JP2007243179A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2007243179A5
JP2007243179A5 JP2007044383A JP2007044383A JP2007243179A5 JP 2007243179 A5 JP2007243179 A5 JP 2007243179A5 JP 2007044383 A JP2007044383 A JP 2007044383A JP 2007044383 A JP2007044383 A JP 2007044383A JP 2007243179 A5 JP2007243179 A5 JP 2007243179A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
power supply
body bias
signal
supply signal
metal oxide
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007044383A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007243179A (ja
JP4638456B2 (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from US11/369,548 external-priority patent/US7330049B2/en
Application filed filed Critical
Publication of JP2007243179A publication Critical patent/JP2007243179A/ja
Publication of JP2007243179A5 publication Critical patent/JP2007243179A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4638456B2 publication Critical patent/JP4638456B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (23)

  1. 複数のpチャネル金属酸化物半導体トランジスタであって、該複数のpチャネル金属酸化物半導体トランジスタのそれぞれが、ボディバイアス経路を介してボディバイアス信号を受信するボディ端子を有する、複数のpチャネル金属酸化物半導体トランジスタと、
    該ボディバイアス信号を該ボディバイアス経路に供給する調整可能なpチャネル金属酸化物半導体ボディバイアス生成回路網であって、該調整可能なpチャネル金属酸化物半導体ボディバイアス生成回路網は、
    高電力供給端子と該ボディバイアス経路との間に結合されたpチャネル制御トランジスタと、
    該pチャネル金属酸化物半導体トランジスタがラッチアップすることを防止するために、該ボディバイアス経路に接続された能動ラッチアップ防止回路と
    を含む、調整可能なpチャネル金属酸化物半導体ボディバイアス生成回路網と
    を備える、集積回路。
  2. 複数の入出力ピンと、
    該複数の入出力ピンのうちの1つから正の電力供給信号を受信する正の電力供給端子と、
    該複数の入出力ピンのうちの1つから、該正の電力供給信号よりも大きい高電力供給信号を受信する高電力供給端子と、
    複数のpチャネル金属酸化物半導体トランジスタを含むプログラマブルロジックであって、該複数のpチャネル金属酸化物半導体トランジスタのそれぞれが、ボディバイアス経路を介してボディバイアス信号を受信するボディ端子を有する、プログラマブルロジックと、
    該高電力供給端子と該ボディバイアス経路との間に直列結合されたpチャネル制御トランジスタおよび絶縁トランジスタと
    を備える、プログラマブルロジックデバイス集積回路。
  3. 前記ボディバイアス経路と前記正の電力供給端子との間に結合されたpチャネルラッチアップ防止トランジスタをさらに備える、請求項2に記載のプログラマブルロジックデバイス集積回路。
  4. 前記ボディバイアス経路から調整可能なフィードバック信号を受信し、該ボディバイアス経路上の該ボディバイアス信号を調整することに応答して、前記pチャネル制御トランジスタに対するゲート制御信号を生成する、演算増幅器をさらに備える、請求項2に記載のプログラマブルロジックデバイス集積回路。
  5. 接地電力供給信号を受信する接地端子と、
    正の電力供給信号を受信する正の電力供給端子と、
    該正の電力供給信号より大きい高電力供給信号を受信する高電力供給端子と、
    複数のpチャネル金属酸化物半導体トランジスタであって、該複数のpチャネル金属酸化物半導体トランジスタのそれぞれは、ボディバイアス経路を介してボディバイアス信号を受信するボディ端子を有する、複数のpチャネル金属酸化物半導体トランジスタと、
    該ボディバイアス経路と該正の電力供給端子との間に結合されたpチャネルラッチアップ防止トランジスタと、
    該ボディバイアス経路に接続された絶縁トランジスタであって、該絶縁トランジスタがオフにされた場合に、該ボディバイアス経路を該高電力供給端子から絶縁する、絶縁トランジスタと、
    該pチャネル金属酸化物半導体トランジスタに対する潜在的なラッチアップ条件が存在するとき、高い制御信号を生成し、該絶縁トランジスタをオフにし、該pチャネル金属酸化物半導体トランジスタに対する該潜在的なラッチアップ条件が存在しないとき、低い制御信号を生成し、該絶縁トランジスタをオンにする、制御回路網と
    を備える、集積回路。
  6. 集積回路中のラッチアップを防止する方法であって、該集積回路は、複数の金属酸化物半導体トランジスタを有し、該複数の金属酸化物半導体トランジスタのそれぞれが、ボディバイアス経路を介してボディバイアス信号を受信し、該集積回路は、該ボディバイアス信号を該ボディバイアス経路に供給するボディバイアス生成回路網を有し、該集積回路は、高電力供給信号と該ボディバイアス経路との間に結合された制御トランジスタを有し、該集積回路は、ラッチアップ防止回路網を有し、該方法は、
    電力供給信号が有効であり、かつ該高電力供給信号および該ボディバイアス信号が無効である場合を決定することと、
    該電力供給信号が有効であり、かつ該高電力供給信号および該ボディバイアス信号が無効であることが決定される場合に、該金属酸化物半導体がラッチアップすることを防ぐために、該ボディバイアス経路に接続された該ラッチアップ防止回路網を作動させることと
