KR101638531B1 - 저전압 애플리케이션들에서 멀티모드 출력 구성을 가지는 셀프-바이어싱 차동 시그널링 회로를 위한 장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
도 2는 본 개시에 따른 멀티모드 차동 시그널링 회로의 예를 도시한다.
도 3은 도 2에 도시된 회로의 예시적인 실시예를 도시한다.
도 4는 본 개시에 따른 방법의 예시적인 흐름도를 도시한다.
도 5는 본 개시의 일 실시예에 따른 디지털 데이터 전송 디바이스 및 디지털 데이터 수신 디바이스의 예를 도시하는 블럭도이다.
도 6은 공통 모드 피드백 회로 및 모드 제어 로직을 구비한 도 5의 디지털 데이터 전송 디바이스 부분을 도시한 개략적인 블럭도이며, 상기 블럭도는, 본 개시의 일 실시예에 따라 PMOS 트랜지스터들을 사용하는 트랜지스터-구현 전류 소스들의 쌍을 보다 자세하게 더 도시한다.
도 7은 본 개시의 일 실시예에 따라, 도 6의 바이어싱 트랜지스터 일 부분으로서 기준 전류 소스의 예를 도시하는 개략적인 블럭도이다.
도 8은, 본 개시의 일 실시예에 따라 도 6의 차동 시그널링 회로의 부분으로서 테일 전류 소스의 예를 도시하는 개략적인 블럭도이다.
도 9는, 본 개시의 일 실시예에 따라, 도 6의 디지털 데이터 전송 디바이스 일 부분으로서, 전류 소스 벌크 바이어싱 회로와 전류 소스 제어기의 예를 도시하는 개략적인 블럭도이다.
도 10은, 본 개시의 일 실시예에 따라, 도 5의 디지털 데이터 전송 디바이스의 일 부분으로서, 전류 소스 벌크 바이어싱 회로와 전류 소스 제어기의 또 다른 예를 도시하는 개략적인 블럭도이다.
도 11은, 본 개시의 일 실시예에 따라, 디지털 데이터 전송 디바이스를 동작시키는 방법을 도시하는 흐름도이다.
Claims (25)
- 디지털 데이터 전송 디바이스로서,
차동 출력 단자들(differential output terminals)을 구비한 차동 시그널링 회로와;
상기 차동 출력 단자들에서 출력 전압 레벨들을 자동적으로 모니터링하도록 동작하고, 상기 출력 전압 레벨들에 대응하는 상기 차동 시그널링 회로의 검출된 동작 모드에 근거하여 전류 소스 제어 신호를 생성하도록 동작하는 전류 소스 제어기와; 그리고
상기 전류 소스 제어 신호에 응답하여 상기 차동 출력 단자들에서의 출력 전압 레벨들을 조정하기 위하여 소스 전류들을 선택적으로 발생시키도록 동작하는 트랜지스터-구현 전류 소스들의 쌍(pair of transistor-implemented current sources)을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 디바이스. - 제1 항에 있어서,
상기 차동 시그널링 회로의 검출된 동작 모드에 근거하여 전류 소스 벌크 바이어싱 신호를 발생시키도록 동작하는 전류 소스 벌크 바이어싱 회로를 더 포함하며, 여기서 상기 차동 시그널링 회로는 제1 동작 모드와 제2 동작 모드 중 하나에서 동작할 수 있고, 상기 전류 소스 벌크 바이어싱 신호는 상기 차동 시그널링 회로가 상기 제2 동작 모드에서 동작할 때, 상기 트랜지스터-구현 전류 소스들의 쌍에 걸쳐 전류 누설을 지연(retard)시키도록 동작하는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 디바이스. - 제2 항에 있어서,
상기 전류 소스 벌크 바이어싱 신호는, 상기 차동 시그널링 회로가 상기 제1 동작 모드에서 동작할 때, 상기 트랜지스터-구현 전류 소스들의 쌍이 상기 소스 전류들을 발생시킬 수 있도록 동작하는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 디바이스. - 제1 항에 있어서,
상기 트랜지스터-구현 전류 소스들의 쌍은 상기 차동 출력 단자들의 각 출력 단자와 제1 전압 소스와의 사이에 동작적으로(operatively) 연결되고, 여기서 상기 제1 전압 소스는 상기 디지털 데이터 전송 디바이스에 전력을 공급하도록 동작하며, 그리고
