である。 (a)は図1の温度補償水晶発振器を構成する実装用基体を上方より見た平面図であり、(b)及び(c)は実装用基体のIC素子実装領域における電極パッドの他の配列を示す平面図である。 実装用基体を構成する積層基板の内部の配線導体及びビアホール導体を示す平面図である。 図1の温度補償水晶発振器を構成する実装用基体を下方より見た透視状態の平面図である。 図1の温度補償水晶発振器に用いるIC素子を示す図であり、(a)は断面図、(b)は下方からみた平面図である。 本発明の他の実施形態に係る温度補償水晶発振器の分解断面図であり、水晶電極パッドの接続構造を示す。 本発明の他の実施形態に係る温度補償水晶発振器の別の分解断面図であり、電極パッドから外部端子までの接続構造を示す。 本発明の他の実施形態に係る温度補償水晶発振器の別の分解断面図であり、書き込み制御電極パッドの導出構造を示す。 本発明の他の実施の形態に係る温度補償水晶発振器を示す図であり、(a)は斜視図、(b)は断面図である。 本発明のさらに他の実施の形態に係る温度補償水晶発振器を示す図であり、(a)は斜視図、(b)は断面図である。 本発明の他の実施の形態に係る温度補償水晶発振器を示す斜視図である。 図12の温度補償水晶発振器の断面図である。 (a)は図12の温度補償水晶発振器を構成する実装用基体を上方より見た平面図であり、(b)及び(c)は実装用基体のIC素子実装領域における電極パッドの他の配列を示す平面図である。 図12の温度補償水晶発振器を構成する実装用基体の内部の配線導体及びビアホール導体を示す平面図である。 図12の温度補償水晶発振器を下方より見た平面図である。 図12の温度補償水晶発振器に用いるIC素子を示す図であり、(a)は断面図、(b)は下方からみた平面図である。 本発明の他の実施の形態に係る温度補償水晶発振器の断面図であり、水晶電極パッドの接続構造を示す。 ・BR>{発明の他の実施の形態に係る温度補償水晶発振器の別の断面図である。 本発明の他の実施の形態に係る温度補償水晶発振器の別の断面図である。
符号の説明
1・・・容器体
2・・・積層基板
2c,2d・・・一対の脚部
3・・・シールリング
4・・・蓋体
5・・・水晶振動素子
6・・・実装用基体
6a・・平板状基板
6b・・平板状基板
6c・・枠状基体
7・・・IC素子
8・・・搭載パッド
9・・・ビアホール導体
9a・・・第1のビアホール導体
9b・・・積層基板の配線導体
9c・・・第2のビアホール導体
9d・・・第3のビアホール導体
9e・・・第4のビアホール導体
9f・・・第5のビアホール導体
10・・・電極パッド
11・・・接続パッド
12・・・実装用基体側接合電極
13・・・容器体側接合電極
14・・・外部端子
16・・・導電性接合部材
17・・・導電性接合部材
18・・・導電性接合部材

Claims (9)