    を包含する、方法。
  7. 前記電力供給信号が有効である間に、前記高電力供給信号および前記ボディバイアス信号が有効になる場合を決定することと、
    該電力供給信号が有効である間に、該高電力供給信号および該ボディバイアス信号が有効になることが決定される場合に、前記ボディバイアス経路に接続された前記ラッチアップ防止回路網を作動させないことと
    をさらに包含する、請求項6に記載の方法。
  8. 前記ラッチアップ防止回路網を作動させることは、前記電力供給信号を前記ボディバイアス経路に印加することを包含する、請求項6に記載の方法。
  9. 前記ラッチアップ防止回路網を作動させることは、前記電力供給信号を前記制御トランジスタのボディバイアス端子に印加することを包含する、請求項6に記載の方法。
  10. 前記ラッチアップ防止回路網を作動させることは、
    前記電力供給信号を前記ボディバイアス経路に印加することと、
    該電力供給信号を前記制御トランジスタのボディバイアス端子に印加することと
    を包含する、請求項6に記載の方法。
  11. 集積回路中のラッチアップを防止する方法であって、該集積回路は、正の電力供給経路を介して送信される正の電力供給信号と、高電力供給経路を介して送信される高電力供給信号とを用いて電力供給され、該集積回路は、複数の金属酸化物半導体トランジスタを有し、該複数の金属酸化物半導体トランジスタのそれぞれが、ボディバイアス経路を介して送信されたボディバイアス信号を受信し、該集積回路は、該高電力供給経路と該ボディバイアス経路との間に直列結合された制御トランジスタおよび絶縁トランジスタを有し、該方法は、
    該正の電力供給信号が有効であり、かつ該高電力供給信号および該ボディバイアス信号が無効である場合を決定することと、
    該正の電力供給信号が有効であり、かつ該高電力供給信号および該ボディバイアス信号が無効であることが決定される場合に、該高電力供給経路および該ボディバイアス経路が絶縁されるように該絶縁トランジスタをオフにすることと
    を包含する、方法。
  12. 前記絶縁トランジスタを無効にすることは、前記正の電力供給信号を前記絶縁トランジスタのゲート端子に印加することを包含する、請求項11に記載の方法。
  13. 前記正の電力供給信号が有効であり、かつ前記高電力供給信号および前記ボディバイアス信号が無効であることが決定される場合に、該正の電力供給信号を前記ボディバイアス経路に印加することをさらに包含する、請求項11に記載の方法。
  14. 前記正の電力供給信号が有効であり、かつ前記高電力供給信号および前記ボディバイアス信号が無効であることが決定される場合に、該正の電力供給信号を前記制御トランジスタおよび前記絶縁トランジスタのボディバイアス端子に印加することをさらに包含する、請求項11に記載の方法。
  15. 前記正の電力供給信号が有効であり、かつ前記高電力供給信号および前記ボディバイアス信号が無効であることが決定される場合に、該正の電力供給信号を前記ボディバイアス経路に印加することと、該正の電力供給信号を前記制御トランジスタおよび前記絶縁トランジスタのボディバイアス端子に印加することとをさらに包含する、請求項11に記載の方法。
  16. 前記絶縁トランジスタをオフにすることは、前記正の電力供給信号を該絶縁トランジスタのゲート端子に印加することを包含し、前記方法は、
    該正の電力供給信号が有効であり、かつ前記高電力供給信号および該ボディバイアス信号が無効であることが決定される場合に、該正の電力供給信号を前記ボディバイアス経路に印加することと、該正の電力供給信号を前記制御トランジスタおよび該絶縁トランジスタのボディバイアス端子に印加することとをさらに包含する、請求項11に記載の方法。
  17. 複数の金属酸化物半導体トランジスタであって、該複数の金属酸化物半導体トランジスタのそれぞれが、ボディバイアス経路を介してボディバイアス信号を受信するボディ端子を有する、複数の金属酸化物半導体トランジスタと、
    該ボディバイアス信号を該ボディバイアス経路に供給する金属酸化物半導体ボディバイアス生成回路網であって、該金属酸化物半導体ボディバイアス生成回路網は、
    高電力供給端子と該ボディバイアス経路との間に結合された制御トランジスタと、
    該金属酸化物半導体トランジスタがラッチアップすることを防止するために、該ボディバイアス経路に接続された能動ラッチアップ防止回路と
    を含む、金属酸化物半導体ボディバイアス生成回路網と
    を備える、集積回路。
  18. 前記金属酸化物半導体トランジスタは、pチャネル金属酸化物半導体トランジスタを備える、請求項17に記載の集積回路。
  19. 前記制御トランジスタは、pチャネル金属酸化物半導体制御トランジスタを備える、請求項17に記載の集積回路。
  20. 前記金属酸化物半導体ボディバイアス生成回路網は、前記制御トランジスタと前記ボディバイアス経路との間に結合された絶縁トランジスタをさらに備える、請求項17に記載の集積回路。
  21. 前記制御トランジスタはボディ端子を有し、前記金属酸化物半導体ボディバイアス生成回路網は、制御回路網をさらに備え、該制御回路網は該制御トランジスタの該ボディ端子に接続される出力を有する、請求項17に記載の集積回路。
  22. 前記金属酸化物半導体ボディバイアス生成回路網は、演算増幅器をさらに備え、該演算増幅器は、前記ボディバイアス経路から調整可能なフィードバック信号を受信し、応答して前記制御トランジスタに対するゲート制御信号を生成する、請求項17に記載の集積回路。
  23. 前記能動ラッチアップ防止回路網はラッチアップ防止トランジスタを含み、前記金属酸化物半導体ボディバイアス生成回路網は制御回路網をさらに備え、該制御回路網は正の電力供給信号および前記高電力供給端子に関連する高電力供給信号をモニタリングし、潜在的なラッチアップ条件が存在する場合に、該ボディバイアス経路を該正の電力供給信号でクランプするために、該ラッチアップ防止トランジスタをオンにする低い制御信号を生成する、請求項17に記載の集積回路。
JP2007044383A 2006-03-06 2007-02-23 ラッチアップ防止を有する調整可能なボディバイアス生成回路網 Expired - Fee Related JP4638456B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/369,548 US7330049B2 (en) 2006-03-06 2006-03-06 Adjustable transistor body bias generation circuitry with latch-up prevention