상기 차동 출력 단자들은, 제2 전압 소스에 동작적으로 연결되는 디지털 데이터 수신 디바이스에 동작적으로 연결되고, 여기서 상기 제2 전압 소스는 상기 디지털 데이터 수신 디바이스에 전력을 공급하도록 동작하는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 디바이스. - 제1 항에 있어서,
상기 차동 출력 단자들에서의 출력 전압 레벨들은, 상기 차동 시그널링 회로의 제1 동작 모드 중에는 제1 전압 스윙 범위 내에 있고, 제2 동작 모드 중에는 제2 전압 스윙 범위(voltage swing) 내에 있는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 디바이스. - 제1 항에 있어서,
상기 차동 출력 단자들은 제1 및 제2 차동 출력 단자를 포함하고;
상기 차동 시그널링 회로는 제1 및 제2 입력 신호에 응답하며;
상기 트랜지스터-구현 전류 소스들의 쌍은,
상기 전류 소스 제어 신호에 응답하여 그리고 또한 상기 제1 입력 신호에 근거하여, 상기 제1 차동 출력 단자에서의 출력 전압 레벨을 조정하기 위하여 선택적으로 제1 소스 전류를 발생시키도록 동작하는 제1 트랜지스터-구현 전류 미러 전류 소스와; 그리고
상기 제2 입력 신호에 근거하여 상기 제2 차동 출력 단자에서의 출력 전압 레벨을 조정하기 위하여 선택적으로 제2 소스 전류를 발생시키도록 동작하는 제2 트랜지스터-구현 전류 미러 전류 소스를 포함하는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 디바이스. - 제2 항에 있어서,
상기 전류 소스 제어기 및 상기 전류 소스 벌크 바이어싱 회로 각각은, 상기 차동 출력 단자들에서의 전압 레벨들을 검출함으로써 상기 차동 시그널링 회로의 동작 모드를 검출하도록 동작하는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 디바이스. - 제1 항에 있어서,
상기 차동 출력 단자들은 제1 및 제2 출력 단자들을 포함하며, 상기 전류 소스 제어기는,
제1 단자, 제2 단자, 및 게이트를 구비한 제1 PMOS 트랜지스터와, 여기서 상기 제1 단자는 상기 제1 출력 단자에 동작적으로 연결되며;
제1 단자, 제2 단자, 및 게이트를 구비한 제2 PMOS 트랜지스터와, 여기서 상기 제2 PMOS 트랜지스터의 제1 단자는 상기 제2 출력 단자에 동작적으로 연결되고 상기 제2 PMOS 트랜지스터의 게이트는 상기 디지털 데이터 전송 디바이스에 전력을 공급하도록 동작하는 전압 소스, 및 상기 제1 PMOS 트랜지스터의 게이트에 동작적으로 연결되며;
교차-연결된 PMOS 트랜지스터들의 제1 및 제2 쌍을 포함하며, 상기 교차-연결된 PMOS 트랜지스터들의 제1 및 제2쌍 각각은 두개의 입력 단자들 및 하나의 출력 단자를 구비하고, 여기서 상기 교차-연결된 PMOS 트랜지스터들의 제1 및 제2 쌍 각각으로부터의 일 입력 단자는 상기 제1 PMOS 트랜지스터의 제2 단자에 연결되고, 상기 교차-연결된 PMOS 트랜지스터들의 제1 및 제2 쌍 각각으로부터의 또 다른 입력 단자는 상기 제2 PMOS 트랜지스터의 제2 단자에 연결되며;
제1 단자, 제2 단자, 및 게이트를 구비한 제3 PMOS 트랜지스터와, 여기서 상기 제3 PMOS 트랜지스터는, 상기 제3 PMOS 트랜지스터의 제1 단자 및 상기 제3 PMOS 트랜지스터의 게이트가 제1 전압 소스에 연결된 것과 같은 다이오드-결선 PMOS 트랜지스터(diode-connected PMOS transistor)로서 연결되며;
제1 단자, 제2 단자, 및 게이트를 구비한 제4 PMOS 트랜지스터를 포함하며, 여기서 상기 제4 PMOS 트랜지스터의 제1 단자는 상기 제1 PMOS 트랜지스터의 제2 단자 및 상기 제2 PMOS 트랜지스터의 제2 단자 중 하나에 동작적으로 연결되고, 상기 제4 PMOS 트랜지스터의 게이트는 상기 제3 PMOS 트랜지스터의 제2 단자 및 상기 교차-연결된 PMOS 트랜지스터들의 제2 쌍의 출력 단자에 동작적으로 연결되며, 상기 제4 PMOS 트랜지스터의 제2 단자는 상기 교차-연결된 PMOS 트랜지스터들의 제1 쌍의 출력 단자에 동작적으로 연결되고, 여기서 상기 제4 PMOS 트랜지스터의 제2 단자의 전압 레벨은 상기 전류 소스 제어 신호를 나타내는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 디바이스. - 제1 항에 있어서,