  1. 水晶振動素子を収容した容器体と、
    前記容器体の下面に一対の脚部を介して配置された実装用基体と、
    前記容器体及び前記実装用基体の間に設けられ、前記脚部の存在しない方向に開口する素子収納領域と、
    前記素子収納領域に、一対の側面を前記脚部に対向させた状態で収納されるIC素子と、を備えた水晶発振器。
  2. 請求項1に記載の水晶発振器において、
    前記一対の脚部は、前記IC素子の両側に該IC素子と離間して配置されていることを特徴とする水晶発振器。
  3. 請求項1に記載の水晶発振器において、
    前記容器体内に前記水晶振動子の一端を保持する保持部が形成されており、該保持部が形成された側の前記容器体の端部に、前記脚部の一方が設けられていることを特徴とする水晶発振器。
  4. 請求項1に記載の水晶発振器において、
    前記容器体の下面に、表面実装用外部端子が形成されており、
    前記実装用基体のIC素子実装領域には、前記水晶振動素子に接続する複数の水晶電極パッド、前記表面実装用外部端子に接続する発振出力電極パッド、グランド電極パッド、電源電圧電極パッド及び前記端子に接続する複数の書き込み制御用電極パッドを含む複数の電極パッドがm行×n列(m、nは2以上の自然数)の行列状に配置されており、前記IC素子の一主面に設けられる複数の接続パッドを対応する前記電極パッドに電気的に接続したことを特徴とする水晶発振器。
  5. 請求項4に記載の水晶発振器において、
    前記電極パッドのうち少なくとも1個が、前記接続パッドに接合されるダミー電極パッドであることを特徴とする水晶発振器。
  6. 請求項4に記載の水晶発振器において、
    前記複数個の電極パッドは、行方向及び列方向に一定間隔で一直線状に配列し、且つ全ての行と全ての列とが直交するように配置されていることを特徴とする水晶発振器。
  7. 請求項4に記載の水晶発振器において、
    前記実装用基体は少なくとも2つの絶縁層を積層してなり、該2つの絶縁層間には、前記電極パッドの直下もしくは直上に配置されたビアホール導体と接続する配線導体が介在されていることを特徴とする水晶発振器。
  8. 請求項4に記載の水晶発振器において、
    前記IC素子は、半導体素子の一主面上に前記IC素子の各接続パッドを各電極パッド形成位置に対応させるための再配線層を配設してなることを特徴とする水晶発振器。
  9. 請求項1に記載の水晶発振器において、
    前記実装用基体は、平板状をなしており、前記容器体の下面には少なくとも前記IC素子の高さ以上の厚みを有したスペーサ部が設けられていることを特徴とする水晶発振器。
JP2008097161A 2003-05-29 2008-04-03 水晶発振器 Pending JP2008182767A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008097161A JP2008182767A (ja) 2003-05-29 2008-04-03 水晶発振器

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003152390 2003-05-29
JP2003183455 2003-06-26
JP2008097161A JP2008182767A (ja) 2003-05-29 2008-04-03 水晶発振器

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004160101A Division JP2005039791A (ja) 2003-05-29 2004-05-28 温度補償水晶発振器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008182767A true JP2008182767A (ja) 2008-08-07

Family

ID=34196568

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008097161A Pending JP2008182767A (ja) 2003-05-29 2008-04-03 水晶発振器

Country Status (3)

Country Link
US (3) US20050040905A1 (ja)
JP (1) JP2008182767A (ja)
CN (1) CN100466459C (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012209691A (ja) * 2011-03-29 2012-10-25 Seiko Instruments Inc 電子部品パッケージ
JP2014107604A (ja) * 2012-11-26 2014-06-09 Seiko Epson Corp 圧電発振器
JP2015053536A (ja) * 2013-09-05 2015-03-19 日本電波工業株式会社 電子部品及び電子部品パッケージ