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2007243179A JP2007243179A (ja) 2007-09-20
JP2007243179A5 true JP2007243179A5 (ja) 2010-03-11
JP4638456B2 JP4638456B2 (ja) 2011-02-23

Family

ID=38069102

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007044383A Expired - Fee Related JP4638456B2 (ja) 2006-03-06 2007-02-23 ラッチアップ防止を有する調整可能なボディバイアス生成回路網

Country Status (4)

Country Link
US (2) US7330049B2 (ja)
EP (1) EP1840965B1 (ja)
JP (1) JP4638456B2 (ja)
CN (1) CN101034882B (ja)

Families Citing this family (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100605591B1 (ko) * 2005-01-31 2006-07-31 주식회사 하이닉스반도체 반도체 소자의 승압전압 발생기
US8067976B2 (en) * 2005-08-02 2011-11-29 Panasonic Corporation Semiconductor integrated circuit
US7355437B2 (en) 2006-03-06 2008-04-08 Altera Corporation Latch-up prevention circuitry for integrated circuits with transistor body biasing
US7495471B2 (en) * 2006-03-06 2009-02-24 Altera Corporation Adjustable transistor body bias circuitry
US7459958B2 (en) * 2006-06-19 2008-12-02 International Business Machines Corporation Circuits to reduce threshold voltage tolerance and skew in multi-threshold voltage applications
US7696811B2 (en) * 2006-06-19 2010-04-13 International Business Machines Corporation Methods and circuits to reduce threshold voltage tolerance and skew in multi-threshold voltage applications
JP2008004741A (ja) * 2006-06-22 2008-01-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路及びそれを備えた情報機器、通信機器、av機器及び移動体
US20080180129A1 (en) * 2006-08-31 2008-07-31 Actel Corporation Fpga architecture with threshold voltage compensation and reduced leakage
US8242742B2 (en) * 2007-06-06 2012-08-14 O2Micro, Inc Chargers, systems and methods for detecting a power source
FR2921756B1 (fr) * 2007-09-27 2009-12-25 Commissariat Energie Atomique Matrice de pixels dotes de regulateurs de tension.
FR2921788B1 (fr) * 2007-10-01 2015-01-02 Commissariat Energie Atomique Dispositif microelectronique a matrice de pixels dote de moyens generateurs de compensation de chute ohmique sur des almentations
US7639041B1 (en) 2008-07-28 2009-12-29 Altera Corporation Hotsocket-compatible body bias circuitry with power-up current reduction capabilities
CN103109525B (zh) * 2008-10-08 2016-04-06 法国原子能委员会 一种矩阵微电子装置
US8742831B2 (en) * 2009-02-23 2014-06-03 Honeywell International Inc. Method for digital programmable optimization of mixed-signal circuits
US7911261B1 (en) 2009-04-13 2011-03-22 Netlogic Microsystems, Inc. Substrate bias circuit and method for integrated circuit device
FR2948828B1 (fr) * 2009-07-28 2011-09-30 St Microelectronics Rousset Dispositif electronique de protection contre une inversion de polarite d'une tension d'alimentation continue, et application au domaine de l'automobile
US9142951B2 (en) 2009-07-28 2015-09-22 Stmicroelectronics (Rousset) Sas Electronic device for protecting against a polarity reversal of a DC power supply voltage, and its application to motor vehicles