상기 차동 시그널링 회로는, 제1 동작 모드 및 제2 동작 모드 중 하나에서 동작할 수 있으며;
상기 제1 동작 모드는 저전압 차동 시그널링(LVDS:low voltage differential signaling) 모드이고, 그리고
상기 제2 동작 모드는 천이 최소화 차동 시그널링(TMDS:transmission minimized differntial signaling) 모드인 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 디바이스. - 제1 항에 있어서,
상기 차동 출력 단자들에서의 출력 전압 레벨들은 비디오 데이터를 나타내는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 디바이스. - 제2 항에 있어서, 상기 전류 소스 벌크 바이어싱 회로는,
제1 입력부, 제2 입력부, 및 출력부를 구비한 전압 분배기(voltage divider)와, 상기 출력부에서의 전압레벨은 상기 차동 출력 단자들에서의 전압 레벨들의 평균 전압 레벨 또는 근사-평균(near-mean) 전압 레벨을 나타내며;
제1 단자, 제2 단자, 및 게이트를 구비한 제1 NMOS 트랜지스터와, 상기 제1 단자와 상기 게이트는 상기 디지털 데이터 전송 디바이스에 전력을 공급하도록 동작하는 제1 전압 소스에 동작적으로 연결되고, 상기 제2 단자는 상기 전압 분배기의 제1 입력부에 동작적으로 연결되고;
제1 단자, 제2 단자, 및 게이트를 구비한 제2 NMOS 트랜지스터와, 상기 제2 NMOS 트랜지스터의 상기 제1 단자 및 상기 게이트는 상기 제1 전압 소스에 동작적으로 연결되고 상기 제2 단자는 상기 전압 분배기의 제2 입력부에 동작적으로 연결되며;
제1 단자, 제2 단자, 및 게이트를 구비한 제1 PMOS 트랜지스터와, 상기 제1 PMOS 트랜지스터의 제1 단자는 상기 제1 NMOS 트랜지스터의 제2 단자에 동작적으로 연결되고, 상기 제1 PMOS 트랜지스터의 제2 단자는 상기 차동 출력 단자들의 제1 출력 단자에 동작적으로 연결되며, 상기 제1 PMOS 트랜지스터의 게이트는 상기 제1 전압 소스에 동작적으로 연결되고; 그리고
제1 단자, 제2 단자, 및 게이트를 구비한 제2 PMOS 트랜지스터를 포함하며, 여기서 상기 제2 PMOS 트랜지스터의 제1 단자는 상기 제2 NMOS 트랜지스터의 제2 단자에 동작적으로 연결되고, 상기 제2 PMOS 트랜지스터의 제2 단자는 상기 차동 출력 단자들의 제2 출력 단자에 동작적으로 연결되고, 상기 제2 PMOS 트랜지스터의 게이트는 상기 제1 전압 소스에 동작적으로 연결되며,
여기서 상기 전압 분배기의 출력부에서의 전압 레벨은 상기 전류 소스 벌크 바이어싱 신호를 나타내는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 디바이스. - 제2 항에 있어서, 상기 전류 소스 벌크 바이어싱 회로는,
제1 단자, 제2 단자, 및 게이트를 구비한 제1 NMOS 트랜지스터와, 여기서 상기 제1 단자 및 상기 게이트는 상기 디지털 데이터 전송 디바이스에 전력을 공급하도록 동작하는 제1 전압 소스에 동작적으로 연결되고;
제1 단자, 제2 단자, 및 게이트를 구비한 제2 NMOS 트랜지스터와, 여기서 상기 제2 NMOS 트랜지스터의 제1 단자 및 게이트는 상기 제1 전압 소스에 동작적으로 연결되고 상기 제2 단자는 상기 제1 NMOS 트랜지스터의 제2 단자에 동작적으로 연결되며;
제1 단자, 제2 단자, 및 게이트를 구비한 제1 PMOS 트랜지스터와, 여기서 상기 제1 단자는 상기 차동 출력 단자들의 제1 출력 단자에 동작적으로 연결되고;