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006067929A1 (ja) * 2004-12-20 2006-06-29 Murata Manufacturing Co., Ltd. 積層セラミック電子部品およびその製造方法
JP2006245098A (ja) * 2005-03-01 2006-09-14 Seiko Epson Corp 電子部品及びその製造方法、並びに電子機器
US7602107B2 (en) * 2005-11-30 2009-10-13 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. Surface mount type crystal oscillator
US7821346B2 (en) * 2007-08-24 2010-10-26 Cts Corporation Ovenized oscillator
JP4726936B2 (ja) * 2008-08-19 2011-07-20 日本電波工業株式会社 水晶発振器
JP5308879B2 (ja) * 2009-03-13 2013-10-09 日本電波工業株式会社 恒温型の水晶発振器
JP5275155B2 (ja) * 2009-06-26 2013-08-28 セイコーインスツル株式会社 電子デバイスの製造方法
CN101651446B (zh) * 2009-09-02 2011-12-21 广东大普通信技术有限公司 表面贴装式恒温晶体振荡器
JP2013055400A (ja) * 2011-09-01 2013-03-21 Seiko Instruments Inc 圧電振動デバイス及び発振器
JP2013153412A (ja) * 2011-12-27 2013-08-08 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 表面実装型圧電発振器
JP2013207686A (ja) * 2012-03-29 2013-10-07 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 水晶発振器
DE102013102210B4 (de) * 2013-03-06 2016-04-07 Epcos Ag Zur Miniaturisierung geeignetes elektrisches Bauelement mit verringerter Verkopplung
CN103457568A (zh) * 2013-08-08 2013-12-18 应达利电子(深圳)有限公司 全陶瓷封装谐振器作为外盖的振荡器及其制造方法
US9287882B2 (en) * 2013-11-07 2016-03-15 Kyocera Crystal Device Corporation Temperature compensated crystal oscillator
JP2015104104A (ja) * 2013-11-28 2015-06-04 日本電波工業株式会社 圧電発振器
WO2015170484A1 (ja) * 2014-05-07 2015-11-12 株式会社村田製作所 水晶振動装置
JP6571381B2 (ja) * 2014-05-12 2019-09-04 ローム株式会社 無線通信モジュール
USD760230S1 (en) 2014-09-16 2016-06-28 Daishinku Corporation Piezoelectric vibration device
JP6527372B2 (ja) * 2015-04-07 2019-06-05 日本電波工業株式会社 発振器
US20180191299A1 (en) * 2015-07-27 2018-07-05 Guangdong DAPU Telecom Technology Co., Ltd. Directly-heating oven controlled crystal oscillator
JP6617509B2 (ja) * 2015-10-08 2019-12-11 セイコーエプソン株式会社 発振器、電子機器、及び、移動体
US10855289B2 (en) * 2016-03-15 2020-12-01 Txc Corporation Oven controlled crystal oscillator
JP6769220B2 (ja) * 2016-10-03 2020-10-14 セイコーエプソン株式会社 電子部品用パッケージ、発振器、電子機器、および移動体
JP6635605B2 (ja) * 2017-10-11 2020-01-29 国立研究開発法人理化学研究所 電流導入端子並びにそれを備えた圧力保持装置及びx線撮像装置
RU2692963C1 (ru) * 2018-11-01 2019-06-28 Общество с ограниченной ответственностью "ОТК" Установка термокомпенсации кварцевых генераторов

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11121477A (ja) * 1997-10-21 1999-04-30 Toshiba Corp 半導体装置およびその製造方法
WO2000033455A1 (fr) * 1998-12-02 2000-06-08 Seiko Epson Corporation Dispositif piezo-electrique et son procédé de fabrication
JP2000278047A (ja) * 1999-03-24 2000-10-06 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 表面実装用水晶発振器及びその製造方法
JP2002198453A (ja) * 2000-12-27 2002-07-12 Kyocera Corp 電子部品収納用パッケージ及び電子部品装置
JP2002329839A (ja) * 2001-02-27 2002-11-15 Toyo Commun Equip Co Ltd 表面実装用電子部品、その製造方法、及びシート状母材
JP2004228894A (ja) * 2003-01-22 2004-08-12 Tokyo Denpa Co Ltd 圧電発振器とその製造方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5342111A (en) * 1992-12-21 1994-08-30 General Motors Corporation Retractable seat
JPH11186850A (ja) * 1997-12-19 1999-07-09 Sii Quartz Techno:Kk 圧電発振器
US6229404B1 (en) * 1998-08-31 2001-05-08 Kyocera Corporation Crystal oscillator
JP3406845B2 (ja) 1998-08-31 2003-05-19 京セラ株式会社 表面実装型水晶発振器
JP2000299611A (ja) 1999-04-14 2000-10-24 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 表面実装用水晶発振器及びその製造方法
JP2000349191A (ja) 1999-06-04 2000-12-15 Toshiba Corp 半導体装置および配線回路装置
JP4795602B2 (ja) * 2000-01-31 2011-10-19 京セラキンセキ株式会社 発振器
JP2001291742A (ja) 2000-04-06 2001-10-19 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd Icチップの接合方法及びこれを用いた水晶発振器
US6445254B1 (en) * 2000-04-06 2002-09-03 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. Crystal oscillator and method of bonding IC chip useful for fabricating crystal oscillator
JP2002198740A (ja) 2000-12-27 2002-07-12 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 表面実装用の水晶発振器
JP2003124745A (ja) 2001-10-11 2003-04-25 Toyo Commun Equip Co Ltd 電子部品の構造と製造方法
JP2003133857A (ja) * 2001-10-22 2003-05-09 Citizen Watch Co Ltd 発振器
JP3965070B2 (ja) * 2002-04-22 2007-08-22 日本電波工業株式会社 表面実装用の水晶振動子