US8618786B1 (en) 2009-08-31 2013-12-31 Altera Corporation Self-biased voltage regulation circuitry for memory
JP2011060358A (ja) * 2009-09-08 2011-03-24 Elpida Memory Inc 半導体装置及びその制御方法
KR101699033B1 (ko) * 2009-11-30 2017-01-24 에스케이하이닉스 주식회사 출력 드라이버
US9208109B2 (en) * 2011-06-01 2015-12-08 Altera Corporation Memory controllers with dynamic port priority assignment capabilities
US9350321B2 (en) * 2011-08-18 2016-05-24 Analog Devices, Inc. Low distortion impedance selection and tunable impedance circuits
US8698516B2 (en) * 2011-08-19 2014-04-15 Altera Corporation Apparatus for improving performance of field programmable gate arrays and associated methods
US8970289B1 (en) 2012-01-23 2015-03-03 Suvolta, Inc. Circuits and devices for generating bi-directional body bias voltages, and methods therefor
FR2988239A1 (fr) * 2012-03-16 2013-09-20 Converteam Technology Ltd Procede de compensation des tolerances de fabrication d'au moins un parametre electrique d'un transistor de puissance et systeme associe
KR102038041B1 (ko) * 2012-08-31 2019-11-26 에스케이하이닉스 주식회사 전원 선택 회로
US8787096B1 (en) 2013-01-16 2014-07-22 Qualcomm Incorporated N-well switching circuit
US9112495B1 (en) * 2013-03-15 2015-08-18 Mie Fujitsu Semiconductor Limited Integrated circuit device body bias circuits and methods
CN104464788B (zh) * 2014-12-30 2017-06-06 上海华虹宏力半导体制造有限公司 分压电路、操作电压的控制电路及存储器
US9591245B2 (en) 2015-04-14 2017-03-07 Semiconductor Components Industries, Llc Image sensor pixels with adjustable body bias
US9584118B1 (en) * 2015-08-26 2017-02-28 Nxp Usa, Inc. Substrate bias circuit and method for biasing a substrate
US9762833B1 (en) 2016-05-24 2017-09-12 Omnivision Technologies, Inc. Adaptive body biasing circuit for latch-up prevention
EP3343769B1 (en) * 2016-12-27 2019-02-06 GN Hearing A/S Integrated circuit comprising adjustable back biasing of one or more logic circuit regions
CN107659303A (zh) * 2017-08-31 2018-02-02 晨星半导体股份有限公司 输入输出电路
US10552563B2 (en) * 2018-01-10 2020-02-04 Qualcomm Incorporated Digital design with bundled data asynchronous logic and body-biasing tuning
CN108270422A (zh) * 2018-03-20 2018-07-10 北京集创北方科技股份有限公司 防闩锁电路及集成电路
TWI642274B (zh) * 2018-03-20 2018-11-21 大陸商北京集創北方科技股份有限公司 栓鎖偵測電路
US10469097B1 (en) 2018-12-06 2019-11-05 Nxp Usa, Inc. Body bias circuit for current steering DAC switches
CN109814650B (zh) * 2019-01-23 2020-05-22 西安交通大学 一种低压差线性稳压器用箝位晶体管结构
US11099224B2 (en) * 2019-05-24 2021-08-24 Marvell Israel (M.I.S.L) Ltd. Method and circuitry for semiconductor device performance characterization
KR20210084955A (ko) * 2019-12-30 2021-07-08 에스케이하이닉스 주식회사 데이터 입출력 회로를 포함하는 메모리 장치
US11688739B2 (en) * 2021-03-19 2023-06-27 Pixart Imaging Inc. Logic circuit capable of preventing latch-up
CN113849438B (zh) * 2021-09-27 2024-03-08 浙江华创视讯科技有限公司 保护电路、保护电路的方法、存储介质及电子装置