제1 단자, 제2 단자, 및 게이트를 구비한 제2 PMOS 트랜지스터와, 여기서 상기 제2 PMOS 트랜지스터의 제1 단자는 상기 차동 출력 단자들의 제2 출력 단자에 동작적으로 연결되고, 그리고 상기 제2 PMOS 트랜지스터의 게이트는 상기 제1 PMOS 트랜지스터의 게이트 및 상기 제1 전압 소스에 동작적으로 연결되며;
교차-연결된 PMOS 트랜지스터들의 제1 및 제2 쌍과, 여기서 상기 교차-연결된 PMOS 트랜지스터들의 쌍 각각은 두개의 입력 단자들 및 하나의 출력 단자를 구비하며, 상기 교차-연결된 PMOS 트랜지스터들의 제1 및 제2 쌍 각각으로부터의 하나의 입력 단자는 상기 제1 PMOS 트랜지스터의 제2 단자에 연결되고, 상기 교차-연결된 PMOS 트랜지스터들의 제1 및 제2 쌍 각각으로부터의 또 다른 입력 단자는 상기 제2 PMOS 트랜지스터의 제2 단자에 연결되며;
제1 단자, 제2 단자, 및 게이트를 구비한 제3 PMOS 트랜지스터와, 여기서 상기 제3 PMOS 트랜지스터는, 상기 제3 PMOS 트랜지스터의 제1 단자 및 상기 제3 PMOS 트랜지스터의 게이트가 상기 제1 전압 소스에 연결된 것과 같은 다이오드-결선 PMOS 트랜지스터로서 연결되며; 그리고
제1 단자, 제2 단자, 및 게이트를 구비한 제4 PMOS 트랜지스터를 포함하며, 여기서 상기 제4 PMOS 트랜지스터의 제1 단자는, 상기 제1 PMOS 트랜지스터의 제2 단자 및 상기 제2 PMOS 트랜지스터의 제2 단자 중 하나에 연결되며, 여기서 상기 제4 PMOS 트랜지스터의 게이트는, 상기 제3 PMOS 트랜지스터의 제2 단자 및 상기 교차-연결된 PMOS 트랜지스터들의 제2 쌍의 출력 단자에 동작적으로 연결되며, 여기서 상기 제4 PMOS 트랜지스터의 제2 단자는, 상기 교차-연결된 PMOS 트랜지스터들의 제1 쌍의 출력 단자 및 하나의 노드를 이루는 상기 제1 및 제2 NMOS 트랜지스터들의 제2 단자들에 동작적으로 연결되고, 여기서 상기 노드에서의 전압 레벨은 상기 전류 소스 벌크 바이어싱 신호를 나타내는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 디바이스. - 디지털 데이터를 전송하는 방법으로서,
차동 출력 단자들을 구비한 차동 시그널링 회로를 동작시키는 단계와;
상기 차동 출력 단자들에서 출력 전압 레벨들을 자동적으로 모니터링하여 상기 출력 전압 레벨들에 대응하는 상기 차동 시그널링 회로의 동작 모드를 검출하는 단계와; 그리고
상기 차동 시그널링 회로의 검출된 동작 모드에 응답하여 출력 전압 레벨들을 조정하기 위하여 트랜지스터-구현 전류 소스들의 쌍을 사용하여 선택적으로 소스 전류들을 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 방법. - 제13 항에 있어서,
상기 차동 시그널링 회로의 검출된 동작 모드에 근거하여 전류 소스 제어 신호를 발생시키는 단계와; 그리고
상기 트랜지스터-구현 전류 소스들의 쌍이 상기 전류 소스 제어 신호에 응답하여 상기 소스 전류들을 선택적으로 생성하게 하기 위해 상기 전류 소스 제어 신호를 트랜지스터-구현 전류 소스들의 쌍에 제공하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 방법. - 제13 항에 있어서,
상기 차동 시그널링 회로는 제1 동작 모드 및 제2 동작 모드 중 하나에서 동작할 수 있으며, 상기 차동 시그널링 회로가 상기 제2 동작 모드에서 동작중일 때 상기 트랜지스터-구현 전류 소스들의 쌍에 걸쳐 누설 전류를 지연(retard)시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 방법. - 제15 항에 있어서,
상기 트랜지스터-구현 전류 소스들의 쌍에 걸쳐 누설 전류를 지연시키는 단계는,
상기 차동 시그널링 회로의 검출된 동작 모드에 근거하여 전류 소스 벌크 바이어싱 신호를 생성하는 단계와, 그리고