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11121477A (ja) * 1997-10-21 1999-04-30 Toshiba Corp 半導体装置およびその製造方法
WO2000033455A1 (fr) * 1998-12-02 2000-06-08 Seiko Epson Corporation Dispositif piezo-electrique et son procédé de fabrication
JP2000278047A (ja) * 1999-03-24 2000-10-06 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 表面実装用水晶発振器及びその製造方法
JP2002198453A (ja) * 2000-12-27 2002-07-12 Kyocera Corp 電子部品収納用パッケージ及び電子部品装置
JP2002329839A (ja) * 2001-02-27 2002-11-15 Toyo Commun Equip Co Ltd 表面実装用電子部品、その製造方法、及びシート状母材
JP2004228894A (ja) * 2003-01-22 2004-08-12 Tokyo Denpa Co Ltd 圧電発振器とその製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012209691A (ja) * 2011-03-29 2012-10-25 Seiko Instruments Inc 電子部品パッケージ
JP2014107604A (ja) * 2012-11-26 2014-06-09 Seiko Epson Corp 圧電発振器
JP2015053536A (ja) * 2013-09-05 2015-03-19 日本電波工業株式会社 電子部品及び電子部品パッケージ

Also Published As

Publication number Publication date
USRE44368E1 (en) 2013-07-16
US7242258B2 (en) 2007-07-10
US20050040905A1 (en) 2005-02-24
US20060238264A1 (en) 2006-10-26
CN1574608A (zh) 2005-02-02
CN100466459C (zh) 2009-03-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008182767A (ja) 水晶発振器
JP3285847B2 (ja) 表面実装型水晶発振器
US7098580B2 (en) Piezoelectric oscillator
JP4795602B2 (ja) 発振器
US7872537B2 (en) Surface-mount crystal oscillator
JP2007158918A (ja) 表面実装用の水晶発振器
JP2006129417A (ja) 圧電発振器
US20050225406A1 (en) Temperature-compensated quartz-crystal oscillator
JP4091868B2 (ja) 表面実装型温度補償水晶発振器
CN207868186U (zh) 电子部件收纳用封装件、电子装置及电子模块
JP4724518B2 (ja) 圧電発振器
JP2000114877A (ja) 圧電発振器
JP4479413B2 (ja) 圧電発振器
JP2005020546A (ja) 表面実装型水晶発振器
JP2005039791A (ja) 温度補償水晶発振器
JP2004260598A (ja) 表面実装型温度補償水晶発振器
JP2008072762A (ja) 温度補償水晶発振器
JP2005268257A (ja) 電子部品収納用パッケージおよび電子装置
JP2008187751A (ja) 表面実装型圧電発振器
JP2005253007A (ja) 温度補償型水晶発振器
JP4376148B2 (ja) 圧電発振器
JP2005244641A (ja) 温度補償型水晶発振器
JP4336213B2 (ja) 圧電発振器
JP4328225B2 (ja) 温度補償型水晶発振器
JP2005244671A (ja) 温度補償型水晶発振器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080407

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110315

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110516

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110802

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111031

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20111109

A912 Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20111202