Family Cites Families (85)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62209846A (ja) * 1986-03-10 1987-09-16 Fujitsu Ltd 半導体集積回路
JPH0783254B2 (ja) * 1989-03-22 1995-09-06 株式会社東芝 半導体集積回路
DE4221575C2 (de) 1992-07-01 1995-02-09 Ibm Integrierter CMOS-Halbleiterschaltkreis und Datenverarbeitungssystem mit integriertem CMOS-Halbleiterschaltkreis
US5341034A (en) 1993-02-11 1994-08-23 Benchmarq Microelectronics, Inc. Backup battery power controller having channel regions of transistors being biased by power supply or battery
KR0169157B1 (ko) 1993-11-29 1999-02-01 기다오까 다까시 반도체 회로 및 mos-dram
US5422591A (en) 1994-01-03 1995-06-06 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Output driver circuit with body bias control for multiple power supply operation
JPH08181598A (ja) * 1994-12-27 1996-07-12 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体装置
US5689209A (en) 1994-12-30 1997-11-18 Siliconix Incorporated Low-side bidirectional battery disconnect switch
JP3444687B2 (ja) * 1995-03-13 2003-09-08 三菱電機株式会社 不揮発性半導体記憶装置
US5670907A (en) 1995-03-14 1997-09-23 Lattice Semiconductor Corporation VBB reference for pumped substrates
US5674090A (en) 1995-03-15 1997-10-07 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. Casing for receiving electrical connection box
US5631606A (en) * 1995-08-01 1997-05-20 Information Storage Devices, Inc. Fully differential output CMOS power amplifier
JP2931776B2 (ja) 1995-08-21 1999-08-09 三菱電機株式会社 半導体集積回路
US5600264A (en) 1995-10-16 1997-02-04 Xilinx, Inc. Programmable single buffered six pass transistor configuration
US5689144A (en) 1996-05-15 1997-11-18 Siliconix Incorporated Four-terminal power MOSFET switch having reduced threshold voltage and on-resistance
KR100189752B1 (ko) 1996-06-01 1999-06-01 구본준 독립적인 웰 바이어스 전압을 가진 전압 펌프회로
KR100203136B1 (ko) 1996-06-27 1999-06-15 김영환 래치-업을 방지하는 상승전압발생기
JP3264622B2 (ja) 1996-07-16 2002-03-11 株式会社東芝 半導体装置
US6593799B2 (en) 1997-06-20 2003-07-15 Intel Corporation Circuit including forward body bias from supply voltage and ground nodes
US6411156B1 (en) 1997-06-20 2002-06-25 Intel Corporation Employing transistor body bias in controlling chip parameters
US6535034B1 (en) 1997-07-30 2003-03-18 Programmable Silicon Solutions High performance integrated circuit devices adaptable to use lower supply voltages with smaller device geometries
US5841694A (en) 1997-07-30 1998-11-24 Programmable Silicon Solutions High performance programmable interconnect
US6346415B1 (en) 1997-10-21 2002-02-12 Targeted Genetics Corporation Transcriptionally-activated AAV inverted terminal repeats (ITRS) for use with recombinant AAV vectors
US6097242A (en) 1998-02-26 2000-08-01 Micron Technology, Inc. Threshold voltage compensation circuits for low voltage and low power CMOS integrated circuits
US6157691A (en) 1998-04-14 2000-12-05 Lsi Logic Corporation Fully integrated phase-locked loop with resistor-less loop filer