상기 차동 시그널링 회로가 상기 제2 동작 모드에서 동작할 때, 상기 전류 소스 벌크 바이어싱 신호가 상기 트랜지스터-구현 전류 소스들의 쌍에 걸쳐 전류 누설을 지연시키도록 동작하게 하기 위해, 상기 트랜지스터-구현 전류 소스들의 쌍에 상기 전류 소스 벌크 바이어싱 신호를 제공하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 방법. - 제13 항에 있어서,
상기 트랜지스터-구현 전류 소스들의 쌍을 사용하여 선택적으로 소스 전류를 생성하는 단계는, 상기 차동 시그널링 회로가 제1 동작 모드에서 동작할 때, 상기 트랜지스터-구현 전류 소스들의 쌍으로 하여금 상기 소스 전류를 생성할 수 있게 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 방법. - 제13 항에 있어서,
상기 차동 출력 단자들에서의 출력 전압 레벨들은, 상기 차동 시그널링 회로의 제1 동작 모드 중에는 제1 전압 스윙 범위 내에 있고, 제2 동작 모드 중에는 제2 전압 스윙 범위 내에 있는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 방법. - 제13 항에 있어서,
상기 차동 시그널링 회로는 제1 동작 모드 및 제2 동작 모드 중 하나에서 동작할 수 있으며,
상기 제1 동작 모드는 저전압 차동 시그널링(LVDS:low voltage differential signaling) 모드이고, 그리고
상기 제2 동작 모드는 천이 최소화 차동 시그널링(TMDS:transmission minimized differntial signaling) 모드인 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 방법. - 제13 항에 있어서,
상기 차동 출력 단자들에서의 출력 전압 레벨들은 비디오 데이터를 나타내는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 전송 방법. - 디지털 데이터 수신 디바이스로서,
디지털 데이터 전송 디바이스로부터 디지털 데이터 출력 신호들을 수신할 수 있도록 된 수신기를 포함하며, 여기서 상기 디지털 데이터 전송 디바이스는,
차동 출력 단자들을 구비한 차동 시그널링 회로와;
상기 차동 출력 단자들에서 출력 전압 레벨들을 자동적으로 모니터링하도록 동작하고, 상기 출력 전압 레벨들에 대응하는 상기 차동 시그널링 회로의 검출된 동작 모드에 근거하여 전류 소스 제어 신호를 생성하도록 동작하는 전류 소스 제어기와; 그리고
상기 전류 소스 제어 신호에 응답하여 상기 차동 출력 단자들에서의 출력 전압 레벨들을 조정하기 위하여 선택적으로 소스 전류들을 발생시키도록 동작하는 트랜지스터-구현 전류 소스들의 쌍을 포함하며, 여기서 상기 차동 출력 단자들에서의 출력 전압 레벨들은 디지털 데이터 출력 신호들을 나타내는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 수신 디바이스. - 제21 항에 있어서,
상기 디지털 데이터 전송 디바이스는, 상기 차동 시그널링 회로의 검출된 동작 모드에 근거하여 전류 소스 벌크 바이어싱 신호를 생성하도록 동작하는 전류 소스 벌크 바이어싱 회로를 더 포함하며, 여기서 상기 차동 시그널링 회로는 제1 동작 모드 및 제2 동작 모드 중 하나에서 동작가능하고, 상기 전류 소스 벌크 바이어싱 신호는 상기 차동 시그널링 회로가 상기 제2 동작 모드에서 동작 중일 때 상기 트랜지스터-구현 전류 소스들의 쌍에 걸쳐 전류 누설을 지연시키도록 동작하는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 수신 디바이스. - 제22 항에 있어서,
상기 전류 소스 벌크 바이어싱 신호는, 상기 차동 시그널링 회로가 상기 제1 동작 모드에서 동작중일때, 상기 트랜지스터-구현 전류 소스들의 쌍이 상기 소스 전류들을 발생시킬 수 있게 해주는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 수신 디바이스. - 제21 항에 있어서,