JP3136593B2 (ja) * 1998-08-17 2001-02-19 日本電気株式会社 レギュレータ内蔵半導体装置
US6242728B1 (en) 1998-08-20 2001-06-05 Foveon, Inc. CMOS active pixel sensor using native transistors
JP3549186B2 (ja) * 1998-08-25 2004-08-04 株式会社東芝 半導体装置
TW453032B (en) * 1998-09-09 2001-09-01 Hitachi Ltd Semiconductor integrated circuit apparatus
US6351176B1 (en) 1998-09-14 2002-02-26 Texas Instruments Incorporated Pulsing of body voltage for improved MOS integrated circuit performance
US6484265B2 (en) 1998-12-30 2002-11-19 Intel Corporation Software control of transistor body bias in controlling chip parameters
JP2000269356A (ja) * 1999-03-15 2000-09-29 Hitachi Ltd 半導体装置
US6271713B1 (en) 1999-05-14 2001-08-07 Intel Corporation Dynamic threshold source follower voltage driver circuit
JP2001034040A (ja) 1999-07-21 2001-02-09 Sharp Corp 接触帯電装置ならびにそれを備えたプロセスカートリッジおよび画像形成装置
US6448840B2 (en) 1999-11-30 2002-09-10 Intel Corporation Adaptive body biasing circuit and method
KR100347140B1 (ko) 1999-12-31 2002-08-03 주식회사 하이닉스반도체 전압 변환 회로
KR20010077099A (ko) 2000-01-31 2001-08-17 윤종용 자기 정렬된 웰 바이어스 영역을 갖는 모스 트랜지스터 및그 제조방법
JP2001230664A (ja) * 2000-02-15 2001-08-24 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路
US20020140496A1 (en) 2000-02-16 2002-10-03 Ali Keshavarzi Forward body biased transistors with reduced temperature
JP2001339045A (ja) * 2000-05-25 2001-12-07 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
US6549032B1 (en) 2000-08-22 2003-04-15 Altera Corporation Integrated circuit devices with power supply detection circuitry
TW463466B (en) 2000-08-30 2001-11-11 Silicon Integrated Sys Corp Current A/D converter and the unit cell thereof
TW448617B (en) 2000-09-15 2001-08-01 Silicon Integrated Sys Corp N-well bias preset circuit for CMOS and the method thereof
US6343044B1 (en) 2000-10-04 2002-01-29 International Business Machines Corporation Super low-power generator system for embedded applications
US6744301B1 (en) 2000-11-07 2004-06-01 Intel Corporation System using body-biased sleep transistors to reduce leakage power while minimizing performance penalties and noise
KR100385230B1 (ko) 2000-12-28 2003-05-27 삼성전자주식회사 불휘발성 반도체 메모리 장치의 프로그램 방법
US6373281B1 (en) 2001-01-22 2002-04-16 International Business Machines Corporation Tri-state dynamic body charge modulation for sensing devices in SOI RAM applications
US6597203B2 (en) 2001-03-14 2003-07-22 Micron Technology, Inc. CMOS gate array with vertical transistors
US6429726B1 (en) 2001-03-27 2002-08-06 Intel Corporation Robust forward body bias generation circuit with digital trimming for DC power supply variation
US6469572B1 (en) 2001-03-28 2002-10-22 Intel Corporation Forward body bias generation circuits based on diode clamps
US6670655B2 (en) 2001-04-18 2003-12-30 International Business Machines Corporation SOI CMOS device with body to gate connection
US6605981B2 (en) 2001-04-26 2003-08-12 International Business Machines Corporation Apparatus for biasing ultra-low voltage logic circuits
GB0111300D0 (en) 2001-05-09 2001-06-27 Mitel Knowledge Corp Method and apparatus for synchronizing slave network node to master network node
JP2002343083A (ja) 2001-05-18 2002-11-29 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
US6554249B2 (en) 2001-05-30 2003-04-29 Fmc Technologies, Inc. Plug valve having seal segments with booster springs
US6518826B2 (en) 2001-06-28 2003-02-11 Intel Corporation Method and apparatus for dynamic leakage control
US6763484B2 (en) 2001-06-28 2004-07-13 Intel Corporation Body bias using scan chains
US6483375B1 (en) 2001-06-28 2002-11-19 Intel Corporation Low power operation mechanism and method
US6559702B2 (en) 2001-07-19 2003-05-06 Texas Instruments Incorporated Bias generator and method for improving output skew voltage
US6621325B2 (en) * 2001-09-18 2003-09-16 Xilinx, Inc. Structures and methods for selectively applying a well bias to portions of a programmable device
US6630700B2 (en) 2001-10-05 2003-10-07 Motorola, Inc. NMOS circuit in isolated wells that are connected by a bias stack having pluralirty of diode elements
JP4090231B2 (ja) 2001-11-01 2008-05-28 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路装置
US6650141B2 (en) 2001-12-14 2003-11-18 Lattice Semiconductor Corporation High speed interface for a programmable interconnect circuit
US6614301B2 (en) 2002-01-31 2003-09-02 Intel Corporation Differential amplifier offset adjustment
US20030151428A1 (en) 2002-02-12 2003-08-14 Ouyang Paul H. 5 Volt tolerant input/output buffer
US6525559B1 (en) 2002-04-22 2003-02-25 Pericom Semiconductor Corp. Fail-safe circuit with low input impedance using active-transistor differential-line terminators
US7254603B2 (en) 2002-05-03 2007-08-07 Sonics, Inc. On-chip inter-network performance optimization using configurable performance parameters
JP4401621B2 (ja) 2002-05-07 2010-01-20 株式会社日立製作所 半導体集積回路装置
JP3821047B2 (ja) * 2002-05-09 2006-09-13 富士電機デバイステクノロジー株式会社 電圧可変レギュレータ
US6870213B2 (en) 2002-05-10 2005-03-22 International Business Machines Corporation EEPROM device with substrate hot-electron injector for low-power
US20030218478A1 (en) 2002-05-24 2003-11-27 Sani Mehdi Hamidi Regulation of crowbar current in circuits employing footswitches/headswitches
US6731158B1 (en) 2002-06-13 2004-05-04 University Of New Mexico Self regulating body bias generator
JP2005536105A (ja) 2002-08-08 2005-11-24 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ トランジスタのしきい値電圧を制御するための回路および装置
US6972599B2 (en) 2002-08-27 2005-12-06 Micron Technology Inc. Pseudo CMOS dynamic logic with delayed clocks
US7120804B2 (en) 2002-12-23 2006-10-10 Intel Corporation Method and apparatus for reducing power consumption through dynamic control of supply voltage and body bias including maintaining a substantially constant operating frequency
US6972593B1 (en) 2003-08-05 2005-12-06 Altera Corp. Method and apparatus for protecting a circuit during a hot socket condition