상기 차동 시그널링 회로는 제1 동작 모드 및 제2 동작 모드 중의 하나에서 동작할 수 있으며,
상기 제1 동작 모드는 저전압 차동 시그널링(LVDS:low voltage differential signaling) 모드이고, 그리고
상기 제2 동작 모드는 TMDS 모드인 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 수신 디바이스. - 제21 항에 있어서,
상기 디지털 데이터 출력 신호들은 비디오 데이터를 나타내는 것을 특징으로 하는, 디지털 데이터 수신 디바이스.
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US6677802B2 (en) | 2001-09-05 | 2004-01-13 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for biasing body voltages |
US6847232B2 (en) * | 2001-11-08 | 2005-01-25 | Texas Instruments Incorporated | Interchangeable CML/LVDS data transmission circuit |
US6686772B2 (en) * | 2001-11-19 | 2004-02-03 | Broadcom Corporation | Voltage mode differential driver and method |
US6586964B1 (en) * | 2001-12-10 | 2003-07-01 | Xilinx, Inc. | Differential termination with calibration for differential signaling |
US6580293B1 (en) * | 2001-12-14 | 2003-06-17 | International Business Machines Corporation | Body-contacted and double gate-contacted differential logic circuit and method of operation |
US6825692B1 (en) * | 2002-01-25 | 2004-11-30 | Altera Corporation | Input buffer for multiple differential I/O standards |
US7336780B2 (en) * | 2002-08-01 | 2008-02-26 | Integrated Device Technology, Inc. | Differential signaling transmission circuit |
TW571513B (en) | 2002-10-25 | 2004-01-11 | Toppoly Optoelectronics Corp | Level shifter with body-biased circuit |
US7061273B2 (en) * | 2003-06-06 | 2006-06-13 | Rambus Inc. | Method and apparatus for multi-mode driver |
US6856178B1 (en) * | 2003-07-31 | 2005-02-15 | Silicon Bridge, Inc. | Multi-function input/output driver |
US6927608B1 (en) * | 2003-09-05 | 2005-08-09 | Xilinx, Inc. | Low power low voltage differential signaling driver |
US7256624B2 (en) * | 2003-10-28 | 2007-08-14 | Via Technologies, Inc. | Combined output driver |
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JP2006060320A (ja) * | 2004-08-17 | 2006-03-02 | Sony Corp | 差動信号駆動回路及び差動信号駆動方法 |
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