US6975535B2 (en) 2003-08-14 2005-12-13 Mosel Vitelic, Inc. Electronic memory, such as flash EPROM, with bitwise-adjusted writing current or/and voltage
US7098689B1 (en) 2003-09-19 2006-08-29 Xilinx, Inc. Disabling unused/inactive resources in programmable logic devices for static power reduction
US6972616B2 (en) 2004-04-14 2005-12-06 Broadcom Corporation Low-noise, fast-settling bias circuit and method
US7112997B1 (en) 2004-05-19 2006-09-26 Altera Corporation Apparatus and methods for multi-gate silicon-on-insulator transistors
US7348827B2 (en) 2004-05-19 2008-03-25 Altera Corporation Apparatus and methods for adjusting performance of programmable logic devices
US7129745B2 (en) 2004-05-19 2006-10-31 Altera Corporation Apparatus and methods for adjusting performance of integrated circuits
US7119604B2 (en) * 2004-06-17 2006-10-10 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Back-bias voltage regulator having temperature and process variation compensation and related method of regulating a back-bias voltage
US20060119382A1 (en) 2004-12-07 2006-06-08 Shumarayev Sergey Y Apparatus and methods for adjusting performance characteristics of programmable logic devices
JP3905909B2 (ja) * 2005-09-05 2007-04-18 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2007243179A5 (ja)
TWI433149B (zh) 降低sram漏電流之電路
KR101638531B1 (ko) 저전압 애플리케이션들에서 멀티모드 출력 구성을 가지는 셀프-바이어싱 차동 시그널링 회로를 위한 장치 및 방법
EP1832951A3 (en) Latch-up prevention circuitry for integrated circuits with transistor body biasing
TW200718012A (en) Semiconductor integrated circuit having current leakage reduction scheme
CA2570486A1 (en) Integrated nanotube and field effect switching device
JP2001339045A5 (ja)
WO2008073883A3 (en) Maintaining input and/or output configuration and data state during and when coming out of a low power mode
US9281023B2 (en) Single ended sensing circuits for signal lines
EP1840965A3 (en) Adjustable transistor body bias generation circuitry with latch-up prevention
TW200710847A (en) Current limit circuit and semiconductor memory device
TW200720877A (en) Regulator circuit
TW200740108A (en) I/O circuit
US7436244B2 (en) Circuit for reference current and voltage generation
CA2679364A1 (en) Circuit device and method of controlling a voltage swing
JP2007537543A5 (ja)
US20070030066A1 (en) Data amplifying circuit controllable with swing level according to operation mode and output driver including the same
JP2016111186A (ja) 半導体集積回路
US8155347B2 (en) Pop noise eliminating circuit that disables an audio output device when turning the device on
US7119616B2 (en) Method and apparatus for a fully differential amplifier output stage
US6384639B1 (en) Circuit and method for reducing static power dissipation in a semiconductor device
WO2007083008A3 (fr) Dispositif de commande d'un transistor mos
JP2001015687A5 (ja)
US9941883B2 (en) Transmission gate circuit
CN108028653A (zh) 物联网(IoT)电力和性能管理技术和电路方法